テストストリップ射出機構
本発明は、測定器（２００）からテストストリップ（１００）を射出するためのテストストリップ射出機構（３００）を目的とする。このテストストリップ機構は、少なくとも１つのフィン（３１６）と、テストストリップ上に配された複数の接触パッドと接触するように構成された複数の離間して置かれたテストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３、１０４）と、を有するプッシャアセンブリ（３０６）を含み、このフィンは、テストストリップが射出されるまで、隣接するテストストリップコネクタの間に押し込み、そしてテストストリップの近位端を押すように構成される。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、測定器からテストストリップを射出するためのテストストリップ射出機構に関する。
【背景技術】
【０００２】
測定器は、血液など生理液中の分析物を計測するためのテストストリップを使用することができる。例えば、測定器及びテストストリップを用いて、糖尿病患者は血糖値を電気化学的に測定することができる。測定が行われてから、別の測定がされ得る前に、使用済みのテストストリップを取り外さなくてはならない。テストストリップを手で取り出す際に、使用者の指に血液が付着する場合があり、これは不快なだけでなく、使用者の血液が別の人に付いた場合の二次汚染の危険もまたもたらす場合がある。加えて、使用者が同一の測定器を使用して複数の患者の試験を行う病院環境においては、二次汚染の危険はなお更高い。したがって、特許出願者らは、二次汚染の危険を低減するために、使用者と使用済みテストストリップとの相互作用を最低限にすることが望まれると考える。
【発明の概要】
【課題を解決するための手段】
【０００３】
本発明は、測定器からテストストリップを取り出すためのテストストリップ射出機構を目的とする。このテストストリップ機構は、少なくとも１つのフィンを有するプッシャアセンブリと、テストストリップ上に配された複数の接触パッドと接触するように構成された複数の離間して置かれたテストストリップコネクタと、を具備し、フィンがテストストリップが射出するまで、隣接するテストストリップコネクタの間に押し込み、そしてテストストリップの近位端を押すように構成される。
【０００４】
上記の本発明の一実施形態において、テストストリップ射出機構はプッシャアセンブリを含むことができ、このプッシャアセンブリは、射出プロセス中に、複数の離間しておかれたテストストリップコネクタがテストストリップの近位上端を上からはじくようにするために、テストストリップを前進させる。
【０００５】
上記の本発明の一実施形態において、テストストリップ射出機構は、テストストリップ射出機構を実質的に包囲するように構成されるハウジングを含むことができ、プッシャアセンブリは配置されるときにハウジングの外側から延出しない。この実施形態において、テストストリップ射出機構は、射出を促進するためにテストストリップ射出機構の向きを手動操作せずにテストストリップを射出することができる。この実施形態において、複数の離間して置かれたテストストリップコネクタは、テストストリップに力を付与することができ、この力は約０．３６ニュートン〜約０．８４ニュートンの範囲が可能である。
【０００６】
上記の本発明の一実施形態において、テストストリップ射出機構は下部及び上部を含むことができ、複数の離間して置かれたテストストリップコネクタが上部の上に配され、プッシャアセンブリが下部の上に配される。テストストリップ射出機構は、更に、上部と下部との間に配されたほぼ平面の部分を含み、このほぼ平面の部分は、隣接するテストストリップコネクタ間に少なくとも１つのフィンを導くように構成された少なくとも１つのスロットを有する。このほぼ平面の部分はプリント基板であってよい。
【０００７】
上記の本発明による一実施形態において、テストストリップ射出機構は複数の離間して置かれたテストストリップコネクタを含むことができ、これらのコネクタは、ほぼ平面の部分に対して最小間隙距離を有するように構成され、この最小間隙は、テストストリップの高さの約０％〜約６０％の範囲が可能である。本発明の別の実施形態において、最小間隙は、テストストリップの高さの約３０％〜約６０％の範囲が可能である。本発明の更に別の実施形態において、最小間隙は、約０．１ミリメートル〜約０．２ミリメートルの範囲が可能である。
【０００８】
上記の本発明による一実施形態において、テストストリップ射出機構は、３つの隣接するテストストリップコネクタの間を移動するように構成された２つのフィンを有するプッシャアセンブリを含んでもよい。
【０００９】
上記の本発明による一実施形態において、テストストリップ射出機構は、射出の際にテストストリップと同じ方向に動くように構成されたスライド可能なボタンに動作可能に取り付けられたプッシャアセンブリを含むことができる。テストストリップ射出機構は、更に、テストストリップの射出後にプッシャアセンブリを初期状態に戻すための付勢部材を含むことができる。
【００１０】
上記の本発明による一実施形態において、テストストリップ射出機構は、ハウジングに浮揚可能に取り付けられたプッシャアセンブリを含むことができる。
【００１１】
本発明によるテストストリップコネクタのリフォーム方法において、この方法は、ほぼ平面の部分からの最小間隙距離を有するテストストリップコネクタを提供する工程と、シムの高さと一致する既定の高さまでテストストリップコネクタを第１の方向に屈曲するようにシムをテストストリップコネクタに挿入する工程と、テストストリップコネクタからシムを取り外して、テストストリップコネクタが第１の方向と反対の第２の方向に弛緩することを可能にする工程と、を含むことができる。テストストリップコネクタへのシムの挿入とテストストリップコネクタからのシムの取り外しの結果、最小間隙距離は初期の最小間隙距離に比べて既定値まで増加する。この方法の一実施形態において、シムは、シムの挿入前の最小間隙距離より大きい既定の高さを有することができる。この方法の一実施形態において、シムを挿入後の最小間隙距離は、約０．１ミリメートル〜約０．２ミリメートルの範囲が可能である。
【００１２】
本発明によるテストストリップコネクタのリフォーム方法の代替方法において、この方法は、テストストリップコネクタが第１の位置から第２の位置まで上方に動くようにリフォーム用付属品をテストストリップコネクタと噛み合わせる工程を含む。リフォーム用付属品は上段及び下段を有し、上段はテストストリップコネクタを上方に押し上げるように構成され、下段はブラケットの下部を上方に押し上げるように構成される。ブラケットはテストストリップコネクタを保持するように構成される。リフォーム用付属品を取り外すと、テストストリップコネクタは弛緩して、第１の位置より上方の第３の位置になる。次に、ほぼ平面の部分をブラケットに取り付けると、テストストリップコネクタとほぼ平面の部分との間に最小間隙距離が形成される。この方法の一実施形態において、最小間隙距離は、約０．１ミリメートル〜約０．２ミリメートルの範囲が可能である。
【００１３】
本発明によるテストストリップを射出する方法において、この方法は、プッシャアセンブリが少なくとも１つのフィンを有する所に、プッシャアセンブリが配置される射出ボタンを作動する工程と、複数のテストストリップコネクタの間で少なくとも１つのフィンを動かす工程と、少なくとも１つのフィンで、測定器から外向き方向にテストストリップの近位端を押す一方で、テストストリップコネクタがテストストリップの上面に接触する工程と、テストストリップコネクタがテストストリップの上面近位端に接触するように近位端を引き続き前進させる工程と、テストストリップコネクタがテストストリップの上面近位端を上からはじくことによってテストストリップを測定器から射出させる工程と、を含むことができる。
【００１４】
上記の本発明によるテストストリップを射出する方法において、この方法は、テストストリップコネクタがテストストリップの上面に接触しているが上面近位端には接触していないときにテストストリップの上面にほぼ垂直にテストストリップコネクタ力を付与するテストストリップコネクタを更に含むことができる。この方法の一実施形態において、テストストリップコネクタ力は、約０．３６ニュートン〜約０．８４ニュートンの範囲が可能である。
【００１５】
上記の本発明によるテストストリップを射出する方法において、この方法は、更に、少なくとも１つのフィンを介して、反対の摩擦力より大きいプッシャ力を付与するプッシャアセンブリを含むことができる。摩擦力は、上面に対しほぼ垂直なテストストリップコネクタ力と、テストストリップとほぼ平面の部分との間の摩擦係数との積に比例する。
【００１６】
上記の本発明によるテストストリップを射出する方法において、この方法は、更に、外に向かうテストストリップコネクタ力が反対の摩擦力より大きいときにテストストリップを射出するために十分なテストストリップコネクタ力を付与することができるテストストリップコネクタを含むことができる。
【００１７】
本発明の新規な特徴は、添付の「特許請求の範囲」に詳細に記載される。本発明の特徴及び利点は、次の、本発明の原理が利用される例示的な実施形態を記載する以下の発明を実施するための形態、並びに添付の図面を参照することによって、より理解されるであろう。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】テストストリップが接続された測定器の概略平面図。
【図２】テストスリップが設置されていない、図１の測定器の概略側面図。
【図３】図１に図示したテストストリップの平面図。
【図４】生理液試料中の分析物を測定するためのキットの概略ブロック図。
【図５Ａ】使用者が本発明によるテストストリップ射出機構を使用して使用済みのテストストリップを廃棄する様子を描いた略図。
【図５Ｂ】使用者が本発明によるテストストリップ射出機構を使用して使用済みのテストストリップを廃棄する様子を描いた略図。
【図５Ｃ】使用者が本発明によるテストストリップ射出機構を使用して使用済みのテストストリップを廃棄する様子を描いた略図。
【図６】本発明の一実施形態による、解体されたテストストリップ射出機構の上面分解斜視図。
【図７】本発明の一実施形態による、解体されたテストストリップ射出機構の下部の上面分解斜視図。
【図８】テストストリップが挿入された初期状態の、本発明の一実施形態によるテストストリップ射出機構の概略上面斜視図。
【図９】テストストリップの射出されているプロセス中の、本発明の一実施形態によるテストストリップ射出機構の概略上面斜視図。
【図１０】テストストリップが射出された後の、本発明の一実施形態によるテストストリップ射出機構の概略上面斜視図。
【図１１】本発明の一実施形態によるテストストリップコネクタ、導入スロット、及びフィンの概略頂面図。
【図１２】本発明の一実施形態によるテストストリップコネクタ、導入スロット、及びフィンの概略正面図。
【図１３】テストストリップコネクタがテストストリップの頂部と接触した第１の状態での、本発明の一実施形態によるテストストリップ射出機構の概略側断面図。
【図１４】テストストリップコネクタがテストストリップの近位端と接触した第２の状態での、本発明の一実施形態によるテストストリップ射出機構の概略側断面図。
【図１５】テストストリップコネクタがテストストリップの近位端を上からはじくことで推進力を付与する第３の状態での、本発明の一実施形態によるテストストリップ射出機構の概略側断面図。
【図１６】テストストリップがテストストリップコネクタから放れて遊離である第４の状態での、本発明の一実施形態によるテストストリップ射出機構の概略側断面図。
【図１７】本発明の一実施形態によるテストストリップコネクタをリフォームする方法に用いられるシムの上面斜視図。
【図１８】本発明の方法に従ってテストストリップコネクタをリフォームするためにストリップポートコネクタに挿入されつつある、図１７のシムの上面斜視図。
【図１９】本発明の方法に従ってテストストリップコネクタをリフォームするためにストリップポートコネクタに挿入された、図１７のシムの上面斜視図。
【図２０】本発明の代替実施形態によるテストストリップコネクタのリフォーム方法に用いられるリフォーム用付属品の斜視図であり、プリント基板（ＰＣＢ）に装着されていないストリップポートコネクタの上部と噛み合っているリフォーム用付属品が図示。
【発明を実施するための形態】
【００１９】
図１は、測定器２００及びテストストリップ１００の概略平面図である。図１及び２に図示したように、測定器２００は、射出ボタン２０１と、視覚的ディスプレイ２０２と、ハウジング２０４と、チュートリアルボタン２０６と、ストリップポートコネクタ２０８とを含むことができる。図１に図示したように、テストストリップ１００をストリップポートコネクタ２０８に挿入することができる。図１に図示したように、血液試料９４を入口９０に適用して、試料受け入れチャンバ９２を充填し、測定を実行することができる。測定器２００は、また、生理学的試料が試料受け入れチャンバ９２を充填したかどうかを特定するように構成される好適な回路を含むことができる。
【００２０】
図３は、遠位端３及び近位端４を有するテストストリップ１００の上面図を図示する。テストストリップ１００は、少なくとも１つのワーキング電極及び参照電極を含むことができる。より具体的には、図３に図示したように、テストストリップ１００は参照電極１０、第１のワーキング電極１２、及び第２のワーキング電極１４を含む。テストストリップ１００は、更に、近位端４に隣接して配されたストリップ検出バー１７を含むことができる。ストリップ検出バー１７は、テストストリップ１００が測定器２００に適正に挿入されると同時に測定器２００のスイッチを入れるように構成され得る。複数の接触パッドを近位端４に配し、少なくとも１つのワーキング電極及び１つの参照電極との電気的接続を形成することができる。一実施形態において、複数の接触パッドは、第１の接触パッド１３、第２の接触パッド１５、及び参照接触パッド１１を含むことができ、これらは、第１のワーキング電極１２、第２のワーキング電極１４、及び参照電極１０にそれぞれ電気的に接続される。市販されているテストストリップの実施形態の一例は、ワンタッチ（登録商標）ウルトラ（登録商標）（OneTouch（登録商標）Ultra(登録商標)）ブドウ糖テストストリップ（カリフォルニア州ミルピタス（９５０３５）所在）である。
