プラズマ・ディスプレイ・パネルのドライバの過熱を回避するための方法および装置
【課題】
表示を行う際に完全なフレキシビリティを確保すると共に、過熱を回避する。
【解決手段】
プラズマ・ディスプレイ・パネルを駆動するための方法は、サブフィールド・データ・ビットのシーケンスの形態の表示用データをシリアルに受信し、この表示用データを各々が所定数のサブフィールド・データ・ビットからなるデータ・ブロックの形態でパラレルに転送するステップと、更に、隣接する、または先行するサブフィールド・データ・ビットのものとは異なる値を有するサブフィールド・データ・ビットをカウントし、各カウントの信号をプラズマ・ディスプレイ・パネルの駆動のために提供するステップとを含んでいる。結果として得られるカウント値は、サブフィールド・データ・ビットの熱寄与を示し、プラズマ・ディスプレイ・パネルを制御するために使用可能である。
表示を行う際に完全なフレキシビリティを確保すると共に、過熱を回避する。
【解決手段】
プラズマ・ディスプレイ・パネルを駆動するための方法は、サブフィールド・データ・ビットのシーケンスの形態の表示用データをシリアルに受信し、この表示用データを各々が所定数のサブフィールド・データ・ビットからなるデータ・ブロックの形態でパラレルに転送するステップと、更に、隣接する、または先行するサブフィールド・データ・ビットのものとは異なる値を有するサブフィールド・データ・ビットをカウントし、各カウントの信号をプラズマ・ディスプレイ・パネルの駆動のために提供するステップとを含んでいる。結果として得られるカウント値は、サブフィールド・データ・ビットの熱寄与を示し、プラズマ・ディスプレイ・パネルを制御するために使用可能である。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、サブフィールド・データ・ビットのシーケンスの形態の表示用データをシリアルに受信するステップと、この表示用データを、所定数のサブフィールド・データ・ビットのシーケンスからなるデータ・ブロックの形態でパラレルに転送するステップとを含む、プラズマ・ディスプレイ・パネルを駆動するための方法に関する。更に、本発明は、プラズマ・ディスプレイ・パネルを駆動するための対応する装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
図１は、公知のプラズマ・ディスプレイ・パネル（ＰＤＰ：Ｐｌａｓｍａ Ｄｉｓｐｌａｙ Ｐａｎｅｌ）の電子機器の主要な構造を示している。
【０００３】
プラズマ・ディスプレイ・パネル（ＰＤＰ）処理の中心部、即ち、ＰＤＰ ＩＣコントローラを含むディジタル基板１にビデオ信号が送信される。このＩＣ（集積回路）は、ＰＤＰに関連する全ての信号処理を取り扱い、ビデオ・データを通常のサブフィールド情報に変換する。更に、ＩＣは、全ての電力信号を、下記を含むハードウエアに送信する役目を果たす。
・現在選択されている各ラインの全てのセル３のためのビット（１または０）を、垂直電極上に送信するＰＤＰ２のデータ・ドライバＤ１〜Ｄ６
・書き込まれる行を順次選択するライン・ドライバＬ１、Ｌ２、Ｌ３
・サステイン（ｓｕｓｔａｉｎ）、消去、プライミング（ｐｒｉｍｉｎｇ）などの（ライン・ドライバと組み合わせた）グローバル信号を発生させる共通部４
【０００４】
図１に示すように、ＰＤＰセル３は、データ・ドライバ出力Ｄ１からの垂直電極と、ライン・ドライバ出力Ｌ１からの水平電極と、共通電子回路４からの水平電極との間の交差点として定義される。データ・ドライバＤ１〜Ｄ６は、図２を参照して説明されるシリアルからパラレルへの変換器である。各データ・ドライバＤｋ（ｎ個の出力）は、ＰＤＰ ＩＣコントローラからのラインｔのｎ個のサブフィールド・データ・ビット（Ｃｎ、ｔ）をシリアルに受信する。クロック信号（ｃｌｋ）によって定義される周波数で入力が発生する。
【０００５】
イネーブル信号（ＥＮＡ）の各開始エッジ上で、ドライバＤｋのｎ個の出力は、ＰＤＰ ＩＣから記憶されたｎ個の値をとる。実際には、データＣｎ、ｔがドライバＤｋの入力に送信されると、出力は、値Ｃｎ、ｔ−１をとる。イネーブル信号（ＥＮＡ）は、現在のラインｔ−１を駆動するために使用されるアドレス指定信号の中に含まれる。重要な点は、入力信号は「制御ロジック信号（低電圧）であり、出力信号は、電力信号（高電力、例えば６０Ｖ）である」という点である。
【０００６】
ドライバＤｋのアクティビティは、以下の２つの重要な点によって定義される。
・ドライバの入力でのアクティビティ（ドライバのローディング中に幾つの変更が発生しているか？）
・ドライバの出力でのアクティビティ（あるラインから別のラインに幾つの出力が変更されているか？） 更に、どのような変化が現れているかに気がつくことが重要である。実際、全ての出力が同じ値をとり、同時に変化している場合には、各出力が異なって変化している場合よりも、エネルギー消費が少ない。
【０００７】
上述の仮定の全てに基づき、図３に示すようにドライバ毎にクリティカル・テスト・パターンを定義することができる。
【０００８】
このパターンは、特に、高解像度での表示のための場合など、アドレス指定スピードが高速である（ｃｋｌおよびＥＮＡが高周波数の信号である）ときに、ドライバの過熱を招く。ドライバが長時間（多くのフレーム）に渡って過熱される場合には、ドライバのダメージ（損傷、破損）が決定的なものとなる。更に、今日、各ドライバは、ＰＤＰガラス上に接着剤を用いて接着され、交換を行うためにドライバを取り除くことはほぼ不可能である。従って、ドライバにダメージが生じた場合には、パネル全体を破棄することになる場合がある。
【０００９】
今日、このような問題を回避するための方法として、以下の３つの方法が想定される。
・アドレス指定スピードを制限する（ｃｌｋおよびＥＮＡの周波数を低くする）か、フレーム毎に使用されるサブフィールドの数を制限することによってこのような過熱を回避することを試みる技術的手法。
・標準的なピクチャのために図３に描かれた状態を軽減する（符号語の中のトグリング（トグルすること）を低減する）ような特定の符号化を使用することを試みる符号化手法。
・アドレス指定の間に使用されるサブフィールドの数を減少させるためにクリティカル・パターンを検出することを直接的に試みる信号処理手法。
【００１０】
図３の問題を招く通常の実際のパターンを図４に示す。
【００１１】
問題は、このパターンがほとんど発生しないものであっても、主に、ＰＣのアプリケーションの場合のみに現れることがあり、表示を堅牢な（ｒｏｂｕｓｔ）壊れないものにすべきである。これは、上述した解決法を必要とする。問題は、このような解決法が全ての可能性、全てのリスクをカバーするものでないということである。更に、幾つかの解決法（例えば、符号化手法）は、表示のフレキシビリティを制限し、ピクチャ品質（画質）に影響を与えることがある（例えば、サブフィールドの数が減少するか、最適な符号化が行われない）。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
本発明の目的は、過熱を回避し、表示を行う際に完全なフレキシビリティ（自由度）を確保することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
本発明によれば、この目的は、プラズマ・ディスプレイ・パネルにおいてドライバ回路の過熱を回避するための方法であって、ドライバ回路が、サブフィールド・データ・ビットのシーケンスの形態の表示用データをシリアルに受信し、表示用データを各々が所定数のサブフィールド・データ・ビットからなるデータ・ブロックの形態でパラレルに転送し、
隣接するサブフィールド・データ・ビット、または、先行するサブフィールド・データ・ビットのものとは値が異なるサブフィールド・データ・ビットをカウントし、ドライバ回路の温度を表す各カウント信号を提供するステップと、
カウント信号が所定の閾値を超えている場合に、温度を低下させる対策を実行するステップと、を含む方法によって解決される。
【００１４】
更に、プラズマ・ディスプレイ・パネルにおいてドライバ回路の過熱を回避するための方法であって、ドライバ回路がサブフィールド・データ・ビットのシーケンスの形態の表示用データをシリアルに受信し、表示用データを各々が所定数のサブフィールド・データ・ビットからなるデータ・ブロックの形態でパラレルに転送し、
各サブフィールド・データ・ビットについて、当該サブフィールド・データ・ビットの値と隣接するサブフィールド・データの値の関係を表す遷移情報を決定するステップと、
