光学特性測定方法及び光学特性測定装置
【課題】インクの分光透過特性を、測定される印刷試料の印刷条件に即して充分な精度で求める。
【解決手段】単数若しくは複数種類の着色材又は前記複数種類の着色材の組み合わせによる着色層の分光透過特性を該着色層の分光反射特性を用いて算出する光学特性測定方法における、第１の工程において、各着色層と同一の又は近似された、基準として定める基準着色層の分光透過特性及び分光反射特性を予め取得し、第２の工程において、該着色層の分光反射特性を測定する。そして、第３の工程において、該着色層の分光透過特性を算出するべく、該着色層の分光反射特性と該基準着色層の分光反射過特性とに基づいて該基準着色層の分光透過特性を補正する。
【解決手段】単数若しくは複数種類の着色材又は前記複数種類の着色材の組み合わせによる着色層の分光透過特性を該着色層の分光反射特性を用いて算出する光学特性測定方法における、第１の工程において、各着色層と同一の又は近似された、基準として定める基準着色層の分光透過特性及び分光反射特性を予め取得し、第２の工程において、該着色層の分光反射特性を測定する。そして、第３の工程において、該着色層の分光透過特性を算出するべく、該着色層の分光反射特性と該基準着色層の分光反射過特性とに基づいて該基準着色層の分光透過特性を補正する。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、蛍光増白基材上の着色面の光学特性を測定する光学特性測定方法及び光学特性測定装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、生産されている紙や繊維の多くは、蛍光増白剤によって蛍光増白されており、これら及びこれらを基材とする着色面の色彩を蛍光の影響を無視して評価することができないという事情から、蛍光の影響を配慮した当該紙や繊維及びこれらを基材とする着色面に対する測色技術の向上が求められている。
【０００３】
一般的に、反射試料の視覚的な光学特性は、白色との相対比、すなわち或る照明・受光条件において照明、受光された該反射試料からの放射光の、同一条件で照明、受光された完全拡散反射体からの放射光に対する波長λ毎の比である全分光放射輝度率Ｂ（λ）で表される。
【０００４】
ところで、蛍光は自発光するので光源色であるが、上記蛍光増白された、つまり蛍光物質を含む試料（以降、蛍光試料という）では、蛍光は反射光に重畳されて物体色として観察される。すなわち、蛍光試料からの放射光は、該蛍光試料からの反射光（反射光成分）と蛍光（蛍光成分）との和として与えられることから、蛍光試料の全分光放射輝度率Ｂ（λ）は、上記と同様、或る照明・受光条件において照明、受光された蛍光試料からの反射光及び蛍光それぞれの、同一条件で照明、受光された完全拡散反射体からの放射光に対する比である反射分光放射輝度率Ｒ（λ）と蛍光分光放射輝度率Ｆ（λ）との和として与えられる。これは以下の式（１）で示される。
Ｂ（λ）＝Ｒ（λ）＋Ｆ（λ）…（１）
【０００５】
ただし、上記完全拡散反射体は蛍光を放射せず、その反射率は照明光の波長に依存しないので、比例定数を別にすれば、これら全分光放射輝度率Ｂ（λ）、反射分光放射輝度率Ｒ（λ）、及び蛍光分光放射輝度率Ｆ（λ）は、それぞれ波長λの放射光、反射光、及び蛍光の、同じ波長の照明光に対する比として表される。なお、当該測色の目的は目視に準じる測定値を得ることにあり、物体色として感じられる蛍光試料の場合、求められるべきは全分光放射輝度率Ｂ（λ）であり、このＢ（λ）から色彩値が導かれる。
【０００６】
測色用の照明光としては、ＣＩＥ（国際照明委員会）が分光分布（分光強度）を定義しているＤ６５（昼光）やＡ（白色光源）、或いはＤ５０、Ｄ７５、Ｆ１１、Ｃなどの標準照明光が用いられる（蛍光試料には通常、標準照明光Ｄ６５が用いられる）。照明光により照明された蛍光試料（蛍光物質）の励起・蛍光特性は、該蛍光試料面を単位強度で照明する波長μの励起光（入射光）、すなわち単位エネルギーをもつ単波長光により励起される波長λの蛍光の強度を表すマトリクスデータ、二分光蛍光放射輝度率（Bispectral Luminescent Radiance Factor）Ｆ（μ，λ）によって記述される。
【０００７】
上記マトリクスデータは、例えば図８に示す３次元データであり、特定の蛍光波長λに沿った断面（例えばλ＝５５０ｎｍの断面）は、波長λの蛍光を励起する励起光の波長毎の励起効率である分光励起効率を表し、励起波長μに沿った断面（例えばμ＝４５０ｎｍの断面）は、４５０ｎｍの照明光により励起される、蛍光の分光強度を表す。このことからも、蛍光現象は波長μから波長λへの波長変換を伴う現象であると言える。したがって、分光分布Ｉ（μ）を有する照明光Ｉで照明された、二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）を有する蛍光試料の蛍光分光放射輝度率Ｆ（λ）は、比例定数を別にすれば、以下の式（２）により求められる。
Ｆ（λ）＝∫Ｆ（μ，λ）・Ｉ（μ）ｄμ／Ｉ（λ）…（２）
つまり、Ｆ（λ）は、照明光Ｉの分光分布Ｉ（μ）と二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）との畳み込み積分とＩ（λ）との比で与えられる。また、Ｉ（λ）は、比例定数を別にすれば、前記完全拡散反射体（面）からの反射光と等価である。また、式中、「・」、「／」及び「∫」の記号は、それぞれ乗算、除算及び積分を示すものとする（以降も同様）。
【０００８】
上記式（２）が示すように、蛍光分光放射輝度率Ｆ（λ）は、照明光Ｉの分光分布Ｉ（μ）に依存するため、この蛍光分光放射輝度率Ｆ（λ）と、それ自身は照明光Ｉの分光分布Ｉ（μ）に依存しない反射分光放射輝度率Ｒ（λ）との和である全分光放射輝度率Ｂ（λ）も分光分布Ｉ（μ）に依存する。つまり、蛍光試料に対する照明光の違いによって、測定される全分光放射輝度率Ｂ（λ）及びこれから導かれる色彩値も異なるものとなる。
【０００９】
したがって、蛍光試料に対する光学特性の評価においては、照明光（以降、Ｆ（λ）やＢ（λ）等の光学特性の評価に用いる照明光のことを評価用照明光という）の分光分布を特定する必要があり、実際の測定では、測定装置の照明光の分光分布をこの特定の評価用照明光と一致させる必要がある。しかしながら、当該特定の評価用照明光に一致させること、すなわち評価用照明光として一般的に用いられる上記標準照明光（Ｄ６５やＣ等）と同じ分光分布の照明光を実現することは非常に困難である。
【００１０】
そこで、他の方法として、二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）或いは二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）を求め、このＦ（μ，λ）あるいはＢ（μ，λ）と、数値的に与えた評価用照明光の分光分布Ｉ（λ）とから、上記式（２）を用いて、蛍光分光放射輝度率Ｆ（λ）、或いは全分光放射輝度率Ｂ（λ）を数値的に求める方法がある。ただし、この二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）は、上記二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）と同様、蛍光試料面を単位強度で照明する波長μの照明光による、波長λの蛍光と反射光との和として与えられる波長λの全放射光の強度を表すマトリクスデータであり、全分光放射輝度率Ｂ（λ）は、以下の式（２-１）に示すように照明光Ｉの分光分布Ｉ（μ）と二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）との畳み込み積分とＩ（λ）との比で与えられる。
Ｂ（λ）＝∫Ｂ（μ，λ）・Ｉ（μ）ｄμ／Ｉ（λ）…（２-１）
【００１１】
しかしながら、二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）や二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）の測定は、照明、受光系の双方に分光手段を備え、大掛かりで測定時間のかかる二分光器法測定器（ダブルモノクロメーター）を必要とすることから実用的ではなく、例えば、代表的な蛍光試料である蛍光増白紙等の品質管理などには、専ら以下の２つの簡易手法が採られる。
【００１２】
＜Ｇａｅｒｔｎｅｒ−Ｇｒｉｓｓｅｒの測定方法＞
例えば図１０の光学特性測定装置６００に示すように、蛍光試料６０１が積分球６０２の試料用開口６０３に配設される。キセノンランプなど紫外域（ＵＶ域）に十分な強度を有する光源６０４からの光束６０５は、光源用開口を通って積分球６０２内に入射される。この光束６０５中には紫外カットフィルタ６０６が所定長挿入される。光束６０５のうちの紫外カットフィルタ６０６を通過した部分は紫外成分が除去されるので、紫外カットフィルタ６０６の挿入の程度を調節することで、照明光の可視域に対する紫外域（励起域）強度の相対比（相対紫外強度）が調整される。紫外カットフィルタ６０６を透過した光束と透過しなかった光束とは、それぞれ積分球６０２の内部で拡散多重反射され、合成されて蛍光試料６０１を拡散照明する。そして、当該合成された照明光によって照明されることで得られる蛍光試料６０１からの試料放射光の所定方向の成分（放射光成分６０７）が、放射光分光部６０８に入射し、該放射光成分６０７の分光分布Ｓｘ（λ）が測定される。一方、照明光と略同じ分光分布を有する光束６０９が、参照用光ファイバ６１０に入射してさらにこの参照用光ファイバ６１０を経て照明光分光部６１１に入射し、該光束６０９の分光分布Ｍｘ（λ）が測定される。そして、これらＳｘ（λ）及びＭｘ（λ）の測定情報に基づいて演算制御部６１２により全分光放射輝度率Ｂｘ（λ）が求められる（例えば、特許文献１の図４参照）。
【００１３】
上記相対紫外強度の校正は、蛍光試料６０１に近似した励起・蛍光特性（二分光蛍光放射輝度率）を有し、評価用照明光で照明したときの色彩値（例えばＣＩＥの白色度ＷＩ）が既知である蛍光基準試料を用い、該蛍光基準試料を試料用開口６０３に配設してこれに対する全分光放射輝度率Ｂ（λ）を測定し、この全分光放射輝度率Ｂ（λ）から算出した白色度ＷＩが上記既知の白色度ＷＩｓと一致するように、紫外カットフィルタ６０６の挿入度を調節することで行われる。
【００１４】
しかしながら、Ｇａｅｒｔｎｅｒ−Ｇｒｉｓｓｅｒの方法は、機械的に複雑であり信頼性に問題があるだけでなく、上記白色度ＷＩが既知の白色度ＷＩｓと一致するまで、紫外カットフィルタ６０６の挿入度の調節と測定とを繰り返し行う煩雑な校正作業が必要となる。また、自由度が「１」であるため、白色度ＷＩや色度Ｔｉｎｔなどの２つ以上の色彩値を同時に校正したり、或いは全分光放射輝度率Ｂ（λ）そのものを既知の評価用照明光で照明したときの全分光放射輝度率Ｂｓ（λ）と一致させるような校正を行うことは原理的に不可能である。
【００１５】
＜特許文献１の方法＞
上記Ｇａｅｒｔｎｅｒ−Ｇｒｉｓｓｅｒの測定方法では、紫外カットフィルタ６０６の挿入度に応じて照明光を合成し、結果的に全分光放射輝度率Ｂ（λ）を合成するが、特許文献１の方法は、原理はＧａｅｒｔｎｅｒ−Ｇｒｉｓｓｅｒの測定方法と同様であり、また自由度も「１」であるものの、まず全分光放射輝度率Ｂ（λ）を数値的に合成し、結果的にこれを与える照明光を合成するという点で異なる。具体的に説明すると、例えば図１１の光学特性測定装置７００に示すように、積分球７０２に、紫外強度をもつ光束７０３を出力する第1照明部７０４、紫外強度をもたない光束７０５を出力する第２照明部７０６、試料用開口７０７に配設された蛍光試料７０１からの放射光（放射光成分７０８）の分光分布を測定する放射光分光部７０９、そのときの照明光の光束７１０の分光分布を光ファイバ７１１を介して測定する照明光分光部７１２、及び演算制御部７１３を備える。
【００１６】
そして、蛍光試料７０１を第１及び第２照明部７０４、７０６で照明して、該試料からの放射光の分光分布Ｓｘ１（λ）、Ｓｘ２（λ）と、そのときの照明光の分光分布Ｍｘ１（λ）、Ｍｘ２（λ）とを測定し、これらＳｘ１（λ）、Ｓｘ２（λ）とＭｘ１（λ）、Ｍｘ２（λ）とから蛍光試料７０１に対する第１及び第２照明部７０４、７０６での全分光放射輝度率Ｂｘ１（λ）、Ｂｘ２（λ）を求める。そして、この全分光放射輝度率Ｂｘ１（λ）及びＢｘ２（λ）を、以下の式（３）に示すように、予め波長毎に設定して記憶しておいた重み係数Ｗ（λ）（以降、重み係数のことを「重み」と表現する）を用いて線形結合することで合成分光放射輝度率Ｂｘｃ（λ）を求め、このＢｘｃ（λ）を、評価用照明光で照明された蛍光試料７０１の全分光放射輝度率とする。
Ｂｘｃ（λ）＝Ｗ（λ）・Ｂｘ１（λ）＋（１−Ｗ（λ））・Ｂｘ２（λ）…（３）
【００１７】
但し、上記重みＷ（λ）は、蛍光試料７０１に近似した励起・蛍光特性を有し、評価用照明光で照明された場合の全分光放射輝度率Ｂｓ（λ）が既知である蛍光基準試料を用いて設定される。すなわち、重みＷ（λ）は、蛍光基準試料を第１及び第２照明部７０４、７０６により照明して測定した分光放射輝度率Ｂ１（λ）、Ｂ２（λ）を該重みＷ（λ）により線形結合させて得られるＷ（λ）・Ｂ１（λ）＋（１−Ｗ（λ））・Ｂ２（λ）の値が、上記既知の全分光放射輝度率Ｂｓ（λ）と等しくなるように、波長毎に数値的に求められる（例えば、特許文献１の図１参照）。
【００１８】
この方法は、上述のＧａｅｒｔｎｅｒ−Ｇｒｉｓｓｅｒの測定方法による相対紫外強度の校正を、全分光放射輝度率Ｂ（λ）をパラメータとして波長毎に数値的に行うことに相当する。したがって、全分光放射輝度率Ｂ（λ）について校正されるので、これから算出される全ての色彩値に対しても校正がなされるという特徴がある。また、測定に際しての機械的可動部や、煩雑な紫外カットフィルタ挿入度の調節作業が不要になるなど、Ｇａｅｒｔｎｅｒ−Ｇｒｉｓｓｅｒの測定方法の多くの欠点を解決するが、蛍光基準試料を必要とすることには変わりがなく、蛍光基準試料を用いた相対紫外強度の校正後に、蛍光試料に対する測定を行うので、校正時と測定時との照明光に分光分布の差があると測定誤差が生じてしまうといった問題は依然として存在する。
【００１９】
ところで、印刷用紙が蛍光増白されていると、該印刷用紙（蛍光増白基材）上の印刷色は蛍光の影響を免れない。印刷用紙におけるインクで覆われた部分はインクの分光透過率に応じた励起光が、また、覆われていない部分はそのままの励起光が蛍光増白紙に到達するので、印刷用紙の測定域における分光的な励起・蛍光特性（分光励起効率及び分光蛍光強度）は、印刷用紙自身の励起・蛍光特性だけでなく、当該インク層についても考慮された、測定域の平均的な分光透過特性に依存する。この測定域の平均的な分光透過特性は、該インクによる面積率１００％の印刷面の分光透過特性、及びこのインクの該測定域内の面積率（面積比率）に依存するので、結局、測定域の分光的な励起・蛍光特性は、該インクによる面積率１００％の印刷面における分光透過特性、及びその測定域内の面積率（面積比率）に依存する。また、１種類以上のインクで印刷する場合は、印刷用紙は各インク及びこれらインク同士の重なりで覆われることになるので、測定域の分光的な励起・蛍光特性は、当該各インク及びこれらインク同士の重なりの、面積率１００％の印刷面の分光透過特性と面積率とに依存する。すなわち印刷用紙（蛍光増白基材）上に１種類以上のインクで印刷された印刷面の光学特性を蛍光の影響を考慮して測定するには、各インク及びこれらインク同士の重なりによる面積率１００％の印刷面の分光透過特性の情報が必要となる。
【００２０】
透過特性に波長依存性がないインクは、インクを透過した照明光の相対的な分光分布を変えないため、上記特許文献１の方法で合成された照明光の分光積分励起効率と評価用照明光の分光積分励起効率とに対して同じ影響を及ぼす。したがって、印刷面の当該合成照明光による全分光放射輝度率Ｂｃ（λ）は、印刷されていない面とは異なるものの、評価用照明光による全分光放射輝度率と同じであり、評価用照明光で照明されたときの印刷面の全分光放射輝度率とすることができる。ここで、分光積分励起効率Ｅ（λ）は、照明光が、全体として蛍光の各波長成分にもたらす励起効率であり、照明光の分光分布をＩ（μ）とすると、以下、式（４）で表される。
Ｅ（λ）＝∫Ｑ（μ，λ）・Ｉ（μ）ｄμ …（４）
但し、Ｑ（μ，λ）は、二分光励起効率、すなわち波長μ、波長幅ｄμの単位強度の励起光成分の、蛍光の波長λの成分に対する励起効率を示す。
【特許文献１】特開平８−３１３３４９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００２１】
上述の蛍光増白基材上の印刷色について、特許文献１の方法やＧａｅｒｔｎｅｒ−Ｇｒｉｓｓｅｒの測定方法のように頻繁な更新や経時変化に対する管理等が必要な蛍光基準試料及びこれを用いた煩雑な校正作業を必要とすることなく、蛍光の影響を考慮した測色が求められる。そのためには、印刷用紙の励起・蛍光特性や各インクの面積率だけでなく、各インクの分光透過特性を正確に求めることが必要となる。ところが、インクの濃度はロット毎にばらつき、またインク層の厚みも印刷機（例えばプリンター）や環境温度等によって異なるため、特定の印刷条件（印刷機、インク、環境温度等）で用紙に印刷された面積率１００％の印刷面の分光透過特性と異なる分光透過特性を、すなわち同じ面積率１００％であってもこの場合の分光透過特性とは異なる印刷条件で印刷された印刷面の分光透過特性を典型値として用いることは、無視できない誤差の原因となる。
【００２２】
本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、必要とする各インクの分光透過特性を、測定される印刷試料の（インクの）印刷条件に即して充分な精度で求めることができ、ひいては蛍光増白基材上の印刷色に対する測色を正確に行うことができる光学特性測定方法及び光学特性測定装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００２３】
本発明に係る光学特性測定方法は、単数若しくは複数種類の着色材又は前記複数種類の着色材の組み合わせによる着色層の分光透過特性を、該着色層の分光反射特性を用いて算出する光学特性測定方法であって、前記着色層と同一の又は近似された、基準として定める基準着色層の分光透過特性及び分光反射特性を予め取得する第１の工程と、前記着色層の分光反射特性を測定する第２の工程と、前記着色層の分光透過特性を算出するべく、前記着色層の分光反射特性と前記基準着色層の分光反射特性とに基づいて前記基準着色層の分光透過特性を補正する第３の工程とを有することを特徴とする。
【００２４】
上記構成によれば、単数若しくは複数種類の着色材又は前記複数種類の着色材の組み合わせによる着色層の分光透過特性を該着色層の分光反射特性を用いて算出する光学特性測定方法における、第１の工程において、着色層と同一の又は近似された、基準として定める基準着色層の分光透過特性及び分光反射特性が予め取得され、第２の工程において、着色層の分光反射特性が測定される。そして、第３の工程において、着色層の分光透過特性を算出するべく、着色層の分光反射特性と基準着色層の分光反射過特性とに基づいて基準着色層の分光透過特性が補正される。
【００２５】
