説明

アーク放電を低減させた静電チャック

本明細書では、静電チャックの実施形態を提供する。いくつかの実施形態では、静電チャックが本体を含むことができ、この本体が、本体の側壁に対して垂直な第1の面、及びこの第1の面と本体の上面の間に配置された階段状の第2の面により定められる切り欠いた上部周縁部と、第1の面に沿って本体を貫いて配置された複数の穴とを有し、前記静電チャックが、本体の下に配置された基部に本体を結合するための、複数の穴の中に配置された複数の留め具と、基板を静電的に保持するための、本体の上面の上方に配置された誘電体部材と、階段状の第2の面と噛み合ってこれらの間に非線形境界面を定める階段状の内側壁を有する、本体の周囲の切り欠いた上部周縁部内に配置された絶縁体リングと、この絶縁体リング上に配置されたエッジリングとをさらに備え、非線形境界面が、エッジリングと留め具の間のアーク放電を制限する。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明の実施形態は、一般に処理装置に関し、より具体的には静電チャックに関する。
【背景技術】
【0002】
基板支持部上に基板を静電的に保持するために、しばしば静電チャック(ESC)が使用される。いくつかの構成では、静電チャック、又は静電チャックを含む基板支持部を利用して、この基板支持部に、ESC上に基板を保持するために使用する直流(DC)に加えて(高周波(RF)電流又は交流(AC)などの)バイアス電力が供給される。
【0003】
発明者らは、静電チャックにRFバイアス電力を印加した際に、チャックによってはアーク放電が生じ得ることを発見した。例えば、ESCの導電性部品間の空隙にわたってアーク放電が生じ得る。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
従って、発明者らは、チャック内の導電性部品間のアーク放電を低減又は除去することができる改善された静電チャックを実現した。
【課題を解決するための手段】
【0005】
本明細書では、静電チャックの実施形態を提供する。いくつかの実施形態では、静電チャックが本体を含み、この本体が、本体の側壁に対して垂直な第1の面、及びこの第1の面と本体の上面の間に配置された階段状の第2の面により定められる切り欠いた上部周縁部と、この切り欠いた上部周縁部の第1の面に沿って本体を貫いて配置された複数の穴とを有し、前記静電チャックは、本体の下に配置された基部に本体を結合するための、複数の穴のそれぞれ1つの中に配置された複数の留め具と、上部に配置された基板を静電的に保持するための、本体の上面の上方に配置された誘電体部材と、切り欠きの階段状の第2の面と噛み合ってこれらの間に非線形境界面を定める階段状の内側壁を有する、本体の周囲の切り欠いた上部周縁部内に配置された絶縁体リングと、絶縁体リング上に配置されたエッジリングとをさらに備え、静電チャックにRF電力が印加されたときに、非線形境界面が、エッジリングと留め具の間のアーク放電を制限する。本発明のその他の及びさらなる実施形態については以下で説明する。
【0006】
添付図面に示す本発明の例示的な実施形態を参照することにより、上記で手短に要約し以下でより詳細に説明する本発明の実施形態を理解することができる。しかしながら、添付図面は本発明の代表的な実施形態のみを示すものであり、本発明は他の同等に効果的な実施形態も認めることができるので、これらの添付図面が本発明の範囲を限定すると見なすべきではない。
【図面の簡単な説明】
【0007】
【図1】本発明のいくつかの実施形態による静電チャックの概略側面図である。
【図2】本発明のいくつかの実施形態による図1の静電チャックの部分的概略側面図である。
【発明を実施するための形態】
【0008】
理解を容易にするために、可能な場合、図に共通する同一の要素は同じ参照数字を用いて示している。図は縮尺通りではなく、明確にするために単純化していることがある。1つの実施形態の要素及び特徴を、さらに詳述することなく他の実施形態に有利に組み入れることもできる。
【0009】