隣接するサブフィールド・データ・ビット、または、先行するサブフィールド・データ・ビットのものとは値が異なるサブフィールド・データ・ビット、および／または、先行するサブフィールド・データ・ビットのものとは値が異なる遷移情報をカウントし、ドライバ回路の温度を表す各カウント信号を提供するステップと、
カウント信号が所定の閾値を超えている場合に、温度を低下させる対策を実行するステップと、を含む方法が提供される。
【００１５】
更に、上記目的は、プラズマ・ディスプレイ・パネルにおいてドライバ回路の過熱を回避するための装置であって、ドライバ回路が、サブフィールド・データ・ビットのシーケンスの形態の表示用データをシリアルに受信し、表示用データを各々が所定数のサブフィールド・データ・ビットからなるデータ・ブロックの形態でパラレルに転送し、
隣接するサブフィールド・データ・ビット、または、先行するサブフィールド・データ・ビットのものとは値が異なるサブフィールド・データ・ビットをカウントし、ドライバ回路の温度を表す各カウント信号を提供するカウント手段と、
カウント信号が所定の閾値を超えている場合に、温度を低下させる対策を実行する制御手段と、を含む装置によって解決される。
【００１６】
最後に、本発明によれば、プラズマ・ディスプレイ・パネルにおいてドライバ回路の過熱を回避するための装置であって、ドライバ回路が、サブフィールド・データ・ビットのシーケンスの形態の表示用データをシリアルに受信し、表示用データを各々が所定数のサブフィールド・データ・ビットからなるデータ・ブロックの形態でパラレルに転送し、
各サブフィールド・データ・ビットについて、当該サブフィールド・データ・ビットの値と隣接するサブフィールド・データの値の関係を表す遷移情報を決定するデータ処理手段と、
隣接するサブフィールド・データ・ビット、または、先行するサブフィールド・データ・ビットのものとは値が異なるサブフィールド・データ・ビット、および／または、先行するサブフィールド・データ・ビットのものとは値が異なる遷移情報をカウントし、ドライバ回路の温度を表す各カウント信号を提供するカウント手段と、
カウント信号が所定の閾値を超えている場合に、温度を低下させる対策を実行する制御手段と、を含む装置が提供される。
【００１７】
従って、データ・ドライバの過熱が発生せず、表示を行う際に完全なフレキシビリティ（必要な数のサブフィールド、可能な限り高速なアドレス指定、完全に最適化された符号化など）を確保するために、極めて信頼性の高い解決法が提供される。好ましくは、受信したサブフィールド・データ・ビットの値が前に受信した隣接するサブフィールド・データ・ビットの値とは異なる場合に、入力カウンタの値が増加される。これにより、ドライバのローディング中に発生する変化の数が考慮される。
【００１８】
更に、データ・ブロックのサブフィールド・データ・ビットの値が先行するデータ・ブロックの対応するサブフィールド・データ・ビットの値のものとは異なる場合に、出力カウンタの値が増加されるようにしてもよい。代替的には、または、追加的には、データ・ブロックのサブフィールド・データ・ビットの前記遷移情報が先行するデータ・ブロックの対応するサブフィールド・データ・ビットのものとは異なる場合に、ステージ・カウンタの値が増加されるようにしてもよい。これにより、ドライバの出力のアクティビティ、即ち、あるラインから別のラインに変化している出力が幾つあるかが考慮される。
【００１９】
好適には、対策を実行するステップが、オプションとして、入力カウンタ、出力カウンタ、およびステージ・カウンタのうちの少なくとも２つのカウンタのカウンタ値に基づいて前記プラズマ・ディスプレイ・パネルの利得（ゲイン）、または、フレーム毎に使用されるサブフィールドの数を減少させるための過熱信号を発生させるステップを含んでいる。従って、過熱レベルに関する有用な値が作成される。
【００２０】
プラズマ・ディスプレイ・デバイスが上述のドライバ装置を複数含む場合には、各々がディスプレイ・パネルのドライバ回路に関連付けられ、各装置に対し過熱信号を発生可能であるとよく、１つの装置の過熱信号が所定の閾値を超えている場合、所定の数を超える装置の各過熱信号が所定の閾値を超えている場合、または、所定の数を超える隣接する装置の各過熱信号が閾値を超えている場合に、利得またはサブフィールドの数を減少させることが可能であるとよい。これにより、過熱の状態に対して信頼性のある決定を導くことができる。
【図面の簡単な説明】
【００２１】
【図１】図１は、ＰＤＰの電子的な構造全体を示す図である。
【図２】図２は、データ・ドライバの主要部を示す図である。
【図３】図３は、クリティカル・テスト・パターンを示す図である。
【図４】図４は、クリティカル・ビデオ・パターンを示す図である。
【図５】図５は、エミュレータ・ブロックを示す図である。
【図６】図６は、本発明に係るプラズマ・ディスプレイ・パネルの実施態様の概念を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００２２】
図面に示された本発明の各例示的な実施の形態について、以下詳細に説明する。
【００２３】
データ・ドライバの過熱を回避する堅牢なシステムを提供するために、ドライバ・システムの各ドライバは、ＥＭＵ＿ＤＲｋと呼ばれるブロックによりＰＤＰ ＩＣコントローラの内部でエミュレートされる。このようなブロックを図５に示す。
【００２４】
過熱寄与を評価するために使用される各情報Ｃｘ、ｔは、以下の２つのタイプの情報を含んでいる。
・Ｃｘ、ｔの値−１または１、更に、
・３つのステージ＜、＝、＞をとりえる、前のＣｘ−１、ｔに対するＣｘ、ｔの水平方向の遷移（ｔｒａｎｓｉｔｉｏｎ）
【００２５】
図５に示すエミュレータ・ブロック５は、各ドライバのために以下の項目を評価する複合カウンタ（ｃｏｍｐｌｅｘ ｃｏｕｎｔｅｒ）である。
・２つの連続した、即ち、水平方向に隣接する入力Ｃｘ、ｔ＋１およびＣｘ＋１、ｔ＋１の間の差の数をカウントすることによる入力のアクティビティ（ａｃｔｉｖｉｔｙ）。遷移（１→０、または、０→１）が検出される毎に、入力カウンタＣｎｔ＿ＩＮｋがこのような遷移によるドライバＤｋに対する過熱の影響を示す値ＨＥＡＴ＿ＩＮだけ増加する。
・メモリＭＥＭ＿ＢＬＫｋ内に完全なドライバ出力データ・ブロック（例えば、９６個の出力の場合は９６個の値）のデータを記憶することによる出力のアクティビティ。新たなデータＣｘ、ｔ＋１が発生する毎に、メモリ内の従前の値Ｃｘ、ｔが置換され、Ｃｘ、ｔ＋１、およびＣｘ、ｔの値が異なる場合には、Ｃｎｔ＿ＯＵＴｋと呼ばれるカウンタが値ＨＥＡＴ＿ＯＵＴだけ増加する。Ｃｘ、ｔ＋１、およびＣｘ、ｔのステージが異なる場合には（例えば、＜から＝に変化するなどの場合には）、それぞれ、カウンタＣｎｔ＿ＯＵＴ＿Ｄｉｆｆが値ＨＥＡＴ＿ＤＩＦＦだけ増加する。値ＨＥＡＴ＿ＯＵＴおよび値ＨＥＡＴ＿ＯＵＴ＿ＤＩＦＦは、出力トグリングの熱寄与を表す。
【００２６】
一般的な熱カウンタＨＥＡＴｋ ＝ Ｃｎｔ＿ＩＮｋ ＋ Ｃｎｔ＿ＯＵＴｋ ＋ Ｃｎｔ＿ＯＵＴ＿Ｄｉｆｆｋは、ドライバＤｋの熱を表す。このドライバは、新たな出力フレーム毎に垂直同期信号Ｖに基づいてリセットされる。この値は、閾値ＯＶＥＲＨＥＡＴと比較される。
【００２７】
ここで、以下の状態の際に反応が可能である。
（１）単一のドライバＤｋがＨＥＡＴｋ＞ＯＶＥＲＨＥＡＴとなるように過熱されている状態
（２）ｐ個の異なるドライバがＨＥＡＴｋ＞ＯＶＥＲＨＥＡＴの状態
（３）ｐ個の隣接するドライバがＨＥＡＴｍ＞ＯＶＥＲＨＥＡＴであり、ｍ∈［ｋ−ｐ；ｋ］である状態
【００２８】
３つの異なる閾値ＯＶＥＲＨＥＡＴ１、ＯＶＥＲＨＥＡＴ２、およびＯＶＥＲＨＥＡＴ３を使用することによって３つの状態を全て使用することが可能である。ここで、ＯＶＥＲＨＥＡＴ１＞ＯＶＥＲＨＥＡＴ２＞ＯＥＲＨＥＡＴ３である。
【００２９】
過熱が発生しているかどうかの最終的な決定は、上に挙げた３つの可能性に基づく。この決定は、電子的な挙動に依存してプログラム可能である。
【００３０】
過熱が検出されるとすぐに、過熱を減らすために、アドレス指定コンセプトの何らかの変更が行われるとよい。しかしながら、過熱の問題は、１つのフレームのみに表れる「定時の（ｐｕｎｃｔｕａｌ）」問題ではなく、このフレームの間にパネルを破損させることがある。つまり、過熱が長時間発生する場合のみにこのような問題が生じることがある。
【００３１】
従って、過熱が発生しているフレームの数がカウントされる。
決定は、以下のように行われる
・３つの過熱基準（１）、（２）、（３）のうちの１つが検出されたとき、ＯＶＥＲＨＥＡＴ＿ＦＲＡＭＥの値が増加される（ここで、ＯＶＥＲＨＥＡＴ ＦＲＡＭＥ１、ＯＶＥＲＨＥＡＴ ＦＲＡＭＥ２、ＯＶＥＲＨＥＡＴ ＦＲＡＭＥ３を使用することによって、３つの条件の全てを使用することもできる）。
・過熱基準が有効でなくなるとすぐに、ＯＶＥＲＨＥＡＴ＿ＦＲＡＭＥ の値が減少される。
