光ディスク装置、チルト補正方法、プログラム、情報生成方法
【課題】対物レンズの偏重心や２軸アクチュエータの磁気推力偏りに起因して、対物レンズがトラッキング方向に偏倚したときにはチルトが発生する（ＡＣチルト）。このＡＣチルトの補正を実現する。
【解決手段】実際に対物レンズのトラッキング方向への偏倚量を測定し、当該測定したトラッキング偏倚量と、予め設定されたトラッキング偏倚量とチルト補正量との対応関係を表す対応関係情報とに基づき、チルト補正を行う。これにより、トラッキングサーボ制御に伴って上記対物レンズがトラッキング方向に偏倚されることで生じるＡＣチルトを補正することができる。また、上記対応関係情報を光ディスク装置自らが測定を行って作成するようにしておけば、光ディスク装置の個体ごとの特性に応じて正確なＡＣチルト補正が行われるようにできる。
【解決手段】実際に対物レンズのトラッキング方向への偏倚量を測定し、当該測定したトラッキング偏倚量と、予め設定されたトラッキング偏倚量とチルト補正量との対応関係を表す対応関係情報とに基づき、チルト補正を行う。これにより、トラッキングサーボ制御に伴って上記対物レンズがトラッキング方向に偏倚されることで生じるＡＣチルトを補正することができる。また、上記対応関係情報を光ディスク装置自らが測定を行って作成するようにしておけば、光ディスク装置の個体ごとの特性に応じて正確なＡＣチルト補正が行われるようにできる。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本技術は、光ディスク記録媒体についての記録又は再生を行う光ディスク装置とそのチルト補正方法、及び光ディスク装置において実行されるべきプログラムに関する。また、対物レンズのトラッキング方向への偏倚に応じて生じるチルトの補正にあたって必要とされるトラッキング偏倚量とチルト補正量との対応関係を表す対応関係情報の生成方法に関する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００２】
【特許文献１】特開２０００−２０７７６０号公報
【特許文献２】特開２０１０−２５７５４２号公報
【背景技術】
【０００３】
例えばＣＤ（Compact Disc）、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）、ＢＤ（Blu-lay Disc：登録商標）などの光ディスク記録媒体（以下、光ディスクとも表記）が広く普及している。
【０００４】
光ディスクについて記録又は再生を行う光ディスク装置では、光ディスクの記録面に対するレーザ光の光軸の角度ずれとしてのチルトを補正する機能を具備するものがある。チルトに伴い生じるコマ収差によりサーボや記録／再生性能の低下が生じることを防止するためである。
【０００５】
なお、従来のチルト補正機能を具備する光ディスク装置については、例えば上記特許文献１や特許文献２にも記載されている。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
ここで、従来、チルト補正と言ったときは、例えばディスクの反りに起因したもの（いわゆるディスクチルト）や光学部品の組み付け精度等に依存した対物レンズの傾きに起因したもの等の抑制を目的として為されるものを指す。
【０００７】
しかしながら、チルトとしては、図１７に示すような対物レンズユニット１００の偏重心等に起因したものも生じ得ることが分かってきた。
図１７において、対物レンズユニット１００は、不図示の２軸アクチュエータによりトラッキング方向（紙面横方向）とフォーカス方向（紙面縦方向）とに変位可能に保持されている。図１７では、対物レンズユニット１００が上記２軸アクチュエータによってそのニュートラル位置（中心Ｃ）からトラッキング方向における各方向に偏倚された場合の様子を示している。
【０００８】
図示するように対物レンズユニット１００の重心に偏り（特にフォーカス方向における偏り）があると、２軸アクチュエータによりアームを介してトラッキング方向への推力が与えられた際、対物レンズユニット１００には、その自重の作用により、重心を基点として回転する力も加わることになる。このような回転方向への力の発生により、対物レンズユニット１００には、ニュートラル位置からトラッキング方向への偏倚に応じたチルトが生じることになる。
この際のチルト発生量は、トラッキング方向への偏倚量に応じた値となる。
【０００９】
また、トラッキング偏倚に応じた対物レンズユニット１００の傾きは、このような対物レンズユニット１００の偏重心に起因したもの以外にも、２軸アクチュエータの磁気推力の偏りに起因して生じる場合もある。
つまり、トラッキング方向への偏倚に応じた対物レンズユニット１００の傾きは、対物レンズユニット１００の偏重心、２軸アクチュエータの磁気推力の偏りの２つの要因で主に生じるものであり、これらの偏りは個体ごとに異なるものであるから、個体ごとに異なる態様によるチルトが生じるものとなる。
なお、磁気推力の偏りに起因するものでも、偏重心の場合と同様に、対物レンズユニット１００の傾き量はトラッキング偏倚量に応じた大きさとなる。
【００１０】
ここで、光ディスク装置では、記録や再生時において、ディスク偏芯に追従するためのトラッキングサーボを行うようにされている。この点を考慮すると、上記のようにトラッキング方向への偏倚に応じて対物レンズユニット１００に傾きが生じるということは、記録／再生時には、ディスク偏芯の周期に応じていわばＡＣ的にチルトが生じるということになる（以下、ＡＣチルトとも称する）。
【００１１】
このようなＡＣチルトの発生により、記録／再生時には周期的なコマ収差が生じるものとなり、結果、サーボ性能や再生信号の読み取り性能の悪化、及び記録信号品質の悪化等を招くという問題がある。
【００１２】
本技術はかかる問題点に鑑み為されたものであり、対物レンズのトラッキング方向への偏倚に応じて生じるＡＣチルトの補正を実現することをその課題とする。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
このため本技術では、光ディスク装置について、以下の第１の構成を提案する。
つまり、本技術の第１の構成としての光ディスク装置は、光ディスク記録媒体に対して対物レンズを介してレーザ光照射を行うと共に、上記光ディスク記録媒体からの上記レーザ光の戻り光を上記対物レンズを介して受光する光照射／受光部を備える。
また、上記対物レンズを上記光ディスク記録媒体の半径方向に平行な方向であるトラッキング方向に変位させるトラッキング機構を備える。
また、上記光ディスク記録媒体の記録面に対する上記レーザ光の光軸の角度ずれとしてのチルトを調整するチルト調整機構を備える。
また、上記光照射／受光部が上記戻り光を受光して得られる受光信号に基づき、上記光ディスク記録媒体に形成されたトラックに対する上記レーザ光の照射スポットの上記トラッキング方向におけるずれ量を表すトラッキングエラー信号を生成するトラッキングエラー信号生成部を備える。
また、上記トラッキングエラー信号に基づき上記対物レンズについてのトラッキングサーボ制御を行うトラッキングサーボ制御部を備える。
また、上記受光信号に基づき、上記トラッキング機構により保持される上記対物レンズのニュートラル位置からの上記トラッキング方向におけるずれ量としてのトラッキング偏倚量を測定する偏倚量測定部を備える。
また、少なくとも上記トラッキング偏倚量とその偏倚量に対応するチルト補正量との関係を示す対応関係情報が記憶された記憶部を備える。
また、上記偏倚量測定部が測定した上記トラッキング偏倚量と上記対応関係情報とから特定されるチルト補正量の値に基づいて、上記チルト調整機構が駆動されるように制御することで、上記対物レンズが上記ニュートラル位置から上記トラッキング方向に偏倚することで生じるチルトの補正を実行させる制御部を備えるようにした。
【００１４】
また、本技術では、光ディスク装置として以下の第２の構成も提案する。
つまり、本技術の第２の構成としての光ディスク装置は、光ディスク記録媒体に対して対物レンズを介してレーザ光照射を行うと共に、上記光ディスク記録媒体からの上記レーザ光の戻り光を上記対物レンズを介して受光する光照射／受光部を備える。
また、上記対物レンズを上記光ディスク記録媒体の半径方向に平行な方向であるトラッキング方向に変位させるトラッキング機構を備える。
また、上記光ディスク記録媒体の記録面に対する上記レーザ光の光軸の角度ずれとしてのチルトを調整するチルト調整機構を備える。
また、上記光照射／受光部が上記戻り光を受光して得られる受光信号に基づき、上記光ディスク記録媒体に形成されたトラックに対する上記レーザ光の照射スポットの上記トラッキング方向におけるずれ量を表すトラッキングエラー信号を生成するトラッキングエラー信号生成部を備える。
また、上記トラッキングエラー信号に基づき上記対物レンズについてのトラッキングサーボ制御を行うトラッキングサーボ制御部を備える。
また、上記光照射／受光部が上記戻り光を受光して得られる受光信号に基づき、上記トラッキング機構により保持される上記対物レンズのニュートラル位置からの上記トラッキング方向におけるずれ量としてのトラッキング偏倚量を測定する偏倚量測定部を備える。
また、上記受光信号に基づき、チルトの発生量に応じてその値が変化するチルト発生量評価指標としてのチルト評価値を生成する評価値生成部を備える。
さらに、上記対物レンズが所定の偏倚量だけ偏倚した状態で上記評価値生成部にて得られたチルト評価値を取得し、取得したチルト評価値に基づいて上記所定の偏倚量に対応して設定されるべきチルト補正量を求め、この求めたチルト補正量と上記所定の偏倚量との対応関係に基づいて、少なくともトラッキング偏倚量とチルト補正量との対応関係を示す対応関係情報を生成する対応関係情報生成部を備えるものである。
【００１５】
上記第１の構成としての光ディスク装置では、実際に対物レンズのトラッキング方向への偏倚量を測定し、予め記憶部に記憶された、トラッキング偏倚量とチルト補正量との対応関係を表した対応関係情報と、上記測定した偏倚量とから特定されるチルト補正量の値に基づいて、チルト補正を行うものとしている。
これにより、トラッキングサーボ制御に伴って上記対物レンズがトラッキング方向に偏倚されることで生じるＡＣチルトを補正することができる。
【００１６】
また、上記第２の構成としての光ディスク装置によれば、光ディスク装置の個体ごとに、その個体の特性に合った上記対応関係情報を作成することができる。つまりこの結果、対応関係情報を用いて行われるＡＣチルトの補正が、その個体の特性に応じて正確に行われるようにすることができる。
【発明の効果】
【００１７】
上記のように本技術によれば、対物レンズの偏重心や２軸アクチュエータの磁気推力の偏りに起因して生じるＡＣチルトの補正を実現することができる。
また、ＡＣチルトの補正値を得るにあたって参照する偏倚量／チルト補正量についての対応関係情報を個体ごとに作成することで、ＡＣチルトの補正がより正確なものとなるようにできる。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】第１の実施の形態としての光ディスク装置の内部構成を示した図である。
【図２】偏倚／補正量対応情報の内容を示した図である。
【図３】第１の実施の形態としてのＡＣチルト補正を実現するために実行されるべき処理の手順を示したフローチャートである。
【図４】第２の実施の形態の光ディスク装置の構成について説明するための図である。
【図５】周波数／偏倚／補正量対応情報の内容を示した図である。
【図６】第２の実施の形態としてのＡＣチルト補正を実現するために実行されるべき処理の手順を示したフローチャートである。
【図７】第３の実施の形態の光ディスク装置の内部構成を示した図である。
【図８】リファレンスデータを用いた実際の周波数／補正量カーブの算出手法について説明するための図である。
【図９】リファレンスデータに基づく実際の周波数／補正量カーブの算出例を示した図である。
【図１０】線形補間のイメージを示した図である。
【図１１】第３の実施の形態としての対応関係情報の作成手法を実現するために行われるべき具体的な処理の手順を示したフローチャートである。
【図１２】第４の実施の形態の光ディスク装置の内部構成を示した図である。
【図１３】トラッキングエラー信号振幅（トラッキング偏倚量）とＲＦ信号振幅との関係を例示した図である。
【図１４】第４の実施の形態としての対応関係情報の作成手法を実現するために行われるべき具体的な処理の手順を示したフローチャートである。
【図１５】複数の測定点を用いた線形近似について説明するための図である。
【図１６】回転周波数毎のトラッキング偏倚によるＲＦ振幅変化例を示した図である。
【図１７】トラッキング方向への偏倚に応じて対物レンズに傾きが生じる点について説明するための図である。
【発明を実施するための形態】
【００１９】
以下、本技術に係る実施の形態について説明する。
なお、説明は以下の順序で行う。
＜１．第１の実施の形態（偏倚量に応じたＡＣチルト補正）＞
［1-1．光ディスク装置の構成例］
［1-2．処理手順］
＜２．第２の実施の形態（偏倚量及び回転周波数に応じたＡＣチルト補正）＞
＜３．第３の実施の形態（対応関係情報の具体的作成例１）＞
［3-1．光ディスク装置の構成例］
［3-2．対応関係情報の作成］
［3-3．処理手順］
＜４．第４の実施の形態（対応関係情報の具体的作成例２）＞
［4-1．光ディスク装置の構成例］
［4-2．対応関係情報の作成］
［4-3．処理手順］
＜５．変形例＞
【００２０】
＜１．第１の実施の形態（偏倚量に応じたＡＣチルト補正）＞
［1-1．光ディスク装置の構成例］
図１は、本技術に係る第１の実施の形態としての光ディスク装置（光ディスク装置１とする）の内部構成を示している。
先ず、図中の光ディスクＤは、円盤状の光記録媒体（光ディスク記録媒体）である。ここで、光記録媒体とは、光の照射により情報の記録又は再生が行われる記録媒体を指す。
本例の光ディスク装置１は、光ディスクＤとして、少なくともＤＶＤ（Digital Versatile Disc）、ＢＤ（Blu-ray Disc：登録商標）に対応してその記録又は再生が可能に構成されているとする。
【００２１】
光ディスクＤは、光ディスク装置１に装填されると、図中のスピンドルモータ（ＳＰＭ）２により回転駆動される。
スピンドルモータ２は、後述するスピンドルサーボ回路１５より供給される駆動信号に従って光ディスクＤを回転駆動する。
【００２２】
光ディスク装置１には、上記のように回転駆動される光ディスクＤに対して情報の記録／再生を行うためのレーザ光の照射、及び光ディスクＤに照射された当該レーザ光の反射光（戻り光）を受光するための光学ピックアップ３が設けられる。
光学ピックアップ３内には、上記レーザ光の光源となるレーザダイオードが設けられる。また、上記レーザ光を光ディスクＤに集光するための対物レンズ（対物レンズユニット）４、及び当該対物レンズ４を光ディスクＤに接離する方向（フォーカス方向）及び半径方向（トラッキング方向）に変位可能に保持する２軸アクチュエータ５が設けられる。さらには、上記反射光を受光するためのフォトディテクタ等が設けられる。また、光学ピックアップ３内には、上記レーザ光を上記レーザダイオードから上記対物レンズに導き且つ上記反射光を上記フォトディテクタに導くための光学系も備えられる。
【００２３】
また、光学ピックアップ３全体は、図中のスライド駆動部６により、トラッキング方向にスライド移動可能に保持されている。
【００２４】
光学ピックアップ３内における上記レーザダイオードは、レーザドライバ７により発光駆動される。記録時において、レーザドライバ７は、記録処理部８から入力される記録信号に従って上記レーザダイオードを発光駆動するようにされる。
記録処理部８は、入力された記録データに所定の記録変調符号化処理等を施して、上記記録信号を生成する。
【００２５】
光学ピックアップ３内の上記フォトディテクタが上記反射光を受光して得られた受光信号は、マトリクス回路９に供給される。
マトリクス回路９は、上記フォトディテクタとしての複数の受光素子からの出力電流に対応して電流電圧変換回路、マトリクス演算／増幅回路等を備え、マトリクス演算処理により必要な信号を生成する。
例えば再生データを得るための高周波信号（再生データ信号：以下ＲＦ信号と表記）、サーボ制御のためのフォーカスエラー信号ＦＥ、トラッキングエラー信号ＴＥを生成する。ここで、フォーカスエラー信号ＦＥは、光ディスクＤに形成された記録面（反射面）に対する上記レーザ光の合焦位置の誤差を表す信号である。またトラッキングエラー信号ＴＥは、上記記録面に形成されたトラック（ピット列又はグルーブ）に対する上記レーザ光の照射スポットのトラッキング方向における位置誤差を表す信号となる。
また、マトリクス回路９は、グルーブのウォブリングに係る信号、すなわちウォブリングを検出する信号としてプッシュプル信号ＰＰを生成する。
さらにマトリクス回路９は、レンズエラー信号ＬＥを生成する。レンズエラー信号ＬＥは、対物レンズ４のニュートラル位置からのトラッキング方向の駆動量を表す信号であり、例えばＭＰＰ（Main Push-Pull）信号とＳＰＰ（Side Push-Pull）信号とに基づいて生成できる。
【００２６】
マトリクス回路９が生成したＲＦ信号は再生処理部１０へ、フォーカスエラー信号ＦＥ及びトラッキングエラー信号ＴＥはサーボ回路１３へ、またプッシュプル信号ＰＰはウォブル回路１１へそれぞれ供給される。
またレンズエラー信号ＬＥは偏倚量サンプリング部２０へ供給される。
【００２７】
再生処理部１０は、ＲＦ信号に対して２値化処理を行うと共に、ＰＬＬ（Phase Locked Loop）による再生クロック生成処理等を行う。
再生処理部１０で得られた再生データ（２値化データ）は、不図示の復調回路に供給され、エラー訂正処理等を施されることになる。
なお、再生処理部１０で再生された上記クロックについてはＣＬＫ-Pと表記する。
【００２８】
ウォブル回路１１は、プッシュプル信号ＰＰに基づき、グルーブのウォブリングにより記録されたアドレス情報を得るためのウォブル信号を生成する。
アドレスデコーダ１２は、ウォブル回路１１から供給されるウォブル信号に基づきアドレス検出を行う。検出されたアドレス情報はコントローラ２１に供給される。
またアドレスデコーダ１２は、ウォブル回路１１から供給されるウォブル信号を用いたＰＬＬ処理でクロックＣＬＫ-Rを生成する。このクロックＣＬＫ-Rは、例えば記録時のエンコードクロック等として用いられる。
【００２９】
サーボ回路１３は、マトリクス回路９からのフォーカスエラー信号ＦＥ、トラッキングエラー信号ＴＥから、フォーカス、トラッキング、スレッドの各種サーボ信号を生成し、サーボ動作を実行させる。
すなわち、フォーカスエラー信号ＦＥ、トラッキングエラー信号ＴＥに応じてフォーカスサーボ信号、トラッキングサーボ信号をそれぞれ生成し、これらを２軸ドライバ１４に与える。
２軸ドライバ１４は、これらフォーカスサーボ信号、トラッキングサーボ信号に基づき生成したフォーカスドライブ信号、トラッキングドライブ信号により、２軸アクチュエータ５のフォーカスコイル、トラッキングコイルをそれぞれ駆動する。これにより、２軸アクチュエータ５→マトリクス回路９→サーボ回路１３→２軸ドライバ１４→２軸アクチュエータ５・・・によるフォーカスサーボループ及びトラッキングサーボループがそれぞれ形成される。
【００３０】
また、サーボ回路１３は、トラッキングエラー信号ＴＥの低域成分として得られるスライドエラー信号や、コントローラ２１からのアクセス実行制御などに基づいてスライドドライブ信号を生成し、スライド駆動部６を駆動する。スライド駆動部６は、図示は省略したが、光学ピックアップ３を保持するメインシャフト、スライドモータ、伝達ギア等による機構を有し、上記スライドドライブ信号に応じて上記スライドモータを駆動することで、光学ピックアップ３の所要のスライド移動を実現する。
【００３１】
スピンドルサーボ回路１５は、スピンドルモータ２をＣＬＶ回転（線速度一定回転）させる制御を行う。
スピンドルサーボ回路１５は、前述のアドレスデコーダ１２がウォブル信号に対するＰＬＬ処理で生成したクロックＣＬＫ-Rを現在のスピンドルモータ２の回転速度情報として得、これを所定のＣＬＶ基準速度情報と比較することで、スピンドルエラー信号を生成する。
またデータ再生時においては、再生処理部１０のＰＬＬ処理によって生成されるクロックＣＬＫ-Pが、現在のスピンドルモータ２の回転速度情報となるため、これを所定のＣＬＶ基準速度情報と比較することでスピンドルエラー信号を生成することもできる。
そしてスピンドルサーボ回路１５は、スピンドルエラー信号に応じて生成したスピンドルドライブ信号を出力し、スピンドルモータ２のＣＬＶ回転を実行させる。
またスピンドルサーボ回路１５は、コントローラ２１からのスピンドルキック／ブレーキ制御信号に応じてスピンドルドライブ信号を発生させ、スピンドルモータ２の起動、停止、加速、減速などの動作も実行させる。
【００３２】
また、この場合の光ディスク装置１には、チルト補正のための構成として、チルト調整部１６、補正ドライバ１７、チルト補正部１８、及び加算部１９が備えられている。
チルト調整部１６は、光ディスクＤの記録面に対するレーザ光の光軸の角度ずれとしてのチルトを調整するように構成されている。本例において、チルト調整部１６は、光学ピックアップ３を保持するスライド駆動部６を傾けることで、チルト角の調整を行うように構成されている。なおチルト調整部１６は、対物レンズ４を直接傾けるように構成してもよい。
チルト調整部１６は、補正ドライバ１７からの駆動信号に基づいてチルト角の調整を行う。
【００３３】
チルト補正部１８は、補正ドライバ１７に対してチルト補正量を指示することで、チルト補正を実行させる。
このチルト補正部１８の指示に基づき行われるチルト補正は、ディスクチルトの補正となる。具体的に、チルト調整部１８は、光ディスクＤの半径位置に応じた補正量を補正ドライバ１７に対して指示し、これによりディスクチルトについての補正を実行させる。なお、上記半径位置の情報は、コントローラ２１より供給される。
【００３４】
なお、本実施の形態の場合、チルト補正部１８と補正ドライバ１７との間には加算部１９が挿入されるが、この加算部１９を用いたチルト補正については後述する。
【００３５】
また、光ディスク装置１には、偏倚量サンプリング部２０が設けられる。