本明細書では、チャックの導電性部品間のアーク放電を有利に低減又は防止する静電チャックの実施形態を提供する。図1は、本発明のいくつかの実施形態による静電チャック(ESC)の概略側面図である。図2は、図1の静電チャック(ESC)の詳細な概略側面図である。静電チャック100は、DC電源106により電極104に供給されるDC電圧によって上部に基板102を保持するために利用される。この静電チャックは、基板の保持を必要とするいずれかの適当な処理過程用に構成されたプロセスチャンバ内に配置することができる。例えば、適当な処理過程は、プラズマ、エッチング、窒化、酸化過程などを含むことができる。本発明の実施形態による修正から有利に恩恵を受けることができる適当な処理装置の例として、以下に限定されるわけではないが、カリフォルニア州サンタクララのApplied Materials社から販売されている処理装置PRODUCER(登録商標)シリーズのいずれかを含むプラズマ反応器などの処理装置が挙げられる。上述の処理装置は例示にすぎず、本教示に基づいて、他のプラズマ反応器及び(CVD反応器又はその他の処理装置などの)非プラズマ装置を好適に修正することもできる。
【0010】
静電チャック100は本体108を含み、この本体108は、上部に配置された基板102を静電的に保持するように構成された誘電体部材124を支持するための上面109を有する。この本体は、段又は切り欠いた上部周縁部110を有する。切り欠いた上部周縁部110の第1の面114に沿って、本体108を貫く複数の穴112が配置される。第1の面は、静電チャックの中心軸に対して実質的に垂直に(例えば、チャックの支持面に対して実質的に平行に)配置することができる。本体108は、アルミニウム(Al)、チタン(Ti)などの導電性材料を含むことができる。
【0011】
本体108は、本体108の下面107に近接して配置された1又はそれ以上の伝熱流体導管116を含むことができる。この伝熱流体導管116を伝熱流体源118に結合して、全ての隣接する導管116に伝熱流体を供給することができる。導管116内に伝熱流体を流して、使用中に静電チャックの温度及び/又は温度プロファイルを制御することができる。
【0012】
本体108は、本体108の上面109に近接して配置された複数の伝熱ガス導管120をさらに含むことができる。導管120を相互接続し、(図示のように)単一の伝熱ガス導管120に伝熱ガス源122を結合できるようにして、全ての隣接する導管120に伝熱ガスを供給できるようにすることができる。或いは、導管を相互接続しない場合には、伝熱ガス源122を個々の導管120に結合することもできる。伝熱ガス源により供給される伝熱ガスは、ヘリウム(He)などとすることができる。いくつかの実施形態では、伝熱ガス導管120が(点線121で示すような)誘電体部材124の中を延びて、誘電体部材124上に配置された基板102の裏面に伝熱ガスを供給することができる。或いは、誘電体部材124がセラミックなどの多孔性材料を含み、これにより伝熱ガスが誘電体部材124に浸透して基板102の裏面に接触できるようにしてもよい。
【0013】
本体108の切り欠いた上部周縁部110は、本体108の側壁111に対して垂直な第1の面114、及び本体108の第1の面114と上面109の間に配置された階段状の第2の面115によって定められる。切り欠いた上部周縁部110の第1の面114に沿って配置された個々の穴112は、これらの中に配置された複数の留め具126のそれぞれ1つを収容するのに適したいずれの形状であってもよい。例えば、図1に示すように、個々の穴112は、切り欠いた上部周縁部100の第1の面114に近接する第1の部分113、及び本体108の第1の部分113と下面107の間に配置された第2の部分117を含むことができる。第1の部分113の直径を第2の部分117よりも大きくして、例えば、(留め具がボルト、ネジなどの場合)各留め具126のヘッドを本体108の切り欠いた上部周縁部110の第1の面114よりも下に埋め込むことができるようにするカウンタボアを形成することができる。
【0014】
複数の留め具126の各々は、複数の穴112のそれぞれ1つの中に配置されて、本体108を、本体108の下に配置された基部128に結合する。各留め具は、ネジ、ボルト、クランプなどとすることができる。いくつかの実施形態では、留め具がネジである。各留め具は、チタン(Ti)などを含むことができる。いくつかの実施形態では、留め具がチタン(Ti)を含む。いくつかの実施形態では、各留め具126の周りにワッシャ(図示せず)を配置して、例えば、個々の穴112の第1の部分113の基部で静止するようにすることができる。このワッシャは、留め具126と同じ材料を含むことができる。いくつかの実施形態では、ワッシャがチタン(Ti)である。
【0015】
