テスト領域の非光学的な読み取り
【課題】非光学的な方法でアッセイ細片を読み取ることができる代替の方法及びシステムを提供する。
【解決手段】一態様では、テスト領域（２１）の読み取りは以下のように行われる。結合性物質（３２）を試料にさらす。試料中の少なくとも１つの検体（３１）と結合すると、結合性物質（３２）は、電気的に検出可能な結合対物質又は磁気的に検出可能な結合対物質の何れかを形成する。そして結合対物質は、テスト領域（２１）内に捕捉される。テスト領域（２１）内に捕捉された結合対物質に関してテストを実施し、試料中の検体（３１）を検出する。テストは、電気的測定若しくは磁気的測定である。
【解決手段】一態様では、テスト領域（２１）の読み取りは以下のように行われる。結合性物質（３２）を試料にさらす。試料中の少なくとも１つの検体（３１）と結合すると、結合性物質（３２）は、電気的に検出可能な結合対物質又は磁気的に検出可能な結合対物質の何れかを形成する。そして結合対物質は、テスト領域（２１）内に捕捉される。テスト領域（２１）内に捕捉された結合対物質に関してテストを実施し、試料中の検体（３１）を検出する。テストは、電気的測定若しくは磁気的測定である。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、概して、ラテラルフローアッセイテスト細片上のテスト領域の読み取りに関し、より詳細には、ラテラルフローアッセイテスト細片上のテスト領域の非光学的な読み取り（即ち、電気的及び／又は磁気的読み取り）に関する。
【背景技術】
【０００２】
ラテラルフローアッセイテスト細片は、試料中の特定の検体の存在を検出するために有用である。典型的に、テスト時、テスト領域（例えば、テスト細片上のアッセイ細片）は、試料中に特定の検体が存在するかしないかに応じて外観が変化する。そして、人間の目あるいはイメージ化システムにより当該テスト領域を読み取ることにより、試料中に検体が存在するかどうかを判定することができる。ラテラルフローアッセイの特性に関するさらに詳しい情報は、例えば米国特許第６，１３６，６１０号を参照されたい。
【０００３】
テスト領域の光学的読み取りは効果的ではあるものの、それには検査人や複雑なイメージ化システムが必要となる。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
従って、テストシステム設計における柔軟性の向上並びにコストの削減のために、他の方法でアッセイ細片を読み取ることができる代替の方法及びシステムを提供することが望ましい。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本発明の一実施形態によれば、テスト領域の読み取りは以下の通り実施される。試料を結合性物質にさらす。試料中の少なくとも１つの検体と結合すると、結合性物質は、電気的に検出可能な結合対物質若しくは磁気的に検出可能な結合対物質の何れかを形成する。当該結合対物質は、テスト領域内に捕捉される。そして、試料中の検体を検出するために、テスト領域内に捕捉された結合対物質に関して測定を行う。当該測定は、電気的測定あるいは磁気的測定である。
【発明の効果】
【０００６】
本発明によれば、電気的あるいは磁気的な方法でテスト領域を読み取るための方法並びにシステムを提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００７】
図１は、ラテラルフローアッセイテスト細片１０の概略側面図を示している。ラテラルフローアッセイテスト細片１０は、バッキング（支持層）１１、感圧接着剤１２、試料パッド１３、結合性パッド１４、膜１５及び吸収性パッド１６を含む。例えば、膜１５は、ニトロセルロースから成る。
【０００８】
図２は、ラテラルフローアッセイテスト細片１０の概略平面図を示している。このラテラルフローアッセイテスト細片１０の平面図は、捕捉テスト領域２１及び比較対照領域２２の存在を示している。
【０００９】
図３及び図４は、ラテラルフローアッセイテスト細片１０を用いたテストにおける、検体の結合並びに捕捉を図示している。図３に示すように、テスト前には、検体３１は試料パッド１３部に存在する。標識（結合性物質）３２は、結合性パッド１４上に存在する。標識３２は、例えば、第１のタイプの抗体と標識粒子を含む。この第１のタイプの抗体は、検体３１に結合する。例えば、標識粒子は、金粒子、又は所望の電気的／磁気的特性を有する他の粒子である。テスト領域２１に結合した抗体３３も第１のタイプの抗体であり、検体３１に結合する。比較対照構造体３４は、第２のタイプの物質であり、比較対照領域２２に結合している。比較対照構造体３４として選択された、この第２のタイプの物質は、第１のタイプの抗体に結合する。例えば、第２のタイプの物質は、抗原、又は第１のタイプの抗体に結合する他のタイプの物質である。矢印３５は、検体３１の毛管流れの向きを示している。
【００１０】
図４は、標識３２内の第１のタイプの抗体のいくつかと結合して結合対物質を形成している検体３１分子を示している。この結合対物質は、抗体３３により捕捉され、テスト領域２１に結合する。利用されなかった（検体３１と結合しなかった）標識３２は、比較対照構造体３４のところまで流れ、そして比較対照構造体３４を形成している第２のタイプの物質により捕捉される。
【００１１】
例えば、図３及び図４は、免疫アッセイを表している。免疫アッセイに関しては、通常、検体濃度が高いほど、捕捉ライン２１から検出されるシグナルは強くなる。一方、競争免疫アッセイに関しては、通常、検体濃度が高くなると、捕捉ライン２１から検出されるシグナルは弱くなる。
【００１２】
抵抗、静電容量（電気容量）、複素インピーダンス、並びに誘電特性、誘電率特性及び透磁率特性を測定するために（絶対値、相対値又は微分値（あるいは差値）の測定を含む）、多くの既知の方法が利用できる。例えば、Ｄｉｅｌｅｃｔｒｉｃ Ｔｅｓｔ Ｆｉｘｔｕｒｅ １６４５１ＢとＡｇｉｌｅｎｔ ＬＣＲ Ｍｅｔｅｒ ４２９４Ａ（両方ともアジレントテクノロジーズ社から入手可能）の組み合わせのような装置を用いることで、測定を実施することができる。測定はまた、集積回路、例えばＡＤＸＬ２０３加速度計（アナログデバイス社から入手可能）、及びＡＤ７７４５Ｃａｐａｓｉｔａｎｃｅ−ｔｏ−Ｄｉｇｉｔａｌ Ｃｏｎｖｅｒｔｅｒ（アナログデバイス社から入手可能）を用いて実施することもできる。