また、上記構成において、前記分光透過特性は、前記分光反射特性が与えられる測定波長域と前記分光反射特性が与えられない非測定波長域とにおける分光透過特性を含むものであって、前記第３の工程は、前記測定波長域では、前記着色層及び基準着色層それぞれの分光反射特性に基づいて、且つ、前記非測定波長域では、前記測定波長域における当該非測定波長域に隣接する隣接波長域の前記着色層及び基準着色層それぞれの分光反射特性に基づいて、前記基準着色層の分光透過特性を補正する工程であることが好ましい。（請求項２）
【００２６】
これによれば、分光透過特性が、分光反射特性が与えられる測定波長域と分光反射特性が与えられない非測定波長域とにおける分光透過特性を含むものとされ、第３の工程において、測定波長域では、着色層及び基準着色層それぞれの分光反射特性に基づいて、且つ、非測定波長域では、測定波長域における当該非測定波長域に隣接する隣接波長域の着色層及び基準着色層それぞれの分光反射特性に基づいて、基準着色層の分光透過特性が補正される。
【００２７】
また、上記構成において、前記光学特性測定方法は、蛍光増白基材上に単数若しくは複数種類の着色材又は前記複数種類の着色材の組み合わせにより着色されてなる着色面の分光透過特性を算出する方法であって、前記第３の工程は、前記測定された着色層の分光透過特性と、前記単数若しくは複数種類の着色材又は前記複数種類の着色材の組み合わせの面積率とに基づいて前記着色面の平均的な分光透過特性を算出する工程であることが好ましい。（請求項３）
【００２８】
これによれば、光学特性測定方法が、蛍光増白基材上に単数若しくは複数種類の着色材又は前記複数種類の着色材の組み合わせにより着色されてなる着色面の分光透過特性を算出する方法とされ、第３の工程において、上記測定された着色層の分光透過特性と、上記単数若しくは複数種類の着色材又は複数種類の着色材の組み合わせの面積率とに基づいて着色面の平均的な分光透過特性が算出される。
【００２９】
また、上記構成において、前記光学特性測定方法は、蛍光増白基材上に単数若しくは複数種類の着色材又は前記複数種類の着色材の組み合わせにより着色されてなる着色面の励起蛍光特性を算出する方法であって、前記算出された平均的な分光透過特性と、前記蛍光増白基材の励起蛍光特性とに基づいて前記着色面の実効的な励起蛍光特性を算出する第４の工程をさらに有することが好ましい。（請求項４）
【００３０】
これによれば、光学特性測定方法が、蛍光増白基材上に単数若しくは複数種類の着色材又は前記複数種類の着色材の組み合わせにより着色されてなる着色面の励起蛍光特性を算出する方法とされ、第４の工程において、上記算出された平均的な分光透過特性と、蛍光増白基材の励起蛍光特性とに基づいて着色面の実効的な励起蛍光特性が算出される。
【００３１】
また、上記構成において、前記分光透過特性は分光透過率であり、前記分光反射特性は分光反射輝度率であることが好ましい。（請求項５）
【００３２】
これによれば、分光透過特性が分光透過率とされ、分光反射特性が分光反射輝度率とされる。
【００３３】
また、上記構成において、前記光学特性測定方法は、前記単数若しくは複数種類の着色材又は前記複数種類の着色材の組み合わせによる着色層の前記分光透過率を前記分光反射輝度率の測定値に基づいて推定的に算出する方法であって、前記第３の工程は、下記（１）式に基づいて、前記基準着色層の分光透過率を、前記着色層の分光反射輝度率と前記基準着色層の分光反射輝度率とを用いて補正することで前記着色層の分光透過率を算出する工程であることが好ましい。（請求項６）
Ｔ（λ）＝（Ｒ（λ）／Ｒ０（λ））１／２・Ｔ０（λ）・・・（１）
但し、記号「／」：除算
記号「・」：乗算
Ｔ（λ）：着色層の分光透過率
Ｒ（λ）：着色層の分光反射輝度率
Ｔ０（λ）：基準着色層の分光透過率
【００３４】
これによれば、光学特性測定方法が、単数若しくは複数種類の着色材又は前記複数種類の着色材の組み合わせによる着色層の分光透過率を分光反射輝度率の測定値に基づいて推定的に算出する方法とされ、第３の工程において、上記（１）式に基づいて、基準着色層の分光透過率が、着色層の分光反射輝度率と基準着色層の分光反射輝度率とを用いて補正されることで着色層の分光透過率が算出される。
【００３５】
また、上記構成において、前記光学特性測定方法は、前記単数若しくは複数種類の着色材又は前記複数種類の着色材の組み合わせによる着色層の前記分光透過率を前記分光反射輝度率の測定値に基づいて推定的に算出する方法であって、前記第３の工程は、下記（２）式に基づいて、透過率の異なる少なくとも２つの前記基準着色層である第１及び第２の基準着色層の分光透過率を、所定の重み係数を用いて線形結合することにより補正することで前記着色層の分光透過率を算出する工程であることが好ましい。（請求項７）
Ｔ（λ）＝Ａ（λ）・Ｔ０（λ）＋（１−Ａ（λ））・Ｔ１（λ）・・・（２）
但し、記号「／」：除算
記号「・」：乗算
Ｔ（λ）：着色層の分光透過率
Ｔ０（λ）：第１の基準着色層の分光透過率
Ｔ１（λ）：第２の基準着色層の分光透過率
Ａ（λ）：第１及び第２の基準着色層それぞれの分光反射輝度率Ｒ０（λ）及びＲ１（λ）と、前記着色層の分光反射輝度率Ｒ（λ）とによって与えられる重み係数
【００３６】
これによれば、光学特性測定方法が、単数若しくは複数種類の着色材又は前記複数種類の着色材の組み合わせによる着色層の分光透過率を分光反射輝度率の測定値に基づいて推定的に算出する方法とされ、第３の工程において、上記（２）式に基づいて、透過率の異なる少なくとも２つの基準着色層である第１及び第２の基準着色層の分光透過率が、所定の重み係数を用いて線形結合されることにより補正されることで着色層の分光透過率が算出される。
【００３７】
また、上記構成において、前記光学特性測定方法は、前記単数若しくは複数種類の着色材又は前記複数種類の着色材の組み合わせによる着色層の前記分光透過率を前記分光反射輝度率の測定値に基づいて推定的に算出する方法であって、前記第３の工程は、前記着色層の分光透過率を、透過率の異なる１つ以上の基準着色層における分光透過率及び分光反射輝度率と、前記着色層の分光反射輝度率との関数によって与える工程であることが好ましい。（請求項８）
【００３８】
これによれば、光学特性測定方法が、単数若しくは複数種類の着色材又は前記複数種類の着色材の組み合わせによる着色層の分光透過率を分光反射輝度率の測定値に基づいて推定的に算出する方法とされ、第３の工程において、着色層の分光透過率が、透過率の異なる１つ以上の基準着色層における分光透過率及び分光反射輝度率と、着色層の分光反射輝度率との関数によって与えられる。
【００３９】
さらに、本発明に係る光学特性測定装置は、単数若しくは複数種類の着色材又は前記複数種類の着色材の組み合わせによる着色層の分光透過特性を、該着色層の分光反射特性を用いて算出する光学特性測定装置であって、前記着色層と同一の又は近似された、基準として定める基準着色層の分光透過特性及び分光反射特性を記憶する記憶手段と、前記着色層の分光反射特性を測定する測定手段と、前記着色層の分光透過特性を算出するべく、前記着色層の分光反射特性と前記基準着色層の分光反射過特性とに基づいて前記基準着色層の分光透過特性を補正する補正手段とを備えることを特徴とする。（請求項９）
【００４０】
上記構成によれば、単数若しくは複数種類の着色材又は前記複数種類の着色材の組み合わせによる着色層の分光透過特性を該着色層の分光反射特性を用いて算出する光学特性測定装置において、記憶手段によって、着色層と同一の又は近似された、基準として定める基準着色層の分光透過特性及び分光反射特性が記憶され、測定手段によって、着色層の分光反射特性が測定される。そして、補正手段によって、着色層の分光透過特性を算出するべく、着色層の分光反射特性と基準着色層の分光反射過特性とに基づいて基準着色層の分光透過特性が補正される。
【発明の効果】
【００４１】
請求項１及び９に記載の発明によれば、着色層の分光透過特性が、予め取得された基準着色層の分光反射特性と測定された着色層の分光反射特性とに基づいて、予め取得された基準着色層の分光透過特性が補正されることで算出されるので、すなわち着色層の分光透過特性が、予め与えられた基準着色層の分光反射特性と、測定された着色層の分光反射特性とに基づいて、予め与えられた基準着色層の分光透過特性から推定されるので、着色層の分光透過特性の情報を、測定される試料（印刷試料）の印刷条件に即して充分な精度で求めることができる。すなわち、着色層の分光透過特性が、印刷機や環境温度等によって異なる着色層の厚みや濃度の影響を受けてばらついているような場合であっても、当該着色層の分光透過特性を精度良く求めることができ、ひいてはこの分光透過特性を用いて、蛍光試料（蛍光増白基材）上の印刷色（着色面）に対する測色を正確に行うことができる。
【００４２】
請求項２に記載の発明によれば、基準着色層の分光透過特性の補正が、該分光反射特性の測定波長域では、着色層及び基準着色層の分光反射特性に基づいて、また非測定波長域では、測定波長域における当該非測定波長域に隣接する隣接波長域の着色層及び基準着色層の分光反射特性に基づいて行われるので、基準着色層の分光透過特性の補正において、分光反射特性が与えられないすなわち実測値が得られない非測定波長域についても、分光反射特性が与えられる測定波長域における（隣接波長域の）分光反射特性を代用することができ、ひいては着色層及び基準着色層の分光反射特性を用いて容易に基準着色層の測定波長域と非測定波長域とにおける分光透過特性を補正することが可能となる。
【００４３】
請求項３記載の発明によれば、算出された着色層の分光透過特性と、１つ以上の着色材又は該着色材の組み合わせの面積率とに基づいて着色面の平均的な分光透過特性が算出されるので、着色面の分光透過特性が、印刷機や環境温度等によって異なる着色層の厚みや濃度の影響を受けてばらついているような場合であっても、着色面の平均的な分光透過特性を精度良く求めることができる。
【００４４】
請求項４記載の発明によれば、算出された平均的な分光透過特性と、蛍光増白基材の励起蛍光特性とに基づいて着色面の実効的な励起蛍光特性が算出されるので、着色面の分光透過特性が、印刷機や環境温度等によって異なる着色層の厚みや濃度の影響を受けてばらついているような場合であっても、着色面の実効的な励起蛍光特性を精度良く求めることができる。
【００４５】
請求項５記載の発明によれば、分光透過特性が分光透過率とされ、分光反射特性が分光反射輝度率とされるので、蛍光増白基材（蛍光試料）からの影響を含まない分光反射輝度率によって精度良く求めた分光透過率によって、蛍光増白基材上に単数又は複数種類の着色材によって着色された着色面の平均的な分光透過率を求めることができ、さらに実効的な励起蛍光特性として二分光蛍光放射輝度率や実効二分光蛍光放射輝度率を精度良く求めることができる。
【００４６】
請求項６記載の発明によれば、上記（１）式に基づいて、基準着色層の分光透過率が、着色層の分光反射輝度率と基準着色層の分光反射輝度率とを用いて補正されることで着色層の分光透過率が算出されるので、予め基準着色層の分光透過率及び分光反射輝度率を測定して記憶させるなどして与えておくことで、着色層の分光反射輝度率から該着色層の分光透過率を精度良く求めるといったことが可能となる。
【００４７】
請求項７記載の発明によれば、上記（２）式に基づいて、透過率の異なる少なくとも２つの基準着色層である第１及び第２の基準着色層の分光透過率が、所定の重み係数を用いて線形結合されることにより補正されることで着色層の分光透過率が算出されるので、予め少なくとも２つの基準着色層それぞれの分光透過率と分光反射輝度率とを測定して記憶させるなどして与えておくことで、着色層の分光反射輝度率から該着色層の分光透過率を精度良く求めるといったことが可能となる。
【００４８】
請求項８記載の発明によれば、着色層の分光透過率が、透過率の異なる１つ以上の基準着色層における分光透過率及び分光反射輝度率と、着色層の分光反射輝度率との関数によって与えられるので、予め透過率の異なる１つ以上の基準着色層における各分光透過率及び分光反射輝度率を測定して記憶させるなどして与えておくことで、着色層の分光反射輝度率から該着色層の分光透過率を精度良く求めるといったことが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００４９】
（光学特性測定装置の全体的な説明）
図1は、本発明に係る蛍光試料の光学特性測定装置の一例を示す概略構成図である。図１に示すように、光学特性測定装置１０は、被測定試料１、第１照明部２、第２照明部３、参照面部４、受光部５、２チャンネル分光部６及び制御部７を備えて構成されている。被測定試料１は、蛍光物質を含む繊維や紙製品等からなる測定対象となる試料である。被測定試料１は、所定の測定位置に配置される。第１照明部２は、被測定試料１を照明するものであり、光源としての白熱ランプ２１と、該白熱ランプ２１を駆動して点灯（例えばパルス点灯）させるための第１駆動回路２２とを備える。第２照明部３は、第１照明部２と同様、被測定試料１を照明するものであり、紫外域の光束を出力する光源（紫外光源）としての紫外ＬＥＤ３１と、該紫外ＬＥＤ３１を駆動して点灯（例えばパルス点灯）させるための第２駆動回路３２とを備える。なお、第２照明部３の光源は、紫外ＬＥＤ３１に限定されず、紫外域の光束が出力可能であれば、キセノンフラッシュランプなど、いずれの光源でもよい。
【００５０】
参照面部４は、白色拡散面からなる参照面（反射面）を有するものであり、被測定試料１の測定域の近傍に配設されている。受光部５（受光系）は、光学レンズ（又はレンズ群）からなり、第１及び第２照明部２、３によって照明された被測定試料１の放射光、及び参照面部４からの反射光における法線方向の成分を受光するとともに、該受光した光束を後述の２チャンネル分光部６へ向けて入射させるものである。
【００５１】
２チャンネル分光部６は、受光部５からの入射光に対する分光測定を行うものである。２チャンネル分光部６は、第1入射スリット６１及び第２入射スリット６２を備える。後述の照明光ＬＡ又は照明光ＬＢによって照明された被測定試料１からの放射光は、第1入射スリット６１に入射し、一方、この照明光ＬＡ又は照明光ＬＢによって照明された参照面部４（参照面）からの反射光は第２入射スリット６２に入射する。２チャンネル分光部６は、この第1入射スリット６１に入射した試料放射光に対する分光測定を行い、第１チャンネル出力として当該試料放射光の分光分布データを出力するとともに、第２入射スリット６２に入射した参照面反射光（参照光）、すなわち後述の照明光ＬＡ又は照明光ＬＢに対する分光測定を行い、第２チャンネル出力として当該照明光の分光分布データを出力する。このように、２チャンネル分光部６は、放射光分光手段及び照明光分光手段として機能する。
【００５２】
制御部７は、各制御プログラム等を記憶するＲＯＭ（Read Only Memory）、演算処理や制御処理用のデータを格納するＲＡＭ（Random Access Memory）、及び当該制御プログラム等をＲＯＭから読み出して実行するＣＰＵ（中央演算処理装置）等からなり、光学特性測定装置１０全体の動作制御を司るものである。具体的には、第１及び第２照明部２、３の点灯動作や２チャンネル分光部６の受光・分光動作に関する駆動制御を行ったり、２チャンネル分光部６からの情報（分光情報）に基づいて、被測定試料１に対する全分光放射輝度率の算出や相対分光感度の校正等に関する各種演算処理を実行する。制御部７のこれら各種演算機能等については後に詳述する。
【００５３】
このような各部を備える光学特性測定装置１０において、制御部７が第１駆動回路２２を介して（駆動させて）白熱ランプ２１を点灯させると、白熱ランプ２１は、被測定試料１を、該被測定試料１の法線に対して約４５°の方向から（入射角度で）光束２３で照明する。同様に、制御部７が第２駆動回路３２を駆動させて紫外ＬＥＤ３１を点灯すると、紫外ＬＥＤ３１は、被測定試料１を、上記４５°よりも法線に近い位置での方向（符号αに示す入射角度の方向）から光束３３により照明する。
【００５４】
ここで、本実施形態において、第１照明部２を照明部Ａとし、第１照明部２と第２照明部３とを合わせたものを照明部Ｂと表現するものとする。白熱ランプ２１（白熱光源）のみを光源とする照明部Ａによる照明光ＬＡは、励起域（紫外域）に殆ど強度を有さず、一方、白熱ランプ２１と紫外ＬＥＤ３１とを光源とする照明部Ｂの照明光ＬＢ、すなわち白熱ランプ２１と紫外ＬＥＤ３１とを同時に点灯させた場合の照明光ＬＢは、励起域に十分な強度を有する。照明部Ａ、Ｂは、いずれも白熱光源を備えて可視域に強度を有し、励起強度を可視域の各波長の強度で相対化することができるため、蛍光分光放射輝度率又は全分光放射輝度率を求めることができる（可視域に分光強度をもたない照明光を用いた測定では、上記相対化の演算が行えず、蛍光分光放射輝度率や全分光放射輝度率を求めることができない）。
【００５５】
上記照明光ＬＡ又は照明光ＬＢによって照明された被測定試料１からの放射光のうち、略法線方向の成分が受光部５によって２チャンネル分光部６の第1入射スリット６１に入射して分光測定され、第１チャンネル出力としてその分光分布Ｓｘ１（λ）又はＳｘ２（λ）が制御部７に出力される。一方、被測定試料１の測定域の近傍に配置された参照面部４が、被測定試料１の試料面と同時に照明光ＬＡ又は照明光ＬＢによって照明される。そして、この参照面からの反射光のうち、略法線方向の成分が受光部５によって２チャンネル分光部６の第２入射スリット６２に入射して分光測定され、第２チャンネル出力としてその分光分布Ｍｘ１（λ）又はＭｘ２（λ）が制御部７に出力される。
【００５６】
なお、第２照明部３における紫外ＬＥＤ３１の中心波長は約３７５ｎｍであり、図９の白熱光源及び紫外ＬＥＤの分光分布図に示すように（符号Ａは白熱光源の分光分布、符号Ｌは紫外ＬＥＤの分光分布を示す）、該紫外ＬＥＤ３１の中心波長３０１は一般的な蛍光増白剤の分光励起効率（相対分光励起効率）３０２のピーク近傍に位置する。分光励起効率とは、波長λの蛍光を励起する励起光の波長毎の励起効率を示し、照明光の分光分布との畳み込み積分によって、その照明光により励起される波長λの蛍光強度（積分励起）が求められるものである。なお、符号３０３に示すグラフは、上記蛍光増白剤の蛍光分光分布（相対蛍光分光分布）を示している。
【００５７】
また、本発明の技術は、照明光の分光分布を把握する必要性があるので、２チャンネル分光部６は、紫外ＬＥＤ３１による放射光の波長域を含む、約３６０ｎｍから７４０ｎｍの波長域をカバーする（この波長域の分光が可能である）。白熱ランプ２１及び紫外ＬＥＤ３１を光源とする照明部Ｂは、強い短パルス光で蛍光物質を照明したときに発生して問題となる（目視との互換性を崩す要因となる）トリプレット効果を生じない発光時間で発光する。このトリプレット効果とは、概略的に説明すると、発光時間が短く励起エネルギーの高い照明光により、分子の電子状態におけるＳ（Singlet）準位とＴ（Triplet）準位との間での遷移が起こるが（通常はこのＳ準位及びＴ準位間の遷移の確率は極めて低い）、これに伴って生じる励起（吸収）現象のことを言う。
【００５８】
また、光学特性測定装置１０での光学系は、上述のように第１照明部２と受光部５との組み合わせ（配置）により、４５／０ジオメトリー（反射特性の測定ジオメトリー４５°／０°）を構成している。このようなジオメトリーの目的は、被測定試料１からの正反射光の制御にあるが、可視域に分布をもたない第２照明部３による正反射光は測色に影響を与えることがないので、この第２照明部３は、ジオメトリーの制約を受けることなく任意に配置することができる。