【００３２】
ＯＶＥＲＨＥＡＴ＿ＦＲＡＭＥの値が０に減少すると、これ以上は減少しない（０がこのカウンタの最小値である）。
【００３３】
ＯＶＥＲＨＥＡＴ＿ＦＲＡＭＥがＯＶＥＲＨＥＡＴ＿ＤＡＮＧＥＲに達すると、実際の対策が実行される。例えば、ＯＶＥＲＨＥＡＴ＿ＦＲＡＭＥは２×ＯＶＥＲＨＥＡＴ＿ＤＡＮＧＥＲ ＋ ＭＡＲＧＩＮまで増加される（これは、ＯＶＥＲＨＥＡＴ＿ＦＡＭＥカウンタが到達する最高値である）。ＭＡＲＧＩＮは、正または負のパラメータである。
【００３４】
危険が検出されるとすぐに対策が実行される。この対策により、フレーム毎のデータ・ドライバにおけるハイアクティビティを回避できるとよい。危険が検出された場合には、フレーム毎に使用するサブフィールドの数を減少させることも想定される。
【００３５】
これを実行するために、フレームにおける最高のビデオ・レベルがこのフレームに使用されるサブフィールドの最大値を定義することが分かっていることが重要である。実際、レベル２５５を符号化するためには、全てのサブフィールドをオンに切り換えなければならない。逆に、レベル６４を符号化するためには、サブフィールドの量を減らしたもののみが使用される。
【００３６】
危険が検出されたときにドライバの過熱を低減するコンセプトは、入力されるビデオの信号振幅を減少させることに基づく。これは、１よりも小さな利得を有する乗算器（コントラストのためなど）を用いて実施される。この場合、最高のビデオ・レベルが減少され、必要なサブフィールドの数が少なくなる。
【００３７】
減少は、ピクチャの変化が視覚的に認められないように、非常にゆっくりと行われる。この減少は、ＯＶＥＲＨＥＡＴ＿ＦＲＡＭＥ＞ＯＶＥＲＨＥＡＴ＿ＤＡＮＧＥＲである限り継続する。この状態が失われると、ビデオの利得はゆっくりと１に戻るように変更される。この目的は、ＯＶＥＲＨＥＡＴ＿ＦＲＡＭＥがＯＶＥＲＨＥＡＴ＿ＤＡＮＧＥＲのすぐ下になるように利得を自動的に調節することである。
【００３８】
更に、ヒステリシス関数が利得変化に追加されて全く視覚的に認められないような振動でさえも回避されるとよい。
【００３９】
図６は、上述した解決法の想定可能な実施態様を示している。
【００４０】
ディジタル基板１は、図１に示した場合と概ね同様にＰＤＰ２を制御する。従って、データ・ドライバＤ１〜Ｄｎ、共通部４におけるライン・ドライバＬ１〜Ｌｆについては、図１の説明を参照されたい。しかしながら、図６によれば、ライン・ドライバＬ１〜Ｌｆおよび共通部４は、具体的には、ディジタル基板１に含まれる波形発生器６によって駆動される。ビデオ入力信号１０は、ガンマ変換ブロック１１に転送され、以下の演算が実行される。ＩＯＵＴ＝（Ｉｉｎ）ｙ、通常γ＝２．２である。このブロック１１の出力は、ドライバ過熱に対して信号振幅を調節するために必要な別の利得乗算器１２に供給される。乗算器が使用されない場合には、サブフィールドの量を減少させるための他の解決法を使用することも可能であるが、効率は劣っている。
【００４１】
次に、その出力は、ビデオ機能、ディザリング、およびサブフィールド符号化を含む、標準的なＰＤＰ機能１３に対して転送される。符号化された信号は、サブフィールド単位、更に、画素単位でフレーム・メモリ１４内に記憶される。
【００４２】
フレーム・メモリ１４の出力は、サブフィールド単位、更に、ライン単位で読み出され、データ・ドライバＤ１〜Ｄｎに送信され、同時に、ドライバ加熱エミュレーション・ブロックＥＭＵ＿ＤＲｋに送信される。なお、０≦ｋ≦ｎである。このブロックは、それぞれ、値ＨＥＡＴｋ ＝Ｃｎｔ＿ＩＮｋ ＋ Ｃｎｔ＿ＯＵＴｋを評価する。オプションとして、値ＨＥＡＴｋにＣｎｔ＿ＯＵＴ＿Ｄｉｆｆｋを更に追加することもできる。次に、この値は、制御手段に提供され、値ＨＥＡＴｋが所定の閾値を超えている場合には、データ・ドライバＤｋの温度を低下させるための対策が実施される。
【００４３】
これらのエミュレータの出力は全て収集され、カウンタＯＶＥＲＨＥＡＴ＿ＦＲＡＭＥ１５が（１）、（２）、または、（３）の方法に従って増加されなければならないか減少されなければならないかを判定するために分析される。この値には飛びや振動を低減するために、ヒステリシス関数１６によってフィルタがかけられる。
【００４４】
最後に、比較１７に依存して、値ＯＶＥＲＨＥＡＴ＿ＦＲＡＭＥがＯＶＥＲＨＥＡＴ＿ＤＡＮＧＥＲよりも大きいか、または小さい場合には、これに応じてガンマ・ブロック１１の直後に位置する乗算器１２の利得が減少、または増加される。
【００４５】
この解決法の利点は、単純にサブフィールドを抑制する場合と比べてビデオ情報のロスを回避すること、（更に、グレイスケール品質の低下を回避すること）である。代替的には、ビデオ利得はガンマ・ブロック１１の前に存在し、従って、ＡＰＬ測定（図示せず）の前に存在してもよい。この場合、利得を減少させることによって、ＡＰＬが減少し、標準的なＰＤＰの電力管理によりサステインの数が増加する。結果として、大変安定した光出力が得られる。ここでは、グレイスケール・ダイナミック（ｇｒａｙｓｃａｌｅ ｄｙｎａｍｉｃ）のみが減少する。
【００４６】
このコンセプトを改善させるために、利得に対して時間領域内のローパス・フィルタ処理が実行され、符号化手法の使用後の振動が回避される。この場合、実際の利得（Ｇａｉｎｕｓｅｄ）は以下のように定義される。
【数１】
【００４７】
値Ｔを増加させることによって、Ｔが最大の加熱時間（図４に示すクリティカル・テスト・パターンの場合にはドライバ温度がクリティカル・ポイントに達した後の時間）よりも短い限り、ドライバの加熱の問題に対する追加のリスクを招くことなく、特定の符号化方法の影響が軽減される。
【００４８】
オプションとして、クリティカルなシーケンスに対する更なる改良が実現可能である。危険が検出されると、以下の利得関数の前に、ピクチャに対して、特定の空間フィルタ処理が実施される。
【数２】
【００４９】
この例示的な関数により、図４に示すクリティカルな差異が低減されるが、鮮明さ（ｓｈａｒｐｎｅｓｓ：シャープネス）が最低限低下することとなる。これはオプションのコンセプトでありシステム・インテグレータに依存して実施してもよく、ＯＶＥＲＨＥＡＴ＿ＦＲＡＭＥが極めて高い値ＯＶＥＲＨＥＡＴ＿ＳＴＲＯＮＧ＿ＤＡＮＧＥＲに達した場合に自動的に実施してもよい。
【符号の説明】
【００５０】
１ ディジタル基盤
２ ＰＤＰ
３ ＰＤＰセル
４ 共通電子回路
５ エミュレータ・ブロック
６ 波形発生器
１２ 利得乗算器
１４ フレーム・メモリ
【技術分野】
【０００１】
本発明は、サブフィールド・データ・ビットのシーケンスの形態の表示用データをシリアルに受信するステップと、この表示用データを、所定数のサブフィールド・データ・ビットのシーケンスからなるデータ・ブロックの形態でパラレルに転送するステップとを含む、プラズマ・ディスプレイ・パネルを駆動するための方法に関する。更に、本発明は、プラズマ・ディスプレイ・パネルを駆動するための対応する装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
図１は、公知のプラズマ・ディスプレイ・パネル（ＰＤＰ：Ｐｌａｓｍａ Ｄｉｓｐｌａｙ Ｐａｎｅｌ）の電子機器の主要な構造を示している。
【０００３】
プラズマ・ディスプレイ・パネル（ＰＤＰ）処理の中心部、即ち、ＰＤＰ ＩＣコントローラを含むディジタル基板１にビデオ信号が送信される。このＩＣ（集積回路）は、ＰＤＰに関連する全ての信号処理を取り扱い、ビデオ・データを通常のサブフィールド情報に変換する。更に、ＩＣは、全ての電力信号を、下記を含むハードウエアに送信する役目を果たす。
・現在選択されている各ラインの全てのセル３のためのビット（１または０）を、垂直電極上に送信するＰＤＰ２のデータ・ドライバＤ１〜Ｄ６
・書き込まれる行を順次選択するライン・ドライバＬ１、Ｌ２、Ｌ３
・サステイン（ｓｕｓｔａｉｎ）、消去、プライミング（ｐｒｉｍｉｎｇ）などの（ライン・ドライバと組み合わせた）グローバル信号を発生させる共通部４
【０００４】
図１に示すように、ＰＤＰセル３は、データ・ドライバ出力Ｄ１からの垂直電極と、ライン・ドライバ出力Ｌ１からの水平電極と、共通電子回路４からの水平電極との間の交差点として定義される。データ・ドライバＤ１〜Ｄ６は、図２を参照して説明されるシリアルからパラレルへの変換器である。各データ・ドライバＤｋ（ｎ個の出力）は、ＰＤＰ ＩＣコントローラからのラインｔのｎ個のサブフィールド・データ・ビット（Ｃｎ、ｔ）をシリアルに受信する。クロック信号（ｃｌｋ）によって定義される周波数で入力が発生する。
【０００５】