偏倚量サンプリング部２０は、マトリクス回路９により生成されたレンズエラー信号ＬＥの振幅値をサンプリングして、対物レンズ４のトラッキング方向への偏倚量を検出する。
【００３６】
ここで、トラッキング方向への偏倚量とは、対物レンズ４がトラッキング方向に偏倚している量であり、具体的には、２軸アクチュエータ５により保持された対物レンズ４が、そのニュートラル位置からトラッキング方向に変位した量を指す。
【００３７】
以上で説明してきたサーボ系及び記録再生系等の各部の動作は、コントローラ２１により制御される。コントローラ２１は、例えばＣＰＵ（Central Processing Unit）、ＲＯＭ（Read Only Memory）、ＲＡＭ（Random Access Memory）を備えたマイクロコンピュータで構成され、例えば上記ＲＯＭ等のメモリに格納されたプログラムに従った制御・処理を実行することで、光ディスク装置１の全体制御を行う。
例えばコントローラ２１は、サーボ回路１３に指示を出すことにより、スライド駆動部６によって所定のアドレスに光学ピックアップ３を移動させる。またコントローラ２１は、スピンドルサーボ回路１５に対し、前述したキック／ブレーキについての制御指示を行うと共に、スピンドルモータ２の回転速度（回転周波数）の設定制御も行う。
【００３８】
コントローラ２１に対しては、メモリ２２が設けられる。
図示するようにこのメモリ２２には、制御プログラム２２ａ、偏倚／補正量対応情報２２ｂが記憶されている。
制御プログラム２２ａは、後の図３に示す処理をコントローラ２１に実行させるためのプログラムとなる。
【００３９】
図２は、偏倚／補正量対応情報２２ｂの内容を示している。
図示するように偏倚／補正量対応情報２２ｂは、偏倚量とチルト補正量とを対応づけた情報とされる。偏倚量は、対物レンズ４のトラッキング方向への偏倚量である。
この偏倚／補正量対応情報２２ｂにおいて、各偏倚量に対しては、その偏倚量のときに生じる対物レンズ４のチルトを補正することができるものとして予め実験等により導出されたチルト補正量が対応づけられている。
ここで、対物レンズ４の重心の偏りや２軸アクチュエータ５の磁気推力の偏りは、光ディスク装置１（光学ピックアップ３）の個体ごとに異なるものとなるので、偏倚／補正量対応情報２２ｂについては、個体ごとに求められたものを格納しておくことが望ましい。
なお、図２においては、偏倚量とチルト補正量の極性が共に正となる場合を例示しているが、例えば図１７に示すようなトラッキング偏倚とチルトとの関係性の場合（トラッキング偏倚の極性とチルトの極性とが異なる場合）、偏倚／補正量対応情報２２ｂに格納される偏倚量とチルト補正量の組み合わせは、正と負の値の組み合わせとなる。或いは、偏倚量とチルト補正量の絶対値の関係は何れの場合も同様であるので、補正量を加算する際の極性をトラッキング偏倚とチルトとの関係性に応じて適切に変更するものとすれば、図１７のようなチルトが生じる場合にも図２に示す偏倚／補正量対応情報を用いることは可能である。
【００４０】
［1-2．処理手順］
図３は、図１に示した光ディスク装置１が、対物レンズ４の偏重心等に応じて生じるＡＣチルトの補正を実現するために実行すべき具体的な処理の手順を示したフローチャートである。
なお、この図３に示す処理は、図１に示したコントローラ２１が制御プログラム２２ａに従って実行するものである。
また、この図に示す処理が実行される際には、既にトラッキングサーボがＯＮの状態にあるとする。
【００４１】
図３において、先ずステップＳ１０１では、チルト補正を開始すべき状態となるまで待機する。
ここで、ＡＣチルトの補正は、記録や再生動作の実行中をはじめとして、記録や再生の開始前におけるシーク時（アドレス読出時）においても行われるべきものとなる。この図に示すチルト補正のための処理を開始すべきタイミングとしては、少なくともこれらの期間中に補正が実行されるように設定すればよい。
【００４２】
ステップＳ１０１において、チルト補正を開始すべき状態となったとされた場合は、ステップＳ１０２において、偏倚量を取得する。すなわち、偏倚量サンプリング部２０により検出された対物レンズ４の偏倚量の値を取得する。
【００４３】
続くステップＳ１０３では、対応する補正量を取得する。具体的には、図２に示した偏倚／補正量対応情報２２ｂを参照して、ステップＳ１０２にて取得した偏倚量に対応づけられているチルト補正量の値を取得するものである。
【００４４】
ステップＳ１０３において補正量を取得した後は、ステップＳ１０４において、補正量の加算処理を実行する。すなわち、ステップＳ１０３にて取得したチルト補正量の値を、加算部１９に指示して、チルト補正部１８からの補正量の値に加算させるものである。
これにより、チルト補正部１８によりディスクチルトについての補正が行われつつ、対物レンズ４のＡＣチルトについての補正も行われるようにできる。
【００４５】
ステップＳ１０４の加算処理を実行した後は、ステップＳ１０５において、チルト補正を終了すべき状態となったか否かを判別する。
補正を終了すべき具体的なタイミングとしては、例えばディスクの回転停止のタイミングや、或いは記録／再生の速度（回転速度）が予め設定された補正不要とされる速度域に変更されたタイミング等を挙げることができる。
【００４６】
ステップＳ１０４において、チルト補正を終了すべき状態とはなっていないとの否定結果が得られた場合は、先のステップＳ１０２に戻り、再び偏倚量の取得を実行する。
一方ステップＳ１０４において、チルト補正を終了すべき状態となったとして肯定結果が得られた場合は、この図に示す処理は終了となる。
【００４７】
上記のように本実施の形態では、記録時や再生時に対応して、レンズエラー信号ＬＥから対物レンズ４のトラッキング偏倚量を検出し、当該偏倚量と、各偏倚量とそれに対応して設定されるべきチルト補正量との対応関係を表す偏倚／補正量対応情報２２ｂとに基づき、補正のために設定すべきチルト補正量を取得し、当該取得したチルト補正量によりチルト補正を行うものとしている。
これにより、対物レンズ４のトラッキング偏倚に起因して生じるＡＣチルトを適切に補正することができる。
【００４８】
ＡＣチルトの補正が実現されることで、ＡＣチルトに起因して生じていたサーボ性能の悪化や再生信号の読み取り性能の悪化、及び記録信号品質の悪化等の問題を解消することができる。
【００４９】
＜２．第２の実施の形態（偏倚量及び回転周波数に応じたＡＣチルト補正）＞
続いて、第２の実施の形態について説明する。
第２の実施の形態は、光ディスクＤの回転周波数も考慮したＡＣチルト補正を行うものである。
【００５０】
ここで、記録時や再生時において、トラッキングサーボがＯＮの状態では、光ディスクＤの回転周波数が上昇すると、ディスク偏芯の周期が早まるので、対物レンズ４のトラッキング方向への駆動周波数が上昇することになる。
このとき、駆動周波数が２軸アクチュエータ５の固有振動数（共振周波数）に近づくと、チルト発生量は増大することになる。
【００５１】
そこで、より正確なＡＣチルト補正の実現にあたっては、検出した偏倚量のみに応じた補正とするのではなく、回転周波数も考慮したチルト補正とすることが有効となる。
【００５２】
先ずは図４により、第２の実施の形態の光ディスク装置の構成について説明する。
図４では、第２の実施の形態の光ディスク装置の構成のうち第１の実施の形態の光ディスク装置１とは異なる部分を主に示しており、図のようにこの場合は、メモリ２２に記憶される制御プログラム２２ａが制御プログラム２２ｃに変更され、また偏倚／補正量対応情報２２ｂに代えて周波数／偏倚／補正量対応情報２２ｄが記憶される点が異なる。
【００５３】
図５は、この場合のメモリ２２に記憶された周波数／偏倚／補正量対応情報２２ｄの内容を示している。
図示するように周波数／偏倚／補正量対応情報２２ｄは、回転周波数、偏倚量、及びチルト補正量が対応づけられた情報となる。つまり、回転周波数及び偏倚量で特定される条件ごとに、それに対応して設定されるべきチルト補正量が対応づけられているものである。
このような周波数／偏倚／補正量対応情報２２ｄについても、予め個体ごとに回転周波数及び偏倚量とそれに対応する最適なチルト補正量との対応関係を実験等により導出しておき、その結果を個体ごとに記憶させておくことが正確なチルト補正の実現の上で望ましい。
【００５４】
図６は、回転周波数も考慮した第２の実施の形態としてのＡＣチルト補正を実現するために実行されるべき具体的な処理の手順を示したフローチャートである。
なお、この図６に示す処理は、コントローラ２１が図４に示した制御プログラム２２ｃに従って実行するものである。
また、この図においても、既にトラッキングサーボがＯＮの状態にあるとする。
ここで、図６において、既に先の図３にて説明済みとなった処理と同様の処理については同一ステップ番号を付して説明を省略する。
【００５５】
先の図３と比較して分かるように、この図６に示す処理では、ステップＳ１０３に代えてステップＳ２０１及びステップＳ２０２の処理が実行されることになる。
具体的にこの場合、ステップＳ１０２において偏倚量を取得した後は、ステップＳ２０１において、回転周波数を取得する処理を実行する。具体的に、例えば記録時であればアドレスデコーダ１２で生成されたクロックＣＬＫ-Rに基づき回転周波数を取得し、再生時であれば、上記クロックＣＬＫ-R或いはＲＯＭディスクであれば再生処理部１０により生成されたクロックＣＬＫ-Pに基づき回転周波数を取得する。
【００５６】
そして、回転周波数を取得した後は、ステップＳ２０２において、対応する補正量を取得する。具体的にこの場合は、先の図５に示した周波数／偏倚／補正量対応情報２２ｄを参照して、ステップＳ２０１で取得した回転周波数と、ステップＳ１０２にて取得した偏倚量との組に対して対応づけられているチルト補正量の値を取得する。
【００５７】
補正量の取得後は、ステップＳ１０４において、補正量の加算処理を実行する。
この結果、この場合は現在の回転周波数と対物レンズ４のトラッキング偏倚量とに応じた適切な補正量により、対物レンズ４のＡＣチルトについての補正が行われるようにできる。
【００５８】
なおこの場合も、ステップＳ１０４の加算処理を実行した後は、ステップＳ１０５においてチルト補正を終了すべき状態となったか否かを判別し、終了すべき状態ではないとの否定結果が得られた場合は先のステップＳ１０２に戻り、一方、終了すべき状態であるとの肯定結果が得られた場合はこの図に示す処理は終了となる。
【００５９】
上記のような第２の実施の形態としてのチルト補正手法により、例えば記録速度や再生速度の切り替えやＣＬＶ制御に伴う内／外周での回転周波数差等により、同じ偏倚量に対するＡＣチルト量が変動するような場合でも、その変動を吸収し、より正確なチルト補正を実現することができる。
【００６０】
＜３．第３の実施の形態（対応関係情報の具体的作成例１）＞
［3-1．光ディスク装置の構成例］
第３の実施の形態、及び後述する第４の実施の形態は、光ディスク装置の個々が自ら偏倚量とチルト補正量とについての対応関係情報を作成し、作成した対応関係情報を用いてＡＣチルトの補正を行うものである。
先ず、第３の実施の形態では、このような対応関係情報の作成についての具体例１につき説明する。
【００６１】
図７は、第３の実施の形態の光ディスク装置２５の内部構成を示している。
なお第３の実施の形態において、既にこれまでで説明済みとなった部分については同一符号を付して説明を省略する。
【００６２】
この図７と先の図１とを比較して分かるように、第３の実施の形態の光ディスク装置２５は、第１の実施の形態の光ディスク装置１と比較して、再生処理部１０に評価器１０ａが設けられた点と、メモリ２２において制御プログラム２２ａに代えて制御プログラム２２ｅが記憶された点とが異なる。
ここで、第３の実施の形態（第４の実施の形態も同様）においても、第２の実施の形態の場合と同様に、ＡＣチルト補正としては回転周波数も考慮した補正を行うことを前提としている。このため、後述する第３の実施の形態としての対応関係情報作成例により作成しメモリ２２に記憶される対応関係情報としては、第２の実施の形態の場合と同様、回転周波数と偏倚量とチルト補正量とが対応づけられた周波数／偏倚／補正量対応情報２２ｄとなる。
【００６３】
図７において、評価器１０ａは、ＲＦ信号の２値化処理で得られる２値化データについて、その再生性能についての評価指標となる再生性能評価値を測定（計算）する。換言すれば、この再生性能評価値は、２値化再生能力の評価指標となる評価値と表現することもできる。
本例の場合、この再生性能評価値としては、ｉ−ＭＬＳＥ (Maximum Likelihood Sequence Estimation）を測定するものとしている。
ここで、評価器１０ａにおいて、ｉ−ＭＬＳＥの測定区間長は可変であるとする。当該測定区間長の指示は、コントローラ２１により可能とされる。
図示するように評価器１０ａにて測定されたｉ−ＭＬＳＥは、コントローラ２１に対して供給される。
【００６４】
［3-2．対応関係情報の作成］
第３の実施の形態の光ディスク装置２５では、以下で説明するような手法によって周波数／偏倚／補正量対応情報２２ｄを作成する。
先ず、対応情報２２ｄの作成にあたって留意すべき点は、測定時間の短縮化という点である。
ここで、対応情報２２ｄの最も単純な作成手法としては、想定され得る回転周波数と偏倚量の組み合わせごとに、チルト発生量を測定するという手法を挙げることができる。しかしながら、このような手法を採った場合には対応情報２２ｄの作成に膨大な時間を要し、現実的とは言えない。
そこで本実施の形態では、比較的短時間での対応関係情報２２ｄの作成が可能となるようにすべく、以下のような手法を採るものとしている。
【００６５】
大まかには、以下の１）〜５）の手順に大別できる。
１）トラッキングサーボがＯＮかつチルト補正部１８によるチルト補正（定常チルトの補正）が実行されている状態で、回転周波数＝第１の周波数の下で、スライド駆動部６のみを所定量Ｘだけトラッキング方向に強制的に変位させて対物レンズ４を偏倚量Ｘだけトラッキング方向に偏倚させた状態とする。この状態で、ｉ−ＭＬＳＥを指標として最適なチルト補正量を探索し、当該チルト補正量を、回転周波数＝第１の周波数かつ偏倚量Ｘの条件に対応するチルト補正量として保持する。
２）回転周波数＝第２の周波数の下で、上記１）と同様の手法で回転周波数＝第２の周波数かつ偏倚量Ｘの条件に対応するチルト補正量を求める。
３）予め設定された、上記偏倚量Ｘのときの回転周波数とチルト補正量との標準的な対応関係を表す周波数／補正量カーブ（リファレンスデータ）と、上記１）及び２）で求まった各チルト補正量（チルト発生量）とに基づき、偏倚量Ｘのときの実際の周波数／補正量カーブを推定する（図８を参照）。
４）上記３）で求めた周波数／補正量カーブから、偏倚量方向の各チルト補正量の推定を行う。具体的に本例では、上記周波数／補正量カーブ上における各ポイント（［周波数，チルト補正量］で特定されるポイント）を基準点、［偏倚量＝０，チルト発生量＝０］を原点として、これら原点と基準点とを用いた線形補間により、各回転周波数における偏倚量とチルト補正量との対応関係を推定する（図１０を参照）。
５）上記４）により、各周波数ごとに、偏倚量とチルト補正量との対応関係が求まるので、それらの結果を用いて、周波数／偏倚／補正量対応情報２２ｄを作成する。
なお、上記１）でチルト補正部１８による定常チルトの補正を行っていることからも理解されるように、本実施の形態で求めるチルト補正量は、ＡＣチルトについての補正量となる。従って以下、単に「チルト補正量（又はチルト発生量）」と言ったときは、ＡＣチルトについての補正量（発生量）を意味するものとする。
【００６６】
ここで、上記１）及び２）において、偏倚量Ｘとしては、例えば１００μｍと設定する。
また第１の周波数、第２の周波数はそれぞれ５０Ｈｚ、１００Ｈｚであるとする。
【００６７】
またこれら１），２）において、上記最適なチルト補正量の探索としては、ｉ−ＭＬＳＥの値が良好となる方向（つまり低下する方向）に徐々にチルト補正量を振っていき、ｉ−ＭＬＳＥの変極点（低下から上昇に転じる点）を探索するという手法を挙げることができるが、この際、トラッキング偏倚の方向と対物レンズ４のチルトの発生方向の関係が不明であるときには、ｉ−ＭＬＳＥが低下傾向となるチルト補正値の極性を特定するために、チルト補正値を＋、−のそれぞれの方向に振る必要がある。但し、例えば製造データ等から予めトラッキング偏倚方向とチルト発生方向との関係が判明していて、ｉ−ＭＬＳＥを低下傾向とするチルト補正値の極性が特定されている場合には、チルトが発生する側とは逆方向にのみにチルトを振って、最適なチルト補正量の探索を行うことができる。つまり、その分高速な探索を実現できる。
【００６８】
ここで、上記１）及び２）では、１００μｍのスライド強制移動により偏倚量Ｘ＝１００μｍを設定するものとしているが、このとき、トラッキングサーボはＯＮとされているので、当然のことながら偏芯に応じたトラッキング偏倚も併せて生じていることになる。つまり、スライド移動量＝１００μｍに設定しても、常時偏倚量Ｘ＝１００μｍとなるわけではない。
しかしながら、この場合に評価値として用いるｉ−ＭＬＳＥは、或る程度の区間長を対象に測定されるものである。本例においては、ｉ−ＭＬＳＥの測定区間長は例えばディスク１周分の区間長となるように設定している。このことで、偏芯に伴う偏倚は平均化され、結果として、測定されたｉ−ＭＬＳＥの値が、偏倚＝１００μｍに対応する値を示すようにすることができる。
なお、評価値の測定区間がディスク１周分に満たない場合には、複数の測定区間にわたって評価値の測定を行い、それらの評価値を平均化することで偏芯の影響が排除されるようにすればよい。
【００６９】
また、上記３）において、リファレンスデータを用いた実際の周波数／補正量カーブの算出は、以下のようにして行う。
図８は、リファレンスデータを用いた実際の周波数／補正量カーブの算出手法について説明するための図である。
先ず、図中の破線は、リファレンスデータとしての、標準的な周波数／補正量カーブ（周波数／発生量カーブ）を表している。換言すれば、各光ディスク装置２５の平均的な周波数／補正量カーブである。当該リファレンスデータは、例えば複数の光ディスク装置２５について実際に実験等を行って導出しておくか、或いは製造データ等から計算により導出することもできる。
本実施の形態では、このようなリファレンスデータが予め光ディスク装置２５に対して設定されている（例えばメモリ２２等に格納される）。
【００７０】
リファレンスデータを用いた実際の周波数／補正量カーブの算出は、上記１）及び２）で得たチルト補正量の実測値から特定される点（測定点Ｓｉ-1，測定点Ｓｉ-2）を通過するカーブの形状が、上記リファレンスデータとしての周波数／補正量カーブの形状に近似したものとなるようにして行う。
具体的な手法として、先ず本例の場合、周波数／補正量カーブ上における回転周波数＝０Ｈｚ時（つまり偏倚量Ｘ＝１００μｍでの回転周波数＝０Ｈｚ時）のチルト補正量は０、回転周波数＝１５０Ｈｚ時のチルト補正量は０．３degで固定とみなす。
このように固定とみなす０Ｈｚ時、１５０Ｈｚ時のそれぞれの測定点Ｓｉを測定点Ｓｉ-min、測定点Ｓｉ-maxとおく。
そして、これら測定点Ｓｉ-min，Ｓｉ-maxと、実測の上記測定点Ｓｉ-1，Ｓｉ-2とを併せた０／５０／１００／１５０Ｈｚの４点のチルト補正量を基に、リファレンスデータを基準として実際の周波数／補正量カーブを求める（推定する）。つまり、これら４点を通るカーブの形状として、リファレンスデータとしての周波数／補正量カーブの形状に近似した形状が得られるように、周波数／補正量カーブを求めるものである。
【００７１】
図９は、リファレンスデータに基づく実際の周波数／補正量カーブの算出例を示している。
先ず、図示するように本例の場合、回転周波数については０Ｈｚ〜１５０Ｈｚまでカバーするものとし、回転周波数方向の補正精度は１０Ｈｚ刻みとしている。
前述のように回転周波数＝０Ｈｚ時の測定点Ｓｉ-min、１５０Ｈｚ時の測定点Ｓｉ-maxとしての補正量は、それぞれ０degと０．３degで固定である。また、測定点Ｓｉ-1、測定点Ｓｉ-2としての補正量については実測値をそのまま採用する（図中０．４７deg，３．２０deg）。
【００７２】
これら４点の測定点Ｓｉ-min，Ｓｉ-1，Ｓｉ-2、Ｓｉ-maxの間におけるそれぞれの回転周波数でのチルト補正量（図中グレーで示す部分）を、当該４つの測定点Ｓｉでのチルト補正量とリファレンスデータとを用いて算出（補間）することにより、周波数／補正量カーブを完成させる。
【００７３】
ここで、上記４つの測定点Ｓｉの間のそれぞれの回転周波数（つまりチルト補正量を補間すべき各回転周波数）のうち、チルト補正量の算出（補間）対象として選択した回転周波数をｆｓ-jとおく。
本例の場合、当該回転周波数ｆｓ-jのチルト補正量は、以下の５値を用いて算出する。
（ａ）リファレンスデータ上での回転周波数ｆｓ-jに対応するチルト補正量
（ｂ）上記４つの測定点Ｓｉのうち、回転周波数ｆｓ-jに対して直近の関係となる２つの測定点Ｓｉでのそれぞれのチルト補正量
（ｃ）上記直近の関係となる２つの測定点Ｓｉの回転周波数にそれぞれ対応するリファレンスデータ上の各チルト補正量
【００７４】
例えば、具体的な算出手法の一例として、ｆｓ-j＝８０Ｈｚの場合を例示すると、
{リファレンス８０Ｈｚ×(リファレンス５０Ｈｚ−測定点Ｓｉ-1)／(リファレンス１００Ｈｚ−測定点Ｓｉ-2)}
となる。但し上式において、「リファレンス８０Ｈｚ」「リファレンス５０Ｈｚ」「リファレンス１００Ｈｚ」はそれぞれリファレンスデータ上での８０Ｈｚ時、５０Ｈｚ時、１００Ｈｚ時に対応するチルト補正量を指し、「測定点Ｓｉ-1」「測定点Ｓｉ-2」はそれぞれ測定点Ｓｉ-1でのチルト補正量、測定点Ｓｉ-2でのチルト補正量をそれぞれ指す。
【００７５】
このように、各回転周波数ｆｓ-jでのチルト補正量は、当該回転周波数ｆｓ-jにおけるリファレンスデータ上でのチルト補正量に対して、回転周波数ｆｓ-jに直近となる２つの測定周波数におけるリファレンス補正量と実測値（０Ｈｚ，１５０Ｈｚについては固定値となる）との差分を考慮した係数を乗じることにより算出するものとすればよい。具体的には、これらの差分の比率を上記係数として、回転周波数ｆｓ-jにおけるリファレンスデータ上でのチルト補正量に対して乗じるものとすればよい。
例えばこのような算出手法により、各回転周波数ｆｓ-jのチルト補正量を推定することで、測定点Ｓｉ-1，Ｓｉ-2を通る実際の周波数／補正量カーブとして、リファレンスとしての周波数／補正量カーブの形状に近似した形状による周波数／補正量カーブを求めることができる。
