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Fターム[5F140BF23]の内容

絶縁ゲート型電界効果トランジスタ (137,078) | ゲート電極 (19,255) | 3層目より上層の材料 (915)

Fターム[5F140BF23]の下位に属するFターム

半導体 (140)
金属 (751)

Fターム[5F140BF23]に分類される特許

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【解決手段】半導体上に反応ゲート絶縁部としてシリコン酸化物又は無機酸化物を含む第1の絶縁層が形成された電界効果型トランジスタの上記第1の絶縁層の上に、反応性官能基を有する有機分子で構成された第1の有機単分子膜を形成し、該第1の有機単分子膜に塩基数3〜35の短鎖プローブDNAを上記反応性官能基を介して、直接又は架橋分子を介して結合させてなる、プローブDNA/有機単分子膜/絶縁層/半導体構造を検出部として備える半導体DNAセンシングデバイス。
【効果】本発明の半導体DNAセンシングデバイスは、オンチップでの高感度マイクロマルチDNAセンシングデバイスとして非常に効果的な半導体デバイスであり、これを用いた集積化デバイスは、一塩基多型等のミスマッチ配列のDNA解析を高精度に可能とするセンシング特性を有するものであり、高度な医療の提供・テーラーメード医療に有効である。 (もっと読む)


【課題】薄いニッケル膜を用いてシリコンゲルマニウム層をシリサイド化する場合であっても、シート抵抗の上昇や接合リーク電流の増加を抑制し得る半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】半導体基板34上にゲート電極54pを形成する工程と、ゲート電極の両側の半導体基板内にソース/ドレイン拡散層64pを形成する工程と、ソース/ドレイン拡散層にシリコンゲルマニウム層100bを埋め込む工程と、シリコンゲルマニウム層の上部にアモルファス層101を形成する工程と、アモルファス層上にニッケル膜66を形成する工程と、熱処理を行い、ニッケル膜とアモルファス層とを反応させることにより、シリコンゲルマニウム層上にシリサイド膜102bを形成する工程とを有している。 (もっと読む)


半導体装置(100)を形成する方法は、第一領域(104)を備える半導体基板と、第一領域上にゲート誘電体(108)を形成するステップと、ゲート誘電体上に導電性金属酸化物(110)を形成するステップと、導電性金属酸化物上に耐酸化バリア層(111)を形成するステップと、耐酸化バリア層上にキャッピング層(116)を形成するステップとを含む。一実施形態において、導電性金属酸化物はIrO,MoO及びRuOであり、耐酸化バリア層はTiNを含む。
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【課題】 本発明は、ゲート電極の空乏化を抑制すると共に、シリサイドの高抵抗化を防止することができる半導体装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】 ゲート絶縁膜上に、所定の半導体材料とゲルマニウムとを含む膜を形成するステップと、膜を酸化することにより、ゲート絶縁膜上に、当該膜よりもゲルマニウム濃度が高くかつ膜厚が薄い第1の膜を形成すると共に、第1の膜上に酸化膜を形成するステップと、酸化膜を除去するステップと、第1の膜上に、半導体材料を含み、第1の膜よりもゲルマニウム濃度が低い第2の膜を形成するステップと、第2の膜及び第1の膜にエッチングを行うことにより、ゲート電極を形成するステップとを備えることを特徴とする。 (もっと読む)


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