イネーブル信号（ＥＮＡ）の各開始エッジ上で、ドライバＤｋのｎ個の出力は、ＰＤＰ ＩＣから記憶されたｎ個の値をとる。実際には、データＣｎ、ｔがドライバＤｋの入力に送信されると、出力は、値Ｃｎ、ｔ−１をとる。イネーブル信号（ＥＮＡ）は、現在のラインｔ−１を駆動するために使用されるアドレス指定信号の中に含まれる。重要な点は、入力信号は「制御ロジック信号（低電圧）であり、出力信号は、電力信号（高電力、例えば６０Ｖ）である」という点である。
【０００６】
ドライバＤｋのアクティビティは、以下の２つの重要な点によって定義される。
・ドライバの入力でのアクティビティ（ドライバのローディング中に幾つの変更が発生しているか？）
・ドライバの出力でのアクティビティ（あるラインから別のラインに幾つの出力が変更されているか？） 更に、どのような変化が現れているかに気がつくことが重要である。実際、全ての出力が同じ値をとり、同時に変化している場合には、各出力が異なって変化している場合よりも、エネルギー消費が少ない。
【０００７】
上述の仮定の全てに基づき、図３に示すようにドライバ毎にクリティカル・テスト・パターンを定義することができる。
【０００８】
このパターンは、特に、高解像度での表示のための場合など、アドレス指定スピードが高速である（ｃｋｌおよびＥＮＡが高周波数の信号である）ときに、ドライバの過熱を招く。ドライバが長時間（多くのフレーム）に渡って過熱される場合には、ドライバのダメージ（損傷、破損）が決定的なものとなる。更に、今日、各ドライバは、ＰＤＰガラス上に接着剤を用いて接着され、交換を行うためにドライバを取り除くことはほぼ不可能である。従って、ドライバにダメージが生じた場合には、パネル全体を破棄することになる場合がある。
【０００９】
今日、このような問題を回避するための方法として、以下の３つの方法が想定される。
・アドレス指定スピードを制限する（ｃｌｋおよびＥＮＡの周波数を低くする）か、フレーム毎に使用されるサブフィールドの数を制限することによってこのような過熱を回避することを試みる技術的手法。
・標準的なピクチャのために図３に描かれた状態を軽減する（符号語の中のトグリング（トグルすること）を低減する）ような特定の符号化を使用することを試みる符号化手法。
・アドレス指定の間に使用されるサブフィールドの数を減少させるためにクリティカル・パターンを検出することを直接的に試みる信号処理手法。
【００１０】
図３の問題を招く通常の実際のパターンを図４に示す。
【００１１】
問題は、このパターンがほとんど発生しないものであっても、主に、ＰＣのアプリケーションの場合のみに現れることがあり、表示を堅牢な（ｒｏｂｕｓｔ）壊れないものにすべきである。これは、上述した解決法を必要とする。問題は、このような解決法が全ての可能性、全てのリスクをカバーするものでないということである。更に、幾つかの解決法（例えば、符号化手法）は、表示のフレキシビリティを制限し、ピクチャ品質（画質）に影響を与えることがある（例えば、サブフィールドの数が減少するか、最適な符号化が行われない）。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
本発明の目的は、過熱を回避し、表示を行う際に完全なフレキシビリティ（自由度）を確保することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
本発明によれば、この目的は、プラズマ・ディスプレイ・パネルにおいてドライバ回路の過熱を回避するための方法であって、ドライバ回路が、サブフィールド・データ・ビットのシーケンスの形態の表示用データをシリアルに受信し、表示用データを各々が所定数のサブフィールド・データ・ビットからなるデータ・ブロックの形態でパラレルに転送し、
隣接するサブフィールド・データ・ビット、または、先行するサブフィールド・データ・ビットのものとは値が異なるサブフィールド・データ・ビットをカウントし、ドライバ回路の温度を表す各カウント信号を提供するステップと、
カウント信号が所定の閾値を超えている場合に、温度を低下させる対策を実行するステップと、を含む方法によって解決される。
【００１４】
更に、プラズマ・ディスプレイ・パネルにおいてドライバ回路の過熱を回避するための方法であって、ドライバ回路がサブフィールド・データ・ビットのシーケンスの形態の表示用データをシリアルに受信し、表示用データを各々が所定数のサブフィールド・データ・ビットからなるデータ・ブロックの形態でパラレルに転送し、
各サブフィールド・データ・ビットについて、当該サブフィールド・データ・ビットの値と隣接するサブフィールド・データの値の関係を表す遷移情報を決定するステップと、
隣接するサブフィールド・データ・ビット、または、先行するサブフィールド・データ・ビットのものとは値が異なるサブフィールド・データ・ビット、および／または、先行するサブフィールド・データ・ビットのものとは値が異なる遷移情報をカウントし、ドライバ回路の温度を表す各カウント信号を提供するステップと、
カウント信号が所定の閾値を超えている場合に、温度を低下させる対策を実行するステップと、を含む方法が提供される。
【００１５】
更に、上記目的は、プラズマ・ディスプレイ・パネルにおいてドライバ回路の過熱を回避するための装置であって、ドライバ回路が、サブフィールド・データ・ビットのシーケンスの形態の表示用データをシリアルに受信し、表示用データを各々が所定数のサブフィールド・データ・ビットからなるデータ・ブロックの形態でパラレルに転送し、
隣接するサブフィールド・データ・ビット、または、先行するサブフィールド・データ・ビットのものとは値が異なるサブフィールド・データ・ビットをカウントし、ドライバ回路の温度を表す各カウント信号を提供するカウント手段と、
カウント信号が所定の閾値を超えている場合に、温度を低下させる対策を実行する制御手段と、を含む装置によって解決される。
【００１６】
最後に、本発明によれば、プラズマ・ディスプレイ・パネルにおいてドライバ回路の過熱を回避するための装置であって、ドライバ回路が、サブフィールド・データ・ビットのシーケンスの形態の表示用データをシリアルに受信し、表示用データを各々が所定数のサブフィールド・データ・ビットからなるデータ・ブロックの形態でパラレルに転送し、
各サブフィールド・データ・ビットについて、当該サブフィールド・データ・ビットの値と隣接するサブフィールド・データの値の関係を表す遷移情報を決定するデータ処理手段と、
隣接するサブフィールド・データ・ビット、または、先行するサブフィールド・データ・ビットのものとは値が異なるサブフィールド・データ・ビット、および／または、先行するサブフィールド・データ・ビットのものとは値が異なる遷移情報をカウントし、ドライバ回路の温度を表す各カウント信号を提供するカウント手段と、
カウント信号が所定の閾値を超えている場合に、温度を低下させる対策を実行する制御手段と、を含む装置が提供される。
【００１７】
従って、データ・ドライバの過熱が発生せず、表示を行う際に完全なフレキシビリティ（必要な数のサブフィールド、可能な限り高速なアドレス指定、完全に最適化された符号化など）を確保するために、極めて信頼性の高い解決法が提供される。好ましくは、受信したサブフィールド・データ・ビットの値が前に受信した隣接するサブフィールド・データ・ビットの値とは異なる場合に、入力カウンタの値が増加される。これにより、ドライバのローディング中に発生する変化の数が考慮される。
【００１８】
更に、データ・ブロックのサブフィールド・データ・ビットの値が先行するデータ・ブロックの対応するサブフィールド・データ・ビットの値のものとは異なる場合に、出力カウンタの値が増加されるようにしてもよい。代替的には、または、追加的には、データ・ブロックのサブフィールド・データ・ビットの前記遷移情報が先行するデータ・ブロックの対応するサブフィールド・データ・ビットのものとは異なる場合に、ステージ・カウンタの値が増加されるようにしてもよい。これにより、ドライバの出力のアクティビティ、即ち、あるラインから別のラインに変化している出力が幾つあるかが考慮される。
【００１９】
好適には、対策を実行するステップが、オプションとして、入力カウンタ、出力カウンタ、およびステージ・カウンタのうちの少なくとも２つのカウンタのカウンタ値に基づいて前記プラズマ・ディスプレイ・パネルの利得（ゲイン）、または、フレーム毎に使用されるサブフィールドの数を減少させるための過熱信号を発生させるステップを含んでいる。従って、過熱レベルに関する有用な値が作成される。
【００２０】