【００７６】
このように偏倚量Ｘ＝１００μｍ時の周波数／補正量カーブを求めた後は、先の４）と示したように、当該周波数／補正量カーブから、偏倚量方向の各チルト補正量の推定を行う。
【００７７】
ここで、偏倚量に対するチルト発生量（補正量）は、ほぼ線形な関係とみなすことができる。そこで本例では、図９のように求めた周波数／補正量カーブとしてのデータから、各回転周波数ごとに、［偏倚量＝０，チルト発生量＝０］を原点とする線形補間を行うことで、回転周波数ごとの偏倚量／補正量の対応関係情報を得る。
すなわち、対象とする回転周波数をｆｓ-kとし、図９のように求めた周波数／補正量カーブにおける当該回転周波数ｆｓ-kのときのチルト補正量をＴ-kとおくと、［回転周波数ｆｓ-k，チルト補正量Ｔ-k］による点（基準点）と、上記原点とを用いた線形補間により、回転周波数ｆｓ-kのときの偏倚量／補正量についての対応関係情報を得る。
図１０は、この際の線形補間のイメージを示している。
【００７８】
このような線形補間を各回転周波数ごとに行う。これにより、各回転周波数ごとに偏倚量／補正量の対応関係情報を得ることができ、これらの対応関係情報を用いて、先の図５に示したような周波数／偏倚／補正量対応情報２２ｄを作成することができる。
【００７９】
［3-3．処理手順］
図１１は、上記により説明した第３の実施の形態としての対応関係情報の作成手法を実現するために行われるべき具体的な処理の手順を示したフローチャートである。
なお、この図１１に示す処理は、コントローラ２１がメモリ２２に記憶された制御プログラム２２ｅに基づき実行するものである。
また、この図に示す処理が実行されるにあたっても、既にトラッキングサーボはＯＮの状態にあるとする。また、ＡＣチルト成分のみを正確に測定できるように、チルト補正部１８によるチルト補正（定常チルトの補正）が実行された状態にあるとする。
【００８０】
図１１において、ステップＳ２０１では、対応関係情報の作成を開始すべき状態となるまで待機する。
周波数／偏倚／補正量対応情報２２ｄの作成処理を実行するタイミングとしては、例えば光ディスク装置２５の起動時、光ディスクＤの挿入時、所定時間おきなどを挙げることができる。ステップＳ２０１では、このような対応関係情報の作成を開始すべきとして予め定められた所定の条件が成立するまで待機することになる。
【００８１】
対応関係情報の作成を開始すべき状態となったときは、ステップＳ２０２において、周波数設定識別値Ｎ＝１に設定する。
なお、以下の説明で明らかとなるように、周波数設定識別値Ｎは、回転周波数として第１の周波数、第２の周波数を設定し分ける際にコントローラ２１が用いる値となる。
【００８２】
続くステップＳ２０３においては、偏倚量＝Ｘとするためのスライド強制移動処理を実行する。具体的に本例においては、偏倚量＝１００μｍとなるように、スライド駆動部６により光学ピックアップ３を強制移動させる処理となる。
【００８３】
スライド強制移動処理を実行した後は、ステップＳ２０４において、回転周波数＝第Ｎ周波数とするための処理を実行する。
前述のように本例の場合、対応関係情報の作成にあたって設定する回転周波数は第１の周波数と第２の周波数の２種としており、また第１の周波数＝５０Ｈｚ、第２の周波数＝１００Ｈｚと設定される。
従ってこの場合のステップＳ２０４では、Ｎ＝１であれば、スピンドルモータ２の回転周波数＝５０Ｈｚとなるようにスピンドルサーボ回路１５に指示を行う。或いはＮ＝２であればスピンドルモータ２の回転周波数＝１００Ｈｚとなるようにスピンドルサーボ回路１５に指示を行う。
【００８４】
ステップＳ２０４で回転周波数の設定を行った後は、ステップＳ２０５において、チルト調整・評価値参照により最適チルト補正量（チルト発生量）を求める処理を実行する。具体的には、先に述べたように評価器１０ａから供給されるｉ−ＭＬＳＥの値が良好となる方向に徐々にチルト補正量を振っていき、ｉ−ＭＬＳＥの変極点を探索する。当該変極点において加算部１９に指示していたチルト補正量が、上記最適とされるチルト補正量となる。
【００８５】
続くステップＳ２０６においては、ステップＳ２０５で求めたチルト補正量を、例えばメモリ２２等の所要のメモリに記憶する。
【００８６】
ステップＳ２０６の記憶処理の実行後は、ステップＳ２０７において、Ｎ＝上限値であるか否かを判別する。先の説明からも理解されるように、本例の場合、上限値＝２であり、従ってステップＳ２０７ではＮ＝２である否かを判別することになる。
【００８７】
ステップＳ２０７において、Ｎ＝上限値ではないとして否定結果が得られた場合は、ステップＳ２０８に進んでＮの値をインクリメント（Ｎ←Ｎ＋１）した後、先のステップＳ２０４に戻って回転周波数＝第Ｎ周波数に設定する処理を実行する。つまりこれにより、新たな回転周波数の設定下での偏倚量Ｘ時の最適チルト補正量が求まることになる。
【００８８】
一方ステップＳ２０７において、Ｎ＝上限値であるとして肯定結果が得られた場合は、ステップＳ２０９に進み、各測定点のチルト補正量とリファレンスデータとに基づき偏倚量Ｘのときの周波数／補正量カーブを算出する。
なお、当該周波数／補正量カーブの算出手法については既に説明済みであるため改めての記載は省略する。
【００８９】
ステップＳ２０９で周波数／補正量カーブを算出した後は、ステップＳ２１０において、回転周波数ごとに、各偏倚量に対するチルト補正量を補間により算出する。
なお、このように周波数／補正量カーブに基づき回転周波数ごとの偏倚量／チルト補正量の対応関係情報を補間により求める手法についても既に説明済みであるため改めての記載は省略する。
【００９０】
ステップＳ２１０の算出処理の実行後は、ステップＳ２１１において、周波数／偏倚／補正量対応情報２２ｄを作成を行う。すなわち、ステップＳ２１０で求まった各回転周波数ごとの偏倚量／チルト補正量の対応関係情報に基づき、周波数／偏倚／補正量対応情報２２ｄを作成するものである。このとき、作成した周波数／偏倚／補正量対応情報２２ｄはメモリ２２に記憶する。
【００９１】
上記ステップＳ２１１の作成処理の実行後、この図に示す処理は終了となる。
【００９２】
上記のように第３の実施の形態では、光ディスク装置２５自らがチルト補正量を実測した結果に基づき、周波数／偏倚／補正量対応情報２２ｄを作成するものとしている。
このように対応関係情報を光ディスク装置２５自らが作成するということは、光ディスク装置２５の個体ごとに、その個体の特性に合った対応関係情報を作成することができるということになる。つまりこの結果、対応関係情報を用いて行われるＡＣチルトの補正が、個体ごとの特性に応じて正確に行われるようにすることができる。
【００９３】
なお確認のために述べておくと、光ディスク装置２５においても、第２の実施の形態の光ディスク装置と同様に、記録時や再生時等に対応して、メモリ２２内に記憶された周波数／偏倚／補正量対応情報２２ｄを用いてＡＣチルトの補正を行うものである。
【００９４】
＜４．第４の実施の形態（対応関係情報の具体的作成例２）＞
［4-1．光ディスク装置の構成例］
続いて、第４の実施の形態について説明する。
先の第３の実施の形態では、チルト発生量（チルト補正量）を推し測るための評価指標として、例えばｉ−ＭＬＳＥなど、その測定に比較的長い区間長を要する評価値を用いて偏芯に伴うトラッキング偏倚が平均化されるようにし、所望の偏倚量Ｘのときの測定を実現するようにしていたが、第４の実施の形態は、これとは逆の発想で、偏芯に伴い生じるトラッキング偏倚を積極的に利用しようとするものである。
【００９５】
図１２は、第４の実施の形態の光ディスク装置３０の内部構成を示した図である。
なお第４の実施の形態においても、既にこれまでで説明済みとなった部分については同一符号を付して説明を省略する。
【００９６】
先の図１と比較して分かるように、第４の実施の形態の光ディスク装置３０は、第１の実施の形態の光ディスク装置１と比較してＲＦ信号がコントローラ２１に対しても入力される点と、メモリ２２において制御プログラム２２ａに代えて制御プログラム２２ｆが記憶された点とが異なる。
また、第４の実施の形態としても、第２の実施の形態の場合と同様にＡＣチルト補正として回転周波数も考慮した補正を行うものであるため、メモリ２２内には周波数／偏倚／補正量対応情報２２ｄが記憶される。
【００９７】
［4-2．対応関係情報の作成］
第４の実施の形態は、周波数／偏倚／補正量対応情報２２ｄの作成にあたりＲＦ信号を用いる点が第３の実施の形態の場合と大きく異なる。
ここで、図１３Ａは、回転周波数＝第１周波数（５０Ｈｚ）での、スライド量＝０のときのトラッキングエラー信号ＴＥ、及びＲＦ信号の各振幅を例示している。
先ず、図中の「センターレベル」（ＤＣレベル）は、トラッキング誤差が無い状態でのトラッキングエラー信号ＴＥのレベルとなる。
トラッキングサーボがＯＮの状態では、対物レンズ４はディスク偏芯に追従するように駆動されるので、その際のトラッキングエラー信号ＴＥとしては図のように周期的に増加／減少を繰り返す波形となる。
この場合、スライド量＝０であるので、偏芯量＝０の時点では、トラッキング偏倚量も０となり、従ってこの時点におけるトラッキングエラー信号ＴＥの振幅はセンターレベル（例えば０）と一致する。
【００９８】
ここで、偏芯量が０となり、これによりトラッキング偏倚量が０となれば、ＡＣチルトの発生量も０となるため、ＲＦ信号振幅は最大値（例えば１００％）となる。
一方、偏芯に追従してトラッキング偏倚が生じた場合には、ＡＣチルトの発生に伴い、ＲＦ信号振幅は最大値から減衰することになる。この図では、第１周波数かつ偏芯が最大のときのＲＦ信号振幅が９０％（つまり減衰量＝１０％）であるものと示している。
【００９９】
この図１３Ａからも明らかなように、ＲＦ信号は、チルトの発生量を推し測るための評価指標として用いることができる。
また図１３Ａによれば、ディスク偏芯を利用して、所望のトラッキング偏倚量のときのＡＣチルト発生量を測定可能であることが分かる。
【０１００】
これらの点を利用し、第４の実施の形態では、トラッキング偏倚量Ｘのときの第１の周波数及び第２の周波数のそれぞれでのチルト発生量（補正量）の測定を、偏芯に伴うトラッキング偏倚を利用し、かつＲＦ信号をチルト発生量の評価指標として用いて行うものとしている。
【０１０１】
このとき、第３の実施の形態で設定していた１００μｍなどの比較的大きな偏倚量Ｘは、偏芯のみを利用して得ることができない場合もある。そこで、スライド移動を併用して所望のトラッキング偏倚量Ｘが得られるようにする。
具体的に本例の場合、Ｘ＝１００μｍのトラッキング偏倚量が得られるようにするにあたり、偏芯分も考慮して、光学ピックアップ３を５０μｍスライド移動させるものとする。
【０１０２】
図１３Ｂは、このように５０μｍのスライド強制移動を行った場合における、第１の周波数でのトラッキングエラー信号ＴＥ、ＲＦ信号の各振幅を例示している。
スライド強制移動が行われたことで、そのスライド移動量分のオフセットがトラッキングエラー信号ＴＥに与えられる。例えば偏芯が最大±５０μｍ生じる場合であれば、図のように、一方の方向（極性）に偏芯量が最大となったとき、トラッキングエラー信号ＴＥの振幅はセンターレベル（トラッキング偏倚量＝０）となる。これに対し、他方の方向に偏芯が最大となったとき、トラッキングエラー信号ＴＥの振幅（絶対値）は最大値を示す。このとき、トラッキング偏倚量は、偏芯５０μｍ＋スライド移動５０μｍより１００μｍとなる。
なおこの図では、第１の周波数時における偏芯最大位置（偏倚量＝１００μｍ）でのＲＦ信号振幅が、８０％に減衰する（減衰量＝２０％）ものと示している。
【０１０３】
例えば上記のように偏芯が５０μｍ以上生じる場合であれば、スライド移動量＝５０μｍとすることで、ディスクが一周する間に、トラッキング偏倚量が目標とする１００μｍとなるポイントが必ず得られることになる。
そこで本実施の形態では、トラッキング偏倚量Ｘ＝１００μｍ時のチルト補正量を測定するにあたっては、偏倚量サンプリング部２０からのトラッキング偏倚量をモニタし、当該トラッキング偏倚量が目標の１００μｍとなったときのＲＦ信号振幅を取得する。
【０１０４】
ここで、前述のようにＲＦ信号は、その減衰量がチルトの発生量と相関を持つものとなるが、これをそのままチルト発生量（チルト補正量）として用いるのは適切ではなく、チルト補正量への換算を行うことが望ましい。
このため第４の実施の形態では、ＲＦ信号振幅の減衰量（最大値を基準とした減衰量）とチルト補正量との対応関係を表す情報を予め光ディスク装置３０に対して設定しておくことになる。
このようなＲＦ信号振幅減衰量／チルト補正量の対応関係情報は、各個体に標準化されたものを設定してもよいし、個体ごとに求めたものを個別に設定しておくこともできる。
【０１０５】
以上を踏まえた上で、第４の実施の形態の対応関係情報作成の具体的手法について説明する。
第４の実施の形態の対応関係情報作成手法としても、ＲＦ信号を用い偏芯を利用するという点以外、大まかな流れとしては第３の実施の形態の作成手法と同様となる。
具体的には、以下の１'）〜５'）の手順に大別できる。
１'）トラッキングサーボがＯＮかつチルト補正部１８による定常チルト補正が実行されている状態で、回転周波数＝第１の周波数（この場合も５０Ｈｚとする）の下で、スライド駆動部６のみを所定量（この場合は上述のように５０μｍとする）だけトラッキング方向に強制的に変位させる。この状態で、偏倚量サンプリング部２０からのトラッキング偏倚量をモニタし、その値が偏倚量Ｘ＝１００μｍとなったときのＲＦ信号振幅を取得する。このように取得したＲＦ信号振幅からＲＦ信号振幅減衰量を求め、上述のＲＦ信号振幅減衰量／チルト補正量の対応関係情報から対応するチルト補正量を取得し、当該チルト補正量を偏倚量Ｘかつ第１の周波数でのチルト補正量として保持する。
２'）回転周波数＝第２の周波数（この場合も１００Ｈｚとする）の下で、上記１'）と同様の手法で回転周波数＝第２の周波数かつ偏倚量Ｘの条件に対応するチルト補正量を求める。
３'）第３の実施の形態で用いていたリファレンスデータと同様に、偏倚量Ｘのときの回転周波数とチルト補正量との標準的な対応関係を表すリファレンスデータ（周波数／補正量カーブ）を基準として、上記１'）及び２'）で求まった各チルト補正量を基に偏倚量Ｘのときの実際の周波数／補正量カーブを推定する。
４'）上記３'）で求めた周波数／補正量カーブから、第３の実施の形態の場合と同様に偏倚量方向の各チルト補正量の推定を行う（線形補間）。
５'）上記４'）により求まった各周波数ごとの偏倚量／チルト補正量の対応関係情報に基づき、周波数／偏倚／補正量対応情報２２ｄを作成する。
【０１０６】
なお、上記２'）に関して、第２の周波数の設定下で得られるトラッキングエラー信号ＴＥとＲＦ信号との関係を図１３Ｃに例示しておく。
トラッキングエラー信号ＴＥの振幅については図１３Ｂの場合と同様となるが、この場合は回転周波数が第１の周波数よりも高い状態にあるので、偏芯最大となる位置でのＲＦ信号振幅減衰量は図１３Ｂの場合よりも大きくなる。ここでは、第２の周波数時の偏芯最大位置でのＲＦ信号振幅が５０％に減衰するものと示している。
【０１０７】
上記により説明したような第４の実施の形態としての対応関係情報作成手法によれば、ＲＦ信号を用いたことで、ディスクが１周する間に所望の偏倚量Ｘでのチルト評価値を取得することができる。つまりこれにより、偏芯の影響を排除するためディスク１周以上の区間の測定を行う第３の実施の形態の場合と比較して、測定時間の短縮化が図られる。このような効果は、複数の偏倚量での測定を行うとした場合に特に顕著となる。
【０１０８】
［4-3．処理手順］
上記により説明した第４の実施の形態としての対応関係情報の作成手法を実現するために行われるべき具体的な処理の手順を、図１４のフローチャートに示す。
なお、この図１４に示す処理は、コントローラ２１がメモリ２２に記憶された制御プログラム２２ｆに基づき実行するものである。
また、この図に示す処理が実行されるにあたっても、既にトラッキングサーボはＯＮの状態にあり、また、チルト補正部１８によるチルト補正が実行された状態にあるとする。
【０１０９】
図１４において、ステップＳ３０１の待機処理、及びステップＳ３０２の周波数設定識別値Ｎの設定処理については、図１１に示したステップＳ２０１、ステップＳ２０２の処理とそれぞれ同様の処理となる。
【０１１０】
この場合、ステップＳ３０２の設定処理の実行後は、ステップＳ３０３において、所定量のスライド強制移動処理を実行する。つまり本例では、スライド駆動部６により光学ピックアップ３を５０μｍ分強制移動させる処理となる。
【０１１１】
ステップＳ３０３のスライド強制移動処理の実行後は、ステップＳ３０４にて回転周波数＝第Ｎ周波数とする処理を実行した後、ステップＳ３０５において、偏倚量及びＲＦ信号振幅のモニタを開始する。
そして、続くステップＳ３０６において、偏倚量＝Ｘとなるまで待機する。
【０１１２】
ステップＳ３０６において、偏倚量＝Ｘとなったとして肯定結果が得られた場合は、ステップＳ３０７において、ＲＦ信号振幅を取得する。
そして続くステップＳ３０８において、取得したＲＦ信号振幅からＲＦ信号振幅減衰量を計算し、これを例えばメモリ２２等の所定のメモリに記憶する。
【０１１３】
ステップＳ３０８の処理の実行後は、ステップＳ３０９において、Ｎ＝上限値であるか否かを判別し、Ｎ＝上限値ではないとの否定結果が得られた場合はステップＳ３１０においてＮの値をインクリメントした後ステップＳ３０４に戻り、またＮ＝上限値であるとの肯定結果が得られた場合は、ステップＳ３１１に処理を進める。
【０１１４】
ステップＳ３１１では、各測定点のＲＦ信号振幅減衰量とリファレンスデータとに基づき、偏倚量Ｘのときの周波数／補正量カーブを算出する。
このステップＳ３１１の処理では、各測定点のＲＦ信号振幅減衰量（偏倚量Ｘ・第１の周波数時の減衰量、偏倚量Ｘ・第２の周波数時の減衰量）を、前述のＲＦ信号振幅減衰量／チルト補正量の対応関係情報を用いてチルト補正量に換算する処理を行う。これにより、偏倚量Ｘ・第１の周波数時のチルト補正量、及び偏倚量Ｘ・第２の周波数時のチルト補正量が得られることになるが、これらの各測定点のチルト補正量を得た後の偏倚量／補正量カーブの算出処理は、先の図１１におけるステップＳ２０９の偏倚量／補正量カーブの算出処理と同様となるので、改めての説明は省略する。
【０１１５】
ステップＳ３１１の算出処理の実行後は、ステップＳ３１２において、回転周波数ごとに、各偏倚量に対応するチルト補正量を補間により算出する。当該ステップＳ３１２の処理は、先のステップＳ２１０の処理と同様となる。
そして、続くステップＳ３１３においては、先のステップＳ２１１と同様に、周波数／偏倚／補正量対応情報２２ｄを生成（及びメモリ２２に記憶）する。
当該ステップＳ３１３の処理の実行後、この図に示す処理は終了となる。
【０１１６】
なお、上記では、ＲＦ信号を用いる例を挙げたが、プルイン（Pull-In）信号を用いることによっても同様の効果を得ることができる。
特に、プルイン信号を用いる場合には、未記録の光ディスクＤ（ブランクディスク）についても対応関係情報の作成が可能となる。
【０１１７】
また、上記では、スライド移動量は５０μｍとする場合を例示したが、これはあくまでも一例であり、スライド移動量は、最大偏芯量＋スライド移動量≧Ｘとなるように定めればよいものである。
【０１１８】
＜５．変形例＞
以上、本技術に係る各実施の形態について説明したが、本技術はこれまでで説明した具体例に限定されるべきものではない。
例えばこれまでの説明では、偏倚量Ｘ＝１００μｍの一点で周波数／補正量カーブを求めるものとしたので、各回転周波数ごとの偏倚／補正量の対応関係情報は、原点と基準点との２点を線形補間して求めるものとしたが、周波数／補正量カーブは、複数の偏倚量について求めることもできる。このように複数の偏倚量について周波数／補正量カーブを求めた際には、各回転周波数ごとの偏倚／補正量についての対応関係情報を求めるときに、図１５に示すように複数の測定点を得ることができる。例えば図１５の例では、０〜１００μｍの間における１０μｍの偏倚量ごとに測定点を得た（つまり１０μｍ刻みで周波数／補正量カーブを求めた）場合を示している。
このように複数の測定点が得られるので、この場合は、線形補間ではなく、これらの測定点を用いた線形近似により偏倚／補正量の対応関係情報を算出することができる（図１５中の実線）。
図１５では、先の図１０に示した線形補間の結果を破線により示しているが、この場合、基準点の測定が正確でなかった場合には、正しい対応関係情報を得ることができないこととなる。これに対し、線形近似した場合（実線）には、複数の測定結果に基づいてより正確な偏倚／補正量の対応関係情報を得ることができる。
【０１１９】
また、これまでの説明では、対応関係情報はテーブル情報として持つ場合を例示したが、例えば関数で持つことも可能である。その場合、ＡＣチルト補正にあたっては、検出される偏倚量から逐次対応するチルト補正量を当該関数を用いて計算により求めることになる。
【０１２０】
また、これまでの説明では、対応関係情報の作成は、起動時やディスク挿入時等に対応して実行する場合を例示したが、対応関係情報の作成は、ディスク回転速度の切り替え時に対応して実行することもできる。
具体的にその場合は、速度切り替えを行うべき状態となったことに応じ、切り替え前の現在の回転周波数（第１の周波数）で測定を行い、切り替え後の回転周波数（第２の周波数）で測定を実行することで、２点の測定値を得ることができる。
【０１２１】
また、ｉ−ＭＬＳＥなどの評価値を用いる第３の実施の形態においても、第４の実施の形態のように、評価値の最良点からの減衰量を求め、この減衰量と予め定められた減衰量／補正量対応関係情報とから対応するチルト補正量を推定するという手法を採ることもできる。
【０１２２】
また、第４の実施の形態のようにＲＦ信号（又はプルイン信号）を用いる場合、対応関係情報の作成は、以下のような手法で実現することもできる。
先ず、ＲＦ信号を用いることで、偏芯に伴うトラッキング偏倚を利用する点は第４の実施の形態の場合と同様となる。
具体的にこの場合、先ずは以下の手順により３点の測定値を得る。