【００２１】
図４は、測定器２００、テストストリップ１００、及び突き刺し装置４００を含むキット５００の概略図である。突き刺し装置４００は、血液試料を摘出するために指先を突き刺すように構成され得る。測定器２００は、ストリップポートコネクタ２０８、試験電圧ユニット１０６、電流測定ユニット１０７、テストストリップ射出機構３００、マイクロプロセッサユニット２１２、メモリユニット２１０、及び視覚的ディスプレイ２０２を含むことができる。ハウジング２０４は、ストリップポートコネクタ２０８、試験電圧ユニット１０６、電流測定ユニット１０７、テストストリップ射出機構３００、マイクロプロセッサユニット２１２、メモリユニット２１０、及び視覚的ディスプレイ２０２を実質的に包囲するように構成され得る。
【００２２】
ストリップポートコネクタ２０８は、図４が示すように、テストストリップ１００の近位端４を受け入れ、少なくとも１つのワーキング電極及び１つの参照電極と電気的接続を形成するように構成され得る。ストリップポートコネクタ２０８は、対応する複数の接触パッドに電気的に接続するように構成された複数の離間して置かれたテストストリップコネクタを含むことができる。複数の離間して置かれたテストストリップコネクタは、参照コネクタ１０１、第２のコネクタ１０２、第１のコネクタ１０３、及び２つのストリップ保持コネクタ１０４を含むことができる。ストリップポートコネクタ２０８は、参照コネクタ１０１、第２のコネクタ１０２、及び第１のコネクタ１０３をそれぞれ介して、参照接触パッド１１、第２の接触パッド１５、及び第１の接触パッド１３への電気的接続を形成することができる。加えて、ストリップポートコネクタ２０８は、２つのストリップ保持コネクタ１０４を介してストリップ検出バー１７上の２点への電気的接続を形成することができる。複数のテストストリップコネクタ（例えば１０１、１０２、１０３、及び１０４）は、電流を運ぶために好適な導電材料で作製することができる。導電材料は、金メッキベリリウム／銅合金又は金メッキ含リン青銅合金でよい。望ましい特性のために導電材料を選択すると、テストストリップコネクタは、電流に対して比較的低い表面抵抗及び高い可撓性絶対値を含むことができる。
【００２３】
試験電圧ユニット１０６は、図４に図示したように、第１のコネクタ１０３と参照コネクタ１０１との間に第１の試験電圧を付与し、かつまた第２のコネクタ１０２と参照コネクタ１０１との間に第２の試験電圧を付与するように構成された電子回路を含むことができる。試験電圧ユニット１０６は、また、定電位電解装置とも呼ばれる場合がある。試験電圧ユニット１０６は、また、電流測定ユニット１０７、ストリップ保持コネクタ１０４、及びマイクロプロセッサユニット２１２と通信することができる。
【００２４】
電流測定ユニット１０７は、図４が示すように、第１の試験電圧及び第２の試験電圧の付与の結果生じる１つ以上の試験電流の規模を測定するように構成された電子回路を含むことができる。電流測定ユニット１０７は、電流電圧変換器及び／又はアナログデジタル変換器（Ａ／Ｄ）を含むことができる。電流測定ユニット１０７は、試験電圧ユニット１０６及びマイクロプロセッサユニット２１２と通信することができる。
【００２５】
メモリユニット２１０は当業者に既知の任意の好適なメモリユニットでよく、例えば、図４が示すような、ソリッドステート不揮発性メモリ（ＮＶＭ）ユニット又は光学ディスクベースのメモリユニットである。一実施形態において、メモリユニット２１０は、揮発性メモリ部分と不揮発性メモリ部分との両方を含むことができる。メモリユニット２１０は、測定器２００及びテストストリップ１００を使用してブドウ糖測定を実行するためのソフトウェア使用説明書を含むように構成され得る。メモリユニット２１０は、マイクロプロセッサ２１２と通信するように構成され得る。
【００２６】
図４に図示したように、視覚的ディスプレイ２０２は、液晶ディスプレイ（ＬＣＤ）スクリーンなどを含む当業者に既知の任意の好適なディスプレイスクリーンでよい。視覚的ディスプレイ２０２を用いて、測定器２００の操作の仕方を使用者に伝えるためのユーザーインターフェイスを図示することができる。図１に図示したように、視覚的ディスプレイ２０２は、また、日付、時刻、及びブドウ糖濃度値の表示など、測定器２００の操作に関係する他の機能を実行するために使用することができる。
【００２７】
図４に図示したように、マイクロプロセッサユニット２１２は、測定器２００及びテストストリップ１００での生理液の測定を制御及び操作するように構成され得る。より具体的には、試験電圧ユニット１０６、電流測定ユニット１０７、視覚的ディスプレイ２０２、及びメモリユニット２１０の機能を制御するようにマイクロプロセッサユニット２１２を動作可能に連結することができる。
【００２８】
図５Ａ〜５Ｃは、使用者が本発明の一実施形態によるテストストリップ射出機構を使用して使用済みのテストストリップを廃棄する様子を描いた略図である。分析物測定プロセスが実行された後、別のテストストリップ１００をストリップポートコネクタ２０８に挿入する前に、別のテストストリップ１００を取り外す必要がある。取り出しを開始するために、図５Ａ〜５Ｃに図示されるように、使用者は射出ボタン２０１を前方にスライドすることができる。射出ボタン２０１をスライドする動きによって、テストストリップ１００は、図４Ｃに図示されるように測定器２００から完全に分離される。本発明を用いれば、テストストリップ１００の射出を促進する重力を引き起こすために測定器２００を振る必要、あるいは測定器２００を縦に握る必要はない。テストストリップ１００の射出後、使用者は、図５Ａに図示されるように新しいテストストリップを挿入する必要がある。
【００２９】
図６は、テストストリップ射出機構３００の上面斜視図であり、この機構は、図５Ａ〜５Ｃで前述したスライド可能な射出ボタン２０１を使用する。テストストリップ射出機構３００は、上部３０８、プリント基板（ＰＣＢ）３１８、及び下部３０４を含む。プリント基板３１８は、ほぼ平面の部分と呼ばれる場合があることに注意されたい。複数のポスト（３０２、３０３、３１０）を使用し、穴（３２２、３２４）と導入スロット（３２０、３２６）と穴（３２８）とを通して、プリント基板３１８を上部３０８と下部３０４との間に挟むことができる。上部３０８は４つの下方ポスト３１０を含み、これらは、図６に図示したようにプリント基板３１８に配された４つの対応する穴３２４を通して導かれる。そうすることによって、次に、下方ポスト３１０は下部３０４の４つの穴３２８に納まることができる。下部３０４は２つの上方ポスト３０３を含み、これらは、図６に図示したようにプリント基板３１８に配された２つの対応する穴３２２を通して導かれる。
【００３０】
複数の離間して置かれたテストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３、１０４）は、図６に図示したように、上部３０８に配される。上部３０８は、テストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３、１０４）を保持するためのブラケットの形状であることができる。複数のテストストリップコネクタは、参照コネクタ１０１、第２のコネクタ１０２、第１のコネクタ１０３、及びストリップ保持コネクタ１０４を含むことができる。複数のストリップ接触子（１０１、１０２、１０３、１０４）は、電気的接続を提供することに加えて、図１３に図示したように、テストストリップ１００を実質的に静止させるために十分な大きさの力を付与するように構成される。
【００３１】
図７は、棹３１４と、バネ３１２の形状である付勢部材とを含む下部３０４の解体斜視図を示す。棹３１４は、遠位棹部分３１３と近位棹部分３１５とを含む。下部は、遠位棹結合穴３３０と近位棹結合穴３３４とを含む。棹３１４は、近位棹部分３１５を近位棹結合穴３３４に装着し、遠位棹部分３１３を遠位棹結合穴３３０に取り付けることによって、下部３０４に硬く装着することができる。遠位棹部分３１３は、ネジ山機構構成を用いて遠位棹結合穴３３０と結合することができる。バネ３１２は、棹３１４を下部３０４に装着する前に、棹３１４を中心として棹３１４の周囲に装着することができる。プッシャアセンブリ３０６は、バネ３１２の一端を押すように構成される付勢部材停止部３３２を含むことができる。バネ３１２のもう一方の端は、図６及び７に図示したように、近位棹結合穴３３０に近い下部３０４の内側壁部分を押すことができる。バネ３１２は、テストストリップ１００を射出するために作動ポスト３０２を介してスライド可能な射出ボタン２０１が作動されたときに圧縮され得る。この射出プロセスの後、バネ３１２は、非圧縮状態になり、プッシャアセンブリ３０６をその初期状態に戻す。
【００３２】
図６及び７において、プッシャアセンブリ３０６は、降下がもたらす損傷から射出機構３００を堅固に守るハウジング２０４に浮揚可能に取り付けられたものとして図示されている。より具体的には、プッシャアセンブリ３０６は、下部３０４に硬く拘束されておらず、棒３１４及びプリント基板１８の導入スロット（３２０、３２６）とスライド可能に係合している。しかし、棒３１４及びプリント基板１８は下部３０４に硬く拘束されて、結果的にハウジング２０４に結合される。
【００３３】
射出プロセス中に、プッシャアセンブリ３０６がテストストリップコネクタ（１０１、１０２、又は１０３）に接触しないようにするために、図６に示したようなテストストリップ射出機構３００をどのように構成するかについて、次に説明する。変形によって後のテストストリップ１００との電気的接続が阻止される場合があるため、プッシャアセンブリ３０６はテストストリップコネクタ（１０１、１０２、又は１０３）と接触してはならない。プッシャアセンブリ３０６は、図６及び７に図示されたような２つのフィン３１６及び作動ポスト３０２を含む。図８〜１０が示すように、２つのフィン３１６は、射出プロセスの期間、テストストリップ１００の近位端４を押すように構成される。作動ポスト３０２は、射出ボタン２０１のスライド可能な動きが作動ポスト３０２（図示せず）の対応する動きも引き起こすように射出ボタン２０１に動作可能に接続される。
【００３４】
フィン３１６は、測定器２００からテストストリップ１００を機械的に押し出すことを可能にするリブ、突起、又は付属物の形であってもよい。図７の実施形態には２つのフィン３１６が使用されているが、プッシャアセンブリ３０６は、テストストリップを射出するために１つ以上のフィンを有するように構成されることが可能である。射出をほぼ直線的に生じさせるよう、テストストリップ１００の近位端４にほぼ対称に力が付与されるように、フィンをプッシャアセンブリ３０６に配列することができる。
【００３５】
図８〜１０に図示したように、作動ポスト３０２は、射出されるテストストリップ１００と同方向に動くようにスライド可能に作動される。配置プロセスの期間、作動ポスト３０２を導くのを補助するために、プリント基板１８は、図８〜１０に図示されるように、ほぼ直線の動きをもたらすのを補助するための対応する導入スロット３２０を有するように適合される。配置プロセスの期間に、２つのフィン３１６を導くのを補助するために、プリント基板１８は、また、図８〜１０に図示されたように、ほぼ直線の動きをもたらすのを補助するための２つの対応する導入スロット３２６を有するように適合される。
【００３６】
ほぼ直線の動きを促進するのを補助することに加えて、２つの導入スロット３２６は、図１１及び１２に図示されたように、２つのフィン３１６がテストストリップコネクタ（１０１、１０２、又は１０３）と接触しないことを確実にするのを補助する。図１１の概略上面図及び図１２の概略側面図は、それぞれ、２つの導入スロット３２６及び２つのフィン３１６の位置に対するテストストリップコネクタ（１０１、１０２、又は１０３）を図示する。２つのフィン３１６は、図１１及び１２に図示するように、隣接するテストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）の間に押し込むように構成される。第１のコネクタ１０３、第２のコネクタ１０２、及び参照コネクタ１０１は、約１．５ミリメートル〜約２．０ミリメートルの範囲の分離幅Ｗ１を有する間隔で離間して配向される。２つのフィン３１６は、図１１及び１２に図示されるように、分離幅Ｗ１より小さい幅Ｗ２を有する。
【００３７】
プッシャアセンブリ３０６は、完全に配置されたときにハウジング２０４の外の部分を超えて延出しないにも関わらず、測定器２００の向きを操作せずにテストストリップ１００を推進させることができる。図１１は、プッシャアセンブリ３０６の２つのフィン３１６がハウジング２０４を超えて延出しないことを図示する。したがって、テストストリップ射出機構３００は、テストストリップ１００が測定器２００から完全に射出され得るように、十分な量の推進力を提供できる必要がある。
【００３８】
本発明の実施形態において、テストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）は、図１３〜１６に図示されるように、ハウジング２０４を除去するために十分な推進力を、テストストリップ１００に与えるように適応され得る。しかし、この推進力は、使用者がゴミ容器をめがけてテストストリップを飛ばし入れることができなくなるほど大きい推進力であってはならない。一実施形態において、この推進力の上限は、測定器２００が表面から約１１センチメートル上げられたときに、テストストリップ１００がハウジング２０４の外側から約１８センチメートルの距離未満で推進されるようにする力と定義され得る。ここで説明する実施形態において、２つのストリップ保持コネクタ１０４が、射出されるテストストリップの推進力に寄与しないことに注意しなくてはならない。
