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Fターム[5F043EE23]の内容

ウェットエッチング (11,167) | 装置 (3,217) | エッチング液の還流 (349) | 濃度、純度管理 (76)

Fターム[5F043EE23]に分類される特許

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【課題】基板を搬送しながら基板に対しエッチング液を循環させつつ供給してエッチング処理する場合に、エッチング液成分の濃度を正確に測定できる装置を提供する。
【解決手段】エッチング液の循環経路の途中でエッチング液の一部をサンプリング液として取り出し、サンプリング用配管44を通してサンプリング液を硝酸濃度モニタ52内へ導く。硝酸濃度モニタ52において、吸光光度計によりサンプリング液の吸光度を計測し、濃度管理用のパソコン54により、計測された吸光度からサンプリング液中の硝酸濃度を算出する。装置管理用のパソコン62から濃度管理用のパソコン54へ送られる、基板のエッチング処理枚数の情報に基づいて、マスキング剤の添加量を算出し、供給ユニット58により、算出された量のマスキング剤をサンプリング液中に添加し、エッチング処理に伴って基板上から溶出したアルミニウム成分をマスキングする。 (もっと読む)


【課題】超臨界流体の存在下に被処理基板に対して成膜工程、エッチング工程、レジスト剥離工程等の加工を容易に行うことのできる基板の製造方法を提供する。
【解決手段】本発明の基板の製造方法は、基板が設置された反応室内に超臨界流体を充填し、該超臨界流体に溶解させた原料を基板の表面近傍で反応させることで基板の表面を加工する基板の製造方法であって、基板を、反応室内の天井部10に基板の表面を下方に向けて設置するものである。 (もっと読む)


【課題】所望のエッチングレートと対酸化膜選択比が得られるHPO液を簡単に調整することができる半導体製造装置および半導体製造方法を提供する。
【解決手段】HPO処理装置100は、ウエハを浸漬するHPO液を滞留させる処理槽10と、処理槽10に新しいHPO液を供給する新液供給機構15と、処理槽10からHPO液を排液する排液機構16,17と、事前に入手された積算SiNエッチング量に対するエッチングレート,対酸化膜選択比を記憶したデータベース31と、現在のHPO液を用いて次処理のウエハを処理した場合に所望のエッチングレートおよび対酸化膜選択比が得られるか否かを判断する処理判断部34と、処理判断部34の判断が否であり、かつ、現在のHPO液におけるSi濃度を低下させる必要がある場合にHPO液排出量と新しいHPO液供給量を算出する給排液量計算部35とを有する制御ユニット20を具備する。 (もっと読む)


【課題】洗浄薬液の混合比を正確に求め、必要量の薬液補充を行うことにより薬液濃度を制御して、被エッチング膜に対するエッチング量を容易に制御する。
【解決手段】薬液交換時において、薬液槽1に供給される薬液21,22,23の供給流量を、それぞれの薬液流量計31,32,33により測定する。測定された流量にて演算部7において供給時間が計算され、供給流量と供給時間の積分値から各薬液の総投入量を算出する。各薬液の総投入量から混合比を求めて薬液濃度を算出する。このとき算出された濃度が設定濃度と異なる場合、所望する薬液濃度となるように各薬液の補充量を演算部7で算出し、補充量を供給時間を可変させることにより調整する。演算部7で算出された供給時間にわたり、補充する薬液のみミキシングバルブ4を開いて薬液槽1に薬液を供給し、薬液濃度を調整する。 (もっと読む)


【課題】処理液の再生により処理液に含まれる界面活性剤の濃度が低くなるのを防止することができる基板処理装置を提供する。
【解決手段】基板処理装置1は、界面活性剤が含まれた処理液を貯留する貯留槽11と、処理液によって基板を処理する処理機構12と、貯留槽11内の処理液を貯留槽11と処理機構12との間で循環させる第1循環機構20と、処理機構12での基板処理によって処理液に含まれるようになった金属イオンを吸着する吸着材が内部に充填された吸着容器32,33と、貯留槽11内の処理液を吸着容器32,33内に供給して流通させるとともに、流通させた処理液を吸着容器32,33から貯留槽11に回収し、貯留槽11と吸着容器32,33との間で処理液を循環させる第2循環機構34と、貯留槽11に貯留された処理液又は吸着容器32,33から貯留槽11に回収される処理液に界面活性剤を供給する供給機構70とを備える。 (もっと読む)


【課題】処理液の取り替えサイクルを長くしたり、基板処理効率の低下を防止したり、基板処理コストを抑えることができる基板処理装置などを提供する。
【解決手段】基板処理装置1は、貯留槽11と基板処理機構12と間で処理液を循環させる第1処理液循環機構20と、基板処理機構12における基板処理によって処理液中に含まれるようになった金属イオンを吸着する2つの吸着塔32,33と、貯留槽11内の処理液を吸着塔32,33のいずれか一方に選択的に供給して循環させる第2処理液循環機構34と、処理液の供給される吸着塔32,33が所定時間間隔で交互に切り換わるように第2処理液循環機構34の作動を制御する制御装置28とを備える。 (もっと読む)