1-1）トラッキングサーボがＯＮかつチルト補正部１８によるチルト補正が実行されている状態で、回転周波数＝第１の周波数（この場合も例えば５０Ｈｚとする）の下で、偏倚量サンプリング部２０からのトラッキング偏倚量をモニタし、その値が偏倚量Ｘ１（例えば５０μｍとする）となったときのＲＦ信号振幅を取得する。すなわち、偏芯によるトラッキング偏倚のみを利用し、回転周波数＝第１の周波数、偏倚量Ｘ１＝５０μｍの条件下でのＲＦ信号振幅を測定するものである。
1-2）上記1-1）の測定後、スライド駆動部６を所定量（この場合も５０μｍとする）だけトラッキング方向に強制的に変位させて、偏倚量サンプリング部２０による偏倚量がＸ２（Ｘ１＜Ｘ２：例えば１００μｍとする）となったときのＲＦ信号振幅を取得する。つまり、回転周波数＝第１の周波数、偏倚量Ｘ２＝１００μｍの条件下でのＲＦ信号振幅を測定するものである。
２''）回転周波数＝第２の周波数（この場合も１００Ｈｚとする）の下で、上記1-2）と同様の手法でスライド強制移動を伴う偏倚量Ｘ２のときのＲＦ信号振幅の取得を行う。すなわち、回転周波数＝第２の周波数、偏倚量Ｘ２＝１００μｍの条件下でのＲＦ信号振幅を取得するものである。
【０１２３】
ここで、上記1-1）と上記1-2）とで取得したＲＦ振幅測定値は、同一の回転周波数上で、それぞれ異なる偏倚量のときの測定値を表すものである。また、上記1-2）と上記２''）のＲＦ振幅測定値は、同一の偏倚量上で、それぞれ異なる回転周波数のときの測定値を表すものである。
従って、上記1-1）と上記1-2）のＲＦ振幅測定値を用いれば、トラッキング偏倚量に対するチルト変動の感度を推定できる。一方、上記1-2）と上記２''）のＲＦ振幅測定値を用いれば、回転周波数に応じたチルト変動の感度を推定することができる。
【０１２４】
図１６は、回転周波数毎のトラッキング偏倚によるＲＦ振幅変化例を示している。
先ず、この図に示すように、トラッキング偏倚量とＲＦ信号振幅の減衰量との関係は、トラッキング偏倚量とチルト発生量（補正量）との関係のような線形なものとはならず、二次曲線的な関係となる。また、回転周波数の上昇に応じてＡＣチルトの発生量は増大するので、同じトラッキング偏倚量であっても回転周波数が高い場合の方がＲＦ信号振幅の減衰量が大となる。
ここで、上記1-1）と上記1-2）のＲＦ振幅測定値の関係は、図中における測定点Ｓ１と測定点Ｓ２との関係となる。また、上記1-2）と上記２''）のＲＦ振幅測定値の関係は、測定点Ｓ２と測定点Ｓ３との関係となる。
これら各測定点Ｓの関係を参照して分かるように、上記1-1）と上記1-2）のＲＦ振幅測定値を用いれば、トラッキング偏倚量に対するチルト変動の感度を推定でき、また上記1-2）と上記２''）のＲＦ振幅測定値を用いれば、回転周波数に応じたチルト変動の感度を推定することができる。
【０１２５】
このように推定した各方向の感度情報を用いて、各回転周波数ごとのトラッキング偏倚量とチルト補正量との対応関係情報を求め、その結果から周波数／偏倚／補正量対応情報２２ｄを生成することができる。
【０１２６】
また、これまでの説明では、２点の回転周波数で測定を行うものとしたが、２点より多くの回転周波数で測定を行うこともできる。測定点が増える分、より正確な対応関係情報の作成に資する。
或いは、精度は低下するが、１点の測定周波数の結果から対応関係情報を推測するものとしても良い。
【０１２７】
また、本技術は、以下の（１）〜（９）に示す構成とすることも可能である。
（１）
光ディスク記録媒体に対して対物レンズを介してレーザ光照射を行うと共に、上記光ディスク記録媒体からの上記レーザ光の戻り光を上記対物レンズを介して受光する光照射／受光部と、
上記対物レンズを上記光ディスク記録媒体の半径方向に平行な方向であるトラッキング方向に変位させるトラッキング機構と、
上記光ディスク記録媒体の記録面に対する上記レーザ光の光軸の角度ずれとしてのチルトを調整するチルト調整機構と、
上記光照射／受光部が上記戻り光を受光して得られる受光信号に基づき、上記光ディスク記録媒体に形成されたトラックに対する上記レーザ光の照射スポットの上記トラッキング方向におけるずれ量を表すトラッキングエラー信号を生成するトラッキングエラー信号生成部と、
上記トラッキングエラー信号に基づき上記対物レンズについてのトラッキングサーボ制御を行うトラッキングサーボ制御部と、
上記受光信号に基づき、上記トラッキング機構により保持される上記対物レンズのニュートラル位置からの上記トラッキング方向におけるずれ量としてのトラッキング偏倚量を測定する偏倚量測定部と、
少なくとも上記トラッキング偏倚量とその偏倚量に対応するチルト補正量との関係を示す対応関係情報が記憶された記憶部と、
上記偏倚量測定部が測定した上記トラッキング偏倚量と上記対応関係情報とから特定されるチルト補正量の値に基づいて、上記チルト調整機構が駆動されるように制御することで、上記対物レンズが上記ニュートラル位置から上記トラッキング方向に偏倚することで生じるチルトの補正を実行させる制御部と
を備える光ディスク装置。
（２）
上記光ディスク記録媒体の回転周波数を測定する回転周波数測定部をさらに備え、
上記記憶部には、上記対応関係情報として、
上記トラッキング偏倚量と上記光ディスク記録媒体の回転周波数とで特定される条件ごとに、対応するチルト補正量の関係を示す周波数／偏倚量／補正量対応関係情報が記憶されていると共に、
上記制御部は、
上記トラッキング偏倚量測定部が測定した上記トラッキング偏倚量と、上記回転周波数測定部が測定した上記光ディスク記録媒体の回転周波数と、上記周波数／偏倚量／補正量対応関係情報とから特定されるチルト補正量の値に基づいて、上記チルト調整機構が駆動されるように制御する
上記（１）に記載の光ディスク装置。
（３）
上記受光信号に基づき、チルトの発生量に応じてその値が変化するチルト発生量評価指標としてのチルト評価値を生成する評価値生成部をさらに備え、
上記制御部は、
上記対物レンズが所定の偏倚量だけ偏倚した状態で上記評価値生成部にて得られたチルト評価値を取得し、取得したチルト評価値に基づいて上記所定の偏倚量に対応して設定されるべきチルト補正量を求め、この求めたチルト補正量と上記所定の偏倚量との対応関係に基づいてトラッキング偏倚量とチルト補正量との対応関係を求めることで、上記対応関係情報を生成する
上記（１）に記載の光ディスク装置。
（４）
上記制御部は、
トラッキング偏倚量＝０とチルト補正量＝０とで特定される点を原点、上記所定の偏倚量と当該所定の偏倚量に対して求めた上記チルト補正量とで特定される点を測定点とし、これら原点と測定点とに基づく線形補間又は線形近似によって上記トラッキング偏倚量とチルト補正量との対応関係を算出する
上記（３）に記載の光ディスク装置。
（５）
上記光照射／受光部を上記トラッキング方向にスライド移動させるスライド機構をさらに備え、
上記評価値生成部は、
上記受光信号に基づき上記光ディスク記録媒体の記録データについての２値化再生処理を実行した結果から２値化再生能力の評価指標となる評価値を上記チルト評価値として生成するように構成されていると共に、
上記制御部は、
上記スライド機構により上記光照射／受光部を所定の第１の変位量だけ強制的に変位させて当該第１の変位量と同量の第１のトラッキング偏倚量が生じるようにした状態で、上記チルト調整機構を制御してチルト量を調整させながらそのときの上記チルト評価値を取得した結果に基づいて、上記第１のトラッキング偏倚量に対応して設定されるべき上記チルト補正量を求め、当該求めたチルト補正量に基づいて上記トラッキング偏倚量とチルト補正量との対応関係を算出する
上記（３）及び（４）に記載の光ディスク装置。
（６）
上記評価値生成部は、
上記チルト評価値としてＲＦ信号又はプルイン信号を生成し、
上記制御部は、
上記対物レンズのトラッキング偏倚量が上記所定の偏倚量とされた状態で得られる上記ＲＦ信号又はプルイン信号の減衰量を計算し、当該減衰量の値から上記所定の偏倚量に対応して設定されるべき上記チルト補正量を換算し、この換算したチルト補正量に基づいて上記トラッキング偏倚量とチルト補正量との対応関係を算出する
上記（３）及び（４）に記載の光ディスク装置。
（７）
上記受光信号に基づき、チルトの発生量に応じてその値が変化するチルト発生量評価指標としてのチルト評価値を生成する評価値生成部をさらに備え、
上記制御部は、
上記対物レンズが所定の偏倚量だけ偏倚した状態で上記評価値生成部にて得られたチルト評価値を取得し、取得したチルト評価値に基づいて上記所定の偏倚量に対応して設定されるべきチルト補正量を求める処理を、上記光ディスク記録媒体の回転周波数としてそれぞれ異なる回転周波数が設定された下で実行することで、回転周波数ごとに、上記所定の偏倚量に対応して設定されるべきチルト補正量を取得すると共に、当該取得した回転周波数ごとのチルト補正量に基づいて、トラッキング偏倚量と回転周波数とで特定される条件ごとのチルト補正量の対応関係を求めて、上記周波数／偏倚量／補正量対応関係情報を生成する
上記（２）〜（６）に記載の光ディスク装置。
（８）
上記制御部は、
上記チルト補正量の取得を行ったそれぞれの上記回転周波数の値と、上記取得したチルト補正量とに基づき特定される点を測定点としたとき、上記所定の偏倚量のときの標準的な周波数とチルト補正量との対応関係を表すものとして予め定められたリファレンスデータとしての周波数／補正量カーブを基準とし、上記測定点を通過するカーブの形状が上記リファレンスデータとしての周波数／補正量カーブの形状に近似したものとなるようにして周波数／補正量カーブを算出すると共に、
当該算出した周波数／補正量カーブに基づき、上記周波数／偏倚量／補正量対応関係情報を生成する
上記（３）〜（６）に記載の光ディスク装置。
（９）
上記制御部は、
上記算出した周波数／補正量カーブにより特定される、上記所定の偏倚量のときの上記回転周波数ごとの上記チルト補正量の値をそれぞれ用いた線形補間又は線形近似によって、トラッキング偏倚量とチルト補正量との対応関係を上記回転周波数ごとに算出することで、上記周波数／偏倚量／補正量対応関係情報を生成する
上記（８）に記載の光ディスク装置。
【符号の説明】
【０１２８】
１,２５,３０ 光ディスク装置、２ スピンドルモータ（ＳＰＭ）、３ 光学ピックアップ、４ 対物レンズ、５ ２軸アクチュエータ、６ スライド駆動部、７ レーザドライバ、８ 記録処理部、９ マトリクス回路、１０ 再生処理部、１０ａ 評価器、１１ ウォブル回路、１２ アドレスデコーダ、１３ サーボ回路、１４ ２軸ドライバ、１５ スピンドルサーボ回路、１６ チルト調整部、１７ 補正ドライバ、１８ チルト補正部、１９ 加算部、２０ 偏倚量サンプリング部、２１ コントローラ、２２ メモリ、２２ａ,２２ｃ,２２ｅ,２２ｆ 制御プログラム、２２ｂ 偏倚／補正量対応情報、２２ｄ 周波数／偏倚／補正量対応情報、Ｄ 光ディスク
【技術分野】
【０００１】
本技術は、光ディスク記録媒体についての記録又は再生を行う光ディスク装置とそのチルト補正方法、及び光ディスク装置において実行されるべきプログラムに関する。また、対物レンズのトラッキング方向への偏倚に応じて生じるチルトの補正にあたって必要とされるトラッキング偏倚量とチルト補正量との対応関係を表す対応関係情報の生成方法に関する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００２】
【特許文献１】特開２０００−２０７７６０号公報
【特許文献２】特開２０１０−２５７５４２号公報
【背景技術】
【０００３】
例えばＣＤ（Compact Disc）、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）、ＢＤ（Blu-lay Disc：登録商標）などの光ディスク記録媒体（以下、光ディスクとも表記）が広く普及している。
【０００４】
光ディスクについて記録又は再生を行う光ディスク装置では、光ディスクの記録面に対するレーザ光の光軸の角度ずれとしてのチルトを補正する機能を具備するものがある。チルトに伴い生じるコマ収差によりサーボや記録／再生性能の低下が生じることを防止するためである。
【０００５】
なお、従来のチルト補正機能を具備する光ディスク装置については、例えば上記特許文献１や特許文献２にも記載されている。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
ここで、従来、チルト補正と言ったときは、例えばディスクの反りに起因したもの（いわゆるディスクチルト）や光学部品の組み付け精度等に依存した対物レンズの傾きに起因したもの等の抑制を目的として為されるものを指す。
【０００７】
しかしながら、チルトとしては、図１７に示すような対物レンズユニット１００の偏重心等に起因したものも生じ得ることが分かってきた。
図１７において、対物レンズユニット１００は、不図示の２軸アクチュエータによりトラッキング方向（紙面横方向）とフォーカス方向（紙面縦方向）とに変位可能に保持されている。図１７では、対物レンズユニット１００が上記２軸アクチュエータによってそのニュートラル位置（中心Ｃ）からトラッキング方向における各方向に偏倚された場合の様子を示している。
【０００８】
図示するように対物レンズユニット１００の重心に偏り（特にフォーカス方向における偏り）があると、２軸アクチュエータによりアームを介してトラッキング方向への推力が与えられた際、対物レンズユニット１００には、その自重の作用により、重心を基点として回転する力も加わることになる。このような回転方向への力の発生により、対物レンズユニット１００には、ニュートラル位置からトラッキング方向への偏倚に応じたチルトが生じることになる。
この際のチルト発生量は、トラッキング方向への偏倚量に応じた値となる。
【０００９】
また、トラッキング偏倚に応じた対物レンズユニット１００の傾きは、このような対物レンズユニット１００の偏重心に起因したもの以外にも、２軸アクチュエータの磁気推力の偏りに起因して生じる場合もある。
つまり、トラッキング方向への偏倚に応じた対物レンズユニット１００の傾きは、対物レンズユニット１００の偏重心、２軸アクチュエータの磁気推力の偏りの２つの要因で主に生じるものであり、これらの偏りは個体ごとに異なるものであるから、個体ごとに異なる態様によるチルトが生じるものとなる。
なお、磁気推力の偏りに起因するものでも、偏重心の場合と同様に、対物レンズユニット１００の傾き量はトラッキング偏倚量に応じた大きさとなる。
【００１０】
ここで、光ディスク装置では、記録や再生時において、ディスク偏芯に追従するためのトラッキングサーボを行うようにされている。この点を考慮すると、上記のようにトラッキング方向への偏倚に応じて対物レンズユニット１００に傾きが生じるということは、記録／再生時には、ディスク偏芯の周期に応じていわばＡＣ的にチルトが生じるということになる（以下、ＡＣチルトとも称する）。
【００１１】
このようなＡＣチルトの発生により、記録／再生時には周期的なコマ収差が生じるものとなり、結果、サーボ性能や再生信号の読み取り性能の悪化、及び記録信号品質の悪化等を招くという問題がある。
【００１２】
本技術はかかる問題点に鑑み為されたものであり、対物レンズのトラッキング方向への偏倚に応じて生じるＡＣチルトの補正を実現することをその課題とする。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
このため本技術では、光ディスク装置について、以下の第１の構成を提案する。
つまり、本技術の第１の構成としての光ディスク装置は、光ディスク記録媒体に対して対物レンズを介してレーザ光照射を行うと共に、上記光ディスク記録媒体からの上記レーザ光の戻り光を上記対物レンズを介して受光する光照射／受光部を備える。
また、上記対物レンズを上記光ディスク記録媒体の半径方向に平行な方向であるトラッキング方向に変位させるトラッキング機構を備える。
また、上記光ディスク記録媒体の記録面に対する上記レーザ光の光軸の角度ずれとしてのチルトを調整するチルト調整機構を備える。
また、上記光照射／受光部が上記戻り光を受光して得られる受光信号に基づき、上記光ディスク記録媒体に形成されたトラックに対する上記レーザ光の照射スポットの上記トラッキング方向におけるずれ量を表すトラッキングエラー信号を生成するトラッキングエラー信号生成部を備える。
また、上記トラッキングエラー信号に基づき上記対物レンズについてのトラッキングサーボ制御を行うトラッキングサーボ制御部を備える。
また、上記受光信号に基づき、上記トラッキング機構により保持される上記対物レンズのニュートラル位置からの上記トラッキング方向におけるずれ量としてのトラッキング偏倚量を測定する偏倚量測定部を備える。
また、少なくとも上記トラッキング偏倚量とその偏倚量に対応するチルト補正量との関係を示す対応関係情報が記憶された記憶部を備える。
また、上記偏倚量測定部が測定した上記トラッキング偏倚量と上記対応関係情報とから特定されるチルト補正量の値に基づいて、上記チルト調整機構が駆動されるように制御することで、上記対物レンズが上記ニュートラル位置から上記トラッキング方向に偏倚することで生じるチルトの補正を実行させる制御部を備えるようにした。
【００１４】
また、本技術では、光ディスク装置として以下の第２の構成も提案する。
つまり、本技術の第２の構成としての光ディスク装置は、光ディスク記録媒体に対して対物レンズを介してレーザ光照射を行うと共に、上記光ディスク記録媒体からの上記レーザ光の戻り光を上記対物レンズを介して受光する光照射／受光部を備える。
また、上記対物レンズを上記光ディスク記録媒体の半径方向に平行な方向であるトラッキング方向に変位させるトラッキング機構を備える。
また、上記光ディスク記録媒体の記録面に対する上記レーザ光の光軸の角度ずれとしてのチルトを調整するチルト調整機構を備える。
また、上記光照射／受光部が上記戻り光を受光して得られる受光信号に基づき、上記光ディスク記録媒体に形成されたトラックに対する上記レーザ光の照射スポットの上記トラッキング方向におけるずれ量を表すトラッキングエラー信号を生成するトラッキングエラー信号生成部を備える。
また、上記トラッキングエラー信号に基づき上記対物レンズについてのトラッキングサーボ制御を行うトラッキングサーボ制御部を備える。
また、上記光照射／受光部が上記戻り光を受光して得られる受光信号に基づき、上記トラッキング機構により保持される上記対物レンズのニュートラル位置からの上記トラッキング方向におけるずれ量としてのトラッキング偏倚量を測定する偏倚量測定部を備える。
また、上記受光信号に基づき、チルトの発生量に応じてその値が変化するチルト発生量評価指標としてのチルト評価値を生成する評価値生成部を備える。
さらに、上記対物レンズが所定の偏倚量だけ偏倚した状態で上記評価値生成部にて得られたチルト評価値を取得し、取得したチルト評価値に基づいて上記所定の偏倚量に対応して設定されるべきチルト補正量を求め、この求めたチルト補正量と上記所定の偏倚量との対応関係に基づいて、少なくともトラッキング偏倚量とチルト補正量との対応関係を示す対応関係情報を生成する対応関係情報生成部を備えるものである。
【００１５】
上記第１の構成としての光ディスク装置では、実際に対物レンズのトラッキング方向への偏倚量を測定し、予め記憶部に記憶された、トラッキング偏倚量とチルト補正量との対応関係を表した対応関係情報と、上記測定した偏倚量とから特定されるチルト補正量の値に基づいて、チルト補正を行うものとしている。
これにより、トラッキングサーボ制御に伴って上記対物レンズがトラッキング方向に偏倚されることで生じるＡＣチルトを補正することができる。
【００１６】
また、上記第２の構成としての光ディスク装置によれば、光ディスク装置の個体ごとに、その個体の特性に合った上記対応関係情報を作成することができる。つまりこの結果、対応関係情報を用いて行われるＡＣチルトの補正が、その個体の特性に応じて正確に行われるようにすることができる。
【発明の効果】
【００１７】
上記のように本技術によれば、対物レンズの偏重心や２軸アクチュエータの磁気推力の偏りに起因して生じるＡＣチルトの補正を実現することができる。
また、ＡＣチルトの補正値を得るにあたって参照する偏倚量／チルト補正量についての対応関係情報を個体ごとに作成することで、ＡＣチルトの補正がより正確なものとなるようにできる。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】第１の実施の形態としての光ディスク装置の内部構成を示した図である。
【図２】偏倚／補正量対応情報の内容を示した図である。
【図３】第１の実施の形態としてのＡＣチルト補正を実現するために実行されるべき処理の手順を示したフローチャートである。
【図４】第２の実施の形態の光ディスク装置の構成について説明するための図である。
【図５】周波数／偏倚／補正量対応情報の内容を示した図である。
【図６】第２の実施の形態としてのＡＣチルト補正を実現するために実行されるべき処理の手順を示したフローチャートである。
【図７】第３の実施の形態の光ディスク装置の内部構成を示した図である。
【図８】リファレンスデータを用いた実際の周波数／補正量カーブの算出手法について説明するための図である。
【図９】リファレンスデータに基づく実際の周波数／補正量カーブの算出例を示した図である。
【図１０】線形補間のイメージを示した図である。
【図１１】第３の実施の形態としての対応関係情報の作成手法を実現するために行われるべき具体的な処理の手順を示したフローチャートである。
【図１２】第４の実施の形態の光ディスク装置の内部構成を示した図である。
【図１３】トラッキングエラー信号振幅（トラッキング偏倚量）とＲＦ信号振幅との関係を例示した図である。
【図１４】第４の実施の形態としての対応関係情報の作成手法を実現するために行われるべき具体的な処理の手順を示したフローチャートである。
【図１５】複数の測定点を用いた線形近似について説明するための図である。
【図１６】回転周波数毎のトラッキング偏倚によるＲＦ振幅変化例を示した図である。
【図１７】トラッキング方向への偏倚に応じて対物レンズに傾きが生じる点について説明するための図である。
【発明を実施するための形態】
【００１９】
以下、本技術に係る実施の形態について説明する。
なお、説明は以下の順序で行う。
＜１．第１の実施の形態（偏倚量に応じたＡＣチルト補正）＞
［1-1．光ディスク装置の構成例］
［1-2．処理手順］
＜２．第２の実施の形態（偏倚量及び回転周波数に応じたＡＣチルト補正）＞
＜３．第３の実施の形態（対応関係情報の具体的作成例１）＞
［3-1．光ディスク装置の構成例］
［3-2．対応関係情報の作成］
［3-3．処理手順］
＜４．第４の実施の形態（対応関係情報の具体的作成例２）＞
