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Fターム[5F110NN05]の内容

薄膜トランジスタ (412,022) | その他の構成要素 (47,691) | 保護膜(パッシベーション膜) (34,477) | 層間絶縁膜 (8,935) | 層間絶縁以外の機能 (574)

Fターム[5F110NN05]に分類される特許

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【課題】十分な容量値を有する蓄積容量を備えることで表示ムラの発生を確実に抑制し得るとともに、消費エネルギーの少ない電気光学装置用基板を提供する。
【解決手段】本発明の電気光学装置用基板30は、第1、第2TFT72,73が、第1導電膜からなるゲート電極74,75と、第1絶縁膜からなるゲート絶縁膜83と、半導体層76と、第2導電膜からなるソース電極77、ドレイン電極79と、を備え、蓄積容量71が、前記第2導電膜からなるドレイン電極79と、第2絶縁膜からなる第1保護膜85Aと、第1保護膜85Aを間に挟んでドレイン電極79と重なる第3導電膜からなる蓄積容量上部電極80とから構成され、第1、第2TFT72,73を覆う第2保護膜85B、平坦化膜92が形成され、平坦化膜92上に画素電極35が形成されている。 (もっと読む)


【課題】酸化物半導体を用いた半導体装置に安定した電気的特性を付与し、高信頼性化することを目的の一とする。
【解決手段】酸化物半導体膜を含むトランジスタにおいて、酸化物半導体膜に接し、且つソース電極及びドレイン電極を覆う帯電を防止するための金属酸化膜を形成し、該金属酸化膜を通過して酸素を導入(添加)し、加熱処理を行う。この酸素導入及び加熱工程によって、水素、水分、水酸基又は水素化物などの不純物を酸化物半導体膜より意図的に排除し、酸化物半導体膜を高純度化する。また、金属酸化膜を設けることで、トランジスタにおいて酸化物半導体膜のバックチャネル側に寄生チャネルが発生するのを防止する。 (もっと読む)


【課題】酸化物半導体を用いた半導体装置に安定した電気的特性を付与し、高信頼性化することを目的の一とする。
【解決手段】酸化物半導体膜を含むトランジスタにおいて、酸化物半導体膜に接し、且つソース電極及びドレイン電極を覆う帯電防止機能を有する金属酸化膜を形成し、加熱処理を行う。この加熱工程によって、水素、水分、水酸基又は水素化物などの不純物を酸化物半導体膜より意図的に排除し、酸化物半導体膜を高純度化する。また、金属酸化膜を設けることで、トランジスタにおいて酸化物半導体膜のバックチャネル側に寄生チャネルが発生することを防止できる。 (もっと読む)


【課題】酸化物半導体を用いた半導体装置に安定した電気的特性を付与し、高信頼性化することを目的の一とする。
【解決手段】酸化物半導体膜を含むトランジスタにおいて、酸化物半導体膜に接し、且つソース電極及びドレイン電極を覆う帯電防止機能を有する金属酸化膜を形成し、加熱処理を行う。この加熱工程によって、水素、水分、水酸基又は水素化物などの不純物を酸化物半導体膜より意図的に排除し、酸化物半導体膜を高純度化する。また、金属酸化膜を設けることで、トランジスタにおいて酸化物半導体膜のバックチャネル側に寄生チャネルが発生するのを防止する。 (もっと読む)


【課題】TFTに適したSOI基板およびその作製方法を提供する。またSOI基板を用
いて信頼性の高い半導体装置及びその作製方法を提供する。
【解決手段】SIMOX、ELTRAN、Smart−Cutに代表される技術を用いて
SOI基板を作製するにあたって、主表面(結晶面)が{110}面である単結晶半導体
基板を用いる。その様なSOI基板は下地となる埋め込み絶縁層と単結晶シリコン層との
密着性が高く、信頼性の高い半導体装置を実現することが可能となる。 (もっと読む)


【課題】高さの異なる複数の素子形成面に形成された半導体素子の電気特性を均一化する。
【解決手段】半導体装置Sは、高さの異なる複数の素子形成面50が段差状に形成された半導体層1と、素子形成面50を含む各領域にそれぞれ形成された半導体素子51,52と、半導体層1に対し、半導体素子51,52を覆うと共に素子形成面50に沿った段差状の表面を有する段差補償絶縁膜28とを備えている。そして、各素子形成面50における半導体層1は、互いに同じ厚みに形成されている。 (もっと読む)


【課題】光劣化が最小限に抑えられ、電気特性が安定したトランジスタを提供することを課題とする。
【解決手段】”safe”トラップが存在するため、光応答の二種類のモードを示す酸化物半導体層を用いることによって、光劣化が最小限に抑えられ、電気特性が安定したトランジスタを実現する。なお、光応答の二種類のモードを示す酸化物半導体層は、10pA以上10nA以下の光電流値を有している。光応答の二種類のモードの存在は、キャリアが”safe”トラップに捉えられるまでの平均時間τが十分大きい場合、光電流の時間変化の結果において、急速に立ち下がる部分とゆっくり下がる部分がある。 (もっと読む)


