Fターム[5F103LL04]の内容
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Fターム[5F103LL04]に分類される特許
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成膜装置、プラズマCVD装置、成膜方法及びスパッタ装置
【課題】 形成する膜の物性を容易に制御でき、また、生産性良く膜の形成が可能な制御性の良い成膜装置を提供する。
【解決手段】 膜を形成すべき基板5をアノード電極3に載置し、反応室1中に原料ガスを供給し、前記アノード電極3と、該アノード電極3に対向して配置してあるカソード電極4との間に高周波電圧を印加して原料ガスのプラズマを発生させ、制御部9を用いて駆動部8を制御することによって、成膜中にカソード電極4をアノード電極3に接近又は離隔させる。
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p型透明酸化物膜の成膜方法及び太陽電池
【課題】組成が精密に制御された複数の金属を含む酸化物よりなるp型透明酸化物膜を高速にて成膜する方法及びこの成膜方法によって得られたp型透明酸化物膜を光吸収層として用いた太陽電池を提供する。
【解決手段】カバー26内部に透明基板1を導入し、アルゴン中に酸素を含有させた混合ガスをカバー26内に導入する。ターゲット電極20A,20Bに一定の周期で交互にパルスパケット状の電圧を印加して、グロー放電を形成させる。これにより、銅よりなるターゲット21a及びアルミニウムよりなるターゲット21bから粒子がスパッタされ、基板1上にCuAlO2膜よりなるp層3が形成する。コリメータ30a,30bを介して得られたプラズマの発光スペクトルが電気信号となりPEM31a,31bに取り込まれる。このPEM31a,31bを用いてプラズマ中の銅及びアルミニウムの発光強度が常に一定になるように酸素ガスの導入流量を制御する。
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IB−IIIA−VIA族四元合金又は五元合金以上の合金から成る半導体薄膜を製造するための方法
本発明は、IB−IIIA−VIA族四元合金又は五元合金以上の合金から成る半導体薄膜を製造するための方法であって、当該方法は、(i)IB族及びIIIA族金属の混合物を含む金属薄膜を配設するステップと、(ii)第1のVIA族元素(当該第1のVIA族元素は、これ以降、VIA1と呼ばれる)の発生源が存在する中で、IB−VIA1族合金及びIIIA−VIA1族合金から成るグループから選択される少なくとも1つの二元合金と、少なくとも1つのIB−IIIA−VIA1族三元合金との混合物を含む第1の薄膜を形成するための条件下で金属薄膜を熱処理するステップと、(iii)第2のVIA族元素(当該第2のVI族元素は、これ以降、VIA2と呼ばれる)の発生源が存在する中で、第1の薄膜を、IB−VIA1−VIA2族合金及びIIIA−VIA1−VIA2族合金から成るグループから選択される少なくとも1つの合金と、ステップ(ii)の少なくとも1つのIB−IIIA−VIA1族三元合金とを含む第2の薄膜に変換するための条件下で、オプションで、第1の薄膜を熱処理するステップと、(iv)第1の薄膜又は第2の薄膜のいずれかを熱処理して、IB−IIIA−VIA族四元合金又は五元合金以上の合金から成る半導体薄膜を形成するステップとを含む、IB−IIIA−VIA族四元合金又は五元合金以上の合金から成る半導体薄膜を製造するための方法に関する。
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四元以上のI−III−VI族アロイ半導体膜
本発明は四元以上のIB−IIIA−VIA族アロイに関する。さらに具体的には、本発明は半導体膜として使用するのに適した四元または五元のIB−IIIA−VIA族アロイに関する。さらに特定的には、本発明は実質的に均質であり、かつ、40kVのCu線について26°〜28°の2θ角において主(112)ピーク(2θ[112])を有するX線回折パターン(XRD)によって特徴付けられ、0.2°〜10°の視射角に対するすれすれ入射X線回折パターン(GIXRD)が0.06°未満の前記2θ[112]角の絶対的なずれを表わす四元または五元のアロイに関する。
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