【課題】薬液の供給を監視することにより、薬液の濃度測定系に異常が発生したことを精度よく検知することができる基板処理装置を提供することを目的とする。
【解決手段】薬液の濃度測定系に異常があれば、アラーム値メモリ57に記憶されている、正常な状態で供給された時の一定時間内における供給量(正常値)と、供給量積算部63が算出する一定時間内における実績値との間に差が生じるので、判断部59はその比較に基づき異常の発生を判断できる。供給量積算部63は、濃度測定部53及び濃度制御部55の制御の下で所定時間内に薬液供給管39から供給される薬液の供給量を積算し、供給配管17を通して処理槽1に供給される処理液中の濃度を測定する濃度測定部53とは別系統であるので、濃度測定部53の不具合に関係なく、異常を正確に判断することができる。 (もっと読む)


【課題】処理槽内の処理液の比重値を算出するためのガスの配管にシリカが析出することを防止することができ、比重値が正確に計測され、エッチングレートの安定した半導体製造装置を提供する。
【解決手段】加熱した処理液に基板を浸漬して基板の表面処理を行う半導体製造装置において、前記処理液を貯留する処理槽1と、前記処理液中の所定深さからガスを放出し、その放出圧力から前記処理液の液圧を検出する圧力検出部53と、前記検出された液圧に基づき前記処理液の比重を算出する比重算出部54と、前記処理液中に放出されるガスを加熱するヒータ55と、前記算出された比重に基づいて前記処理槽への純水供給量を制御するコントローラ51と、を備える。 (もっと読む)


【課題】、予め設定した複数の処理時間を参照することにより、処理液の劣化等を考慮した場合であっても効率的なスケジューリングを行うことができる基板処理装置のスケジュール作成方法を提供する。
【解決手段】制御部37は、まず処理液のライフタイムに応じてそれぞれ異なる複数の処理時間ごとに、処理液を使用するリソースの使用タイミングを配置した処理ブロックを予め作成する。次いで、処理液を使用するリソースが使用されるタイミングに応じて、予め作成してある複数の処理ブロックの中から一つの処理ブロックだけを選択的に配置する。したがって、処理液の劣化等を考慮した場合であっても効率的なスケジューリングを行うことができる。また、処理時間を使用履歴に応じて自動的に変えるので、スケジュールを短縮することができ、装置の稼働率を向上させることができる。 (もっと読む)


【課題】基板上に形成されたシリコン窒化膜のエッチングレートを一定に維持することができる基板処理装置を提供する。
【解決手段】浸漬処理槽10に貯留されているリン酸水溶液は、循環ライン20を通して循環されている。シリコン酸化膜およびシリコン窒化膜が形成された基板Wが浸漬処理槽10のリン酸水溶液中に浸漬されることによってシリコン窒化膜の選択的なエッチング処理が進行する。再生ライン30は、循環ライン20を通して循環されるリン酸水溶液の一部を取り出して再生装置31によりシロキサンを回収・排出してリン酸水溶液を再生する。制御部40は、出側濃度計24および入側濃度計32の測定結果に基づいて流量調整弁33を制御し、浸漬処理槽10に貯留されているリン酸水溶液中に含まれるシロキサンの濃度が一定となるように浸漬処理槽10に還流するリン酸水溶液の流量を調整する。 (もっと読む)


【課題】定期液交換処理を柔軟に配置することにより、無駄な待機時間を低減して基板処理のスループットを向上させることができる基板処理装置のスケジュール作成方法を提供する。
【解決手段】制御部は、まずライフタイムLTが経過する時点t1で処理部のリソースに定期液交換処理XLを配置する。その後、定期液交換処理XLの配置に起因して、後続の処理工程dに待機時間が生じる場合には、延長時間ET内で定期液交換処理XLを後にずらして配置し、本来は定期液交換処理XLに後続する処理工程dを優先的に前に配置する。このように定期液交換処理XLをライフタイムLTのアップにのみ基づき一律に配置するのではなく、定期液交換処理XLを柔軟に配置するので、無駄な待機時間を低減して基板処理のスループットを向上させることができる。 (もっと読む)


【課題】ガラス基板を均一にエッチングすることができるエッチング液供給装置、エッチング装置及びエッチング方法を提供する。
【解決手段】本発明によるエッチング液供給装置は、エッチング槽でガラス基板をエッチングするエッチング装置に、水、フッ酸、及び無機酸を含む複数の構成成分からなるエッチング液を供給し、エッチング槽で用いられたエッチング液のフィードバックを受けるエッチング液タンクと、エッチング液タンクのエッチング液をエッチング槽に供給するエッチング液移送部と、エッチング液タンクのエッチング液における構成成分の少なくとも一部である制御構成成分の濃度を測定する濃度測定手段と、制御構成成分を各制御構成成分別にエッチング液タンクに供給する構成成分供給部と、濃度測定手段の測定結果に基づいて制御構成成分が供給されるように構成成分供給部を制御する制御部と、を備える。 (もっと読む)


