【課題】異なる配線を介して異なる電源端子から内部回路を構成する第１の回路および第２の回路にそれぞれ給電する際に、第１の回路に給電する配線と第２の回路に給電する配線との間に発生するノイズを抑制する。
【解決手段】半導体装置は、第１の回路に給電を行う第１の電源配線と、第２の回路に給電を行う第２の電源配線と、第１の電源配線と第２の電源配線との間に容量素子を設けることにより、両端子間のインピーダンスを、大幅に低減させることにより異種電源間のノイズを低減する。 （もっと読む）

【課題】高いスイッチング速度を有し、電圧降伏耐性を強化したネスト化複合ダイオードを提供する。
【解決手段】ネスト化複合ダイオードの種々の実現を、本明細書に開示する。１つの実現では、ネスト化複合ダイオードが、複合ダイオードに結合されたプライマリ・トランジスタを含む。複合ダイオードは、中間型トランジスタとカスコード接続された低電圧（ＬＶ）ダイオードを含み、中間型トランジスタは、ＬＶダイオードよりは大きく、プライマリ・トランジスタよりは小さい降伏電圧を有する。１つの実現では、プライマリ・トランジスタはIII-V族トランジスタとすることができ、ＬＶダイオードはIV族ＬＶダイオードとすることができる。 （もっと読む）

【課題】ビアホールの数を少なくしてもループ発振などの特性劣化が生じにくい半導体電力増幅器を提供する。
【解決手段】半導体電力増幅器は、ゲート電極Ｇと、ドレイン電極Ｄと、前記ゲートフィンガー電極に対向して配置されるソースフィンガー電極横手方向の両サイドに引き出される２つのソース電極Ｓと、を有するユニットＦＥＴと、前記ユニットＦＥＴが、前記ソース電極間を結ぶ略直線方向に複数個並列配置され、隣り合うユニットＦＥＴ間に存在する２つのソース電極の両方を共通して高周波グランド面と接続する第１の接地インダクタンス値を有する第１のビアホール１８Ｋと、隣り合うユニットＦＥＴが存在しない側のソース電極上に配置され、接地インダクタンスを等しくするために前記高周波グランド面に接続する第２の接地インダクタンス値を有する第２のビアホール１８Ｄと、を有する。 （もっと読む）

【課題】容量素子のＱ値（Ｑｕａｌｉｔｙ Ｆａｃｔｏｒ）特性を向上する。
【解決手段】容量素子は、互いに対向する一対の電極ＥＬ１０、ＥＬ２０と、一対の電極の一方の電極に設けられ、一方の電極の両端部から間隔を置いて配置された第１端子部とＴＥ１０、一対の電極の他方の電極に設けられ、他方の電極の両端部から間隔を置いて配置された第２端子部とＴＥ２０を有している。 （もっと読む）

【課題】耐久性が高い半導体装置及びＤＣ−ＤＣコンバータを提供する。
【解決手段】実施形態に係る半導体装置は、高電位側電源電位に接続するための第１の配線と、前記高電位側電源電位に接続するための、前記第１の配線とは別の第２の配線と、前記第１の配線に一端が接続され、他端が出力端子に接続されるスイッチングトランジスタと、前記高電位側電源電位と前記低電位側電源電位との間で前記スイッチングトランジスタと並列に接続される保護素子とを備える。前記保護素子は、前記第１の配線に接続される、第１のｐ形半導体領域と、前記第２の配線に接続される、前記第１のｐ形半導体領域に接したｎ形半導体領域と、前記ｎ形半導体領域に接し、前記第１のｐ形半導体領域から離隔し、前記低電位側電源電位に接続するための配線に接続される第２のｐ形半導体領域と、を有する。 （もっと読む）