【課題】フォトセンサにおいて、トランジスタのオフ電流を低減することで、低消費電力化を図ることを目的の一とする。
【解決手段】フォトダイオード、第1のトランジスタ、及び第2のトランジスタを有するフォトセンサと、読み出し制御トランジスタを有する読み出し制御回路と、を有する。フォトダイオードは、入射光に応じた電荷を第1のトランジスタのゲートに供給する機能を有する。第1のトランジスタは、ゲートに供給された電荷を蓄積する機能と、蓄積された電荷を出力信号に変換する機能とを有する。第2のトランジスタは、出力信号の読み出しを制御する機能を有する。読み出し制御トランジスタは、出力信号を電圧値の信号に変換する抵抗素子としての機能を有し、第1のトランジスタ、第2のトランジスタ、及び読み出し制御トランジスタの半導体層は、酸化物半導体を用いて形成されている。 (もっと読む)


【課題】フォトセンサを有する半導体装置において、トランジスタ数を削減し、表示品位及び/または撮像品位を向上させる。
【解決手段】ゲートが選択信号線208に電気的に接続され、ソースまたはドレインの一方に出力信号線212が電気的に接続され、他方に基準信号線211が電気的に接続されたトランジスタ205と、リセット信号線209にアノードまたはカソードの一方が電気的に接続され、他方にトランジスタ205のバックゲート206が電気的に接続されたフォトダイオード204を有し、フォトダイオード204を順バイアスとしてトランジスタ205のバックゲート電位を初期化し、逆バイアスとしたフォトダイオード204の光の強度に応じた逆方向電流で前記バックゲート電位を変化させ、トランジスタ205をオンすることで前記出力信号線212の電位を変化させ、光の強度に応じた信号を得る。 (もっと読む)


【課題】カーボンナノチューブ電界効果トランジスタを含む集積回路であって、その製造プロセスにプラズマ環境下での工程が含まれていても、優れた特性のカーボンナノチューブ電界効果トランジスタを維持する手段を提供する。
【解決手段】1の半導体基板上に配置された、電界効果トランジスタと、MOSトランジスタと、前記電界効果トランジスタと前記MOSトランジスタとを接続するメタル配線と、を含む集積回路であって:前記電界効果トランジスタは、ゲート絶縁膜と、前記ゲート絶縁膜上に形成されたカーボンナノチューブを含むチャネルと、前記カーボンナノチューブを被覆する絶縁保護膜と、前記絶縁保護膜上であって前記チャネルを覆う領域に配置された金属膜と、前記チャネルに接続されたソース電極およびドレイン電極と、前記チャネルを制御可能なゲート電極とを有し、ここで前記メタル配線は、プラズマエッチング法により形成された配線である、集積回路。 (もっと読む)


【課題】電力が供給されない状況でも記憶内容の保持が可能で、かつ、書き込み回数にも制限が無い、新たな構造の半導体装置を提供することを目的の一とする。
【解決手段】酸化物半導体を用いた書き込み用トランジスタ、該トランジスタと異なる半導体材料を用いた読み出し用トランジスタ及び容量素子を含む不揮発性のメモリセルを有する半導体装置を提供する。メモリセルへの情報の書き込みは、書き込み用トランジスタをオン状態とすることにより、書き込み用トランジスタのソース電極(またはドレイン電極)と、容量素子の電極の一方と、読み出し用トランジスタのゲート電極とが電気的に接続されたノードに電位を供給した後、書き込み用トランジスタをオフ状態とすることにより、ノードに所定量の電荷を保持させることで行う。また、読み出し用トランジスタとして、しきい値電圧を正に制御したトランジスタを用いることで、読み出し電位を正の電位とする。 (もっと読む)


【課題】液晶表示装置が有する信号線の寄生容量を低減すること。
【解決手段】各画素に設けられるトランジスタとして、酸化物半導体層を具備するトランジスタを適用する。なお、当該酸化物半導体層は、電子供与体(ドナー)となる不純物(水素又は水など)を徹底的に除去することにより高純度化された酸化物半導体層である。これにより、トランジスタがオフ状態のときのリーク電流(オフ電流)を少なくすることができる。そのため、各画素において容量素子を設けずとも液晶素子に印加される電圧を保持することが可能になる。また、これに付随して、液晶表示装置の画素部に延在する容量配線を削除することが可能になる。そのため、信号線と容量配線が立体交差する領域における寄生容量を削除することが可能になる。 (もっと読む)