【００１３】
図５は、ラテラルフローアッセイテスト細片１０のようなテスト領域を非光学的に読み取るために用いられる電気回路を示す概略ブロック図である。当該電気回路には、刺激装置及びセンサ５１、増幅器及びアナログ−デジタル変換器（ＡＤＣ）５２、メモリ５３、シグナル処理装置５４、ディスプレイ及びユーザインターフェース５５、並びに電源、時計及び制御装置５６が含まれる。
【００１４】
刺激装置及びセンサ５１内には、高感度の測定を実施し得る電気回路が用いられる。例えば、インピーダンスを測定する際には、種々のタイプのブリッジ回路を測定に用いることができる。図６、図７、及び図８には、刺激装置及びセンサ５１内で使用し得るブリッジ回路の例を示している。
【００１５】
図６は、電源回路６５、計器６０、抵抗体６１、抵抗体６２、抵抗体６３及び可変抵抗体６４を示す。可変抵抗体６４は、計器６０がゼロ値を検出するまで変化される。抵抗値が未知の抵抗体６３の抵抗値は、抵抗体６１及び抵抗体６２の固定値並びに可変抵抗体６４の可変値から決定し得る。
【００１６】
同様に、図７は、電源回路７５、計器７０、抵抗体７１、抵抗体７２、及び可変抵抗７４を示す。ギャップ７３は、２つの接点間の隔たり（ギャップ）により形成され、検出すべき未知の抵抗値を表す。可変抵抗体７４は、計器７０がゼロ値を検出するまで変化される。未知の抵抗値は、抵抗体７１及び抵抗体７２の固定値並びに可変抵抗体７４の可変値から決定し得る。
【００１７】
図８は、電源回路８５、計器８０、複素インピーダンス８１、複素インピーダンス８２、及び可変複素インピーダンス８４を示す。ギャップ８３は、２つの接点間の隔たり（ギャップ）により形成され、検出すべき未知の値を表す。可変複素インピーダンス８４は、計器８０がゼロ値を検出するまで変化される。未知の値は、複素インピーダンス８１及び複素インピーダンス８２の固定値並びに可変複素インピーダンス８４の可変値から決定し得る。
【００１８】
微分測定（あるいは差測定）をもたらすために、図５、図６、図７及び図８記載の電気回路の変更形態や派生形態を構成することができる。
【００１９】
図５記載の刺激装置及びセンサ５１はまた、抵抗ではなく、静電容量を検知するよう構成することもできる。例えば、図９は、静電容量比較電気回路９０を示している。静電容量９１は、例えば、テスト領域を含む、測定される静電容量を表す。静電容量９２は、例えば、比較対照領域を含む、測定される静電容量を表す。
【００２０】
図５記載の刺激装置及びセンサ５１によって、振幅周波数、位相及び／又は損失特性などの１つ又は複数の周期的シグナル特性を測定したり比較する場合には、抵抗、静電容量又は複素インピーダンスを用いることで、周期的シグナル（振動シグナル）を制御することができる。図１０は、可変発振器（オシレータ）１０１及び参照発振器１０２を利用した周波数比較電気回路９０を示している。周波数の測定は、多くの場合、最も高いレベルの解像度や感度をもたらす。周波数測定を利用する際には、可変発振器１０１を制御するコンデンサーの一部として捕捉テスト領域を用いる。そして発振器１０１により生成される周波数を測定することで、検体について検出することができる（例えば、検体の存在、検体の非存在及び／又は試料中の検体濃度）。任意に、発振器１０１からのシグナルを参照発振器１０２の周波数と組み合わせることができ、そしてその差異を第３の周波数（多くの場合、ビート周波数と称される）として測定することができる。ビート周波数の測定は、特に、参照発振器１０２に対する発振器１０１の周波数変化が小さい場合に有用である。
【００２１】
図１１は、テスト領域を読み取るセンサ素子として構成されているフリンジ電界コンデンサ（ｆｒｉｎｇｅ ｆｉｅｌｄ ｃａｐａｃｉｔｏｒ）を示している。第１のフリンジ電界コンデンサは、電極１１３、電極１１４、並びにテスト細片１１０上のアッセイ層１１１内の誘電体物質から構成される。第２のフリンジ電界コンデンサは、電極１１５、電極１１６、並びにアッセイ層１１２内の誘電体物質から構成される。テスト領域が電極間に挟持されている平行板コンデンサもまた、センサ素子として用いることができる。
【００２２】
フリンジコンデンサ（ｆｒｉｎｇｅ ｃａｐａｃｉｔｏｒ）は、例えば、検出器若しくは指示標識がコロイド金属（例えば、金）であるか又はテスト細片とは著しく異なる誘電特性を有する他の材料である場合に有用である。この場合、テスト領域（例えば、アッセイ層）におけるコロイド金属の堆積若しくは減少は、当該領域に近接して配置された電極間に形成されたコンデンサの誘電性要素の特性変化として検出することができる。これは、有効誘電率の変化又は損失特性の変化として確認することができる。通常、コンデンサは、プレート間に誘電体が挟持された平行板素子として考えられる。しかしながら、当該プレートの端部の周囲に存在する電界は、すぐ近くにある誘電体物質と共にフリンジコンデンサを形成する。式（静電容量＝誘電率×面積／間隔）は、フリンジ効果を考慮した有効面積を用いることで、両方について適用できる。
【００２３】
静電容量や複素インピーダンスを測定することの利点の１つは、テスト細片への直接的な接触を回避し得ることである。アッセイでは、細片の誘電率特性はテスト溶液による濡れに起因して変化するものと考えられるため、比較対照領域を用いて基準を確立し、そして比較対照領域とテスト領域との間の差異が、目的とする測定値となる。比較対照領域は、一定濃度の指示標識が固定化されるように作製することができる。この濃度レベルは、閾値を設定するために用いることができる。比較対照領域はまた、非特異的結合の修正を支援する。濡れによる比較対照領域の変化を利用することで、アッセイの進度及び／又は完了を表示することができる。
【００２４】
代替実施形態では、比較対照領域を用いることで、検体と結合しなかった標識を収集することができる。この場合、テスト領域内の標識濃度（Ｃｔｚ）及び比較対照領域内の標識濃度（Ｃｃｚ）の合計は、およそ、結合性パッドの初期標識濃度（Ｃｃｐ）となるものと考えられ、相対濃度比（Ｃｔｚ／Ｃｃｚ）は、検体の存在に関する高感度の表示となり得る。
【００２５】