【課題】従来の半導体装置では、電源電圧変動を抑制するために回路規模が大きくなる問題があった。
【解決手段】本発明の半導体装置は、テスト対象回路１１〜１３と、スキャンモード制御信号ＳＭＣと、ノイズ制御信号ＣＮＴと、クロック信号ＣＬＫと、テストパターンＳＩＮとが入力され、テスト対象回路１２に対するテストを行うテスト回路２０と、を有し、テスト回路２０は、ノイズ制御信号ＣＮＴがイネーブルであるダミーノイズ生成期間にテスト回路２０において保持されているテストパターンＳＩＮに基づくテスト値を維持し、ダミーノイズ生成期間にクロック信号ＣＬＫの周期に応じて変動するダミー電源ノイズを生成し、ダミーノイズ生成期間の終了後にテストパターンによりテスト対象回路１２をテストする。 （もっと読む）

【課題】ボンド・ワイヤの寄生インダクタンスを小さくし、高周波特性を良好とすることができる半導体パッケージを提供する。
【解決手段】高周波信号が入力される入力整合回路を有しダイボンド領域に配された半導体集積回路チップと、前記ダイボンド領域の周辺に配されたリード端子と、を備え、前記半導体集積回路チップが有する各端子と前記各リード端子とがボンド・ワイヤにより接続された半導体パッケージにおいて、前記ダイボンド領域の中央部より前記入力整合回路に高周波信号を入力させるための前記リード端子である高周波入力端子側および／または前記入力整合回路のグランド接続用の前記リード端子であるグランド端子側にシフトした位置に前記半導体集積回路チップは配される構成とする。 （もっと読む）

【課題】ボンディングワイヤのループインダクタンスを低減した半導体パッケージを提供する。
【解決手段】所定の方向に交互に配置された信号用パッドおよび補助パッドのそれぞれが複数設けられた半導体装置と、信号用ボンドフィンガー、電源電圧用ボンドフィンガーおよび接地電位用ボンドフィンガーのそれぞれが複数設けられたパッケージ基板と、を有する。複数の信号用パッドのそれぞれが複数の信号用ボンドフィンガーのそれぞれと第１のワイヤを介して接続され、複数の電源電圧用ボンドフィンガーおよび複数の接地電位用ボンドフィンガーのそれぞれが複数の補助パッドのそれぞれと第２のワイヤを介して接続されている。第１のワイヤが、電源電圧用ボンドフィンガーに接続された第２のワイヤと接地電位用ボンドフィンガーに接続された第２のワイヤとの間に配置されている。 （もっと読む）

【課題】内部回路の動作時における電源ノイズの影響を抑え、少ピン化および小面積化を実現する半導体装置を提供することである。
【解決手段】第１の内部回路１０２に対する電源線ＰＬ１と第２の内部回路１０４に対する電源線ＰＬ２とは共通のピン端子３０ａに接続され、第１の内部回路１０２に対する接地線ＳＬ１と第２の内部回路１０４に対する接地線ＳＬ２とは共通のピン端子３０ｂに接続される。第１の内部回路１０２の動作時に電源線ＰＬ１上に発生した電源ノイズは、電源線ＰＬ１に介挿され、ゲートが接地線ＳＬ１に接続されたＰチャネルＭＯＳトランジスタＰ１および電源線ＰＬ１および接地線ＳＬ１の間に設けられたキャパシタＣ１により吸収される。接地線ＳＬ１上に発生した電源ノイズは、接地線ＳＬ１に介挿され、ゲートが電源線ＰＬ１に接続されたＮチャネルＭＯＳトランジスタＮ１およびキャパシタＣ１により吸収される。 （もっと読む）

【課題】入力回路ブロックの入力配線と出力回路ブロックの出力配線を短くする。
【解決手段】半導体集積回路装置３０において、入力回路ブロック３２用の外部接続用電極Ｐ２及びＰ３は、入力回路ブロック３２と出力回路ブロック３３との間に複数配置されており、出力回路ブロック３３用の外部接続用電極Ｐ１及びＰ４は、出力回路ブロック３３とリード電極３４及び３５との間に複数配置されており、金属細線Ｗｂ１及びＷｂ２を介して外部接続用電極Ｐ１及びＰ２に接続されるリード電極３４と、金属細線Ｗｂ３及びＷｂ４を介して外部接続用電極Ｐ３及びＰ４に接続されるリード電極３５は、いずれも、入力回路ブロック３２、外部接続用電極Ｐ２及びＰ３、出力回路ブロック３３、外部接続用電極Ｐ１及びＰ４、リード電極３４及び３５の順に配置された方向と平行する方向に複数配置されている。 （もっと読む）

