コンデンサ回路、電圧測定装置及び電力機器
【課題】２０℃を基準として分圧比の変化率が±０．２％以内にできるコンデンサ回路、電圧測定装置、及び電力機器を提供する。
【解決手段】第１コンデンサ回路２４と第２コンデンサ回路２５を直列接続し、第２コンデンサ回路２５の分圧により電圧を測定可能にしたコンデンサ回路を含む電力機器の電圧測定装置において、第２コンデンサ回路２５と並列に温度補整用コンデンサ５３を接続する。そして、温度補整用コンデンサ５３の静電容量をＣａとし、第２コンデンサ回路２５の静電容量をＣ２としたとき、両コンデンサの静電容量の比（Ｃａ／Ｃ２）を、１／１０≦Ｃａ／Ｃ２≦７６／１００とする。
【解決手段】第１コンデンサ回路２４と第２コンデンサ回路２５を直列接続し、第２コンデンサ回路２５の分圧により電圧を測定可能にしたコンデンサ回路を含む電力機器の電圧測定装置において、第２コンデンサ回路２５と並列に温度補整用コンデンサ５３を接続する。そして、温度補整用コンデンサ５３の静電容量をＣａとし、第２コンデンサ回路２５の静電容量をＣ２としたとき、両コンデンサの静電容量の比（Ｃａ／Ｃ２）を、１／１０≦Ｃａ／Ｃ２≦７６／１００とする。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電力機器の電圧測定装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、電力機器に搭載され、配電線の相電圧を検出する電圧測定装置として、特許文献１が知られている。特許文献１の電圧測定装置は、コンデンサ分圧方式で電圧測定を行うようにされており、具体的には、高電圧側コンデンサと低電圧側コンデンサとを互いに直列に接続したコンデンサ直列回路が用いられている。そして、相電圧はこのコンデンサ直列回路の両端に入力され、高電圧側コンデンサの静電容量と低電圧側コンデンサの静電容量との比に応じて分圧されるが、相電圧の検出は、低電圧側コンデンサに分圧された分圧電圧に基づいて行われる。
【０００３】
図４は、コンデンサ分圧方式の電圧測定装置に含まれる一対のコンデンサ回路１００，２００の直列回路を示している。なお、図４では、説明の便宜上、一相分の電圧測定を行う回路分のみを示している。ここで、以下、コンデンサ回路１００は、高電圧側コンデンサ回路といい、コンデンサ回路２００を、低電圧側コンデンサ回路という。
【０００４】
同図において、該直列回路の両端子のうち、一方の端子は、一相の配電線Ｌに対して接続される入力端子Ｔ１００とされ、他方の端子は接地されるとともに、第１出力端子Ｔ１１０とされている。又、高電圧側コンデンサ回路１００と、低電圧側コンデンサ回路２００の接続点は、第２出力端子Ｔ１２０に接続されている。
【０００５】
配電線Ｌの電圧（相電圧）を、Ｖinとすると、第１出力端子Ｔ１１０と第２出力端子Ｔ１２０出力端子間の分圧出力Ｖoutは、
Ｖout ＝ ｛Ｃ１／（Ｃ１＋Ｃ２）｝Ｖin
となる。なお、Ｃ１は高電圧側コンデンサ回路１００の静電容量であり、Ｃ２は低電圧側コンデンサ回路２００の静電容量である。
【０００６】
又、分圧比は、下記の通りである。
分圧比＝Ｃ１／（Ｃ１＋Ｃ２）
【特許文献１】特許第３６３２９２０号明細書
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
ところで、近年は、配電線の相電圧を計測する電圧測定装置は、高精度化を要求する声が高まっており、配電線用においては、前記分圧比の±０．５％の精度が要求されるまでに至っている。
【０００８】
しかし、特許文献１の構成では、−２０℃〜６０℃の温度範囲において、分圧比の変化率が±１％の精度であるため、この要求を満たせない問題がある。
本発明は上記問題点を解決するためになされたものであって、その目的は、２０℃を基準として分圧比の変化率が±０．２％以内にできるコンデンサ回路を提供することにある。又、他の目的は、２０℃を基準として分圧比の変化率が±０．２％以内にできるコンデンサ回路を備えた電圧測定装置を提供することにある。さらに、他の目的は、２０℃を基準として分圧比の変化率が±０．２％以内にできるコンデンサ回路を備えた電圧測定装置を有する電力機器を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
請求項１に記載の発明は、第１コンデンサ回路と第２コンデンサ回路を直列接続し、第２コンデンサ回路の分圧出力により電圧を測定可能にしたコンデンサ回路において、第２コンデンサ回路と並列に温度補整用コンデンサを接続し、前記温度補整用コンデンサの静電容量をＣａとし、前記第２コンデンサ回路の静電容量をＣ２としたとき、両者の静電容量の比（Ｃａ／Ｃ２）を
１／１０ ≦Ｃａ／Ｃ２≦７６／１００
としたことを特徴とするコンデンサ回路を要旨とするものである。
【００１０】
請求項２に記載の発明は、請求項１において、前記第２コンデンサ回路をセラミックコンデンサにより構成したことを特徴とする。
請求項３の発明は、請求項１又は請求項２において、前記温度補整用コンデンサをポリエステルフィルムコンデンサとしたことを特徴とする。
【００１１】
請求項４の発明は、請求項１乃至請求項３のうちいずれか１項において、前記第１コンデンサ回路及び第２コンデンサ回路のうち、少なくともいずれか一方は、コンデンサを複数含むことを特徴とする。
【００１２】
請求項５の発明は、請求項１乃至請求項４のうちいずれか１項に記載のコンデンサ回路からなる電圧測定部と、該電圧測定部が出力した電圧に基づいて、電圧検出信号を出力する信号処理部とを含むことを特徴とする電圧測定装置を要旨とするものである。
【００１３】
請求項６の発明は、請求項５の電圧測定装置を備えることを特徴とする電力機器を要旨とするものである。
【発明の効果】
【００１４】
請求項１の発明によれば、２０℃を基準として分圧比の変化率が±０．２％以内にできるコンデンサ回路を提供することができる。
請求項２の発明によれば、一方のコンデンサ回路をセラミックコンデンサにすることにより、請求項１の効果を容易に実現できる。
【００１５】