図１２は、誘電率（又は誘電率特性）に基づく測定の代わりに、透磁率（又は磁気特性）に基づく測定を利用する他の実施形態を示している。図１２においては、上側磁心１２３に導線が巻かれており、当該導線に電流を流すことで磁束を生成することができる。上部磁心１２３と下部磁心１２４との間のギャップには、空気及びテスト細片１２０が含まれる。下部磁心１２４は、任意選択である。テスト領域１２１における金属粒子の堆積や減少によって、上部磁心１２３、下部磁心１２４及びそれらの間のギャップを含んで成る磁気回路の磁気抵抗及び束密度が変化する。
【００２６】
図１２から見てとれるように、透磁率の測定もまた、比較対照領域１２２を利用して実施することができる。上部磁心１２５と下部磁心１２６との間のギャップには、空気及びテスト細片１２０が含まれる。下部磁心１２６は、任意選択である。比較対照領域１２２における金属粒子の堆積や減少によって、上部磁心１２５、下部磁心１２６、及びそれらの間のギャップを含んで成る磁気回路の磁気抵抗及び束密度が変化する。磁気要素はまた、発振器の周波数を制御するために用いることができる。
【００２７】
図１３は、テスト領域の読み取りを容易にするために、数珠つなぎにて接続された（連結された）テスト領域を有するテスト細片を示している。第１の連結群には、テスト領域１３１、テスト領域１３４、テスト領域１３５、及びテスト領域１３８が含まれ、それらは全てテスト細片１３０上に配置されている。第２の連結群には、比較対照領域１３２、比較対照領域１３３、比較対照領域１３６、及び比較対照領域１３７が含まれ、それらは全てテスト細片１３０上に配置されている。この連結は、１つ又は複数の検体の存在、非存在の判定が望まれる場合に有用である。これは、テスト領域のどれか１つが消耗して連結鎖が壊れることにより指示される。単純な抵抗測定では、センサ回路を連結鎖の端部に直に接触させることが必要となる。あるいはまた、連結鎖の端部への静電結合によって直接的な接触を回避できるが、この場合、複素インピーダンスの測定が必要となる。図１３記載の特定の配置は、幾つかの検体のうち１つ又は複数の存在を検出するために適しており、薬剤テストにおいて有用である。
【００２８】
誘電率特性や透磁率特性の変化を利用する場合には、テスト領域と比較対照領域との間に接続は必要とされず、センサ回路を直に接触させる必要もない。これに関しては、図１４に図示している。図１４は、テスト領域１４１、テスト領域１４３、テスト領域１４５及びテスト領域１４７を示しており、それらは全てテスト細片１４０上に配置されている。テスト細片１４０はまた、比較対照領域１４２、比較対照領域１４４、比較対照領域１４６及び比較対照領域１４８も含む。
【００２９】
上記説明は、本発明の例示的な方法及び実施形態を開示、記載するにすぎない。当業者には理解されようが、本発明は、それらの趣旨や本質的な特性から逸脱することなく、他の特定の形態にて実施することができる。従って、本発明の上記開示は例示であり、本発明の範囲を限定する意はなく、本発明の範囲は添付の特許請求の範囲において説明する。
【００３０】
以下に、本発明の好ましい実施態様を説明する。
実施態様１）テスト領域を読み取る方法であって：
試料に結合性物質をさらすことであって、前記結合性物質が、前記試料中の少なくとも１つの検体と結合する際に以下のタイプの結合対物質：
電気的に検出可能な結合対物質、
磁気的に検出可能な結合対物質
のうちの一方を形成する、試料に結合性物質をさらすこと；
前記試料に前記結合性物質をさらすことにより生じた結合対物質をテスト領域内に捕捉すること；及び
検体を検出するために、前記テスト領域内に捕捉されている前記結合対物質に関して以下のタイプの測定：
電気的測定、
磁気的測定
のうち少なくとも一方を実行すること、
を包含する、方法。
実施態様２）前記結合対物質が、電気的に検出可能な結合対物質であり、且つ検体を検出するための測定のタイプが、インピーダンスを測定する電気的測定である、実施態様１に記載の方法。
実施態様３）前記結合対物質が、電気的に検出可能な結合対物質であり、且つ検体を検出するための測定のタイプが、誘電率特性を測定する電気的測定である、実施態様１に記載の方法。
実施態様４）検体を検出することが、前記試料中の検体濃度を決定することを包含する、実施態様１に記載の方法。
実施態様５）前記結合対物質が、磁気的に検出可能な結合対物質であり、且つ検体を検出するための測定のタイプが、透磁率特性を測定する磁気的測定である、実施態様１に記載の方法。
実施態様６）前記結合対物質が、電気的に検出可能な結合対物質であり、且つ検体を検出するための測定のタイプが、連結されたテスト領域のインピーダンスを測定する電気的測定である、実施態様１に記載の方法。
実施態様７）前記結合対物質が、電気的に検出可能な結合対物質であり、且つ検体を検出するための測定のタイプが、測定される周期的シグナル特性が誘電率若しくは透磁率特性によって制御される測定である、実施態様１に記載の方法。
実施態様８）検体を検出する前記タイプの測定の１つを実行する際に、比較測定のために少なくとも１つの比較対照領域を用いる、実施態様１に記載の方法。
実施態様９）検体と結合する際に以下のタイプの結合対物質：
電気的に検出可能な結合対物質、
磁気的に検出可能な結合対物質、
のうちの一方を形成する結合性物質と；
前記結合性物質が前記検体と結合する際に形成された結合対物質が捕捉されるところのテスト領域と；
検体を検出するために、前記テスト領域内に捕捉されている前記結合対物質に関して以下のタイプの測定：
電気的測定、
磁気的測定、
のうちの少なくとも一方を実行するところの測定回路と、
を含んで成る、テストシステム。
実施態様１０）比較測定のために用いられる比較対照領域をさらに含む、実施態様９に記載のテストシステム。
実施態様１１）前記結合対物質が、電気的に検出可能な結合対物質であり、且つ検体を検出するための測定のタイプが、インピーダンスを測定する電気的測定である、実施態様９に記載のテストシステム。
実施態様１２）前記結合対物質が、電気的に検出可能な結合対物質であり、且つ検体を検出するための測定のタイプが、誘電率特性を測定する電気的測定である、実施態様９に記載のテストシステム。
実施態様１３）前記結合対物質が、電気的に検出可能な結合対物質であり、且つ検体を検出するための測定のタイプが、フリンジコンデンサを用いて静電容量を測定する電気的測定である、実施態様９に記載のテストシステム。