【課題】大規模な半導体集積回路であってもノイズ耐性評価が短時間で可能なノイズ耐性評価方法を提供する。
【解決手段】回路ネットリストを作成する第１のステップＳ１１と、能動素子を受動素子回路に置き換えて置換回路ネットリストを作成する第２のステップＳ１２と、トランジスタの制御端子に該当する制御ノードを抽出する第３のステップＳ１３と、ノイズ注入ノードを設定する第４のステップＳ１４と、所定周波数のノイズを設定し、互いに異なる制御ノードとノイズ注入ノード間の経路のインピーダンスを計算する第５のステップＳ１５と、制御ノード、ノイズ注入ノードおよび経路の各組み合わせにおけるインピーダンスのリストを作成する第６のステップＳ１６と、インピーダンスの最小値から半導体集積回路のノイズ耐性を判定する第７のステップＳ１７とを有してなるノイズ耐性評価方法１００とする。 （もっと読む）

【課題】超高周波帯におけるシリコン基板による損失を低減すると共に、貫通配線のインダクタンス成分の影響を小さくした半導体装置を実現できるようにする。
【解決手段】半導体装置は、回路素子１０５が形成された半導体基板１００と、半導体基板１００の主面の上に形成された第１の誘電体層１２１と、第１の誘電体層１２１の上に形成された第２の誘電体層１３１と、第１の誘電体層１２１を貫通し、回路素子１０５と接続された第１の貫通配線１２２と、第２の誘電体層１３１を貫通し、第１の貫通配線１２２と接続された第２の貫通配線１３２とを備えている。第２の貫通配線１３２は、第１の貫通配線１３２よりもインダクタンスが小さい。 （もっと読む）

【課題】信号線の上面に微小な凹凸が形成されても、伝送線路の伝送特性が劣化することを抑制できるようにする。
【解決手段】信号線５２２は、多層配線層４００及び再配線層５００の第ａ層（ａ≧２）に形成されている。プレーン配線４４４は多層配線層４００及び再配線層５００の第ｂ層（ｂ＜ａ）に形成されており、平面視で信号線５２２と重なっている。２つのコプレーナ配線５２４は多層配線層４００及び再配線層５００の第ｃ層（ｂ≦ｃ≦ａ）に形成されており、平面視で信号線５２２と平行に延伸しており、かつ信号線５２２を挟んでいる。信号線５２２からプレーン配線４４４までの距離ｈは、信号線５２２からコプレーナ配線５２４までの距離ｗより短い。信号線５２２の上方のうち、信号線５２２からｗと同じ高さの範囲内には、電源線、グランド線、及び他の信号線が位置していない。 （もっと読む）

【課題】コモンノイズを低減する。
【解決手段】半導体装置１０は、直列に接続された半導体スイッチング素子１１，１２と、正極端子１３と、負極端子１４と、出力端子１５とを具備する半導体モジュール１６と、半導体モジュール１６に絶縁されたボディ１７とを備える。ボディ１７と各端子１３，１４との間の各浮遊容量Ｃ１，Ｃ３に対して、出力端子１５とボディ１７との間で、出力端子１５の浮遊容量Ｃ２と浮遊容量Ｃ１とが直列接続または出力端子１５の浮遊容量Ｃ２と浮遊容量Ｃ３とが直列接続になるようにして、各端子１３，１４，１５が配置されている。 （もっと読む）

【課題】ＶＣＯに含まれるスパイラルインダクタとＭＯＳバラクタを接続する配線に付加される寄生インダクタ、および／または寄生容量を低減することができる半導体装置を提供する。
【解決手段】ＬＣタンクＶＣＯは、第１および第２のスパイラルインダクタＬ１，Ｌ２と、第１および第２のＭＯＳバラクタＣ１，Ｃ２とを備える。第１および第２のＭＯＳバラクタＣ１，Ｃ２は、半導体基板に垂直な方向から見たときに、第１のスパイラルインダクタＬ１と第２のスパイラルインダクタＬ２の間の領域に配置される。 （もっと読む）