プラズマ・ディスプレイ・デバイスが上述のドライバ装置を複数含む場合には、各々がディスプレイ・パネルのドライバ回路に関連付けられ、各装置に対し過熱信号を発生可能であるとよく、１つの装置の過熱信号が所定の閾値を超えている場合、所定の数を超える装置の各過熱信号が所定の閾値を超えている場合、または、所定の数を超える隣接する装置の各過熱信号が閾値を超えている場合に、利得またはサブフィールドの数を減少させることが可能であるとよい。これにより、過熱の状態に対して信頼性のある決定を導くことができる。
【図面の簡単な説明】
【００２１】
【図１】図１は、ＰＤＰの電子的な構造全体を示す図である。
【図２】図２は、データ・ドライバの主要部を示す図である。
【図３】図３は、クリティカル・テスト・パターンを示す図である。
【図４】図４は、クリティカル・ビデオ・パターンを示す図である。
【図５】図５は、エミュレータ・ブロックを示す図である。
【図６】図６は、本発明に係るプラズマ・ディスプレイ・パネルの実施態様の概念を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００２２】
図面に示された本発明の各例示的な実施の形態について、以下詳細に説明する。
【００２３】
データ・ドライバの過熱を回避する堅牢なシステムを提供するために、ドライバ・システムの各ドライバは、ＥＭＵ＿ＤＲｋと呼ばれるブロックによりＰＤＰ ＩＣコントローラの内部でエミュレートされる。このようなブロックを図５に示す。
【００２４】
過熱寄与を評価するために使用される各情報Ｃｘ、ｔは、以下の２つのタイプの情報を含んでいる。
・Ｃｘ、ｔの値−１または１、更に、
・３つのステージ＜、＝、＞をとりえる、前のＣｘ−１、ｔに対するＣｘ、ｔの水平方向の遷移（ｔｒａｎｓｉｔｉｏｎ）
【００２５】
図５に示すエミュレータ・ブロック５は、各ドライバのために以下の項目を評価する複合カウンタ（ｃｏｍｐｌｅｘ ｃｏｕｎｔｅｒ）である。
・２つの連続した、即ち、水平方向に隣接する入力Ｃｘ、ｔ＋１およびＣｘ＋１、ｔ＋１の間の差の数をカウントすることによる入力のアクティビティ（ａｃｔｉｖｉｔｙ）。遷移（１→０、または、０→１）が検出される毎に、入力カウンタＣｎｔ＿ＩＮｋがこのような遷移によるドライバＤｋに対する過熱の影響を示す値ＨＥＡＴ＿ＩＮだけ増加する。
・メモリＭＥＭ＿ＢＬＫｋ内に完全なドライバ出力データ・ブロック（例えば、９６個の出力の場合は９６個の値）のデータを記憶することによる出力のアクティビティ。新たなデータＣｘ、ｔ＋１が発生する毎に、メモリ内の従前の値Ｃｘ、ｔが置換され、Ｃｘ、ｔ＋１、およびＣｘ、ｔの値が異なる場合には、Ｃｎｔ＿ＯＵＴｋと呼ばれるカウンタが値ＨＥＡＴ＿ＯＵＴだけ増加する。Ｃｘ、ｔ＋１、およびＣｘ、ｔのステージが異なる場合には（例えば、＜から＝に変化するなどの場合には）、それぞれ、カウンタＣｎｔ＿ＯＵＴ＿Ｄｉｆｆが値ＨＥＡＴ＿ＤＩＦＦだけ増加する。値ＨＥＡＴ＿ＯＵＴおよび値ＨＥＡＴ＿ＯＵＴ＿ＤＩＦＦは、出力トグリングの熱寄与を表す。
【００２６】
一般的な熱カウンタＨＥＡＴｋ ＝ Ｃｎｔ＿ＩＮｋ ＋ Ｃｎｔ＿ＯＵＴｋ ＋ Ｃｎｔ＿ＯＵＴ＿Ｄｉｆｆｋは、ドライバＤｋの熱を表す。このドライバは、新たな出力フレーム毎に垂直同期信号Ｖに基づいてリセットされる。この値は、閾値ＯＶＥＲＨＥＡＴと比較される。
【００２７】
ここで、以下の状態の際に反応が可能である。
（１）単一のドライバＤｋがＨＥＡＴｋ＞ＯＶＥＲＨＥＡＴとなるように過熱されている状態
（２）ｐ個の異なるドライバがＨＥＡＴｋ＞ＯＶＥＲＨＥＡＴの状態
（３）ｐ個の隣接するドライバがＨＥＡＴｍ＞ＯＶＥＲＨＥＡＴであり、ｍ∈［ｋ−ｐ；ｋ］である状態
【００２８】
３つの異なる閾値ＯＶＥＲＨＥＡＴ１、ＯＶＥＲＨＥＡＴ２、およびＯＶＥＲＨＥＡＴ３を使用することによって３つの状態を全て使用することが可能である。ここで、ＯＶＥＲＨＥＡＴ１＞ＯＶＥＲＨＥＡＴ２＞ＯＥＲＨＥＡＴ３である。
【００２９】
過熱が発生しているかどうかの最終的な決定は、上に挙げた３つの可能性に基づく。この決定は、電子的な挙動に依存してプログラム可能である。
【００３０】
過熱が検出されるとすぐに、過熱を減らすために、アドレス指定コンセプトの何らかの変更が行われるとよい。しかしながら、過熱の問題は、１つのフレームのみに表れる「定時の（ｐｕｎｃｔｕａｌ）」問題ではなく、このフレームの間にパネルを破損させることがある。つまり、過熱が長時間発生する場合のみにこのような問題が生じることがある。
【００３１】
従って、過熱が発生しているフレームの数がカウントされる。
決定は、以下のように行われる
・３つの過熱基準（１）、（２）、（３）のうちの１つが検出されたとき、ＯＶＥＲＨＥＡＴ＿ＦＲＡＭＥの値が増加される（ここで、ＯＶＥＲＨＥＡＴ ＦＲＡＭＥ１、ＯＶＥＲＨＥＡＴ ＦＲＡＭＥ２、ＯＶＥＲＨＥＡＴ ＦＲＡＭＥ３を使用することによって、３つの条件の全てを使用することもできる）。
・過熱基準が有効でなくなるとすぐに、ＯＶＥＲＨＥＡＴ＿ＦＲＡＭＥ の値が減少される。
【００３２】
ＯＶＥＲＨＥＡＴ＿ＦＲＡＭＥの値が０に減少すると、これ以上は減少しない（０がこのカウンタの最小値である）。
【００３３】
ＯＶＥＲＨＥＡＴ＿ＦＲＡＭＥがＯＶＥＲＨＥＡＴ＿ＤＡＮＧＥＲに達すると、実際の対策が実行される。例えば、ＯＶＥＲＨＥＡＴ＿ＦＲＡＭＥは２×ＯＶＥＲＨＥＡＴ＿ＤＡＮＧＥＲ ＋ ＭＡＲＧＩＮまで増加される（これは、ＯＶＥＲＨＥＡＴ＿ＦＡＭＥカウンタが到達する最高値である）。ＭＡＲＧＩＮは、正または負のパラメータである。
【００３４】
危険が検出されるとすぐに対策が実行される。この対策により、フレーム毎のデータ・ドライバにおけるハイアクティビティを回避できるとよい。危険が検出された場合には、フレーム毎に使用するサブフィールドの数を減少させることも想定される。
【００３５】
これを実行するために、フレームにおける最高のビデオ・レベルがこのフレームに使用されるサブフィールドの最大値を定義することが分かっていることが重要である。実際、レベル２５５を符号化するためには、全てのサブフィールドをオンに切り換えなければならない。逆に、レベル６４を符号化するためには、サブフィールドの量を減らしたもののみが使用される。
【００３６】
危険が検出されたときにドライバの過熱を低減するコンセプトは、入力されるビデオの信号振幅を減少させることに基づく。これは、１よりも小さな利得を有する乗算器（コントラストのためなど）を用いて実施される。この場合、最高のビデオ・レベルが減少され、必要なサブフィールドの数が少なくなる。
【００３７】
減少は、ピクチャの変化が視覚的に認められないように、非常にゆっくりと行われる。この減少は、ＯＶＥＲＨＥＡＴ＿ＦＲＡＭＥ＞ＯＶＥＲＨＥＡＴ＿ＤＡＮＧＥＲである限り継続する。この状態が失われると、ビデオの利得はゆっくりと１に戻るように変更される。この目的は、ＯＶＥＲＨＥＡＴ＿ＦＲＡＭＥがＯＶＥＲＨＥＡＴ＿ＤＡＮＧＥＲのすぐ下になるように利得を自動的に調節することである。
【００３８】
更に、ヒステリシス関数が利得変化に追加されて全く視覚的に認められないような振動でさえも回避されるとよい。
【００３９】
図６は、上述した解決法の想定可能な実施態様を示している。
【００４０】
ディジタル基板１は、図１に示した場合と概ね同様にＰＤＰ２を制御する。従って、データ・ドライバＤ１〜Ｄｎ、共通部４におけるライン・ドライバＬ１〜Ｌｆについては、図１の説明を参照されたい。しかしながら、図６によれば、ライン・ドライバＬ１〜Ｌｆおよび共通部４は、具体的には、ディジタル基板１に含まれる波形発生器６によって駆動される。ビデオ入力信号１０は、ガンマ変換ブロック１１に転送され、以下の演算が実行される。ＩＯＵＴ＝（Ｉｉｎ）ｙ、通常γ＝２．２である。このブロック１１の出力は、ドライバ過熱に対して信号振幅を調節するために必要な別の利得乗算器１２に供給される。乗算器が使用されない場合には、サブフィールドの量を減少させるための他の解決法を使用することも可能であるが、効率は劣っている。
【００４１】
次に、その出力は、ビデオ機能、ディザリング、およびサブフィールド符号化を含む、標準的なＰＤＰ機能１３に対して転送される。符号化された信号は、サブフィールド単位、更に、画素単位でフレーム・メモリ１４内に記憶される。
【００４２】
フレーム・メモリ１４の出力は、サブフィールド単位、更に、ライン単位で読み出され、データ・ドライバＤ１〜Ｄｎに送信され、同時に、ドライバ加熱エミュレーション・ブロックＥＭＵ＿ＤＲｋに送信される。なお、０≦ｋ≦ｎである。このブロックは、それぞれ、値ＨＥＡＴｋ ＝Ｃｎｔ＿ＩＮｋ ＋ Ｃｎｔ＿ＯＵＴｋを評価する。オプションとして、値ＨＥＡＴｋにＣｎｔ＿ＯＵＴ＿Ｄｉｆｆｋを更に追加することもできる。次に、この値は、制御手段に提供され、値ＨＥＡＴｋが所定の閾値を超えている場合には、データ・ドライバＤｋの温度を低下させるための対策が実施される。
【００４３】