［4-1．光ディスク装置の構成例］
［4-2．対応関係情報の作成］
［4-3．処理手順］
＜５．変形例＞
【００２０】
＜１．第１の実施の形態（偏倚量に応じたＡＣチルト補正）＞
［1-1．光ディスク装置の構成例］
図１は、本技術に係る第１の実施の形態としての光ディスク装置（光ディスク装置１とする）の内部構成を示している。
先ず、図中の光ディスクＤは、円盤状の光記録媒体（光ディスク記録媒体）である。ここで、光記録媒体とは、光の照射により情報の記録又は再生が行われる記録媒体を指す。
本例の光ディスク装置１は、光ディスクＤとして、少なくともＤＶＤ（Digital Versatile Disc）、ＢＤ（Blu-ray Disc：登録商標）に対応してその記録又は再生が可能に構成されているとする。
【００２１】
光ディスクＤは、光ディスク装置１に装填されると、図中のスピンドルモータ（ＳＰＭ）２により回転駆動される。
スピンドルモータ２は、後述するスピンドルサーボ回路１５より供給される駆動信号に従って光ディスクＤを回転駆動する。
【００２２】
光ディスク装置１には、上記のように回転駆動される光ディスクＤに対して情報の記録／再生を行うためのレーザ光の照射、及び光ディスクＤに照射された当該レーザ光の反射光（戻り光）を受光するための光学ピックアップ３が設けられる。
光学ピックアップ３内には、上記レーザ光の光源となるレーザダイオードが設けられる。また、上記レーザ光を光ディスクＤに集光するための対物レンズ（対物レンズユニット）４、及び当該対物レンズ４を光ディスクＤに接離する方向（フォーカス方向）及び半径方向（トラッキング方向）に変位可能に保持する２軸アクチュエータ５が設けられる。さらには、上記反射光を受光するためのフォトディテクタ等が設けられる。また、光学ピックアップ３内には、上記レーザ光を上記レーザダイオードから上記対物レンズに導き且つ上記反射光を上記フォトディテクタに導くための光学系も備えられる。
【００２３】
また、光学ピックアップ３全体は、図中のスライド駆動部６により、トラッキング方向にスライド移動可能に保持されている。
【００２４】
光学ピックアップ３内における上記レーザダイオードは、レーザドライバ７により発光駆動される。記録時において、レーザドライバ７は、記録処理部８から入力される記録信号に従って上記レーザダイオードを発光駆動するようにされる。
記録処理部８は、入力された記録データに所定の記録変調符号化処理等を施して、上記記録信号を生成する。
【００２５】
光学ピックアップ３内の上記フォトディテクタが上記反射光を受光して得られた受光信号は、マトリクス回路９に供給される。
マトリクス回路９は、上記フォトディテクタとしての複数の受光素子からの出力電流に対応して電流電圧変換回路、マトリクス演算／増幅回路等を備え、マトリクス演算処理により必要な信号を生成する。
例えば再生データを得るための高周波信号（再生データ信号：以下ＲＦ信号と表記）、サーボ制御のためのフォーカスエラー信号ＦＥ、トラッキングエラー信号ＴＥを生成する。ここで、フォーカスエラー信号ＦＥは、光ディスクＤに形成された記録面（反射面）に対する上記レーザ光の合焦位置の誤差を表す信号である。またトラッキングエラー信号ＴＥは、上記記録面に形成されたトラック（ピット列又はグルーブ）に対する上記レーザ光の照射スポットのトラッキング方向における位置誤差を表す信号となる。
また、マトリクス回路９は、グルーブのウォブリングに係る信号、すなわちウォブリングを検出する信号としてプッシュプル信号ＰＰを生成する。
さらにマトリクス回路９は、レンズエラー信号ＬＥを生成する。レンズエラー信号ＬＥは、対物レンズ４のニュートラル位置からのトラッキング方向の駆動量を表す信号であり、例えばＭＰＰ（Main Push-Pull）信号とＳＰＰ（Side Push-Pull）信号とに基づいて生成できる。
【００２６】
マトリクス回路９が生成したＲＦ信号は再生処理部１０へ、フォーカスエラー信号ＦＥ及びトラッキングエラー信号ＴＥはサーボ回路１３へ、またプッシュプル信号ＰＰはウォブル回路１１へそれぞれ供給される。
またレンズエラー信号ＬＥは偏倚量サンプリング部２０へ供給される。
【００２７】
再生処理部１０は、ＲＦ信号に対して２値化処理を行うと共に、ＰＬＬ（Phase Locked Loop）による再生クロック生成処理等を行う。
再生処理部１０で得られた再生データ（２値化データ）は、不図示の復調回路に供給され、エラー訂正処理等を施されることになる。
なお、再生処理部１０で再生された上記クロックについてはＣＬＫ-Pと表記する。
【００２８】
ウォブル回路１１は、プッシュプル信号ＰＰに基づき、グルーブのウォブリングにより記録されたアドレス情報を得るためのウォブル信号を生成する。
アドレスデコーダ１２は、ウォブル回路１１から供給されるウォブル信号に基づきアドレス検出を行う。検出されたアドレス情報はコントローラ２１に供給される。
またアドレスデコーダ１２は、ウォブル回路１１から供給されるウォブル信号を用いたＰＬＬ処理でクロックＣＬＫ-Rを生成する。このクロックＣＬＫ-Rは、例えば記録時のエンコードクロック等として用いられる。
【００２９】
サーボ回路１３は、マトリクス回路９からのフォーカスエラー信号ＦＥ、トラッキングエラー信号ＴＥから、フォーカス、トラッキング、スレッドの各種サーボ信号を生成し、サーボ動作を実行させる。
すなわち、フォーカスエラー信号ＦＥ、トラッキングエラー信号ＴＥに応じてフォーカスサーボ信号、トラッキングサーボ信号をそれぞれ生成し、これらを２軸ドライバ１４に与える。
２軸ドライバ１４は、これらフォーカスサーボ信号、トラッキングサーボ信号に基づき生成したフォーカスドライブ信号、トラッキングドライブ信号により、２軸アクチュエータ５のフォーカスコイル、トラッキングコイルをそれぞれ駆動する。これにより、２軸アクチュエータ５→マトリクス回路９→サーボ回路１３→２軸ドライバ１４→２軸アクチュエータ５・・・によるフォーカスサーボループ及びトラッキングサーボループがそれぞれ形成される。
【００３０】
また、サーボ回路１３は、トラッキングエラー信号ＴＥの低域成分として得られるスライドエラー信号や、コントローラ２１からのアクセス実行制御などに基づいてスライドドライブ信号を生成し、スライド駆動部６を駆動する。スライド駆動部６は、図示は省略したが、光学ピックアップ３を保持するメインシャフト、スライドモータ、伝達ギア等による機構を有し、上記スライドドライブ信号に応じて上記スライドモータを駆動することで、光学ピックアップ３の所要のスライド移動を実現する。
【００３１】
スピンドルサーボ回路１５は、スピンドルモータ２をＣＬＶ回転（線速度一定回転）させる制御を行う。
スピンドルサーボ回路１５は、前述のアドレスデコーダ１２がウォブル信号に対するＰＬＬ処理で生成したクロックＣＬＫ-Rを現在のスピンドルモータ２の回転速度情報として得、これを所定のＣＬＶ基準速度情報と比較することで、スピンドルエラー信号を生成する。
またデータ再生時においては、再生処理部１０のＰＬＬ処理によって生成されるクロックＣＬＫ-Pが、現在のスピンドルモータ２の回転速度情報となるため、これを所定のＣＬＶ基準速度情報と比較することでスピンドルエラー信号を生成することもできる。
そしてスピンドルサーボ回路１５は、スピンドルエラー信号に応じて生成したスピンドルドライブ信号を出力し、スピンドルモータ２のＣＬＶ回転を実行させる。
またスピンドルサーボ回路１５は、コントローラ２１からのスピンドルキック／ブレーキ制御信号に応じてスピンドルドライブ信号を発生させ、スピンドルモータ２の起動、停止、加速、減速などの動作も実行させる。
【００３２】
また、この場合の光ディスク装置１には、チルト補正のための構成として、チルト調整部１６、補正ドライバ１７、チルト補正部１８、及び加算部１９が備えられている。
チルト調整部１６は、光ディスクＤの記録面に対するレーザ光の光軸の角度ずれとしてのチルトを調整するように構成されている。本例において、チルト調整部１６は、光学ピックアップ３を保持するスライド駆動部６を傾けることで、チルト角の調整を行うように構成されている。なおチルト調整部１６は、対物レンズ４を直接傾けるように構成してもよい。
チルト調整部１６は、補正ドライバ１７からの駆動信号に基づいてチルト角の調整を行う。
【００３３】
チルト補正部１８は、補正ドライバ１７に対してチルト補正量を指示することで、チルト補正を実行させる。
このチルト補正部１８の指示に基づき行われるチルト補正は、ディスクチルトの補正となる。具体的に、チルト調整部１８は、光ディスクＤの半径位置に応じた補正量を補正ドライバ１７に対して指示し、これによりディスクチルトについての補正を実行させる。なお、上記半径位置の情報は、コントローラ２１より供給される。
【００３４】
なお、本実施の形態の場合、チルト補正部１８と補正ドライバ１７との間には加算部１９が挿入されるが、この加算部１９を用いたチルト補正については後述する。
【００３５】
また、光ディスク装置１には、偏倚量サンプリング部２０が設けられる。
偏倚量サンプリング部２０は、マトリクス回路９により生成されたレンズエラー信号ＬＥの振幅値をサンプリングして、対物レンズ４のトラッキング方向への偏倚量を検出する。
【００３６】
ここで、トラッキング方向への偏倚量とは、対物レンズ４がトラッキング方向に偏倚している量であり、具体的には、２軸アクチュエータ５により保持された対物レンズ４が、そのニュートラル位置からトラッキング方向に変位した量を指す。
【００３７】
以上で説明してきたサーボ系及び記録再生系等の各部の動作は、コントローラ２１により制御される。コントローラ２１は、例えばＣＰＵ（Central Processing Unit）、ＲＯＭ（Read Only Memory）、ＲＡＭ（Random Access Memory）を備えたマイクロコンピュータで構成され、例えば上記ＲＯＭ等のメモリに格納されたプログラムに従った制御・処理を実行することで、光ディスク装置１の全体制御を行う。
例えばコントローラ２１は、サーボ回路１３に指示を出すことにより、スライド駆動部６によって所定のアドレスに光学ピックアップ３を移動させる。またコントローラ２１は、スピンドルサーボ回路１５に対し、前述したキック／ブレーキについての制御指示を行うと共に、スピンドルモータ２の回転速度（回転周波数）の設定制御も行う。
【００３８】
コントローラ２１に対しては、メモリ２２が設けられる。
図示するようにこのメモリ２２には、制御プログラム２２ａ、偏倚／補正量対応情報２２ｂが記憶されている。
制御プログラム２２ａは、後の図３に示す処理をコントローラ２１に実行させるためのプログラムとなる。
【００３９】
図２は、偏倚／補正量対応情報２２ｂの内容を示している。
図示するように偏倚／補正量対応情報２２ｂは、偏倚量とチルト補正量とを対応づけた情報とされる。偏倚量は、対物レンズ４のトラッキング方向への偏倚量である。
この偏倚／補正量対応情報２２ｂにおいて、各偏倚量に対しては、その偏倚量のときに生じる対物レンズ４のチルトを補正することができるものとして予め実験等により導出されたチルト補正量が対応づけられている。
ここで、対物レンズ４の重心の偏りや２軸アクチュエータ５の磁気推力の偏りは、光ディスク装置１（光学ピックアップ３）の個体ごとに異なるものとなるので、偏倚／補正量対応情報２２ｂについては、個体ごとに求められたものを格納しておくことが望ましい。
なお、図２においては、偏倚量とチルト補正量の極性が共に正となる場合を例示しているが、例えば図１７に示すようなトラッキング偏倚とチルトとの関係性の場合（トラッキング偏倚の極性とチルトの極性とが異なる場合）、偏倚／補正量対応情報２２ｂに格納される偏倚量とチルト補正量の組み合わせは、正と負の値の組み合わせとなる。或いは、偏倚量とチルト補正量の絶対値の関係は何れの場合も同様であるので、補正量を加算する際の極性をトラッキング偏倚とチルトとの関係性に応じて適切に変更するものとすれば、図１７のようなチルトが生じる場合にも図２に示す偏倚／補正量対応情報を用いることは可能である。
【００４０】
［1-2．処理手順］
図３は、図１に示した光ディスク装置１が、対物レンズ４の偏重心等に応じて生じるＡＣチルトの補正を実現するために実行すべき具体的な処理の手順を示したフローチャートである。
なお、この図３に示す処理は、図１に示したコントローラ２１が制御プログラム２２ａに従って実行するものである。
また、この図に示す処理が実行される際には、既にトラッキングサーボがＯＮの状態にあるとする。
【００４１】
図３において、先ずステップＳ１０１では、チルト補正を開始すべき状態となるまで待機する。
ここで、ＡＣチルトの補正は、記録や再生動作の実行中をはじめとして、記録や再生の開始前におけるシーク時（アドレス読出時）においても行われるべきものとなる。この図に示すチルト補正のための処理を開始すべきタイミングとしては、少なくともこれらの期間中に補正が実行されるように設定すればよい。
【００４２】
ステップＳ１０１において、チルト補正を開始すべき状態となったとされた場合は、ステップＳ１０２において、偏倚量を取得する。すなわち、偏倚量サンプリング部２０により検出された対物レンズ４の偏倚量の値を取得する。
【００４３】
続くステップＳ１０３では、対応する補正量を取得する。具体的には、図２に示した偏倚／補正量対応情報２２ｂを参照して、ステップＳ１０２にて取得した偏倚量に対応づけられているチルト補正量の値を取得するものである。
【００４４】
ステップＳ１０３において補正量を取得した後は、ステップＳ１０４において、補正量の加算処理を実行する。すなわち、ステップＳ１０３にて取得したチルト補正量の値を、加算部１９に指示して、チルト補正部１８からの補正量の値に加算させるものである。
これにより、チルト補正部１８によりディスクチルトについての補正が行われつつ、対物レンズ４のＡＣチルトについての補正も行われるようにできる。
【００４５】
ステップＳ１０４の加算処理を実行した後は、ステップＳ１０５において、チルト補正を終了すべき状態となったか否かを判別する。
補正を終了すべき具体的なタイミングとしては、例えばディスクの回転停止のタイミングや、或いは記録／再生の速度（回転速度）が予め設定された補正不要とされる速度域に変更されたタイミング等を挙げることができる。
【００４６】
ステップＳ１０４において、チルト補正を終了すべき状態とはなっていないとの否定結果が得られた場合は、先のステップＳ１０２に戻り、再び偏倚量の取得を実行する。
一方ステップＳ１０４において、チルト補正を終了すべき状態となったとして肯定結果が得られた場合は、この図に示す処理は終了となる。
【００４７】
上記のように本実施の形態では、記録時や再生時に対応して、レンズエラー信号ＬＥから対物レンズ４のトラッキング偏倚量を検出し、当該偏倚量と、各偏倚量とそれに対応して設定されるべきチルト補正量との対応関係を表す偏倚／補正量対応情報２２ｂとに基づき、補正のために設定すべきチルト補正量を取得し、当該取得したチルト補正量によりチルト補正を行うものとしている。
これにより、対物レンズ４のトラッキング偏倚に起因して生じるＡＣチルトを適切に補正することができる。
【００４８】
ＡＣチルトの補正が実現されることで、ＡＣチルトに起因して生じていたサーボ性能の悪化や再生信号の読み取り性能の悪化、及び記録信号品質の悪化等の問題を解消することができる。
【００４９】
＜２．第２の実施の形態（偏倚量及び回転周波数に応じたＡＣチルト補正）＞
続いて、第２の実施の形態について説明する。
第２の実施の形態は、光ディスクＤの回転周波数も考慮したＡＣチルト補正を行うものである。
【００５０】
ここで、記録時や再生時において、トラッキングサーボがＯＮの状態では、光ディスクＤの回転周波数が上昇すると、ディスク偏芯の周期が早まるので、対物レンズ４のトラッキング方向への駆動周波数が上昇することになる。
このとき、駆動周波数が２軸アクチュエータ５の固有振動数（共振周波数）に近づくと、チルト発生量は増大することになる。
【００５１】
そこで、より正確なＡＣチルト補正の実現にあたっては、検出した偏倚量のみに応じた補正とするのではなく、回転周波数も考慮したチルト補正とすることが有効となる。
【００５２】
先ずは図４により、第２の実施の形態の光ディスク装置の構成について説明する。
図４では、第２の実施の形態の光ディスク装置の構成のうち第１の実施の形態の光ディスク装置１とは異なる部分を主に示しており、図のようにこの場合は、メモリ２２に記憶される制御プログラム２２ａが制御プログラム２２ｃに変更され、また偏倚／補正量対応情報２２ｂに代えて周波数／偏倚／補正量対応情報２２ｄが記憶される点が異なる。
【００５３】
図５は、この場合のメモリ２２に記憶された周波数／偏倚／補正量対応情報２２ｄの内容を示している。
図示するように周波数／偏倚／補正量対応情報２２ｄは、回転周波数、偏倚量、及びチルト補正量が対応づけられた情報となる。つまり、回転周波数及び偏倚量で特定される条件ごとに、それに対応して設定されるべきチルト補正量が対応づけられているものである。
このような周波数／偏倚／補正量対応情報２２ｄについても、予め個体ごとに回転周波数及び偏倚量とそれに対応する最適なチルト補正量との対応関係を実験等により導出しておき、その結果を個体ごとに記憶させておくことが正確なチルト補正の実現の上で望ましい。
【００５４】
図６は、回転周波数も考慮した第２の実施の形態としてのＡＣチルト補正を実現するために実行されるべき具体的な処理の手順を示したフローチャートである。
なお、この図６に示す処理は、コントローラ２１が図４に示した制御プログラム２２ｃに従って実行するものである。
また、この図においても、既にトラッキングサーボがＯＮの状態にあるとする。
ここで、図６において、既に先の図３にて説明済みとなった処理と同様の処理については同一ステップ番号を付して説明を省略する。
【００５５】
先の図３と比較して分かるように、この図６に示す処理では、ステップＳ１０３に代えてステップＳ２０１及びステップＳ２０２の処理が実行されることになる。
具体的にこの場合、ステップＳ１０２において偏倚量を取得した後は、ステップＳ２０１において、回転周波数を取得する処理を実行する。具体的に、例えば記録時であればアドレスデコーダ１２で生成されたクロックＣＬＫ-Rに基づき回転周波数を取得し、再生時であれば、上記クロックＣＬＫ-R或いはＲＯＭディスクであれば再生処理部１０により生成されたクロックＣＬＫ-Pに基づき回転周波数を取得する。
【００５６】
そして、回転周波数を取得した後は、ステップＳ２０２において、対応する補正量を取得する。具体的にこの場合は、先の図５に示した周波数／偏倚／補正量対応情報２２ｄを参照して、ステップＳ２０１で取得した回転周波数と、ステップＳ１０２にて取得した偏倚量との組に対して対応づけられているチルト補正量の値を取得する。
【００５７】
補正量の取得後は、ステップＳ１０４において、補正量の加算処理を実行する。
この結果、この場合は現在の回転周波数と対物レンズ４のトラッキング偏倚量とに応じた適切な補正量により、対物レンズ４のＡＣチルトについての補正が行われるようにできる。
【００５８】
なおこの場合も、ステップＳ１０４の加算処理を実行した後は、ステップＳ１０５においてチルト補正を終了すべき状態となったか否かを判別し、終了すべき状態ではないとの否定結果が得られた場合は先のステップＳ１０２に戻り、一方、終了すべき状態であるとの肯定結果が得られた場合はこの図に示す処理は終了となる。
【００５９】
上記のような第２の実施の形態としてのチルト補正手法により、例えば記録速度や再生速度の切り替えやＣＬＶ制御に伴う内／外周での回転周波数差等により、同じ偏倚量に対するＡＣチルト量が変動するような場合でも、その変動を吸収し、より正確なチルト補正を実現することができる。
【００６０】
＜３．第３の実施の形態（対応関係情報の具体的作成例１）＞
［3-1．光ディスク装置の構成例］
第３の実施の形態、及び後述する第４の実施の形態は、光ディスク装置の個々が自ら偏倚量とチルト補正量とについての対応関係情報を作成し、作成した対応関係情報を用いてＡＣチルトの補正を行うものである。
先ず、第３の実施の形態では、このような対応関係情報の作成についての具体例１につき説明する。
【００６１】
図７は、第３の実施の形態の光ディスク装置２５の内部構成を示している。
なお第３の実施の形態において、既にこれまでで説明済みとなった部分については同一符号を付して説明を省略する。
【００６２】
この図７と先の図１とを比較して分かるように、第３の実施の形態の光ディスク装置２５は、第１の実施の形態の光ディスク装置１と比較して、再生処理部１０に評価器１０ａが設けられた点と、メモリ２２において制御プログラム２２ａに代えて制御プログラム２２ｅが記憶された点とが異なる。
ここで、第３の実施の形態（第４の実施の形態も同様）においても、第２の実施の形態の場合と同様に、ＡＣチルト補正としては回転周波数も考慮した補正を行うことを前提としている。このため、後述する第３の実施の形態としての対応関係情報作成例により作成しメモリ２２に記憶される対応関係情報としては、第２の実施の形態の場合と同様、回転周波数と偏倚量とチルト補正量とが対応づけられた周波数／偏倚／補正量対応情報２２ｄとなる。
【００６３】
図７において、評価器１０ａは、ＲＦ信号の２値化処理で得られる２値化データについて、その再生性能についての評価指標となる再生性能評価値を測定（計算）する。換言すれば、この再生性能評価値は、２値化再生能力の評価指標となる評価値と表現することもできる。
本例の場合、この再生性能評価値としては、ｉ−ＭＬＳＥ (Maximum Likelihood Sequence Estimation）を測定するものとしている。
ここで、評価器１０ａにおいて、ｉ−ＭＬＳＥの測定区間長は可変であるとする。当該測定区間長の指示は、コントローラ２１により可能とされる。
図示するように評価器１０ａにて測定されたｉ−ＭＬＳＥは、コントローラ２１に対して供給される。
【００６４】
［3-2．対応関係情報の作成］
第３の実施の形態の光ディスク装置２５では、以下で説明するような手法によって周波数／偏倚／補正量対応情報２２ｄを作成する。
先ず、対応情報２２ｄの作成にあたって留意すべき点は、測定時間の短縮化という点である。
ここで、対応情報２２ｄの最も単純な作成手法としては、想定され得る回転周波数と偏倚量の組み合わせごとに、チルト発生量を測定するという手法を挙げることができる。しかしながら、このような手法を採った場合には対応情報２２ｄの作成に膨大な時間を要し、現実的とは言えない。
