説明

Fターム[5J039KK26]の内容

パルスの操作 (9,993) | 回路要素 (4,666) | シフトレジスタ (65)

Fターム[5J039KK26]に分類される特許

61 - 65 / 65


【課題】 1つのカウンタとクロック個数差検出部とを利用して、位相が同期されない2クロック信号の周波数を比較して、周波数ロックを判別(所望の周波数精度内にあるか否かを判別)することにより、集積化が容易な周波数ロック検出器を提供すること。
【解決手段】 本発明は、周波数ロック検出器において、外部から基準クロック信号を受け取って、基準クロック信号のクロック個数をカウントするためのカウンタと、前記外部から受け取った基準クロック信号と、前記基準クロック信号と互いに位相が同期されない復元されたクロック信号とのクロック個数の差を検出するためのクロック個数差検出部と、前記カウンタと前記クロック個数差検出部の結果値とを利用して、周波数ロックを判別するためのロック判別部とを備える。 (もっと読む)


本発明は、インバータの入力部をインバータの閾値電位にし、インバータの入力部に容量手段を介してCK信号を入力することで、CK信号は増幅され、その増幅されたCK信号をシフトレジスタに用いる。つまり、インバータの閾値電位を取得することで、トランジスタの特性ばらつきに殆ど影響しないシフトレジスタを提供することができる。
(もっと読む)


【課題】基準信号と内部クロック信号とが同期しているか否かを瞬時に判断することによって検査効率を向上させることができる遅延同期ループ回路の良否検査方法及び遅延同期ループ回路の良否検査回路を提供する。
【解決手段】遅延同期ループ回路に、各タップ信号をクロック信号とする複数のフリップフロップを直列に接続することによってシフトレジスタを形成し、複数のフリップフロップにクロック信号として基準信号からの遅延時間の長いタップ信号から順に入力した場合に、このシフトレジスタから出力される第1の検査信号と、複数のフリップフロップの全てにクロック信号として基準信号を入力した場合に、このシフトレジスタから出力される第2の検査信号とを検出し、これらの第1の検査信号と第2の検査信号との差に基づいて良否を判定することとした。 (もっと読む)


【課題】 基準クロックの高速性やフリップフロップの高速動作を必要とせずに、狭い位相差を有する多相クロックを生成することができる多相クロック生成回路を提供する。
【解決手段】 基準クロックを基に位相が異なる複数の出力クロックを生成する多相クロック生成回路において、位相が異なる第1及び第2の基準クロック(clka,clkb)をそれぞれ分周して出力クロックを生成する第1及び第2の分周回路(diva,divb)と、第1及び第2の分周回路の所定のノード(divbx_qx,divax_qx)間を間欠的に短絡するスイッチとを有し、当該スイッチは、定常動作状態で前記所定のノードが同じレベルに制御されるタイミングで、当該所定のノード間を短絡する。具体的には、スイッチは、第1、第2の基準クロックのいずれかまたは両方により短絡制御される。独立して動作する分周回路が、位相が異なる基準クロックを分周して、位相が異なる出力クロックを生成し、短絡スイッチにより両分周回路の動作を整合させて、分周回路が生成するそれぞれの分周クロックの位相ずれを整合させる。 (もっと読む)


本発明は、ワーストケース要求クロックよりも低い周期を使用してディジタル計算を実行し、同時に、同じハードウェアを有する第2のシステム上で、ワーストケース想定クロックよりも大きな周期を使用して同じ計算をする。計算の出力は、エラーが生じたかどうかを決定するため比較される。2つの答えに差異が存在すれば、より速い計算がエラーでなければならず、システムは遅い方のシステムからの答えを使用する。一実施形態において、本発明は、より遅いシステムの2つのコピーを利用し、各々のコピーは、メインシステムの半分の速さで実行される。しかし、2つのコピーは、全体としてメインシステムと同じレートで結果を生成する。メインシステムは、従来のレートよりもはるかに速いレートで実行する。したがって、本発明は、ハードウェアの数が多くなるにしても、パフォーマンスを改善する。
(もっと読む)


61 - 65 / 65