実施態様１４）前記結合対物質が、磁気的に検出可能な結合対物質であり、且つ検体を検出するための測定のタイプが、透磁率特性を測定する磁気的測定である、実施態様９に記載のテストシステム。
実施態様１５）前記結合対物質が、電気的に検出可能な結合対物質であり、且つ検体を検出するための測定のタイプが、連結されたテスト領域のインピーダンスを測定する電気的測定である、実施態様９に記載のテストシステム。
実施態様１６）前記結合対物質が、電気的に検出可能な結合対物質であり、且つ検体を検出するための測定のタイプが、測定される周期的シグナル特性が誘電率若しくは透磁率特性によって制御される測定である、実施態様９に記載のテストシステム。
実施態様１７）前記結合性物質がさらに他の検体と結合し、それによって複数の検体に関するテストが可能である、実施態様９に記載のテストシステム。
実施態様１８）前記結合性物質が、テスト細片の結合性パッド内に備え付けられている、実施態様９に記載のテストシステム。
実施態様１９）前記テスト領域が、テスト細片上にある捕捉ラインである、実施態様９に記載のテストシステム。
実施態様２０）比較測定に用いられる比較対照領域をさらに含む実施態様９に記載のテストシステムであって、
前記テスト領域（２１）が、テスト細片上にある捕捉ラインであり；且つ
前記比較対照領域（２２）が、前記テスト細片上にある比較対照ラインである、テストシステム。
【図面の簡単な説明】
【００３１】
【図１】本発明の一実施形態による、テスト領域を非光学的に読み取るのに用いられるラテラルフローアッセイテスト細片の概略側面図
【図２】本発明の一実施形態による、テスト領域を非光学的に読み取るのに用いられるラテラルフローアッセイテスト細片の概略平面図
【図３】本発明の一実施形態による、テスト領域を非光学的に読み取るために調製されたラテラルフローアッセイテスト細片を用いたテストにおける、検体の結合及び捕捉を示す図
【図４】本発明の一実施形態による、テスト領域を非光学的に読み取るために調製されたラテラルフローアッセイテスト細片を用いたテストにおける、検体の結合及び捕捉を示す図
【図５】本発明の一実施形態による、テスト領域を非光学的に読み取るのに用いられる電気回路の概略ブロック図
【図６】本発明の一実施形態による、テスト領域を読み取るのに有用なブリッジ回路
【図７】本発明の一実施形態による、テスト領域を読み取るのに有用なブリッジ回路
【図８】本発明の一実施形態による、テスト領域を読み取るのに有用なブリッジ回路
【図９】本発明の一実施形態による、テスト領域を読み取るように構成された静電容量比較電気回路
【図１０】本発明の一実施形態による、テスト領域を読み取るように構成された周波数比較電気回路
【図１１】本発明の一実施形態による、テスト領域を読み取るように構成されたフリンジ電界コンデンサ
【図１２】本発明の一実施形態による、テスト領域を読み取るように構成された磁気読み取り器
【図１３】本発明の一実施形態による、テスト領域の非光学的な読み取りを容易とする、連結されたテスト領域を有するテスト細片
【図１４】本発明の一実施形態による、誘電率特性又は透磁率特性を利用したテスト領域の読み取りのために配置されたテスト領域を有するテスト細片
【符号の説明】
【００３２】
２１ テスト領域
２２ 比較対照領域
３１ 検体
３２ 結合性物質（標識）
【技術分野】
【０００１】
本発明は、概して、ラテラルフローアッセイテスト細片上のテスト領域の読み取りに関し、より詳細には、ラテラルフローアッセイテスト細片上のテスト領域の非光学的な読み取り（即ち、電気的及び／又は磁気的読み取り）に関する。
【背景技術】
【０００２】
ラテラルフローアッセイテスト細片は、試料中の特定の検体の存在を検出するために有用である。典型的に、テスト時、テスト領域（例えば、テスト細片上のアッセイ細片）は、試料中に特定の検体が存在するかしないかに応じて外観が変化する。そして、人間の目あるいはイメージ化システムにより当該テスト領域を読み取ることにより、試料中に検体が存在するかどうかを判定することができる。ラテラルフローアッセイの特性に関するさらに詳しい情報は、例えば米国特許第６，１３６，６１０号を参照されたい。
【０００３】
テスト領域の光学的読み取りは効果的ではあるものの、それには検査人や複雑なイメージ化システムが必要となる。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
従って、テストシステム設計における柔軟性の向上並びにコストの削減のために、他の方法でアッセイ細片を読み取ることができる代替の方法及びシステムを提供することが望ましい。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本発明の一実施形態によれば、テスト領域の読み取りは以下の通り実施される。試料を結合性物質にさらす。試料中の少なくとも１つの検体と結合すると、結合性物質は、電気的に検出可能な結合対物質若しくは磁気的に検出可能な結合対物質の何れかを形成する。当該結合対物質は、テスト領域内に捕捉される。そして、試料中の検体を検出するために、テスト領域内に捕捉された結合対物質に関して測定を行う。当該測定は、電気的測定あるいは磁気的測定である。
【発明の効果】
【０００６】
本発明によれば、電気的あるいは磁気的な方法でテスト領域を読み取るための方法並びにシステムを提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００７】
図１は、ラテラルフローアッセイテスト細片１０の概略側面図を示している。ラテラルフローアッセイテスト細片１０は、バッキング（支持層）１１、感圧接着剤１２、試料パッド１３、結合性パッド１４、膜１５及び吸収性パッド１６を含む。例えば、膜１５は、ニトロセルロースから成る。
【０００８】
図２は、ラテラルフローアッセイテスト細片１０の概略平面図を示している。このラテラルフローアッセイテスト細片１０の平面図は、捕捉テスト領域２１及び比較対照領域２２の存在を示している。
【０００９】
