【課題】磁気ヘッドの新規開発において、再生と記録の両ヘッド構成で磁気ヘッドを試作した場合、試作ヘッドの製作に３ヶ月以上の期間がかかってしまう為、開発開始から試作評価までの時間が長くなってしまい、大量生産までに遅れが生じてしまう。
【解決手段】再生ヘッドを試作するステップ(100)と、前記再生ヘッドの特性を評価するステップ(102)と、前記再生ヘッドの特性を評価するステップにおいて不良品と判断された場合、前記再生ヘッドを試作するステップと前記再生ヘッドの特性を評価するステップを繰り返すステップと、前記再生ヘッドの特性を評価するステップにおいて良品と判断された場合、前記再生ヘッドの上に記録ヘッドを積層して磁気ヘッドを試作するステップ(104)と、前記磁気ヘッドの記録ヘッドの特性を評価するステップ(106)と、前記記録ヘッドの特性を評価するステップにおいて良品と判断された場合、前記磁気ヘッドの製作を開始するステップ(108)とを含む。 （もっと読む）

【課題】従来の磁気ディスクまたは磁気ヘッド検査装置は、磁気ディスクまたは磁気ヘッドを検査するための書込みおよび測定リソースを各ヘッドで占有する構成であり、磁気ヘッドや磁気ディスクの同時測定数を増やした場合に同磁気ヘッドの数だけ書込み／測定リソースを増やす必要があるため、装置の小形・低コスト化は困難である。
【解決手段】複数ディスク回転部または複数磁気ヘッドを持つ磁気ヘッドまたは磁気特性検査装置において、書込み信号発生部の出力信号を各磁気ヘッドに切替または分配する手段と、各磁気ヘッドから読出した信号を各測定リソースに切替または分配して出力する手段と、各測定リソースがどのディスク回転部に同期した測定をするかを切替える手段を具えることにより、複数のディスク回転部間または複数のヘッド間で書込み信号発生部および測定リソースを共有する。 （もっと読む）

読み取り／書き込みヘッド（１００）を受け容れてディスク（５）に対して位置決めする装置及び関連する方法を開示する。当該装置は、デッキ（２）；該デッキ上のスピンドル（４）；少なくとも該スピンドルを囲んでいる安全囲い（３）；及び、少なくとも１つのヘッド受容部位を有する可動キャリッジ（５０）を含んでなる。キャリッジ（５０）は、ヘッド受容部位が安全囲いの外側にある第１の位置とヘッド受容部位が安全囲いの内側にある第２の位置との間を移動できる。当該装置はさらに、第２の位置にあるときにヘッドをヘッド受容部位から取り上げて該ヘッドを試験用ディスクへとロードするように構成された自動機構（６）を含む。 （もっと読む）

【課題】ディスクリートトラック媒体上で、従来の連続膜からなる磁気記録層を含む磁気記録媒体と同様の検査が可能な磁気記録装置を提供する。
【解決手段】磁気記録可能な幅Ｌ１の記録トラックと、隣接する記録トラック間に設けられた非記録部と、前記記録トラックの幅Ｌ１より広い幅Ｌ２をもつワイドランドトラックとを有する磁気記録媒体と、記録再生ヘッドを有するヘッドスライダとを具備したことを特徴とする磁気記録装置。 （もっと読む）

【課題】 永久磁石または直流印加駆動型の電磁石を磁界源として、ＭＲヘッド等の被試験体に交流磁界を印加する交流磁界印加装置を提供する。
【解決手段】
本発明は、被試験体に交流磁界を印加する交流磁界印加装置であって、前記費試験体と対向する位置に固定され、一定磁界を供給する磁界源と、当該磁界発生源と前記被試験体との間に配置され、前記磁界源からの磁界を通過可能とするスリットが部分的に設けられた円盤状のスリット付磁気遮蔽板と、前記スリット付磁気遮蔽板を回転軸を中心に回転させる駆動部と、を有することを特徴とする交流磁界印加装置に関する。 （もっと読む）