請求項３の発明によれば、温度補整用コンデンサにポリエステルフィルムコンデンサを使用することにより、請求項１の効果を容易に実現できる。
請求項４の発明によれば、第１コンデンサ回路及び第２コンデンサ回路のうち、少なくともいずれか一方は、コンデンサを複数含むことによっても、請求項１の発明の効果を奏することができる。
【００１６】
請求項５の発明によれば、請求項１乃至請求項４の発明の効果を奏する電圧測定装置を提供することができる。
請求項６の発明によれば、請求項５の効果を備えた、電力機器を定期用することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
以下、本発明を電力機器としての開閉器の電圧測定装置に具体化した一実施形態を図１〜３を参照して説明する。
図１に示すように開閉器１０は、配電線ＬのＵ，Ｖ，Ｗ相毎に設けられるとともに各相の配電線Ｌの電力伝送をオンオフ可能にされた開閉部１０ａを備えている。
【００１８】
図２に示すように、電圧測定装置２０は、Ｕ相、Ｖ相及びＷ相の配電線Ｌの電圧Ｖｕ、Ｖｖ、Ｖｗを検出するための電圧測定回路２１〜２３を備えている。
又、開閉器１０には、制御装置３０が接続され、該制御装置３０には、電圧測定装置２０の電圧測定結果に基づいて、信号処理する信号処理部２６と前記開閉部１０ａを開閉制御する制御部２７とを備えている。
【００１９】
電圧測定回路２１〜２３は同一構成であるため、以下では電圧測定回路２１の構成について代表的に説明する。なお、電圧測定回路２１〜２３はコンデンサ回路及び電圧測定部に相当する。
【００２０】
電圧測定回路２１は、開閉部１０ａよりも需要家側の配電線Ｌにおいて、その入力端子Ｔ１０がＵ相線に接続されている。もう１つの入力端子Ｔ２０は図示しない中性線を介して接地されており、Ｕ相の電圧Ｖｕは入力端子Ｔ１０，Ｔ２０間に入力される。
【００２１】
なお、電圧測定回路２２、２３についても同様であって、配電線ＬのＶ相、Ｗ相の電圧Ｖｖ、Ｖｗが、それぞれ電圧測定回路２２、２３に入力可能にされている。
図２に示すように、電圧測定回路２１は、第１コンデンサ回路２４と、第２コンデンサ回路２５の直列回路、及び第２コンデンサ回路２５に並列接続される温度補整用コンデンサ５３からなる。本実施形態では、第１コンデンサ回路２４が高電圧側コンデンサ回路に相当し、第２コンデンサ回路２５が低電圧側コンデンサ回路に相当する。本実施形態では、第１コンデンサ回路２４は単体のコンデンサ５１から構成されている。前記コンデンサ５１としては、例えば、ＮＰ０（＝温度係数０ppm/℃）のセラミックコンデンサが用いられる。第２コンデンサ回路２５は、単体のコンデンサ５２からなる。コンデンサ５２は、例えば、Ｃ０Ｇ（＝温度係数０±３０ppm/℃））のセラミックコンデンサが用いられる。又、温度補整用コンデンサ５３は、ポリエステルフィルムコンデンサからなる。
【００２２】
ＮＰ０のセラミックコンデンサと、Ｃ０Ｇのセラミックコンデンサは、静電容量の温度変化率が、−２０℃〜８０℃において、ほぼ同じ程度であることが好ましい。因みに、ＮＰ０のセラミックコンデンサでは、静電容量の温度変化率は、−２０℃では−０．２％であり、８０℃では＋０．２％であった。又、Ｃ０Ｇのセラミックコンデンサでは、静電容量の温度変化率は、−２０℃では＋０．１％であり、８０℃では−０．０５％であった。
【００２３】
そして、温度補整用コンデンサ５３とコンデンサ５２は、両者の静電容量の比（Ｃａ／Ｃ２）が、１／１０≦Ｃａ／Ｃ２≦７６／１００の範囲となるように、それらの静電容量が選択されている、なお、Ｃａは温度補整用コンデンサ５３の静電容量である。又、Ｃ２は第２コンデンサ回路であるコンデンサ５２の静電容量である。
【００２４】
このように、温度補整用コンデンサ５３の静電容量Ｃａと、コンデンサ５２の静電容量Ｃ２との関係、すなわち、静電容量の比（Ｃａ／Ｃ２）が、１／１０≦Ｃａ／Ｃ２≦７６／１００の範囲となっていることにより、２０℃を基準として分圧比の変化率が±０．２％以内にすることができる。この理由は後述する。
【００２５】
前記第１コンデンサ回路２４と第２コンデンサ回路２５は、互いに直列に接続されており、すなわち、コンデンサ５１とコンデンサ５２とは互いに直列に接続されている。第１コンデンサ回路２４と第２コンデンサ回路２５の直列回路は、両端が入力端子Ｔ１０、Ｔ２０に接続されている。すなわち、この直列回路の一端は入力端子Ｔ１０に接続され、直列回路の他端がもう１つの入力端子Ｔ２０に接続されている。
【００２６】
又、コンデンサ５１とコンデンサ５２との接続点は出力端子Ｔ３０に接続されている。出力端子Ｔ４０は、入力端子Ｔ２０とともに前記直列回路の他端に接続されている。前記電圧測定回路２１の出力端子Ｔ３０、Ｔ４０は信号処理部２６に接続されており、出力端子Ｔ３０，Ｔ４０間の電圧Ｖ１が信号処理部２６に供給されるようにされている。
【００２７】
この電圧Ｖ１は、コンデンサ５１の静電容量Ｃ１、コンデンサ５２の静電容量Ｃ２、及び温度補整用コンデンサ５３の静電容量Ｃａの合計値と、コンデンサ５１の静電容量Ｃ１の分圧比（下記式（１）参照）に基づいて得られる。
【００２８】
分圧比＝｛Ｃ１／（Ｃ１＋Ｃ２＋Ｃａ）｝ …（１）
すなわち、電圧Ｖ１は、下記の式（２）に基づいて得られる電圧である。
Ｖ１＝ ｛Ｃ１／（Ｃ１＋Ｃ２＋Ｃａ）｝Ｖｕ …（２）
他の電圧測定回路２２、２３についても同様に配電線ＬのＶ相、Ｗ相の電圧Ｖｖ、Ｖｗが印加され、電圧測定回路２２、２３からは、それに応じて測定された値である電圧Ｖ２、Ｖ３が信号処理部２６に供給される。信号処理部２６は、電圧測定回路２１〜２３からの電圧Ｖ１〜Ｖ３に基づいて電圧検出信号を制御部２７に出力する。なお、信号処理部２６は、アナログ回路やデジタル回路等により構成されている。制御部２７は、電圧検出信号に基づいて各相の開閉部１０ａを開閉制御する。
【００２９】
（静電容量の比（Ｃａ／Ｃ２）について）
次に、温度補整用コンデンサ５３の静電容量Ｃａと、第２コンデンサ回路２５の静電容量Ｃ２の比（Ｃａ／Ｃ２）を、１／１０≦Ｃａ／Ｃ２≦７６／１００の範囲としている理由について説明する。
【００３０】