【００３９】
図１３〜１６は、テストストリップ射出機構３００の４つの異なる状態の概略側断面図を示す。４つの異なる状態は、それぞれ、射出ボタン２０１を初期の位置から完全に配置された位置まで動かしたときの射出プロセスのスナップショットを表す。第１の状態において、射出ボタン２０１は、図１３に図示されるように、フィン３１６がテストストリップ１００の近位端４に触れ始めた第１の位置まで動かされている。図１４に図示したように、第２の状態において、射出ボタン２０１が第２の位置まで動くことによって、フィン３１６が、テストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）が上面近位端５と接触する点までテストストリップ１００を前進させる。上面近位端５は、テストストリップ１００の近位端４の平面部分の頂点と上部平面部分とによって形成される線である。第３の状態において、射出ボタン２０１が第３の位置まで移動することによって、フィン３１６がテストストリップ１００を更に前進させ、図１５に図示さえるように、テストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）が上面近位端５を上からはじく。上面近位端５を上からはじく作用によって、外向きの推進力が付与される。第４の状態において、図１６に図示されるように、射出ボタン２０１は第４の位置まで移動し、そこでテストストリップ機構は完全に配置されて、テストストリップ１００は遊離飛行する。
【００４０】
以下に、射出機構の４つの異なる状態の期間にテストストリップ１００に付与される力について説明する。第１の状態において、図１３に見られるように、テストストリップ１００の上部にテストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）はコネクタ力Ｆｃを付与する。コネクタ力Ｆｃは、テストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）の反射的弛緩の結果である。第１の状態において、挿入されたテストストリップ１００によってテストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）はプリント基板１８から一定距離、離れ、この距離は、図１３に図示されるように、この状態においてはテストストリップの高さＨ１と一致する。テストストリップ１００に接触するテストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）の一部は、図１３に図示さえるように曲線形である。プリント基板１８は、コネクタ力Ｆｃを中和する規模で正常な力Ｆｎを発する。第１の状態において、コネクタ力Ｆｃは、プリント基板１８に対してテストストリップ１００を安全な方法で静止させ、テストストリップ接触パッド（１１、１３、１５）に堅固な電気的接続をもたらすためにも、十分でなくてはならない。第１の状態において、テストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）によってテストストリップ１００に付与される下向きのコネクタ力Ｆｃは、約０．３６〜約０．８４ニュートンの範囲であることができる。
【００４１】
第１の状態において、フィン３１６は、図１３に図示されるように、プッシャ力Ｆｐをテストストリップ１００の近位端４に付与することができる。テストストリップ１００が測定器２００から外向きに動かされるためには、プッシャ力Ｆｐが摩擦力Ｆｆより大きくなくてはならない。摩擦力Ｆｆの規模が、下向きのコネクタ力Ｆｃ及びテストストリップ１００とプリント基板１８との間の摩擦係数に比例的に基づいていることに注意すべきである。加えて、摩擦力Ｆｆの規模は、また、テストストリップ１００とテストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）との間の摩擦係数を含むことができる。
【００４２】
第１の状態に比べて、第２の状態では、図１４に図示されるように、テストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）は力をテストストリップ１００の上面の上ではなく近位端５に付与するので、コネクタ力Ｆｃはプリント基板１８の平面に対して垂直でない。コネクタ力Ｆｃの方向がテストストリップ１００との接触点での接線に対して垂直であることに注意すべきである。図１４に図示されるように、テストストリップ１００が第２の位置まで動かされると、テストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）が屈曲するので、接線はテストストリップ１００の上面と平行ではなくなる。コネクタ力Ｆｃは、また、プリント基板１８の平面と平行であり、プリント基板１８の平面と垂直な力Ｆｃｙである、２つのコネクタ力の重畳であるとも言える。
【００４３】
図１４に図示される第２の状態において、テストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）はコネクタ力Ｆｃｘを付与するが、この力はテストストリップ１００を射出するためにはまだ十分ではない。先に述べたように、テストストリップを射出するためには、コネクタ力Ｆｃｘは摩擦力Ｆｆより大きくなくてはならないが、ここで注意すべきことは、ｙ方向へのコネクタ力Ｆｃｙの減少によって、第２の状態では、摩擦力Ｆｆが第１の状態に比べて減少されていることである。第２の状態の期間、プリント基板１８とテストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）との間の距離である高さＨ２は、テストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）の部分的弛緩の結果として、テストストリップの高さＨ１より小さくなる。
【００４４】
テストストリップ射出機構の第３の状態において、図１５に図示したように、テストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）は、摩擦力Ｆｆを克服するのに十分なコネクタ力Ｆｃｘを付与する。第３の状態は、テストストリップ１００を射出するために十分に大きいコネクタ力Ｆｃｘを生成するためにテストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）が上面近位端５を上からはじくプロセスにある遷移状態を表す。第３の状態の期間、テストストリップ１００はテストストリップ射出機構３００に沿って更に移動するので、テストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）の連続的弛緩によって、高さＨ２は第２の状態に比べて減少する。
【００４５】
テストストリップ射出機構の第４の状態において、テストストリップ１００は測定器２００から遊離飛行している。図１６は、フィン３１６が完全に配置されて、使用者が手でテストストリップ１００に触れる必要なくテストストリップ１００を射出するに十分な推進力をテストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）が付与することが可能になったことを示す。テストストリップ１００を射出した後、高さＨ２は、プリント基板１８に対してテストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）が自立位置にあることを表す。自立テストストリップコネクタの高さＨ２は、最小間隙距離とも呼ばれる場合があることに注意されたい。
【００４６】
次に、テストストリップ射出距離にもまた影響を与える、テストストリップコネクタ力Ｆｃの規模に影響を与える因子について説明する。テストストリップコネクタ力Ｆｃは、テストストリップコネクタのバネレート（Ｎ／ｍｍ単位）と、テストストリップコネクタ及びテストストリップ１００の間の干渉によって生成されるテストストリップコネクタ（ｍｍ単位）の偏向の積として定量化することができる。したがって、テストストリップコネクタのバネレートと、テストストリップコネクタの偏向との両方が、テストストリップコネクタ力Ｆｃの規模に影響する。
【００４７】
テストストリップコネクタ力Ｆｃに影響し得るテストストリップコネクタのバネレートは、テストストリップコネクタ材料（例えば、含リン青銅）の弾性係数、テストストリップコネクタの厚さＨ３（図１３〜１６を参照）、テストストリップコネクタの幅Ｗ３（図１１及び１２を参照）、及びテストストリップコネクタの長さＬ１の関数であり得る。バネレートはテストストリップコネクタの厚さＨ３の立方によって変化するので、テストストリップコネクタのバネレートは、テストストリップコネクタの幅Ｗ３及びテストストリップコネクタの長さＬ１よりもテストストリップコネクタの厚さＨ３の影響をより受けやすくなり得る。一実施形態において、テストストリップコネクタの厚さＨ３は、約０．１９ｍｍ〜約０．２１ｍｍの範囲が可能であり、好ましくは約０．２ｍｍである。＋／−０．１ｍｍの見込まれる変動を伴う０．２ｍｍのテストストリップコネクタの厚さＨ３を使用すると、テストストリップコネクタ力Ｆｃは約＋／−１５％変動し得る。
【００４８】
テストコネクタの偏向は、テストストリップコネクタ力Ｆｃに影響するもう１つの因子である。この偏向は、テストストリップの高さＨ１と自立テストストリップコネクタの高さＨ２との間の差によって表すことができる。自立テストストリップコネクタの高さＨ２の一例が図１６に示され、このテストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）は、テストストリップが挿入されていないプリント基板１８に対する高さＨ２を有する。テストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）は、約０ミリメートル〜約０．２ミリメートル、好ましくは約０．１ミリメートル〜約０．２ミリメートルの範囲の自立テストストリップコネクタの高さＨ２を有するように構成することが可能である。テストストリップの高さＨ１は、約０．３３５ミリメートル〜約０．３６５ミリメートルの範囲が可能である。したがって、テストストリップコネクタは、約０．１３５ミリメートル〜約０．３６５ミリメートル、好ましくは約０．１３５ミリメートル〜０．３５５ミリメートルの範囲の距離で偏向することができる。あるいは、テストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）は、テストストリップの高さＨ１の約０％〜約６０％、好ましくはテストストリップの高さＨ１の約３０％〜約６０％の範囲の自立テストストリップコネクタの高さを有するように構成することが可能である。
【００４９】
測定器ごとの射出距離の変動を低減するよう、大規模な個数の測定器製品が比較的一定の値となるようにテストストリップコネクタの偏向を構成することができる。自立テストストリップコネクタの高さＨ２及びテストストリップの高さＨ１は、テストストリップ射出機構３００を有する測定器２００を多数製造するときの測定器ごとの変動に影響し得る２つの因子である。概して、自立テストストリップコネクタの高さＨ２は、テストストリップの高さＨ１より大きい変動を有することが発見された。例えば、０．０５ｍｍの自立テストストリップコネクタの高さＨ２は約１５ｃｍのテストストリップ射出距離をもたらすことができ、一方、０．２ｍｍの自立テストストリップコネクタの高さＨ２は約８ｃｍのテストストリップ射出距離をもたらすことができる。したがって、次に、多数のテストストリップコネクタを製造するときに自立テストストリップコネクタの高さＨ２の変動性が低減されるよう、テストストリップコネクタを修正するための方法について説明する。
【００５０】
自立テストストリップコネクタの高さＨ２を既定の範囲内に適合させることによって、測定器ごとの射出距離に関する変動を比較的低く維持することができる。更に、既定の上限を超えないテストストリップ射出距離を全ての測定器製品が有するように、既定の範囲を適合することができる。例えば、自立テストストリップコネクタの高さＨ２が約０．１ｍｍ〜約０．２ｍｍの範囲であれば、対応するテストストリップ射出距離は約１２センチメートル〜約８センチメートルの範囲になる。
【００５１】
本発明の一実施形態において、自立テストストリップコネクタの高さＨ２の変動を低減するための方法は、図１７〜１９に示したようなシム６００の使用を含む。この実施形態において、テストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）は、自立テストストリップコネクタの高さＨ２が既定範囲内で増加するようにリフォームされている。図１８及び１９は、シム６００を用いて自立テストストリップコネクタの高さＨ２をリフォームするプロセスを図示する。テストストリップコネクタがシムの高さと一致する既定の高さまで第１の方向に屈曲するように、シム６００をテストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）に挿入することができる。次に、シム６００をテストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）から取り外して、第１の方向と反対の第２の方向で弛緩を生じさせることができる。シム６００を取り外した後、自立テストストリップコネクタの高さＨ２は、シム６００の高さに基づく既定値まで増加する。測定器ごとのテストストリップ射出距離の変動は、自立テストストリップコネクタの高さＨ２の既定の範囲を構成することによって減少される。一実施形態において、自立テストストリップコネクタの高さＨ２は、約０．１ミリメートル〜約０．２ミリメートルの範囲が可能である。
【００５２】