そこで本実施の形態では、比較的短時間での対応関係情報２２ｄの作成が可能となるようにすべく、以下のような手法を採るものとしている。
【００６５】
大まかには、以下の１）〜５）の手順に大別できる。
１）トラッキングサーボがＯＮかつチルト補正部１８によるチルト補正（定常チルトの補正）が実行されている状態で、回転周波数＝第１の周波数の下で、スライド駆動部６のみを所定量Ｘだけトラッキング方向に強制的に変位させて対物レンズ４を偏倚量Ｘだけトラッキング方向に偏倚させた状態とする。この状態で、ｉ−ＭＬＳＥを指標として最適なチルト補正量を探索し、当該チルト補正量を、回転周波数＝第１の周波数かつ偏倚量Ｘの条件に対応するチルト補正量として保持する。
２）回転周波数＝第２の周波数の下で、上記１）と同様の手法で回転周波数＝第２の周波数かつ偏倚量Ｘの条件に対応するチルト補正量を求める。
３）予め設定された、上記偏倚量Ｘのときの回転周波数とチルト補正量との標準的な対応関係を表す周波数／補正量カーブ（リファレンスデータ）と、上記１）及び２）で求まった各チルト補正量（チルト発生量）とに基づき、偏倚量Ｘのときの実際の周波数／補正量カーブを推定する（図８を参照）。
４）上記３）で求めた周波数／補正量カーブから、偏倚量方向の各チルト補正量の推定を行う。具体的に本例では、上記周波数／補正量カーブ上における各ポイント（［周波数，チルト補正量］で特定されるポイント）を基準点、［偏倚量＝０，チルト発生量＝０］を原点として、これら原点と基準点とを用いた線形補間により、各回転周波数における偏倚量とチルト補正量との対応関係を推定する（図１０を参照）。
５）上記４）により、各周波数ごとに、偏倚量とチルト補正量との対応関係が求まるので、それらの結果を用いて、周波数／偏倚／補正量対応情報２２ｄを作成する。
なお、上記１）でチルト補正部１８による定常チルトの補正を行っていることからも理解されるように、本実施の形態で求めるチルト補正量は、ＡＣチルトについての補正量となる。従って以下、単に「チルト補正量（又はチルト発生量）」と言ったときは、ＡＣチルトについての補正量（発生量）を意味するものとする。
【００６６】
ここで、上記１）及び２）において、偏倚量Ｘとしては、例えば１００μｍと設定する。
また第１の周波数、第２の周波数はそれぞれ５０Ｈｚ、１００Ｈｚであるとする。
【００６７】
またこれら１），２）において、上記最適なチルト補正量の探索としては、ｉ−ＭＬＳＥの値が良好となる方向（つまり低下する方向）に徐々にチルト補正量を振っていき、ｉ−ＭＬＳＥの変極点（低下から上昇に転じる点）を探索するという手法を挙げることができるが、この際、トラッキング偏倚の方向と対物レンズ４のチルトの発生方向の関係が不明であるときには、ｉ−ＭＬＳＥが低下傾向となるチルト補正値の極性を特定するために、チルト補正値を＋、−のそれぞれの方向に振る必要がある。但し、例えば製造データ等から予めトラッキング偏倚方向とチルト発生方向との関係が判明していて、ｉ−ＭＬＳＥを低下傾向とするチルト補正値の極性が特定されている場合には、チルトが発生する側とは逆方向にのみにチルトを振って、最適なチルト補正量の探索を行うことができる。つまり、その分高速な探索を実現できる。
【００６８】
ここで、上記１）及び２）では、１００μｍのスライド強制移動により偏倚量Ｘ＝１００μｍを設定するものとしているが、このとき、トラッキングサーボはＯＮとされているので、当然のことながら偏芯に応じたトラッキング偏倚も併せて生じていることになる。つまり、スライド移動量＝１００μｍに設定しても、常時偏倚量Ｘ＝１００μｍとなるわけではない。
しかしながら、この場合に評価値として用いるｉ−ＭＬＳＥは、或る程度の区間長を対象に測定されるものである。本例においては、ｉ−ＭＬＳＥの測定区間長は例えばディスク１周分の区間長となるように設定している。このことで、偏芯に伴う偏倚は平均化され、結果として、測定されたｉ−ＭＬＳＥの値が、偏倚＝１００μｍに対応する値を示すようにすることができる。
なお、評価値の測定区間がディスク１周分に満たない場合には、複数の測定区間にわたって評価値の測定を行い、それらの評価値を平均化することで偏芯の影響が排除されるようにすればよい。
【００６９】
また、上記３）において、リファレンスデータを用いた実際の周波数／補正量カーブの算出は、以下のようにして行う。
図８は、リファレンスデータを用いた実際の周波数／補正量カーブの算出手法について説明するための図である。
先ず、図中の破線は、リファレンスデータとしての、標準的な周波数／補正量カーブ（周波数／発生量カーブ）を表している。換言すれば、各光ディスク装置２５の平均的な周波数／補正量カーブである。当該リファレンスデータは、例えば複数の光ディスク装置２５について実際に実験等を行って導出しておくか、或いは製造データ等から計算により導出することもできる。
本実施の形態では、このようなリファレンスデータが予め光ディスク装置２５に対して設定されている（例えばメモリ２２等に格納される）。
【００７０】
リファレンスデータを用いた実際の周波数／補正量カーブの算出は、上記１）及び２）で得たチルト補正量の実測値から特定される点（測定点Ｓｉ-1，測定点Ｓｉ-2）を通過するカーブの形状が、上記リファレンスデータとしての周波数／補正量カーブの形状に近似したものとなるようにして行う。
具体的な手法として、先ず本例の場合、周波数／補正量カーブ上における回転周波数＝０Ｈｚ時（つまり偏倚量Ｘ＝１００μｍでの回転周波数＝０Ｈｚ時）のチルト補正量は０、回転周波数＝１５０Ｈｚ時のチルト補正量は０．３degで固定とみなす。
このように固定とみなす０Ｈｚ時、１５０Ｈｚ時のそれぞれの測定点Ｓｉを測定点Ｓｉ-min、測定点Ｓｉ-maxとおく。
そして、これら測定点Ｓｉ-min，Ｓｉ-maxと、実測の上記測定点Ｓｉ-1，Ｓｉ-2とを併せた０／５０／１００／１５０Ｈｚの４点のチルト補正量を基に、リファレンスデータを基準として実際の周波数／補正量カーブを求める（推定する）。つまり、これら４点を通るカーブの形状として、リファレンスデータとしての周波数／補正量カーブの形状に近似した形状が得られるように、周波数／補正量カーブを求めるものである。
【００７１】
図９は、リファレンスデータに基づく実際の周波数／補正量カーブの算出例を示している。
先ず、図示するように本例の場合、回転周波数については０Ｈｚ〜１５０Ｈｚまでカバーするものとし、回転周波数方向の補正精度は１０Ｈｚ刻みとしている。
前述のように回転周波数＝０Ｈｚ時の測定点Ｓｉ-min、１５０Ｈｚ時の測定点Ｓｉ-maxとしての補正量は、それぞれ０degと０．３degで固定である。また、測定点Ｓｉ-1、測定点Ｓｉ-2としての補正量については実測値をそのまま採用する（図中０．４７deg，３．２０deg）。
【００７２】
これら４点の測定点Ｓｉ-min，Ｓｉ-1，Ｓｉ-2、Ｓｉ-maxの間におけるそれぞれの回転周波数でのチルト補正量（図中グレーで示す部分）を、当該４つの測定点Ｓｉでのチルト補正量とリファレンスデータとを用いて算出（補間）することにより、周波数／補正量カーブを完成させる。
【００７３】
ここで、上記４つの測定点Ｓｉの間のそれぞれの回転周波数（つまりチルト補正量を補間すべき各回転周波数）のうち、チルト補正量の算出（補間）対象として選択した回転周波数をｆｓ-jとおく。
本例の場合、当該回転周波数ｆｓ-jのチルト補正量は、以下の５値を用いて算出する。
（ａ）リファレンスデータ上での回転周波数ｆｓ-jに対応するチルト補正量
（ｂ）上記４つの測定点Ｓｉのうち、回転周波数ｆｓ-jに対して直近の関係となる２つの測定点Ｓｉでのそれぞれのチルト補正量
（ｃ）上記直近の関係となる２つの測定点Ｓｉの回転周波数にそれぞれ対応するリファレンスデータ上の各チルト補正量
【００７４】
例えば、具体的な算出手法の一例として、ｆｓ-j＝８０Ｈｚの場合を例示すると、
{リファレンス８０Ｈｚ×(リファレンス５０Ｈｚ−測定点Ｓｉ-1)／(リファレンス１００Ｈｚ−測定点Ｓｉ-2)}
となる。但し上式において、「リファレンス８０Ｈｚ」「リファレンス５０Ｈｚ」「リファレンス１００Ｈｚ」はそれぞれリファレンスデータ上での８０Ｈｚ時、５０Ｈｚ時、１００Ｈｚ時に対応するチルト補正量を指し、「測定点Ｓｉ-1」「測定点Ｓｉ-2」はそれぞれ測定点Ｓｉ-1でのチルト補正量、測定点Ｓｉ-2でのチルト補正量をそれぞれ指す。
【００７５】
このように、各回転周波数ｆｓ-jでのチルト補正量は、当該回転周波数ｆｓ-jにおけるリファレンスデータ上でのチルト補正量に対して、回転周波数ｆｓ-jに直近となる２つの測定周波数におけるリファレンス補正量と実測値（０Ｈｚ，１５０Ｈｚについては固定値となる）との差分を考慮した係数を乗じることにより算出するものとすればよい。具体的には、これらの差分の比率を上記係数として、回転周波数ｆｓ-jにおけるリファレンスデータ上でのチルト補正量に対して乗じるものとすればよい。
例えばこのような算出手法により、各回転周波数ｆｓ-jのチルト補正量を推定することで、測定点Ｓｉ-1，Ｓｉ-2を通る実際の周波数／補正量カーブとして、リファレンスとしての周波数／補正量カーブの形状に近似した形状による周波数／補正量カーブを求めることができる。
【００７６】
このように偏倚量Ｘ＝１００μｍ時の周波数／補正量カーブを求めた後は、先の４）と示したように、当該周波数／補正量カーブから、偏倚量方向の各チルト補正量の推定を行う。
【００７７】
ここで、偏倚量に対するチルト発生量（補正量）は、ほぼ線形な関係とみなすことができる。そこで本例では、図９のように求めた周波数／補正量カーブとしてのデータから、各回転周波数ごとに、［偏倚量＝０，チルト発生量＝０］を原点とする線形補間を行うことで、回転周波数ごとの偏倚量／補正量の対応関係情報を得る。
すなわち、対象とする回転周波数をｆｓ-kとし、図９のように求めた周波数／補正量カーブにおける当該回転周波数ｆｓ-kのときのチルト補正量をＴ-kとおくと、［回転周波数ｆｓ-k，チルト補正量Ｔ-k］による点（基準点）と、上記原点とを用いた線形補間により、回転周波数ｆｓ-kのときの偏倚量／補正量についての対応関係情報を得る。
図１０は、この際の線形補間のイメージを示している。
【００７８】
このような線形補間を各回転周波数ごとに行う。これにより、各回転周波数ごとに偏倚量／補正量の対応関係情報を得ることができ、これらの対応関係情報を用いて、先の図５に示したような周波数／偏倚／補正量対応情報２２ｄを作成することができる。
【００７９】
［3-3．処理手順］
図１１は、上記により説明した第３の実施の形態としての対応関係情報の作成手法を実現するために行われるべき具体的な処理の手順を示したフローチャートである。
なお、この図１１に示す処理は、コントローラ２１がメモリ２２に記憶された制御プログラム２２ｅに基づき実行するものである。
また、この図に示す処理が実行されるにあたっても、既にトラッキングサーボはＯＮの状態にあるとする。また、ＡＣチルト成分のみを正確に測定できるように、チルト補正部１８によるチルト補正（定常チルトの補正）が実行された状態にあるとする。
【００８０】
図１１において、ステップＳ２０１では、対応関係情報の作成を開始すべき状態となるまで待機する。
周波数／偏倚／補正量対応情報２２ｄの作成処理を実行するタイミングとしては、例えば光ディスク装置２５の起動時、光ディスクＤの挿入時、所定時間おきなどを挙げることができる。ステップＳ２０１では、このような対応関係情報の作成を開始すべきとして予め定められた所定の条件が成立するまで待機することになる。
【００８１】
対応関係情報の作成を開始すべき状態となったときは、ステップＳ２０２において、周波数設定識別値Ｎ＝１に設定する。
なお、以下の説明で明らかとなるように、周波数設定識別値Ｎは、回転周波数として第１の周波数、第２の周波数を設定し分ける際にコントローラ２１が用いる値となる。
【００８２】
続くステップＳ２０３においては、偏倚量＝Ｘとするためのスライド強制移動処理を実行する。具体的に本例においては、偏倚量＝１００μｍとなるように、スライド駆動部６により光学ピックアップ３を強制移動させる処理となる。
【００８３】
スライド強制移動処理を実行した後は、ステップＳ２０４において、回転周波数＝第Ｎ周波数とするための処理を実行する。
前述のように本例の場合、対応関係情報の作成にあたって設定する回転周波数は第１の周波数と第２の周波数の２種としており、また第１の周波数＝５０Ｈｚ、第２の周波数＝１００Ｈｚと設定される。
従ってこの場合のステップＳ２０４では、Ｎ＝１であれば、スピンドルモータ２の回転周波数＝５０Ｈｚとなるようにスピンドルサーボ回路１５に指示を行う。或いはＮ＝２であればスピンドルモータ２の回転周波数＝１００Ｈｚとなるようにスピンドルサーボ回路１５に指示を行う。
【００８４】
ステップＳ２０４で回転周波数の設定を行った後は、ステップＳ２０５において、チルト調整・評価値参照により最適チルト補正量（チルト発生量）を求める処理を実行する。具体的には、先に述べたように評価器１０ａから供給されるｉ−ＭＬＳＥの値が良好となる方向に徐々にチルト補正量を振っていき、ｉ−ＭＬＳＥの変極点を探索する。当該変極点において加算部１９に指示していたチルト補正量が、上記最適とされるチルト補正量となる。
【００８５】
続くステップＳ２０６においては、ステップＳ２０５で求めたチルト補正量を、例えばメモリ２２等の所要のメモリに記憶する。
【００８６】
ステップＳ２０６の記憶処理の実行後は、ステップＳ２０７において、Ｎ＝上限値であるか否かを判別する。先の説明からも理解されるように、本例の場合、上限値＝２であり、従ってステップＳ２０７ではＮ＝２である否かを判別することになる。
【００８７】
ステップＳ２０７において、Ｎ＝上限値ではないとして否定結果が得られた場合は、ステップＳ２０８に進んでＮの値をインクリメント（Ｎ←Ｎ＋１）した後、先のステップＳ２０４に戻って回転周波数＝第Ｎ周波数に設定する処理を実行する。つまりこれにより、新たな回転周波数の設定下での偏倚量Ｘ時の最適チルト補正量が求まることになる。
【００８８】
一方ステップＳ２０７において、Ｎ＝上限値であるとして肯定結果が得られた場合は、ステップＳ２０９に進み、各測定点のチルト補正量とリファレンスデータとに基づき偏倚量Ｘのときの周波数／補正量カーブを算出する。
なお、当該周波数／補正量カーブの算出手法については既に説明済みであるため改めての記載は省略する。
【００８９】
ステップＳ２０９で周波数／補正量カーブを算出した後は、ステップＳ２１０において、回転周波数ごとに、各偏倚量に対するチルト補正量を補間により算出する。
なお、このように周波数／補正量カーブに基づき回転周波数ごとの偏倚量／チルト補正量の対応関係情報を補間により求める手法についても既に説明済みであるため改めての記載は省略する。
【００９０】
ステップＳ２１０の算出処理の実行後は、ステップＳ２１１において、周波数／偏倚／補正量対応情報２２ｄを作成を行う。すなわち、ステップＳ２１０で求まった各回転周波数ごとの偏倚量／チルト補正量の対応関係情報に基づき、周波数／偏倚／補正量対応情報２２ｄを作成するものである。このとき、作成した周波数／偏倚／補正量対応情報２２ｄはメモリ２２に記憶する。
【００９１】
上記ステップＳ２１１の作成処理の実行後、この図に示す処理は終了となる。
【００９２】
上記のように第３の実施の形態では、光ディスク装置２５自らがチルト補正量を実測した結果に基づき、周波数／偏倚／補正量対応情報２２ｄを作成するものとしている。
このように対応関係情報を光ディスク装置２５自らが作成するということは、光ディスク装置２５の個体ごとに、その個体の特性に合った対応関係情報を作成することができるということになる。つまりこの結果、対応関係情報を用いて行われるＡＣチルトの補正が、個体ごとの特性に応じて正確に行われるようにすることができる。
【００９３】
なお確認のために述べておくと、光ディスク装置２５においても、第２の実施の形態の光ディスク装置と同様に、記録時や再生時等に対応して、メモリ２２内に記憶された周波数／偏倚／補正量対応情報２２ｄを用いてＡＣチルトの補正を行うものである。
【００９４】
＜４．第４の実施の形態（対応関係情報の具体的作成例２）＞
［4-1．光ディスク装置の構成例］
続いて、第４の実施の形態について説明する。
先の第３の実施の形態では、チルト発生量（チルト補正量）を推し測るための評価指標として、例えばｉ−ＭＬＳＥなど、その測定に比較的長い区間長を要する評価値を用いて偏芯に伴うトラッキング偏倚が平均化されるようにし、所望の偏倚量Ｘのときの測定を実現するようにしていたが、第４の実施の形態は、これとは逆の発想で、偏芯に伴い生じるトラッキング偏倚を積極的に利用しようとするものである。
【００９５】
図１２は、第４の実施の形態の光ディスク装置３０の内部構成を示した図である。
なお第４の実施の形態においても、既にこれまでで説明済みとなった部分については同一符号を付して説明を省略する。
【００９６】
先の図１と比較して分かるように、第４の実施の形態の光ディスク装置３０は、第１の実施の形態の光ディスク装置１と比較してＲＦ信号がコントローラ２１に対しても入力される点と、メモリ２２において制御プログラム２２ａに代えて制御プログラム２２ｆが記憶された点とが異なる。
また、第４の実施の形態としても、第２の実施の形態の場合と同様にＡＣチルト補正として回転周波数も考慮した補正を行うものであるため、メモリ２２内には周波数／偏倚／補正量対応情報２２ｄが記憶される。
【００９７】
［4-2．対応関係情報の作成］
第４の実施の形態は、周波数／偏倚／補正量対応情報２２ｄの作成にあたりＲＦ信号を用いる点が第３の実施の形態の場合と大きく異なる。
ここで、図１３Ａは、回転周波数＝第１周波数（５０Ｈｚ）での、スライド量＝０のときのトラッキングエラー信号ＴＥ、及びＲＦ信号の各振幅を例示している。
先ず、図中の「センターレベル」（ＤＣレベル）は、トラッキング誤差が無い状態でのトラッキングエラー信号ＴＥのレベルとなる。
トラッキングサーボがＯＮの状態では、対物レンズ４はディスク偏芯に追従するように駆動されるので、その際のトラッキングエラー信号ＴＥとしては図のように周期的に増加／減少を繰り返す波形となる。
この場合、スライド量＝０であるので、偏芯量＝０の時点では、トラッキング偏倚量も０となり、従ってこの時点におけるトラッキングエラー信号ＴＥの振幅はセンターレベル（例えば０）と一致する。
【００９８】
ここで、偏芯量が０となり、これによりトラッキング偏倚量が０となれば、ＡＣチルトの発生量も０となるため、ＲＦ信号振幅は最大値（例えば１００％）となる。
一方、偏芯に追従してトラッキング偏倚が生じた場合には、ＡＣチルトの発生に伴い、ＲＦ信号振幅は最大値から減衰することになる。この図では、第１周波数かつ偏芯が最大のときのＲＦ信号振幅が９０％（つまり減衰量＝１０％）であるものと示している。
【００９９】
この図１３Ａからも明らかなように、ＲＦ信号は、チルトの発生量を推し測るための評価指標として用いることができる。
また図１３Ａによれば、ディスク偏芯を利用して、所望のトラッキング偏倚量のときのＡＣチルト発生量を測定可能であることが分かる。
【０１００】
これらの点を利用し、第４の実施の形態では、トラッキング偏倚量Ｘのときの第１の周波数及び第２の周波数のそれぞれでのチルト発生量（補正量）の測定を、偏芯に伴うトラッキング偏倚を利用し、かつＲＦ信号をチルト発生量の評価指標として用いて行うものとしている。
【０１０１】
このとき、第３の実施の形態で設定していた１００μｍなどの比較的大きな偏倚量Ｘは、偏芯のみを利用して得ることができない場合もある。そこで、スライド移動を併用して所望のトラッキング偏倚量Ｘが得られるようにする。
具体的に本例の場合、Ｘ＝１００μｍのトラッキング偏倚量が得られるようにするにあたり、偏芯分も考慮して、光学ピックアップ３を５０μｍスライド移動させるものとする。
【０１０２】
図１３Ｂは、このように５０μｍのスライド強制移動を行った場合における、第１の周波数でのトラッキングエラー信号ＴＥ、ＲＦ信号の各振幅を例示している。
スライド強制移動が行われたことで、そのスライド移動量分のオフセットがトラッキングエラー信号ＴＥに与えられる。例えば偏芯が最大±５０μｍ生じる場合であれば、図のように、一方の方向（極性）に偏芯量が最大となったとき、トラッキングエラー信号ＴＥの振幅はセンターレベル（トラッキング偏倚量＝０）となる。これに対し、他方の方向に偏芯が最大となったとき、トラッキングエラー信号ＴＥの振幅（絶対値）は最大値を示す。このとき、トラッキング偏倚量は、偏芯５０μｍ＋スライド移動５０μｍより１００μｍとなる。
なおこの図では、第１の周波数時における偏芯最大位置（偏倚量＝１００μｍ）でのＲＦ信号振幅が、８０％に減衰する（減衰量＝２０％）ものと示している。
【０１０３】
例えば上記のように偏芯が５０μｍ以上生じる場合であれば、スライド移動量＝５０μｍとすることで、ディスクが一周する間に、トラッキング偏倚量が目標とする１００μｍとなるポイントが必ず得られることになる。
そこで本実施の形態では、トラッキング偏倚量Ｘ＝１００μｍ時のチルト補正量を測定するにあたっては、偏倚量サンプリング部２０からのトラッキング偏倚量をモニタし、当該トラッキング偏倚量が目標の１００μｍとなったときのＲＦ信号振幅を取得する。
【０１０４】
ここで、前述のようにＲＦ信号は、その減衰量がチルトの発生量と相関を持つものとなるが、これをそのままチルト発生量（チルト補正量）として用いるのは適切ではなく、チルト補正量への換算を行うことが望ましい。
このため第４の実施の形態では、ＲＦ信号振幅の減衰量（最大値を基準とした減衰量）とチルト補正量との対応関係を表す情報を予め光ディスク装置３０に対して設定しておくことになる。
このようなＲＦ信号振幅減衰量／チルト補正量の対応関係情報は、各個体に標準化されたものを設定してもよいし、個体ごとに求めたものを個別に設定しておくこともできる。
【０１０５】
以上を踏まえた上で、第４の実施の形態の対応関係情報作成の具体的手法について説明する。
第４の実施の形態の対応関係情報作成手法としても、ＲＦ信号を用い偏芯を利用するという点以外、大まかな流れとしては第３の実施の形態の作成手法と同様となる。
具体的には、以下の１'）〜５'）の手順に大別できる。