表１は、静電容量Ｃ１、静電容量Ｃ２、及び静電容量Ｃａに具体的に数値を与えて得られた計算結果を示している。なお、表１の各種数値を得るための計算条件は、下記の通りである。なお、ΔＣは、それぞれのコンデンサの特定温度（−２０℃、又は＋８０℃）における２０℃時を基準としたときの静電容量の変化率である。
【００３１】
・第１コンデンサ回路２４のコンデンサ５１
材質：ＮＰ０セラミックコンデンサ
静電容量：５０ｐＦ （２０℃時）
−２０℃時の温度変化ΔＣ＝−０．２％
＋８０℃時の温度変化ΔＣ＝＋０．２％
・第２コンデンサ回路２５のコンデンサ５２
材質：Ｃ０Ｇセラミックコンデンサ
静電容量：６５９５０ｐＦ−Ｃａ （２０℃時）
−２０℃時の温度変化ΔＣ＝＋０．１％
＋８０℃時の温度変化ΔＣ＝−０．０５％
・温度補整用コンデンサ
材質：ポリエステルフィルムコンデンサ
静電容量： 表１中に記載（２０℃時）
−２０℃時の温度変化ΔＣ＝−１．０％
＋８０℃時の温度変化ΔＣ＝＋１．０％
・分圧比＝Ｃ１／（Ｃ１＋Ｃ２＋Ｃａ）
表１の「Ｃａ／Ｃ２」の欄は、２０℃におけるＣａ／Ｃ２の数値である。
【００３２】
又、表１では、Ｃａ，Ｃ２の数値を変える毎に、−２０℃における分圧比の変化率が、２０℃における分圧比を基準として計算で求められ、その結果が、温度変化の「−２０℃」の欄に表されている。又、表１では、Ｃａ，Ｃ２の数値を変える毎に、８０℃における分圧比の変化率が、２０℃における分圧比を基準として計算で求められ、その結果が、温度変化の「８０℃」の欄に表されている。
【００３３】
表１に示されているようにＣａ／Ｃ２が、１０〜６９％の範囲では、−２０℃においては、分圧比の変化率は、−０．２０〜０．１５％であり、８０℃においては、分圧比の変化率は、０．１５〜−０．１８％の範囲である。このようにして、１０〜６９％の範囲では、分圧比の変化率を±０．２％以内にできる。
【００３４】
【表１】
次にコンデンサ５１，５２として表２の試料Ｎｏ．１〜６を使用して、これらからなるコンデンサ回路に電圧を印加して分圧測定し、その測定結果に基づきそれぞれ−２０℃、８０℃の分圧比の変化率を算出した。その算出結果を表２の「−２０℃」及び「８０℃」の欄に示す。
【００３５】
なお、試料Ｎｏ．１〜６において、コンデンサ５１は、ＮＰ０セラミックコンデンサ（静電容量：５０ｐＦ （２０℃時）、−２０℃時の温度変化ΔＣ＝−０．２％、＋８０℃時の温度変化ΔＣ＝＋０．２％）を使用した。又、コンデンサ５２は、Ｃ０Ｇセラミックコンデンサ（静電容量：６５９５０ｐＦ （２０℃時）、−２０℃時の温度変化ΔＣ＝＋０．１％、＋８０℃時の温度変化ΔＣ＝−０．０５％）を使用した。
【００３６】
【表２】
又、コンデンサ５１、５２、温度補整用コンデンサ５３として表２の試料Ｎｏ．７〜１２を使用して、これらからなるコンデンサ回路に電圧を印加して分圧測定し、その測定結果に基づきそれぞれ−２０℃、８０℃の分圧比の変化率を算出した。その算出結果を表２の「−２０℃」及び「８０℃」の欄に示す。なお、試料Ｎｏ．７〜１２において、コンデンサ５１，５２，温度補整用コンデンサ５３は、表１の計算条件と同じコンデンサを使用した。なお、試料Ｎｏ．１〜６は比較例であり、試料Ｎｏ．７〜１２は実施例である。
【００３７】
温度補整用コンデンサを設けていない試料Ｎｏ．１〜６からなるコンデンサ回路においては、表２に示すように−２０℃〜８０℃では、温度変化率が−０．３０〜０．２８％の分圧比の変化率となる。一方、温度補整用コンデンサを設けている試料Ｎｏ．７〜１２においては、表２に示すように−２０℃〜８０℃では、温度変化率が−０．１９〜０．１２％の分圧比の変化率となる。
【００３８】
ここで、試料Ｎｏ．１〜６において、−２０℃における分圧比の変化率の平均値は−０．３０％であり、８０℃における分圧比の変化率の平均値は０．２６％である。又、試料Ｎｏ．７〜１２において、−２０℃における分圧比の変化率の平均値は−０．１８％であり、８０℃における分圧比の変化率の平均値は０．１０％である。これらの実測による平均値を実線により図３の温度特性図として示す。
【００３９】
又、併せて、図３中には、表１において試料７〜１２と静電容量が同じである例（Ｃ１＝５０ｐＦ、Ｃ２＝５３９５０ｐＦ、Ｃａ＝１２０００ｐＦ）を、「計算値（Ｃａ）あり」として点線で示した。
【００４０】
図３に示すように表１での計算値の例は、測定して得られた値とほぼ同じ程度の分圧比の変化率が得られていることが分かる。
表３は、Ｃ１の値を表１の場合と同じにし、Ｃ２＋Ｃａの値を表１よりも少なくした場合の計算結果を示している。なお、表３の各種数値を得るための計算条件は、下記の通りである。
【００４１】
・第１コンデンサ回路２４のコンデンサ５１については、表１の計算条件と同じである。
・第２コンデンサ回路２５のコンデンサ５２
材質：Ｃ０Ｇセラミックコンデンサ
静電容量：３２４５０ｐＦ−Ｃａ （２０℃時）
−２０℃時の温度変化ΔＣ＝＋０．１％
＋８０℃時の温度変化ΔＣ＝−０．０５％
・温度補整用コンデンサ
材質：ポリエステルフィルムコンデンサ
静電容量： 表３中に記載（２０℃時）
−２０℃時の温度変化ΔＣ＝−１．０％
＋８０℃時の温度変化ΔＣ＝＋１．０％
・分圧比＝Ｃ１／（Ｃ１＋Ｃ２＋Ｃａ）
表３の「Ｃａ／Ｃ２」の欄、「−２０℃」の欄及び「８０℃」の欄の数値の出し方は、表１と同様に計算されることにより得られる。
【００４２】
表３に示されているようにＣａ／Ｃ２が、１０〜７６％の範囲では、−２０℃においては、分圧比の変化率は、−０．２０〜０．１７％であり、８０℃においては、分圧比の変化率は、０．１５〜−０．２０％の範囲である。このようにして、Ｃ２＋Ｃａの値を、表１の６５９５０ｐＦよりも小さい値である３２４５０ｐＦにしても、１０〜７６％の範囲では分圧比の変化率を±０．２％以内にできる。
【００４３】
【表３】
表４は、Ｃ１の値を変更し、下記の計算条件で各種数値を計算した場合の計算結果を示している。
【００４４】
・第１コンデンサ回路２４のコンデンサ５１
材質：ＮＰ０セラミックコンデンサ
静電容量：１００ｐＦ （２０℃時）
−２０℃時の温度変化ΔＣ＝−０．２％
＋８０℃時の温度変化ΔＣ＝＋０．２％