図１７は、近位部分６１０をストリップポートコネクタ２０８に挿入するときに、自立テストストリップコネクタの高さＨ２をリフォームするプロセスに使用することができるシム６００の実施形態を図示する。近位部分６１０及び導入部分６２０は、シム６００の挿入を導くためにプリント基板１８の上面及び下面との境界面を成すことができる。テストストリップコネクタを上方に屈曲させるように、シム６００は、初期の自立テストストリップコネクタの高さＨ２より大きい高さを有するべきである。
【００５３】
本発明の代替実施形態において、自立テストストリップコネクタの高さＨ２の変動を低減する方法は、図２０が示すように、リフォーム用付属品７００を上部３０８と噛み合わせる工程を含むことができる。リフォーム用付属品７００を用いて、自立テストストリップコネクタの高さＨ２をリフォームして自立テストストリップコネクタの高さＨ２を恒久的に増加することができる。リフォーム用付属品７００は、図２０に示されるように、上段７１０及び下段７２０を含む。上段７１０はテストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）を押すように構成され、下段７２０はガイドとして使用される下方ポスト３１０を押すように構成され得る。下方ポスト３１０は、また、テストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）を保持するように構成されたブラケットの下部とも呼ばれる場合がある。リフォーム用付属品７００を噛み合せるプロセスは、テストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）を第１の位置から第２の位置まで上方に動かす。リフォーム用付属品７００の取り外しは、テストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）を第１の位置から上方の第３の位置まで弛緩させる。次に、テストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）とプリント基板１８との間に自立テストストリップコネクタの高さＨ２が形成されるようにプリント基板１８を取り付ける。自立テストストリップコネクタの高さＨ２は、約０．１ミリメートル〜約０．２ミリメートルの範囲が可能である。
【００５４】
本発明の一実施形態において、テストストリップ１００を射出する方法は、使用者がテストストリップ１００の近位端４をストリップポートコネクタ２０８に挿入する工程を含むことができる。テストストリップコネクタは、テストストリップ１００を定位置に保持するために力Ｆｃを付与することができる。使用者は、テストストリップ１００の入口９０に血液試料９４を適用することによってブドウ糖試験を実行することができる。結果として得られるブドウ糖濃度は、次に、視覚的ディスプレイ２０２に表示され得る。試験が完了したら、射出ボタン２０１を作動して、プッシャアセンブリ３０６を配置することができる。プッシャアセンブリ３０６は２つのフィン３１６を介してテストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）の間に押し込み、そしてテストストリップ１００の近位端４を押すことができ、一方、テストストリップコネクタはテストストリップ１００の上面と接触する。プッシャアセンブリ３０６は、２つのフィン３１６を介して、摩擦力Ｆｆより大きいプッシャ力Ｆｐを付与してテストストリップ１００の動きを引き起こす。
【００５５】
テストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）は、テストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）が上面近位端５には触れずにテストストリップ１００の上面に触れたときにテストストリップ１００の上面にほぼ垂直にテストストリップコネクタ力Ｆｃを付与する。テストストリップコネクタ力Ｆｃは、約０．３６ニュートン〜約０．８４ニュートンの範囲が可能である。
【００５６】
プッシャアセンブリ３０６を配置するプロセスの期間、テストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）は、テストストリップ１００の上面との接触から上面近位端５との接触に遷移して、テストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）が上面近位端５を上からはじき、テストストリップ１００を射出するのを可能にする。テストストリップコネクタが上面から上面近位端５に遷移するとき、テストストリップコネクタは、より大きい量の外向きの力Ｆｃｘと、より小さい量の下向きの力Ｆｃｙとを付与し始める。テストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）は、テストストリップコネクタ力Ｆｃｘが摩擦力Ｆｆより大きいときに、使用者が測定器２００の向きを操作する必要なくテストストリップ１００を射出することができる。
【００５７】
本明細書では本発明の好ましい実施形態が図示、説明されているが、こうした実施形態はあくまで例として与えられたものであることは当業者には明らかであろう。当業者であれば、本発明から逸脱することなく多くの変形、変更、及び代用が想到されるであろう。本発明の実施に際し本明細書で述べた実施形態には、様々な代替例を用い得る点は理解されるべきである。以下の「特許請求の範囲」は、本発明の範囲を定義し、特許請求の範囲内の方法、並びにそれらの同等物をこれによって網羅することを目的としたものである。
【技術分野】
【０００１】
本発明は、測定器からテストストリップを射出するためのテストストリップ射出機構に関する。
【背景技術】
【０００２】
測定器は、血液など生理液中の分析物を計測するためのテストストリップを使用することができる。例えば、測定器及びテストストリップを用いて、糖尿病患者は血糖値を電気化学的に測定することができる。測定が行われてから、別の測定がされ得る前に、使用済みのテストストリップを取り外さなくてはならない。テストストリップを手で取り出す際に、使用者の指に血液が付着する場合があり、これは不快なだけでなく、使用者の血液が別の人に付いた場合の二次汚染の危険もまたもたらす場合がある。加えて、使用者が同一の測定器を使用して複数の患者の試験を行う病院環境においては、二次汚染の危険はなお更高い。したがって、特許出願者らは、二次汚染の危険を低減するために、使用者と使用済みテストストリップとの相互作用を最低限にすることが望まれると考える。
【発明の概要】
【課題を解決するための手段】
【０００３】
本発明は、測定器からテストストリップを取り出すためのテストストリップ射出機構を目的とする。このテストストリップ機構は、少なくとも１つのフィンを有するプッシャアセンブリと、テストストリップ上に配された複数の接触パッドと接触するように構成された複数の離間して置かれたテストストリップコネクタと、を具備し、フィンがテストストリップが射出するまで、隣接するテストストリップコネクタの間に押し込み、そしてテストストリップの近位端を押すように構成される。
【０００４】
上記の本発明の一実施形態において、テストストリップ射出機構はプッシャアセンブリを含むことができ、このプッシャアセンブリは、射出プロセス中に、複数の離間しておかれたテストストリップコネクタがテストストリップの近位上端を上からはじくようにするために、テストストリップを前進させる。
【０００５】
上記の本発明の一実施形態において、テストストリップ射出機構は、テストストリップ射出機構を実質的に包囲するように構成されるハウジングを含むことができ、プッシャアセンブリは配置されるときにハウジングの外側から延出しない。この実施形態において、テストストリップ射出機構は、射出を促進するためにテストストリップ射出機構の向きを手動操作せずにテストストリップを射出することができる。この実施形態において、複数の離間して置かれたテストストリップコネクタは、テストストリップに力を付与することができ、この力は約０．３６ニュートン〜約０．８４ニュートンの範囲が可能である。
【０００６】
上記の本発明の一実施形態において、テストストリップ射出機構は下部及び上部を含むことができ、複数の離間して置かれたテストストリップコネクタが上部の上に配され、プッシャアセンブリが下部の上に配される。テストストリップ射出機構は、更に、上部と下部との間に配されたほぼ平面の部分を含み、このほぼ平面の部分は、隣接するテストストリップコネクタ間に少なくとも１つのフィンを導くように構成された少なくとも１つのスロットを有する。このほぼ平面の部分はプリント基板であってよい。
【０００７】
上記の本発明による一実施形態において、テストストリップ射出機構は複数の離間して置かれたテストストリップコネクタを含むことができ、これらのコネクタは、ほぼ平面の部分に対して最小間隙距離を有するように構成され、この最小間隙は、テストストリップの高さの約０％〜約６０％の範囲が可能である。本発明の別の実施形態において、最小間隙は、テストストリップの高さの約３０％〜約６０％の範囲が可能である。本発明の更に別の実施形態において、最小間隙は、約０．１ミリメートル〜約０．２ミリメートルの範囲が可能である。
【０００８】
上記の本発明による一実施形態において、テストストリップ射出機構は、３つの隣接するテストストリップコネクタの間を移動するように構成された２つのフィンを有するプッシャアセンブリを含んでもよい。
【０００９】
上記の本発明による一実施形態において、テストストリップ射出機構は、射出の際にテストストリップと同じ方向に動くように構成されたスライド可能なボタンに動作可能に取り付けられたプッシャアセンブリを含むことができる。テストストリップ射出機構は、更に、テストストリップの射出後にプッシャアセンブリを初期状態に戻すための付勢部材を含むことができる。
【００１０】
上記の本発明による一実施形態において、テストストリップ射出機構は、ハウジングに浮揚可能に取り付けられたプッシャアセンブリを含むことができる。
【００１１】
本発明によるテストストリップコネクタのリフォーム方法において、この方法は、ほぼ平面の部分からの最小間隙距離を有するテストストリップコネクタを提供する工程と、シムの高さと一致する既定の高さまでテストストリップコネクタを第１の方向に屈曲するようにシムをテストストリップコネクタに挿入する工程と、テストストリップコネクタからシムを取り外して、テストストリップコネクタが第１の方向と反対の第２の方向に弛緩することを可能にする工程と、を含むことができる。テストストリップコネクタへのシムの挿入とテストストリップコネクタからのシムの取り外しの結果、最小間隙距離は初期の最小間隙距離に比べて既定値まで増加する。この方法の一実施形態において、シムは、シムの挿入前の最小間隙距離より大きい既定の高さを有することができる。この方法の一実施形態において、シムを挿入後の最小間隙距離は、約０．１ミリメートル〜約０．２ミリメートルの範囲が可能である。
【００１２】
本発明によるテストストリップコネクタのリフォーム方法の代替方法において、この方法は、テストストリップコネクタが第１の位置から第２の位置まで上方に動くようにリフォーム用付属品をテストストリップコネクタと噛み合わせる工程を含む。リフォーム用付属品は上段及び下段を有し、上段はテストストリップコネクタを上方に押し上げるように構成され、下段はブラケットの下部を上方に押し上げるように構成される。ブラケットはテストストリップコネクタを保持するように構成される。リフォーム用付属品を取り外すと、テストストリップコネクタは弛緩して、第１の位置より上方の第３の位置になる。次に、ほぼ平面の部分をブラケットに取り付けると、テストストリップコネクタとほぼ平面の部分との間に最小間隙距離が形成される。この方法の一実施形態において、最小間隙距離は、約０．１ミリメートル〜約０．２ミリメートルの範囲が可能である。
【００１３】
本発明によるテストストリップを射出する方法において、この方法は、プッシャアセンブリが少なくとも１つのフィンを有する所に、プッシャアセンブリが配置される射出ボタンを作動する工程と、複数のテストストリップコネクタの間で少なくとも１つのフィンを動かす工程と、少なくとも１つのフィンで、測定器から外向き方向にテストストリップの近位端を押す一方で、テストストリップコネクタがテストストリップの上面に接触する工程と、テストストリップコネクタがテストストリップの上面近位端に接触するように近位端を引き続き前進させる工程と、テストストリップコネクタがテストストリップの上面近位端を上からはじくことによってテストストリップを測定器から射出させる工程と、を含むことができる。
【００１４】
上記の本発明によるテストストリップを射出する方法において、この方法は、テストストリップコネクタがテストストリップの上面に接触しているが上面近位端には接触していないときにテストストリップの上面にほぼ垂直にテストストリップコネクタ力を付与するテストストリップコネクタを更に含むことができる。この方法の一実施形態において、テストストリップコネクタ力は、約０．３６ニュートン〜約０．８４ニュートンの範囲が可能である。
【００１５】
上記の本発明によるテストストリップを射出する方法において、この方法は、更に、少なくとも１つのフィンを介して、反対の摩擦力より大きいプッシャ力を付与するプッシャアセンブリを含むことができる。摩擦力は、上面に対しほぼ垂直なテストストリップコネクタ力と、テストストリップとほぼ平面の部分との間の摩擦係数との積に比例する。
【００１６】
上記の本発明によるテストストリップを射出する方法において、この方法は、更に、外に向かうテストストリップコネクタ力が反対の摩擦力より大きいときにテストストリップを射出するために十分なテストストリップコネクタ力を付与することができるテストストリップコネクタを含むことができる。
【００１７】
本発明の新規な特徴は、添付の「特許請求の範囲」に詳細に記載される。本発明の特徴及び利点は、次の、本発明の原理が利用される例示的な実施形態を記載する以下の発明を実施するための形態、並びに添付の図面を参照することによって、より理解されるであろう。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】テストストリップが接続された測定器の概略平面図。