図３及び図４は、ラテラルフローアッセイテスト細片１０を用いたテストにおける、検体の結合並びに捕捉を図示している。図３に示すように、テスト前には、検体３１は試料パッド１３部に存在する。標識（結合性物質）３２は、結合性パッド１４上に存在する。標識３２は、例えば、第１のタイプの抗体と標識粒子を含む。この第１のタイプの抗体は、検体３１に結合する。例えば、標識粒子は、金粒子、又は所望の電気的／磁気的特性を有する他の粒子である。テスト領域２１に結合した抗体３３も第１のタイプの抗体であり、検体３１に結合する。比較対照構造体３４は、第２のタイプの物質であり、比較対照領域２２に結合している。比較対照構造体３４として選択された、この第２のタイプの物質は、第１のタイプの抗体に結合する。例えば、第２のタイプの物質は、抗原、又は第１のタイプの抗体に結合する他のタイプの物質である。矢印３５は、検体３１の毛管流れの向きを示している。
【００１０】
図４は、標識３２内の第１のタイプの抗体のいくつかと結合して結合対物質を形成している検体３１分子を示している。この結合対物質は、抗体３３により捕捉され、テスト領域２１に結合する。利用されなかった（検体３１と結合しなかった）標識３２は、比較対照構造体３４のところまで流れ、そして比較対照構造体３４を形成している第２のタイプの物質により捕捉される。
【００１１】
例えば、図３及び図４は、免疫アッセイを表している。免疫アッセイに関しては、通常、検体濃度が高いほど、捕捉ライン２１から検出されるシグナルは強くなる。一方、競争免疫アッセイに関しては、通常、検体濃度が高くなると、捕捉ライン２１から検出されるシグナルは弱くなる。
【００１２】
抵抗、静電容量（電気容量）、複素インピーダンス、並びに誘電特性、誘電率特性及び透磁率特性を測定するために（絶対値、相対値又は微分値（あるいは差値）の測定を含む）、多くの既知の方法が利用できる。例えば、Ｄｉｅｌｅｃｔｒｉｃ Ｔｅｓｔ Ｆｉｘｔｕｒｅ １６４５１ＢとＡｇｉｌｅｎｔ ＬＣＲ Ｍｅｔｅｒ ４２９４Ａ（両方ともアジレントテクノロジーズ社から入手可能）の組み合わせのような装置を用いることで、測定を実施することができる。測定はまた、集積回路、例えばＡＤＸＬ２０３加速度計（アナログデバイス社から入手可能）、及びＡＤ７７４５Ｃａｐａｓｉｔａｎｃｅ−ｔｏ−Ｄｉｇｉｔａｌ Ｃｏｎｖｅｒｔｅｒ（アナログデバイス社から入手可能）を用いて実施することもできる。
【００１３】
図５は、ラテラルフローアッセイテスト細片１０のようなテスト領域を非光学的に読み取るために用いられる電気回路を示す概略ブロック図である。当該電気回路には、刺激装置及びセンサ５１、増幅器及びアナログ−デジタル変換器（ＡＤＣ）５２、メモリ５３、シグナル処理装置５４、ディスプレイ及びユーザインターフェース５５、並びに電源、時計及び制御装置５６が含まれる。
【００１４】
刺激装置及びセンサ５１内には、高感度の測定を実施し得る電気回路が用いられる。例えば、インピーダンスを測定する際には、種々のタイプのブリッジ回路を測定に用いることができる。図６、図７、及び図８には、刺激装置及びセンサ５１内で使用し得るブリッジ回路の例を示している。
【００１５】
図６は、電源回路６５、計器６０、抵抗体６１、抵抗体６２、抵抗体６３及び可変抵抗体６４を示す。可変抵抗体６４は、計器６０がゼロ値を検出するまで変化される。抵抗値が未知の抵抗体６３の抵抗値は、抵抗体６１及び抵抗体６２の固定値並びに可変抵抗体６４の可変値から決定し得る。
【００１６】
同様に、図７は、電源回路７５、計器７０、抵抗体７１、抵抗体７２、及び可変抵抗７４を示す。ギャップ７３は、２つの接点間の隔たり（ギャップ）により形成され、検出すべき未知の抵抗値を表す。可変抵抗体７４は、計器７０がゼロ値を検出するまで変化される。未知の抵抗値は、抵抗体７１及び抵抗体７２の固定値並びに可変抵抗体７４の可変値から決定し得る。
【００１７】
図８は、電源回路８５、計器８０、複素インピーダンス８１、複素インピーダンス８２、及び可変複素インピーダンス８４を示す。ギャップ８３は、２つの接点間の隔たり（ギャップ）により形成され、検出すべき未知の値を表す。可変複素インピーダンス８４は、計器８０がゼロ値を検出するまで変化される。未知の値は、複素インピーダンス８１及び複素インピーダンス８２の固定値並びに可変複素インピーダンス８４の可変値から決定し得る。
【００１８】
微分測定（あるいは差測定）をもたらすために、図５、図６、図７及び図８記載の電気回路の変更形態や派生形態を構成することができる。
【００１９】
図５記載の刺激装置及びセンサ５１はまた、抵抗ではなく、静電容量を検知するよう構成することもできる。例えば、図９は、静電容量比較電気回路９０を示している。静電容量９１は、例えば、テスト領域を含む、測定される静電容量を表す。静電容量９２は、例えば、比較対照領域を含む、測定される静電容量を表す。
【００２０】
図５記載の刺激装置及びセンサ５１によって、振幅周波数、位相及び／又は損失特性などの１つ又は複数の周期的シグナル特性を測定したり比較する場合には、抵抗、静電容量又は複素インピーダンスを用いることで、周期的シグナル（振動シグナル）を制御することができる。図１０は、可変発振器（オシレータ）１０１及び参照発振器１０２を利用した周波数比較電気回路９０を示している。周波数の測定は、多くの場合、最も高いレベルの解像度や感度をもたらす。周波数測定を利用する際には、可変発振器１０１を制御するコンデンサーの一部として捕捉テスト領域を用いる。そして発振器１０１により生成される周波数を測定することで、検体について検出することができる（例えば、検体の存在、検体の非存在及び／又は試料中の検体濃度）。任意に、発振器１０１からのシグナルを参照発振器１０２の周波数と組み合わせることができ、そしてその差異を第３の周波数（多くの場合、ビート周波数と称される）として測定することができる。ビート周波数の測定は、特に、参照発振器１０２に対する発振器１０１の周波数変化が小さい場合に有用である。
【００２１】
図１１は、テスト領域を読み取るセンサ素子として構成されているフリンジ電界コンデンサ（ｆｒｉｎｇｅ ｆｉｅｌｄ ｃａｐａｃｉｔｏｒ）を示している。第１のフリンジ電界コンデンサは、電極１１３、電極１１４、並びにテスト細片１１０上のアッセイ層１１１内の誘電体物質から構成される。第２のフリンジ電界コンデンサは、電極１１５、電極１１６、並びにアッセイ層１１２内の誘電体物質から構成される。テスト領域が電極間に挟持されている平行板コンデンサもまた、センサ素子として用いることができる。
【００２２】
