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Fターム[5F157BF01]の内容

半導体の洗浄、乾燥 (54,359) | 洗浄液成分による洗浄(有機) (1,513) | 成分 (1,057)

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Fターム[5F157BF01]に分類される特許

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【課題】製造中に生じる半導体デバイスの欠陥、特にパターンのつぶれを、スループットを犠牲にすることなく低減するための方法とそのための処理溶液を提供すること。
【解決手段】1種以上の界面活性剤を含む処理溶液を使用して、半導体デバイス製造時の欠陥数を低減する。この処理溶液は、特定の好ましい態様において、パターニングしたホトレジスト層の現像の際又はその後でリンス液として使用すると、パターンのつぶれのような現像後の欠陥を低減することができる。 (もっと読む)


可動プラテンに搭載された基板(5)を清浄化する装置である。例示的な実施形態では、装置は、プラテンが基板を搬送するときに基板表面(5)を溶剤(7)で湿潤化する溶剤吐出ノズル(25)を有する第1のチャンバ(20)を備える。プラテンは、基板をプロセスチャンバの中へ搬送するときに、所定の方向へ所定の走査速度で移動する。プロセスチャンバは基板表面(5)から所定の高さ(h)に高温ソース(30)を有し、高温ソースは基板表面へ向けられた熱エネルギーを供給し、熱エネルギーが基板表面に吐出された溶剤(7)を蒸発させ、プラテンが基板を第1のチャンバ(20)からプロセスチャンバの中へ搬送するときに、溶剤蒸発が基板表面から微粒子(35)を除去する。清浄化された基板は、精密フォトマスク、又は、ウェハを含む。
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