【図２】テストスリップが設置されていない、図１の測定器の概略側面図。
【図３】図１に図示したテストストリップの平面図。
【図４】生理液試料中の分析物を測定するためのキットの概略ブロック図。
【図５Ａ】使用者が本発明によるテストストリップ射出機構を使用して使用済みのテストストリップを廃棄する様子を描いた略図。
【図５Ｂ】使用者が本発明によるテストストリップ射出機構を使用して使用済みのテストストリップを廃棄する様子を描いた略図。
【図５Ｃ】使用者が本発明によるテストストリップ射出機構を使用して使用済みのテストストリップを廃棄する様子を描いた略図。
【図６】本発明の一実施形態による、解体されたテストストリップ射出機構の上面分解斜視図。
【図７】本発明の一実施形態による、解体されたテストストリップ射出機構の下部の上面分解斜視図。
【図８】テストストリップが挿入された初期状態の、本発明の一実施形態によるテストストリップ射出機構の概略上面斜視図。
【図９】テストストリップの射出されているプロセス中の、本発明の一実施形態によるテストストリップ射出機構の概略上面斜視図。
【図１０】テストストリップが射出された後の、本発明の一実施形態によるテストストリップ射出機構の概略上面斜視図。
【図１１】本発明の一実施形態によるテストストリップコネクタ、導入スロット、及びフィンの概略頂面図。
【図１２】本発明の一実施形態によるテストストリップコネクタ、導入スロット、及びフィンの概略正面図。
【図１３】テストストリップコネクタがテストストリップの頂部と接触した第１の状態での、本発明の一実施形態によるテストストリップ射出機構の概略側断面図。
【図１４】テストストリップコネクタがテストストリップの近位端と接触した第２の状態での、本発明の一実施形態によるテストストリップ射出機構の概略側断面図。
【図１５】テストストリップコネクタがテストストリップの近位端を上からはじくことで推進力を付与する第３の状態での、本発明の一実施形態によるテストストリップ射出機構の概略側断面図。
【図１６】テストストリップがテストストリップコネクタから放れて遊離である第４の状態での、本発明の一実施形態によるテストストリップ射出機構の概略側断面図。
【図１７】本発明の一実施形態によるテストストリップコネクタをリフォームする方法に用いられるシムの上面斜視図。
【図１８】本発明の方法に従ってテストストリップコネクタをリフォームするためにストリップポートコネクタに挿入されつつある、図１７のシムの上面斜視図。
【図１９】本発明の方法に従ってテストストリップコネクタをリフォームするためにストリップポートコネクタに挿入された、図１７のシムの上面斜視図。
【図２０】本発明の代替実施形態によるテストストリップコネクタのリフォーム方法に用いられるリフォーム用付属品の斜視図であり、プリント基板（ＰＣＢ）に装着されていないストリップポートコネクタの上部と噛み合っているリフォーム用付属品が図示。
【発明を実施するための形態】
【００１９】
図１は、測定器２００及びテストストリップ１００の概略平面図である。図１及び２に図示したように、測定器２００は、射出ボタン２０１と、視覚的ディスプレイ２０２と、ハウジング２０４と、チュートリアルボタン２０６と、ストリップポートコネクタ２０８とを含むことができる。図１に図示したように、テストストリップ１００をストリップポートコネクタ２０８に挿入することができる。図１に図示したように、血液試料９４を入口９０に適用して、試料受け入れチャンバ９２を充填し、測定を実行することができる。測定器２００は、また、生理学的試料が試料受け入れチャンバ９２を充填したかどうかを特定するように構成される好適な回路を含むことができる。
【００２０】
図３は、遠位端３及び近位端４を有するテストストリップ１００の上面図を図示する。テストストリップ１００は、少なくとも１つのワーキング電極及び参照電極を含むことができる。より具体的には、図３に図示したように、テストストリップ１００は参照電極１０、第１のワーキング電極１２、及び第２のワーキング電極１４を含む。テストストリップ１００は、更に、近位端４に隣接して配されたストリップ検出バー１７を含むことができる。ストリップ検出バー１７は、テストストリップ１００が測定器２００に適正に挿入されると同時に測定器２００のスイッチを入れるように構成され得る。複数の接触パッドを近位端４に配し、少なくとも１つのワーキング電極及び１つの参照電極との電気的接続を形成することができる。一実施形態において、複数の接触パッドは、第１の接触パッド１３、第２の接触パッド１５、及び参照接触パッド１１を含むことができ、これらは、第１のワーキング電極１２、第２のワーキング電極１４、及び参照電極１０にそれぞれ電気的に接続される。市販されているテストストリップの実施形態の一例は、ワンタッチ（登録商標）ウルトラ（登録商標）（OneTouch（登録商標）Ultra(登録商標)）ブドウ糖テストストリップ（カリフォルニア州ミルピタス（９５０３５）所在）である。
【００２１】
図４は、測定器２００、テストストリップ１００、及び突き刺し装置４００を含むキット５００の概略図である。突き刺し装置４００は、血液試料を摘出するために指先を突き刺すように構成され得る。測定器２００は、ストリップポートコネクタ２０８、試験電圧ユニット１０６、電流測定ユニット１０７、テストストリップ射出機構３００、マイクロプロセッサユニット２１２、メモリユニット２１０、及び視覚的ディスプレイ２０２を含むことができる。ハウジング２０４は、ストリップポートコネクタ２０８、試験電圧ユニット１０６、電流測定ユニット１０７、テストストリップ射出機構３００、マイクロプロセッサユニット２１２、メモリユニット２１０、及び視覚的ディスプレイ２０２を実質的に包囲するように構成され得る。
【００２２】
ストリップポートコネクタ２０８は、図４が示すように、テストストリップ１００の近位端４を受け入れ、少なくとも１つのワーキング電極及び１つの参照電極と電気的接続を形成するように構成され得る。ストリップポートコネクタ２０８は、対応する複数の接触パッドに電気的に接続するように構成された複数の離間して置かれたテストストリップコネクタを含むことができる。複数の離間して置かれたテストストリップコネクタは、参照コネクタ１０１、第２のコネクタ１０２、第１のコネクタ１０３、及び２つのストリップ保持コネクタ１０４を含むことができる。ストリップポートコネクタ２０８は、参照コネクタ１０１、第２のコネクタ１０２、及び第１のコネクタ１０３をそれぞれ介して、参照接触パッド１１、第２の接触パッド１５、及び第１の接触パッド１３への電気的接続を形成することができる。加えて、ストリップポートコネクタ２０８は、２つのストリップ保持コネクタ１０４を介してストリップ検出バー１７上の２点への電気的接続を形成することができる。複数のテストストリップコネクタ（例えば１０１、１０２、１０３、及び１０４）は、電流を運ぶために好適な導電材料で作製することができる。導電材料は、金メッキベリリウム／銅合金又は金メッキ含リン青銅合金でよい。望ましい特性のために導電材料を選択すると、テストストリップコネクタは、電流に対して比較的低い表面抵抗及び高い可撓性絶対値を含むことができる。
【００２３】
試験電圧ユニット１０６は、図４に図示したように、第１のコネクタ１０３と参照コネクタ１０１との間に第１の試験電圧を付与し、かつまた第２のコネクタ１０２と参照コネクタ１０１との間に第２の試験電圧を付与するように構成された電子回路を含むことができる。試験電圧ユニット１０６は、また、定電位電解装置とも呼ばれる場合がある。試験電圧ユニット１０６は、また、電流測定ユニット１０７、ストリップ保持コネクタ１０４、及びマイクロプロセッサユニット２１２と通信することができる。
【００２４】
電流測定ユニット１０７は、図４が示すように、第１の試験電圧及び第２の試験電圧の付与の結果生じる１つ以上の試験電流の規模を測定するように構成された電子回路を含むことができる。電流測定ユニット１０７は、電流電圧変換器及び／又はアナログデジタル変換器（Ａ／Ｄ）を含むことができる。電流測定ユニット１０７は、試験電圧ユニット１０６及びマイクロプロセッサユニット２１２と通信することができる。
【００２５】
メモリユニット２１０は当業者に既知の任意の好適なメモリユニットでよく、例えば、図４が示すような、ソリッドステート不揮発性メモリ（ＮＶＭ）ユニット又は光学ディスクベースのメモリユニットである。一実施形態において、メモリユニット２１０は、揮発性メモリ部分と不揮発性メモリ部分との両方を含むことができる。メモリユニット２１０は、測定器２００及びテストストリップ１００を使用してブドウ糖測定を実行するためのソフトウェア使用説明書を含むように構成され得る。メモリユニット２１０は、マイクロプロセッサ２１２と通信するように構成され得る。
【００２６】
図４に図示したように、視覚的ディスプレイ２０２は、液晶ディスプレイ（ＬＣＤ）スクリーンなどを含む当業者に既知の任意の好適なディスプレイスクリーンでよい。視覚的ディスプレイ２０２を用いて、測定器２００の操作の仕方を使用者に伝えるためのユーザーインターフェイスを図示することができる。図１に図示したように、視覚的ディスプレイ２０２は、また、日付、時刻、及びブドウ糖濃度値の表示など、測定器２００の操作に関係する他の機能を実行するために使用することができる。
【００２７】
図４に図示したように、マイクロプロセッサユニット２１２は、測定器２００及びテストストリップ１００での生理液の測定を制御及び操作するように構成され得る。より具体的には、試験電圧ユニット１０６、電流測定ユニット１０７、視覚的ディスプレイ２０２、及びメモリユニット２１０の機能を制御するようにマイクロプロセッサユニット２１２を動作可能に連結することができる。
【００２８】
図５Ａ〜５Ｃは、使用者が本発明の一実施形態によるテストストリップ射出機構を使用して使用済みのテストストリップを廃棄する様子を描いた略図である。分析物測定プロセスが実行された後、別のテストストリップ１００をストリップポートコネクタ２０８に挿入する前に、別のテストストリップ１００を取り外す必要がある。取り出しを開始するために、図５Ａ〜５Ｃに図示されるように、使用者は射出ボタン２０１を前方にスライドすることができる。射出ボタン２０１をスライドする動きによって、テストストリップ１００は、図４Ｃに図示されるように測定器２００から完全に分離される。本発明を用いれば、テストストリップ１００の射出を促進する重力を引き起こすために測定器２００を振る必要、あるいは測定器２００を縦に握る必要はない。テストストリップ１００の射出後、使用者は、図５Ａに図示されるように新しいテストストリップを挿入する必要がある。
【００２９】
図６は、テストストリップ射出機構３００の上面斜視図であり、この機構は、図５Ａ〜５Ｃで前述したスライド可能な射出ボタン２０１を使用する。テストストリップ射出機構３００は、上部３０８、プリント基板（ＰＣＢ）３１８、及び下部３０４を含む。プリント基板３１８は、ほぼ平面の部分と呼ばれる場合があることに注意されたい。複数のポスト（３０２、３０３、３１０）を使用し、穴（３２２、３２４）と導入スロット（３２０、３２６）と穴（３２８）とを通して、プリント基板３１８を上部３０８と下部３０４との間に挟むことができる。上部３０８は４つの下方ポスト３１０を含み、これらは、図６に図示したようにプリント基板３１８に配された４つの対応する穴３２４を通して導かれる。そうすることによって、次に、下方ポスト３１０は下部３０４の４つの穴３２８に納まることができる。下部３０４は２つの上方ポスト３０３を含み、これらは、図６に図示したようにプリント基板３１８に配された２つの対応する穴３２２を通して導かれる。
【００３０】
複数の離間して置かれたテストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３、１０４）は、図６に図示したように、上部３０８に配される。上部３０８は、テストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３、１０４）を保持するためのブラケットの形状であることができる。複数のテストストリップコネクタは、参照コネクタ１０１、第２のコネクタ１０２、第１のコネクタ１０３、及びストリップ保持コネクタ１０４を含むことができる。複数のストリップ接触子（１０１、１０２、１０３、１０４）は、電気的接続を提供することに加えて、図１３に図示したように、テストストリップ１００を実質的に静止させるために十分な大きさの力を付与するように構成される。
【００３１】
図７は、棹３１４と、バネ３１２の形状である付勢部材とを含む下部３０４の解体斜視図を示す。棹３１４は、遠位棹部分３１３と近位棹部分３１５とを含む。下部は、遠位棹結合穴３３０と近位棹結合穴３３４とを含む。棹３１４は、近位棹部分３１５を近位棹結合穴３３４に装着し、遠位棹部分３１３を遠位棹結合穴３３０に取り付けることによって、下部３０４に硬く装着することができる。遠位棹部分３１３は、ネジ山機構構成を用いて遠位棹結合穴３３０と結合することができる。バネ３１２は、棹３１４を下部３０４に装着する前に、棹３１４を中心として棹３１４の周囲に装着することができる。プッシャアセンブリ３０６は、バネ３１２の一端を押すように構成される付勢部材停止部３３２を含むことができる。バネ３１２のもう一方の端は、図６及び７に図示したように、近位棹結合穴３３０に近い下部３０４の内側壁部分を押すことができる。バネ３１２は、テストストリップ１００を射出するために作動ポスト３０２を介してスライド可能な射出ボタン２０１が作動されたときに圧縮され得る。この射出プロセスの後、バネ３１２は、非圧縮状態になり、プッシャアセンブリ３０６をその初期状態に戻す。
【００３２】
図６及び７において、プッシャアセンブリ３０６は、降下がもたらす損傷から射出機構３００を堅固に守るハウジング２０４に浮揚可能に取り付けられたものとして図示されている。より具体的には、プッシャアセンブリ３０６は、下部３０４に硬く拘束されておらず、棒３１４及びプリント基板１８の導入スロット（３２０、３２６）とスライド可能に係合している。しかし、棒３１４及びプリント基板１８は下部３０４に硬く拘束されて、結果的にハウジング２０４に結合される。
