【課題】エンコードエラーの発生を抑圧することができるAD変換回路および撮像装置を提供する。
【解決手段】VCO100aの出力信号CK0〜CK8のうち出力信号CK7が上位計数部101のカウントクロックとなる。演算部106は、出力信号CK7を基準として定義される出力信号CK0〜CK8の状態（状態0〜状態7）を検出するため、各出力信号の論理状態の変化位置を検出し、検出された変化位置に基づいて下位計数信号を生成する。演算部106がこの変化位置を検出する際の手順では、立下りエッジが略同時になる出力信号CK0と出力信号CK7の論理状態の比較は行われない。このため、エンコードエラーの発生を抑圧することができる。 （もっと読む）

【課題】カウントクロックの周波数によらず、AD変換により得られるデジタルデータの分解能を向上させることができるAD変換回路および撮像装置を提供する。
【解決手段】ラッチ部108は、比較部109による比較処理の間、クロック生成部18からのクロック信号を通過させ、比較処理の終了に係るタイミングでクロック信号をラッチする。列カウント部103は、クロック生成部18からのクロック信号をカウントすることに加えて、ラッチ部108にラッチされたクロック信号の論理状態に基づいて生成された計数信号をカウントする。 （もっと読む）

【課題】アナログ入力信号をデジタル出力信号に変換するためのシステム及び方法を提供する。
【解決手段】システムは、ＤＡＣ電流を供給するための電流モード（ＣＭ）デジタル・アナログ変換器（ＤＡＣ）回路２１０を含む。比較器回路２５０は、ＤＡＣ電流及びアナログ入力信号に基づいて決定されたエラー信号に応答して比較器信号を発生する。逐次近似レジスタ回路２７０は、比較器信号に応答して、ＤＡＣコード信号２７４又はデジタル出力信号２７２のうちの少なくとも１つを発生する。ＤＡＣコード信号をＣＭ ＤＡＣ回路によって用いて、ＤＡＣ電流を制御する。 （もっと読む）

【課題】従来よりも高精度かつ高速の変換が可能なカラムＡＤＣを内蔵した固体撮像装置を提供する。
【解決手段】固体撮像装置２００において、各変換部１２は、対応の垂直読出線９を介して出力された各画素の信号を第１〜第Ｎ（Ｎは３以上の整数）の変換ステージを順に実行することによってデジタル値に変換する。第１〜第Ｎ−１の変換ステージでは、各変換部１２は、画素の信号を保持する保持ノードＮＤ１の電圧を所定の電圧ステップずつ変化させながら参照電圧と比較することによって、デジタル値の最上位ビットを含む上位の複数ビットの値を決定する。第Ｎの変換ステージでは、各変換部１２は、第Ｎ−１の変換ステージにおける電圧ステップの範囲またはそれを超える範囲で、保持ノードＮＤ１の電圧を連続的に変化させながら参照電圧と比較することによって、残りの最下位ビットまでの値を決定する。 （もっと読む）

【課題】いくつかの逐次比較サイクルでサイクル当たり１つよりも多いビットに変換するアナログ／デジタル変換器（ＡＤＣ）を提供する。
【解決手段】システムは、容量性サブＤＡＣ回路４１０及び比較器４３０を含み、スイッチＳ２は、１つ又はそれよりも多くの最初のサイクル中に容量性サブＤＡＣ回路を隔離し、かつ１つ又はそれよりも多くの最終サイクル中にサブＤＡＣ回路を融合し、逐次比較型レジスタ（ＳＡＲ）４４０は、デジタル出力信号又はＤＡＣデジタル信号を発生させる。また、システムは、ＤＡＣ回路を含み、アナログ入力信号及びＤＡＣアナログ信号のうちの少なくとも一方で入力キャパシタＣｉｎを予充電し、プログラマブル利得増幅器４２０は、誤差信号を増幅し、マルチビットＡＤＣは、増幅された誤差信号をマルチビットデジタル信号に変換し、ＳＡＲは、マルチビットデジタル信号を使用してＤＡＣデジタル信号又はデジタル出力信号を発生させる。 （もっと読む）

【課題】低周波ノイズ除去に伴う消費電力の増加を最小限に抑えることができる固体撮像装置を提供する。
【解決手段】画素部100は、入射した光の大きさに応じた画素信号を出力する画素101と、補正用基準電圧に応じた補正用画素信号を出力する補正用画素102とを有する。AD変換回路105は、複数の遅延素子が接続された遅延回路を有し、画素信号または補正用画素信号のレベルに対応する数の遅延素子をパルス信号が通過すると、パルス信号が通過した遅延素子の数に応じたデジタル信号を出力する。制御部111は、1フレーム内でｍ（mは2以上の自然数）行の画素信号のAD変換に対応して1行の補正用画素信号のAD変換を行うように垂直走査部103およびAD変換部105を制御する。ノイズ除去部109は、補正用画素信号のAD変換結果を用いて画素信号のAD変換結果からノイズを除去する。 （もっと読む）