【課題】TFTの工程を複雑化させることなくシステムオンパネル化を実現し、なおかつ
コストを抑えることができる発光装置の提案を課題とする。
【解決手段】画素部に発光素子と、発光素子への電流の供給を制御するTFTとを有する
画素が設けられており、駆動回路が有するTFTと、発光素子への電流の供給を制御する
TFTとは、ゲート電極とゲート電極上に形成されたゲート絶縁膜と、ゲート絶縁膜を間
に挟んでゲート電極と重なっている第1の半導体膜と、第1の半導体膜上に形成された一
対の第2の半導体膜とを有し、一対の第2の半導体膜には一導電型を付与する不純物が添
加されており、第1の半導体膜はセミアモルファス半導体で形成されていることを特徴と
する発光装置。 (もっと読む)


【課題】樹脂フィルム上に形成した薄膜トランジスタにクラックが発生し難い薄膜トランジスタ基板並びにそれを備えた表示装置及び電磁波センサを提供する。
【解決手段】薄膜トランジスタ基板100は、樹脂フィルム10と、前記樹脂フィルム上に設けられており、圧縮応力性の層12A,12Bと引張応力性の層14とが少なくとも3層交互に積層され、最下層及び最上層が前記圧縮応力性の層である積層構造を有するバッファ層16と、前記バッファ層上に設けられている薄膜トランジスタ21と、を含む。 (もっと読む)


【課題】プロセスウィンドウが広く、特性安定性が高い電界効果型トランジスタを提供する。
【解決手段】ゲート電圧を印加するためのゲート電極と;電流を取り出すためのソース電極及びドレイン電極と;前記ソース電極及びドレイン電極に隣接して設けられ、n型酸化物半導体からなる活性層と;前記ゲート電極と前記活性層との間に設けられたゲート絶縁層と;を備える電界効果型トランジスタであって、前記酸化物半導体が、3価、4価、5価および6価の少なくとも1つのカチオンを導入することによりn型ドーピングされた結晶組成化合物であることを特徴とする電界効果型トランジスタを提供することにより上記課題を解決する。 (もっと読む)


【課題】トランジスタの微細化を達成し、電界緩和がなされた、酸化物半導体を用いた半導体装置を提供することを課題の一とする。
【解決手段】ゲート電極の線幅を微細化し、ソース電極層とドレイン電極層の間隔を短縮する。ゲート電極をマスクとして自己整合的に希ガスを添加し、チャネル形成領域に接する低抵抗領域を酸化物半導体層に設けることができるため、ゲート電極の幅、即ちゲート配線の線幅を小さく加工しても位置精度よく低抵抗領域を設けることができ、トランジスタの微細化を実現できる。 (もっと読む)


【課題】A/D変換回路の構成を簡略にする。
【解決手段】入力された第1の信号を、第2の信号に変換するA/D変換回路を有し、A/D変換回路は、第1の信号の電圧と、逐次的に値が変化する基準となる電圧と、を比較する比較回路と、比較回路の比較結果に応じて、逐次的に値が変化するデジタル値であるデジタル信号を第4の信号として出力し、且つ第3の信号に応じて、第1の信号の電圧値に対応するデジタル値のデジタル信号を第2の信号として出力するA/D変換制御回路と、入力された第4の信号をアナログ信号に変換し、変換したアナログ信号を第5の信号として出力するD/A変換回路と、を有し、比較回路は、ソース、ドレイン、第1のゲート、及び第2のゲートを有し、第1のゲートに第1の信号が入力され、第2のゲートに第5の信号が入力され、ソース及びドレインの一方の電圧が第3の信号の電圧となるトランジスタを有する。 (もっと読む)



【課題】チャネル保護層に対するソース、ドレイン電極及び不純物層のアライメントずれが生じた場合であっても、オン電流特性のばらつきを抑制することができる半導体装置及びその製造方法を提供する。また、製品の歩留まりを向上させることができるとともに、良好な画質を有する発光装置、並びに、該発光装置を実装した電子機器を提供する。
【解決手段】薄膜トランジスタTFTの半導体層14上に設けられるチャネル保護層15と、ソース、ドレイン電極18及び不純物半導体層17との間に、カーボン絶縁膜16が設けられている。半導体層14は、例えば非晶質シリコンをレーザーアニール処理することにより結晶化された微結晶シリコンにより形成されている。カーボン絶縁膜16は、このレーザーアニール処理において適用される光熱変換層であり、当該光熱変換層の一部を残したものである。 (もっと読む)


【課題】酸化物半導体を用いたトランジスタと、酸化物半導体以外の半導体材料を用いたトランジスタとを積層して、新たな構造の半導体装置を提供することを目的の一とする。
【解決手段】第1のトランジスタと、第1のトランジスタ上に絶縁層と、絶縁層上に第2のトランジスタと、を有し、第1のトランジスタは、第1のチャネル形成領域を含み、第2のトランジスタは、第2のチャネル形成領域を含み、第1のチャネル形成領域は、第2のチャネル形成領域と異なる半導体材料を含んで構成され、絶縁層は、二乗平均平方根粗さが1nm以下の表面を有する半導体装置。 (もっと読む)


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