これらのエミュレータの出力は全て収集され、カウンタＯＶＥＲＨＥＡＴ＿ＦＲＡＭＥ１５が（１）、（２）、または、（３）の方法に従って増加されなければならないか減少されなければならないかを判定するために分析される。この値には飛びや振動を低減するために、ヒステリシス関数１６によってフィルタがかけられる。
【００４４】
最後に、比較１７に依存して、値ＯＶＥＲＨＥＡＴ＿ＦＲＡＭＥがＯＶＥＲＨＥＡＴ＿ＤＡＮＧＥＲよりも大きいか、または小さい場合には、これに応じてガンマ・ブロック１１の直後に位置する乗算器１２の利得が減少、または増加される。
【００４５】
この解決法の利点は、単純にサブフィールドを抑制する場合と比べてビデオ情報のロスを回避すること、（更に、グレイスケール品質の低下を回避すること）である。代替的には、ビデオ利得はガンマ・ブロック１１の前に存在し、従って、ＡＰＬ測定（図示せず）の前に存在してもよい。この場合、利得を減少させることによって、ＡＰＬが減少し、標準的なＰＤＰの電力管理によりサステインの数が増加する。結果として、大変安定した光出力が得られる。ここでは、グレイスケール・ダイナミック（ｇｒａｙｓｃａｌｅ ｄｙｎａｍｉｃ）のみが減少する。
【００４６】
このコンセプトを改善させるために、利得に対して時間領域内のローパス・フィルタ処理が実行され、符号化手法の使用後の振動が回避される。この場合、実際の利得（Ｇａｉｎｕｓｅｄ）は以下のように定義される。
【数１】
【００４７】
値Ｔを増加させることによって、Ｔが最大の加熱時間（図４に示すクリティカル・テスト・パターンの場合にはドライバ温度がクリティカル・ポイントに達した後の時間）よりも短い限り、ドライバの加熱の問題に対する追加のリスクを招くことなく、特定の符号化方法の影響が軽減される。
【００４８】
オプションとして、クリティカルなシーケンスに対する更なる改良が実現可能である。危険が検出されると、以下の利得関数の前に、ピクチャに対して、特定の空間フィルタ処理が実施される。
【数２】
【００４９】
この例示的な関数により、図４に示すクリティカルな差異が低減されるが、鮮明さ（ｓｈａｒｐｎｅｓｓ：シャープネス）が最低限低下することとなる。これはオプションのコンセプトでありシステム・インテグレータに依存して実施してもよく、ＯＶＥＲＨＥＡＴ＿ＦＲＡＭＥが極めて高い値ＯＶＥＲＨＥＡＴ＿ＳＴＲＯＮＧ＿ＤＡＮＧＥＲに達した場合に自動的に実施してもよい。
【符号の説明】
【００５０】
１ ディジタル基盤
２ ＰＤＰ
３ ＰＤＰセル
４ 共通電子回路
５ エミュレータ・ブロック
６ 波形発生器
１２ 利得乗算器
１４ フレーム・メモリ
【特許請求の範囲】
【請求項１】
プラズマ・ディスプレイ・パネルにおいて個々のドライバ回路の過熱を回避するための方法であって、
前記ドライバ回路が、サブフィールド・データ・ビットのシーケンスの形態の表示用データをシリアルに受信し、前記表示用データを各々が所定数のサブフィールド・データ・ビットからなるデータ・ブロックでパラレルに転送し、
隣接するサブフィールド・データ・ビット、または、先行するサブフィールド・データ・ビットのものとは値が異なるサブフィールド・データ・ビットをカウントすることによって、前記個々のドライバ回路の温度を表す信号を計算し、前記個々のドライバ回路の温度を表す前記信号を提供するステップと、
前記カウントの信号が所定の閾値を超えている場合に、前記温度を低下させる対策を実行するステップと、を含み、
前記対策を実行するステップが、入力カウンタ、出力カウンタ、およびステージ・カウンタのうちの少なくとも２つのカウンタのカウンタ値に基づいてフレーム毎に使用されるサブフィールドの数を減少させるための過熱信号を発生させるステップを含む、前記方法。
【請求項２】
受信したサブフィールド・データ・ビットの値が前に受信した隣接するサブフィールド・データ・ビットの値とは異なる場合に、入力カウンタの値が増加される、請求項１に記載の方法。
【請求項３】
データ・ブロックのサブフィールド・データ・ビットの値が先行するデータ・ブロックの対応するサブフィールド・データ・ビットの値のものとは異なる場合に、出力カウンタの値が増加される、請求項１に記載の方法。
【請求項４】
データ・ブロックのサブフィールド・データ・ビットの値が先行するデータ・ブロックの対応するサブフィールド・データ・ビットの値のものとは異なる場合に、出力カウンタの値が増加される、請求項２に記載の方法。
【請求項５】
前記対策を実行するステップが、代替的には前記プラズマ・ディスプレイ・パネルの利得を減少させるための過熱信号を発生させるステップを含む、請求項４に記載の方法。
【請求項６】
プラズマ・ディスプレイ・パネルにおいて個々のドライバ回路の過熱を回避するための方法であって、
前記ドライバ回路がサブフィールド・データ・ビットのシーケンスの形態の表示用データをシリアルに受信し、前記表示用データを各々が所定数のサブフィールド・データ・ビットからなるデータ・ブロックの形態でパラレルに転送し、
前記方法が、
各サブフィールド・データ・ビットについて、当該サブフィールド・データ・ビットの値と隣接するサブフィールド・データ・ビットの値との間の関係を表す遷移情報を決定するステップと、
隣接するサブフィールド・データ・ビット、および、先行するサブフィールド・データ・ビットのものとは値が異なるサブフィールド・データ・ビットをカウントすることによって、前記個々のドライバ回路の温度を表す信号を計算し、前記個々のドライバ回路の温度を表す前記信号を提供するステップと、
前記カウントの信号が所定の閾値を超えている場合に、前記温度を低下させる対策を実行するステップと、を含み、
前記対策を実行するステップが、入力カウンタ、出力カウンタ、およびステージ・カウンタのうちの少なくとも２つのカウンタのカウンタ値に基づいてフレーム毎に使用されるサブフィールドの数を減少させるステップを含む、前記方法。
【請求項７】
受信したサブフィールド・データ・ビットの値が前に受信した隣接するサブフィールド・データ・ビットの値とは異なる場合に、入力カウンタの値が増加される、請求項６に記載の方法。
【請求項８】
データ・ブロックのサブフィールド・データ・ビットの値が先行するデータ・ブロックの対応するサブフィールド・データ・ビットの値のものとは異なる場合に、出力カウンタの値が増加される、請求項６に記載の方法。
【請求項９】
データ・ブロックのサブフィールド・データ・ビットの前記遷移情報が先行するデータ・ブロックの対応するサブフィールド・データ・ビットのものとは異なる場合に、ステージ・カウンタの値が増加される、請求項６に記載の方法。
【請求項１０】
データ・ブロックのサブフィールド・データ・ビットの値が先行するデータ・ブロックの対応するサブフィールド・データ・ビットの値のものとは異なる場合に、出力カウンタの値が増加される、請求項７に記載の方法。
【請求項１１】
データ・ブロックのサブフィールド・データ・ビットの前記遷移情報が先行するデータ・ブロックの対応するサブフィールド・データ・ビットのものとは異なる場合に、ステージ・カウンタの値が増加される、請求項１０に記載の方法。
【請求項１２】
前記対策を実行するステップが、代替的には前記プラズマ・ディスプレイ・パネルの利得を減少させるための過熱信号を発生させるステップを含む、請求項１１に記載の方法。
【請求項１３】
プラズマ・ディスプレイ・パネルにおいて個々のドライバ回路の過熱を回避するための装置であって、
前記個々のドライバ回路が、サブフィールド・データ・ビットのシーケンスの形態の表示用データをシリアルに受信し、前記表示用データを各々が所定数のサブフィールド・データ・ビットからなるデータ・ブロックでパラレルに転送し、
前記装置は、
隣接するサブフィールド・データ・ビット、および、先行するサブフィールド・データ・ビットのものとは値が異なるサブフィールド・データ・ビットをカウントすることによって、前記ドライバ回路の温度を表す信号を計算し、前記個々のドライバ回路の温度を表す各カウントの信号を提供する計算手段と、
前記カウントの信号が所定の閾値を超えている場合に、前記温度を低下させる対策を実行する制御手段と、を含み、前記制御手段は、入力カウンタ、出力カウンタ、およびステージ・カウンタのうちの少なくとも２つのカウンタのカウンタ値に基づいてフレーム毎に使用されるサブフィールドの数を減少させるための過熱信号を発生させる信号処理手段を含む、前記装置。
【請求項１４】
受信したサブフィールド・データ・ビットの値が前に受信した隣接するサブフィールド・データ・ビットのものとは異なる場合に、値が増加される入力カウンタを前記カウントをする手段が備える、請求項１３に記載の装置。
【請求項１５】
データ・ブロックのサブフィールド・データ・ビットの値が先行するデータ・ブロックの対応するサブフィールド・データ・ビットのものとは異なる場合に、値が増加される出力カウンタを前記カウントをする手段が備える、請求項１３に記載の装置。