【課題】被写体の撮像と並行して、Ａ／Ｄ変換器に供給されるカウント信号の検査を行うことができる光電変換システムを提供することを課題とする。
【解決手段】マトリクス状に配置された複数の画素と、ランプ信号を生成する参照信号生成部と、列毎に配置され、画素からの信号をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換器と、ランプ信号の出力に合わせてカウント動作を行い、カウント信号をカウント信号線を介してＡ／Ｄ変換器に供給するカウンタと、Ａ／Ｄ変換器とは独立して設けられ、カウント信号の期待値とカウント信号線を介して供給されるカウンタからのカウント信号とを照合することによりカウンタの検査を行うカウンタ検査回路を備え、被写体の撮像と並行に、カウント信号の検査を行えるようにする。 （もっと読む）

【課題】 並列型ＡＤ変換器におけるカウンター回路の動作を精度良く制御する。
【解決手段】 第１クロック信号を計数してカウント信号を出力するカウンター回路と、第１クロック信号に基づいて、第２クロック信号を生成する第２クロック信号生成部と、カウント開始信号を前記第２クロック信号に同期して出力するクロック同期化部と、を有し、カウンター回路は、第２クロックに同期したカウント開始信号に応じて計数を行う。 （もっと読む）

【課題】予測変換を行なう逐次変換方式のＡＤ変換装置において、従来よりも予測精度を向上させる。
【解決手段】アナログ・デジタル変換装置１において、変化量算出部２２は、変換部１１によって入力信号のＡＤ変換が実行される度に、新たに得られたＡＤ変換結果と１つ前に得られたＡＤ変換結果との変化量を算出する。変化量記憶部２３は、前回までのＡＤ変換結果に基づいて算出された所定数の変化量を記憶する。最大変化量抽出部２４は、変化量記憶部２３に記憶されている所定数の変化量のうちで最大変化量を抽出する。変換値予測部３０は、抽出された最大変化量に基づいて、ＡＤ変換によって求める全ビットのうちの１または複数ビットの予測値を決定する。変換部１１は、変換値予測部３０によって予測値が決定された１または複数ビットを除く残余のビットの値を逐次比較方式によって決定する。 （もっと読む）

【課題】 ＡＤＣにおいて、ランプ信号の電位の時間に依存した変化の開始に先立って、ランプ信号のランプ開始電位をシフトする形態が知られている。このランプ信号の電位をシフトする方法として、従来は積分アンプの入出力端子間に設けられた積分容量に電流を印加して充放電させていた。従って、ランプ信号のランプ開始電位をシフトするのに積分容量を充放電する期間を要していた。
【解決手段】 ランプ信号のランプ開始電位をシフトさせる電圧供給部を有することを特徴とするランプ信号出力回路である。 （もっと読む）

【課題】遅延ユニットの温度特性に基づくＡＤ変換データのバラツキを抑制するＡＤ変換装置を提供する。
【解決手段】ＤＣＯ２０は、ＴＡＤ１０を構成するリングディレイライン（ＲＤＬ）１１と同じ温度特性を有するＲＤＬ２１を用いて、ＲＤＬ２１の駆動電圧が指定電圧Ｖ＿DCOの時に、ＲＤＬ２１を構成する遅延ユニットをＤｐ段数だけ通過するのに要する時間を周期Ｔ＿ＣＫとするサンプリングクロックＣＫを生成し、ＴＡＤ１０は、そのサンプリングクロックＣＫの周期Ｔ＿ＣＫを測定期間としてＡＤ変換を実行する。つまり、ＲＤＬ１１を構成する遅延ユニットでの遅延時間は、温度によって変化するが、その変化に応じた分だけ、サンプリングクロックＣＫの周期Ｔ＿ＣＫ、即ち、ＴＡＤ１０での測定時間も変化させている。 （もっと読む）

【課題】 カウンタが複数のメモリに共通してカウント信号を供給する列ＡＤＣにおいて、カウンタからメモリへカウント信号を伝送する信号経路の不良によって生じる、メモリに供給されるカウント信号の遅延を好適に検出することを目的とする。
【解決手段】 カウント信号の信号値が変化したタイミングに応じて、カウント信号をメモリに保持させるラッチ信号をメモリに供給するテストラッチ信号供給部を有するアナログデジタル変換回路である。 （もっと読む）

【課題】カウントした計数値の誤差の発生を抑制することができるAD変換回路および撮像装置を提供する。
【解決手段】上位カウンタ101は、遅延回路から出力される第1の下位位相信号を構成する1つの出力信号をカウントクロックとしてカウントを行って第1の上位計数値を取得する。第1の上位計数値を構成する各ビットの値が反転された後、上位カウンタ101は、遅延回路から出力される第2の下位位相信号を構成する1つの出力信号をカウントクロックとしてカウントを行い、さらに下位カウンタ104から出力される上位用カウントクロックに基づいてカウントを行って第2の上位計数値を取得する。変更部103は、上位カウンタ101のカウントクロックの切換えの際に、カウントクロックの論理状態を所定の状態に変更する。 （もっと読む）