・第２コンデンサ回路２５のコンデンサ５２
材質：Ｃ０Ｇセラミックコンデンサ
静電容量：３２４５０ｐＦ−Ｃａ （２０℃時）
−２０℃時の温度変化ΔＣ＝＋０．１％
＋８０℃時の温度変化ΔＣ＝−０．０５％
・温度補整用コンデンサ
材質：ポリエステルフィルムコンデンサ
静電容量： 表３中に記載（２０℃時）
−２０℃時の温度変化ΔＣ＝−１．０％
＋８０℃時の温度変化ΔＣ＝＋１．０％
・分圧比＝Ｃ１／（Ｃ１＋Ｃ２＋Ｃａ）
表４の「Ｃａ／Ｃ２」の欄、「−２０℃」の欄及び「８０℃」の欄の数値の出し方は、表１と同様に計算されることにより得られる。
【００４５】
表４に示されているようにＣａ／Ｃ２が、１０〜７１％の範囲では、−２０℃においては、分圧比の変化率は、−０．２０〜０．１６％であり、８０℃においては、分圧比の変化率は、０．１５〜−０．１９％の範囲である。このようにして、Ｃ１の値を表１の５０ｐＦよりも大きな値である１００ｐＦとしても、１０〜７１％の範囲では分圧比の変化率を±０．２％以内にできる。
【００４６】
【表４】
従って、上記のように、Ｃａ／Ｃ２を、１／１０≦Ｃａ／Ｃ２≦７６／１００とすることにより、２０℃を基準としてコンデンサ回路の分圧比の変化率を±０．２％以内にすることができる。
【００４７】
さて、本実施形態によれば、以下の効果を得ることができる。
（１） 本実施形態のコンデンサ回路である電圧測定回路２１は、第２コンデンサ回路２５と並列に温度補整用コンデンサ５３が接続され、温度補整用コンデンサ５３の静電容量をＣａとし、第２コンデンサ回路２５の静電容量をＣ２としたとき、両者の静電容量の比（Ｃａ／Ｃ２）を１／１０≦Ｃａ／Ｃ２≦７６／１００とした。この結果、２０℃を基準として分圧比の変化率を±０．２％以内にできるコンデンサ回路とすることができる。
【００４８】
（２） 又、本実施形態の電圧測定装置２０は、上記コンデンサ回路としての電圧測定回路２１〜２３を有するため、２０℃を基準として分圧比の変化率を±０．２％以内にできる電圧測定装置とすることができる。
【００４９】
（３） 又、本実施形態の電力機器としての開閉器１０は、上記電圧測定装置２０を備えるため、２０℃を基準として分圧比の変化率を±０．２％以内にできる電圧測定装置を備えた開閉器とすることができる。
【００５０】
（４） 本実施形態では第２コンデンサ回路２５をセラミックコンデンサにより構成したことにより、上記（１）の効果を容易に実現することができる。
（５） 本実施形態では、温度補整用コンデンサ５３をポリエステルフィルムコンデンサとしたことにより、上記（１）の効果を容易に実現することができる。
【００５１】
なお、前記実施形態は、次のように変更して実施してもよい。
○ 前記実施形態では、コンデンサ５１、コンデンサ５２は、セラミックコンデンサから構成したが、積層セラミックコンデンサ、ポリスチレンフィルムコンデンサ又はポリプロピレンフィルムコンデンサを使用してもよい。
【００５２】
なお、コンデンサ５１、コンデンサ５２は、静電容量の−２０℃と、＋８０℃において、同じ程度の静電容量の温度変化率を有することが好ましい。
○ 前記実施形態では、開閉器１０が設けられた配電線Ｌの需要家側において、各相の配電線Ｌの電圧を測定するように１つのみ設けたが、１つに限定されるものではない。開閉器において、変電所側の配電線Ｌの各相の電圧を測定できるようにさらに１つの電圧測定装置２０を設けても良い。
【００５３】
○ 又、電圧測定装置２０において、電圧測定回路２１〜２３の個数は３つに限定するものではなく、例えば、１つ、或いは２つでもよい。
○ 前記実施形態では、電力機器として開閉器としたが、電圧測定装置を配電線に設けられる電力機器としては変圧器、遮断器、断路器もあり、これらの機器に設けても良い。
【００５４】
○ 前記実施形態において、第１コンデンサ回路２４は、単体のコンデンサ５１により構成したが、単体に限定するものではなく、２個以上の複数のコンデンサの直列回路で構成したり、或いは、２個以上の複数のコンデンサの並列回路で構成してもよい。
【００５５】
○ 前記各実施形態において、第２コンデンサ回路２５は単体のコンデンサ５２により構成したが、単体に限定するものではなく、２個以上の複数のコンデンサの直列回路で構成したり、或いは、２個以上の複数のコンデンサの並列回路で構成してもよい。
【図面の簡単な説明】
【００５６】
【図１】開閉器１０の概略を示すブロック図。
【図２】電圧測定装置２０の概略を示すブロック図。
【図３】温度特性図。
【図４】従来のコンデンサ回路の直列回路の説明図。
【符号の説明】
【００５７】
１０…開閉器（電力機器）、２０…電圧測定装置、
２１〜２３…電圧測定回路（コンデンサ回路、電圧測定部）、
２４…第１コンデンサ回路、２５…第２コンデンサ回路、
２６…信号処理部、
５１，５２…コンデンサ、５３…温度補整用コンデンサ
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電力機器の電圧測定装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、電力機器に搭載され、配電線の相電圧を検出する電圧測定装置として、特許文献１が知られている。特許文献１の電圧測定装置は、コンデンサ分圧方式で電圧測定を行うようにされており、具体的には、高電圧側コンデンサと低電圧側コンデンサとを互いに直列に接続したコンデンサ直列回路が用いられている。そして、相電圧はこのコンデンサ直列回路の両端に入力され、高電圧側コンデンサの静電容量と低電圧側コンデンサの静電容量との比に応じて分圧されるが、相電圧の検出は、低電圧側コンデンサに分圧された分圧電圧に基づいて行われる。
【０００３】
図４は、コンデンサ分圧方式の電圧測定装置に含まれる一対のコンデンサ回路１００，２００の直列回路を示している。なお、図４では、説明の便宜上、一相分の電圧測定を行う回路分のみを示している。ここで、以下、コンデンサ回路１００は、高電圧側コンデンサ回路といい、コンデンサ回路２００を、低電圧側コンデンサ回路という。
【０００４】