フリンジコンデンサ（ｆｒｉｎｇｅ ｃａｐａｃｉｔｏｒ）は、例えば、検出器若しくは指示標識がコロイド金属（例えば、金）であるか又はテスト細片とは著しく異なる誘電特性を有する他の材料である場合に有用である。この場合、テスト領域（例えば、アッセイ層）におけるコロイド金属の堆積若しくは減少は、当該領域に近接して配置された電極間に形成されたコンデンサの誘電性要素の特性変化として検出することができる。これは、有効誘電率の変化又は損失特性の変化として確認することができる。通常、コンデンサは、プレート間に誘電体が挟持された平行板素子として考えられる。しかしながら、当該プレートの端部の周囲に存在する電界は、すぐ近くにある誘電体物質と共にフリンジコンデンサを形成する。式（静電容量＝誘電率×面積／間隔）は、フリンジ効果を考慮した有効面積を用いることで、両方について適用できる。
【００２３】
静電容量や複素インピーダンスを測定することの利点の１つは、テスト細片への直接的な接触を回避し得ることである。アッセイでは、細片の誘電率特性はテスト溶液による濡れに起因して変化するものと考えられるため、比較対照領域を用いて基準を確立し、そして比較対照領域とテスト領域との間の差異が、目的とする測定値となる。比較対照領域は、一定濃度の指示標識が固定化されるように作製することができる。この濃度レベルは、閾値を設定するために用いることができる。比較対照領域はまた、非特異的結合の修正を支援する。濡れによる比較対照領域の変化を利用することで、アッセイの進度及び／又は完了を表示することができる。
【００２４】
代替実施形態では、比較対照領域を用いることで、検体と結合しなかった標識を収集することができる。この場合、テスト領域内の標識濃度（Ｃｔｚ）及び比較対照領域内の標識濃度（Ｃｃｚ）の合計は、およそ、結合性パッドの初期標識濃度（Ｃｃｐ）となるものと考えられ、相対濃度比（Ｃｔｚ／Ｃｃｚ）は、検体の存在に関する高感度の表示となり得る。
【００２５】
図１２は、誘電率（又は誘電率特性）に基づく測定の代わりに、透磁率（又は磁気特性）に基づく測定を利用する他の実施形態を示している。図１２においては、上側磁心１２３に導線が巻かれており、当該導線に電流を流すことで磁束を生成することができる。上部磁心１２３と下部磁心１２４との間のギャップには、空気及びテスト細片１２０が含まれる。下部磁心１２４は、任意選択である。テスト領域１２１における金属粒子の堆積や減少によって、上部磁心１２３、下部磁心１２４及びそれらの間のギャップを含んで成る磁気回路の磁気抵抗及び束密度が変化する。
【００２６】
図１２から見てとれるように、透磁率の測定もまた、比較対照領域１２２を利用して実施することができる。上部磁心１２５と下部磁心１２６との間のギャップには、空気及びテスト細片１２０が含まれる。下部磁心１２６は、任意選択である。比較対照領域１２２における金属粒子の堆積や減少によって、上部磁心１２５、下部磁心１２６、及びそれらの間のギャップを含んで成る磁気回路の磁気抵抗及び束密度が変化する。磁気要素はまた、発振器の周波数を制御するために用いることができる。
【００２７】
図１３は、テスト領域の読み取りを容易にするために、数珠つなぎにて接続された（連結された）テスト領域を有するテスト細片を示している。第１の連結群には、テスト領域１３１、テスト領域１３４、テスト領域１３５、及びテスト領域１３８が含まれ、それらは全てテスト細片１３０上に配置されている。第２の連結群には、比較対照領域１３２、比較対照領域１３３、比較対照領域１３６、及び比較対照領域１３７が含まれ、それらは全てテスト細片１３０上に配置されている。この連結は、１つ又は複数の検体の存在、非存在の判定が望まれる場合に有用である。これは、テスト領域のどれか１つが消耗して連結鎖が壊れることにより指示される。単純な抵抗測定では、センサ回路を連結鎖の端部に直に接触させることが必要となる。あるいはまた、連結鎖の端部への静電結合によって直接的な接触を回避できるが、この場合、複素インピーダンスの測定が必要となる。図１３記載の特定の配置は、幾つかの検体のうち１つ又は複数の存在を検出するために適しており、薬剤テストにおいて有用である。
【００２８】
誘電率特性や透磁率特性の変化を利用する場合には、テスト領域と比較対照領域との間に接続は必要とされず、センサ回路を直に接触させる必要もない。これに関しては、図１４に図示している。図１４は、テスト領域１４１、テスト領域１４３、テスト領域１４５及びテスト領域１４７を示しており、それらは全てテスト細片１４０上に配置されている。テスト細片１４０はまた、比較対照領域１４２、比較対照領域１４４、比較対照領域１４６及び比較対照領域１４８も含む。
【００２９】
上記説明は、本発明の例示的な方法及び実施形態を開示、記載するにすぎない。当業者には理解されようが、本発明は、それらの趣旨や本質的な特性から逸脱することなく、他の特定の形態にて実施することができる。従って、本発明の上記開示は例示であり、本発明の範囲を限定する意はなく、本発明の範囲は添付の特許請求の範囲において説明する。
【００３０】
以下に、本発明の好ましい実施態様を説明する。
実施態様１）テスト領域を読み取る方法であって：
試料に結合性物質をさらすことであって、前記結合性物質が、前記試料中の少なくとも１つの検体と結合する際に以下のタイプの結合対物質：
電気的に検出可能な結合対物質、
磁気的に検出可能な結合対物質
のうちの一方を形成する、試料に結合性物質をさらすこと；
前記試料に前記結合性物質をさらすことにより生じた結合対物質をテスト領域内に捕捉すること；及び
検体を検出するために、前記テスト領域内に捕捉されている前記結合対物質に関して以下のタイプの測定：
電気的測定、
磁気的測定
のうち少なくとも一方を実行すること、
を包含する、方法。
実施態様２）前記結合対物質が、電気的に検出可能な結合対物質であり、且つ検体を検出するための測定のタイプが、インピーダンスを測定する電気的測定である、実施態様１に記載の方法。
実施態様３）前記結合対物質が、電気的に検出可能な結合対物質であり、且つ検体を検出するための測定のタイプが、誘電率特性を測定する電気的測定である、実施態様１に記載の方法。
実施態様４）検体を検出することが、前記試料中の検体濃度を決定することを包含する、実施態様１に記載の方法。
実施態様５）前記結合対物質が、磁気的に検出可能な結合対物質であり、且つ検体を検出するための測定のタイプが、透磁率特性を測定する磁気的測定である、実施態様１に記載の方法。