【課題】ＳｕｂＤＡＣの出力端子につながる４端子コンパレータのトランジスタのゲート容量が所望の容量比となるように制御して補正し、高精度化を可能とする逐次比較型ＡＤ変換器を提供する。
【解決手段】探索範囲を設定するデジタル値ＤＳＲを受け、対応する電圧を出力するＭａｉｎＤＡＣ１０２，１０３と、探索範囲を設定するための制御信号を受け、対応する電圧を出力するＳｕｂＤＡＣ１０１と、ＭａｉｎＤＡＣ１０２，１０３とＳｕｂＤＡＣ１０１からの電圧の比較を行う４端子コンパレータ１０５，１０７、ＭａｉｎＤＡＣ＋（１０２）と、ＭａｉｎＤＡＣ−（１０３）の出力電圧を比較するコンパレータ１０６と、切替制御信号に基づきＳｕｂＤＡＣ１０１の出力Ａ１，Ｂ１，Ｄ１，Ｅ１又はコモン電圧ＶＣＭに切り替えるセレクタ１０４と、セレクタ１０４に切替制御信号を与える逐次比較レジスタロジック１０８を備える。 （もっと読む）

【課題】アナログ電圧を基準電圧と比較する比較器を有し、その比較器を構成するＭＯＳトランジスタの耐圧をアナログ入力信号の信号振幅の最大電圧より低くすることが可能な逐次変換型アナログデジタル変換器を提供する。
【解決手段】共通ノードに第１端子により接続し、２の巾乗の重み付けがされた複数の第１キャパシタ５０ａ〜５０ｅからなるキャパシタアレイ４０と、共通ノードの電圧減衰に寄与する第２キャパシタ７０と、それぞれの第１キャパシタに、第１基準電圧、第２基準電圧、又は、入力信号の電圧の内の一つの供給又は切断を行う、複数の第１スイッチからなるスイッチアレイと、共通ノードに第３基準電圧を供給又は切断を行う第２スイッチ３０と、共通ノードの電圧を、第３基準電圧と比較する比較器と、第１スイッチ、第２スイッチを制御する制御回路と、を備える。 （もっと読む）

【課題】入力信号の温度変化をキャンセルするときの増幅利得の歪み及びバラツキを低減する。
【解決手段】デジタル信号生成回路１０は、増幅ユニット１２と、基準電圧生成回路１４２と、変調器１４０と、を備える。増幅ユニット１２は、温度Ｔに線形依存する信号レベルを有するアナログ入力信号Ａｉｎを増幅する。基準電圧生成回路１４２は、温度Ｔに線形依存させて基準電圧Ｖｒｅｆを生成する。変調器１４０は、基準電圧Ｖｒｅｆに基づいて、増幅ユニット１２が増幅したアナログ入力信号（増幅信号Ａｉｎ´）をデジタル出力信号Ｄｏｕｔに変換する。 （もっと読む）

【課題】容量DA変換器を駆動するドライバを低消費電力化しつつ、低誤差のAD変換を行う。
【解決手段】バイナリ重み型容量DA変換器は、アナログ入力信号と、参照電圧とに基づき、Nビットの各ビットに対応するサイクル毎に、残差信号を生成する。第1比較器は、前記サイクル内の第1の時点における前記残差信号を、所定電圧と比較して、論理値を表す第1比較結果を得る。レジスタは、前記第1比較結果を保持する。第２比較器は、前記サイクル内における前記第1の時点より後の第2の時点における前記残差信号を、前記所定電圧と比較して、論理値を表す第2比較結果を得る。誤り判定回路は、前記第1比較結果が前記第2比較結果と異なるとき、誤り検出信号を発生させる。誤り訂正回路は、前記誤り判定回路により前記誤り検出信号が発生させられたとき、前記レジスタから読み出し第1比較結果を反転して出力する。 （もっと読む）

【課題】アナログデジタル変換器の微分直線性を小規模な回路構成に基づいて検査できるようにすること。
【解決手段】テスト回路は、アナログデジタル変換器から出力された第１のデジタル値を格納する第１のレジスタと、アナログデジタル変換器から出力された第２のデジタル値を格納する第２のレジスタと、第１のレジスタに格納された第１のデジタル値と第２のレジスタに格納された第２のデジタルとの差分値を算出する差分算出器と、差分値が所定の上限値と所定の下限値との間に含まれる否かを判定し、判定結果を出力する比較判定器と、を備えている。 （もっと読む）

【課題】入射光の光強度をディジタル信号値に変換するのに要する時間を、得られるディジタル信号値が大きな誤差を含むのを回避しつつ短縮することができるＡ／Ｄ変換器を実現する。
【解決手段】固体撮像装置１００を構成するＡ／Ｄ変換器１２０において、一定値ずつ変化するディジタル値を出力するカウンタ１２４と、該ディジタル値の二乗と該ディジタル値の和に比例させてランプ電圧を発生する二次ランプ発生回路１２３と、アナログ入力電圧と該ランプ電圧とを比較して大小関係の反転時を検出する比較回路１２１と、該比較回路１２１が該反転時を検出したとき、該カウンタから得られる時間情報から、該アナログ入力電圧の平方根を変換して得られるディジタル変換値を取り出すラッチ１２２とを備え、該アナログ入力電圧の平方根を該ディジタル変換値に変換する。 （もっと読む）