１'）トラッキングサーボがＯＮかつチルト補正部１８による定常チルト補正が実行されている状態で、回転周波数＝第１の周波数（この場合も５０Ｈｚとする）の下で、スライド駆動部６のみを所定量（この場合は上述のように５０μｍとする）だけトラッキング方向に強制的に変位させる。この状態で、偏倚量サンプリング部２０からのトラッキング偏倚量をモニタし、その値が偏倚量Ｘ＝１００μｍとなったときのＲＦ信号振幅を取得する。このように取得したＲＦ信号振幅からＲＦ信号振幅減衰量を求め、上述のＲＦ信号振幅減衰量／チルト補正量の対応関係情報から対応するチルト補正量を取得し、当該チルト補正量を偏倚量Ｘかつ第１の周波数でのチルト補正量として保持する。
２'）回転周波数＝第２の周波数（この場合も１００Ｈｚとする）の下で、上記１'）と同様の手法で回転周波数＝第２の周波数かつ偏倚量Ｘの条件に対応するチルト補正量を求める。
３'）第３の実施の形態で用いていたリファレンスデータと同様に、偏倚量Ｘのときの回転周波数とチルト補正量との標準的な対応関係を表すリファレンスデータ（周波数／補正量カーブ）を基準として、上記１'）及び２'）で求まった各チルト補正量を基に偏倚量Ｘのときの実際の周波数／補正量カーブを推定する。
４'）上記３'）で求めた周波数／補正量カーブから、第３の実施の形態の場合と同様に偏倚量方向の各チルト補正量の推定を行う（線形補間）。
５'）上記４'）により求まった各周波数ごとの偏倚量／チルト補正量の対応関係情報に基づき、周波数／偏倚／補正量対応情報２２ｄを作成する。
【０１０６】
なお、上記２'）に関して、第２の周波数の設定下で得られるトラッキングエラー信号ＴＥとＲＦ信号との関係を図１３Ｃに例示しておく。
トラッキングエラー信号ＴＥの振幅については図１３Ｂの場合と同様となるが、この場合は回転周波数が第１の周波数よりも高い状態にあるので、偏芯最大となる位置でのＲＦ信号振幅減衰量は図１３Ｂの場合よりも大きくなる。ここでは、第２の周波数時の偏芯最大位置でのＲＦ信号振幅が５０％に減衰するものと示している。
【０１０７】
上記により説明したような第４の実施の形態としての対応関係情報作成手法によれば、ＲＦ信号を用いたことで、ディスクが１周する間に所望の偏倚量Ｘでのチルト評価値を取得することができる。つまりこれにより、偏芯の影響を排除するためディスク１周以上の区間の測定を行う第３の実施の形態の場合と比較して、測定時間の短縮化が図られる。このような効果は、複数の偏倚量での測定を行うとした場合に特に顕著となる。
【０１０８】
［4-3．処理手順］
上記により説明した第４の実施の形態としての対応関係情報の作成手法を実現するために行われるべき具体的な処理の手順を、図１４のフローチャートに示す。
なお、この図１４に示す処理は、コントローラ２１がメモリ２２に記憶された制御プログラム２２ｆに基づき実行するものである。
また、この図に示す処理が実行されるにあたっても、既にトラッキングサーボはＯＮの状態にあり、また、チルト補正部１８によるチルト補正が実行された状態にあるとする。
【０１０９】
図１４において、ステップＳ３０１の待機処理、及びステップＳ３０２の周波数設定識別値Ｎの設定処理については、図１１に示したステップＳ２０１、ステップＳ２０２の処理とそれぞれ同様の処理となる。
【０１１０】
この場合、ステップＳ３０２の設定処理の実行後は、ステップＳ３０３において、所定量のスライド強制移動処理を実行する。つまり本例では、スライド駆動部６により光学ピックアップ３を５０μｍ分強制移動させる処理となる。
【０１１１】
ステップＳ３０３のスライド強制移動処理の実行後は、ステップＳ３０４にて回転周波数＝第Ｎ周波数とする処理を実行した後、ステップＳ３０５において、偏倚量及びＲＦ信号振幅のモニタを開始する。
そして、続くステップＳ３０６において、偏倚量＝Ｘとなるまで待機する。
【０１１２】
ステップＳ３０６において、偏倚量＝Ｘとなったとして肯定結果が得られた場合は、ステップＳ３０７において、ＲＦ信号振幅を取得する。
そして続くステップＳ３０８において、取得したＲＦ信号振幅からＲＦ信号振幅減衰量を計算し、これを例えばメモリ２２等の所定のメモリに記憶する。
【０１１３】
ステップＳ３０８の処理の実行後は、ステップＳ３０９において、Ｎ＝上限値であるか否かを判別し、Ｎ＝上限値ではないとの否定結果が得られた場合はステップＳ３１０においてＮの値をインクリメントした後ステップＳ３０４に戻り、またＮ＝上限値であるとの肯定結果が得られた場合は、ステップＳ３１１に処理を進める。
【０１１４】
ステップＳ３１１では、各測定点のＲＦ信号振幅減衰量とリファレンスデータとに基づき、偏倚量Ｘのときの周波数／補正量カーブを算出する。
このステップＳ３１１の処理では、各測定点のＲＦ信号振幅減衰量（偏倚量Ｘ・第１の周波数時の減衰量、偏倚量Ｘ・第２の周波数時の減衰量）を、前述のＲＦ信号振幅減衰量／チルト補正量の対応関係情報を用いてチルト補正量に換算する処理を行う。これにより、偏倚量Ｘ・第１の周波数時のチルト補正量、及び偏倚量Ｘ・第２の周波数時のチルト補正量が得られることになるが、これらの各測定点のチルト補正量を得た後の偏倚量／補正量カーブの算出処理は、先の図１１におけるステップＳ２０９の偏倚量／補正量カーブの算出処理と同様となるので、改めての説明は省略する。
【０１１５】
ステップＳ３１１の算出処理の実行後は、ステップＳ３１２において、回転周波数ごとに、各偏倚量に対応するチルト補正量を補間により算出する。当該ステップＳ３１２の処理は、先のステップＳ２１０の処理と同様となる。
そして、続くステップＳ３１３においては、先のステップＳ２１１と同様に、周波数／偏倚／補正量対応情報２２ｄを生成（及びメモリ２２に記憶）する。
当該ステップＳ３１３の処理の実行後、この図に示す処理は終了となる。
【０１１６】
なお、上記では、ＲＦ信号を用いる例を挙げたが、プルイン（Pull-In）信号を用いることによっても同様の効果を得ることができる。
特に、プルイン信号を用いる場合には、未記録の光ディスクＤ（ブランクディスク）についても対応関係情報の作成が可能となる。
【０１１７】
また、上記では、スライド移動量は５０μｍとする場合を例示したが、これはあくまでも一例であり、スライド移動量は、最大偏芯量＋スライド移動量≧Ｘとなるように定めればよいものである。
【０１１８】
＜５．変形例＞
以上、本技術に係る各実施の形態について説明したが、本技術はこれまでで説明した具体例に限定されるべきものではない。
例えばこれまでの説明では、偏倚量Ｘ＝１００μｍの一点で周波数／補正量カーブを求めるものとしたので、各回転周波数ごとの偏倚／補正量の対応関係情報は、原点と基準点との２点を線形補間して求めるものとしたが、周波数／補正量カーブは、複数の偏倚量について求めることもできる。このように複数の偏倚量について周波数／補正量カーブを求めた際には、各回転周波数ごとの偏倚／補正量についての対応関係情報を求めるときに、図１５に示すように複数の測定点を得ることができる。例えば図１５の例では、０〜１００μｍの間における１０μｍの偏倚量ごとに測定点を得た（つまり１０μｍ刻みで周波数／補正量カーブを求めた）場合を示している。
このように複数の測定点が得られるので、この場合は、線形補間ではなく、これらの測定点を用いた線形近似により偏倚／補正量の対応関係情報を算出することができる（図１５中の実線）。
図１５では、先の図１０に示した線形補間の結果を破線により示しているが、この場合、基準点の測定が正確でなかった場合には、正しい対応関係情報を得ることができないこととなる。これに対し、線形近似した場合（実線）には、複数の測定結果に基づいてより正確な偏倚／補正量の対応関係情報を得ることができる。
【０１１９】
また、これまでの説明では、対応関係情報はテーブル情報として持つ場合を例示したが、例えば関数で持つことも可能である。その場合、ＡＣチルト補正にあたっては、検出される偏倚量から逐次対応するチルト補正量を当該関数を用いて計算により求めることになる。
【０１２０】
また、これまでの説明では、対応関係情報の作成は、起動時やディスク挿入時等に対応して実行する場合を例示したが、対応関係情報の作成は、ディスク回転速度の切り替え時に対応して実行することもできる。
具体的にその場合は、速度切り替えを行うべき状態となったことに応じ、切り替え前の現在の回転周波数（第１の周波数）で測定を行い、切り替え後の回転周波数（第２の周波数）で測定を実行することで、２点の測定値を得ることができる。
【０１２１】
また、ｉ−ＭＬＳＥなどの評価値を用いる第３の実施の形態においても、第４の実施の形態のように、評価値の最良点からの減衰量を求め、この減衰量と予め定められた減衰量／補正量対応関係情報とから対応するチルト補正量を推定するという手法を採ることもできる。
【０１２２】
また、第４の実施の形態のようにＲＦ信号（又はプルイン信号）を用いる場合、対応関係情報の作成は、以下のような手法で実現することもできる。
先ず、ＲＦ信号を用いることで、偏芯に伴うトラッキング偏倚を利用する点は第４の実施の形態の場合と同様となる。
具体的にこの場合、先ずは以下の手順により３点の測定値を得る。
1-1）トラッキングサーボがＯＮかつチルト補正部１８によるチルト補正が実行されている状態で、回転周波数＝第１の周波数（この場合も例えば５０Ｈｚとする）の下で、偏倚量サンプリング部２０からのトラッキング偏倚量をモニタし、その値が偏倚量Ｘ１（例えば５０μｍとする）となったときのＲＦ信号振幅を取得する。すなわち、偏芯によるトラッキング偏倚のみを利用し、回転周波数＝第１の周波数、偏倚量Ｘ１＝５０μｍの条件下でのＲＦ信号振幅を測定するものである。
1-2）上記1-1）の測定後、スライド駆動部６を所定量（この場合も５０μｍとする）だけトラッキング方向に強制的に変位させて、偏倚量サンプリング部２０による偏倚量がＸ２（Ｘ１＜Ｘ２：例えば１００μｍとする）となったときのＲＦ信号振幅を取得する。つまり、回転周波数＝第１の周波数、偏倚量Ｘ２＝１００μｍの条件下でのＲＦ信号振幅を測定するものである。
２''）回転周波数＝第２の周波数（この場合も１００Ｈｚとする）の下で、上記1-2）と同様の手法でスライド強制移動を伴う偏倚量Ｘ２のときのＲＦ信号振幅の取得を行う。すなわち、回転周波数＝第２の周波数、偏倚量Ｘ２＝１００μｍの条件下でのＲＦ信号振幅を取得するものである。
【０１２３】
ここで、上記1-1）と上記1-2）とで取得したＲＦ振幅測定値は、同一の回転周波数上で、それぞれ異なる偏倚量のときの測定値を表すものである。また、上記1-2）と上記２''）のＲＦ振幅測定値は、同一の偏倚量上で、それぞれ異なる回転周波数のときの測定値を表すものである。
従って、上記1-1）と上記1-2）のＲＦ振幅測定値を用いれば、トラッキング偏倚量に対するチルト変動の感度を推定できる。一方、上記1-2）と上記２''）のＲＦ振幅測定値を用いれば、回転周波数に応じたチルト変動の感度を推定することができる。
【０１２４】
図１６は、回転周波数毎のトラッキング偏倚によるＲＦ振幅変化例を示している。
先ず、この図に示すように、トラッキング偏倚量とＲＦ信号振幅の減衰量との関係は、トラッキング偏倚量とチルト発生量（補正量）との関係のような線形なものとはならず、二次曲線的な関係となる。また、回転周波数の上昇に応じてＡＣチルトの発生量は増大するので、同じトラッキング偏倚量であっても回転周波数が高い場合の方がＲＦ信号振幅の減衰量が大となる。
ここで、上記1-1）と上記1-2）のＲＦ振幅測定値の関係は、図中における測定点Ｓ１と測定点Ｓ２との関係となる。また、上記1-2）と上記２''）のＲＦ振幅測定値の関係は、測定点Ｓ２と測定点Ｓ３との関係となる。
これら各測定点Ｓの関係を参照して分かるように、上記1-1）と上記1-2）のＲＦ振幅測定値を用いれば、トラッキング偏倚量に対するチルト変動の感度を推定でき、また上記1-2）と上記２''）のＲＦ振幅測定値を用いれば、回転周波数に応じたチルト変動の感度を推定することができる。
【０１２５】
このように推定した各方向の感度情報を用いて、各回転周波数ごとのトラッキング偏倚量とチルト補正量との対応関係情報を求め、その結果から周波数／偏倚／補正量対応情報２２ｄを生成することができる。
【０１２６】
また、これまでの説明では、２点の回転周波数で測定を行うものとしたが、２点より多くの回転周波数で測定を行うこともできる。測定点が増える分、より正確な対応関係情報の作成に資する。
或いは、精度は低下するが、１点の測定周波数の結果から対応関係情報を推測するものとしても良い。
【０１２７】
また、本技術は、以下の（１）〜（９）に示す構成とすることも可能である。
（１）
光ディスク記録媒体に対して対物レンズを介してレーザ光照射を行うと共に、上記光ディスク記録媒体からの上記レーザ光の戻り光を上記対物レンズを介して受光する光照射／受光部と、
上記対物レンズを上記光ディスク記録媒体の半径方向に平行な方向であるトラッキング方向に変位させるトラッキング機構と、
上記光ディスク記録媒体の記録面に対する上記レーザ光の光軸の角度ずれとしてのチルトを調整するチルト調整機構と、
上記光照射／受光部が上記戻り光を受光して得られる受光信号に基づき、上記光ディスク記録媒体に形成されたトラックに対する上記レーザ光の照射スポットの上記トラッキング方向におけるずれ量を表すトラッキングエラー信号を生成するトラッキングエラー信号生成部と、
上記トラッキングエラー信号に基づき上記対物レンズについてのトラッキングサーボ制御を行うトラッキングサーボ制御部と、
上記受光信号に基づき、上記トラッキング機構により保持される上記対物レンズのニュートラル位置からの上記トラッキング方向におけるずれ量としてのトラッキング偏倚量を測定する偏倚量測定部と、
少なくとも上記トラッキング偏倚量とその偏倚量に対応するチルト補正量との関係を示す対応関係情報が記憶された記憶部と、
上記偏倚量測定部が測定した上記トラッキング偏倚量と上記対応関係情報とから特定されるチルト補正量の値に基づいて、上記チルト調整機構が駆動されるように制御することで、上記対物レンズが上記ニュートラル位置から上記トラッキング方向に偏倚することで生じるチルトの補正を実行させる制御部と
を備える光ディスク装置。
（２）
上記光ディスク記録媒体の回転周波数を測定する回転周波数測定部をさらに備え、
上記記憶部には、上記対応関係情報として、
上記トラッキング偏倚量と上記光ディスク記録媒体の回転周波数とで特定される条件ごとに、対応するチルト補正量の関係を示す周波数／偏倚量／補正量対応関係情報が記憶されていると共に、
上記制御部は、
上記トラッキング偏倚量測定部が測定した上記トラッキング偏倚量と、上記回転周波数測定部が測定した上記光ディスク記録媒体の回転周波数と、上記周波数／偏倚量／補正量対応関係情報とから特定されるチルト補正量の値に基づいて、上記チルト調整機構が駆動されるように制御する
上記（１）に記載の光ディスク装置。
（３）
上記受光信号に基づき、チルトの発生量に応じてその値が変化するチルト発生量評価指標としてのチルト評価値を生成する評価値生成部をさらに備え、
上記制御部は、
上記対物レンズが所定の偏倚量だけ偏倚した状態で上記評価値生成部にて得られたチルト評価値を取得し、取得したチルト評価値に基づいて上記所定の偏倚量に対応して設定されるべきチルト補正量を求め、この求めたチルト補正量と上記所定の偏倚量との対応関係に基づいてトラッキング偏倚量とチルト補正量との対応関係を求めることで、上記対応関係情報を生成する
上記（１）に記載の光ディスク装置。
（４）
上記制御部は、
トラッキング偏倚量＝０とチルト補正量＝０とで特定される点を原点、上記所定の偏倚量と当該所定の偏倚量に対して求めた上記チルト補正量とで特定される点を測定点とし、これら原点と測定点とに基づく線形補間又は線形近似によって上記トラッキング偏倚量とチルト補正量との対応関係を算出する
上記（３）に記載の光ディスク装置。
（５）
上記光照射／受光部を上記トラッキング方向にスライド移動させるスライド機構をさらに備え、
上記評価値生成部は、
上記受光信号に基づき上記光ディスク記録媒体の記録データについての２値化再生処理を実行した結果から２値化再生能力の評価指標となる評価値を上記チルト評価値として生成するように構成されていると共に、
上記制御部は、
上記スライド機構により上記光照射／受光部を所定の第１の変位量だけ強制的に変位させて当該第１の変位量と同量の第１のトラッキング偏倚量が生じるようにした状態で、上記チルト調整機構を制御してチルト量を調整させながらそのときの上記チルト評価値を取得した結果に基づいて、上記第１のトラッキング偏倚量に対応して設定されるべき上記チルト補正量を求め、当該求めたチルト補正量に基づいて上記トラッキング偏倚量とチルト補正量との対応関係を算出する
上記（３）及び（４）に記載の光ディスク装置。
（６）
上記評価値生成部は、
上記チルト評価値としてＲＦ信号又はプルイン信号を生成し、
上記制御部は、
上記対物レンズのトラッキング偏倚量が上記所定の偏倚量とされた状態で得られる上記ＲＦ信号又はプルイン信号の減衰量を計算し、当該減衰量の値から上記所定の偏倚量に対応して設定されるべき上記チルト補正量を換算し、この換算したチルト補正量に基づいて上記トラッキング偏倚量とチルト補正量との対応関係を算出する
上記（３）及び（４）に記載の光ディスク装置。
（７）
上記受光信号に基づき、チルトの発生量に応じてその値が変化するチルト発生量評価指標としてのチルト評価値を生成する評価値生成部をさらに備え、
上記制御部は、
上記対物レンズが所定の偏倚量だけ偏倚した状態で上記評価値生成部にて得られたチルト評価値を取得し、取得したチルト評価値に基づいて上記所定の偏倚量に対応して設定されるべきチルト補正量を求める処理を、上記光ディスク記録媒体の回転周波数としてそれぞれ異なる回転周波数が設定された下で実行することで、回転周波数ごとに、上記所定の偏倚量に対応して設定されるべきチルト補正量を取得すると共に、当該取得した回転周波数ごとのチルト補正量に基づいて、トラッキング偏倚量と回転周波数とで特定される条件ごとのチルト補正量の対応関係を求めて、上記周波数／偏倚量／補正量対応関係情報を生成する
上記（２）〜（６）に記載の光ディスク装置。
（８）
上記制御部は、
上記チルト補正量の取得を行ったそれぞれの上記回転周波数の値と、上記取得したチルト補正量とに基づき特定される点を測定点としたとき、上記所定の偏倚量のときの標準的な周波数とチルト補正量との対応関係を表すものとして予め定められたリファレンスデータとしての周波数／補正量カーブを基準とし、上記測定点を通過するカーブの形状が上記リファレンスデータとしての周波数／補正量カーブの形状に近似したものとなるようにして周波数／補正量カーブを算出すると共に、
当該算出した周波数／補正量カーブに基づき、上記周波数／偏倚量／補正量対応関係情報を生成する
上記（３）〜（６）に記載の光ディスク装置。
（９）
上記制御部は、
上記算出した周波数／補正量カーブにより特定される、上記所定の偏倚量のときの上記回転周波数ごとの上記チルト補正量の値をそれぞれ用いた線形補間又は線形近似によって、トラッキング偏倚量とチルト補正量との対応関係を上記回転周波数ごとに算出することで、上記周波数／偏倚量／補正量対応関係情報を生成する
上記（８）に記載の光ディスク装置。
【符号の説明】
【０１２８】
１,２５,３０ 光ディスク装置、２ スピンドルモータ（ＳＰＭ）、３ 光学ピックアップ、４ 対物レンズ、５ ２軸アクチュエータ、６ スライド駆動部、７ レーザドライバ、８ 記録処理部、９ マトリクス回路、１０ 再生処理部、１０ａ 評価器、１１ ウォブル回路、１２ アドレスデコーダ、１３ サーボ回路、１４ ２軸ドライバ、１５ スピンドルサーボ回路、１６ チルト調整部、１７ 補正ドライバ、１８ チルト補正部、１９ 加算部、２０ 偏倚量サンプリング部、２１ コントローラ、２２ メモリ、２２ａ,２２ｃ,２２ｅ,２２ｆ 制御プログラム、２２ｂ 偏倚／補正量対応情報、２２ｄ 周波数／偏倚／補正量対応情報、Ｄ 光ディスク
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスク記録媒体に対して対物レンズを介してレーザ光照射を行うと共に、上記光ディスク記録媒体からの上記レーザ光の戻り光を上記対物レンズを介して受光する光照射／受光部と、
上記対物レンズを上記光ディスク記録媒体の半径方向に平行な方向であるトラッキング方向に変位させるトラッキング機構と、
上記光ディスク記録媒体の記録面に対する上記レーザ光の光軸の角度ずれとしてのチルトを調整するチルト調整機構と、
上記光照射／受光部が上記戻り光を受光して得られる受光信号に基づき、上記光ディスク記録媒体に形成されたトラックに対する上記レーザ光の照射スポットの上記トラッキング方向におけるずれ量を表すトラッキングエラー信号を生成するトラッキングエラー信号生成部と、
上記トラッキングエラー信号に基づき上記対物レンズについてのトラッキングサーボ制御を行うトラッキングサーボ制御部と、
上記受光信号に基づき、上記トラッキング機構により保持される上記対物レンズのニュートラル位置からの上記トラッキング方向におけるずれ量としてのトラッキング偏倚量を測定する偏倚量測定部と、
少なくとも上記トラッキング偏倚量とその偏倚量に対応するチルト補正量との関係を示す対応関係情報が記憶された記憶部と、
上記偏倚量測定部が測定した上記トラッキング偏倚量と上記対応関係情報とから特定されるチルト補正量の値に基づいて、上記チルト調整機構が駆動されるように制御することで、上記対物レンズが上記ニュートラル位置から上記トラッキング方向に偏倚することで生じるチルトの補正を実行させる制御部と
を備える光ディスク装置。
【請求項２】
上記光ディスク記録媒体の回転周波数を測定する回転周波数測定部をさらに備え、
上記記憶部には、上記対応関係情報として、
上記トラッキング偏倚量と上記光ディスク記録媒体の回転周波数とで特定される条件ごとに、対応するチルト補正量の関係を示す周波数／偏倚量／補正量対応関係情報が記憶されていると共に、
上記制御部は、
上記トラッキング偏倚量測定部が測定した上記トラッキング偏倚量と、上記回転周波数測定部が測定した上記光ディスク記録媒体の回転周波数と、上記周波数／偏倚量／補正量対応関係情報とから特定されるチルト補正量の値に基づいて、上記チルト調整機構が駆動されるように制御する
請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
上記受光信号に基づき、チルトの発生量に応じてその値が変化するチルト発生量評価指標としてのチルト評価値を生成する評価値生成部をさらに備え、
上記制御部は、
上記対物レンズが所定の偏倚量だけ偏倚した状態で上記評価値生成部にて得られたチルト評価値を取得し、取得したチルト評価値に基づいて上記所定の偏倚量に対応して設定されるべきチルト補正量を求め、この求めたチルト補正量と上記所定の偏倚量との対応関係に基づいてトラッキング偏倚量とチルト補正量との対応関係を求めることで、上記対応関係情報を生成する
