【課題】ＭＥＭＳからのヘッド・スライダの脱落やＭＥＭＳの破損を防止する。
【解決手段】本発明の一実施形態において、スライダＤＥＴ用サスペンションは、ヘッド・スライダを保持するためのＭＥＭＳ１５を有している。ＭＥＭＳは、ヘッド・スライダを保持するためのクランパ５１を有しており、このクランパを外力により動かすことでヘッド・スライダの着脱を行うことができる。サスペンションは、クランパの横方向における動きを規制するリミッタ５６ａ、５６ｂを有している。リミッタにより、クランパの望ましくない動きを規制し、ヘッド・スライダ装着時におけるクランパの横方向における移動、磁気ディスクとの接触によるヘッド・スライダの脱落やＭＥＭＳの破損、あるいはハンドリングにおけるヘッド・スライダの脱落やＭＥＭＳの破損を防止する。 （もっと読む）

【課題】ヘッド・スライダ及びサスペンションの高精度なハンドリングを行うと共に、ヘッド・スライダ着脱装置の構造をシンプルで小型化する。
【解決手段】本発明の一実施形態において、スライダＤＥＴ用サスペンション５０は、ヘッド・スライダを保持するためのクランパ５１２を有しており、このクランパを開閉ことでヘッド・スライダの着脱を行うことができる。ヘッド・スライダ着脱装置は、コントローラ１２、クランパに係合して動かすピン３３、ピン駆動機構３４、スライダ・ホルダ３２、そして、カメラ３１を有している。コントローラは、カメラの画像を参照して、ピン駆動機構とスライダ・ホルダとを制御してヘッド・スライダの着脱を行う。ピン駆動機構、スライダ・ホルダ及びカメラは、キャリア３５内にまとめて配置されている。 （もっと読む）

【課題】ウエハ段階においてリード素子の特性を的確に試験することを可能とし、とくに加熱下、冷却下におけるリード素子の特性を的確に試験することを可能にする磁気ヘッドの特性試験方法を提供する。
【解決手段】完成品と同一の寸法に形成された試験用のリード素子２２と、製品用のリード素子と、前記試験用のリード素子の近傍に配された伝熱部５０とを備えるウエハを被試験体とし、前記被試験体に対し、試験用の磁界を外部から作用させ、前記伝熱部５０に伝熱部材４０を接触させ、伝熱部５０を介して前記試験用のリード素子２２を加熱あるいは冷却することにより、加熱下あるいは冷却下における前記試験用のリード素子２２の電磁変換特性を試験する。 （もっと読む）

【課題】製造工程途中のできるだけ早い段階で薄膜磁気ヘッドの書き込みトラック幅の検査を行う。
【解決手段】ローバー状態の薄膜磁気ヘッドにボンディングパッドより記録信号（励磁用信号）を入力し、薄膜磁気ヘッドに含まれる記録ヘッド（素子）より発生される磁界の様子を、磁気ヘッドの浮上高さ相当分の位置でスキャン移動させて磁気力顕微鏡（ＭＦＭ）、走査型ホールプローブ顕微鏡（ＳＨＰＭ）又は走査型磁気抵抗効果顕微鏡（ＳＭＲＭ）にて直接観察することで、記録ヘッド（素子）の物理的な形状ではなく発生磁界形状を測定し、磁気的な実効トラック幅の検査を非破壊で実施可能とした。スピンスタンドを用いてＨＧＡ状態又は擬似ＨＧＡ状態でしか検査できなかった実効トラック幅の測定を、磁気力顕微鏡を用いることによってローバー状態で行えるようにした。 （もっと読む）

【課題】検査装置において、小型なばねを用いて微小構造体へばね力を十分に且つ確実に与えること及び微小構造体をクランプ機構へ着脱する際のばねの変形量を確保すること。
【解決手段】検査装置は、微小構造体７をクランプするクランプ機構８と、クランプ機構を支持する検査装置本体とを備える。クランプ機構８は、微小構造体７の一側に当接してばね力を与えるばね１と、微小構造体７の他側に当接して位置決めするストッパ６とを備える。ばね１は、微小構造体７に当接される押圧部１４と、検査装置本体側に支持される支持部１７と、ばね力を発生するばね力発生部１５とを備える。ばね力発生部１５は、微小構造体７がクランプされた際に圧縮される圧縮部１８及び引っ張られる引っ張り部１９と、圧縮部１８と引っ張り部１９とを接続する連結部１６とからなる。 （もっと読む）