【課題】ＭＭＩＣの特性測定において，ＤＣバイアス印加時の発振を抑制する。
【解決手段】この発明に係る高周波回路チップのＭＭＩＣ６０は、ＧａＡｓ基板１２上に所定の間隔をおいて並行して配設されたＤＣバイアス線路６２が、その端部に互いに間隔をおいて隣接したＤＣパッド６４を備えたもので、ＤＣバイアス線路６２の端部のＤＣパッド６４に個別にＤＣバイアスを印加することができ、高周波信号の影響を少ない状態でチップの電気的特性を測定することができる。 （もっと読む）

【課題】高ＲＦ妨害波耐性の半導体集積回路及びそれを備えたコンデンサマイクロフォンを提供すること。
【解決手段】本発明にかかる半導体集積回路は、端子Ｂと端子Ｃとの間に設けられた出力トランジスタＭＮ１と、端子Ｂと端子Ｃとの間に設けられたローパスフィルタ１００と、出力トランジスタＭＮ１のゲートと端子Ｃとの間に設けられたプルダウン用抵抗Ｒ３と、プルダウン用抵抗Ｒ３と端子Ｃとの間に設けられたインダクタＬ１と、を備える。 （もっと読む）

【課題】半導体集積回路のチップ面積とコストの増加や、電気的特性の問題を招くことなく、出力バッファ回路の出力電圧のリンギングを抑制する。
【解決手段】半導体集積回路２００は、電源線１０、電源抵抗１１、接地線１２、接地抵抗１３、出力バッファ回路１４，１５，１６、電源端子ＰＶｄｄ、接地端子ＰＶｓｓ、出力端子ＰＯ１，ＰＯ２，ＰＯ３、及びリード端子１７，１８を含んで構成される。電源抵抗１１は、電源線１０と出力バッファ回路１４の電源電位入力端との接続点Ｎ１と電源端子ＰＶｄｄとの間に接続されている。接地抵抗１３は、接地線１２と出力バッファ回路１４の接地電位入力端との接続点Ｎ４と接地端子ＰＶｓｓとの間に接続されている。 （もっと読む）

【課題】半導体装置の電源電圧の変換効率を向上させる。
【解決手段】ハイサイドスイッチ用のパワーＭＯＳ・ＦＥＴとローサイドスイッチ用のパワーＭＯＳ・ＦＥＴとが直列に接続された回路を有する非絶縁型ＤＣ−ＤＣコンバータにおいて、ローサイドスイッチ用のパワーＭＯＳ・ＦＥＴと、そのローサイドスイッチ用のパワーＭＯＳ・ＦＥＴに並列に接続されるショットキーバリアダイオードＤ１とを同一の半導体チップ５ｂ内に形成した。ショットキーバリアダイオードＤ１の形成領域ＳＤＲを半導体チップ５ｂの短方向の中央に配置し、その両側にローサイドのパワーＭＯＳ・ＦＥＴの形成領域を配置した。また、半導体チップ５ｂの主面の両長辺近傍のゲートフィンガ６ａから中央のショットキーバリアダイオードＤ１の形成領域ＳＤＲに向かって、その形成領域ＳＤＲを挟み込むように複数本のゲートフィンガ６ｂを延在配置した。 （もっと読む）

【課題】Ｖ−Ｇ間ＳＳＯノイズだけでなく、Ｓ−Ｇ間ＳＳＯノイズも低減することができる半導体装置１０を提供する。
【解決手段】本発明の半導体装置１０は、出力回路１２毎に受信回路１５の入力容量３４と所定の関係を有する容量の近傍オンチップバイパスキャパシタ２３を、所定の配線抵抗となるように設け、それぞれの出力回路１２について容量および配線抵抗が所定の関係となる遠方オンチップバイパスキャパシタ２４を、複数の出力回路１２に共通に設ける。 （もっと読む）