基部128は単体構造であってもよく、又は(図示のように)上部部材130及び下部部材132などの複数の構成部品を含んでもよい。いくつかの実施形態では、下部部材132の直径を上部部材130よりも大きくし、下部部材132上に上部部材130を配置してその中心に置くことができる。上部及び下部部材は、同じ材料又は異なる材料から加工することができる。いくつかの実施形態では、上部及び下部部材を、アルミニウム、鋼、ステンレス鋼、チタンなどの導電性材料から加工することができる。いくつかの実施形態では、下部部材132が、セラミック、石英、(ULTEM(登録商標)などの)ポリエーテルイミドなどを含む。上部部材130を下部部材132上に載置することもでき、或いは上位部材と下部部材を、例えば接着層によって接着することもできる。いくつかの実施形態では、基部、又は基部の上部部材130が、各留め具126の一部を受け入れて保持するように構成された複数の第2の穴134を含むことができる。個々の第2の穴134には、各留め具126を保持するためのネジ山を付けることができ、或いは個々の穴134内に、各留め具126を保持するためのネジ山付き挿入物を挿入することもできる。
【0016】
ESC100の上部では、本体108の上面109上に、使用中に基板102を静電的に保持するための誘電体部材124が配置される。この誘電体部材は、セラミック、窒化アルミニウムなどのいずれかの適当な誘電性材料、或いは誘電体被覆を溶射された導電性又は誘電性材料を含むことができる。誘電体部材124は、誘電体部材124内に配置された、基板102のチャッキングに使用される電極104を含むことができる。電極104は、図示のように1つの連続片であってもよく、或いは誘電体層124内に配置された複数の別個の又は電気的に接続された部分を含んでもよい。いくつかの実施形態では、誘電体部材124内に1又はそれ以上のバイアス電極136を配置して、基板102を処理するために使用するプラズマのイオンエネルギーを制御するための、例えばRF電力などのバイアス電力を供給することができる。電極104と同様に、電極136も、RF電力を供給するための1つの単一電極、或いは複数の別個の又は電気的に接続された電極とすることができる。電極136は、電極104の下方又は上方に配置することができる。電極136は、整合ネットワーク又はいずれかの適当なインピーダンス整合システム(図示せず)を介してRF電源138に結合することができる。
【0017】
誘電体部材124は、誘電体部材124の底部から誘電体部材の周囲に(例えば、本体108の上面109に隣接して)径方向に延びるリップ部125をさらに含むことができる。このリップ部125は、本体108の上面109の周縁部に(例えば、本体の切り欠いた上部周縁部の径方向内縁に)延びることができる。いくつかの実施形態では、リップ部の長さ127を約0.05インチ〜0.50インチとすることができる。本体108を誘電体部材124に接着するために、本体108の上面109と誘電体部材124の下面の間に接着層(図示せず)を配置することができる。この接着層は、上述した接着層に使用する材料と同様の材料を含むことができる。発明者らは、接着層を使用した場合、この接着層が、本体108の上面109の周縁部まで完全に延びなくてもよいことを発見した。従って、リップ部125の一部を、接着層によって支持するのではなく空間内に浮かすことができる。発明者らは、リップ部が長過ぎる場合、リップ部の浮いた部分が折れやすくなることをさらに発見した。従って、いくつかの実施形態では、リップ部の長さ127を、折れにくいように又は折れないように選択することができる。
【0018】
ESC100は、本体108の周囲の切り欠いた上部周縁部110内に配置された絶縁体リング140をさらに含む。この絶縁体リング140は、石英などを含むことができる。いくつかの実施形態では、絶縁体リング140が石英を含む。この絶縁体リングは、切り欠いた上部周縁部110の階段状の第2の面115と噛み合う階段状の内側壁142を有して、これらの間に非線形境界面144を定める。非線形境界面144は、プラズマのための曲がりくねった経路をネジに加え、プラズマからネジへの見通し線を遮断する。これにより、静電チャック100にRF電力が印加されたときに、絶縁体リング140上に配置されたリング146と複数の留め具126の間のアーク放電が低減又は防止される。さらに、例えば高密度プラズマによって別様に生じ得るアーク放電を最小化するためにネジを(例えば下向きに)遠ざける。
【0019】
絶縁体リング140の階段状の内側壁142は、絶縁体リング140から本体108の切り欠いた上部周縁部110の第1の面114へ向かって下向きに延びる第1の部分143をさらに含むことができる。この第1の部分143は、約0.02インチ〜1.00インチの長さ145を有することができる。階段状の内側壁142は、絶縁体リング140から本体108の切り欠いた上部周縁部110の階段状の第2の面115に沿って横向きに延びる第2の部分147をさらに含むことができる。この第2の部分147も、約0.02インチ〜1.00インチの長さを有することができる。