請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
上記制御部は、
トラッキング偏倚量＝０とチルト補正量＝０とで特定される点を原点、上記所定の偏倚量と当該所定の偏倚量に対して求めた上記チルト補正量とで特定される点を測定点とし、これら原点と測定点とに基づく線形補間又は線形近似によって上記トラッキング偏倚量とチルト補正量との対応関係を算出する
請求項３に記載の光ディスク装置。
【請求項５】
上記光照射／受光部を上記トラッキング方向にスライド移動させるスライド機構をさらに備え、
上記評価値生成部は、
上記受光信号に基づき上記光ディスク記録媒体の記録データについての２値化再生処理を実行した結果から２値化再生能力の評価指標となる評価値を上記チルト評価値として生成するように構成されていると共に、
上記制御部は、
上記スライド機構により上記光照射／受光部を所定の第１の変位量だけ強制的に変位させて当該第１の変位量と同量の第１のトラッキング偏倚量が生じるようにした状態で、上記チルト調整機構を制御してチルト量を調整させながらそのときの上記チルト評価値を取得した結果に基づいて、上記第１のトラッキング偏倚量に対応して設定されるべき上記チルト補正量を求め、当該求めたチルト補正量に基づいて上記トラッキング偏倚量とチルト補正量との対応関係を算出する
請求項４に記載の光ディスク装置。
【請求項６】
上記評価値生成部は、
上記チルト評価値としてＲＦ信号又はプルイン信号を生成し、
上記制御部は、
上記対物レンズのトラッキング偏倚量が上記所定の偏倚量とされた状態で得られる上記ＲＦ信号又はプルイン信号の減衰量を計算し、当該減衰量の値から上記所定の偏倚量に対応して設定されるべき上記チルト補正量を換算し、この換算したチルト補正量に基づいて上記トラッキング偏倚量とチルト補正量との対応関係を算出する
請求項４に記載の光ディスク装置。
【請求項７】
上記受光信号に基づき、チルトの発生量に応じてその値が変化するチルト発生量評価指標としてのチルト評価値を生成する評価値生成部をさらに備え、
上記制御部は、
上記対物レンズが所定の偏倚量だけ偏倚した状態で上記評価値生成部にて得られたチルト評価値を取得し、取得したチルト評価値に基づいて上記所定の偏倚量に対応して設定されるべきチルト補正量を求める処理を、上記光ディスク記録媒体の回転周波数としてそれぞれ異なる回転周波数が設定された下で実行することで、回転周波数ごとに、上記所定の偏倚量に対応して設定されるべきチルト補正量を取得すると共に、当該取得した回転周波数ごとのチルト補正量に基づいて、トラッキング偏倚量と回転周波数とで特定される条件ごとのチルト補正量の対応関係を求めて、上記周波数／偏倚量／補正量対応関係情報を生成する
請求項２に記載の光ディスク装置。
【請求項８】
上記制御部は、
上記チルト補正量の取得を行ったそれぞれの上記回転周波数の値と、上記取得したチルト補正量とに基づき特定される点を測定点としたとき、上記所定の偏倚量のときの標準的な周波数とチルト補正量との対応関係を表すものとして予め定められたリファレンスデータとしての周波数／補正量カーブを基準とし、上記測定点を通過するカーブの形状が上記リファレンスデータとしての周波数／補正量カーブの形状に近似したものとなるようにして周波数／補正量カーブを算出すると共に、
当該算出した周波数／補正量カーブに基づき、上記周波数／偏倚量／補正量対応関係情報を生成する
請求項７に記載の光ディスク装置。
【請求項９】
上記制御部は、
上記算出した周波数／補正量カーブにより特定される、上記所定の偏倚量のときの上記回転周波数ごとの上記チルト補正量の値をそれぞれ用いた線形補間又は線形近似によって、トラッキング偏倚量とチルト補正量との対応関係を上記回転周波数ごとに算出することで、上記周波数／偏倚量／補正量対応関係情報を生成する
請求項８に記載の光ディスク装置。
【請求項１０】
光ディスク記録媒体に対して対物レンズを介してレーザ光照射を行うと共に、上記光ディスク記録媒体からの上記レーザ光の戻り光を上記対物レンズを介して受光する光照射／受光部により得られる受光信号に基づき、トラッキング機構により保持される上記対物レンズのニュートラル位置からのトラッキング方向におけるずれ量としてのトラッキング偏倚量を測定する偏倚量測定手順と、
上記偏倚量測定手順により測定したトラッキング偏倚量と、少なくともトラッキング偏倚量とその偏倚量に対応するチルト補正量との関係を示す対応関係情報とから特定されるチルト補正量の値に基づいて、上記光ディスク記録媒体の記録面に対する上記レーザ光の光軸の角度ずれとしてのチルトを調整するチルト調整機構が駆動されるように制御することで、上記対物レンズが上記ニュートラル位置から上記トラッキング方向に偏倚することで生じるチルトの補正を実行させるチルト補正制御手順と
を有するチルト補正方法。
【請求項１１】
光ディスク記録媒体に対して対物レンズを介してレーザ光照射を行うと共に、上記光ディスク記録媒体からの上記レーザ光の戻り光を上記対物レンズを介して受光する光照射／受光部により得られる受光信号に基づき、トラッキング機構により保持される上記対物レンズのニュートラル位置からのトラッキング方向におけるずれ量としてのトラッキング偏倚量を測定する偏倚量測定処理と、
上記偏倚量測定処理により測定したトラッキング偏倚量と、少なくともトラッキング偏倚量とその偏倚量に対応するチルト補正量との関係を示す対応関係情報とから特定されるチルト補正量の値に基づいて、上記光ディスク記録媒体の記録面に対する上記レーザ光の光軸の角度ずれとしてのチルトを調整するチルト調整機構が駆動されるように制御することで、上記対物レンズが上記ニュートラル位置から上記トラッキング方向に偏倚することで生じるチルトの補正を実行させるチルト補正制御処理と
を光ディスク装置に実行させるプログラム。
【請求項１２】
光ディスク記録媒体に対して対物レンズを介してレーザ光照射を行うと共に、上記光ディスク記録媒体からの上記レーザ光の戻り光を上記対物レンズを介して受光する光照射／受光部と、
上記対物レンズを上記光ディスク記録媒体の半径方向に平行な方向であるトラッキング方向に変位させるトラッキング機構と、
上記光ディスク記録媒体の記録面に対する上記レーザ光の光軸の角度ずれとしてのチルトを調整するチルト調整機構と、
上記光照射／受光部が上記戻り光を受光して得られる受光信号に基づき、上記トラッキング機構により保持される上記対物レンズのニュートラル位置からの上記トラッキング方向におけるずれ量としてのトラッキング偏倚量を測定する偏倚量測定部と、
上記受光信号に基づき、チルトの発生量に応じてその値が変化するチルト発生量評価指標としてのチルト評価値を生成する評価値生成部と、
上記対物レンズが所定の偏倚量だけ偏倚した状態で上記評価値生成部にて得られたチルト評価値を取得し、取得したチルト評価値に基づいて上記所定の偏倚量に対応して設定されるべきチルト補正量を求め、この求めたチルト補正量と上記所定の偏倚量との対応関係に基づいて、少なくともトラッキング偏倚量とチルト補正量との対応関係を示す対応関係情報を生成する対応関係情報生成部と
を備える光ディスク装置。
【請求項１３】
光ディスク記録媒体に対して対物レンズを介してレーザ光照射を行うと共に、上記光ディスク記録媒体からの上記レーザ光の戻り光を上記対物レンズを介して受光する光照射／受光部により得られる受光信号に基づいて生成されるものであって、上記光ディスク記録媒体の記録面に対する上記レーザ光の光軸の角度ずれとしてのチルトの発生量に応じてその値が変化するチルト発生量評価指標としてのチルト評価値を、トラッキング機構により保持される上記対物レンズがそのニュートラル位置から所定の偏倚量だけトラッキング方向に偏倚した状態で取得するチルト評価値取得手順と、
上記チルト評価値取得手順により取得したチルト評価値に基づいて上記所定の偏倚量に対応して設定されるべきチルト補正量を求め、この求めたチルト補正量と上記所定の偏倚量との対応関係に基づいて、少なくともトラッキング偏倚量とチルト補正量との対応関係を示す対応関係情報を生成する情報生成手順と
を有する情報生成方法。
【請求項１４】
光ディスク記録媒体に対して対物レンズを介してレーザ光照射を行うと共に、上記光ディスク記録媒体からの上記レーザ光の戻り光を上記対物レンズを介して受光する光照射／受光部により得られる受光信号に基づいて生成されるものであって、上記光ディスク記録媒体の記録面に対する上記レーザ光の光軸の角度ずれとしてのチルトの発生量に応じてその値が変化するチルト発生量評価指標としてのチルト評価値を、トラッキング機構により保持される上記対物レンズがそのニュートラル位置から所定の偏倚量だけトラッキング方向に偏倚した状態で取得するチルト評価値取得処理と、
上記チルト評価値取得処理により取得したチルト評価値に基づいて上記所定の偏倚量に対応して設定されるべきチルト補正量を求め、この求めたチルト補正量と上記所定の偏倚量との対応関係に基づいて、少なくともトラッキング偏倚量とチルト補正量との対応関係を示す対応関係情報を生成する情報生成処理と
を光ディスク装置に実行させるプログラム。
【請求項１】
光ディスク記録媒体に対して対物レンズを介してレーザ光照射を行うと共に、上記光ディスク記録媒体からの上記レーザ光の戻り光を上記対物レンズを介して受光する光照射／受光部と、
上記対物レンズを上記光ディスク記録媒体の半径方向に平行な方向であるトラッキング方向に変位させるトラッキング機構と、
上記光ディスク記録媒体の記録面に対する上記レーザ光の光軸の角度ずれとしてのチルトを調整するチルト調整機構と、
上記光照射／受光部が上記戻り光を受光して得られる受光信号に基づき、上記光ディスク記録媒体に形成されたトラックに対する上記レーザ光の照射スポットの上記トラッキング方向におけるずれ量を表すトラッキングエラー信号を生成するトラッキングエラー信号生成部と、
上記トラッキングエラー信号に基づき上記対物レンズについてのトラッキングサーボ制御を行うトラッキングサーボ制御部と、
上記受光信号に基づき、上記トラッキング機構により保持される上記対物レンズのニュートラル位置からの上記トラッキング方向におけるずれ量としてのトラッキング偏倚量を測定する偏倚量測定部と、
少なくとも上記トラッキング偏倚量とその偏倚量に対応するチルト補正量との関係を示す対応関係情報が記憶された記憶部と、
上記偏倚量測定部が測定した上記トラッキング偏倚量と上記対応関係情報とから特定されるチルト補正量の値に基づいて、上記チルト調整機構が駆動されるように制御することで、上記対物レンズが上記ニュートラル位置から上記トラッキング方向に偏倚することで生じるチルトの補正を実行させる制御部と
を備える光ディスク装置。
【請求項２】
上記光ディスク記録媒体の回転周波数を測定する回転周波数測定部をさらに備え、
上記記憶部には、上記対応関係情報として、
上記トラッキング偏倚量と上記光ディスク記録媒体の回転周波数とで特定される条件ごとに、対応するチルト補正量の関係を示す周波数／偏倚量／補正量対応関係情報が記憶されていると共に、
上記制御部は、
上記トラッキング偏倚量測定部が測定した上記トラッキング偏倚量と、上記回転周波数測定部が測定した上記光ディスク記録媒体の回転周波数と、上記周波数／偏倚量／補正量対応関係情報とから特定されるチルト補正量の値に基づいて、上記チルト調整機構が駆動されるように制御する
請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
上記受光信号に基づき、チルトの発生量に応じてその値が変化するチルト発生量評価指標としてのチルト評価値を生成する評価値生成部をさらに備え、
上記制御部は、
上記対物レンズが所定の偏倚量だけ偏倚した状態で上記評価値生成部にて得られたチルト評価値を取得し、取得したチルト評価値に基づいて上記所定の偏倚量に対応して設定されるべきチルト補正量を求め、この求めたチルト補正量と上記所定の偏倚量との対応関係に基づいてトラッキング偏倚量とチルト補正量との対応関係を求めることで、上記対応関係情報を生成する
請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
上記制御部は、
トラッキング偏倚量＝０とチルト補正量＝０とで特定される点を原点、上記所定の偏倚量と当該所定の偏倚量に対して求めた上記チルト補正量とで特定される点を測定点とし、これら原点と測定点とに基づく線形補間又は線形近似によって上記トラッキング偏倚量とチルト補正量との対応関係を算出する
請求項３に記載の光ディスク装置。
【請求項５】
上記光照射／受光部を上記トラッキング方向にスライド移動させるスライド機構をさらに備え、
上記評価値生成部は、
上記受光信号に基づき上記光ディスク記録媒体の記録データについての２値化再生処理を実行した結果から２値化再生能力の評価指標となる評価値を上記チルト評価値として生成するように構成されていると共に、
上記制御部は、
上記スライド機構により上記光照射／受光部を所定の第１の変位量だけ強制的に変位させて当該第１の変位量と同量の第１のトラッキング偏倚量が生じるようにした状態で、上記チルト調整機構を制御してチルト量を調整させながらそのときの上記チルト評価値を取得した結果に基づいて、上記第１のトラッキング偏倚量に対応して設定されるべき上記チルト補正量を求め、当該求めたチルト補正量に基づいて上記トラッキング偏倚量とチルト補正量との対応関係を算出する
請求項４に記載の光ディスク装置。
【請求項６】
上記評価値生成部は、
上記チルト評価値としてＲＦ信号又はプルイン信号を生成し、
上記制御部は、
上記対物レンズのトラッキング偏倚量が上記所定の偏倚量とされた状態で得られる上記ＲＦ信号又はプルイン信号の減衰量を計算し、当該減衰量の値から上記所定の偏倚量に対応して設定されるべき上記チルト補正量を換算し、この換算したチルト補正量に基づいて上記トラッキング偏倚量とチルト補正量との対応関係を算出する
請求項４に記載の光ディスク装置。
【請求項７】
上記受光信号に基づき、チルトの発生量に応じてその値が変化するチルト発生量評価指標としてのチルト評価値を生成する評価値生成部をさらに備え、
上記制御部は、
上記対物レンズが所定の偏倚量だけ偏倚した状態で上記評価値生成部にて得られたチルト評価値を取得し、取得したチルト評価値に基づいて上記所定の偏倚量に対応して設定されるべきチルト補正量を求める処理を、上記光ディスク記録媒体の回転周波数としてそれぞれ異なる回転周波数が設定された下で実行することで、回転周波数ごとに、上記所定の偏倚量に対応して設定されるべきチルト補正量を取得すると共に、当該取得した回転周波数ごとのチルト補正量に基づいて、トラッキング偏倚量と回転周波数とで特定される条件ごとのチルト補正量の対応関係を求めて、上記周波数／偏倚量／補正量対応関係情報を生成する
請求項２に記載の光ディスク装置。
【請求項８】
上記制御部は、
上記チルト補正量の取得を行ったそれぞれの上記回転周波数の値と、上記取得したチルト補正量とに基づき特定される点を測定点としたとき、上記所定の偏倚量のときの標準的な周波数とチルト補正量との対応関係を表すものとして予め定められたリファレンスデータとしての周波数／補正量カーブを基準とし、上記測定点を通過するカーブの形状が上記リファレンスデータとしての周波数／補正量カーブの形状に近似したものとなるようにして周波数／補正量カーブを算出すると共に、
当該算出した周波数／補正量カーブに基づき、上記周波数／偏倚量／補正量対応関係情報を生成する
請求項７に記載の光ディスク装置。
【請求項９】
上記制御部は、
上記算出した周波数／補正量カーブにより特定される、上記所定の偏倚量のときの上記回転周波数ごとの上記チルト補正量の値をそれぞれ用いた線形補間又は線形近似によって、トラッキング偏倚量とチルト補正量との対応関係を上記回転周波数ごとに算出することで、上記周波数／偏倚量／補正量対応関係情報を生成する
請求項８に記載の光ディスク装置。
【請求項１０】
光ディスク記録媒体に対して対物レンズを介してレーザ光照射を行うと共に、上記光ディスク記録媒体からの上記レーザ光の戻り光を上記対物レンズを介して受光する光照射／受光部により得られる受光信号に基づき、トラッキング機構により保持される上記対物レンズのニュートラル位置からのトラッキング方向におけるずれ量としてのトラッキング偏倚量を測定する偏倚量測定手順と、
上記偏倚量測定手順により測定したトラッキング偏倚量と、少なくともトラッキング偏倚量とその偏倚量に対応するチルト補正量との関係を示す対応関係情報とから特定されるチルト補正量の値に基づいて、上記光ディスク記録媒体の記録面に対する上記レーザ光の光軸の角度ずれとしてのチルトを調整するチルト調整機構が駆動されるように制御することで、上記対物レンズが上記ニュートラル位置から上記トラッキング方向に偏倚することで生じるチルトの補正を実行させるチルト補正制御手順と
を有するチルト補正方法。
【請求項１１】
光ディスク記録媒体に対して対物レンズを介してレーザ光照射を行うと共に、上記光ディスク記録媒体からの上記レーザ光の戻り光を上記対物レンズを介して受光する光照射／受光部により得られる受光信号に基づき、トラッキング機構により保持される上記対物レンズのニュートラル位置からのトラッキング方向におけるずれ量としてのトラッキング偏倚量を測定する偏倚量測定処理と、
上記偏倚量測定処理により測定したトラッキング偏倚量と、少なくともトラッキング偏倚量とその偏倚量に対応するチルト補正量との関係を示す対応関係情報とから特定されるチルト補正量の値に基づいて、上記光ディスク記録媒体の記録面に対する上記レーザ光の光軸の角度ずれとしてのチルトを調整するチルト調整機構が駆動されるように制御することで、上記対物レンズが上記ニュートラル位置から上記トラッキング方向に偏倚することで生じるチルトの補正を実行させるチルト補正制御処理と
を光ディスク装置に実行させるプログラム。
【請求項１２】
光ディスク記録媒体に対して対物レンズを介してレーザ光照射を行うと共に、上記光ディスク記録媒体からの上記レーザ光の戻り光を上記対物レンズを介して受光する光照射／受光部と、
上記対物レンズを上記光ディスク記録媒体の半径方向に平行な方向であるトラッキング方向に変位させるトラッキング機構と、
上記光ディスク記録媒体の記録面に対する上記レーザ光の光軸の角度ずれとしてのチルトを調整するチルト調整機構と、
上記光照射／受光部が上記戻り光を受光して得られる受光信号に基づき、上記トラッキング機構により保持される上記対物レンズのニュートラル位置からの上記トラッキング方向におけるずれ量としてのトラッキング偏倚量を測定する偏倚量測定部と、
上記受光信号に基づき、チルトの発生量に応じてその値が変化するチルト発生量評価指標としてのチルト評価値を生成する評価値生成部と、
上記対物レンズが所定の偏倚量だけ偏倚した状態で上記評価値生成部にて得られたチルト評価値を取得し、取得したチルト評価値に基づいて上記所定の偏倚量に対応して設定されるべきチルト補正量を求め、この求めたチルト補正量と上記所定の偏倚量との対応関係に基づいて、少なくともトラッキング偏倚量とチルト補正量との対応関係を示す対応関係情報を生成する対応関係情報生成部と
を備える光ディスク装置。
【請求項１３】
光ディスク記録媒体に対して対物レンズを介してレーザ光照射を行うと共に、上記光ディスク記録媒体からの上記レーザ光の戻り光を上記対物レンズを介して受光する光照射／受光部により得られる受光信号に基づいて生成されるものであって、上記光ディスク記録媒体の記録面に対する上記レーザ光の光軸の角度ずれとしてのチルトの発生量に応じてその値が変化するチルト発生量評価指標としてのチルト評価値を、トラッキング機構により保持される上記対物レンズがそのニュートラル位置から所定の偏倚量だけトラッキング方向に偏倚した状態で取得するチルト評価値取得手順と、
上記チルト評価値取得手順により取得したチルト評価値に基づいて上記所定の偏倚量に対応して設定されるべきチルト補正量を求め、この求めたチルト補正量と上記所定の偏倚量との対応関係に基づいて、少なくともトラッキング偏倚量とチルト補正量との対応関係を示す対応関係情報を生成する情報生成手順と
を有する情報生成方法。
【請求項１４】
光ディスク記録媒体に対して対物レンズを介してレーザ光照射を行うと共に、上記光ディスク記録媒体からの上記レーザ光の戻り光を上記対物レンズを介して受光する光照射／受光部により得られる受光信号に基づいて生成されるものであって、上記光ディスク記録媒体の記録面に対する上記レーザ光の光軸の角度ずれとしてのチルトの発生量に応じてその値が変化するチルト発生量評価指標としてのチルト評価値を、トラッキング機構により保持される上記対物レンズがそのニュートラル位置から所定の偏倚量だけトラッキング方向に偏倚した状態で取得するチルト評価値取得処理と、
上記チルト評価値取得処理により取得したチルト評価値に基づいて上記所定の偏倚量に対応して設定されるべきチルト補正量を求め、この求めたチルト補正量と上記所定の偏倚量との対応関係に基づいて、少なくともトラッキング偏倚量とチルト補正量との対応関係を示す対応関係情報を生成する情報生成処理と
を光ディスク装置に実行させるプログラム。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図１５】
【図１６】
【図１７】
【図９】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図１５】
【図１６】
【図１７】
【図９】
【公開番号】特開２０１２−２４８２３８（Ｐ２０１２−２４８２３８Ａ）
【公開日】平成２４年１２月１３日（２０１２．１２．１３）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１１−１１６７５４（Ｐ２０１１−１１６７５４）
【出願日】平成２３年５月２５日（２０１１．５．２５）
【出願人】（０００００２１８５）ソニー株式会社 (34,172)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２４年１２月１３日（２０１２．１２．１３）
【国際特許分類】
【出願日】平成２３年５月２５日（２０１１．５．２５）
【出願人】（０００００２１８５）ソニー株式会社 (34,172)
【Ｆターム（参考）】
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