【００５９】
ここで、制御部７における各機能部の詳細について説明する。制御部７は、図１に示すように、ＣＰＵ７０、分光データメモリ７１、評価用照明光データメモリ７２、二分光データメモリ７３、係数メモリ７４及び面積率メモリ７５等を備えている。ＣＰＵ７０は、第１及び第２照明部２、３、並びに２チャンネル分光部６の駆動制御に関する演算、或いは被測定試料１に対する全分光放射輝度率の算出や相対分光感度の校正等に関する演算等の各種演算処理を行う上記中央演算処理装置（ＣＰＵ）である。分光データメモリ７１は、２チャンネル分光部６で分光測定され、該２チャンネル分光部６から送信されてきた放射光及び照明光の分光分布データを記憶するものである。評価用照明光データメモリ７２は、予め与えられた評価用照明光の分光分布データを記憶するものである。二分光データメモリ７３は、予め求められた、被測定試料１（蛍光試料）と近似の二分光蛍光放射輝度率データを記憶するものである。
【００６０】
係数メモリ７４は、２チャンネル分光部６の相対分光感度を校正する感度校正係数、参照面部４からの反射光（以降、参照面反射光という）の分光分布を、被測定試料１に対する照明光（以降、試料面照明光という）の分光分布に変換する変換係数、及び被測定試料１からの放射光（以降、試料放射光という）と参照面反射光との分光分布から、被測定試料１の全分光放射輝度率を求める校正係数等の係数データを記憶するものである。面積率メモリ７５は、後述の印刷面の測色で用いられる各インクとそれらの組み合わせによる印刷部分の面積率（面積率データ）を記憶するものである。
【００６１】
制御部７は、上記各メモリ部に記憶された、放射光及び照明光の分光分布データ、評価用照明の分光分布データ、二分光蛍光放射輝度率データ、感度校正係数、変換係数及び校正係数等のデータに基づいて、以下、（Ａ）、（Ｂ）に関する測定制御（演算）を行う。
【００６２】
（Ａ）評価用照明光で照明したときの全分光放射輝度率
＜測定の原理＞
一般に、蛍光試料は、或る評価用照明光Ｉｓで照明したときの該蛍光試料の分光放射輝度率を得るために、上記二分光器法測定器、或いは評価用照明光Ｉｓと同じ分光分布の照明光をもつ測定器を用いなければならないが、本実施形態においては、特定の二分光蛍光放射輝度率に近似した励起・蛍光特性を有する蛍光試料について、特定の評価用照明光と同じ蛍光分光放射輝度率を与える仮想的な照明光を数値的に合成する。すなわち、蛍光試料の二分光蛍光放射輝度率をＦ（μ，λ）とし、評価用照明光Ｉｓと、上記数値的に合成される照明光（以降、合成照明光という）Ｉｃとの分光分布をそれぞれＩｓ（λ）、Ｉｃ（λ）とすると、上記式（２）から、各照明光による蛍光分光放射輝度率Ｆ（λ）（＝∫Ｆ（μ，λ）・Ｉ（μ）ｄμ／Ｉ（λ））が以下の式（５）となる合成照明光Ｉｃを、分光分布、特に励起域と蛍光域の相対強度の異なる２つの照明光Ｉ１、Ｉ２の線形結合による合成によって求める。ただし、分光分布Ｉ（λ）は、上述で説明したように比例定数を別にすれば、完全拡散反射体（面）からの反射光と等価である。
∫Ｆ（μ，λ）・Ｉｓ（μ）ｄμ／Ｉｓ（λ）＝∫Ｆ（μ，λ）・Ｉｃ（μ）ｄμ／Ｉｃ（λ）…（５）
【００６３】
この照明光Ｉ１、Ｉ２の重みつき線形結合による合成においては、波長毎に設定される線形結合の重みをＷ（λ）及び１−Ｗ（λ）とすると、合成照明光Ｉｃの分光分布Ｉｃ（λ）は、照明光Ｉ１、Ｉ２の分光分布Ｉ１（λ）、Ｉ２（λ）を用いて以下の式（６）で表される。
Iｃ（λ）＝Ｗ（λ）・Ｉ１（λ）＋（１−Ｗ（λ））・Ｉ２（λ）…（６）
【００６４】
これにより、合成照明光Ｉｃによる蛍光分光放射輝度率Ｆｃ（λ）は、以下の式（７）で表され、
Ｆｃ（λ）＝∫Ｆ（μ，λ）・Ｉｃ（μ）ｄμ／Ｉｃ（λ）＝∫Ｆ（μ，λ）・［Ｗ（λ）・Ｉ１（μ）＋（１−Ｗ（λ））・Ｉ２（μ）］ｄμ／［Ｗ（λ）・Ｉ１（λ）＋（１−Ｗ（λ））・Ｉ２（λ）］…（７）
【００６５】
したがって、上記式（５）は以下の式（８）に書き換えられる。
∫Ｆ（μ，λ）・Ｉｓ（μ）ｄμ／Ｉｓ（λ）＝∫Ｆ（μ，λ）・［Ｗ（λ）・Ｉ１（μ）＋（１−Ｗ（λ））・Ｉ２（μ）］ｄμ／［Ｗ（λ）・Ｉ１（λ）＋（１−Ｗ（λ））・Ｉ２（λ）］…（８）
【００６６】
そして、上記式（８）から重みＷ（λ）を算出する、すなわち式（８）の二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）と評価用照明光Ｉｓの分光分布Ｉｓ（λ）＝Ｉｓ（μ）とを予め数値データとして与えておき（設定して記憶しておき）、一方、照明光（実照明光）Ｉ１、Ｉ２の分光分布Ｉ１（λ）、Ｉ２（λ）は実測により求めておき（具体的には、実測した参照面反射光の分光分布から変換してＩ１（λ）、Ｉ２（λ）を求める）、演算処理のみによって重みＷ（λ）を算出する。そして、この重みＷ（λ）を用いて、当該算出に用いた二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）と近似の二分光蛍光放射輝度率をもつ蛍光試料を同じ評価用照明光Ｉｓで照明したときの全分光放射輝度率Ｂｘｓ（λ）を算出する。すなわち、蛍光試料を照明光Ｉ１、Ｉ２で照明したときの試料面放射光の分光分布Ｓｘ１（λ）、Ｓｘ２（λ）と当該照明光Ｉ１、Ｉ２の分光分布Ｉ１（λ）、Ｉ２（λ）とを、それぞれ重みＷ（λ）、（１−Ｗ（λ））による線形結合によって合成する以下の式（９）、（１０）が与えるＳｘｃ（λ）及びＩｃ（λ）と、
Ｓｘｃ（λ）＝Ｗ（λ）・Ｓｘ１（λ）＋（１−Ｗ（λ））・Ｓｘ２（λ）…（９）
Ｉｃ（λ）＝Ｗ（λ）・Ｉ１（λ）＋（１−Ｗ（λ））・Ｉ２（λ）…（１０）
（但し、Ｓｘｃ（λ）は合成照明光Ｉｃで照明されるときの前記試料の放射光の分光分布を、Ｉｃ（λ）は照明光Ｉ１、Ｉ２の重みつき線形結合によって合成される合成照明光Ｉｃの分光分布を示す。）
校正定数Ｃ（λ）とによって、以下の式（１１）により全分光放射輝度率Ｂｓ（λ）が求められる。
Ｂｓ（λ）＝Ｃ（λ）・Ｓｃ（λ）／Ｉｃ（λ）…（１１）
【００６７】
ところで、上述での各演算処理は、本発明のように照明光Ｉ１、Ｉ２が共に可視域に強度を有するものとすることにより（具体的には、例えば照明光Ｉ１を上記照明光ＬＡ、照明光Ｉ２を照明光ＬＢとする）、簡略化することが可能となる。すなわち、照明光Ｉ１、Ｉ２を可視域における波長λでの強度で相対化した、照明光Ｉ１（μ）／Ｉ１（λ）、Ｉ２（μ）／Ｉ２（λ）を想定し、Ｉ１λ（μ）、Ｉ２λ（μ）とする（Ｉ１λ（μ）＝Ｉ１（μ）／Ｉ１（λ）、Ｉ２λ（μ）＝Ｉ２（μ）／Ｉ２（λ）。したがって、Ｉ１λ（λ）＝Ｉ２λ（λ）＝１）。このことで、可視域での波長λ毎に異なる光源が想定されことになる。この場合、上記式（８）の右辺の分母は［Ｗ（λ）・Ｉ１λ（λ）＋（１−Ｗ（λ））・Ｉ２λ（λ）］となり、その値は常に「１」となる。したがって、式（７）は以下の式（１２）に示すように書き換えられ、合成照明光Ｉｃによる蛍光分光放射輝度率Ｆｃ（λ）は、各照明光Ｉ１、Ｉ２による蛍光分光放射輝度率の線形結合で表されるものとなる。
∫Ｆ（μ，λ）・Ｉｃ（μ）ｄμ／Ｉｃ（λ）＝Ｗ（λ）・∫Ｆ（μ，λ）・Ｉ１λ（μ）ｄμ＋（１−Ｗ（λ））・∫Ｆ（μ，λ）・Ｉ２λ（μ）ｄμ＝Ｗ（λ）・∫Ｆ（μ，λ）・Ｉ１（μ）ｄμ／Ｉ１（λ）＋（１−Ｗ（λ））・∫Ｆ（μ，λ）・Ｉ２（μ）ｄμ／Ｉ２（λ） …（１２）
【００６８】
これにより、上記式（５）は以下の式（１３）に書き換えることができる。
∫Ｆ（μ，λ）・Ｉｓ（μ）ｄμ／Ｉｓ（λ）＝Ｗ（λ）・∫Ｆ（μ，λ）・Ｉ１（μ）ｄμ／Ｉ１（λ）＋（１−Ｗ（λ））・∫Ｆ（μ，λ）・Ｉ２（μ）ｄμ／Ｉ２（λ） …（１３）
【００６９】
なお、式（１２）は、蛍光分光放射輝度率Ｆｃ（λ）が、波長λでの強度が共に「１」で波長λ毎に異なる２つの仮想的な照明光、Ｉ１λ（μ）＝Ｉ１（μ）／Ｉ１（λ）とＩ２λ（μ）＝Ｉ２（μ）／Ｉ２（λ）を重みＷ（λ）、１−Ｗ（λ）で加算した、以下の式（１２’）に示す可視域の波長λ毎に異なる合成照明光Ｉｃ（μ）によって得られることを示している。
Ｉｃ（μ）＝Ｗ（λ）・Ｉ１（μ）／Ｉ１（λ）＋（１−Ｗ（λ））・Ｉ２（μ）／Ｉ２（λ）…（１２’）
【００７０】
上述における式（８）から重みＷ（λ）を求めた場合と同様、上記式（１３）についても、蛍光試料の二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）と、評価用照明光Ｉｓの分光分布Ｉｓ（λ）と、２つの照明光Ｉ１、Ｉ２の分光分布Ｉ１（λ）、Ｉ２（λ）とが与えられれば、重みＷ（λ）を演算処理だけで求めることができる。
【００７１】
なお、従来（特許文献１）の方法では、実照明光Ｉ１、Ｉ２の分光分布Ｉ１（λ）、Ｉ２（λ）が未知であるため、式（１３）の右辺の積分を、蛍光基準試料の全分光放射輝度率の実測に置き換えているものと考えることができる。
【００７２】
このようにして式（１３）から算出したＷ（λ）を、当該算出に用いた二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）と近似の二分光蛍光放射輝度率をもつ蛍光試料に対して用い、合成照明光Ｉｃによる蛍光試料の蛍光分光放射輝度率Ｆｘｃ（λ）を、各照明光Ｉ１、Ｉ２（照明光ＬＡ、ＬＢ）による試料の蛍光分光放射輝度率Ｆｘ１（λ）、Ｆｘ２（λ）の線形結合で表すことができる（以下、式（１４）参照）。
Ｆｘｃ（λ）＝Ｗ（λ）・Ｆｘ１（λ）＋（１−Ｗ（λ））・Ｆｘ２（λ）…（１４）
【００７３】
また、蛍光分光放射輝度率Ｆｘｃ（λ）と照明光に依存しない反射分光放射輝度率Ｒｘｃ（λ）との和である全分光放射輝度率Ｂｘｃ（λ）についても、上記と同じ重みＷ（λ）を用いて、各照明光Ｉ１、Ｉ２により蛍光試料を実測して得た全分光放射輝度率Ｂｘ１（λ）とＢｘ２（λ）との線形結合により求めることができる（以下、式（１５）参照）。
Ｂｘｃ（λ）＝Ｗ（λ）・Ｂｘ１（λ）＋（１−Ｗ（λ））・Ｂｘ２（λ）…（１５）
【００７４】
上述では、二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）を与えて式（８）或いは式（１３）によって重みＷ（λ）を求めているが、式（１）からＦｃ（λ）＝Ｆｓ（λ）であればＢｃ（λ）＝Ｂｓ（λ）であるので、式（８）或いは式（１３）のＦ（μ，λ）を二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）に置き換え、上述と同様に重みＷ（λ）を求めることができる。
【００７５】
ところで、上記蛍光試料の光学特性測定に先立って２種類の校正が必要となる。これら校正について以下に説明する。
＜１．分光手段の相対分光感度校正＞
上述したように本実施形態の方法では、測定器の実照明光の分光分布を把握することが必要であり、そのために、製造時等において予め放射光分光手段（ここでは２チャンネル分光部６）の相対分光感度の校正が行われる。まず、放射光分光手段を公知の方法によって波長校正し、更にＡ光源など既知の分光分布Ａ（λ）を有する光源からの光束を入射させて得た出力Ｓａ（λ）から、感度校正係数Ｇ（λ）が求められる（以下、式（１６）参照）。
Ｇ（λ）＝Ａ（λ）／Ｓａ（λ）…（１６）
【００７６】
＜２．白色校正＞
測定に先立って（前段階で）行われる白色校正では、反射分光放射輝度率Ｒｗ（λ）が既知であり、蛍光特性をもたない白色校正板を、照明光Ｉ１及びＩ２（照明光ＬＡ及び照明光ＬＢ）で照明したときの、試料放射光（白色校正板からの放射光）の分光分布Ｓｗ１（λ） 、Ｓｗ２（λ）と、参照面反射光（参照面部４からの反射光）の分光分布Ｍｗ１（λ）、Ｍｗ２（λ）とから、以下、＜１＞、＜２＞に示す２種類の係数が求められる。
【００７７】
＜１＞参照面反射光の分光分布Ｍｘ１（λ）、Ｍｘ２（λ）を分光分布Ｉ１（λ）、Ｉ２（λ）に変換するための変換係数Ｄ１（λ）、Ｄ２（λ）。
【００７８】
この場合、既知の反射分光放射輝度率Ｒｗ（λ）を有する白色校正板を照明光Ｉ１及びＩ２で照明したときの、当該試料面反射光の分光分布Ｓｗ１（λ）、Ｓｗ２（λ）と、参照面反射光の分光分布Ｍｗ１（λ）、Ｍｗ２（λ）と、上記式（１６）に示す感度校正係数Ｇ（λ）とから、以下の式（１７）、（１８）によって、測定時の参照面反射光の分光分布Ｍｘ１（λ）、Ｍｘ２（λ）を、試料面照明光の分光分布Ｉ１（λ）、Ｉ２（λ）に変換する変換係数Ｄ１（λ）、Ｄ２（λ）を求める。
Ｄ１（λ）＝［Ｇ（λ）・Ｓｗ１（λ）］／［Ｍｗ１（λ）・Ｒｗ（λ）］…（１７）
Ｄ２（λ）＝［Ｇ（λ）・Ｓｗ２（λ）］／［Ｍｗ２（λ）・Ｒｗ（λ）］…（１８）
【００７９】
これにより、蛍光試料測定時、参照面反射光の分光分布がＭｘ１（λ）、Ｍｘ２（λ）であるとすると、試料面照明光の分光分布Ｉ１（λ）、Ｉ２（λ）が、該変換係数Ｄ１（λ）、Ｄ２（λ）を用いて以下の式（１９）、（２０）により求められる。
Ｉ１（λ）＝Ｄ１（λ）・Ｍｘ１（λ）…（１９）
Ｉ２（λ）＝Ｄ２（λ）・Ｍｘ２（λ）…（２０）
【００８０】
＜２＞測定時、照明光Ｉ１及びＩ２で照明した試料放射光の分光分布Ｓｘ１（λ）、Ｓｘ２（λ）と参照面反射光の分光分布Ｍｘ１（λ）、Ｍｘ２（λ）とから、蛍光試料の全分光放射輝度率Ｂｘ１（λ）、Ｂｘ２（λ）を求めるための校正係数Ｃ１（λ）、Ｃ２（λ）。
【００８１】
この場合、上記＜１＞における、既知の反射分光放射輝度率Ｒｗ（λ）と、白色校正板を照明光Ｉ１及びＩ２で照明したときの試料面反射光の分光分布Ｓｗ１（λ）、Ｓｗ２（λ）と参照面反射光の分光分布Ｍｗ１（λ）、Ｍｗ２（λ）とから、以下の式（２１）、（２２）によって校正係数Ｃ１（λ）、Ｃ２（λ）を求める。
Ｃ１（λ）＝ Ｒｗ（λ）／[Ｓｗ１（λ）／Ｍｗ１（λ）] …（２１）
Ｃ２（λ）＝ Ｒｗ（λ）／[Ｓｗ２（λ）／Ｍｗ２（λ）] …（２２）
【００８２】
これにより、蛍光試料測定時、照明光Ｉ１及びＩ２で照明された試料面放射光及び参照面反射光の分光分布が、Ｓｘ１（λ）、Ｓｘ２（λ）、及びＭｘ１（λ）、Ｍｘ２（λ）とすれば、試料面の全分光放射輝度率Ｂｘ１（λ）、Ｂｘ２（λ）は以下の式（２３）、（２４）により求められる。
Ｂｘ１（λ）＝Ｃ１（λ）・Ｓｘ１（λ）／Ｍｘ１（λ）…（２３）
Ｂｘ２（λ）＝Ｃ２（λ）・Ｓｘ２（λ）／Ｍｘ２（λ）…（２４）
【００８３】
なお、上述の評価用照明光で照明したときの全分光放射輝度率の測定原理は、以下のように要約されるものであると言うこともできる。
ａ１．任意の照明光で照明された蛍光試料が放射する蛍光の分光特性は、照明光の分光分布と試料の二分光蛍光放射輝度率によって求められる（式（２）参照）。
ａ２．したがって、照明光の分光分布が既知であれば、既知の二分光蛍光放射輝度率をもつ仮想的な蛍光基準試料の全分光放射輝度率を算出でき、現実の蛍光基準試料に置き換えることができる。
ａ３．仮想的な蛍光基準試料について、上述の特許文献１の方法を適用する。
ａ４．評価用照明光の分光分布は予めデータとして与えておき、測定装置の照明光（実照明光）の分光分布は実測で求める。
【００８４】
＜蛍光試料の全分光放射輝度率の測定手順＞
光学特性測定装置１０による蛍光試料の全分光放射輝度率の測定手順としては、予め行われる図３のフローに示す白色校正後、図４に示すフローに沿って当該全分光放射輝度率の測定を行う。図３は、白色校正に関する動作の一例を示すフローチャートである。まず、制御部７は、測定開口に配設した白色校正用の試料、すなわち反射分光放射輝度率Ｒｗ（λ）が既知であり蛍光特性のない白色校正板に対して、第１照明部２（白熱ランプ２１）を点灯させて照明光ＬＡ（照明光Ｉ１）によって照明する（ステップＳ１）。そして、２チャンネル分光部６（放射光分光手段）によって、当該照明光ＬＡによる試料反射光（ここでは、蛍光特性のない白色校正板に対する試料放射光であるので、試料反射光となる）の分光分布Ｓｗ１（λ）を測定するとともに、照明光ＬＡの参照面反射光の分光分布Ｍｗ１（λ）を測定し、これらＳｗ１（λ）及びＭｗ１（λ）の分光分布情報を分光データメモリ７１に保存する（ステップＳ２）。
【００８５】
続いて、制御部７は、上記ステップＳ１での第１照明部２の点灯を維持した状態で、第２照明部３（紫外ＬＥＤ３１）を点灯して、その結果、第１及び第２照明部２、３による照明光ＬＢ（照明光Ｉ２）によって被測定試料１を照明し（ステップＳ３）、ステップＳ２と同様に、２チャンネル分光部６によって、当該照明光ＬＢによる試料反射光の分光分布Ｓｗ２（λ）を測定するとともに、照明光ＬＢの参照面反射光の分光分布Ｍｗ２（λ）を測定し、これらＳｗ２（λ）及びＭｗ２（λ）の分光分布情報を分光データメモリ７１に保存する（ステップＳ４）。そして、第１及び第２照明部２、３を消灯する（ステップＳ５）。
【００８６】
そして、上記ステップＳ２及びＳ４において求めた試料面反射光の分光分布Ｓｗ１（λ）、Ｓｗ２（λ）と参照面反射光の分光分布Ｍｗ１（λ）、Ｍｗ２（λ）と、上述の式（１６）に示す感度校正係数Ｇ（λ）とから、上述の式（１７）、（１８）によって、測定時の参照面反射光の分光分布Ｍｘ１（λ）、Ｍｘ２（λ）を、試料面照明光の分光分布Ｉ１（λ）、Ｉ２（λ）に変換するための変換係数Ｄ１（λ）、Ｄ２（λ）を算出する（ステップＳ６）。
【００８７】
さらに、上記ステップＳ２及びＳ４において求めた試料面反射光の分光分布Ｓｗ１（λ）、Ｓｗ２（λ）と参照面反射光の分光分布Ｍｗ１（λ）、Ｍｗ２（λ）と、上記既知の反射分光輝度率Ｒｗ（λ）とから、上述の式（２１）、（２２）によって校正係数Ｃ１（λ）、Ｃ２（λ）を算出する（ステップＳ７）。そして、上記ステップＳ６において算出した変換係数Ｄ１（λ）、Ｄ２（λ）及びステップＳ７において算出した校正係数Ｃ１（λ）、Ｃ２（λ）のデータを所定の記憶部、例えば係数メモリ７４に記憶しておく（ステップＳ８）。
【００８８】
図４は、光学特性測定装置による蛍光試料の全分光放射輝度率の測定に関する動作の一例を示すフローチャートである。まず、測定に先立って評価用照明光Ｉｓを選択する。すなわち制御部７は、評価用照明光データメモリ７２から、選択する評価用照明光Ｉｓの分光分布データＩｓ（λ）（すなわち分光分布Ｉｓ（μ））を読み出す（ステップＳ１１）。続いて、被測定試料１のタイプ（種類）を選択する。すなわち制御部７（ＣＰＵ７０）は、二分光データメモリ７３から、被測定試料に近似するタイプの二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）のデータを読み出す（ステップＳ１２）。次に、制御部７は、測定開口に配設された被測定試料１に対し、第１照明部２（白熱ランプ２１）を点灯して照明光ＬＡ（照明光Ｉ１）によって照明する（ステップＳ１３）。そして、２チャンネル分光部６（放射光分光手段）によって、当該照明光ＬＡによる試料放射光の分光分布Ｓｘ１（λ）を測定するとともに、照明光ＬＡの参照面反射光の分光分布Ｍｘ１（λ）を測定し、これらＳｘ１（λ）及びＭｘ１（λ）の分光分布情報を分光データメモリ７１に保存する（ステップＳ１４）。
【００８９】
続いて、制御部７は、上記ステップＳ１３での第１照明部２の点灯を維持した状態で、第２照明部３（紫外ＬＥＤ３１）を点灯して、第１及び第２照明部２、３による照明光ＬＢ（照明光Ｉ２）によって被測定試料１を照明し（ステップＳ１５）、ステップＳ１４と同様に、２チャンネル分光部６によって、当該照明光ＬＢによる試料放射光の分光分布Ｓｘ２（λ）を測定するとともに、照明光ＬＢの参照面反射光の分光分布Ｍｘ２（λ）を測定し、これらＳｘ２（λ）及びＭｘ２（λ）の分光分布情報を分光データメモリ７１に保存する（ステップＳ１６）。そして、第１及び第２照明部２、３を消灯する（ステップＳ１７）。
