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Fターム[5F048BB18]の内容

MOSIC、バイポーラ・MOSIC (97,815) | ゲート (19,021) | 閾値制御 (2,521) | 閾値電圧が異なる複数MOS (1,778) | 注入量、注入物質が異なるもの (323)

Fターム[5F048BB18]に分類される特許

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【課題】 安定した低抵抗のシリサイド膜を形成する技術を提供する。
【解決手段】 半導体基板1上にゲート絶縁膜5を形成する工程、ゲート絶縁膜5上にシリコン膜7を形成する工程、シリコン膜7と半導体基板1との表面にBF2イオンおよびBイオンを注入し、pチャネル型MISトランジスタQpのゲート電極11pと高濃度n型半導体領域15からなるソース/ドレインとを形成する工程、ゲート電極11pの上部に第1コバルトシリサイド膜を形成し、ソース/ドレインの上部に第2コバルトシリサイド膜を形成する工程を有する。 (もっと読む)


【課題】 内部回路をより確実に保護することができる半導体装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】 内部回路内の内部トランジスタを電源パッド間に生じた静電気による破壊から保護する保護トランジスタが設けられている。保護トランジスタのチャネルを構成するpウェル6の導電型は、内部トランジスタのチャネルを構成するpウェル8の導電型と一致する。また、pウェル6の不純物濃度は、pウェル8の不純物濃度よりも高い。従って、保護トランジスタのドレイン接合は、内部トランジスタのドレイン接合よりも急峻となり、保護トランジスタの寄生バイポーラ動作の開始電圧が内部トランジスタのそれより低くなる。このため、内部回路をESDサージから適切に保護することができる。 (もっと読む)


【課題】 炭化金属を含むゲート電極を含む少なくとも1つのFETを含む相補型金属酸化膜半導体(CMOS)などの半導体デバイスおよび形成方法を提供することにある。
【解決手段】 このCMOSは、ある金属とある金属の炭化物によって二重仕事関数が与えられる、二重仕事関数の金属ゲート電極を含む。 (もっと読む)


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