半導体試験装置に使用されるプログラマブル電源において、電流レンジや出力リレーにおける大電流の高速切り換えを可能とする。
半導体試験装置１のプログラマブル電源１０に設けられたスイッチ部２０のＭＯＳＦＥＴ駆動回路２２において、光絶縁素子２２−１の受光部２２−１２からの電流によりコンデンサ部２２−１２に電荷が蓄積される。アナログスイッチ部２２−３の切り換えによりＳＷＡがＯＮ（ＳＷＢがＯＦＦ）となると、コンデンサ部２２−１２に蓄積されていた電荷によりＭＯＳＦＥＴ部２１の各ＭＯＳＦＥＴのゲートがチャージされＯＮ状態となる。一方、アナログスイッチ部２２−３のＳＷＢがＯＮ（ＳＷＡがＯＦＦ）となると、ＭＯＳＦＥＴのゲートがディスチャージされる。

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