【0020】
絶縁体リング140は、絶縁体リング140の上部内縁の周囲に配置された棚部148をさらに含むことができる。絶縁体リング140の底面から棚部148までの厚みは、棚部148が誘電体部材124のリップ部125と同じ高さ又はこれよりも上に配置されるようなものとすることができる。絶縁体リング140の棚部148上にはエッジリング146を配置することができる。エッジリング146は、シリコン(Si)などから加工することができる。エッジリング146の内縁154は、静電チャックの中心軸へ向かって内向きに延びて、誘電体部材124のリップ部125の上に載ることができる。エッジリング146の内縁154と誘電体部材124の間には、間隙155が存在することができる。
【0021】
エッジリング146は、エッジリング146の上部内縁の周囲に配置された棚部158をさらに含むことができる。基板102の周縁部は、エッジリング146の棚部158内へ延びることができる。しかしながら、通常、棚部158は、基板102がエッジリング146と接触せず、誘電体部材124によって完全に支持されるように構成される。
【0022】
任意に、絶縁体リング140の上面152上に第2のエッジリング168を配置することができる。この第2のエッジリング168は、シリコン(Si)などから加工することができる。第2のエッジリング168は、絶縁体リング140をプラズマ及び/又は工程環境による劣化又は損傷から保護することができる。
【0023】
ESC100の追加構成部品としては、本体108及び基部128の少なくとも一部を囲む第2の絶縁体リング170を挙げることができる。この第2の絶縁体リング170は、セラミック、石英、シリコン、シリコンカーバイドのうちの少なくとも1つから加工することができる。この第2の絶縁体リング170を基部128の下部部材132上に載置することができる。第2の絶縁体リング170は、本体108及び基部128の上部部材130を外側接地シェル172から電気的に絶縁することができる。接地シェル172は、第2の絶縁体リング170を囲むことができる。
【0024】
以上、本明細書では、アーク放電を低減させた静電チャックの実施形態を提供した。本発明による静電チャックは、ESCの導電性部品間のアーク放電を有利に低減又は防止する。
【0025】
上記の説明は、本発明のいくつかの実施形態に関するものであるが、本発明の基本的な範囲から逸脱することなく本発明のその他の及びさらなる実施形態を考案することもできる。
【符号の説明】
【0026】
100 静電チャック
102 基板
104 電極
106 DC電源
107 下面
108 本体
109 上面
110 上部周縁部
111 側壁
112 穴
113 第1の部分
114 第1の面
115 階段状の第2の面
116 伝熱流体導管
117 第2の部分
118 伝熱流体源
120 伝熱ガス導管
121 点線
122 伝熱ガス
124 誘電体部材
125 リップ部
126 留め具
127 リップ部の長さ
128 基部
130 上部部材
132 下部部材
134 第2の穴
136 バイアス電極
138 RF電源
140 絶縁体リング
142 階段状の内側壁
143 第1の部分
144 非線形境界面
145 第1の部分の長さ
146 エッジリング
147 第2の部分
148 棚部
152 絶縁体リングの上面
154 エッジリングの内縁
155 間隙
158 棚部
168 第2のエッジリング
170 第2の絶縁体リング
172 外側接地シェル

【特許請求の範囲】
【請求項1】
本体を備えた静電チャックであって、前記本体が、前記本体の側壁に対して垂直な第1の面、及び前記第1の面と前記本体の上面の間に配置された階段状の第2の面により定められる切り欠いた上部周縁部と、前記切り欠いた上部周縁部の前記第1の面に沿って前記本体を貫いて配置された複数の穴とを有し、前記静電チャックが、
前記本体を該本体の下に配置された基部に結合するための、前記複数の穴のそれぞれ1つの中に配置された複数の留め具と、
上部に配置された基板を静電的に保持するための、前記本体の前記上面の上方に配置された誘電体部材と、
前記切り欠いた上部周縁部の前記階段状の第2の面と噛み合ってこれらの間に非線形境界面を定める階段状の内側壁を有する、前記本体の周囲の前記切り欠いた上部周縁部内に配置された絶縁体リングと、