実施態様６）前記結合対物質が、電気的に検出可能な結合対物質であり、且つ検体を検出するための測定のタイプが、連結されたテスト領域のインピーダンスを測定する電気的測定である、実施態様１に記載の方法。
実施態様７）前記結合対物質が、電気的に検出可能な結合対物質であり、且つ検体を検出するための測定のタイプが、測定される周期的シグナル特性が誘電率若しくは透磁率特性によって制御される測定である、実施態様１に記載の方法。
実施態様８）検体を検出する前記タイプの測定の１つを実行する際に、比較測定のために少なくとも１つの比較対照領域を用いる、実施態様１に記載の方法。
実施態様９）検体と結合する際に以下のタイプの結合対物質：
電気的に検出可能な結合対物質、
磁気的に検出可能な結合対物質、
のうちの一方を形成する結合性物質と；
前記結合性物質が前記検体と結合する際に形成された結合対物質が捕捉されるところのテスト領域と；
検体を検出するために、前記テスト領域内に捕捉されている前記結合対物質に関して以下のタイプの測定：
電気的測定、
磁気的測定、
のうちの少なくとも一方を実行するところの測定回路と、
を含んで成る、テストシステム。
実施態様１０）比較測定のために用いられる比較対照領域をさらに含む、実施態様９に記載のテストシステム。
実施態様１１）前記結合対物質が、電気的に検出可能な結合対物質であり、且つ検体を検出するための測定のタイプが、インピーダンスを測定する電気的測定である、実施態様９に記載のテストシステム。
実施態様１２）前記結合対物質が、電気的に検出可能な結合対物質であり、且つ検体を検出するための測定のタイプが、誘電率特性を測定する電気的測定である、実施態様９に記載のテストシステム。
実施態様１３）前記結合対物質が、電気的に検出可能な結合対物質であり、且つ検体を検出するための測定のタイプが、フリンジコンデンサを用いて静電容量を測定する電気的測定である、実施態様９に記載のテストシステム。
実施態様１４）前記結合対物質が、磁気的に検出可能な結合対物質であり、且つ検体を検出するための測定のタイプが、透磁率特性を測定する磁気的測定である、実施態様９に記載のテストシステム。
実施態様１５）前記結合対物質が、電気的に検出可能な結合対物質であり、且つ検体を検出するための測定のタイプが、連結されたテスト領域のインピーダンスを測定する電気的測定である、実施態様９に記載のテストシステム。
実施態様１６）前記結合対物質が、電気的に検出可能な結合対物質であり、且つ検体を検出するための測定のタイプが、測定される周期的シグナル特性が誘電率若しくは透磁率特性によって制御される測定である、実施態様９に記載のテストシステム。
実施態様１７）前記結合性物質がさらに他の検体と結合し、それによって複数の検体に関するテストが可能である、実施態様９に記載のテストシステム。
実施態様１８）前記結合性物質が、テスト細片の結合性パッド内に備え付けられている、実施態様９に記載のテストシステム。
実施態様１９）前記テスト領域が、テスト細片上にある捕捉ラインである、実施態様９に記載のテストシステム。
実施態様２０）比較測定に用いられる比較対照領域をさらに含む実施態様９に記載のテストシステムであって、
前記テスト領域（２１）が、テスト細片上にある捕捉ラインであり；且つ
前記比較対照領域（２２）が、前記テスト細片上にある比較対照ラインである、テストシステム。
【図面の簡単な説明】
【００３１】
【図１】本発明の一実施形態による、テスト領域を非光学的に読み取るのに用いられるラテラルフローアッセイテスト細片の概略側面図
【図２】本発明の一実施形態による、テスト領域を非光学的に読み取るのに用いられるラテラルフローアッセイテスト細片の概略平面図
【図３】本発明の一実施形態による、テスト領域を非光学的に読み取るために調製されたラテラルフローアッセイテスト細片を用いたテストにおける、検体の結合及び捕捉を示す図
【図４】本発明の一実施形態による、テスト領域を非光学的に読み取るために調製されたラテラルフローアッセイテスト細片を用いたテストにおける、検体の結合及び捕捉を示す図
【図５】本発明の一実施形態による、テスト領域を非光学的に読み取るのに用いられる電気回路の概略ブロック図
【図６】本発明の一実施形態による、テスト領域を読み取るのに有用なブリッジ回路
【図７】本発明の一実施形態による、テスト領域を読み取るのに有用なブリッジ回路
【図８】本発明の一実施形態による、テスト領域を読み取るのに有用なブリッジ回路
【図９】本発明の一実施形態による、テスト領域を読み取るように構成された静電容量比較電気回路
【図１０】本発明の一実施形態による、テスト領域を読み取るように構成された周波数比較電気回路
【図１１】本発明の一実施形態による、テスト領域を読み取るように構成されたフリンジ電界コンデンサ
【図１２】本発明の一実施形態による、テスト領域を読み取るように構成された磁気読み取り器
【図１３】本発明の一実施形態による、テスト領域の非光学的な読み取りを容易とする、連結されたテスト領域を有するテスト細片
【図１４】本発明の一実施形態による、誘電率特性又は透磁率特性を利用したテスト領域の読み取りのために配置されたテスト領域を有するテスト細片
【符号の説明】
【００３２】
２１ テスト領域
２２ 比較対照領域
３１ 検体
３２ 結合性物質（標識）
【特許請求の範囲】
【請求項１】
テスト領域を読み取る方法であって：
試料に結合性物質（３２）をさらすことであって、前記結合性物質（３２）が、前記試料中の少なくとも１つの検体（３１）と結合する際に以下のタイプの結合対物質：
電気的に検出可能な結合対物質、
磁気的に検出可能な結合対物質
のうちの一方を形成する、試料に結合性物質（３２）をさらすこと；
前記試料に前記結合性物質（３２）をさらすことにより生じた結合対物質をテスト領域（２１）内に捕捉すること；及び
検体（３１）を検出するために、前記テスト領域（２１）内に捕捉されている前記結合対物質に関して以下のタイプの測定：
電気的測定、
磁気的測定
のうち少なくとも一方を実行すること、
を包含する、方法。
【請求項２】