【００９０】
次に、制御部７は、上記ステップＳ１１、Ｓ１２においてそれぞれ読み出した分光分布データＩｓ（λ）＝Ｉｓ（μ）と二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）とから、以下の式（２５）によって評価用照明光による蛍光分光放射輝度率Ｆｓ（λ）を算出する（ステップＳ１８）。
Ｆｓ（λ）＝∫Ｆ（μ，λ）・Ｉｓ（μ）ｄμ／Ｉｓ（λ）…（２５）
【００９１】
そして、上述の式（１９）、（２０）によって、それぞれ照明光ＬＡ、ＬＢの参照面反射光の分光分布Ｍｘ１（λ）、Ｍｘ２（λ）を、試料面照明光（照明光ＬＡ、ＬＢ）の分光分布Ｉ１（λ）、Ｉ２（λ）に変換し（ステップＳ１９）、当該変換して求めた分光分布Ｉ１（λ）、Ｉ２（λ）（すなわち分光分布Ｉ１（μ）、Ｉ２（μ））と二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）とから、以下の式（２６）、（２７）によって照明光ＬＡ、ＬＢ（照明光Ｉ１、Ｉ２）による蛍光分光放射輝度率Ｆ１（λ）、Ｆ２（λ）を算出する（ステップＳ２０）。
Ｆ１（λ）＝∫Ｆ（μ，λ）・Ｉ１（μ）ｄμ／Ｉ１（λ）…（２６）
Ｆ２（λ）＝∫Ｆ（μ，λ）・Ｉ２（μ）ｄμ／Ｉ２（λ）…（２７）
【００９２】
次に、当該算出した蛍光分光放射輝度率Ｆ１（λ）、Ｆ２（λ）と、上記ステップＳ１８で求めた蛍光分光放射輝度率Ｆｓ（λ）とによる以下の式（２８）を波長毎に解くことで、重みＷ（λ）を求める（ステップＳ２１）。
Ｗ（λ）・Ｆ１（λ）＋（１−Ｗ（λ））・Ｆ２（λ）＝Ｆｓ（λ）…（２８）
そして、上記ステップＳ１４、１６において保存されたＭｘ１（λ）、Ｍｘ２（λ）と、Ｓｘ１（λ）、Ｓｘ２（λ）とから、上述の式（２３）、（２４）を用いて、照明光ＬＡ、ＬＢによる全分光放射輝度率Ｂｘ１（λ）、Ｂｘ２（λ）を算出し（ステップＳ２２）、当該算出されたＢｘ１（λ）、Ｂｘ２（λ）と、上記ステップＳ２１において算出した重みＷ（λ）とから、以下の式（２９）によって評価用照明光による全分光放射輝度率Ｂｘｓ（λ）を算出する（ステップＳ２３）。
Ｂｘｓ（λ）＝ Ｗ（λ）・Ｂｘ１（λ）＋（１−Ｗ（λ））・Ｂｘ２（λ）…（２９）
【００９３】
（Ｂ）蛍光増白紙上の印刷面の分光放射輝度率
＜測定の原理＞
通常、印刷の着色は、Ｙ、Ｍ、Ｃ、Ｋの４種のインクが用紙の上に大きさの異なるドットとして付着することによる。Ｋインクは吸収特性が波長に依存しないため、蛍光増白紙に到達する照明光の相対分光分布に影響しないので、ここでは図１２（ａ）に示すように、ＹＭＣインクについて考える。この場合、例えば図１２（ｂ）に示すように、インクは互いに重なることがあり、印刷面は、Ｙ、Ｍ及びＣと、各インクの重なり部分のＹＭ、ＭＣ、ＣＹ、及びＹＭＣと、非印刷面とで構成される。蛍光増白紙における印刷面も上述のように各インクが付着しているので、測定域の励起は、各インク及び各インクの重なり部分の分光透過率、及び測定域に占めるそれらによる印刷部分の面積率、つまり色に依存する。
【００９４】
ここで、図２を用いて、上記各インク及び各インクの重なりについての概念を説明する。ここでは、ＹＭＣインクのうちのＹ、Ｍインクの場合について説明する。図２（ａ）は、蛍光増白紙上にＹ、Ｍインクが付着している場合を概略的に示す断面図であり、図２（ｂ）は、図２（ａ）に示すＹ、Ｍインクが付着した蛍光増白紙の上面図である。
【００９５】
照明光の単位面積あたりの分光強度をＩ（λ）とし、また、Ｙインク及びＭインクの分光透過率をそれぞれＴｙ（λ）、Ｔｍ（λ）とすると、非印刷部Ｗでは、Ｉ（λ）がそのまま蛍光増白紙に到達するが、Ｙインクのみの部分であるＹインク印刷部Ｐｙでは、このＩ（λ）の一部であるＩ（λ）・Ｔｙ（λ）が蛍光増白紙に到達する。同様に、Ｍインクのみの部分であるＭインク印刷部Ｐｍと、ＹインクとＭインクとの重なり部分であるＹＭインク印刷部Ｐｙｍに入射した照明光も、それぞれＩ（λ）・Ｔｍ（λ）、Ｉ（λ）・Ｔｙ（λ）・Ｔｍ（λ）が蛍光増白紙に到達する。
【００９６】
したがって、測定域全体で、蛍光増白紙の単位面積に到達する実効的な照明光の分光強度Ｉｅ（λ）は、上記Ｉ（λ）・Ｔｙ（λ）、Ｉ（λ）・Ｔｍ（λ）、Ｉ（λ）・Ｔｙ（λ）・Ｔｍ（λ）、及びＩ（λ）に対し、図２（ｂ）に示す各印刷部Ｐｙ、Ｐｍ、Ｐｙｍ及び非印刷部Ｗの面積率Ｐ％ｙ、Ｐ％ｍ、Ｐ％ｙｍ、及びＰ％ｗ（＝１−（Ｐ％ｙ＋Ｐ％ｍ＋Ｐ％ｙｍ））に応じた重みをつけて合計したものとなる（以下、式（３０）参照）。
Ｉｅ（λ）＝［Ｐ％ｙ・Ｉ（λ）・Ｔｙ（λ）＋Ｐ％ｍ・Ｉ（λ）・Ｔｍ（λ）＋Ｐ％ｙｍ・Ｉ（λ）・Ｔｙ（λ）・Ｔｍ（λ）＋Ｐ％ｗ・Ｉ（λ）］…（３０）
【００９７】
上記式（２）の関係から、この照明光によって励起される蛍光の分光分布Ｆ（λ）は以下の式（３１）で与えられるが、
Ｆ（λ）＝∫Ｉｅ（μ）・Ｆ（μ，λ）ｄμ
＝Ｉ（λ）・［Ｐ％ｙ・Ｔｙ（μ）＋Ｐ％ｍ・Ｔｍ（μ）＋Ｐ％ｙｍ・Ｔｙ（μ）・Ｔｍ（μ）＋Ｐ％ｗ］・Ｆ（μ，λ）…（３１）
【００９８】
上記式（３１）の右辺の［Ｐ％ｙ・Ｔｙ（μ）＋Ｐ％ｍ・Ｔｍ（μ）＋Ｐ％ｙｍ・Ｔｙ（μ）・Ｔｍ（μ）＋Ｐ％ｗ］・Ｆ（μ，λ）を、実効二分光蛍光放射輝度率Ｆｅ（μ，λ）とすると、以下の式（３２）で表される。
Ｆ（λ）＝∫Ｉ（μ）・Ｆｅ（μ，λ）ｄμ…（３２）
【００９９】
ここで、インクの種類を上記Ｙ、Ｍの２種類から、実際の測色におけるＹ、Ｍ、Ｃ、Ｋの全インク（４種類）に拡張する。当該各インクとそれらの組み合わせ（ｙ、ｍ、ｃ、ｙｍ、ｍｃ、ｃｙ、ｙｍｃ及びｋで表す）の面積率を上記と同様に、Ｐ％ｙ、Ｐ％ｍ、Ｐ％ｃ、Ｐ％ｙｍ、Ｐ％ｍｃ、Ｐ％ｃｙ、Ｐ％ｙｍｃ及びＰ％ｋとすると、これらの面積率を、白熱ランプ２１を光源とする第１照明部２の照明による実測の全分光放射輝度率から公知の方法で求める。
【０１００】
白熱ランプ２１は相対紫外強度が極めて低いため、この実測全分光放射輝度率から求めた面積率は蛍光の影響に起因する誤差を殆ど含まない。この面積率算出の基準として、非印刷部と各インク及び各インクの組み合わせ（例えば重ね合わせ）によって面積率１００％で印刷した面（基準印刷面）の第１照明部２による全分光放射輝度率Ｂｗ１（λ）とＢｙ１（λ）、Ｂｍ１（λ）、Ｂｃ１（λ）、Ｂｙｍ１（λ）、Ｂｍｃ１（λ）、Ｂｃｙ１（λ）、Ｂｙｍｃ１（λ）及びＢｋ１（λ）とを予め測定して、例えば二分光データメモリ７３に記憶しておく。
【０１０１】
上記公知の方法で求めた印刷部分の面積率Ｐ％ｙ、Ｐ％ｍ、Ｐ％ｃ、Ｐ％ｙｍ、Ｐ％ｍｃ、Ｐ％ｃｙ、Ｐ％ｙｍｃ及びＰ％ｋと、非印刷部Ｗの面積率Ｐ％ｗ＝１−ΣＰ％（但し、ΣＰ％は全ての印刷部の面積率の合計）と、予め設定、記憶されている印刷用紙の二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）と、各インクの分光透過率Ｔｙ（λ）、Ｔｍ（λ）及びＴｃ（λ）とから、被測定印刷面の実効的な二分光蛍光放射輝度率（以降、実効二分光蛍光放射輝度率という）Ｆｅ（μ，λ）を以下の式（３３）によって推定（算出）する。ただし、当該各インクの分光透過率Ｔｙ（λ）、Ｔｍ（λ）及びＴｃ（λ）も予め設定、記憶（例えば面積率メモリ７５に記憶）されている（数値データとして与えられている）。また、分光透過率に波長依存性がないＫインクは、非印刷部Ｗの面積率Ｐ％ｗにのみ影響するので、ＹＭＣインクのような処理は必要ない。
Ｆｅ（μ，λ）＝［Ｐ％ｙ・Ｔｙ（μ）＋Ｐ％ｍ・Ｔｍ（μ）＋Ｐ％ｃ・Ｔｃ（μ）＋Ｐ％ｙｍ・Ｔｙ（μ）・Ｔｍ（μ）＋Ｐ％ｍｃ・Ｔｍ（μ）・Ｔｃ（μ）＋Ｐ％ｃｙ・Ｔｃ（μ）・Ｔｙ（μ）＋Ｐ％ｙｍｃ・Ｔｙ（μ）・Ｔｍ（μ）・Ｔｃ（μ）＋Ｐ％ｗ］・Ｆ（μ，λ）…（３３）
【０１０２】
また、上述では各インクの組み合わせの分光透過率Ｔｙｍ（λ）、Ｔｍｃ（λ）、Ｔｃｙ（λ）及びＴｙｍｃ（λ）を、各インク分光透過率Ｔｙ（λ）、Ｔｍ（λ）及びＴｃ（λ）の積で求めているが、各インクの組み合わせの分光透過率Ｔｙｍ（λ）、Ｔｍｃ（λ）、Ｔｃｙ（λ）及びＴｙｍｃ（λ）を設定・記憶してもよい（以下、式（３３’）参照）。
Ｆｅ（μ，λ）＝［Ｐ％ｙ・Ｔｙ（μ）＋Ｐ％ｍ・Ｔｍ（μ）＋Ｐ％ｃ・Ｔｃ（μ）＋Ｐ％ｙｍ・Ｔｙｍ（μ）＋Ｐ％ｍｃ・Ｔｍｃ（μ）＋Ｐ％ｃｙ・Ｔｃｙ（μ）＋Ｐ％ｙｍｃ・Ｔｙｍｃ（μ）＋Ｐ％ｗ］・Ｆ（μ，λ）…（３３’）
【０１０３】
このように推定した実効二分光蛍光放射輝度率Ｆｅ（μ，λ）に基づき、上述の（Ａ）における測定の場合と同様の手順によって、評価用照明光で照明したときの被測定印刷面の全分光放射輝度率を算出する。
【０１０４】
また、上記ＹＭＣＫ各インクの面積率と、予め求められたＹＭＣ各インク及びそれらの組み合わせによる面積率１００％の印刷面の二分光蛍光放射輝度率Ｆｙ（μ，λ）、Ｆｍ（μ，λ）、Ｆｃ（μ，λ）、Ｆｙｍ（μ，λ）、Ｆｍｃ（μ，λ）、Ｆｃｙ（μ，λ）及びＦｙｍｃ（μ，λ）とから、上記実効二分光蛍光放射輝度率Ｆｅ（μ，λ）を求めてもよい（以下、式（３４）参照）。
Ｆｅ（μ，λ）＝Ｐ％ｙ・Ｆｙ（μ，λ）＋Ｐ％ｍ・Ｆｍ（μ，λ）＋Ｐ％ｃ・Ｆｃ（μ，λ）＋Ｐ％ｙｍ・Ｆｙｍ（μ，λ）＋Ｐ％ｍｃ・Ｆｍｃ（μ，λ）＋Ｐ％ｃｙ・Ｆｃｙ（μ，λ）＋Ｐ％ｙｍｃ・Ｆｙｍｃ（μ，λ）＋Ｐ％ｗ・Ｆ（μ，λ）…（３４）
【０１０５】
各インクの分光透過率Ｔｙ（λ）、Ｔｍ（λ）、Ｔｃ（λ）、或いは、各インク及び各インクの組み合せの分光透過率Ｔｙ（λ）、Ｔｍ（λ）、Ｔｃ（λ）、Ｔｙｍ（λ）、Ｔｍｃ（λ）、Ｔｃｙ（λ）及びＴｙｍｃ（λ）は、それぞれ同じインクによる、すなわち、各インク単体でのインク層及び各インクを組み合わせて（例えば重ね合わせて）なる組み合わせインク層による、面積率１００％の基準印刷面（当該インク層と同一の又はこのインク層に近似した基準印刷面）の分光透過率として予め与えておくことができる。しかしながら、上述のように同じインクを用いた面積率１００％の印刷面であっても、インクのロットや印刷機の、環境温度などの印刷条件によって、インク層の厚みやインク濃度が異なるため、被測定印刷面とは印刷条件の異なる基準印刷面の分光透過率を用いて求めた上記実効二分光蛍光放射輝度率Ｆｅ（μ，λ）やこれに基づく全分光放射輝度率は無視できない誤差を含むことになる。以下にその一例として、各インク及びこれらインクの組み合わせの分光透過率Ｔｙ（λ）、Ｔｍ（λ）、Ｔｃ（λ）、Ｔｙｍ（λ）、Ｔｍｃ（λ）、Ｔｃｙ（λ）及びＴｙｍｃ（λ）を、測定される蛍光試料の印刷条件に即して精度良く求める方法を説明する。
【０１０６】
上述のように、各インク及びこれらインクの組み合わせで、面積率１００％で印刷された基準試料の分光透過率を予め測定して、これを一律に適用することは、これを用いて求められる実効二分光蛍光放射輝度率Ｆｅ（μ，λ）やこのＦｅ（μ，λ）に基づく全分光放射輝度率Ｂｔ（μ，λ）に問題となる誤差を将来する。もちろん、光学特性測定装置１０により、実際の印刷面の分光透過率を測定することは困難であり、励起に関する紫外域を含めて測定することはさらに現実的ではない。
【０１０７】
このことから、本実施形態では、予め上記基準試料の分光透過特性を励起に関与する紫外域を含めて測定するとともに、光学特性測定装置１０と同じ構成の基準測定装置によって（光学特性測定装置１０自身を使用してもよい）、照明光ＬＡ（照明光ｌ１）による全分光放射輝度率（照明光ＬＡは殆ど蛍光を励起しないので実質的には分光反射輝度率である）を測定して記憶しておく。そして、被測定印刷面と同じ印刷条件での面積率１００％の印刷面（１００％印刷面）の分光透過率を、上記１００％印刷面の分光反射輝度率測定値と、記憶された上記基準印刷面の分光反射輝度率とに基づいて、上記基準試料の分光透過率を修正することによって求める。このことは、印刷面のインク濃度やインク層の厚みが透過率及び反射輝度率それぞれに与える影響の間には一定の関係があることに基づく。
【０１０８】
具体的には、予め透過性の高い非蛍光基材（半透過紙など）に、基準印刷面用の印刷機により、各インク及びこれらインクの組み合わせを面積率１００％で印刷して基準印刷面とし、この基準印刷面の分光透過率Ｔｙ（λ）、Ｔｍ（λ）、Ｔｃ（λ）、Ｔｙｍ（λ）、Ｔｍｃ（λ）、Ｔｃｙ（λ）及びＴｙｍｃ（λ）と非印刷面の分光透過率Ｔｗ（λ）とを、紫外域を含む例えば約３００〜７００ｎｍの波長域で上記基準測定装置によって測定し、各印刷面の分光透過率を非印刷面の分光透過率によって相対化したＴ０ｙ（λ）（＝Ｔｙ（λ）／Ｔｗ（λ））、Ｔ０ｍ（λ）（＝Ｔｍ（λ）／Ｔｗ（λ））、Ｔ０ｃ（λ）（＝Ｔｃ（λ）／Ｔｗ（λ））、Ｔ０ｙｍ（λ）（＝Ｔｙｍ（λ）／Ｔｗ（λ））、Ｔ０ｍｃ（λ）（＝Ｔｍｃ（λ）／Ｔｗ（λ））、Ｔ０ｃｙ（λ）（＝Ｔｃｙ（λ）／Ｔｗ（λ））、及びＴ０ｙｍｃ（λ）（＝Ｔｙｍｃ（λ）／Ｔｗ（λ））を、印刷面の分光透過率基準値として例えば面積率メモリ７５に記憶しておく。
【０１０９】
さらに、上記基準測定装置によって（光学特性測定装置１０自身を使用してもよい）、上記と同じ基準印刷面と非印刷面との約４００〜７００ｎｍ（紫外域を含まない）の波長域での分光反射輝度率Ｂｙ１（λ）、Ｂｍ１（λ）、Ｂｃ１（λ）、Ｂｙｍ１（λ）、Ｂｍｃ１（λ）、Ｂｃｙ１（λ）、Ｂｙｍｃ１（λ）及びＢｋ１（λ）とＢｗ１（λ）とを、白熱ランプ２１を光源とする第１照明部２の照明光ＬＡ（照明光ｌ１）により測定し、各印刷面の分光反射輝度率を非印刷面の分光反射輝度率（Ｂｗ１（λ））によって相対化したＲ０ｙ（λ）（＝Ｂｙ１（λ）／Ｂｗ１（λ））、Ｒ０ｍ（λ）（＝Ｂｍ１（λ）／Ｂｗ１（λ））、Ｒ０ｃ（λ）（＝Ｂｃ１（λ）／Ｂｗ１（λ））、Ｒ０ｙｍ（λ）（＝Ｂｙｍ１（λ）／Ｂｗ１（λ））、Ｒ０ｍｃ（λ）（＝Ｂｍｃ１（λ）／Ｂｗ１（λ））、Ｒ０ｃｙ（λ）（＝Ｂｃｙ１（λ）／Ｂｗ１（λ））、Ｒ０ｙｍｃ（λ）（＝Ｂｙｍｃ１（λ）／Ｂｗ１（λ））、及びＢ０ｋ（λ）（＝Ｂｋ１（λ）／Ｂｗ１（λ））を、印刷面の分光反射輝度率基準値として上記と同様に例えば面積率メモリ７５に記憶しておく。
【０１１０】
また、上記被測定印刷面の測定に先立って（被測定印刷面を測定する前段階として）、該被測定印刷面と同じ印刷条件である各インク及びこれらインクの組み合わせによる１００％印刷面と上記非印刷面との約４００〜７００ｎｍの波長域での分光反射輝度率を、光学特性測定装置１０によって照明光ＬＡ（照明光ｌ１）により測定し、同様に各印刷面の分光反射輝度率を非印刷面の分光反射輝度率で相対化したＲｙ（λ）（＝Ｂｙ１（λ）／Ｂｗ１（λ））、Ｒｍ（λ）（＝Ｂｍ１（λ）／Ｂｗ１（λ））、Ｒｃ（λ）（＝Ｂｃ１（λ）／Ｂｗ１（λ））、Ｒｙｍ（λ）（＝Ｂｙｍ１（λ）／Ｂｗ１（λ））、Ｒｍｃ（λ）（＝Ｂｍｃ１（λ）／Ｂｗ１（λ））、Ｒｃｙ（λ）（＝Ｂｃｙ１（λ）／Ｂｗ１（λ））、Ｒｙｍｃ（λ）（＝Ｂｙｍｃ１（λ）／Ｂｗ１（λ））、及びＲｋ（λ）（＝Ｂｋ１（λ）／Ｂｗ１（λ））を求める。
【０１１１】
ところで、図１３に示すように、透過光は印刷されたインク層を１回通過し、反射光は同インク層を２回通過することから、各インク層の反射率Ｒと透過率Ｔとには、以下の式（３５）の関係がある。
Ｒ≒Ｔ２ …（３５）
【０１１２】
上記式（３５）の関係から、インク層の厚みの差やインク濃度の差等に起因して被測定印刷面と基準印刷面との分光反射輝度率Ｒ（λ）とＲ０（λ）とが異なる場合、この被測定印刷面と基準印刷面との分光透過率の比を（Ｒ（λ）／Ｒ０（λ））１／２によって近似することができる。印刷面の推定の分光透過率Ｔ（λ）は、基準印刷面の分光透過率Ｔ０（λ）を当該分光透過率比の近似値（Ｒ（λ）／Ｒ０（λ））１／２を用いて補正した以下の式（３６）によって与えられる（後述の式（３９）では、この式（３６）におけるＴ（λ）及びＲ（λ）が、Ｙインクの場合のＴｙ（λ）及びＲｙ（λ）となっている）。
Ｔ（λ）＝（Ｒ（λ）／Ｒ０（λ））１／２・Ｔ０（λ）…（３６）
【０１１３】
波長が上記４００ｎｍ未満の紫外域（ここでは上記波長域３００〜７００ｎｍを３００〜３９０ｎｍと４００〜７００ｎｍとに区分する場合の紫外域３００〜３９０ｎｍ）については、分光反射輝度率Ｒ（λ）及びＲ０（λ）を測定できないが、すなわち分光反射特性が与えられない非測定波長域ではＲ（λ）及びＲ０（λ）を測定できないが、測定可能な短波長端の波長或いはその近傍の波長域、すなわち、分光反射特性が与えられる測定波長域における当該非測定波長域と隣接する波長域（隣接波長域）での反射輝度率で代用することができる。
【０１１４】
上述のように算出された各インク及びこれらインクの組み合わせによる面積率１００％印刷面の分光透過特性Ｔ（λ）と、各インク及び各インクの組み合わせの面積率（面積比率）Ｐ％ｍ、Ｐ％ｃ、Ｐ％ｙｍ、Ｐ％ｍｃ、Ｐ％ｃｙ、Ｐ％ｙｍｃ及びＰ％ｋとに基づいて着色面（測定域）の平均的な分光透過特性を算出することができる。この平均的な分光透過特性は、該インク及び各インクの組み合わせによる面積率１００％の印刷面の分光透過特性、及びその測定域内の面積率に依存するので、結局、測定域の分光的な励起・蛍光特性は、上記面積率１００％の印刷面における分光透過特性、及びその測定域内の面積率に依存することになる。
【０１１５】
また、上述の蛍光増白紙上の印刷面の分光放射輝度率の測定原理は、以下のように要約されるものであると言うこともできる。
ｂ１．蛍光増白基材上の印刷面の実効的な二分光蛍光放射輝度率を、蛍光増白基材の二分光蛍光放射輝度率と各インクとそれらの組み合わせの分光透過特性及び面積率とから推定する。
ｂ２．推定した実効二分光蛍光放射輝度率に対し、上述の評価用照明光で照明したときの全分光放射輝度率の測定原理の要約のａ１．〜ａ４．の項目を適用する。
ｂ３．殆ど励起エネルギーのない照明光による、つまり蛍光の影響を殆ど受けない実測全分光放射輝度率から面積率を推定する。
【０１１６】
＜蛍光増白紙上の印刷面に対する全分光放射輝度率の測定手順＞
光学特性測定装置による蛍光増白紙（蛍光試料）上の印刷面に対する全分光放射輝度率の測定手順としては、まず、図５に示すフローに従って、１００％印刷面と非印刷面の測定を行った後、図６に示すフローに沿って当該被測定印刷面の測定を行う。
図５は、１００％印刷面の測定に関する動作の一例を示すフローチャートである。図３に示すフローチャートによる白色校正後、まず、測定開口に配設された非印刷面（蛍光増白紙）に対し、第１照明部２（白熱ランプ２１）を点灯して照明光ＬＡ（照明光Ｉ１）によって照明する（ステップＳ５１）。そして、２チャンネル分光部６（放射光分光手段）によって、当該照明光ＬＡによる試料放射光の分光分布Ｓｘ１（λ）を測定するとともに、照明光ＬＡの参照面反射光の分光分布Ｍｘ１（λ）を測定し、このＳｘ１（λ）及びＭｘ１（λ）の分光分布情報を分光データメモリ７１に保存し（ステップＳ５２）、第１照明部２を消灯する（ステップＳ５３）。
【０１１７】
そして、上記ステップＳ５２において保存されたＳｘ１（λ）及びＭｘ１（λ）から、上述の式（２３）に対応する以下の式（３７）によって、照明光ＬＡにより照明された当該非印刷面の全分光放射輝度率Ｂｗ１（λ）を算出し、これを所定の記憶部、例えば面積率メモリ７５に記憶する（ステップＳ５４）。
Ｂｗ１（λ）＝Ｃ１（λ）・Ｓｘ１（λ）／Ｍｘ１（λ）…（３７）
【０１１８】