【００３３】
射出プロセス中に、プッシャアセンブリ３０６がテストストリップコネクタ（１０１、１０２、又は１０３）に接触しないようにするために、図６に示したようなテストストリップ射出機構３００をどのように構成するかについて、次に説明する。変形によって後のテストストリップ１００との電気的接続が阻止される場合があるため、プッシャアセンブリ３０６はテストストリップコネクタ（１０１、１０２、又は１０３）と接触してはならない。プッシャアセンブリ３０６は、図６及び７に図示されたような２つのフィン３１６及び作動ポスト３０２を含む。図８〜１０が示すように、２つのフィン３１６は、射出プロセスの期間、テストストリップ１００の近位端４を押すように構成される。作動ポスト３０２は、射出ボタン２０１のスライド可能な動きが作動ポスト３０２（図示せず）の対応する動きも引き起こすように射出ボタン２０１に動作可能に接続される。
【００３４】
フィン３１６は、測定器２００からテストストリップ１００を機械的に押し出すことを可能にするリブ、突起、又は付属物の形であってもよい。図７の実施形態には２つのフィン３１６が使用されているが、プッシャアセンブリ３０６は、テストストリップを射出するために１つ以上のフィンを有するように構成されることが可能である。射出をほぼ直線的に生じさせるよう、テストストリップ１００の近位端４にほぼ対称に力が付与されるように、フィンをプッシャアセンブリ３０６に配列することができる。
【００３５】
図８〜１０に図示したように、作動ポスト３０２は、射出されるテストストリップ１００と同方向に動くようにスライド可能に作動される。配置プロセスの期間、作動ポスト３０２を導くのを補助するために、プリント基板１８は、図８〜１０に図示されるように、ほぼ直線の動きをもたらすのを補助するための対応する導入スロット３２０を有するように適合される。配置プロセスの期間に、２つのフィン３１６を導くのを補助するために、プリント基板１８は、また、図８〜１０に図示されたように、ほぼ直線の動きをもたらすのを補助するための２つの対応する導入スロット３２６を有するように適合される。
【００３６】
ほぼ直線の動きを促進するのを補助することに加えて、２つの導入スロット３２６は、図１１及び１２に図示されたように、２つのフィン３１６がテストストリップコネクタ（１０１、１０２、又は１０３）と接触しないことを確実にするのを補助する。図１１の概略上面図及び図１２の概略側面図は、それぞれ、２つの導入スロット３２６及び２つのフィン３１６の位置に対するテストストリップコネクタ（１０１、１０２、又は１０３）を図示する。２つのフィン３１６は、図１１及び１２に図示するように、隣接するテストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）の間に押し込むように構成される。第１のコネクタ１０３、第２のコネクタ１０２、及び参照コネクタ１０１は、約１．５ミリメートル〜約２．０ミリメートルの範囲の分離幅Ｗ１を有する間隔で離間して配向される。２つのフィン３１６は、図１１及び１２に図示されるように、分離幅Ｗ１より小さい幅Ｗ２を有する。
【００３７】
プッシャアセンブリ３０６は、完全に配置されたときにハウジング２０４の外の部分を超えて延出しないにも関わらず、測定器２００の向きを操作せずにテストストリップ１００を推進させることができる。図１１は、プッシャアセンブリ３０６の２つのフィン３１６がハウジング２０４を超えて延出しないことを図示する。したがって、テストストリップ射出機構３００は、テストストリップ１００が測定器２００から完全に射出され得るように、十分な量の推進力を提供できる必要がある。
【００３８】
本発明の実施形態において、テストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）は、図１３〜１６に図示されるように、ハウジング２０４を除去するために十分な推進力を、テストストリップ１００に与えるように適応され得る。しかし、この推進力は、使用者がゴミ容器をめがけてテストストリップを飛ばし入れることができなくなるほど大きい推進力であってはならない。一実施形態において、この推進力の上限は、測定器２００が表面から約１１センチメートル上げられたときに、テストストリップ１００がハウジング２０４の外側から約１８センチメートルの距離未満で推進されるようにする力と定義され得る。ここで説明する実施形態において、２つのストリップ保持コネクタ１０４が、射出されるテストストリップの推進力に寄与しないことに注意しなくてはならない。
【００３９】
図１３〜１６は、テストストリップ射出機構３００の４つの異なる状態の概略側断面図を示す。４つの異なる状態は、それぞれ、射出ボタン２０１を初期の位置から完全に配置された位置まで動かしたときの射出プロセスのスナップショットを表す。第１の状態において、射出ボタン２０１は、図１３に図示されるように、フィン３１６がテストストリップ１００の近位端４に触れ始めた第１の位置まで動かされている。図１４に図示したように、第２の状態において、射出ボタン２０１が第２の位置まで動くことによって、フィン３１６が、テストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）が上面近位端５と接触する点までテストストリップ１００を前進させる。上面近位端５は、テストストリップ１００の近位端４の平面部分の頂点と上部平面部分とによって形成される線である。第３の状態において、射出ボタン２０１が第３の位置まで移動することによって、フィン３１６がテストストリップ１００を更に前進させ、図１５に図示さえるように、テストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）が上面近位端５を上からはじく。上面近位端５を上からはじく作用によって、外向きの推進力が付与される。第４の状態において、図１６に図示されるように、射出ボタン２０１は第４の位置まで移動し、そこでテストストリップ機構は完全に配置されて、テストストリップ１００は遊離飛行する。
【００４０】
以下に、射出機構の４つの異なる状態の期間にテストストリップ１００に付与される力について説明する。第１の状態において、図１３に見られるように、テストストリップ１００の上部にテストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）はコネクタ力Ｆｃを付与する。コネクタ力Ｆｃは、テストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）の反射的弛緩の結果である。第１の状態において、挿入されたテストストリップ１００によってテストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）はプリント基板１８から一定距離、離れ、この距離は、図１３に図示されるように、この状態においてはテストストリップの高さＨ１と一致する。テストストリップ１００に接触するテストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）の一部は、図１３に図示さえるように曲線形である。プリント基板１８は、コネクタ力Ｆｃを中和する規模で正常な力Ｆｎを発する。第１の状態において、コネクタ力Ｆｃは、プリント基板１８に対してテストストリップ１００を安全な方法で静止させ、テストストリップ接触パッド（１１、１３、１５）に堅固な電気的接続をもたらすためにも、十分でなくてはならない。第１の状態において、テストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）によってテストストリップ１００に付与される下向きのコネクタ力Ｆｃは、約０．３６〜約０．８４ニュートンの範囲であることができる。
【００４１】
第１の状態において、フィン３１６は、図１３に図示されるように、プッシャ力Ｆｐをテストストリップ１００の近位端４に付与することができる。テストストリップ１００が測定器２００から外向きに動かされるためには、プッシャ力Ｆｐが摩擦力Ｆｆより大きくなくてはならない。摩擦力Ｆｆの規模が、下向きのコネクタ力Ｆｃ及びテストストリップ１００とプリント基板１８との間の摩擦係数に比例的に基づいていることに注意すべきである。加えて、摩擦力Ｆｆの規模は、また、テストストリップ１００とテストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）との間の摩擦係数を含むことができる。
【００４２】
第１の状態に比べて、第２の状態では、図１４に図示されるように、テストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）は力をテストストリップ１００の上面の上ではなく近位端５に付与するので、コネクタ力Ｆｃはプリント基板１８の平面に対して垂直でない。コネクタ力Ｆｃの方向がテストストリップ１００との接触点での接線に対して垂直であることに注意すべきである。図１４に図示されるように、テストストリップ１００が第２の位置まで動かされると、テストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）が屈曲するので、接線はテストストリップ１００の上面と平行ではなくなる。コネクタ力Ｆｃは、また、プリント基板１８の平面と平行であり、プリント基板１８の平面と垂直な力Ｆｃｙである、２つのコネクタ力の重畳であるとも言える。
【００４３】
図１４に図示される第２の状態において、テストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）はコネクタ力Ｆｃｘを付与するが、この力はテストストリップ１００を射出するためにはまだ十分ではない。先に述べたように、テストストリップを射出するためには、コネクタ力Ｆｃｘは摩擦力Ｆｆより大きくなくてはならないが、ここで注意すべきことは、ｙ方向へのコネクタ力Ｆｃｙの減少によって、第２の状態では、摩擦力Ｆｆが第１の状態に比べて減少されていることである。第２の状態の期間、プリント基板１８とテストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）との間の距離である高さＨ２は、テストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）の部分的弛緩の結果として、テストストリップの高さＨ１より小さくなる。
【００４４】
テストストリップ射出機構の第３の状態において、図１５に図示したように、テストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）は、摩擦力Ｆｆを克服するのに十分なコネクタ力Ｆｃｘを付与する。第３の状態は、テストストリップ１００を射出するために十分に大きいコネクタ力Ｆｃｘを生成するためにテストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）が上面近位端５を上からはじくプロセスにある遷移状態を表す。第３の状態の期間、テストストリップ１００はテストストリップ射出機構３００に沿って更に移動するので、テストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）の連続的弛緩によって、高さＨ２は第２の状態に比べて減少する。
【００４５】
テストストリップ射出機構の第４の状態において、テストストリップ１００は測定器２００から遊離飛行している。図１６は、フィン３１６が完全に配置されて、使用者が手でテストストリップ１００に触れる必要なくテストストリップ１００を射出するに十分な推進力をテストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）が付与することが可能になったことを示す。テストストリップ１００を射出した後、高さＨ２は、プリント基板１８に対してテストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）が自立位置にあることを表す。自立テストストリップコネクタの高さＨ２は、最小間隙距離とも呼ばれる場合があることに注意されたい。
【００４６】
次に、テストストリップ射出距離にもまた影響を与える、テストストリップコネクタ力Ｆｃの規模に影響を与える因子について説明する。テストストリップコネクタ力Ｆｃは、テストストリップコネクタのバネレート（Ｎ／ｍｍ単位）と、テストストリップコネクタ及びテストストリップ１００の間の干渉によって生成されるテストストリップコネクタ（ｍｍ単位）の偏向の積として定量化することができる。したがって、テストストリップコネクタのバネレートと、テストストリップコネクタの偏向との両方が、テストストリップコネクタ力Ｆｃの規模に影響する。
【００４７】
テストストリップコネクタ力Ｆｃに影響し得るテストストリップコネクタのバネレートは、テストストリップコネクタ材料（例えば、含リン青銅）の弾性係数、テストストリップコネクタの厚さＨ３（図１３〜１６を参照）、テストストリップコネクタの幅Ｗ３（図１１及び１２を参照）、及びテストストリップコネクタの長さＬ１の関数であり得る。バネレートはテストストリップコネクタの厚さＨ３の立方によって変化するので、テストストリップコネクタのバネレートは、テストストリップコネクタの幅Ｗ３及びテストストリップコネクタの長さＬ１よりもテストストリップコネクタの厚さＨ３の影響をより受けやすくなり得る。一実施形態において、テストストリップコネクタの厚さＨ３は、約０．１９ｍｍ〜約０．２１ｍｍの範囲が可能であり、好ましくは約０．２ｍｍである。＋／−０．１ｍｍの見込まれる変動を伴う０．２ｍｍのテストストリップコネクタの厚さＨ３を使用すると、テストストリップコネクタ力Ｆｃは約＋／−１５％変動し得る。
【００４８】