【請求項１６】
データ・ブロックのサブフィールド・データ・ビットの値が先行するデータ・ブロックの対応するサブフィールド・データ・ビットのものとは異なる場合に、値が増加される出力カウンタを前記カウントをする手段が備える、請求項１４に記載の装置。
【請求項１７】
前記信号処理手段が、代替的には前記プラズマ・ディスプレイ・パネルの利得を減少させるための過熱信号を発生させる、請求項１６に記載の装置。
【請求項１８】
プラズマ・ディスプレイ・パネルにおいて個々のドライバ回路の過熱を回避するための装置であって、
前記個々のドライバ回路が、サブフィールド・データ・ビットのシーケンスの形態の表示用データをシリアルに受信し、前記表示用データを各々が所定数のサブフィールド・データ・ビットからなるデータ・ブロックでパラレルに転送し、
前記装置が、
各サブフィールド・データ・ビットについて、当該サブフィールド・データ・ビットの値と隣接するサブフィールド・データ・ビットの値との間の関係を表す遷移情報を決定するデータ処理手段と、
隣接するサブフィールド・データ・ビット、および、先行するサブフィールド・データ・ビットのものとは値が異なるサブフィールド・データ・ビットをカウントすることによって、前記個々のドライバ回路の温度を表す信号を計算し、前記個々のドライバ回路の温度を表す前記信号を提供する計算手段と、
前記カウントの信号が所定の閾値を超えている場合に、前記温度を低下させる対策を実行する制御手段と、を含み、前記制御手段は、入力カウンタ、出力カウンタ、およびステージ・カウンタのうちの少なくとも２つのカウンタのカウンタ値に基づいてフレーム毎に使用されるサブフィールドの数を減少させるための過熱信号を発生させる信号処理手段を含む、前記装置。
【請求項１９】
受信したサブフィールド・データ・ビットの値が前に受信した隣接するサブフィールド・データ・ビットのものとは異なる場合に、値が増加される入力カウンタを前記カウントをする手段が備える、請求項１７に記載の装置。
【請求項２０】
データ・ブロックのサブフィールド・データ・ビットの値が先行するデータ・ブロックの対応するサブフィールド・データ・ビットのものとは異なる場合に、値が増加される出力カウンタを前記カウントをする手段が備える、請求項１７に記載の装置。
【請求項２１】
データ・ブロックのサブフィールド・データ・ビットの前記遷移情報が先行するデータ・ブロックの対応するサブフィールド・データ・ビットのものとは異なる場合に、値が増加されるステージ・カウンタを前記カウントをする手段が備える、請求項１７に記載の装置。
【請求項２２】
データ・ブロックのサブフィールド・データ・ビットの値が先行するデータ・ブロックの対応するサブフィールド・データ・ビットのものとは異なる場合に、値が増加される出力カウンタを前記カウントをする手段が備える、請求項１８に記載の装置。
【請求項２３】
データ・ブロックのサブフィールド・データ・ビットの前記遷移情報が先行するデータ・ブロックの対応するサブフィールド・データ・ビットのものとは異なる場合に、値が増加されるステージ・カウンタを前記カウントをする手段が備える、請求項１９に記載の装置。
【請求項２４】
前記信号処理手段が、代替的には前記プラズマ・ディスプレイ・パネルの利得を減少させるための過熱信号を発生させる、請求項２３に記載の装置。
【請求項２５】
ディスプレイ・パネルと、請求項１７に記載の装置を複数含むプラズマ・ディスプレイ・デバイスであって、各装置が前記ディスプレイ・パネルの個々のドライバ回路に関連付けられ、前記カウントの信号が所定の閾値を超えている場合に、各装置のために過熱信号を発生可能であり、
１つの装置の前記過熱信号が所定の閾値を越えている場合、
所定の数を超える装置の各過熱信号が前記所定の閾値を超えている場合、または、
所定の数を超える連続した装置の各過熱信号が前記所定の閾値を超えている場合に、
利得またはサブフィールドの数を減少させることが可能である、前記プラズマ・ディスプレイ・デバイス。
【請求項２６】
ディスプレイ・パネルと、請求項２５に記載の装置を複数含むプラズマ・ディスプレイ・デバイスであって、各装置が前記ディスプレイ・パネルの個々のドライバ回路に関連付けられ、前記カウントの信号が所定の閾値を超えている場合に、各装置のために過熱信号を発生可能であり、
１つの装置の前記過熱信号が所定の閾値を越えている場合、
所定の数を超える装置の各過熱信号が前記所定の閾値を超えている場合、または、
所定の数を超える連続した装置の各過熱信号が前記所定の閾値を超えている場合に、
利得またはサブフィールドの数を減少させることが可能である、前記プラズマ・ディスプレイ・デバイス。
【請求項１】
プラズマ・ディスプレイ・パネルにおいて個々のドライバ回路の過熱を回避するための方法であって、
前記ドライバ回路が、サブフィールド・データ・ビットのシーケンスの形態の表示用データをシリアルに受信し、前記表示用データを各々が所定数のサブフィールド・データ・ビットからなるデータ・ブロックでパラレルに転送し、
隣接するサブフィールド・データ・ビット、または、先行するサブフィールド・データ・ビットのものとは値が異なるサブフィールド・データ・ビットをカウントすることによって、前記個々のドライバ回路の温度を表す信号を計算し、前記個々のドライバ回路の温度を表す前記信号を提供するステップと、
前記カウントの信号が所定の閾値を超えている場合に、前記温度を低下させる対策を実行するステップと、を含み、
前記対策を実行するステップが、入力カウンタ、出力カウンタ、およびステージ・カウンタのうちの少なくとも２つのカウンタのカウンタ値に基づいてフレーム毎に使用されるサブフィールドの数を減少させるための過熱信号を発生させるステップを含む、前記方法。
【請求項２】
受信したサブフィールド・データ・ビットの値が前に受信した隣接するサブフィールド・データ・ビットの値とは異なる場合に、入力カウンタの値が増加される、請求項１に記載の方法。
【請求項３】
データ・ブロックのサブフィールド・データ・ビットの値が先行するデータ・ブロックの対応するサブフィールド・データ・ビットの値のものとは異なる場合に、出力カウンタの値が増加される、請求項１に記載の方法。
【請求項４】
データ・ブロックのサブフィールド・データ・ビットの値が先行するデータ・ブロックの対応するサブフィールド・データ・ビットの値のものとは異なる場合に、出力カウンタの値が増加される、請求項２に記載の方法。
【請求項５】
前記対策を実行するステップが、代替的には前記プラズマ・ディスプレイ・パネルの利得を減少させるための過熱信号を発生させるステップを含む、請求項４に記載の方法。
【請求項６】
プラズマ・ディスプレイ・パネルにおいて個々のドライバ回路の過熱を回避するための方法であって、
前記ドライバ回路がサブフィールド・データ・ビットのシーケンスの形態の表示用データをシリアルに受信し、前記表示用データを各々が所定数のサブフィールド・データ・ビットからなるデータ・ブロックの形態でパラレルに転送し、
前記方法が、
各サブフィールド・データ・ビットについて、当該サブフィールド・データ・ビットの値と隣接するサブフィールド・データ・ビットの値との間の関係を表す遷移情報を決定するステップと、
隣接するサブフィールド・データ・ビット、および、先行するサブフィールド・データ・ビットのものとは値が異なるサブフィールド・データ・ビットをカウントすることによって、前記個々のドライバ回路の温度を表す信号を計算し、前記個々のドライバ回路の温度を表す前記信号を提供するステップと、
前記カウントの信号が所定の閾値を超えている場合に、前記温度を低下させる対策を実行するステップと、を含み、
前記対策を実行するステップが、入力カウンタ、出力カウンタ、およびステージ・カウンタのうちの少なくとも２つのカウンタのカウンタ値に基づいてフレーム毎に使用されるサブフィールドの数を減少させるステップを含む、前記方法。
【請求項７】
受信したサブフィールド・データ・ビットの値が前に受信した隣接するサブフィールド・データ・ビットの値とは異なる場合に、入力カウンタの値が増加される、請求項６に記載の方法。
【請求項８】
データ・ブロックのサブフィールド・データ・ビットの値が先行するデータ・ブロックの対応するサブフィールド・データ・ビットの値のものとは異なる場合に、出力カウンタの値が増加される、請求項６に記載の方法。
【請求項９】
データ・ブロックのサブフィールド・データ・ビットの前記遷移情報が先行するデータ・ブロックの対応するサブフィールド・データ・ビットのものとは異なる場合に、ステージ・カウンタの値が増加される、請求項６に記載の方法。
【請求項１０】