前記絶縁体リング上に配置されたエッジリングと、
をさらに備え、前記静電チャックにRF電力が印加されたときに、前記非線形境界面が、前記エッジリングと前記留め具の間のアーク放電を制限する、
ことを特徴とする静電チャック。
【請求項2】
前記誘電体部材の中に、1又はそれ以上のチャッキング電極がさらに配置される、
ことを特徴とする請求項1に記載の静電チャック。
【請求項3】
前記絶縁体リングの階段状の内側壁が、
前記絶縁体リングから前記本体の前記切り欠いた上部周縁部の前記第1の面へ向かって下向きに延びる第1の部分と、
前記絶縁体リングから前記本体の前記切り欠いた上部周縁部の前記階段状の第2の面に沿って横向きに延びる第2の部分と、
をさらに含むことを特徴とする請求項1に記載の静電チャック。
【請求項4】
前記本体が、
前記本体の下面に近接して配置された複数の伝熱流体導管、又は、
前記本体の上面に近接して配置された複数の伝熱ガス導管、
の少なくとも一方をさらに含むことを特徴とする請求項1から請求項3のいずれかに記載の静電チャック。
【請求項5】
前記基部が、
前記留め具を介して前記本体に結合された上部部材と、
前記上部部材の下方に配置された下部部材と、
をさらに含むことを特徴とする請求項1から請求項3のいずれかに記載の静電チャック。
【請求項6】
前記上部部材が導電性材料を含む、
ことを特徴とする請求項5に記載の静電チャック。
【請求項7】
前記本体及び前記基部を囲む第2の絶縁体リングをさらに備える、
ことを特徴とする請求項1から請求項3のいずれかに記載の静電チャック。
【請求項8】
前記第2の絶縁体リングを囲む接地シェルをさらに備え、前記第2の絶縁体リングが、前記接地シェルを前記本体及び前記基部の少なくとも一部から電気的に絶縁する、
ことを特徴とする請求項7に記載の静電チャック。
【請求項9】
前記誘電体部材が、前記本体の上面に近接する前記誘電体部材を囲む、前記本体の上面の前記周縁部に延びるリップ部をさらに含む、
ことを特徴とする請求項1から請求項3のいずれかに記載の静電チャック。
【請求項10】
前記エッジリングの内縁が、前記誘電体部材の前記リップ部上に配置される、
ことを特徴とする請求項9に記載の静電チャック。
【請求項11】
前記エッジリングが、前記絶縁体リングの上部内縁に配置された棚部内に配置される、
ことを特徴とする請求項1から請求項3のいずれかに記載の静電チャック。
【請求項12】
前記絶縁体リングの上面上に配置された第2のエッジリングをさらに備える、
ことを特徴とする請求項11に記載の静電チャック。
【請求項13】
前記エッジリングが、該エッジリングの上部内縁の周囲に配置された棚部をさらに含み、前記静電チャックの前記誘電体部材上に基板が配置された場合、前記棚部が、前記基板の下に配置されるように構成され、前記棚部が、前記基板が前記静電チャック上に位置する場合、前記基板が前記棚部の上方に配置されるとともに前記エッジリングに接触しないようなサイズを有する、
ことを特徴とする請求項1から請求項3のいずれかに記載の静電チャック。
【請求項14】
前記本体が導電性材料を含むこと、
前記絶縁体リングが石英を含むこと、又は、
前記エッジリングがシリコン(Si)を含むこと、
のうちの1又はそれ以上を特徴とする請求項1から請求項3のいずれかに記載の静電チャック。
【請求項15】
各留め具がネジを含む、
ことを特徴とする請求項1から請求項3のいずれかに記載の静電チャック。

【図1】
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【図2】
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【公表番号】特表2013−511847(P2013−511847A)
【公表日】平成25年4月4日(2013.4.4)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2012−540042(P2012−540042)
【出願日】平成22年11月18日(2010.11.18)
【国際出願番号】PCT/US2010/057170
【国際公開番号】WO2011/063084
【国際公開日】平成23年5月26日(2011.5.26)
【出願人】(390040660)アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド (1,346)
【氏名又は名称原語表記】APPLIED MATERIALS,INCORPORATED
【Fターム(参考)】