続いて、Ｙインクの面積率Ｐ％ｙが１００％である印刷面（１００％印刷面）に対して、第１照明部２を点灯して照明光ＬＡ（照明光Ｉ１）によって照明する（ステップＳ５５）。そして、２チャンネル分光部６（放射光分光手段）によって、当該照明光ＬＡによる試料放射光の分光分布Ｓｘ１（λ）を測定するとともに、照明光ＬＡの参照面反射光の分光分布Ｍｘ１（λ）を測定し、このＳｘ１（λ）及びＭｘ１（λ）の分光分布情報を分光データメモリ７１に保存し（ステップＳ５６）、第１照明部２を消灯する（ステップＳ５７）。
【０１１９】
そして、上記ステップＳ５６において保存されたＳｘ１（λ）及びＭｘ１（λ）から、上記ステップＳ５４と同様に、照明光ＬＡにより照明された当該１００％印刷面に対する全分光放射輝度率Ｂｙ１（λ）を算出し、これを所定の記憶部、例えば面積率メモリ７５に記憶する（ステップＳ５８）。
【０１２０】
次に、以下の式（３８）によって、非印刷面の全分光放射輝度率で相対化されたＹインクの１００％印刷面の分光反射輝度率Ｒｙ（λ）を求める（ステップＳ５９）。
Ｒｙ（λ）＝Ｂｙ１（λ）／Ｂｗ１（λ）…（３８）
続いて、面積率メモリ７５からＹインクの１００％基準印刷面の分光透過率（分光透過率基準値）Ｔ０ｙ（λ）と相対化された分光反射輝度率（分光反射輝度率基準値）Ｒ０ｙ（λ）とを読み出し（ステップＳ６０）、以下の式（３９）によって、当該１００％印刷面の分光透過率Ｔｙ（λ）を求める（ステップＳ６１）。
Ｔｙ（λ）＝（Ｒｙ（λ）／Ｒ０ｙ（λ））１／２・Ｔ０ｙ（λ）…（３９）
ただし、全分光放射輝度率の測定波長域は上記４００〜７００ｎｍであり、３００〜３９０ｎｍの波長域についてはＲｙ１（λ）及びＲ０ｙ（λ）の実測値がないため、この３００〜３９０ｎｍの波長域のＲｙ１（λ）及びＲ０ｙ（λ）として、波長λが４００ｎｍであるときの値Ｒｙ１（４００）及びＲ０ｙ（４００）を用いるものとする。
【０１２１】
同様に、面積率Ｐ％ｍ、Ｐ％ｃ、Ｐ％ｙｍ、Ｐ％ｍｃ、Ｐ％ｃｙ、Ｐ％ｙｍｃ及びＰ％ｋが１００％の印刷面に対し、上記ステップＳ５１〜Ｓ６１の動作を繰り返し、全分光放射輝度率Ｂｍ１（λ）、Ｂｃ１（λ）、Ｂｙｍ１（λ）、Ｂｍｃ１（λ）、Ｂｃｙ１（λ）、Ｂｙｍｃ１（λ）及びＢｋ１（λ）と分光透過率Ｔｍ（λ）、Ｔｃ（λ）、Ｔｙｍ（λ）、Ｔｍｃ（λ）、Ｔｃｙ（λ）及びＴｙｍｃ（λ）とを算出し、これを面積率メモリ７５等に記憶する（ステップＳ６２）。
【０１２２】
図６は、光学特性測定装置による蛍光増白紙上の印刷面に対する全分光放射輝度率の測定に関する動作の一例を示すフローチャートである。まず、測定に先立って評価用照明光Ｉｓを選択する。すなわち制御部７は、評価用照明光データメモリ７２から、選択する評価用照明光Ｉｓの分光分布データＩｓ（λ）（すなわち分光分布Ｉｓ（μ））を読み出す（ステップＳ３１）。次に、印刷用紙のタイプとＹＭＣＫインクセットとを選択する。すなわち制御部７は、二分光データメモリ７３或いは面積率メモリ７５から、被測定印刷面の印刷用紙（蛍光増白紙）に近似する二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）と、使用されているＹＭＣＫインクで被測定面と同じ方法（印刷条件）で印刷したＹＭＣＫ各インク及び各インクの組み合わせによる面積率１００％の印刷面のインク層の分光透過率Ｔｙ（λ）、Ｔｍ（λ）、Ｔｃ（λ）、Ｔｙｍ（λ）、Ｔｍｃ（λ）、Ｔｃｙ（λ）及びＴｙｍｃ（λ）のデータを読み出す（ステップＳ３２）。また、面積率メモリ７５から、面積率算出の基準として、ＹＭＣＫインク及び当該各インクの組み合わせによる面積率１００％の印刷面（面積率基準）を第１照明部２で照明して測定して記憶しておいた全分光放射輝度率Ｂｙ１（λ）、Ｂｍ１（λ）、Ｂｃ１（λ）、Ｂｙｍ１（λ）、Ｂｍｃ１（λ）、Ｂｃｙ１（λ）、Ｂｙｍｃ１（λ）、Ｂｋ１（λ）及びＢｗ１（λ）のデータを読み出す（ステップＳ３３）。
【０１２３】
次に、制御部７は、測定開口に配設された被測定試料１（ここでは、上記印刷面をもつ蛍光増白紙）に対し、第１照明部２（白熱ランプ２１）を点灯して照明光ＬＡ（照明光Ｉ１）によって照明する（ステップＳ３４）。そして、２チャンネル分光部６（放射光分光手段）によって、当該照明光ＬＡによる試料放射光の分光分布Ｓｘ１（λ）を測定するとともに、照明光ＬＡの参照面反射光の分光分布Ｍｘ１（λ）を測定し、これらＳｘ１（λ）及びＭｘ１（λ）の分光分布情報を分光データメモリ７１に保存する（ステップＳ３５）。続いて、制御部７は、上記ステップＳ３４での第１照明部２の点灯を維持した状態で、第２照明部３（紫外ＬＥＤ３１）を点灯して、第１及び第２照明部２、３による照明光ＬＢ（照明光Ｉ２）によって被測定試料１を照明し（ステップＳ３６）、ステップＳ３５と同様に、２チャンネル分光部６によって、当該照明光ＬＢによる試料放射光の分光分布Ｓｘ２（λ）を測定するとともに、照明光ＬＢの参照面反射光の分光分布Ｍｘ２（λ）を測定し、これらＳｘ２（λ）及びＭｘ２（λ）の分光分布情報を分光データメモリ７１に保存する（ステップＳ３７）。そして、第１及び第２照明部２、３を消灯する（ステップＳ３８）。
【０１２４】
次に、上述の式（１９）、（２０）によって、それぞれ照明光ＬＡ、ＬＢの参照面反射光の分光分布Ｍｘ１（λ）、Ｍｘ２（λ）を、試料面照明光（照明光ＬＡ、ＬＢ）の分光分布Ｉ１（λ）、Ｉ２（λ）に変換する（ステップＳ３９）（なお、この変換により得られた分光分布Ｉ１（λ）、Ｉ２（λ）のデータは所定の記憶部、例えば分光データメモリ７１に保存される）。そして、上記ステップＳ３５、３７において保存されたＭｘ１（λ）、Ｍｘ２（λ）と、Ｓｘ１（λ）、Ｓｘ２（λ）とから、上述の式（２３）、（２４）を用いて、照明光ＬＡ、ＬＢによる全分光放射輝度率Ｂｘ１（λ）、Ｂｘ２（λ）を算出する（ステップＳ４０）。
【０１２５】
次に、制御部７は、当該測定（算出）したＢｘ１（λ）と、上記ステップＳ３３において読み出した面積率基準に対する全分光放射輝度率Ｂｙ１（λ）〜Ｂｗ１（λ）とから、ＹＭＣＫ各インク及びこれらの組み合わせによる印刷部分の面積率Ｐ％ｙ、Ｐ％ｍ、Ｐ％ｃ、Ｐ％ｙｍ、Ｐ％ｍｃ、Ｐ％ｃｙ、Ｐ％ｙｍｃ及びＰ％ｋを算出する。そして、当該算出したＰ％ｙ〜Ｐ％ｋと、上記ステップＳ３２において二分光データメモリ７３から読み出した二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）及びＹ、Ｍ、Ｃ各インク印刷面の分光透過率Ｔｙ（λ）、Ｔｍ（λ）、Ｔｃ（λ）、Ｔｙｍ（λ）、Ｔｍｃ（λ）、Ｔｃｙ（λ）及びＴｙｍｃ（λ）から、被測定試料１の実効二分光蛍光放射輝度率Ｆｅ（μ，λ）を上記式（３３’）によって算出する（ステップＳ４２）。さらに、この算出した実効二分光蛍光放射輝度率Ｆｅ（μ，λ）と、上記ステップＳ３１において評価用照明光データメモリ７２から読み出した評価用照明光Ｉｓの分光分布Ｉｓ（λ）とから、以下の式（４０）によって評価用照明光による蛍光分光放射輝度率Ｆｓ（λ）を算出する（ステップＳ４３）。
Ｆｓ（λ）＝∫Ｆｅ（μ，λ）・Ｉｓ（μ）ｄμ／Ｉｓ（λ）…（４０）
【０１２６】
次に、当該算出した蛍光分光放射輝度率Ｆｅ（μ，λ）と、上記ステップＳ３９において求めた（分光データメモリ７１から読み出した）分光分布Ｉ１（λ）、Ｉ２（λ）とから、以下の式（４１）、（４２）によって照明光ＬＡ、ＬＢ（照明光Ｉ１、Ｉ２）による蛍光分光放射輝度率Ｆ１（λ）、Ｆ２（λ）を算出する（ステップＳ４４）。
Ｆ１（λ）＝∫Ｆｅ（μ，λ）・Ｉ１（μ）ｄμ／Ｉ１（λ）…（４１）
Ｆ２（λ）＝∫Ｆｅ（μ，λ）・Ｉ２（μ）ｄμ／Ｉ２（λ）…（４２）
【０１２７】
そして、当該算出した蛍光分光放射輝度率Ｆ１（λ）、Ｆ２（λ）と、上記ステップＳ４３で求めた蛍光分光放射輝度率Ｆｓ（λ）とによる以下の式（４３）を波長毎に解くことで、重みＷ（λ）を求める（ステップＳ４５）。
Ｗ（λ）・Ｆ１（λ）＋［１−Ｗ（λ）］・Ｆ２（λ）＝Ｆｓ（λ）…（４３）
そして、上記ステップＳ４０において算出した全分光放射輝度率Ｂｘ１（λ）、Ｂｘ２（λ）と、上記ステップＳ４５において算出した重みＷ（λ）とから、以下の式（４４）によって、評価用照明光による全分光放射輝度率Ｂｘｓ（λ）を算出する（ステップＳ４６）。
Ｂｘｓ（λ）＝ Ｗ（λ）・Ｂｘ１（λ）＋（１−Ｗ（λ））・Ｂｘ２（λ）…（４４）
【０１２８】
以上のように本実施形態における光学特性測定方法は、単数若しくは複数種類（色）のインク（着色材）又は前記複数種類のインクの組み合わせ（例えば重ね合わせ）によるインク層（着色層）の分光透過特性を該インク層の分光反射特性を用いて算出する光学特性測定方法であって、第１の工程において、各インク層と同一の又は近似された、基準として定める基準インク層（基準着色層；基準印刷面）の分光透過特性（Ｔ０（λ））及び分光反射特性（Ｒ０（λ））が予め取得（記憶）され、第２の工程において、各インク層の分光反射特性（Ｒ（λ））が該インク層の光学測定情報（例えば上記図５に示すステップＳ５５、Ｓ５６における試料放射光の分光分布Ｓｘ１（λ）や参照面反射光の分光分布Ｍｘ１（λ））に基づいて測定（算出）される。そして、第３の工程において、該インク層の分光透過特性（Ｔ（λ））を算出するべく、該インク層の分光反射特性（Ｒ（λ））と該基準インク層の分光反射過特性（Ｒ０（λ））とに基づいて該基準インク層の分光透過特性（Ｔ０（λ））が補正される。
【０１２９】
また、本実施形態における光学特性測定装置１０は、単数若しくは複数種類のインク又は前記複数種類のインクの組み合わせによるインク層の分光透過特性を該インク層の分光反射特性を用いて算出する光学特性測定装置であって、分光データメモリ７１や面積率メモリ７５等の記憶部（記憶手段）によって、各インク層と同一の又は近似された、基準として定める基準インク層の予め取得された分光透過特性（Ｔ０（λ））及び分光反射特性（Ｒ０（λ））が記憶され、ＣＰＵ７０（測定（算出）手段、制御部７）によって、該インク層の分光反射特性（Ｒ（λ））が該インク層の光学測定情報（上述と同様、Ｓｘ１（λ）やＭｘ１（λ））に基づいて測定（算出）される。そして、ＣＰＵ７０（補正手段、制御部７）によって、該インク層の分光透過特性（Ｔ（λ））を算出するべく、該インク層の分光反射特性（Ｒ（λ））と該基準インク層の分光反射過特性（Ｒ０（λ））とに基づいて該基準インク層の分光透過特性（Ｔ０（λ））が補正される。
【０１３０】
このように、光学特性測定方法又は光学特性測定装置によれば、各インク層の分光透過特性が、予め取得された基準インク層の分光反射特性と光学測定情報に基づき測定（算出）された該インク層の分光反射特性とに基づいて、予め取得された該基準インク層の分光透過特性が補正されることで算出されるので、すなわち各インク層の分光透過特性が、予め与えられた基準インク層の分光反射特性と、光学測定情報に基づき測定（算出）算出された該インク層の分光反射特性とに基づいて、予め与えられた該基準インク層の分光透過特性から謂わば推定されて求められるので、各インク層の分光透過特性の情報を、測定される印刷試料の印刷条件（印刷機、インク、環境温度等の違いによる蛍光増白紙に対するインクの印刷状態つまりインク厚みやインク濃度等）に即して充分な精度で求めることができる。すなわち、各インク層の分光透過特性が、印刷機や環境温度等によって異なるインク層の厚みや濃度の影響を受けてばらついているような場合であっても、当該インク層の分光透過特性を精度良く求めることができ、ひいてはこの分光透過特性を用いて、印刷試料（蛍光増白基材）上の印刷色（着色面）に対する測色を正確に行うことができる。
【０１３１】
また、分光透過特性が、分光反射特性が与えられる測定波長域と分光反射特性が与えられない非測定波長域とにおける分光透過特性を含むものとされ、上記第３の工程において、測定波長域では、各インク層及び基準インク層それぞれの分光反射特性に基づいて、且つ、非測定波長域では、測定波長域における当該非測定波長域に隣接する隣接波長域の該インク層及び基準インク層それぞれの分光反射特性に基づいて、該基準インク層の分光透過特性が補正される。
【０１３２】
これによれば、各基準インク層の分光透過特性の補正が、該分光透過特性の測定波長域（例えば４００〜７００ｎｍ）では、各インク層及び基準インク層の分光反射特性に基づいて、また非測定波長域（上記４００ｎｍ未満例えば３００〜３９０ｎｍの紫外域）では、測定波長域における当該非測定波長域に隣接する隣接波長域の該インク層及び基準インク層の分光反射特性に基づいて行われるので、該基準インク層の分光透過特性の補正において、分光反射特性が与えられないすなわち実測値が得られない非測定波長域についても、分光反射特性が与えられる測定波長域における（隣接波長域の）分光反射特性を代用することができ、ひいては測定波長域と非測定波長域とにおける各基準インク層の分光透過特性を容易に補正することが可能となる。
【０１３３】
また、光学特性測定方法が、蛍光増白基材上に単数若しくは複数種類のインク又は該複数種類のインクの組み合わせにより着色されてなる着色面の分光透過特性を算出する方法とされ、上記第３の工程において、上記光学測定情報に基づき算出された各インク層の分光透過特性と、上記単数若しくは複数種類のインク又は該複数種類のインクの組み合わせの面積率とに基づいて着色面の平均的な分光透過特性が算出される。
【０１３４】
これによれば、算出された各インク層の分光透過特性と、単数若しくは複数種類のインク又は該複数種類のインクの組み合わせ（重ね合わせ）部分の面積率とに基づいて着色面の平均的な分光透過特性が算出されるので、着色面の分光透過特性が、印刷機や環境温度等によって異なるインク層の厚みや濃度の影響を受けてばらついているような場合であっても、着色面の平均的な分光透過特性を精度良く求めることができる。
【０１３５】
また、光学特性測定方法が、蛍光増白基材上に単数若しくは複数種類のインク又は該複数種類のインクの組み合わせにより着色されてなる着色面の励起蛍光特性を算出する方法とされ、上記算出された平均的な分光透過特性と、蛍光増白基材の励起蛍光特性とに基づいて着色面の実効的な励起蛍光特性が算出される。
【０１３６】
これによれば、算出された平均的な分光透過特性と、蛍光増白基材の励起蛍光特性とに基づいて着色面の実効的な励起蛍光特性が算出されるので、着色面の分光透過特性が、印刷機や環境温度等によって異なるインク層の厚みや濃度の影響を受けてばらついているような場合であっても、着色面の実効的な励起蛍光特性を精度良く求めることができる。
【０１３７】
また、分光透過特性が分光透過率とされ、分光反射特性が分光反射輝度率とされるので、蛍光増白基材（蛍光試料）からの影響を含まない分光反射輝度率によって精度良く求めた各インク層の分光透過率によって、蛍光増白基材上に単数又は複数種類のインクにより着色された着色面の平均的な分光透過率を求めることができ、さらに実効的な励起蛍光特性として二分光蛍光放射輝度率（Ｆ（μ，λ））や実効二分光蛍光放射輝度率（Ｆｅ（μ，λ））を精度良く求めることができる。
【０１３８】
また、光学特性測定方法が、単数若しくは複数種類のインク又は該複数種類のインクの組み合わせによるインク層の分光透過率を分光反射輝度率の測定値に基づいて推定的に算出する方法とされ、上記第３の工程において、上記（３６）式に基づいて、各基準インク層の分光透過率（Ｔ０（λ））が、各インク層の分光反射輝度率（Ｒ（λ））と該基準インク層の分光反射輝度率（Ｒ０（λ））とを用いて補正されることで該インク層の分光透過率（Ｔ（λ））が算出されるので、予め該基準インク層の分光透過率（Ｔ０（λ））及び分光反射輝度率（Ｒ０（λ））を測定して記憶させるなどして与えておくことで、該インク層の分光反射輝度率（Ｒ（λ））から該インク層の分光透過率（Ｔ（λ））を精度良く求めるといったことが可能となる。
【０１３９】
また、上記光学特性測定方法が、単数若しくは複数種類のインク又は該複数種類のインクの組み合わせによるインク層の分光透過率を分光反射輝度率の測定値に基づいて推定的に算出する方法とされ、上記第３の工程において、各インク層の分光透過率（Ｔ（λ））が、透過率の異なる１つ以上の基準インク層における分光透過率（Ｔ０（λ）、Ｔ１（λ）、・・・）及び分光反射輝度率（Ｒ０（λ）、Ｒ１（λ）、・・・）と、インク層の分光反射輝度率（Ｒ（λ））との関数（例えば上記式（３６）や後述の式（４７）、（４７１））によって与えられる。
【０１４０】
このように、インク層の分光透過率（Ｔ（λ））が、透過率の異なる１つ以上の基準インク層における分光透過率（Ｔ０（λ）、Ｔ１（λ）、・・・）及び分光反射輝度率（Ｒ０（λ）、Ｒ１（λ）、・・・）と、インク層の分光反射輝度率（Ｒ（λ））との関数によって与えられるので、予め透過率の異なる１つ以上の基準インク層における各分光透過率（Ｔ０（λ）、Ｔ１（λ）、・・・）及び分光反射輝度率（Ｒ０（λ）、Ｒ１（λ）、・・・）を測定して記憶させるなどして与えておくことで、インク層の分光反射輝度率（Ｒ（λ））から該インク層の分光透過率（Ｔ（λ））を精度良く求めるといったことが可能となる。
【０１４１】
なお、上記実施形態は、以下の態様をとることができる。
（１）上記実施形態では、照明光ｌ１及びｌ２による試料面照明光の分光分布ｌ１（λ）及びｌ２（λ）を参照面反射光の分光分布Ｍｘ１（λ）及びＭｘ２（λ）から、変換係数Ｄ１（λ）及びＤ２（λ）を用いて式（１９）、（２０）によって測定の都度求めているが、白色校正板を照明光ｌ１及びｌ２で照明したときの、試料面反射光の分光分布Ｓｗ１（λ）及びＳｗ２（λ）と、式（１６）による感度校正係数Ｇ（λ）と既知の反射分光放射輝度率Ｒｗ（λ）とから、以下の式（４５）、（４６）により求められる白色校正時の試料面照明光の分光分布ｌ１（λ）及びｌ２（λ）を、測定時の試料面照明光の分光分布として用いることもできる。
ｌ１（λ）＝Ｇ（λ）／Ｒｗ（λ）・Ｓｗ１（λ）…（４５）
ｌ２（λ）＝Ｇ（λ）／Ｒｗ（λ）・Ｓｗ２（λ）…（４６）
この方法は、上記実施形態のように測定毎の試料面照明光の分光分布ｌ１（λ）及びｌ２（λ）を用いないものの、第１及び第２の照明手段の光源が白熱光源と紫外ＬＥＤとで構成されている場合など、白色校正の間隔程度の短時間においては経時的に安定している場合には大きな誤差を招来しない一方、参照系を必要としないので、参照系を備えない低コストな測定器にも本発明の技術が適用できる。
【０１４２】
（２）上記実施形態では、各インクの被測定印刷面と同じ印刷条件の各１００％印刷面の分光透過率Ｔｙ（λ）、Ｔｍ（λ）及びＴｃ（λ）、或いは各インク及び各インクの組み合わせの各１００％印刷面の分光透過率Ｔｙ（λ）、Ｔｍ（λ）、Ｔｃ（λ）、Ｔｙｍ（λ）、Ｔｍｃ（λ）、Ｔｃｙ（λ）及びＴｙｍｃ（λ）を、対応する基準印刷面の分光反射輝度率（分光反射輝度率基準値）Ｒ０（λ）と該１００％印刷面の分光反射輝度率Ｒ（λ）とを用い、上記式（３９）によって該基準印刷面の分光透過率（分光透過率基準値）Ｔ０（λ）を補正して与えているが、これに限らず、別の関係式で与えることもできる。
【０１４３】
以下、別の関係式の例をＹインクについて説明する。この例では、同じインクの１００％印刷面でありながら、異なるインク厚さ及び／又はインク濃度を有する第１及び第２の基準印刷面を使用する。この第１及び第２の基準印刷面の分光透過率をＴ０ｙ（λ）及びＴ１ｙ（λ）、同基準印刷面の分光反射輝度率をＲ０ｙ（λ）及びＲ１ｙ（λ）とすると、分光反射輝度率がＲｙ（λ）である場合の１００％印刷面の分光透過率Ｔｙ（λ）を以下の式（４７）によって与える。