前記結合対物質が、電気的に検出可能な結合対物質であり、且つ検体（３１）を検出するための測定のタイプが、インピーダンス、誘電率特性、連結したテスト領域のインピーダンスのうちの１つを測定する電気的測定である、請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記結合対物質が、磁気的に検出可能な結合対物質であり、且つ検体（３１）を検出するための測定のタイプが、透磁率特性を測定する磁気的測定である、請求項１に記載の方法。
【請求項４】
前記結合対物質が、電気的に検出可能な結合対物質であり、且つ検体（３１）を検出するための測定のタイプが、測定される周期的シグナル特性が誘電率若しくは透磁率特性によって制御される測定である、請求項１に記載の方法。
【請求項５】
検体（３１）を検出する前記タイプの測定の１つを実行する際に、比較測定のために少なくとも１つの比較対照領域（２２）を用いる、請求項１に記載の方法。
【請求項６】
検体（３１）と結合する際に以下のタイプの結合対物質：
電気的に検出可能な結合対物質、
磁気的に検出可能な結合対物質、
のうちの一方を形成する結合性物質（３２）と；
前記結合性物質（３２）が前記検体（３１）と結合する際に形成された結合対物質が捕捉されるところのテスト領域（２１）と；
検体（３１）を検出するために、前記テスト領域（２１）内に捕捉されている前記結合対物質に関して以下のタイプの測定：
電気的測定、
磁気的測定、
のうちの少なくとも一方を実行するところの測定回路（５１）と、
を含んで成る、テストシステム。
【請求項７】
前記結合性物質（３２）がさらに他の検体と結合し、それによって複数の検体に関するテストが可能である、請求項６に記載のテストシステム。
【請求項８】
前記結合性物質（３２）が、テスト細片の結合性パッド内に備え付けられている、請求項６に記載のテストシステム。
【請求項９】
前記テスト領域（２１）が、テスト細片上にある捕捉ラインである、請求項６に記載のテストシステム。
【請求項１０】
比較測定に用いられる比較対照領域をさらに含む請求項６に記載のテストシステムであって、
前記テスト領域（２１）が、テスト細片上にある捕捉ラインであり；且つ
前記比較対照領域（２２）が、前記テスト細片上にある比較対照ラインである、テストシステム。
【請求項１】
テスト領域を読み取る方法であって：
試料に結合性物質（３２）をさらすことであって、前記結合性物質（３２）が、前記試料中の少なくとも１つの検体（３１）と結合する際に以下のタイプの結合対物質：
電気的に検出可能な結合対物質、
磁気的に検出可能な結合対物質
のうちの一方を形成する、試料に結合性物質（３２）をさらすこと；
前記試料に前記結合性物質（３２）をさらすことにより生じた結合対物質をテスト領域（２１）内に捕捉すること；及び
検体（３１）を検出するために、前記テスト領域（２１）内に捕捉されている前記結合対物質に関して以下のタイプの測定：
電気的測定、
磁気的測定
のうち少なくとも一方を実行すること、
を包含する、方法。
【請求項２】
前記結合対物質が、電気的に検出可能な結合対物質であり、且つ検体（３１）を検出するための測定のタイプが、インピーダンス、誘電率特性、連結したテスト領域のインピーダンスのうちの１つを測定する電気的測定である、請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記結合対物質が、磁気的に検出可能な結合対物質であり、且つ検体（３１）を検出するための測定のタイプが、透磁率特性を測定する磁気的測定である、請求項１に記載の方法。
【請求項４】
前記結合対物質が、電気的に検出可能な結合対物質であり、且つ検体（３１）を検出するための測定のタイプが、測定される周期的シグナル特性が誘電率若しくは透磁率特性によって制御される測定である、請求項１に記載の方法。
【請求項５】
検体（３１）を検出する前記タイプの測定の１つを実行する際に、比較測定のために少なくとも１つの比較対照領域（２２）を用いる、請求項１に記載の方法。
【請求項６】
検体（３１）と結合する際に以下のタイプの結合対物質：
電気的に検出可能な結合対物質、
磁気的に検出可能な結合対物質、
のうちの一方を形成する結合性物質（３２）と；
前記結合性物質（３２）が前記検体（３１）と結合する際に形成された結合対物質が捕捉されるところのテスト領域（２１）と；
検体（３１）を検出するために、前記テスト領域（２１）内に捕捉されている前記結合対物質に関して以下のタイプの測定：
電気的測定、
磁気的測定、
のうちの少なくとも一方を実行するところの測定回路（５１）と、
を含んで成る、テストシステム。
【請求項７】
前記結合性物質（３２）がさらに他の検体と結合し、それによって複数の検体に関するテストが可能である、請求項６に記載のテストシステム。
【請求項８】
前記結合性物質（３２）が、テスト細片の結合性パッド内に備え付けられている、請求項６に記載のテストシステム。
【請求項９】
前記テスト領域（２１）が、テスト細片上にある捕捉ラインである、請求項６に記載のテストシステム。
【請求項１０】
比較測定に用いられる比較対照領域をさらに含む請求項６に記載のテストシステムであって、
前記テスト領域（２１）が、テスト細片上にある捕捉ラインであり；且つ
前記比較対照領域（２２）が、前記テスト細片上にある比較対照ラインである、テストシステム。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【公開番号】特開２００６−３４３３３６（Ｐ２００６−３４３３３６Ａ）
【公開日】平成１８年１２月２１日（２００６．１２．２１）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００６−１６０６０５（Ｐ２００６−１６０６０５）
【出願日】平成１８年６月９日（２００６．６．９）
【出願人】（５０６０７６６０６）アバゴ・テクノロジーズ・ジェネラル・アイピー（シンガポール）プライベート・リミテッド (129)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成１８年１２月２１日（２００６．１２．２１）
【国際特許分類】
【出願日】平成１８年６月９日（２００６．６．９）
【出願人】（５０６０７６６０６）アバゴ・テクノロジーズ・ジェネラル・アイピー（シンガポール）プライベート・リミテッド (129)
【Ｆターム（参考）】
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