【課題】磁気ディスク，磁気ヘッドを精度よく検査するための、磁気ヘッド位置決め制御手段を提供する。
【解決手段】リニア駆動素子の先端にリニア駆動素子の伸縮方向の中心線に対して左右にヒンジを配置し、それぞれのヒンジからの接続部がアームの根元においてアームの長手方向の中心線に対して左右に接続し、ヒンジの接続部間の距離に対しアームの長さを大きくとり、アーム先端に着脱可能に装着したヘッドジンバルアセンブリ（ＨＧＡ）を位置決めする。 （もっと読む）

【課題】ディスク偏心の補正におけるクランプによって発生するディスクずれや、スピンドル回転中に偏心を補正するためのアクチュエータに通電をする電極の摩擦負荷の影響による回転精度の低下等を防止する。
【解決手段】記録媒体であるディスク４を把持するクランプ部２と、ディスクを半径方向に移動可能な移動機構３を具備する偏心低減機構１において、ディスクを回転させるためのスピンドル５とクランプ部との間に移動機構を配置し、クランプ部によるディスクの把持を完了した後に偏心補正を行い、スピンドル回転中は移動機構には通電しない。 （もっと読む）

【課題】高精度な測定値の取得が可能な磁気抵抗効果素子の磁気抵抗効果率の測定方法を提供する。
【解決手段】本発明に係る磁気抵抗効果率の測定方法は、固定磁性層の磁化方向を判定するステップと、自由磁性層の磁化方向を判定するステップと、自由磁性層の磁化方向に対して９０°より大きく１８０°より小さく、且つ固定磁性層の磁化方向に対して９０°より大きく１８０°より小さい角度の方向に、強度が０から徐々に増加する外部磁場を印加してρＨ曲線を得て抵抗最大値を得るステップと、自由磁性層の磁化方向に対して１８０°より大きく２７０°より小さく、且つ固定磁性層の磁化方向に対して０°より大きく９０°より小さい角度の方向に、強度が０から徐々に増加する外部磁場を印加してρＨ曲線を得て抵抗最小値を得るステップと、抵抗最大値と抵抗最小値とから磁気抵抗効果率を算出するステップとを備える。 （もっと読む）

【課題】薄膜磁気抵抗効果膜等の薄膜について、その膜面に垂直方向の抵抗を高精度に計測することを可能にする薄膜の抵抗測定方法及びこれを用いた磁気抵抗効果膜の製造方法を提供する。
【解決手段】基板１１上にアモルファス層２５と、第１の導体層１３と、抵抗を測定する対象である薄膜３２と、第２の導体層２０とをこの順に積層して形成した抵抗測定用のサンプルを形成する工程と、前記サンプルの、前記基板１１上の最上層２１の表面に、抵抗測定用のプローブ１０ａ〜１０ｄを接触させ、前記薄膜の膜面に垂直方向の抵抗を測定する工程とを備える。 （もっと読む）

【課題】検査対象の磁界発生面がクラウン加工等が施されて平坦でない場合であっても、磁界発生素子の記録特性を擬似メディアを用いることなくを検査することが可能な、磁界発生素子の特性検査方法及び装置を提供する。
【解決手段】センサユニット１７は、微動ユニットによる支持によりＸ，Ｙ，Ｚ方向に微動可能である。この微動ユニットをＸ，Ｙ方向に所定量だけ移動させ、その位置で薄膜磁気ヘッド素子のライト素子３１が発生する磁界をセンサユニット１７の磁気センサ１７５で読み取る。その際、センサユニット１７はローバーへの対向面に凸部１７ａ，１７ｂ，１７ｃを有しているため、ローバー２０にクラウン加工が施されていてもヘッド素子２１と磁気センサ１７５の対向間隔を所定値に維持でき、ばらつきの無い測定値が得られる。 （もっと読む）