【課題】基板の面内における薬液処理の均一性を向上させることができる基板処理装置を提供する。
【解決手段】本発明の基板処理装置は、処理槽内の純水を薬液に置換するときには、処理槽内に供給する処理液中の薬液成分の濃度を段階的又は連続的に上昇させる。また、処理槽内の薬液を純水に置換するときには、処理槽内に供給する処理液中の薬液成分の濃度を段階的または連続的に低下させる。このため、処理槽内において一度に発生する薬液成分の濃度のばらつきが緩和され、基板の面内における薬液処理の均一性が向上する。 (もっと読む)


【課題】III 族窒化物半導体のウェットエッチング方法および半導体装置製造方法。
【解決手段】R面を表面とするGaN基板10の上にSiO2 で構成された層間絶縁膜11が形成されている(図1A)。次に、層間絶縁膜11をドライエッチングし(図1B)、コンタクトホール12を形成する。その際ダメージ層13が形成される。次に、濃度25%、温度90℃のTMAH水溶液を用い、ウェットエッチングをする。ダメージ層13はR面であるためエッチングされ、除去できる(図1C)。その後、金属膜14を形成する(図1D)。 (もっと読む)


【課題】基板の表面上に形成されたシリコン窒化膜をシリコン酸化膜に対し選択的にエッチングする場合に、高い選択比でエッチングすることができ、それほど厳しい装置性能や制御が求められることがない方法を提供する。
【解決手段】加熱されたリン酸水溶液14を処理槽10内に貯留し、リン酸水溶液14中に基板Wを浸漬させて、基板の表面上に形成されたシリコン窒化膜をシリコン酸化膜に対し選択的にエッチングする場合に、処理槽10内に貯留されたリン酸水溶液14にヘキサフルオロケイ酸水溶液を添加して、リン酸水溶液14中にケイ素成分とフッ素成分とを含有させる。 (もっと読む)


【課題】SiとSiGのエッチング時の選択比を向上させる。
【解決手段】Si層とSiGe層とを同一基板上に形成し、3分以内の時間内でSiGe
層をフッ硝酸処理にて選択的にエッチング除去する。 (もっと読む)


【課題】熱酸化膜のエッチングを抑制しつつ、SiO系堆積物およびCF系堆積物を同一工程で選択的に除去することができるエッチング液およびそのようなエッチング液を用いた半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】半導体装置の製造方法は、86wt%〜97.9wt%のHSOと、0.1wt%〜10wt%のHFと、2wt%〜4wt%のHOとを含む液体に10ppm以上のオゾンを溶解させたエッチング液5を用いたエッチング工程を具備する。 (もっと読む)


【課題】循環する高温の処理液へ補充液を効率よく混入して処理液の濃度及び温度分布を均一に保持することができる構造が簡単な基板処理方法及び基板処理システムを提供すること。
【解決手段】処理液及びウェーハWを収容し上部開口縁に溢流堰3bが形成された内槽3と内槽の溢流堰から溢れる処理液を収容する外槽4とを有する処理槽2と、内槽と外槽とを接続して処理液の循環を行なう処理液循環路Lと、処理槽から蒸発した処理液と実質的に同一量の補充液を補充する補充液供給手段と、を備えた基板処理システム1であって、補充液供給手段は、複数個の供給ノズル14と、供給ノズルへ前記補充液を供給する補充液供給源に接続された補給路Lを有し、複数個の供給ノズルは、そのノズル穴14'が溢流堰近傍の内槽に貯留される処理液内の液面に対して浅い位置に溢流堰に向けられて設けられている。 (もっと読む)


【課題】エッチング特性を改善する単結晶シリコン用エッチング液を提供するとともに、この単結晶シリコン用エッチング液を用いることにより、高精細な蒸着マスクを安定して大量に製造することができるようにした、シリコン蒸着マスクの製造方法を提供する。
【解決手段】水酸化カリウム水溶液からなるエッチング液に、エッチング調整イオンが添加されてなる単結晶シリコン用エッチング液である。エッチング調整イオンは金属イオンであり、金属イオンは例えばカルシウムイオン、鉛イオン、アルミニウムイオンである。 (もっと読む)


【課題】処理液により基板を処理する基板処理装置において、処理液の処理性能を維持し、基板処理装置の稼働率を向上させるとともに、処理液の消費量や排液量を低減できる技術を提供する。
【解決手段】基板処理装置1は、処理液を冷却タンク25,29に一旦貯留し、処理液を冷却する。これにより、処理液中に溶解している不純物を析出させて、冷却タンク25,29の底部に沈殿させる。そして、冷却タンク25,29に貯留された処理液の上澄み液を、再び処理槽10へ供給する。このため、処理液の処理性能が維持され、処理液を再利用できる。また、処理液を新液に交換する頻度が低減されるため、基板処理装置1の稼働率が向上するとともに、処理液の消費量や排液量が低減される。 (もっと読む)


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