Ｔｙ（λ）＝Ａｙ（λ）・Ｔ０ｙ（λ）＋（１−Ａｙ（λ））・Ｔ１ｙ（λ）…（４７）
但し、Ａｙ（λ）＝（（Ｒｙ（λ））１／２−（Ｒ１ｙ（λ））１／２）／（（Ｒ０ｙ（λ））１／２−（Ｒ１ｙ（λ））１／２）…（４７１）
【０１４４】
すなわち、式（４７）は、上記第１及び第２の基準印刷面の分光透過率Ｔ０ｙ（λ）及びＴ１ｙ（λ）を、１００％印刷面の分光反射輝度率Ｒｙ（λ）と第１及び第２の基準印刷面の分光反射輝度率Ｒ０ｙ（λ）及びＲ１ｙ（λ）との距離の１／２乗に応じた重みを用いて合成している。この例でも上述のようにＲ０ｙ（λ）、Ｒ１ｙ（λ）及びＲｙ（λ）の実測値がない３００〜３９０ｎｍの波長域については、４００ｎｍの値Ｒ０ｙ（４００）、Ｒ１ｙ（４００）及びＲｙ（４００）を用いる。
【０１４５】
このように、光学特性測定方法が、単数若しくは複数種類のインク又は該複数種類のインクの組み合わせによるインク層の分光透過率を分光反射輝度率の測定値に基づいて推定的に算出する方法とされ、上述した第３の工程において、上記（４７）式に基づいて、すなわち、各インク及び各インクの組み合わせについて、以下（４７’）式に基づいて透過率の異なる少なくとも２つの対応する基準インク層である第１及び第２の基準インク層（第１及び第２の基準印刷面）の分光透過率（第１の基準インク層の分光透過率：Ｔ０（λ）、第２の基準インク層の分光透過率：Ｔ１（λ））が、所定の重み係数（Ａ（λ））を用いて線形結合されることにより補正されることで各インク層の分光透過率（Ｔ（λ））が算出されるので、予め少なくとも２つの対応する基準インク層それぞれの分光透過率（Ｔ０（λ）、Ｔ１（λ））と分光反射輝度率（Ｒ０（λ）、Ｒ１（λ））とを測定して記憶させるなどして与えておくことで、各インク層の分光反射輝度率から該インク層の分光透過率（Ｔ（λ））を精度良く求めるといったことが可能となる。但し、Ａ（λ）は、前記第１及び第２の基準インク層それぞれの分光反射輝度率Ｒ０（λ）及びＲ１（λ）と、前記インク層の分光反射輝度率Ｒ（λ）とによって与えられる重み係数を示す（上記式（４７１）参照）。
Ｔ（λ）＝Ａ（λ）・Ｔ０（λ）＋（１−Ａ（λ））・Ｔ１（λ）・・・（４７’）
【図面の簡単な説明】
【０１４６】
【図１】本発明に係る蛍光試料の光学特性測定装置の一例を示す概略構成図である。
【図２】各色のインク及びこれら各インクの重なりについて説明する図であり、（ａ）は、蛍光増白紙上にＹ、Ｍインクが付着している場合を概略的に示す断面図、（ｂ）は、（ａ）に示すＹ、Ｍインクが付着した蛍光増白紙の上面図である。
【図３】白色校正に関する動作の一例を示すフローチャートである。
【図４】光学特性測定装置による蛍光試料の全分光放射輝度率の測定に関する動作の一例を示すフローチャートである。
【図５】１００％印刷面の測定に関する動作の一例を示すフローチャートである。
【図６】光学特性測定装置による蛍光増白紙上の印刷面に対する全分光放射輝度率の測定に関する動作の一例を示すフローチャートである。
【図７】本発明の方法を、従来の測定方法に適用した場合の光学特性測定装置の一例を示す概略構成図である。
【図８】二分光蛍光放射輝度率の強度マトリクスの一例を示すグラフ図である。
【図９】白熱光源及び紫外ＬＥＤの分光分布を示すグラフ図である。
【図１０】従来の光学特性測定装置を示す概略構成図である。
【図１１】従来の光学特性測定装置を示す概略構成図である。
【図１２】蛍光増白紙上の各色のインクの重なりについて説明する概念図である。
【図１３】蛍光増白紙上のインクが透過光と反射光とに及ぼす影響について説明する概念図である。
【符号の説明】
【０１４７】
１ 被測定試料（蛍光増白基材）
２ 第１照明部
２１ 白熱ランプ
２２ 第１駆動回路
３ 第２照明部
３１ 紫外ＬＥＤ
３２ 第２駆動回路
４ 参照面部
５ 受光部
６ ２チャンネル分光部
６１ 第1入射スリット
６２ 第２入射スリット
７ 制御部（補正手段、測定（算出）手段）
７０ ＣＰＵ（補正手段、測定（算出）手段）
７１ 分光データメモリ（記憶手段）
７２ 評価用照明光データメモリ
７３ 二分光データメモリ
７４ 係数メモリ
７５ 面積率メモリ（記憶手段）
１０ 光学特性測定装置
【技術分野】
【０００１】
本発明は、蛍光増白基材上の着色面の光学特性を測定する光学特性測定方法及び光学特性測定装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、生産されている紙や繊維の多くは、蛍光増白剤によって蛍光増白されており、これら及びこれらを基材とする着色面の色彩を蛍光の影響を無視して評価することができないという事情から、蛍光の影響を配慮した当該紙や繊維及びこれらを基材とする着色面に対する測色技術の向上が求められている。
【０００３】
一般的に、反射試料の視覚的な光学特性は、白色との相対比、すなわち或る照明・受光条件において照明、受光された該反射試料からの放射光の、同一条件で照明、受光された完全拡散反射体からの放射光に対する波長λ毎の比である全分光放射輝度率Ｂ（λ）で表される。
【０００４】
ところで、蛍光は自発光するので光源色であるが、上記蛍光増白された、つまり蛍光物質を含む試料（以降、蛍光試料という）では、蛍光は反射光に重畳されて物体色として観察される。すなわち、蛍光試料からの放射光は、該蛍光試料からの反射光（反射光成分）と蛍光（蛍光成分）との和として与えられることから、蛍光試料の全分光放射輝度率Ｂ（λ）は、上記と同様、或る照明・受光条件において照明、受光された蛍光試料からの反射光及び蛍光それぞれの、同一条件で照明、受光された完全拡散反射体からの放射光に対する比である反射分光放射輝度率Ｒ（λ）と蛍光分光放射輝度率Ｆ（λ）との和として与えられる。これは以下の式（１）で示される。
Ｂ（λ）＝Ｒ（λ）＋Ｆ（λ）…（１）
【０００５】
ただし、上記完全拡散反射体は蛍光を放射せず、その反射率は照明光の波長に依存しないので、比例定数を別にすれば、これら全分光放射輝度率Ｂ（λ）、反射分光放射輝度率Ｒ（λ）、及び蛍光分光放射輝度率Ｆ（λ）は、それぞれ波長λの放射光、反射光、及び蛍光の、同じ波長の照明光に対する比として表される。なお、当該測色の目的は目視に準じる測定値を得ることにあり、物体色として感じられる蛍光試料の場合、求められるべきは全分光放射輝度率Ｂ（λ）であり、このＢ（λ）から色彩値が導かれる。
【０００６】
測色用の照明光としては、ＣＩＥ（国際照明委員会）が分光分布（分光強度）を定義しているＤ６５（昼光）やＡ（白色光源）、或いはＤ５０、Ｄ７５、Ｆ１１、Ｃなどの標準照明光が用いられる（蛍光試料には通常、標準照明光Ｄ６５が用いられる）。照明光により照明された蛍光試料（蛍光物質）の励起・蛍光特性は、該蛍光試料面を単位強度で照明する波長μの励起光（入射光）、すなわち単位エネルギーをもつ単波長光により励起される波長λの蛍光の強度を表すマトリクスデータ、二分光蛍光放射輝度率（Bispectral Luminescent Radiance Factor）Ｆ（μ，λ）によって記述される。
【０００７】
上記マトリクスデータは、例えば図８に示す３次元データであり、特定の蛍光波長λに沿った断面（例えばλ＝５５０ｎｍの断面）は、波長λの蛍光を励起する励起光の波長毎の励起効率である分光励起効率を表し、励起波長μに沿った断面（例えばμ＝４５０ｎｍの断面）は、４５０ｎｍの照明光により励起される、蛍光の分光強度を表す。このことからも、蛍光現象は波長μから波長λへの波長変換を伴う現象であると言える。したがって、分光分布Ｉ（μ）を有する照明光Ｉで照明された、二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）を有する蛍光試料の蛍光分光放射輝度率Ｆ（λ）は、比例定数を別にすれば、以下の式（２）により求められる。
Ｆ（λ）＝∫Ｆ（μ，λ）・Ｉ（μ）ｄμ／Ｉ（λ）…（２）
つまり、Ｆ（λ）は、照明光Ｉの分光分布Ｉ（μ）と二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）との畳み込み積分とＩ（λ）との比で与えられる。また、Ｉ（λ）は、比例定数を別にすれば、前記完全拡散反射体（面）からの反射光と等価である。また、式中、「・」、「／」及び「∫」の記号は、それぞれ乗算、除算及び積分を示すものとする（以降も同様）。
【０００８】
上記式（２）が示すように、蛍光分光放射輝度率Ｆ（λ）は、照明光Ｉの分光分布Ｉ（μ）に依存するため、この蛍光分光放射輝度率Ｆ（λ）と、それ自身は照明光Ｉの分光分布Ｉ（μ）に依存しない反射分光放射輝度率Ｒ（λ）との和である全分光放射輝度率Ｂ（λ）も分光分布Ｉ（μ）に依存する。つまり、蛍光試料に対する照明光の違いによって、測定される全分光放射輝度率Ｂ（λ）及びこれから導かれる色彩値も異なるものとなる。
【０００９】
したがって、蛍光試料に対する光学特性の評価においては、照明光（以降、Ｆ（λ）やＢ（λ）等の光学特性の評価に用いる照明光のことを評価用照明光という）の分光分布を特定する必要があり、実際の測定では、測定装置の照明光の分光分布をこの特定の評価用照明光と一致させる必要がある。しかしながら、当該特定の評価用照明光に一致させること、すなわち評価用照明光として一般的に用いられる上記標準照明光（Ｄ６５やＣ等）と同じ分光分布の照明光を実現することは非常に困難である。
【００１０】
そこで、他の方法として、二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）或いは二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）を求め、このＦ（μ，λ）あるいはＢ（μ，λ）と、数値的に与えた評価用照明光の分光分布Ｉ（λ）とから、上記式（２）を用いて、蛍光分光放射輝度率Ｆ（λ）、或いは全分光放射輝度率Ｂ（λ）を数値的に求める方法がある。ただし、この二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）は、上記二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）と同様、蛍光試料面を単位強度で照明する波長μの照明光による、波長λの蛍光と反射光との和として与えられる波長λの全放射光の強度を表すマトリクスデータであり、全分光放射輝度率Ｂ（λ）は、以下の式（２-１）に示すように照明光Ｉの分光分布Ｉ（μ）と二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）との畳み込み積分とＩ（λ）との比で与えられる。
Ｂ（λ）＝∫Ｂ（μ，λ）・Ｉ（μ）ｄμ／Ｉ（λ）…（２-１）
【００１１】
しかしながら、二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）や二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）の測定は、照明、受光系の双方に分光手段を備え、大掛かりで測定時間のかかる二分光器法測定器（ダブルモノクロメーター）を必要とすることから実用的ではなく、例えば、代表的な蛍光試料である蛍光増白紙等の品質管理などには、専ら以下の２つの簡易手法が採られる。
【００１２】
＜Ｇａｅｒｔｎｅｒ−Ｇｒｉｓｓｅｒの測定方法＞
例えば図１０の光学特性測定装置６００に示すように、蛍光試料６０１が積分球６０２の試料用開口６０３に配設される。キセノンランプなど紫外域（ＵＶ域）に十分な強度を有する光源６０４からの光束６０５は、光源用開口を通って積分球６０２内に入射される。この光束６０５中には紫外カットフィルタ６０６が所定長挿入される。光束６０５のうちの紫外カットフィルタ６０６を通過した部分は紫外成分が除去されるので、紫外カットフィルタ６０６の挿入の程度を調節することで、照明光の可視域に対する紫外域（励起域）強度の相対比（相対紫外強度）が調整される。紫外カットフィルタ６０６を透過した光束と透過しなかった光束とは、それぞれ積分球６０２の内部で拡散多重反射され、合成されて蛍光試料６０１を拡散照明する。そして、当該合成された照明光によって照明されることで得られる蛍光試料６０１からの試料放射光の所定方向の成分（放射光成分６０７）が、放射光分光部６０８に入射し、該放射光成分６０７の分光分布Ｓｘ（λ）が測定される。一方、照明光と略同じ分光分布を有する光束６０９が、参照用光ファイバ６１０に入射してさらにこの参照用光ファイバ６１０を経て照明光分光部６１１に入射し、該光束６０９の分光分布Ｍｘ（λ）が測定される。そして、これらＳｘ（λ）及びＭｘ（λ）の測定情報に基づいて演算制御部６１２により全分光放射輝度率Ｂｘ（λ）が求められる（例えば、特許文献１の図４参照）。
【００１３】
上記相対紫外強度の校正は、蛍光試料６０１に近似した励起・蛍光特性（二分光蛍光放射輝度率）を有し、評価用照明光で照明したときの色彩値（例えばＣＩＥの白色度ＷＩ）が既知である蛍光基準試料を用い、該蛍光基準試料を試料用開口６０３に配設してこれに対する全分光放射輝度率Ｂ（λ）を測定し、この全分光放射輝度率Ｂ（λ）から算出した白色度ＷＩが上記既知の白色度ＷＩｓと一致するように、紫外カットフィルタ６０６の挿入度を調節することで行われる。
【００１４】
しかしながら、Ｇａｅｒｔｎｅｒ−Ｇｒｉｓｓｅｒの方法は、機械的に複雑であり信頼性に問題があるだけでなく、上記白色度ＷＩが既知の白色度ＷＩｓと一致するまで、紫外カットフィルタ６０６の挿入度の調節と測定とを繰り返し行う煩雑な校正作業が必要となる。また、自由度が「１」であるため、白色度ＷＩや色度Ｔｉｎｔなどの２つ以上の色彩値を同時に校正したり、或いは全分光放射輝度率Ｂ（λ）そのものを既知の評価用照明光で照明したときの全分光放射輝度率Ｂｓ（λ）と一致させるような校正を行うことは原理的に不可能である。
【００１５】
＜特許文献１の方法＞
上記Ｇａｅｒｔｎｅｒ−Ｇｒｉｓｓｅｒの測定方法では、紫外カットフィルタ６０６の挿入度に応じて照明光を合成し、結果的に全分光放射輝度率Ｂ（λ）を合成するが、特許文献１の方法は、原理はＧａｅｒｔｎｅｒ−Ｇｒｉｓｓｅｒの測定方法と同様であり、また自由度も「１」であるものの、まず全分光放射輝度率Ｂ（λ）を数値的に合成し、結果的にこれを与える照明光を合成するという点で異なる。具体的に説明すると、例えば図１１の光学特性測定装置７００に示すように、積分球７０２に、紫外強度をもつ光束７０３を出力する第1照明部７０４、紫外強度をもたない光束７０５を出力する第２照明部７０６、試料用開口７０７に配設された蛍光試料７０１からの放射光（放射光成分７０８）の分光分布を測定する放射光分光部７０９、そのときの照明光の光束７１０の分光分布を光ファイバ７１１を介して測定する照明光分光部７１２、及び演算制御部７１３を備える。
【００１６】
そして、蛍光試料７０１を第１及び第２照明部７０４、７０６で照明して、該試料からの放射光の分光分布Ｓｘ１（λ）、Ｓｘ２（λ）と、そのときの照明光の分光分布Ｍｘ１（λ）、Ｍｘ２（λ）とを測定し、これらＳｘ１（λ）、Ｓｘ２（λ）とＭｘ１（λ）、Ｍｘ２（λ）とから蛍光試料７０１に対する第１及び第２照明部７０４、７０６での全分光放射輝度率Ｂｘ１（λ）、Ｂｘ２（λ）を求める。そして、この全分光放射輝度率Ｂｘ１（λ）及びＢｘ２（λ）を、以下の式（３）に示すように、予め波長毎に設定して記憶しておいた重み係数Ｗ（λ）（以降、重み係数のことを「重み」と表現する）を用いて線形結合することで合成分光放射輝度率Ｂｘｃ（λ）を求め、このＢｘｃ（λ）を、評価用照明光で照明された蛍光試料７０１の全分光放射輝度率とする。
Ｂｘｃ（λ）＝Ｗ（λ）・Ｂｘ１（λ）＋（１−Ｗ（λ））・Ｂｘ２（λ）…（３）
【００１７】
但し、上記重みＷ（λ）は、蛍光試料７０１に近似した励起・蛍光特性を有し、評価用照明光で照明された場合の全分光放射輝度率Ｂｓ（λ）が既知である蛍光基準試料を用いて設定される。すなわち、重みＷ（λ）は、蛍光基準試料を第１及び第２照明部７０４、７０６により照明して測定した分光放射輝度率Ｂ１（λ）、Ｂ２（λ）を該重みＷ（λ）により線形結合させて得られるＷ（λ）・Ｂ１（λ）＋（１−Ｗ（λ））・Ｂ２（λ）の値が、上記既知の全分光放射輝度率Ｂｓ（λ）と等しくなるように、波長毎に数値的に求められる（例えば、特許文献１の図１参照）。
【００１８】
この方法は、上述のＧａｅｒｔｎｅｒ−Ｇｒｉｓｓｅｒの測定方法による相対紫外強度の校正を、全分光放射輝度率Ｂ（λ）をパラメータとして波長毎に数値的に行うことに相当する。したがって、全分光放射輝度率Ｂ（λ）について校正されるので、これから算出される全ての色彩値に対しても校正がなされるという特徴がある。また、測定に際しての機械的可動部や、煩雑な紫外カットフィルタ挿入度の調節作業が不要になるなど、Ｇａｅｒｔｎｅｒ−Ｇｒｉｓｓｅｒの測定方法の多くの欠点を解決するが、蛍光基準試料を必要とすることには変わりがなく、蛍光基準試料を用いた相対紫外強度の校正後に、蛍光試料に対する測定を行うので、校正時と測定時との照明光に分光分布の差があると測定誤差が生じてしまうといった問題は依然として存在する。
【００１９】
ところで、印刷用紙が蛍光増白されていると、該印刷用紙（蛍光増白基材）上の印刷色は蛍光の影響を免れない。印刷用紙におけるインクで覆われた部分はインクの分光透過率に応じた励起光が、また、覆われていない部分はそのままの励起光が蛍光増白紙に到達するので、印刷用紙の測定域における分光的な励起・蛍光特性（分光励起効率及び分光蛍光強度）は、印刷用紙自身の励起・蛍光特性だけでなく、当該インク層についても考慮された、測定域の平均的な分光透過特性に依存する。この測定域の平均的な分光透過特性は、該インクによる面積率１００％の印刷面の分光透過特性、及びこのインクの該測定域内の面積率（面積比率）に依存するので、結局、測定域の分光的な励起・蛍光特性は、該インクによる面積率１００％の印刷面における分光透過特性、及びその測定域内の面積率（面積比率）に依存する。また、１種類以上のインクで印刷する場合は、印刷用紙は各インク及びこれらインク同士の重なりで覆われることになるので、測定域の分光的な励起・蛍光特性は、当該各インク及びこれらインク同士の重なりの、面積率１００％の印刷面の分光透過特性と面積率とに依存する。すなわち印刷用紙（蛍光増白基材）上に１種類以上のインクで印刷された印刷面の光学特性を蛍光の影響を考慮して測定するには、各インク及びこれらインク同士の重なりによる面積率１００％の印刷面の分光透過特性の情報が必要となる。
【００２０】
透過特性に波長依存性がないインクは、インクを透過した照明光の相対的な分光分布を変えないため、上記特許文献１の方法で合成された照明光の分光積分励起効率と評価用照明光の分光積分励起効率とに対して同じ影響を及ぼす。したがって、印刷面の当該合成照明光による全分光放射輝度率Ｂｃ（λ）は、印刷されていない面とは異なるものの、評価用照明光による全分光放射輝度率と同じであり、評価用照明光で照明されたときの印刷面の全分光放射輝度率とすることができる。ここで、分光積分励起効率Ｅ（λ）は、照明光が、全体として蛍光の各波長成分にもたらす励起効率であり、照明光の分光分布をＩ（μ）とすると、以下、式（４）で表される。
Ｅ（λ）＝∫Ｑ（μ，λ）・Ｉ（μ）ｄμ …（４）
但し、Ｑ（μ，λ）は、二分光励起効率、すなわち波長μ、波長幅ｄμの単位強度の励起光成分の、蛍光の波長λの成分に対する励起効率を示す。
