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国際特許分類[H01J49/38]の内容

国際特許分類[H01J49/38]に分類される特許

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衝突またはフラグメンテーションセル(5)の上流に配置されたイオン移動度分光計またはセパレータ(3)を含む質量分析計が開示される。イオンは、イオン移動度分光計またはセパレータ(3)内でそのイオン移動度にしたがって分離される。衝突またはフラグメンテーションセル(5)に入射する際のイオンのフラグメンテーションエネルギーを最適化するために、イオン移動度分光計またはセパレータ(3)に存在するイオンの運動エネルギーは時間とともに実質的に直線的に増加される。
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本発明は、半径方向内向きの方向に沿って磁化された1つの半径方向内向きの構造体と、半径方向外向きの方向に沿って磁化された1つの半径方向外向きの構造体という、中空円筒の形態における少なくとも2つの磁化された構造体(30、32)を含む、永久磁石を形成しているアセンブリを有する真空磁気イオントラップに関するものであり、半径方向内向き及び外向きの磁化された構造体(30、32)は、共通の長手方向の軸(XX’)に沿って配列されている。又、このトラップは、少なくとも2つの磁化された構造体(30、32)の間に固定され、且つ、電圧生成器(12)に接続可能な少なくとも2つのトラッピング電極(10)を含むイオン閉じ込めセル(8)を格納している、密封チャンバ(4)をも有している。
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本発明は、以下のように要約できる。
本発明は、
i)データエレメント値X及びデータエレメント値Yを有するデータの順序対(X、Y)によって特徴付けられる成分を1若しくは2以上含む試料の複数から質量分光データを得(このときXは、成分の質量と同等又は正比例するデータエレメント値であり、Yは、成分の容量と同等又は正比例するデータエレメント値である)、
ii)前記試料においてデータエレメント値Xが共通である全ての固有成分を同定し、かかる全X値の平均値をそこから計算し、平均値を求め、さらに、Xが共通である順序データ対における全Y値の平均値及び任意で標準偏差値を求め、
iii)コード可能なセルアレイを有するデータ構造を作製し、前記各試料に存在する各固有成分の容量との関係に基づき、所定の値又は前記分光データのその他の特徴について色又は他の識別可能な特徴付けを各セルに施す、
ステップからなる分光データを表示する方法を提供する。
分光データを有するデータ構造も開示する。
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