テストコネクタの偏向は、テストストリップコネクタ力Ｆｃに影響するもう１つの因子である。この偏向は、テストストリップの高さＨ１と自立テストストリップコネクタの高さＨ２との間の差によって表すことができる。自立テストストリップコネクタの高さＨ２の一例が図１６に示され、このテストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）は、テストストリップが挿入されていないプリント基板１８に対する高さＨ２を有する。テストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）は、約０ミリメートル〜約０．２ミリメートル、好ましくは約０．１ミリメートル〜約０．２ミリメートルの範囲の自立テストストリップコネクタの高さＨ２を有するように構成することが可能である。テストストリップの高さＨ１は、約０．３３５ミリメートル〜約０．３６５ミリメートルの範囲が可能である。したがって、テストストリップコネクタは、約０．１３５ミリメートル〜約０．３６５ミリメートル、好ましくは約０．１３５ミリメートル〜０．３５５ミリメートルの範囲の距離で偏向することができる。あるいは、テストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）は、テストストリップの高さＨ１の約０％〜約６０％、好ましくはテストストリップの高さＨ１の約３０％〜約６０％の範囲の自立テストストリップコネクタの高さを有するように構成することが可能である。
【００４９】
測定器ごとの射出距離の変動を低減するよう、大規模な個数の測定器製品が比較的一定の値となるようにテストストリップコネクタの偏向を構成することができる。自立テストストリップコネクタの高さＨ２及びテストストリップの高さＨ１は、テストストリップ射出機構３００を有する測定器２００を多数製造するときの測定器ごとの変動に影響し得る２つの因子である。概して、自立テストストリップコネクタの高さＨ２は、テストストリップの高さＨ１より大きい変動を有することが発見された。例えば、０．０５ｍｍの自立テストストリップコネクタの高さＨ２は約１５ｃｍのテストストリップ射出距離をもたらすことができ、一方、０．２ｍｍの自立テストストリップコネクタの高さＨ２は約８ｃｍのテストストリップ射出距離をもたらすことができる。したがって、次に、多数のテストストリップコネクタを製造するときに自立テストストリップコネクタの高さＨ２の変動性が低減されるよう、テストストリップコネクタを修正するための方法について説明する。
【００５０】
自立テストストリップコネクタの高さＨ２を既定の範囲内に適合させることによって、測定器ごとの射出距離に関する変動を比較的低く維持することができる。更に、既定の上限を超えないテストストリップ射出距離を全ての測定器製品が有するように、既定の範囲を適合することができる。例えば、自立テストストリップコネクタの高さＨ２が約０．１ｍｍ〜約０．２ｍｍの範囲であれば、対応するテストストリップ射出距離は約１２センチメートル〜約８センチメートルの範囲になる。
【００５１】
本発明の一実施形態において、自立テストストリップコネクタの高さＨ２の変動を低減するための方法は、図１７〜１９に示したようなシム６００の使用を含む。この実施形態において、テストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）は、自立テストストリップコネクタの高さＨ２が既定範囲内で増加するようにリフォームされている。図１８及び１９は、シム６００を用いて自立テストストリップコネクタの高さＨ２をリフォームするプロセスを図示する。テストストリップコネクタがシムの高さと一致する既定の高さまで第１の方向に屈曲するように、シム６００をテストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）に挿入することができる。次に、シム６００をテストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）から取り外して、第１の方向と反対の第２の方向で弛緩を生じさせることができる。シム６００を取り外した後、自立テストストリップコネクタの高さＨ２は、シム６００の高さに基づく既定値まで増加する。測定器ごとのテストストリップ射出距離の変動は、自立テストストリップコネクタの高さＨ２の既定の範囲を構成することによって減少される。一実施形態において、自立テストストリップコネクタの高さＨ２は、約０．１ミリメートル〜約０．２ミリメートルの範囲が可能である。
【００５２】
図１７は、近位部分６１０をストリップポートコネクタ２０８に挿入するときに、自立テストストリップコネクタの高さＨ２をリフォームするプロセスに使用することができるシム６００の実施形態を図示する。近位部分６１０及び導入部分６２０は、シム６００の挿入を導くためにプリント基板１８の上面及び下面との境界面を成すことができる。テストストリップコネクタを上方に屈曲させるように、シム６００は、初期の自立テストストリップコネクタの高さＨ２より大きい高さを有するべきである。
【００５３】
本発明の代替実施形態において、自立テストストリップコネクタの高さＨ２の変動を低減する方法は、図２０が示すように、リフォーム用付属品７００を上部３０８と噛み合わせる工程を含むことができる。リフォーム用付属品７００を用いて、自立テストストリップコネクタの高さＨ２をリフォームして自立テストストリップコネクタの高さＨ２を恒久的に増加することができる。リフォーム用付属品７００は、図２０に示されるように、上段７１０及び下段７２０を含む。上段７１０はテストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）を押すように構成され、下段７２０はガイドとして使用される下方ポスト３１０を押すように構成され得る。下方ポスト３１０は、また、テストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）を保持するように構成されたブラケットの下部とも呼ばれる場合がある。リフォーム用付属品７００を噛み合せるプロセスは、テストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）を第１の位置から第２の位置まで上方に動かす。リフォーム用付属品７００の取り外しは、テストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）を第１の位置から上方の第３の位置まで弛緩させる。次に、テストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）とプリント基板１８との間に自立テストストリップコネクタの高さＨ２が形成されるようにプリント基板１８を取り付ける。自立テストストリップコネクタの高さＨ２は、約０．１ミリメートル〜約０．２ミリメートルの範囲が可能である。
【００５４】
本発明の一実施形態において、テストストリップ１００を射出する方法は、使用者がテストストリップ１００の近位端４をストリップポートコネクタ２０８に挿入する工程を含むことができる。テストストリップコネクタは、テストストリップ１００を定位置に保持するために力Ｆｃを付与することができる。使用者は、テストストリップ１００の入口９０に血液試料９４を適用することによってブドウ糖試験を実行することができる。結果として得られるブドウ糖濃度は、次に、視覚的ディスプレイ２０２に表示され得る。試験が完了したら、射出ボタン２０１を作動して、プッシャアセンブリ３０６を配置することができる。プッシャアセンブリ３０６は２つのフィン３１６を介してテストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）の間に押し込み、そしてテストストリップ１００の近位端４を押すことができ、一方、テストストリップコネクタはテストストリップ１００の上面と接触する。プッシャアセンブリ３０６は、２つのフィン３１６を介して、摩擦力Ｆｆより大きいプッシャ力Ｆｐを付与してテストストリップ１００の動きを引き起こす。
【００５５】
テストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）は、テストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）が上面近位端５には触れずにテストストリップ１００の上面に触れたときにテストストリップ１００の上面にほぼ垂直にテストストリップコネクタ力Ｆｃを付与する。テストストリップコネクタ力Ｆｃは、約０．３６ニュートン〜約０．８４ニュートンの範囲が可能である。
【００５６】
プッシャアセンブリ３０６を配置するプロセスの期間、テストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）は、テストストリップ１００の上面との接触から上面近位端５との接触に遷移して、テストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）が上面近位端５を上からはじき、テストストリップ１００を射出するのを可能にする。テストストリップコネクタが上面から上面近位端５に遷移するとき、テストストリップコネクタは、より大きい量の外向きの力Ｆｃｘと、より小さい量の下向きの力Ｆｃｙとを付与し始める。テストストリップコネクタ（１０１、１０２、１０３）は、テストストリップコネクタ力Ｆｃｘが摩擦力Ｆｆより大きいときに、使用者が測定器２００の向きを操作する必要なくテストストリップ１００を射出することができる。
【００５７】
本明細書では本発明の好ましい実施形態が図示、説明されているが、こうした実施形態はあくまで例として与えられたものであることは当業者には明らかであろう。当業者であれば、本発明から逸脱することなく多くの変形、変更、及び代用が想到されるであろう。本発明の実施に際し本明細書で述べた実施形態には、様々な代替例を用い得る点は理解されるべきである。以下の「特許請求の範囲」は、本発明の範囲を定義し、特許請求の範囲内の方法、並びにそれらの同等物をこれによって網羅することを目的としたものである。
【特許請求の範囲】
【請求項１】
テストストリップ射出機構であって、
少なくとも１つのフィンを有するプッシャアセンブリと、
テストストリップ上に配置された複数の接触パッドと接触するように構成された複数の離間して置かれたテストストリップコネクタと、を具備し、前記少なくとも１つのフィンが、前記テストストリップが射出するまで、隣接するテストストリップコネクタの間に押し込み、そして前記テストストリップの近位端を押すように構成される、テストストリップ射出機構。
【請求項２】
前記複数の離間して置かれたテストストリップコネクタが、前記テストストリップを実質的に静止させるために十分な大きさの力を付与する、請求項１に記載のテストストリップ射出機構。
【請求項３】
前記プッシャアセンブリの配置が、射出の間に、前記複数の離間して置かれたテストストリップコネクタが前記テストストリップの近位上端を上からはじくことを引き起こす、請求項１に記載のテストストリップ射出機構。
【請求項４】
前記テストストリップ射出機構が、前記テストストリップ射出機構を実質的に包囲するように構成されるハウジングを更に具備し、使用のときに前記プッシャアセンブリが前記ハウジングの外側から延出しない、請求項３に記載のテストストリップ射出機構。
【請求項５】
前記テストストリップ射出機構が、約１１センチメートル上昇されたときに、前記テストストリップが約１８センチメートル未満の距離を推進する、請求項４に記載のテストストリップ射出機構。
【請求項６】
射出を促進するために前記テストストリップ射出機構の配向を手動操作せずに前記テストストリップを射出することができる、請求項４に記載のテストストリップ射出機構。
【請求項７】
前記力が約０．３６ニュートン〜約０．８４ニュートンの範囲である、請求項２に記載のテストストリップ射出機構。
【請求項８】
下部及び上部を更に具備し、前記複数の離間して置かれたテストストリップコネクタが前記上部に配され、前記プッシャアセンブリが前記下部に配置されている、請求項１に記載のテストストリップ射出機構。
【請求項９】
前記上部と前記下部との間に配置されたほぼ平面の部分を更に具備し、前記ほぼ平面の部分が、隣接するテストストリップコネクタ間に前記少なくとも１つのフィンを導くように構成された少なくとも１つのスロットを有する、請求項１に記載のテストストリップ射出機構。
【請求項１０】
前記複数の離間して置かれたテストストリップコネクタが、前記ほぼ平面の部分に対して最小間隙距離を有するように構成され、前記最小間隙が、テストストリップの高さの約０％〜約６０％の範囲である、請求項９に記載のテストストリップ射出機構。
【請求項１１】
前記複数の離間して置かれたテストストリップコネクタが、前記ほぼ平面の部分に対して最小間隙距離を有するように構成され、前記最小間隙が、テストストリップの高さの約３０％〜約６０％の範囲である、請求項９に記載のテストストリップ射出機構。
【請求項１２】
前記複数の離間して置かれたテストストリップコネクタが、前記ほぼ平面の部分に対して最小間隙距離を有するように構成され、前記最小間隙が約０．１ミリメートル〜約０．２ミリメートルの範囲である、請求項９に記載のテストストリップ射出機構。
【請求項１３】
前記ほぼ平面の部分がプリント基板である、請求項９に記載のテストストリップ射出機構。
【請求項１４】
前記プッシャアセンブリが、３つの隣接するテストストリップコネクタの間を移動するように構成された２つのフィンを有する、請求項１に記載のテストストリップ射出機構。
【請求項１５】
前記プッシャアセンブリが、射出の間に前記テストストリップと同じ方向に動くように構成されたスライド可能なボタンに動作可能に取り付けられる、請求項１に記載のテストストリップ射出機構。
【請求項１６】
前記テストストリップの射出後に前記プッシャアセンブリを初期状態に戻すための付勢部材を更に具備する、請求項１５に記載のテストストリップ射出機構。
【請求項１７】
前記プッシャアセンブリが前記ハウジングに浮揚可能に取り付けられる、請求項１に記載のテストストリップ射出機構。