【特許文献１】特開平８−３１３３４９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００２１】
上述の蛍光増白基材上の印刷色について、特許文献１の方法やＧａｅｒｔｎｅｒ−Ｇｒｉｓｓｅｒの測定方法のように頻繁な更新や経時変化に対する管理等が必要な蛍光基準試料及びこれを用いた煩雑な校正作業を必要とすることなく、蛍光の影響を考慮した測色が求められる。そのためには、印刷用紙の励起・蛍光特性や各インクの面積率だけでなく、各インクの分光透過特性を正確に求めることが必要となる。ところが、インクの濃度はロット毎にばらつき、またインク層の厚みも印刷機（例えばプリンター）や環境温度等によって異なるため、特定の印刷条件（印刷機、インク、環境温度等）で用紙に印刷された面積率１００％の印刷面の分光透過特性と異なる分光透過特性を、すなわち同じ面積率１００％であってもこの場合の分光透過特性とは異なる印刷条件で印刷された印刷面の分光透過特性を典型値として用いることは、無視できない誤差の原因となる。
【００２２】
本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、必要とする各インクの分光透過特性を、測定される印刷試料の（インクの）印刷条件に即して充分な精度で求めることができ、ひいては蛍光増白基材上の印刷色に対する測色を正確に行うことができる光学特性測定方法及び光学特性測定装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００２３】
本発明に係る光学特性測定方法は、単数若しくは複数種類の着色材又は前記複数種類の着色材の組み合わせによる着色層の分光透過特性を、該着色層の分光反射特性を用いて算出する光学特性測定方法であって、前記着色層と同一の又は近似された、基準として定める基準着色層の分光透過特性及び分光反射特性を予め取得する第１の工程と、前記着色層の分光反射特性を測定する第２の工程と、前記着色層の分光透過特性を算出するべく、前記着色層の分光反射特性と前記基準着色層の分光反射特性とに基づいて前記基準着色層の分光透過特性を補正する第３の工程とを有することを特徴とする。
【００２４】
上記構成によれば、単数若しくは複数種類の着色材又は前記複数種類の着色材の組み合わせによる着色層の分光透過特性を該着色層の分光反射特性を用いて算出する光学特性測定方法における、第１の工程において、着色層と同一の又は近似された、基準として定める基準着色層の分光透過特性及び分光反射特性が予め取得され、第２の工程において、着色層の分光反射特性が測定される。そして、第３の工程において、着色層の分光透過特性を算出するべく、着色層の分光反射特性と基準着色層の分光反射過特性とに基づいて基準着色層の分光透過特性が補正される。
【００２５】
また、上記構成において、前記分光透過特性は、前記分光反射特性が与えられる測定波長域と前記分光反射特性が与えられない非測定波長域とにおける分光透過特性を含むものであって、前記第３の工程は、前記測定波長域では、前記着色層及び基準着色層それぞれの分光反射特性に基づいて、且つ、前記非測定波長域では、前記測定波長域における当該非測定波長域に隣接する隣接波長域の前記着色層及び基準着色層それぞれの分光反射特性に基づいて、前記基準着色層の分光透過特性を補正する工程であることが好ましい。（請求項２）
【００２６】
これによれば、分光透過特性が、分光反射特性が与えられる測定波長域と分光反射特性が与えられない非測定波長域とにおける分光透過特性を含むものとされ、第３の工程において、測定波長域では、着色層及び基準着色層それぞれの分光反射特性に基づいて、且つ、非測定波長域では、測定波長域における当該非測定波長域に隣接する隣接波長域の着色層及び基準着色層それぞれの分光反射特性に基づいて、基準着色層の分光透過特性が補正される。
【００２７】
また、上記構成において、前記光学特性測定方法は、蛍光増白基材上に単数若しくは複数種類の着色材又は前記複数種類の着色材の組み合わせにより着色されてなる着色面の分光透過特性を算出する方法であって、前記第３の工程は、前記測定された着色層の分光透過特性と、前記単数若しくは複数種類の着色材又は前記複数種類の着色材の組み合わせの面積率とに基づいて前記着色面の平均的な分光透過特性を算出する工程であることが好ましい。（請求項３）
【００２８】
これによれば、光学特性測定方法が、蛍光増白基材上に単数若しくは複数種類の着色材又は前記複数種類の着色材の組み合わせにより着色されてなる着色面の分光透過特性を算出する方法とされ、第３の工程において、上記測定された着色層の分光透過特性と、上記単数若しくは複数種類の着色材又は複数種類の着色材の組み合わせの面積率とに基づいて着色面の平均的な分光透過特性が算出される。
【００２９】
また、上記構成において、前記光学特性測定方法は、蛍光増白基材上に単数若しくは複数種類の着色材又は前記複数種類の着色材の組み合わせにより着色されてなる着色面の励起蛍光特性を算出する方法であって、前記算出された平均的な分光透過特性と、前記蛍光増白基材の励起蛍光特性とに基づいて前記着色面の実効的な励起蛍光特性を算出する第４の工程をさらに有することが好ましい。（請求項４）
【００３０】
これによれば、光学特性測定方法が、蛍光増白基材上に単数若しくは複数種類の着色材又は前記複数種類の着色材の組み合わせにより着色されてなる着色面の励起蛍光特性を算出する方法とされ、第４の工程において、上記算出された平均的な分光透過特性と、蛍光増白基材の励起蛍光特性とに基づいて着色面の実効的な励起蛍光特性が算出される。
【００３１】
また、上記構成において、前記分光透過特性は分光透過率であり、前記分光反射特性は分光反射輝度率であることが好ましい。（請求項５）
【００３２】
これによれば、分光透過特性が分光透過率とされ、分光反射特性が分光反射輝度率とされる。
【００３３】
また、上記構成において、前記光学特性測定方法は、前記単数若しくは複数種類の着色材又は前記複数種類の着色材の組み合わせによる着色層の前記分光透過率を前記分光反射輝度率の測定値に基づいて推定的に算出する方法であって、前記第３の工程は、下記（１）式に基づいて、前記基準着色層の分光透過率を、前記着色層の分光反射輝度率と前記基準着色層の分光反射輝度率とを用いて補正することで前記着色層の分光透過率を算出する工程であることが好ましい。（請求項６）
Ｔ（λ）＝（Ｒ（λ）／Ｒ０（λ））１／２・Ｔ０（λ）・・・（１）
但し、記号「／」：除算
記号「・」：乗算
Ｔ（λ）：着色層の分光透過率
Ｒ（λ）：着色層の分光反射輝度率
Ｔ０（λ）：基準着色層の分光透過率
【００３４】
これによれば、光学特性測定方法が、単数若しくは複数種類の着色材又は前記複数種類の着色材の組み合わせによる着色層の分光透過率を分光反射輝度率の測定値に基づいて推定的に算出する方法とされ、第３の工程において、上記（１）式に基づいて、基準着色層の分光透過率が、着色層の分光反射輝度率と基準着色層の分光反射輝度率とを用いて補正されることで着色層の分光透過率が算出される。
【００３５】
また、上記構成において、前記光学特性測定方法は、前記単数若しくは複数種類の着色材又は前記複数種類の着色材の組み合わせによる着色層の前記分光透過率を前記分光反射輝度率の測定値に基づいて推定的に算出する方法であって、前記第３の工程は、下記（２）式に基づいて、透過率の異なる少なくとも２つの前記基準着色層である第１及び第２の基準着色層の分光透過率を、所定の重み係数を用いて線形結合することにより補正することで前記着色層の分光透過率を算出する工程であることが好ましい。（請求項７）
Ｔ（λ）＝Ａ（λ）・Ｔ０（λ）＋（１−Ａ（λ））・Ｔ１（λ）・・・（２）
但し、記号「／」：除算
記号「・」：乗算
Ｔ（λ）：着色層の分光透過率
Ｔ０（λ）：第１の基準着色層の分光透過率
Ｔ１（λ）：第２の基準着色層の分光透過率
Ａ（λ）：第１及び第２の基準着色層それぞれの分光反射輝度率Ｒ０（λ）及びＲ１（λ）と、前記着色層の分光反射輝度率Ｒ（λ）とによって与えられる重み係数
【００３６】
これによれば、光学特性測定方法が、単数若しくは複数種類の着色材又は前記複数種類の着色材の組み合わせによる着色層の分光透過率を分光反射輝度率の測定値に基づいて推定的に算出する方法とされ、第３の工程において、上記（２）式に基づいて、透過率の異なる少なくとも２つの基準着色層である第１及び第２の基準着色層の分光透過率が、所定の重み係数を用いて線形結合されることにより補正されることで着色層の分光透過率が算出される。
【００３７】
また、上記構成において、前記光学特性測定方法は、前記単数若しくは複数種類の着色材又は前記複数種類の着色材の組み合わせによる着色層の前記分光透過率を前記分光反射輝度率の測定値に基づいて推定的に算出する方法であって、前記第３の工程は、前記着色層の分光透過率を、透過率の異なる１つ以上の基準着色層における分光透過率及び分光反射輝度率と、前記着色層の分光反射輝度率との関数によって与える工程であることが好ましい。（請求項８）
【００３８】
これによれば、光学特性測定方法が、単数若しくは複数種類の着色材又は前記複数種類の着色材の組み合わせによる着色層の分光透過率を分光反射輝度率の測定値に基づいて推定的に算出する方法とされ、第３の工程において、着色層の分光透過率が、透過率の異なる１つ以上の基準着色層における分光透過率及び分光反射輝度率と、着色層の分光反射輝度率との関数によって与えられる。
【００３９】
さらに、本発明に係る光学特性測定装置は、単数若しくは複数種類の着色材又は前記複数種類の着色材の組み合わせによる着色層の分光透過特性を、該着色層の分光反射特性を用いて算出する光学特性測定装置であって、前記着色層と同一の又は近似された、基準として定める基準着色層の分光透過特性及び分光反射特性を記憶する記憶手段と、前記着色層の分光反射特性を測定する測定手段と、前記着色層の分光透過特性を算出するべく、前記着色層の分光反射特性と前記基準着色層の分光反射過特性とに基づいて前記基準着色層の分光透過特性を補正する補正手段とを備えることを特徴とする。（請求項９）
【００４０】
上記構成によれば、単数若しくは複数種類の着色材又は前記複数種類の着色材の組み合わせによる着色層の分光透過特性を該着色層の分光反射特性を用いて算出する光学特性測定装置において、記憶手段によって、着色層と同一の又は近似された、基準として定める基準着色層の分光透過特性及び分光反射特性が記憶され、測定手段によって、着色層の分光反射特性が測定される。そして、補正手段によって、着色層の分光透過特性を算出するべく、着色層の分光反射特性と基準着色層の分光反射過特性とに基づいて基準着色層の分光透過特性が補正される。
【発明の効果】
【００４１】
請求項１及び９に記載の発明によれば、着色層の分光透過特性が、予め取得された基準着色層の分光反射特性と測定された着色層の分光反射特性とに基づいて、予め取得された基準着色層の分光透過特性が補正されることで算出されるので、すなわち着色層の分光透過特性が、予め与えられた基準着色層の分光反射特性と、測定された着色層の分光反射特性とに基づいて、予め与えられた基準着色層の分光透過特性から推定されるので、着色層の分光透過特性の情報を、測定される試料（印刷試料）の印刷条件に即して充分な精度で求めることができる。すなわち、着色層の分光透過特性が、印刷機や環境温度等によって異なる着色層の厚みや濃度の影響を受けてばらついているような場合であっても、当該着色層の分光透過特性を精度良く求めることができ、ひいてはこの分光透過特性を用いて、蛍光試料（蛍光増白基材）上の印刷色（着色面）に対する測色を正確に行うことができる。
【００４２】
請求項２に記載の発明によれば、基準着色層の分光透過特性の補正が、該分光反射特性の測定波長域では、着色層及び基準着色層の分光反射特性に基づいて、また非測定波長域では、測定波長域における当該非測定波長域に隣接する隣接波長域の着色層及び基準着色層の分光反射特性に基づいて行われるので、基準着色層の分光透過特性の補正において、分光反射特性が与えられないすなわち実測値が得られない非測定波長域についても、分光反射特性が与えられる測定波長域における（隣接波長域の）分光反射特性を代用することができ、ひいては着色層及び基準着色層の分光反射特性を用いて容易に基準着色層の測定波長域と非測定波長域とにおける分光透過特性を補正することが可能となる。
【００４３】
請求項３記載の発明によれば、算出された着色層の分光透過特性と、１つ以上の着色材又は該着色材の組み合わせの面積率とに基づいて着色面の平均的な分光透過特性が算出されるので、着色面の分光透過特性が、印刷機や環境温度等によって異なる着色層の厚みや濃度の影響を受けてばらついているような場合であっても、着色面の平均的な分光透過特性を精度良く求めることができる。
【００４４】
請求項４記載の発明によれば、算出された平均的な分光透過特性と、蛍光増白基材の励起蛍光特性とに基づいて着色面の実効的な励起蛍光特性が算出されるので、着色面の分光透過特性が、印刷機や環境温度等によって異なる着色層の厚みや濃度の影響を受けてばらついているような場合であっても、着色面の実効的な励起蛍光特性を精度良く求めることができる。
【００４５】
請求項５記載の発明によれば、分光透過特性が分光透過率とされ、分光反射特性が分光反射輝度率とされるので、蛍光増白基材（蛍光試料）からの影響を含まない分光反射輝度率によって精度良く求めた分光透過率によって、蛍光増白基材上に単数又は複数種類の着色材によって着色された着色面の平均的な分光透過率を求めることができ、さらに実効的な励起蛍光特性として二分光蛍光放射輝度率や実効二分光蛍光放射輝度率を精度良く求めることができる。
【００４６】
請求項６記載の発明によれば、上記（１）式に基づいて、基準着色層の分光透過率が、着色層の分光反射輝度率と基準着色層の分光反射輝度率とを用いて補正されることで着色層の分光透過率が算出されるので、予め基準着色層の分光透過率及び分光反射輝度率を測定して記憶させるなどして与えておくことで、着色層の分光反射輝度率から該着色層の分光透過率を精度良く求めるといったことが可能となる。
【００４７】
請求項７記載の発明によれば、上記（２）式に基づいて、透過率の異なる少なくとも２つの基準着色層である第１及び第２の基準着色層の分光透過率が、所定の重み係数を用いて線形結合されることにより補正されることで着色層の分光透過率が算出されるので、予め少なくとも２つの基準着色層それぞれの分光透過率と分光反射輝度率とを測定して記憶させるなどして与えておくことで、着色層の分光反射輝度率から該着色層の分光透過率を精度良く求めるといったことが可能となる。
【００４８】
請求項８記載の発明によれば、着色層の分光透過率が、透過率の異なる１つ以上の基準着色層における分光透過率及び分光反射輝度率と、着色層の分光反射輝度率との関数によって与えられるので、予め透過率の異なる１つ以上の基準着色層における各分光透過率及び分光反射輝度率を測定して記憶させるなどして与えておくことで、着色層の分光反射輝度率から該着色層の分光透過率を精度良く求めるといったことが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００４９】
（光学特性測定装置の全体的な説明）
図1は、本発明に係る蛍光試料の光学特性測定装置の一例を示す概略構成図である。図１に示すように、光学特性測定装置１０は、被測定試料１、第１照明部２、第２照明部３、参照面部４、受光部５、２チャンネル分光部６及び制御部７を備えて構成されている。被測定試料１は、蛍光物質を含む繊維や紙製品等からなる測定対象となる試料である。被測定試料１は、所定の測定位置に配置される。第１照明部２は、被測定試料１を照明するものであり、光源としての白熱ランプ２１と、該白熱ランプ２１を駆動して点灯（例えばパルス点灯）させるための第１駆動回路２２とを備える。第２照明部３は、第１照明部２と同様、被測定試料１を照明するものであり、紫外域の光束を出力する光源（紫外光源）としての紫外ＬＥＤ３１と、該紫外ＬＥＤ３１を駆動して点灯（例えばパルス点灯）させるための第２駆動回路３２とを備える。なお、第２照明部３の光源は、紫外ＬＥＤ３１に限定されず、紫外域の光束が出力可能であれば、キセノンフラッシュランプなど、いずれの光源でもよい。
【００５０】
参照面部４は、白色拡散面からなる参照面（反射面）を有するものであり、被測定試料１の測定域の近傍に配設されている。受光部５（受光系）は、光学レンズ（又はレンズ群）からなり、第１及び第２照明部２、３によって照明された被測定試料１の放射光、及び参照面部４からの反射光における法線方向の成分を受光するとともに、該受光した光束を後述の２チャンネル分光部６へ向けて入射させるものである。
【００５１】
２チャンネル分光部６は、受光部５からの入射光に対する分光測定を行うものである。２チャンネル分光部６は、第1入射スリット６１及び第２入射スリット６２を備える。後述の照明光ＬＡ又は照明光ＬＢによって照明された被測定試料１からの放射光は、第1入射スリット６１に入射し、一方、この照明光ＬＡ又は照明光ＬＢによって照明された参照面部４（参照面）からの反射光は第２入射スリット６２に入射する。２チャンネル分光部６は、この第1入射スリット６１に入射した試料放射光に対する分光測定を行い、第１チャンネル出力として当該試料放射光の分光分布データを出力するとともに、第２入射スリット６２に入射した参照面反射光（参照光）、すなわち後述の照明光ＬＡ又は照明光ＬＢに対する分光測定を行い、第２チャンネル出力として当該照明光の分光分布データを出力する。このように、２チャンネル分光部６は、放射光分光手段及び照明光分光手段として機能する。
【００５２】
制御部７は、各制御プログラム等を記憶するＲＯＭ（Read Only Memory）、演算処理や制御処理用のデータを格納するＲＡＭ（Random Access Memory）、及び当該制御プログラム等をＲＯＭから読み出して実行するＣＰＵ（中央演算処理装置）等からなり、光学特性測定装置１０全体の動作制御を司るものである。具体的には、第１及び第２照明部２、３の点灯動作や２チャンネル分光部６の受光・分光動作に関する駆動制御を行ったり、２チャンネル分光部６からの情報（分光情報）に基づいて、被測定試料１に対する全分光放射輝度率の算出や相対分光感度の校正等に関する各種演算処理を実行する。制御部７のこれら各種演算機能等については後に詳述する。
【００５３】
このような各部を備える光学特性測定装置１０において、制御部７が第１駆動回路２２を介して（駆動させて）白熱ランプ２１を点灯させると、白熱ランプ２１は、被測定試料１を、該被測定試料１の法線に対して約４５°の方向から（入射角度で）光束２３で照明する。同様に、制御部７が第２駆動回路３２を駆動させて紫外ＬＥＤ３１を点灯すると、紫外ＬＥＤ３１は、被測定試料１を、上記４５°よりも法線に近い位置での方向（符号αに示す入射角度の方向）から光束３３により照明する。
【００５４】
ここで、本実施形態において、第１照明部２を照明部Ａとし、第１照明部２と第２照明部３とを合わせたものを照明部Ｂと表現するものとする。白熱ランプ２１（白熱光源）のみを光源とする照明部Ａによる照明光ＬＡは、励起域（紫外域）に殆ど強度を有さず、一方、白熱ランプ２１と紫外ＬＥＤ３１とを光源とする照明部Ｂの照明光ＬＢ、すなわち白熱ランプ２１と紫外ＬＥＤ３１とを同時に点灯させた場合の照明光ＬＢは、励起域に十分な強度を有する。照明部Ａ、Ｂは、いずれも白熱光源を備えて可視域に強度を有し、励起強度を可視域の各波長の強度で相対化することができるため、蛍光分光放射輝度率又は全分光放射輝度率を求めることができる（可視域に分光強度をもたない照明光を用いた測定では、上記相対化の演算が行えず、蛍光分光放射輝度率や全分光放射輝度率を求めることができない）。
