説明

国際特許分類[G01R27/28]の内容

物理学 (1,541,580) | 測定;試験 (294,940) | 電気的変量の測定;磁気的変量の測定 (31,836) | 抵抗,リアクタンス,インピーダンスまたはそれらから派生する電気的特性を測定する装置 (1,223) | 減衰,利得,移相,または四端子回路網,すなわち二端子対回路網から派生する特性の測定;過渡応答の測定 (126)

国際特許分類[G01R27/28]の下位に属する分類

特性を記録する装置をもつもの,例.ナイキスト線図を書くことによるもの
分布定数回路におけるもの (1)

国際特許分類[G01R27/28]に分類される特許

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【課題】より短い測定時間で、より正確な共振周波数を得る。
【解決手段】極値探索部51は、被測定回路12を測定して得られた周波数とインピーダンスとを示す測定点から、極大値または極小値である極値を探索する。算出部52は、周波数を示す第1の軸とインピーダンスを示す第2の軸とが直交する平面上に配置された測定点のうち、極値および極値の周波数より高い周波数の測定点であって、隣接する測定点を結ぶ直線と極値の周波数より低い周波数の測定点との平面上の位置の関係から共振周波数を算出する。本発明はインピーダンスアナライザに適用できる。 (もっと読む)


【課題】測定スピードを飛躍的に向上する。
【解決手段】検索部53は、周波数方向の第1の間隔の測定点で測定された第1の測定値から、極大値または極小値である極値を検索する。測定制御部52は、測定部31を制御し、測定部31に、第1の測定値から検索された極値を含む周波数の範囲を第1の間隔に比較して狭い予め定められた第2の間隔の予め定められた数の測定点で測定させる。検索部53は、第2の間隔の測定点で測定された第2の測定値から極大値または極小値である極値を検索する。象限周波数測定ポイント追加部55は、第2の測定値から検索された極値の周波数の象限周波数を含む周波数の範囲について、第1の間隔に比較して狭い予め定められた第3の間隔の予め定められた数の測定点を設定する。本発明はインピーダンスアナライザに適用できる。 (もっと読む)


【課題】より簡単に、より迅速に電気的特性を測定する。
【解決手段】掃引測定制御部52は、測定部に、それぞれ予め定められている開始周波数から終了周波数までの予め定められた数の測定点における周波数で試料の第1の測定値を測定させる。共振周波数特定部53は、第1の測定値から共振周波数を特定する。中心周波数設定部54は、特定された共振周波数を測定の中心の周波数である中心周波数に設定する。掃引測定制御部52は、測定部に、中心周波数を中心とした範囲の予め定められた数の測定点における周波数で測定対象の第2の測定値を測定させる。表示制御部55は、表示部に、第1の表示領域に第1の測定値を表示させ、第2の表示領域に第2の測定値を表示させる。本発明はインピーダンスアナライザに適用できる。 (もっと読む)


【課題】プリント基板同士をFFC又はFPCケーブルで接続したシステムをシミュレーションするにあたっての、FFCの伝送特性をモデル化するための手法を得る。
【解決手段】FFC及びFPCケーブルのTDR測定(隣接配線近端部Open/Short)から回路シミュレータの伝送線路モデルを用いてケーブルのTDR波形を再現するというモデリング手法である。また、TDT、TDR(Even/Odd)測定を実施し、モデリングを実施することで、より高精度なモデルを取得できる。 (もっと読む)


【課題】高周波測定装置の測定値の精度を可及的に高くするように校正するために使用される模擬負荷装置を提供する。
【解決手段】プラズマ処理装置のチャンバー内に配置されたときに、正電極板70およびグランド電極板60をプラズマ処理装置の2つの電極にそれぞれ押し付けるコイルばね40を、模擬負荷装置1に設けた。したがって、正電極板70をプラズマ処理装置の正電極に接続し、グランド電極板60をグランド電極に接続するようにして、模擬負荷装置1をプラズマ処理装置の正電極とグランド電極との間に配置することができる。これにより、高周波測定装置による検出値をプラズマ処理装置の電極間における値に校正する校正パラメータを算出することができる。当該校正パラメータを用いることで、高周波測定装置の測定値の精度を高くすることができる。 (もっと読む)


【課題】フィクスチャ基板の回路パラメータを簡単に測定する。
【解決手段】フットプリント相当パターン113i,113oとSMAコネクタ102と校正配線パターンと有する校正基板100を用いて、フィクスチャ基板の回路パラメータを測定する。フットプリント相当パターン113i,113oは、一組のフィクスチャ基板それぞれに設けられたフットプリントに対応する配線パターンである。SMAコネクタ102は、各フィクスチャ基板に搭載されたSMAコネクタと同一のものである。校正配線パターンは、各フィクスチャ基板の配線パターンに対応する、フットプリント相当パターン113i,113oとSMAコネクタ102とを接続する配線パターンである。そして、測定対象回路を介して接続されるフィクスチャ基板のフットプリントに相当するフットプリント相当パターン同士が直接接続されている。 (もっと読む)


【課題】伝送線路の伝送特性を評価する評価装置のジッタ校正を容易にする伝送装置、この伝送装置のSパラメータについての測定方法、およびこの伝送装置のゲイン調整方法を実現する。
【解決手段】伝送線路の伝送特性を評価する評価装置をジッタ校正する際に、評価装置のプローブ端子群211とソケット端子群212との間に接続される伝送装置1は、プローブ端子群211と同じピッチで端子群21が設けられた第1の面と、ソケット端子群212と同じピッチで端子群22が設けられた、第1の面とは反対側の面である第2の面とを有するアダプタ装置11と、このアダプタ装置11に接続され、第1の面上の端子群21から第2の面上の端子群22までの対応する端子間の信号経路ごとの伝送損失がそれぞれゼロとなるように信号を補償する信号補償装置12と、を備える。 (もっと読む)


【課題】2端子インピーダンス部品について、補正の対象となる測定系が実測時と同じ状態のままで校正作業を行うことができる、電子部品の高周波特性誤差補正方法を提供する。
【解決手段】高周波特性の異なる少なくとも3つの補正データ取得用試料を、基準測定系と実測測定系で測定し、実測測定系で測定した測定値と基準測定系で測定した測定値とを、伝送路の誤差補正係数を用いて関連付ける数式を決定する。任意の電子部品2を実測測定系で測定し、決定した数式を用いて、電子部品を基準測定系で測定したならば得られるであろう電子部品の高周波特性の推定値を算出する。 (もっと読む)


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