データ・ブロックのサブフィールド・データ・ビットの値が先行するデータ・ブロックの対応するサブフィールド・データ・ビットの値のものとは異なる場合に、出力カウンタの値が増加される、請求項７に記載の方法。
【請求項１１】
データ・ブロックのサブフィールド・データ・ビットの前記遷移情報が先行するデータ・ブロックの対応するサブフィールド・データ・ビットのものとは異なる場合に、ステージ・カウンタの値が増加される、請求項１０に記載の方法。
【請求項１２】
前記対策を実行するステップが、代替的には前記プラズマ・ディスプレイ・パネルの利得を減少させるための過熱信号を発生させるステップを含む、請求項１１に記載の方法。
【請求項１３】
プラズマ・ディスプレイ・パネルにおいて個々のドライバ回路の過熱を回避するための装置であって、
前記個々のドライバ回路が、サブフィールド・データ・ビットのシーケンスの形態の表示用データをシリアルに受信し、前記表示用データを各々が所定数のサブフィールド・データ・ビットからなるデータ・ブロックでパラレルに転送し、
前記装置は、
隣接するサブフィールド・データ・ビット、および、先行するサブフィールド・データ・ビットのものとは値が異なるサブフィールド・データ・ビットをカウントすることによって、前記ドライバ回路の温度を表す信号を計算し、前記個々のドライバ回路の温度を表す各カウントの信号を提供する計算手段と、
前記カウントの信号が所定の閾値を超えている場合に、前記温度を低下させる対策を実行する制御手段と、を含み、前記制御手段は、入力カウンタ、出力カウンタ、およびステージ・カウンタのうちの少なくとも２つのカウンタのカウンタ値に基づいてフレーム毎に使用されるサブフィールドの数を減少させるための過熱信号を発生させる信号処理手段を含む、前記装置。
【請求項１４】
受信したサブフィールド・データ・ビットの値が前に受信した隣接するサブフィールド・データ・ビットのものとは異なる場合に、値が増加される入力カウンタを前記カウントをする手段が備える、請求項１３に記載の装置。
【請求項１５】
データ・ブロックのサブフィールド・データ・ビットの値が先行するデータ・ブロックの対応するサブフィールド・データ・ビットのものとは異なる場合に、値が増加される出力カウンタを前記カウントをする手段が備える、請求項１３に記載の装置。
【請求項１６】
データ・ブロックのサブフィールド・データ・ビットの値が先行するデータ・ブロックの対応するサブフィールド・データ・ビットのものとは異なる場合に、値が増加される出力カウンタを前記カウントをする手段が備える、請求項１４に記載の装置。
【請求項１７】
前記信号処理手段が、代替的には前記プラズマ・ディスプレイ・パネルの利得を減少させるための過熱信号を発生させる、請求項１６に記載の装置。
【請求項１８】
プラズマ・ディスプレイ・パネルにおいて個々のドライバ回路の過熱を回避するための装置であって、
前記個々のドライバ回路が、サブフィールド・データ・ビットのシーケンスの形態の表示用データをシリアルに受信し、前記表示用データを各々が所定数のサブフィールド・データ・ビットからなるデータ・ブロックでパラレルに転送し、
前記装置が、
各サブフィールド・データ・ビットについて、当該サブフィールド・データ・ビットの値と隣接するサブフィールド・データ・ビットの値との間の関係を表す遷移情報を決定するデータ処理手段と、
隣接するサブフィールド・データ・ビット、および、先行するサブフィールド・データ・ビットのものとは値が異なるサブフィールド・データ・ビットをカウントすることによって、前記個々のドライバ回路の温度を表す信号を計算し、前記個々のドライバ回路の温度を表す前記信号を提供する計算手段と、
前記カウントの信号が所定の閾値を超えている場合に、前記温度を低下させる対策を実行する制御手段と、を含み、前記制御手段は、入力カウンタ、出力カウンタ、およびステージ・カウンタのうちの少なくとも２つのカウンタのカウンタ値に基づいてフレーム毎に使用されるサブフィールドの数を減少させるための過熱信号を発生させる信号処理手段を含む、前記装置。
【請求項１９】
受信したサブフィールド・データ・ビットの値が前に受信した隣接するサブフィールド・データ・ビットのものとは異なる場合に、値が増加される入力カウンタを前記カウントをする手段が備える、請求項１７に記載の装置。
【請求項２０】
データ・ブロックのサブフィールド・データ・ビットの値が先行するデータ・ブロックの対応するサブフィールド・データ・ビットのものとは異なる場合に、値が増加される出力カウンタを前記カウントをする手段が備える、請求項１７に記載の装置。
【請求項２１】
データ・ブロックのサブフィールド・データ・ビットの前記遷移情報が先行するデータ・ブロックの対応するサブフィールド・データ・ビットのものとは異なる場合に、値が増加されるステージ・カウンタを前記カウントをする手段が備える、請求項１７に記載の装置。
【請求項２２】
データ・ブロックのサブフィールド・データ・ビットの値が先行するデータ・ブロックの対応するサブフィールド・データ・ビットのものとは異なる場合に、値が増加される出力カウンタを前記カウントをする手段が備える、請求項１８に記載の装置。
【請求項２３】
データ・ブロックのサブフィールド・データ・ビットの前記遷移情報が先行するデータ・ブロックの対応するサブフィールド・データ・ビットのものとは異なる場合に、値が増加されるステージ・カウンタを前記カウントをする手段が備える、請求項１９に記載の装置。
【請求項２４】
前記信号処理手段が、代替的には前記プラズマ・ディスプレイ・パネルの利得を減少させるための過熱信号を発生させる、請求項２３に記載の装置。
【請求項２５】
ディスプレイ・パネルと、請求項１７に記載の装置を複数含むプラズマ・ディスプレイ・デバイスであって、各装置が前記ディスプレイ・パネルの個々のドライバ回路に関連付けられ、前記カウントの信号が所定の閾値を超えている場合に、各装置のために過熱信号を発生可能であり、
１つの装置の前記過熱信号が所定の閾値を越えている場合、
所定の数を超える装置の各過熱信号が前記所定の閾値を超えている場合、または、
所定の数を超える連続した装置の各過熱信号が前記所定の閾値を超えている場合に、
利得またはサブフィールドの数を減少させることが可能である、前記プラズマ・ディスプレイ・デバイス。
【請求項２６】
ディスプレイ・パネルと、請求項２５に記載の装置を複数含むプラズマ・ディスプレイ・デバイスであって、各装置が前記ディスプレイ・パネルの個々のドライバ回路に関連付けられ、前記カウントの信号が所定の閾値を超えている場合に、各装置のために過熱信号を発生可能であり、
１つの装置の前記過熱信号が所定の閾値を越えている場合、
所定の数を超える装置の各過熱信号が前記所定の閾値を超えている場合、または、
所定の数を超える連続した装置の各過熱信号が前記所定の閾値を超えている場合に、
利得またはサブフィールドの数を減少させることが可能である、前記プラズマ・ディスプレイ・デバイス。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【公開番号】特開２０１３−６５０４４（Ｐ２０１３−６５０４４Ａ）
【公開日】平成２５年４月１１日（２０１３．４．１１）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１２−２８１９８５（Ｐ２０１２−２８１９８５）
【出願日】平成２４年１２月２６日（２０１２．１２．２６）
【分割の表示】特願２００７−３４２９４（Ｐ２００７−３４２９４）の分割
【原出願日】平成１９年２月１５日（２００７．２．１５）
【出願人】（５０１２６３８１０）トムソン ライセンシング (2,848)
【氏名又は名称原語表記】Ｔｈｏｍｓｏｎ Ｌｉｃｅｎｓｉｎｇ
【住所又は居所原語表記】１−５， ｒｕｅ Ｊｅａｎｎｅ ｄ’Ａｒｃ， ９２１３０ ＩＳＳＹ ＬＥＳ ＭＯＵＬＩＮＥＡＵＸ， Ｆｒａｎｃｅ
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２５年４月１１日（２０１３．４．１１）
【国際特許分類】
【出願日】平成２４年１２月２６日（２０１２．１２．２６）
【分割の表示】特願２００７−３４２９４（Ｐ２００７−３４２９４）の分割
【原出願日】平成１９年２月１５日（２００７．２．１５）
【出願人】（５０１２６３８１０）トムソン ライセンシング (2,848)
【氏名又は名称原語表記】Ｔｈｏｍｓｏｎ Ｌｉｃｅｎｓｉｎｇ
【住所又は居所原語表記】１−５， ｒｕｅ Ｊｅａｎｎｅ ｄ’Ａｒｃ， ９２１３０ ＩＳＳＹ ＬＥＳ ＭＯＵＬＩＮＥＡＵＸ， Ｆｒａｎｃｅ
【Ｆターム（参考）】
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