【課題】従来の評価方法では定量的に評価・選別することが困難であった、磁気ディスク装置組み込み後に出力特性が不安定となる可能性の高い磁気ヘッドを選別することが可能な磁気ヘッドの評価方法を提供し、従来の評価方法と組み合わせて製造工程に適用することによって、出力特性の安定した信頼性の高い磁気ディスク装置および当該製造方法を提供する。
【解決手段】本発明に係る磁気ヘッドの評価方法は、再生ヘッド部に磁気抵抗効果型再生素子を備える磁気ヘッドの評価方法であって、前記磁気抵抗効果型再生素子のＱＳＴ波形を測定する工程と、前記ＱＳＴ波形の直進性の判定を行う工程と、前記ＱＳＴ波形が直進性を有しない前記磁気ヘッドを「安定性無し」と評価する工程と、を備える。 （もっと読む）

【課題】磁気抵抗効果素子の評価を従来よりも適切に行う。
【解決手段】ハード膜が第１の方向に着磁されている磁気抵抗効果素子に対して、第１の方向とは反対の第２の方向に外部磁場を印加し、磁場を初期磁界から測定最大印加磁界まで変化させたときの抵抗の最大値を求める工程（ステップＳ１６、Ｓ１８）を、測定最大印加磁界を段階的に変化させて行う（ステップＳ２６）ので、磁場がある値になった時点で、それよりも小さな磁場における特性（抵抗値）が変化するような現象が発生しても、その特性変化を認識することができる。これにより、磁気抵抗効果素子の適切な評価を実現することができる。 （もっと読む）

【課題】 解決しようとする課題は、解決しようとする課題は、磁気スピン解析において、解析対象の解析モデルの要素の数が数μｍ程度の磁気ヘッドの小さい物体でも数千万要素で構成することが必要となり、解析時間、解析リソースが膨大になる問題があり、部分解析、一部要素の拡大した解析では解析精度の問題がある。
【解決手段】 解析対象を詳細メッシュに分解して磁化ベクトル算出と所定基準により詳細メッシュの領域を統合した最適化メッシュで算出した反磁界ベクトルを詳細メッシュ上にマッピングして詳細メッシュでの反磁界ベクトル算出の処理演算量を削減し、詳細メッシュでの磁化ベクトル、最適化メッシュでの反磁界ベクトル算出の繰り返しにより磁気スピン解析を行う。 （もっと読む）

【課題】ヘッドスタックアセンブリに組み付け出来る磁気ヘッドとしての歩留まり及び在庫を低減してマルチディスク磁気記憶装置としての製造コストを低減したヘッドスタックアセンブリ及びその製造方法を提供することにある。
【解決手段】磁気ヘッドＨがサスペンションＳを介して組み付けられる複数のアクチュエータアームＡ１〜Ａ４を備えたヘッドスタックアセンブリ及びその製造方法であって、前記複数のアクチュエータアームの内、内側のアクチュエータアームＡ２，Ａ３に組み付けられる磁気ヘッドＨｂ１，Ｈｓ２のコア幅若しくは記録素子幅の許容範囲を外側のアクチュエータアームＡ１，Ａ４に組み付けられる磁気ヘッドＨｓ１，Ｈｂ２のコア幅若しくは記録素子幅の許容範囲よりも狭くして構成したことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】１つの特性検査装置にＨＧＡを１つずつ投入して前記ＨＧＡの薄膜磁気ヘッド素子の特性を検査する場合よりも低コストでスループットを向上させることができ、かつ、ＨＧＡの最終検査よりも前に薄膜磁気ヘッド素子の記録特性を検査することの可能な、薄膜磁気ヘッド素子の特性検査方法及び装置を提供する。
【解決手段】第１ホルダ１３０によりローバー２０を磁気メディア１１０に接触させた状態に保持しつつ、ローラ１５０Ａ，１５０Ｂの回転により磁気メディア１１０をローバー２０に対して相対的に直線移動させながら、各薄膜磁気ヘッド素子２１のライト素子によって磁気メディア１１０に検査用信号を記録し、これを読み取りセンサ１４０で再生した結果に基づいて検査ユニット１７０が各薄膜磁気ヘッド素子２１の特性を評価する。 （もっと読む）