同図において、該直列回路の両端子のうち、一方の端子は、一相の配電線Ｌに対して接続される入力端子Ｔ１００とされ、他方の端子は接地されるとともに、第１出力端子Ｔ１１０とされている。又、高電圧側コンデンサ回路１００と、低電圧側コンデンサ回路２００の接続点は、第２出力端子Ｔ１２０に接続されている。
【０００５】
配電線Ｌの電圧（相電圧）を、Ｖinとすると、第１出力端子Ｔ１１０と第２出力端子Ｔ１２０出力端子間の分圧出力Ｖoutは、
Ｖout ＝ ｛Ｃ１／（Ｃ１＋Ｃ２）｝Ｖin
となる。なお、Ｃ１は高電圧側コンデンサ回路１００の静電容量であり、Ｃ２は低電圧側コンデンサ回路２００の静電容量である。
【０００６】
又、分圧比は、下記の通りである。
分圧比＝Ｃ１／（Ｃ１＋Ｃ２）
【特許文献１】特許第３６３２９２０号明細書
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
ところで、近年は、配電線の相電圧を計測する電圧測定装置は、高精度化を要求する声が高まっており、配電線用においては、前記分圧比の±０．５％の精度が要求されるまでに至っている。
【０００８】
しかし、特許文献１の構成では、−２０℃〜６０℃の温度範囲において、分圧比の変化率が±１％の精度であるため、この要求を満たせない問題がある。
本発明は上記問題点を解決するためになされたものであって、その目的は、２０℃を基準として分圧比の変化率が±０．２％以内にできるコンデンサ回路を提供することにある。又、他の目的は、２０℃を基準として分圧比の変化率が±０．２％以内にできるコンデンサ回路を備えた電圧測定装置を提供することにある。さらに、他の目的は、２０℃を基準として分圧比の変化率が±０．２％以内にできるコンデンサ回路を備えた電圧測定装置を有する電力機器を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
請求項１に記載の発明は、第１コンデンサ回路と第２コンデンサ回路を直列接続し、第２コンデンサ回路の分圧出力により電圧を測定可能にしたコンデンサ回路において、第２コンデンサ回路と並列に温度補整用コンデンサを接続し、前記温度補整用コンデンサの静電容量をＣａとし、前記第２コンデンサ回路の静電容量をＣ２としたとき、両者の静電容量の比（Ｃａ／Ｃ２）を
１／１０ ≦Ｃａ／Ｃ２≦７６／１００
としたことを特徴とするコンデンサ回路を要旨とするものである。
【００１０】
請求項２に記載の発明は、請求項１において、前記第２コンデンサ回路をセラミックコンデンサにより構成したことを特徴とする。
請求項３の発明は、請求項１又は請求項２において、前記温度補整用コンデンサをポリエステルフィルムコンデンサとしたことを特徴とする。
【００１１】
請求項４の発明は、請求項１乃至請求項３のうちいずれか１項において、前記第１コンデンサ回路及び第２コンデンサ回路のうち、少なくともいずれか一方は、コンデンサを複数含むことを特徴とする。
【００１２】
請求項５の発明は、請求項１乃至請求項４のうちいずれか１項に記載のコンデンサ回路からなる電圧測定部と、該電圧測定部が出力した電圧に基づいて、電圧検出信号を出力する信号処理部とを含むことを特徴とする電圧測定装置を要旨とするものである。
【００１３】
請求項６の発明は、請求項５の電圧測定装置を備えることを特徴とする電力機器を要旨とするものである。
【発明の効果】
【００１４】
請求項１の発明によれば、２０℃を基準として分圧比の変化率が±０．２％以内にできるコンデンサ回路を提供することができる。
請求項２の発明によれば、一方のコンデンサ回路をセラミックコンデンサにすることにより、請求項１の効果を容易に実現できる。
【００１５】
請求項３の発明によれば、温度補整用コンデンサにポリエステルフィルムコンデンサを使用することにより、請求項１の効果を容易に実現できる。
請求項４の発明によれば、第１コンデンサ回路及び第２コンデンサ回路のうち、少なくともいずれか一方は、コンデンサを複数含むことによっても、請求項１の発明の効果を奏することができる。
【００１６】
請求項５の発明によれば、請求項１乃至請求項４の発明の効果を奏する電圧測定装置を提供することができる。
請求項６の発明によれば、請求項５の効果を備えた、電力機器を定期用することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
以下、本発明を電力機器としての開閉器の電圧測定装置に具体化した一実施形態を図１〜３を参照して説明する。
図１に示すように開閉器１０は、配電線ＬのＵ，Ｖ，Ｗ相毎に設けられるとともに各相の配電線Ｌの電力伝送をオンオフ可能にされた開閉部１０ａを備えている。
【００１８】
図２に示すように、電圧測定装置２０は、Ｕ相、Ｖ相及びＷ相の配電線Ｌの電圧Ｖｕ、Ｖｖ、Ｖｗを検出するための電圧測定回路２１〜２３を備えている。
又、開閉器１０には、制御装置３０が接続され、該制御装置３０には、電圧測定装置２０の電圧測定結果に基づいて、信号処理する信号処理部２６と前記開閉部１０ａを開閉制御する制御部２７とを備えている。
【００１９】
電圧測定回路２１〜２３は同一構成であるため、以下では電圧測定回路２１の構成について代表的に説明する。なお、電圧測定回路２１〜２３はコンデンサ回路及び電圧測定部に相当する。
【００２０】
電圧測定回路２１は、開閉部１０ａよりも需要家側の配電線Ｌにおいて、その入力端子Ｔ１０がＵ相線に接続されている。もう１つの入力端子Ｔ２０は図示しない中性線を介して接地されており、Ｕ相の電圧Ｖｕは入力端子Ｔ１０，Ｔ２０間に入力される。
【００２１】
なお、電圧測定回路２２、２３についても同様であって、配電線ＬのＶ相、Ｗ相の電圧Ｖｖ、Ｖｗが、それぞれ電圧測定回路２２、２３に入力可能にされている。
図２に示すように、電圧測定回路２１は、第１コンデンサ回路２４と、第２コンデンサ回路２５の直列回路、及び第２コンデンサ回路２５に並列接続される温度補整用コンデンサ５３からなる。本実施形態では、第１コンデンサ回路２４が高電圧側コンデンサ回路に相当し、第２コンデンサ回路２５が低電圧側コンデンサ回路に相当する。本実施形態では、第１コンデンサ回路２４は単体のコンデンサ５１から構成されている。前記コンデンサ５１としては、例えば、ＮＰ０（＝温度係数０ppm/℃）のセラミックコンデンサが用いられる。第２コンデンサ回路２５は、単体のコンデンサ５２からなる。コンデンサ５２は、例えば、Ｃ０Ｇ（＝温度係数０±３０ppm/℃））のセラミックコンデンサが用いられる。又、温度補整用コンデンサ５３は、ポリエステルフィルムコンデンサからなる。
