【課題】ヘッドスタックアセンブリに組み付け出来る磁気ヘッドとしての歩留まり及び在庫を低減してマルチディスク磁気記憶装置としての製造コストを低減したヘッドスタックアセンブリ及びその製造方法を提供することにある。
【解決手段】磁気ヘッドＨがサスペンションＳを介して組み付けられる複数のアクチュエータアームＡ１〜Ａ４を備えたヘッドスタックアセンブリ及びその製造方法であって、前記複数のアクチュエータアームの内、内側のアクチュエータアームＡ２，Ａ３に組み付けられる磁気ヘッドＨｂ１，Ｈｓ２のコア幅若しくは記録素子幅の許容範囲を外側のアクチュエータアームＡ１，Ａ４に組み付けられる磁気ヘッドＨｓ１，Ｈｂ２のコア幅若しくは記録素子幅の許容範囲よりも狭くして構成したことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】 プローブピン摩耗の監視方法に関し、プローブピンの摩耗を通常の試験測定工程において自動的に検出する。
【解決手段】 プローブピンを被検査体の測定用端子部に当接して前記被検査体の抵抗値を予め定めた数回繰り返して測定する工程と、前記測定した抵抗値の測定バラツキを求める工程と、前記求めた測定バラツキが予め定めた規定値以上であるか否かを判定するバラツキ判定工程とを設ける。 （もっと読む）

【課題】少ない電力で強い磁界を広い範囲に均等に発生させることができる磁界印加装置を提供する。
【解決手段】横断面がコの字形状をした２個のコアの凹部が互いに対向する向きで互いに結合した位置と、離れた位置を移動自在に構成されている。結合した位置においては、コの字形状の略平行２辺の一辺は、その先端が互いに接触しており、もう一辺は、接触せず近接している。これにより、小さな電力で強い磁界を発生させることが可能になる。また、この近接した辺の先端に磁界印加対象物を設置することにより、長い棒状の磁界印加対象物の広い範囲に均等に強い磁界を印加することができる。これにより、磁界を印加して抵抗を測定する場合に、一度に多くの素子の測定が可能となる。 （もっと読む）

【課題】本発明は、磁気ヘッドのライト素子近傍における磁界分布の特性を求める方法、求められた特性を基に、ライト素子の実効コア幅や実効ギャップ幅を求める磁気ヘッド測定方法、磁気ヘッド測定装置、磁気ヘッド測定装置を使用して作成された磁気ヘッド、およびその磁気ヘッドを用いる磁気記録装置を提供することを目的とする。
【解決手段】磁気ヘッドのライト磁界中で磁界じょう乱手段を動かして、じょう乱手段の位置によるライトコイルの電気応答特性の変化を計測することにより、磁気ヘッドのライト磁界の分布特性を測定することが可能になる。磁界じょう乱手段の透磁率、保磁力、磁気異方性などの磁気特性を制御し、ライトコイルのインピーダンスの実部と虚部を解析することにより、磁界強度や磁界ベクトル成分の検出が可能になる。 （もっと読む）

【課題】１つの特性検査装置にＨＧＡを１つずつ投入して前記ＨＧＡの薄膜磁気ヘッド素子の特性を検査する場合よりも低コストでスループットを向上させることができ、かつ、ＨＧＡの最終検査よりも前に薄膜磁気ヘッド素子の記録特性を検査することの可能な、薄膜磁気ヘッド素子の特性検査方法及び装置を提供する。
【解決手段】第１ホルダ１３０によりローバー２０を磁気メディア１１０に接触させた状態に保持しつつ、ローラ１５０Ａ，１５０Ｂの回転により磁気メディア１１０をローバー２０に対して相対的に直線移動させながら、各薄膜磁気ヘッド素子２１のライト素子によって磁気メディア１１０に検査用信号を記録し、これを読み取りセンサ１４０で再生した結果に基づいて検査ユニット１７０が各薄膜磁気ヘッド素子２１の特性を評価する。 （もっと読む）