【請求項１８】
テストストリップコネクタをリフォームする方法であって、
ほぼ平面の部分からの最小間隙距離を有するテストストリップコネクタを提供する工程と、
前記テストストリップコネクタがシムの高さと一致する既定の高さまで第１の方向に屈曲するように前記テストストリップコネクタに前記シムを挿入する工程と、
前記テストストリップコネクタから前記シムを取り外して、前記テストストリップコネクタが前記第１の方向と反対の第２の方向に弛緩することを可能にする工程と、を含み、前記シムが取り外された後に、前記最小間隙距離が、前記シムを挿入する前の最小間隙距離よりも増して既定値になる、方法。
【請求項１９】
前記シムが、前記シムを挿入する前の前記最小間隙距離より大きい既定の高さを有する、請求項１８に記載の方法。
【請求項２０】
前記シムを挿入した後の前記最小間隙距離が、約０．１ミリメートル〜約０．２ミリメートルの範囲である、請求項１８に記載の方法。
【請求項２１】
テストストリップコネクタをリフォームする方法であって、
リフォーム用付属品をテストストリップコネクタと噛み合わせることによって前記テストストリップコネクタが第１の位置から第２の位置まで上方に動く工程であり、前記リフォーム用付属品が上段及び下段を有し、前記上段が前記テストストリップコネクタを上方に押すように構成され、前記下段がブラケットの下部を上方に押すように構成され、前記ブラケットが前記テストストリップコネクタを保持するように構成される、工程と、
前記リフォーム用付属品を取り外すことによって前記テストストリップコネクタが弛緩して前記第１の位置より上方の第３の位置になる工程と、
ほぼ平面の部分を前記ブラケットに取り付けることによって前記テストストリップコネクタと前記ほぼ平面の部分との間に最小間隙距離を形成する工程と、を含む、方法。
【請求項２２】
前記最小間隙距離が、約０．１ミリメートル〜約０．２ミリメートルの範囲である、請求項２１に記載の方法。
【請求項２３】
テストストリップを射出する方法であって、
射出ボタンを作動してプッシャアセンブリを配置する工程であり、前記プッシャアセンブリが少なくとも１つのフィンを有するものである、工程と、
前記少なくとも１つのフィンを複数のテストストリップコネクタの間で動かす工程と、
前記テストストリップコネクタが前記テストストリップの上面に触れているときに前記少なくとも１つのフィンで前記テストストリップの近位端を測定器から外向きの方向に押す工程と、
前記テストストリップコネクタが前記テストストリップの上面近位端に触れるように前記近位端を連続的に前進させる工程と、
前記テストストリップコネクタが前記テストストリップの上面近位端を上からはじいて前記テストストリップが射出される工程と、を含む、方法。
【請求項２４】
前記テストストリップコネクタが前記上面近位端に触れずに前記上面に触れているときに、前記テストストリップコネクタが前記テストストリップの上面に対してほぼ垂直にテストストリップコネクタ力を付与する、請求項２３に記載の方法。
【請求項２５】
前記テストストリップコネクタ力が約０．３６ニュートン〜約０．８４ニュートンの範囲である、請求項２４に記載の方法。
【請求項２６】
前記プッシャアセンブリが、前記少なくとも１つのフィンを介して、摩擦力より大きいプッシャ力を付与し、前記摩擦力が、前記上面に対するほぼ垂直のテストストリップコネクタ力と、前記テストストリップと前記ほぼ平面の部分との間の摩擦係数との積に比例するものである、請求項２３に記載の方法。
【請求項２７】
前記テストストリップコネクタが前記テストストリップの上面近位端に触れているときに、前記テストストリップコネクタが前記測定器から外向き方向へのテストストリップコネクタ力を付与する、請求項２３に記載の方法。
【請求項２８】
前記外向きのテストストリップコネクタ力が反対の摩擦力より大きいときに、前記テストストリップコネクタが、前記測定器から外向きの方向に前記テストストリップを推進するために十分なテストストリップコネクタ力を付与する、請求項２７に記載の方法。
【請求項１】
テストストリップ射出機構であって、
少なくとも１つのフィンを有するプッシャアセンブリと、
テストストリップ上に配置された複数の接触パッドと接触するように構成された複数の離間して置かれたテストストリップコネクタと、を具備し、前記少なくとも１つのフィンが、前記テストストリップが射出するまで、隣接するテストストリップコネクタの間に押し込み、そして前記テストストリップの近位端を押すように構成される、テストストリップ射出機構。
【請求項２】
前記複数の離間して置かれたテストストリップコネクタが、前記テストストリップを実質的に静止させるために十分な大きさの力を付与する、請求項１に記載のテストストリップ射出機構。
【請求項３】
前記プッシャアセンブリの配置が、射出の間に、前記複数の離間して置かれたテストストリップコネクタが前記テストストリップの近位上端を上からはじくことを引き起こす、請求項１に記載のテストストリップ射出機構。
【請求項４】
前記テストストリップ射出機構が、前記テストストリップ射出機構を実質的に包囲するように構成されるハウジングを更に具備し、使用のときに前記プッシャアセンブリが前記ハウジングの外側から延出しない、請求項３に記載のテストストリップ射出機構。
【請求項５】
前記テストストリップ射出機構が、約１１センチメートル上昇されたときに、前記テストストリップが約１８センチメートル未満の距離を推進する、請求項４に記載のテストストリップ射出機構。
【請求項６】
射出を促進するために前記テストストリップ射出機構の配向を手動操作せずに前記テストストリップを射出することができる、請求項４に記載のテストストリップ射出機構。
【請求項７】
前記力が約０．３６ニュートン〜約０．８４ニュートンの範囲である、請求項２に記載のテストストリップ射出機構。
【請求項８】
下部及び上部を更に具備し、前記複数の離間して置かれたテストストリップコネクタが前記上部に配され、前記プッシャアセンブリが前記下部に配置されている、請求項１に記載のテストストリップ射出機構。
【請求項９】
前記上部と前記下部との間に配置されたほぼ平面の部分を更に具備し、前記ほぼ平面の部分が、隣接するテストストリップコネクタ間に前記少なくとも１つのフィンを導くように構成された少なくとも１つのスロットを有する、請求項１に記載のテストストリップ射出機構。
【請求項１０】
前記複数の離間して置かれたテストストリップコネクタが、前記ほぼ平面の部分に対して最小間隙距離を有するように構成され、前記最小間隙が、テストストリップの高さの約０％〜約６０％の範囲である、請求項９に記載のテストストリップ射出機構。
【請求項１１】
前記複数の離間して置かれたテストストリップコネクタが、前記ほぼ平面の部分に対して最小間隙距離を有するように構成され、前記最小間隙が、テストストリップの高さの約３０％〜約６０％の範囲である、請求項９に記載のテストストリップ射出機構。
【請求項１２】
前記複数の離間して置かれたテストストリップコネクタが、前記ほぼ平面の部分に対して最小間隙距離を有するように構成され、前記最小間隙が約０．１ミリメートル〜約０．２ミリメートルの範囲である、請求項９に記載のテストストリップ射出機構。
【請求項１３】
前記ほぼ平面の部分がプリント基板である、請求項９に記載のテストストリップ射出機構。
【請求項１４】
前記プッシャアセンブリが、３つの隣接するテストストリップコネクタの間を移動するように構成された２つのフィンを有する、請求項１に記載のテストストリップ射出機構。
【請求項１５】
前記プッシャアセンブリが、射出の間に前記テストストリップと同じ方向に動くように構成されたスライド可能なボタンに動作可能に取り付けられる、請求項１に記載のテストストリップ射出機構。
【請求項１６】
前記テストストリップの射出後に前記プッシャアセンブリを初期状態に戻すための付勢部材を更に具備する、請求項１５に記載のテストストリップ射出機構。
【請求項１７】
前記プッシャアセンブリが前記ハウジングに浮揚可能に取り付けられる、請求項１に記載のテストストリップ射出機構。
【請求項１８】
テストストリップコネクタをリフォームする方法であって、
ほぼ平面の部分からの最小間隙距離を有するテストストリップコネクタを提供する工程と、
前記テストストリップコネクタがシムの高さと一致する既定の高さまで第１の方向に屈曲するように前記テストストリップコネクタに前記シムを挿入する工程と、
前記テストストリップコネクタから前記シムを取り外して、前記テストストリップコネクタが前記第１の方向と反対の第２の方向に弛緩することを可能にする工程と、を含み、前記シムが取り外された後に、前記最小間隙距離が、前記シムを挿入する前の最小間隙距離よりも増して既定値になる、方法。
【請求項１９】
前記シムが、前記シムを挿入する前の前記最小間隙距離より大きい既定の高さを有する、請求項１８に記載の方法。
【請求項２０】
前記シムを挿入した後の前記最小間隙距離が、約０．１ミリメートル〜約０．２ミリメートルの範囲である、請求項１８に記載の方法。
【請求項２１】
テストストリップコネクタをリフォームする方法であって、
リフォーム用付属品をテストストリップコネクタと噛み合わせることによって前記テストストリップコネクタが第１の位置から第２の位置まで上方に動く工程であり、前記リフォーム用付属品が上段及び下段を有し、前記上段が前記テストストリップコネクタを上方に押すように構成され、前記下段がブラケットの下部を上方に押すように構成され、前記ブラケットが前記テストストリップコネクタを保持するように構成される、工程と、
前記リフォーム用付属品を取り外すことによって前記テストストリップコネクタが弛緩して前記第１の位置より上方の第３の位置になる工程と、
ほぼ平面の部分を前記ブラケットに取り付けることによって前記テストストリップコネクタと前記ほぼ平面の部分との間に最小間隙距離を形成する工程と、を含む、方法。
【請求項２２】
前記最小間隙距離が、約０．１ミリメートル〜約０．２ミリメートルの範囲である、請求項２１に記載の方法。
【請求項２３】
テストストリップを射出する方法であって、
射出ボタンを作動してプッシャアセンブリを配置する工程であり、前記プッシャアセンブリが少なくとも１つのフィンを有するものである、工程と、
前記少なくとも１つのフィンを複数のテストストリップコネクタの間で動かす工程と、
前記テストストリップコネクタが前記テストストリップの上面に触れているときに前記少なくとも１つのフィンで前記テストストリップの近位端を測定器から外向きの方向に押す工程と、
前記テストストリップコネクタが前記テストストリップの上面近位端に触れるように前記近位端を連続的に前進させる工程と、
前記テストストリップコネクタが前記テストストリップの上面近位端を上からはじいて前記テストストリップが射出される工程と、を含む、方法。
【請求項２４】
前記テストストリップコネクタが前記上面近位端に触れずに前記上面に触れているときに、前記テストストリップコネクタが前記テストストリップの上面に対してほぼ垂直にテストストリップコネクタ力を付与する、請求項２３に記載の方法。
【請求項２５】
前記テストストリップコネクタ力が約０．３６ニュートン〜約０．８４ニュートンの範囲である、請求項２４に記載の方法。
【請求項２６】
前記プッシャアセンブリが、前記少なくとも１つのフィンを介して、摩擦力より大きいプッシャ力を付与し、前記摩擦力が、前記上面に対するほぼ垂直のテストストリップコネクタ力と、前記テストストリップと前記ほぼ平面の部分との間の摩擦係数との積に比例するものである、請求項２３に記載の方法。
【請求項２７】
前記テストストリップコネクタが前記テストストリップの上面近位端に触れているときに、前記テストストリップコネクタが前記測定器から外向き方向へのテストストリップコネクタ力を付与する、請求項２３に記載の方法。
【請求項２８】
前記外向きのテストストリップコネクタ力が反対の摩擦力より大きいときに、前記テストストリップコネクタが、前記測定器から外向きの方向に前記テストストリップを推進するために十分なテストストリップコネクタ力を付与する、請求項２７に記載の方法。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５Ａ】
【図５Ｂ】
【図５Ｃ】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図１５】
【図１６】
【図１７】
【図１８】
【図１９】
【図２０】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５Ａ】
【図５Ｂ】
【図５Ｃ】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図１５】
【図１６】
【図１７】
【図１８】
【図１９】
【図２０】
【公表番号】特表２０１１−５０２２５５（Ｐ２０１１−５０２２５５Ａ）
【公表日】平成２３年１月２０日（２０１１．１．２０）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１０−５３１２６９（Ｐ２０１０−５３１２６９）
【出願日】平成２０年１０月２４日（２００８．１０．２４）
【国際出願番号】ＰＣＴ／ＵＳ２００８／０８１０６２
【国際公開番号】ＷＯ２００９／０５５６４３
【国際公開日】平成２１年４月３０日（２００９．４．３０）
【出願人】（５９２２６１４７６）ジョンソン・エンド・ジョンソン株式会社 (6)
【出願人】（３１００２０３２３）
【Ｆターム（参考）】
【公表日】平成２３年１月２０日（２０１１．１．２０）
【国際特許分類】
【出願日】平成２０年１０月２４日（２００８．１０．２４）
【国際出願番号】ＰＣＴ／ＵＳ２００８／０８１０６２
【国際公開番号】ＷＯ２００９／０５５６４３
【国際公開日】平成２１年４月３０日（２００９．４．３０）
【出願人】（５９２２６１４７６）ジョンソン・エンド・ジョンソン株式会社 (6)
【出願人】（３１００２０３２３）
【Ｆターム（参考）】
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