【００２２】
ＮＰ０のセラミックコンデンサと、Ｃ０Ｇのセラミックコンデンサは、静電容量の温度変化率が、−２０℃〜８０℃において、ほぼ同じ程度であることが好ましい。因みに、ＮＰ０のセラミックコンデンサでは、静電容量の温度変化率は、−２０℃では−０．２％であり、８０℃では＋０．２％であった。又、Ｃ０Ｇのセラミックコンデンサでは、静電容量の温度変化率は、−２０℃では＋０．１％であり、８０℃では−０．０５％であった。
【００２３】
そして、温度補整用コンデンサ５３とコンデンサ５２は、両者の静電容量の比（Ｃａ／Ｃ２）が、１／１０≦Ｃａ／Ｃ２≦７６／１００の範囲となるように、それらの静電容量が選択されている、なお、Ｃａは温度補整用コンデンサ５３の静電容量である。又、Ｃ２は第２コンデンサ回路であるコンデンサ５２の静電容量である。
【００２４】
このように、温度補整用コンデンサ５３の静電容量Ｃａと、コンデンサ５２の静電容量Ｃ２との関係、すなわち、静電容量の比（Ｃａ／Ｃ２）が、１／１０≦Ｃａ／Ｃ２≦７６／１００の範囲となっていることにより、２０℃を基準として分圧比の変化率が±０．２％以内にすることができる。この理由は後述する。
【００２５】
前記第１コンデンサ回路２４と第２コンデンサ回路２５は、互いに直列に接続されており、すなわち、コンデンサ５１とコンデンサ５２とは互いに直列に接続されている。第１コンデンサ回路２４と第２コンデンサ回路２５の直列回路は、両端が入力端子Ｔ１０、Ｔ２０に接続されている。すなわち、この直列回路の一端は入力端子Ｔ１０に接続され、直列回路の他端がもう１つの入力端子Ｔ２０に接続されている。
【００２６】
又、コンデンサ５１とコンデンサ５２との接続点は出力端子Ｔ３０に接続されている。出力端子Ｔ４０は、入力端子Ｔ２０とともに前記直列回路の他端に接続されている。前記電圧測定回路２１の出力端子Ｔ３０、Ｔ４０は信号処理部２６に接続されており、出力端子Ｔ３０，Ｔ４０間の電圧Ｖ１が信号処理部２６に供給されるようにされている。
【００２７】
この電圧Ｖ１は、コンデンサ５１の静電容量Ｃ１、コンデンサ５２の静電容量Ｃ２、及び温度補整用コンデンサ５３の静電容量Ｃａの合計値と、コンデンサ５１の静電容量Ｃ１の分圧比（下記式（１）参照）に基づいて得られる。
【００２８】
分圧比＝｛Ｃ１／（Ｃ１＋Ｃ２＋Ｃａ）｝ …（１）
すなわち、電圧Ｖ１は、下記の式（２）に基づいて得られる電圧である。
Ｖ１＝ ｛Ｃ１／（Ｃ１＋Ｃ２＋Ｃａ）｝Ｖｕ …（２）
他の電圧測定回路２２、２３についても同様に配電線ＬのＶ相、Ｗ相の電圧Ｖｖ、Ｖｗが印加され、電圧測定回路２２、２３からは、それに応じて測定された値である電圧Ｖ２、Ｖ３が信号処理部２６に供給される。信号処理部２６は、電圧測定回路２１〜２３からの電圧Ｖ１〜Ｖ３に基づいて電圧検出信号を制御部２７に出力する。なお、信号処理部２６は、アナログ回路やデジタル回路等により構成されている。制御部２７は、電圧検出信号に基づいて各相の開閉部１０ａを開閉制御する。
【００２９】
（静電容量の比（Ｃａ／Ｃ２）について）
次に、温度補整用コンデンサ５３の静電容量Ｃａと、第２コンデンサ回路２５の静電容量Ｃ２の比（Ｃａ／Ｃ２）を、１／１０≦Ｃａ／Ｃ２≦７６／１００の範囲としている理由について説明する。
【００３０】
表１は、静電容量Ｃ１、静電容量Ｃ２、及び静電容量Ｃａに具体的に数値を与えて得られた計算結果を示している。なお、表１の各種数値を得るための計算条件は、下記の通りである。なお、ΔＣは、それぞれのコンデンサの特定温度（−２０℃、又は＋８０℃）における２０℃時を基準としたときの静電容量の変化率である。
【００３１】
・第１コンデンサ回路２４のコンデンサ５１
材質：ＮＰ０セラミックコンデンサ
静電容量：５０ｐＦ （２０℃時）
−２０℃時の温度変化ΔＣ＝−０．２％
＋８０℃時の温度変化ΔＣ＝＋０．２％
・第２コンデンサ回路２５のコンデンサ５２
材質：Ｃ０Ｇセラミックコンデンサ
静電容量：６５９５０ｐＦ−Ｃａ （２０℃時）
−２０℃時の温度変化ΔＣ＝＋０．１％
＋８０℃時の温度変化ΔＣ＝−０．０５％
・温度補整用コンデンサ
材質：ポリエステルフィルムコンデンサ
静電容量： 表１中に記載（２０℃時）
−２０℃時の温度変化ΔＣ＝−１．０％
＋８０℃時の温度変化ΔＣ＝＋１．０％
・分圧比＝Ｃ１／（Ｃ１＋Ｃ２＋Ｃａ）
表１の「Ｃａ／Ｃ２」の欄は、２０℃におけるＣａ／Ｃ２の数値である。
【００３２】
又、表１では、Ｃａ，Ｃ２の数値を変える毎に、−２０℃における分圧比の変化率が、２０℃における分圧比を基準として計算で求められ、その結果が、温度変化の「−２０℃」の欄に表されている。又、表１では、Ｃａ，Ｃ２の数値を変える毎に、８０℃における分圧比の変化率が、２０℃における分圧比を基準として計算で求められ、その結果が、温度変化の「８０℃」の欄に表されている。
【００３３】
表１に示されているようにＣａ／Ｃ２が、１０〜６９％の範囲では、−２０℃においては、分圧比の変化率は、−０．２０〜０．１５％であり、８０℃においては、分圧比の変化率は、０．１５〜−０．１８％の範囲である。このようにして、１０〜６９％の範囲では、分圧比の変化率を±０．２％以内にできる。
【００３４】
【表１】
次にコンデンサ５１，５２として表２の試料Ｎｏ．１〜６を使用して、これらからなるコンデンサ回路に電圧を印加して分圧測定し、その測定結果に基づきそれぞれ−２０℃、８０℃の分圧比の変化率を算出した。その算出結果を表２の「−２０℃」及び「８０℃」の欄に示す。
【００３５】
なお、試料Ｎｏ．１〜６において、コンデンサ５１は、ＮＰ０セラミックコンデンサ（静電容量：５０ｐＦ （２０℃時）、−２０℃時の温度変化ΔＣ＝−０．２％、＋８０℃時の温度変化ΔＣ＝＋０．２％）を使用した。又、コンデンサ５２は、Ｃ０Ｇセラミックコンデンサ（静電容量：６５９５０ｐＦ （２０℃時）、−２０℃時の温度変化ΔＣ＝＋０．１％、＋８０℃時の温度変化ΔＣ＝−０．０５％）を使用した。