【課題】１つの特性検査装置にＨＧＡを１つずつ投入して前記ＨＧＡの薄膜磁気ヘッド素子の特性を検査する場合よりも低コストでスループットを向上させることができ、かつ、ＨＧＡの最終検査よりも前に薄膜磁気ヘッド素子の記録特性を検査することの可能な、薄膜磁気ヘッド素子の特性検査方法及び装置を提供する。
【解決手段】ホルダ１３０によりローバー２０を磁気メディア１１０に接触させた状態に保持しつつ、ローラ１５０Ａ，１５０Ｂの回転により磁気メディア１１０をローバー２０に対して相対的に直線移動させながら、各薄膜磁気ヘッド素子２１のライト素子によって磁気メディア１１０に検査用信号を記録し、これをリード素子で再生した結果に基づいて検査ユニット１７０が各薄膜磁気ヘッド素子２１の特性を評価する。 （もっと読む）

【課題】従来の評価方法では、完全に検出することのできなかった磁化状態が不安定な磁気抵抗効果型ヘッドの検出が可能となる磁気抵抗効果型ヘッドの評価方法を提供する。
【解決手段】本発明に係る磁気抵抗効果型ヘッドの評価方法は、磁気抵抗効果型ヘッドに、所定温度下で、該磁気抵抗効果型ヘッドの浮上面と平行に磁場を印加する工程と、次いで、Ｋｅｒｒ効果により前記浮上面の第１の磁化状態画像を取得する工程と、次いで、前記磁気抵抗効果型ヘッドに外部ストレスを印加する工程と、次いで、Ｋｅｒｒ効果により前記浮上面の第２の磁化状態画像を取得する工程と、次いで、前記第１の磁化状態画像、前記第２の磁化状態画像、もしくはそれらの比較によって、前記磁気抵抗効果型ヘッドの特性を評価する工程と、を備える。 （もっと読む）

【課題】本発明は、ヘッドの評価方法、磁気記憶装置及びプログラムに関し、測定結果から転送速度のみに依存するヘッドの特性変化の要因を評価することを目的とする。
【解決手段】磁気ディスクを第１の回転数で回転させて磁気ヘッドによりデータのライトとリードを行い、その後磁気ヘッドの磁気ディスクに対する浮上量を第１の回転数の時と同じに保って第１の回転数より高い第２の回転数でデータのリードを行って、リードされたデータの変化を示す第１の測定結果を求める手順と、磁気ディスクを第２の回転数で回転させて磁気ヘッドによりデータのライトとリードを行い、その後磁気ヘッドの磁気ディスクに対する浮上量を第２の回転数の時と同じに保って第１の回転数でデータのリードを行って、リードされたデータの変化を示す第２の測定結果を求める手順と、磁気ヘッドの評価を求められた第１及び第２の測定結果に基づいて行い、転送速度のみに依存する磁気ヘッドの特性変化の要因を評価する手順を含むように構成する。 （もっと読む）

【課題】長時間稼動により潤滑剤が付着した磁気ヘッドによる影響の評価を効率的に行うべく、長時間稼動後の磁気ヘッドの表面状態と同等の表面状態を短時間で再現性良く発生させることのできる試験用磁気ヘッドの製造方法及びこれを用いた試験方法を提供する。
【解決手段】試料磁気ヘッドを磁気記録媒体上で浮上させながら所定時間稼動させる浮上試験工程を行う。次に、浮上試験を経た試料磁気ヘッドの対向面の表面状態の観察をする表面状態評価工程を行う。そして、その測定結果により得られた表面状態を未使用の磁気ヘッドの対向面に再現する表面状態の再現処理を行う。これにより、浮上試験を経た試料磁気ヘッドと同様の汚れ（表面状態）を有する試験用磁気ヘッドが完成する。表面状態再現工程を必要な信頼性評価試験の種類数に応じて複数回行えば必要な数の試験用磁気ヘッドを短時間で量産できる。 （もっと読む）

【課題】 磁気ヘッドの磨耗量を正確に把握することを可能とし、磁気ヘッドの交換を適切なタイミングで行うことができるようにする。
【解決手段】 対向配置されたパッドローラあるいは他の磁気ヘッドとの間でカード状磁気記録媒体を押し当てて摺接させながら相対的に走行させて磁気記録の読み取りあるいは書き込み若しくはその双方を行う磁気ヘッドにおいて、磁気ギャップを構成するヘッド部３の周囲に配置されるとともに媒体摺動面を構成する領域２を有する被摺動部材に、ヘッド部３の磨耗量を示す段部４が少なくとも１箇所形成されている。 （もっと読む）