【００３６】
【表２】
又、コンデンサ５１、５２、温度補整用コンデンサ５３として表２の試料Ｎｏ．７〜１２を使用して、これらからなるコンデンサ回路に電圧を印加して分圧測定し、その測定結果に基づきそれぞれ−２０℃、８０℃の分圧比の変化率を算出した。その算出結果を表２の「−２０℃」及び「８０℃」の欄に示す。なお、試料Ｎｏ．７〜１２において、コンデンサ５１，５２，温度補整用コンデンサ５３は、表１の計算条件と同じコンデンサを使用した。なお、試料Ｎｏ．１〜６は比較例であり、試料Ｎｏ．７〜１２は実施例である。
【００３７】
温度補整用コンデンサを設けていない試料Ｎｏ．１〜６からなるコンデンサ回路においては、表２に示すように−２０℃〜８０℃では、温度変化率が−０．３０〜０．２８％の分圧比の変化率となる。一方、温度補整用コンデンサを設けている試料Ｎｏ．７〜１２においては、表２に示すように−２０℃〜８０℃では、温度変化率が−０．１９〜０．１２％の分圧比の変化率となる。
【００３８】
ここで、試料Ｎｏ．１〜６において、−２０℃における分圧比の変化率の平均値は−０．３０％であり、８０℃における分圧比の変化率の平均値は０．２６％である。又、試料Ｎｏ．７〜１２において、−２０℃における分圧比の変化率の平均値は−０．１８％であり、８０℃における分圧比の変化率の平均値は０．１０％である。これらの実測による平均値を実線により図３の温度特性図として示す。
【００３９】
又、併せて、図３中には、表１において試料７〜１２と静電容量が同じである例（Ｃ１＝５０ｐＦ、Ｃ２＝５３９５０ｐＦ、Ｃａ＝１２０００ｐＦ）を、「計算値（Ｃａ）あり」として点線で示した。
【００４０】
図３に示すように表１での計算値の例は、測定して得られた値とほぼ同じ程度の分圧比の変化率が得られていることが分かる。
表３は、Ｃ１の値を表１の場合と同じにし、Ｃ２＋Ｃａの値を表１よりも少なくした場合の計算結果を示している。なお、表３の各種数値を得るための計算条件は、下記の通りである。
【００４１】
・第１コンデンサ回路２４のコンデンサ５１については、表１の計算条件と同じである。
・第２コンデンサ回路２５のコンデンサ５２
材質：Ｃ０Ｇセラミックコンデンサ
静電容量：３２４５０ｐＦ−Ｃａ （２０℃時）
−２０℃時の温度変化ΔＣ＝＋０．１％
＋８０℃時の温度変化ΔＣ＝−０．０５％
・温度補整用コンデンサ
材質：ポリエステルフィルムコンデンサ
静電容量： 表３中に記載（２０℃時）
−２０℃時の温度変化ΔＣ＝−１．０％
＋８０℃時の温度変化ΔＣ＝＋１．０％
・分圧比＝Ｃ１／（Ｃ１＋Ｃ２＋Ｃａ）
表３の「Ｃａ／Ｃ２」の欄、「−２０℃」の欄及び「８０℃」の欄の数値の出し方は、表１と同様に計算されることにより得られる。
【００４２】
表３に示されているようにＣａ／Ｃ２が、１０〜７６％の範囲では、−２０℃においては、分圧比の変化率は、−０．２０〜０．１７％であり、８０℃においては、分圧比の変化率は、０．１５〜−０．２０％の範囲である。このようにして、Ｃ２＋Ｃａの値を、表１の６５９５０ｐＦよりも小さい値である３２４５０ｐＦにしても、１０〜７６％の範囲では分圧比の変化率を±０．２％以内にできる。
【００４３】
【表３】
表４は、Ｃ１の値を変更し、下記の計算条件で各種数値を計算した場合の計算結果を示している。
【００４４】
・第１コンデンサ回路２４のコンデンサ５１
材質：ＮＰ０セラミックコンデンサ
静電容量：１００ｐＦ （２０℃時）
−２０℃時の温度変化ΔＣ＝−０．２％
＋８０℃時の温度変化ΔＣ＝＋０．２％
・第２コンデンサ回路２５のコンデンサ５２
材質：Ｃ０Ｇセラミックコンデンサ
静電容量：３２４５０ｐＦ−Ｃａ （２０℃時）
−２０℃時の温度変化ΔＣ＝＋０．１％
＋８０℃時の温度変化ΔＣ＝−０．０５％
・温度補整用コンデンサ
材質：ポリエステルフィルムコンデンサ
静電容量： 表３中に記載（２０℃時）
−２０℃時の温度変化ΔＣ＝−１．０％
＋８０℃時の温度変化ΔＣ＝＋１．０％
・分圧比＝Ｃ１／（Ｃ１＋Ｃ２＋Ｃａ）
表４の「Ｃａ／Ｃ２」の欄、「−２０℃」の欄及び「８０℃」の欄の数値の出し方は、表１と同様に計算されることにより得られる。
【００４５】
表４に示されているようにＣａ／Ｃ２が、１０〜７１％の範囲では、−２０℃においては、分圧比の変化率は、−０．２０〜０．１６％であり、８０℃においては、分圧比の変化率は、０．１５〜−０．１９％の範囲である。このようにして、Ｃ１の値を表１の５０ｐＦよりも大きな値である１００ｐＦとしても、１０〜７１％の範囲では分圧比の変化率を±０．２％以内にできる。
【００４６】
【表４】
従って、上記のように、Ｃａ／Ｃ２を、１／１０≦Ｃａ／Ｃ２≦７６／１００とすることにより、２０℃を基準としてコンデンサ回路の分圧比の変化率を±０．２％以内にすることができる。
【００４７】
さて、本実施形態によれば、以下の効果を得ることができる。
（１） 本実施形態のコンデンサ回路である電圧測定回路２１は、第２コンデンサ回路２５と並列に温度補整用コンデンサ５３が接続され、温度補整用コンデンサ５３の静電容量をＣａとし、第２コンデンサ回路２５の静電容量をＣ２としたとき、両者の静電容量の比（Ｃａ／Ｃ２）を１／１０≦Ｃａ／Ｃ２≦７６／１００とした。この結果、２０℃を基準として分圧比の変化率を±０．２％以内にできるコンデンサ回路とすることができる。
【００４８】
（２） 又、本実施形態の電圧測定装置２０は、上記コンデンサ回路としての電圧測定回路２１〜２３を有するため、２０℃を基準として分圧比の変化率を±０．２％以内にできる電圧測定装置とすることができる。
【００４９】
（３） 又、本実施形態の電力機器としての開閉器１０は、上記電圧測定装置２０を備えるため、２０℃を基準として分圧比の変化率を±０．２％以内にできる電圧測定装置を備えた開閉器とすることができる。
【００５０】
（４） 本実施形態では第２コンデンサ回路２５をセラミックコンデンサにより構成したことにより、上記（１）の効果を容易に実現することができる。
（５） 本実施形態では、温度補整用コンデンサ５３をポリエステルフィルムコンデンサとしたことにより、上記（１）の効果を容易に実現することができる。
【００５１】
なお、前記実施形態は、次のように変更して実施してもよい。
○ 前記実施形態では、コンデンサ５１、コンデンサ５２は、セラミックコンデンサから構成したが、積層セラミックコンデンサ、ポリスチレンフィルムコンデンサ又はポリプロピレンフィルムコンデンサを使用してもよい。
【００５２】
なお、コンデンサ５１、コンデンサ５２は、静電容量の−２０℃と、＋８０℃において、同じ程度の静電容量の温度変化率を有することが好ましい。
○ 前記実施形態では、開閉器１０が設けられた配電線Ｌの需要家側において、各相の配電線Ｌの電圧を測定するように１つのみ設けたが、１つに限定されるものではない。開閉器において、変電所側の配電線Ｌの各相の電圧を測定できるようにさらに１つの電圧測定装置２０を設けても良い。
【００５３】
○ 又、電圧測定装置２０において、電圧測定回路２１〜２３の個数は３つに限定するものではなく、例えば、１つ、或いは２つでもよい。
○ 前記実施形態では、電力機器として開閉器としたが、電圧測定装置を配電線に設けられる電力機器としては変圧器、遮断器、断路器もあり、これらの機器に設けても良い。
【００５４】
○ 前記実施形態において、第１コンデンサ回路２４は、単体のコンデンサ５１により構成したが、単体に限定するものではなく、２個以上の複数のコンデンサの直列回路で構成したり、或いは、２個以上の複数のコンデンサの並列回路で構成してもよい。
【００５５】
○ 前記各実施形態において、第２コンデンサ回路２５は単体のコンデンサ５２により構成したが、単体に限定するものではなく、２個以上の複数のコンデンサの直列回路で構成したり、或いは、２個以上の複数のコンデンサの並列回路で構成してもよい。
【図面の簡単な説明】
【００５６】
【図１】開閉器１０の概略を示すブロック図。
【図２】電圧測定装置２０の概略を示すブロック図。
【図３】温度特性図。
【図４】従来のコンデンサ回路の直列回路の説明図。
【符号の説明】
【００５７】
１０…開閉器（電力機器）、２０…電圧測定装置、
２１〜２３…電圧測定回路（コンデンサ回路、電圧測定部）、
２４…第１コンデンサ回路、２５…第２コンデンサ回路、
２６…信号処理部、
５１，５２…コンデンサ、５３…温度補整用コンデンサ
【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１コンデンサ回路と第２コンデンサ回路を直列接続し、第２コンデンサ回路の分圧出力により電圧を測定可能にしたコンデンサ回路において、
第２コンデンサ回路と並列に温度補整用コンデンサを接続し、
前記温度補整用コンデンサの静電容量をＣａとし、前記第２コンデンサ回路の静電容量をＣ２としたとき、両者の静電容量の比（Ｃａ／Ｃ２）を
１／１０ ≦ Ｃａ／Ｃ２ ≦７６／１００
としたことを特徴とするコンデンサ回路。
【請求項２】
前記第２コンデンサ回路をセラミックコンデンサにより構成したことを特徴とする請求項１に記載のコンデンサ回路。
【請求項３】
前記温度補整用コンデンサをポリエステルフィルムコンデンサとしたことを特徴とする請求項１又は請求項２に記載のコンデンサ回路。
【請求項４】
前記第１コンデンサ回路及び第２コンデンサ回路のうち、少なくともいずれか一方は、コンデンサを複数含むことを特徴とする請求項１乃至請求項３のうちいずれか１項に記載のコンデンサ回路。
【請求項５】
請求項１乃至請求項４のうちいずれか１項に記載のコンデンサ回路からなる電圧測定部と、
該電圧測定部が出力した電圧に基づいて、電圧検出信号を出力する信号処理部とを含むことを特徴とする電圧測定装置。
【請求項６】
請求項５の電圧測定装置を備えることを特徴とする電力機器。
【請求項１】
第１コンデンサ回路と第２コンデンサ回路を直列接続し、第２コンデンサ回路の分圧出力により電圧を測定可能にしたコンデンサ回路において、
第２コンデンサ回路と並列に温度補整用コンデンサを接続し、
前記温度補整用コンデンサの静電容量をＣａとし、前記第２コンデンサ回路の静電容量をＣ２としたとき、両者の静電容量の比（Ｃａ／Ｃ２）を
１／１０ ≦ Ｃａ／Ｃ２ ≦７６／１００
としたことを特徴とするコンデンサ回路。
【請求項２】
前記第２コンデンサ回路をセラミックコンデンサにより構成したことを特徴とする請求項１に記載のコンデンサ回路。
【請求項３】
前記温度補整用コンデンサをポリエステルフィルムコンデンサとしたことを特徴とする請求項１又は請求項２に記載のコンデンサ回路。
【請求項４】
前記第１コンデンサ回路及び第２コンデンサ回路のうち、少なくともいずれか一方は、コンデンサを複数含むことを特徴とする請求項１乃至請求項３のうちいずれか１項に記載のコンデンサ回路。
【請求項５】
請求項１乃至請求項４のうちいずれか１項に記載のコンデンサ回路からなる電圧測定部と、
該電圧測定部が出力した電圧に基づいて、電圧検出信号を出力する信号処理部とを含むことを特徴とする電圧測定装置。
【請求項６】
請求項５の電圧測定装置を備えることを特徴とする電力機器。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図２】
【図３】
【図４】
【公開番号】特開２００７−２０５７８６（Ｐ２００７−２０５７８６Ａ）
【公開日】平成１９年８月１６日（２００７．８．１６）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００６−２３１４７（Ｐ２００６−２３１４７）
【出願日】平成１８年１月３１日（２００６．１．３１）
【出願人】（０００１０２６３６）エナジーサポート株式会社 (51)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成１９年８月１６日（２００７．８．１６）
【国際特許分類】
【出願日】平成１８年１月３１日（２００６．１．３１）
【出願人】（０００１０２６３６）エナジーサポート株式会社 (51)
【Ｆターム（参考）】
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