【００５５】
上記照明光ＬＡ又は照明光ＬＢによって照明された被測定試料１からの放射光のうち、略法線方向の成分が受光部５によって２チャンネル分光部６の第1入射スリット６１に入射して分光測定され、第１チャンネル出力としてその分光分布Ｓｘ１（λ）又はＳｘ２（λ）が制御部７に出力される。一方、被測定試料１の測定域の近傍に配置された参照面部４が、被測定試料１の試料面と同時に照明光ＬＡ又は照明光ＬＢによって照明される。そして、この参照面からの反射光のうち、略法線方向の成分が受光部５によって２チャンネル分光部６の第２入射スリット６２に入射して分光測定され、第２チャンネル出力としてその分光分布Ｍｘ１（λ）又はＭｘ２（λ）が制御部７に出力される。
【００５６】
なお、第２照明部３における紫外ＬＥＤ３１の中心波長は約３７５ｎｍであり、図９の白熱光源及び紫外ＬＥＤの分光分布図に示すように（符号Ａは白熱光源の分光分布、符号Ｌは紫外ＬＥＤの分光分布を示す）、該紫外ＬＥＤ３１の中心波長３０１は一般的な蛍光増白剤の分光励起効率（相対分光励起効率）３０２のピーク近傍に位置する。分光励起効率とは、波長λの蛍光を励起する励起光の波長毎の励起効率を示し、照明光の分光分布との畳み込み積分によって、その照明光により励起される波長λの蛍光強度（積分励起）が求められるものである。なお、符号３０３に示すグラフは、上記蛍光増白剤の蛍光分光分布（相対蛍光分光分布）を示している。
【００５７】
また、本発明の技術は、照明光の分光分布を把握する必要性があるので、２チャンネル分光部６は、紫外ＬＥＤ３１による放射光の波長域を含む、約３６０ｎｍから７４０ｎｍの波長域をカバーする（この波長域の分光が可能である）。白熱ランプ２１及び紫外ＬＥＤ３１を光源とする照明部Ｂは、強い短パルス光で蛍光物質を照明したときに発生して問題となる（目視との互換性を崩す要因となる）トリプレット効果を生じない発光時間で発光する。このトリプレット効果とは、概略的に説明すると、発光時間が短く励起エネルギーの高い照明光により、分子の電子状態におけるＳ（Singlet）準位とＴ（Triplet）準位との間での遷移が起こるが（通常はこのＳ準位及びＴ準位間の遷移の確率は極めて低い）、これに伴って生じる励起（吸収）現象のことを言う。
【００５８】
また、光学特性測定装置１０での光学系は、上述のように第１照明部２と受光部５との組み合わせ（配置）により、４５／０ジオメトリー（反射特性の測定ジオメトリー４５°／０°）を構成している。このようなジオメトリーの目的は、被測定試料１からの正反射光の制御にあるが、可視域に分布をもたない第２照明部３による正反射光は測色に影響を与えることがないので、この第２照明部３は、ジオメトリーの制約を受けることなく任意に配置することができる。
【００５９】
ここで、制御部７における各機能部の詳細について説明する。制御部７は、図１に示すように、ＣＰＵ７０、分光データメモリ７１、評価用照明光データメモリ７２、二分光データメモリ７３、係数メモリ７４及び面積率メモリ７５等を備えている。ＣＰＵ７０は、第１及び第２照明部２、３、並びに２チャンネル分光部６の駆動制御に関する演算、或いは被測定試料１に対する全分光放射輝度率の算出や相対分光感度の校正等に関する演算等の各種演算処理を行う上記中央演算処理装置（ＣＰＵ）である。分光データメモリ７１は、２チャンネル分光部６で分光測定され、該２チャンネル分光部６から送信されてきた放射光及び照明光の分光分布データを記憶するものである。評価用照明光データメモリ７２は、予め与えられた評価用照明光の分光分布データを記憶するものである。二分光データメモリ７３は、予め求められた、被測定試料１（蛍光試料）と近似の二分光蛍光放射輝度率データを記憶するものである。
【００６０】
係数メモリ７４は、２チャンネル分光部６の相対分光感度を校正する感度校正係数、参照面部４からの反射光（以降、参照面反射光という）の分光分布を、被測定試料１に対する照明光（以降、試料面照明光という）の分光分布に変換する変換係数、及び被測定試料１からの放射光（以降、試料放射光という）と参照面反射光との分光分布から、被測定試料１の全分光放射輝度率を求める校正係数等の係数データを記憶するものである。面積率メモリ７５は、後述の印刷面の測色で用いられる各インクとそれらの組み合わせによる印刷部分の面積率（面積率データ）を記憶するものである。
【００６１】
制御部７は、上記各メモリ部に記憶された、放射光及び照明光の分光分布データ、評価用照明の分光分布データ、二分光蛍光放射輝度率データ、感度校正係数、変換係数及び校正係数等のデータに基づいて、以下、（Ａ）、（Ｂ）に関する測定制御（演算）を行う。
【００６２】
（Ａ）評価用照明光で照明したときの全分光放射輝度率
＜測定の原理＞
一般に、蛍光試料は、或る評価用照明光Ｉｓで照明したときの該蛍光試料の分光放射輝度率を得るために、上記二分光器法測定器、或いは評価用照明光Ｉｓと同じ分光分布の照明光をもつ測定器を用いなければならないが、本実施形態においては、特定の二分光蛍光放射輝度率に近似した励起・蛍光特性を有する蛍光試料について、特定の評価用照明光と同じ蛍光分光放射輝度率を与える仮想的な照明光を数値的に合成する。すなわち、蛍光試料の二分光蛍光放射輝度率をＦ（μ，λ）とし、評価用照明光Ｉｓと、上記数値的に合成される照明光（以降、合成照明光という）Ｉｃとの分光分布をそれぞれＩｓ（λ）、Ｉｃ（λ）とすると、上記式（２）から、各照明光による蛍光分光放射輝度率Ｆ（λ）（＝∫Ｆ（μ，λ）・Ｉ（μ）ｄμ／Ｉ（λ））が以下の式（５）となる合成照明光Ｉｃを、分光分布、特に励起域と蛍光域の相対強度の異なる２つの照明光Ｉ１、Ｉ２の線形結合による合成によって求める。ただし、分光分布Ｉ（λ）は、上述で説明したように比例定数を別にすれば、完全拡散反射体（面）からの反射光と等価である。
∫Ｆ（μ，λ）・Ｉｓ（μ）ｄμ／Ｉｓ（λ）＝∫Ｆ（μ，λ）・Ｉｃ（μ）ｄμ／Ｉｃ（λ）…（５）
【００６３】
この照明光Ｉ１、Ｉ２の重みつき線形結合による合成においては、波長毎に設定される線形結合の重みをＷ（λ）及び１−Ｗ（λ）とすると、合成照明光Ｉｃの分光分布Ｉｃ（λ）は、照明光Ｉ１、Ｉ２の分光分布Ｉ１（λ）、Ｉ２（λ）を用いて以下の式（６）で表される。
Iｃ（λ）＝Ｗ（λ）・Ｉ１（λ）＋（１−Ｗ（λ））・Ｉ２（λ）…（６）
【００６４】
これにより、合成照明光Ｉｃによる蛍光分光放射輝度率Ｆｃ（λ）は、以下の式（７）で表され、
Ｆｃ（λ）＝∫Ｆ（μ，λ）・Ｉｃ（μ）ｄμ／Ｉｃ（λ）＝∫Ｆ（μ，λ）・［Ｗ（λ）・Ｉ１（μ）＋（１−Ｗ（λ））・Ｉ２（μ）］ｄμ／［Ｗ（λ）・Ｉ１（λ）＋（１−Ｗ（λ））・Ｉ２（λ）］…（７）
【００６５】
したがって、上記式（５）は以下の式（８）に書き換えられる。
∫Ｆ（μ，λ）・Ｉｓ（μ）ｄμ／Ｉｓ（λ）＝∫Ｆ（μ，λ）・［Ｗ（λ）・Ｉ１（μ）＋（１−Ｗ（λ））・Ｉ２（μ）］ｄμ／［Ｗ（λ）・Ｉ１（λ）＋（１−Ｗ（λ））・Ｉ２（λ）］…（８）
【００６６】
そして、上記式（８）から重みＷ（λ）を算出する、すなわち式（８）の二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）と評価用照明光Ｉｓの分光分布Ｉｓ（λ）＝Ｉｓ（μ）とを予め数値データとして与えておき（設定して記憶しておき）、一方、照明光（実照明光）Ｉ１、Ｉ２の分光分布Ｉ１（λ）、Ｉ２（λ）は実測により求めておき（具体的には、実測した参照面反射光の分光分布から変換してＩ１（λ）、Ｉ２（λ）を求める）、演算処理のみによって重みＷ（λ）を算出する。そして、この重みＷ（λ）を用いて、当該算出に用いた二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）と近似の二分光蛍光放射輝度率をもつ蛍光試料を同じ評価用照明光Ｉｓで照明したときの全分光放射輝度率Ｂｘｓ（λ）を算出する。すなわち、蛍光試料を照明光Ｉ１、Ｉ２で照明したときの試料面放射光の分光分布Ｓｘ１（λ）、Ｓｘ２（λ）と当該照明光Ｉ１、Ｉ２の分光分布Ｉ１（λ）、Ｉ２（λ）とを、それぞれ重みＷ（λ）、（１−Ｗ（λ））による線形結合によって合成する以下の式（９）、（１０）が与えるＳｘｃ（λ）及びＩｃ（λ）と、
Ｓｘｃ（λ）＝Ｗ（λ）・Ｓｘ１（λ）＋（１−Ｗ（λ））・Ｓｘ２（λ）…（９）
Ｉｃ（λ）＝Ｗ（λ）・Ｉ１（λ）＋（１−Ｗ（λ））・Ｉ２（λ）…（１０）
（但し、Ｓｘｃ（λ）は合成照明光Ｉｃで照明されるときの前記試料の放射光の分光分布を、Ｉｃ（λ）は照明光Ｉ１、Ｉ２の重みつき線形結合によって合成される合成照明光Ｉｃの分光分布を示す。）
校正定数Ｃ（λ）とによって、以下の式（１１）により全分光放射輝度率Ｂｓ（λ）が求められる。
Ｂｓ（λ）＝Ｃ（λ）・Ｓｃ（λ）／Ｉｃ（λ）…（１１）
【００６７】
ところで、上述での各演算処理は、本発明のように照明光Ｉ１、Ｉ２が共に可視域に強度を有するものとすることにより（具体的には、例えば照明光Ｉ１を上記照明光ＬＡ、照明光Ｉ２を照明光ＬＢとする）、簡略化することが可能となる。すなわち、照明光Ｉ１、Ｉ２を可視域における波長λでの強度で相対化した、照明光Ｉ１（μ）／Ｉ１（λ）、Ｉ２（μ）／Ｉ２（λ）を想定し、Ｉ１λ（μ）、Ｉ２λ（μ）とする（Ｉ１λ（μ）＝Ｉ１（μ）／Ｉ１（λ）、Ｉ２λ（μ）＝Ｉ２（μ）／Ｉ２（λ）。したがって、Ｉ１λ（λ）＝Ｉ２λ（λ）＝１）。このことで、可視域での波長λ毎に異なる光源が想定されことになる。この場合、上記式（８）の右辺の分母は［Ｗ（λ）・Ｉ１λ（λ）＋（１−Ｗ（λ））・Ｉ２λ（λ）］となり、その値は常に「１」となる。したがって、式（７）は以下の式（１２）に示すように書き換えられ、合成照明光Ｉｃによる蛍光分光放射輝度率Ｆｃ（λ）は、各照明光Ｉ１、Ｉ２による蛍光分光放射輝度率の線形結合で表されるものとなる。
∫Ｆ（μ，λ）・Ｉｃ（μ）ｄμ／Ｉｃ（λ）＝Ｗ（λ）・∫Ｆ（μ，λ）・Ｉ１λ（μ）ｄμ＋（１−Ｗ（λ））・∫Ｆ（μ，λ）・Ｉ２λ（μ）ｄμ＝Ｗ（λ）・∫Ｆ（μ，λ）・Ｉ１（μ）ｄμ／Ｉ１（λ）＋（１−Ｗ（λ））・∫Ｆ（μ，λ）・Ｉ２（μ）ｄμ／Ｉ２（λ） …（１２）
【００６８】
これにより、上記式（５）は以下の式（１３）に書き換えることができる。
∫Ｆ（μ，λ）・Ｉｓ（μ）ｄμ／Ｉｓ（λ）＝Ｗ（λ）・∫Ｆ（μ，λ）・Ｉ１（μ）ｄμ／Ｉ１（λ）＋（１−Ｗ（λ））・∫Ｆ（μ，λ）・Ｉ２（μ）ｄμ／Ｉ２（λ） …（１３）
【００６９】
なお、式（１２）は、蛍光分光放射輝度率Ｆｃ（λ）が、波長λでの強度が共に「１」で波長λ毎に異なる２つの仮想的な照明光、Ｉ１λ（μ）＝Ｉ１（μ）／Ｉ１（λ）とＩ２λ（μ）＝Ｉ２（μ）／Ｉ２（λ）を重みＷ（λ）、１−Ｗ（λ）で加算した、以下の式（１２’）に示す可視域の波長λ毎に異なる合成照明光Ｉｃ（μ）によって得られることを示している。
Ｉｃ（μ）＝Ｗ（λ）・Ｉ１（μ）／Ｉ１（λ）＋（１−Ｗ（λ））・Ｉ２（μ）／Ｉ２（λ）…（１２’）
【００７０】
上述における式（８）から重みＷ（λ）を求めた場合と同様、上記式（１３）についても、蛍光試料の二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）と、評価用照明光Ｉｓの分光分布Ｉｓ（λ）と、２つの照明光Ｉ１、Ｉ２の分光分布Ｉ１（λ）、Ｉ２（λ）とが与えられれば、重みＷ（λ）を演算処理だけで求めることができる。
【００７１】
なお、従来（特許文献１）の方法では、実照明光Ｉ１、Ｉ２の分光分布Ｉ１（λ）、Ｉ２（λ）が未知であるため、式（１３）の右辺の積分を、蛍光基準試料の全分光放射輝度率の実測に置き換えているものと考えることができる。
【００７２】
このようにして式（１３）から算出したＷ（λ）を、当該算出に用いた二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）と近似の二分光蛍光放射輝度率をもつ蛍光試料に対して用い、合成照明光Ｉｃによる蛍光試料の蛍光分光放射輝度率Ｆｘｃ（λ）を、各照明光Ｉ１、Ｉ２（照明光ＬＡ、ＬＢ）による試料の蛍光分光放射輝度率Ｆｘ１（λ）、Ｆｘ２（λ）の線形結合で表すことができる（以下、式（１４）参照）。
Ｆｘｃ（λ）＝Ｗ（λ）・Ｆｘ１（λ）＋（１−Ｗ（λ））・Ｆｘ２（λ）…（１４）
【００７３】
また、蛍光分光放射輝度率Ｆｘｃ（λ）と照明光に依存しない反射分光放射輝度率Ｒｘｃ（λ）との和である全分光放射輝度率Ｂｘｃ（λ）についても、上記と同じ重みＷ（λ）を用いて、各照明光Ｉ１、Ｉ２により蛍光試料を実測して得た全分光放射輝度率Ｂｘ１（λ）とＢｘ２（λ）との線形結合により求めることができる（以下、式（１５）参照）。
Ｂｘｃ（λ）＝Ｗ（λ）・Ｂｘ１（λ）＋（１−Ｗ（λ））・Ｂｘ２（λ）…（１５）
【００７４】
上述では、二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）を与えて式（８）或いは式（１３）によって重みＷ（λ）を求めているが、式（１）からＦｃ（λ）＝Ｆｓ（λ）であればＢｃ（λ）＝Ｂｓ（λ）であるので、式（８）或いは式（１３）のＦ（μ，λ）を二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）に置き換え、上述と同様に重みＷ（λ）を求めることができる。
【００７５】
ところで、上記蛍光試料の光学特性測定に先立って２種類の校正が必要となる。これら校正について以下に説明する。
＜１．分光手段の相対分光感度校正＞
上述したように本実施形態の方法では、測定器の実照明光の分光分布を把握することが必要であり、そのために、製造時等において予め放射光分光手段（ここでは２チャンネル分光部６）の相対分光感度の校正が行われる。まず、放射光分光手段を公知の方法によって波長校正し、更にＡ光源など既知の分光分布Ａ（λ）を有する光源からの光束を入射させて得た出力Ｓａ（λ）から、感度校正係数Ｇ（λ）が求められる（以下、式（１６）参照）。
Ｇ（λ）＝Ａ（λ）／Ｓａ（λ）…（１６）
【００７６】
＜２．白色校正＞
測定に先立って（前段階で）行われる白色校正では、反射分光放射輝度率Ｒｗ（λ）が既知であり、蛍光特性をもたない白色校正板を、照明光Ｉ１及びＩ２（照明光ＬＡ及び照明光ＬＢ）で照明したときの、試料放射光（白色校正板からの放射光）の分光分布Ｓｗ１（λ） 、Ｓｗ２（λ）と、参照面反射光（参照面部４からの反射光）の分光分布Ｍｗ１（λ）、Ｍｗ２（λ）とから、以下、＜１＞、＜２＞に示す２種類の係数が求められる。
【００７７】
＜１＞参照面反射光の分光分布Ｍｘ１（λ）、Ｍｘ２（λ）を分光分布Ｉ１（λ）、Ｉ２（λ）に変換するための変換係数Ｄ１（λ）、Ｄ２（λ）。
【００７８】
この場合、既知の反射分光放射輝度率Ｒｗ（λ）を有する白色校正板を照明光Ｉ１及びＩ２で照明したときの、当該試料面反射光の分光分布Ｓｗ１（λ）、Ｓｗ２（λ）と、参照面反射光の分光分布Ｍｗ１（λ）、Ｍｗ２（λ）と、上記式（１６）に示す感度校正係数Ｇ（λ）とから、以下の式（１７）、（１８）によって、測定時の参照面反射光の分光分布Ｍｘ１（λ）、Ｍｘ２（λ）を、試料面照明光の分光分布Ｉ１（λ）、Ｉ２（λ）に変換する変換係数Ｄ１（λ）、Ｄ２（λ）を求める。
Ｄ１（λ）＝［Ｇ（λ）・Ｓｗ１（λ）］／［Ｍｗ１（λ）・Ｒｗ（λ）］…（１７）
Ｄ２（λ）＝［Ｇ（λ）・Ｓｗ２（λ）］／［Ｍｗ２（λ）・Ｒｗ（λ）］…（１８）
【００７９】
これにより、蛍光試料測定時、参照面反射光の分光分布がＭｘ１（λ）、Ｍｘ２（λ）であるとすると、試料面照明光の分光分布Ｉ１（λ）、Ｉ２（λ）が、該変換係数Ｄ１（λ）、Ｄ２（λ）を用いて以下の式（１９）、（２０）により求められる。
Ｉ１（λ）＝Ｄ１（λ）・Ｍｘ１（λ）…（１９）
Ｉ２（λ）＝Ｄ２（λ）・Ｍｘ２（λ）…（２０）
【００８０】
＜２＞測定時、照明光Ｉ１及びＩ２で照明した試料放射光の分光分布Ｓｘ１（λ）、Ｓｘ２（λ）と参照面反射光の分光分布Ｍｘ１（λ）、Ｍｘ２（λ）とから、蛍光試料の全分光放射輝度率Ｂｘ１（λ）、Ｂｘ２（λ）を求めるための校正係数Ｃ１（λ）、Ｃ２（λ）。
【００８１】
この場合、上記＜１＞における、既知の反射分光放射輝度率Ｒｗ（λ）と、白色校正板を照明光Ｉ１及びＩ２で照明したときの試料面反射光の分光分布Ｓｗ１（λ）、Ｓｗ２（λ）と参照面反射光の分光分布Ｍｗ１（λ）、Ｍｗ２（λ）とから、以下の式（２１）、（２２）によって校正係数Ｃ１（λ）、Ｃ２（λ）を求める。
Ｃ１（λ）＝ Ｒｗ（λ）／[Ｓｗ１（λ）／Ｍｗ１（λ）] …（２１）
Ｃ２（λ）＝ Ｒｗ（λ）／[Ｓｗ２（λ）／Ｍｗ２（λ）] …（２２）
【００８２】
これにより、蛍光試料測定時、照明光Ｉ１及びＩ２で照明された試料面放射光及び参照面反射光の分光分布が、Ｓｘ１（λ）、Ｓｘ２（λ）、及びＭｘ１（λ）、Ｍｘ２（λ）とすれば、試料面の全分光放射輝度率Ｂｘ１（λ）、Ｂｘ２（λ）は以下の式（２３）、（２４）により求められる。
Ｂｘ１（λ）＝Ｃ１（λ）・Ｓｘ１（λ）／Ｍｘ１（λ）…（２３）
Ｂｘ２（λ）＝Ｃ２（λ）・Ｓｘ２（λ）／Ｍｘ２（λ）…（２４）
【００８３】
なお、上述の評価用照明光で照明したときの全分光放射輝度率の測定原理は、以下のように要約されるものであると言うこともできる。
ａ１．任意の照明光で照明された蛍光試料が放射する蛍光の分光特性は、照明光の分光分布と試料の二分光蛍光放射輝度率によって求められる（式（２）参照）。
ａ２．したがって、照明光の分光分布が既知であれば、既知の二分光蛍光放射輝度率をもつ仮想的な蛍光基準試料の全分光放射輝度率を算出でき、現実の蛍光基準試料に置き換えることができる。
ａ３．仮想的な蛍光基準試料について、上述の特許文献１の方法を適用する。
ａ４．評価用照明光の分光分布は予めデータとして与えておき、測定装置の照明光（実照明光）の分光分布は実測で求める。
【００８４】
＜蛍光試料の全分光放射輝度率の測定手順＞
光学特性測定装置１０による蛍光試料の全分光放射輝度率の測定手順としては、予め行われる図３のフローに示す白色校正後、図４に示すフローに沿って当該全分光放射輝度率の測定を行う。図３は、白色校正に関する動作の一例を示すフローチャートである。まず、制御部７は、測定開口に配設した白色校正用の試料、すなわち反射分光放射輝度率Ｒｗ（λ）が既知であり蛍光特性のない白色校正板に対して、第１照明部２（白熱ランプ２１）を点灯させて照明光ＬＡ（照明光Ｉ１）によって照明する（ステップＳ１）。そして、２チャンネル分光部６（放射光分光手段）によって、当該照明光ＬＡによる試料反射光（ここでは、蛍光特性のない白色校正板に対する試料放射光であるので、試料反射光となる）の分光分布Ｓｗ１（λ）を測定するとともに、照明光ＬＡの参照面反射光の分光分布Ｍｗ１（λ）を測定し、これらＳｗ１（λ）及びＭｗ１（λ）の分光分布情報を分光データメモリ７１に保存する（ステップＳ２）。
【００８５】
続いて、制御部７は、上記ステップＳ１での第１照明部２の点灯を維持した状態で、第２照明部３（紫外ＬＥＤ３１）を点灯して、その結果、第１及び第２照明部２、３による照明光ＬＢ（照明光Ｉ２）によって被測定試料１を照明し（ステップＳ３）、ステップＳ２と同様に、２チャンネル分光部６によって、当該照明光ＬＢによる試料反射光の分光分布Ｓｗ２（λ）を測定するとともに、照明光ＬＢの参照面反射光の分光分布Ｍｗ２（λ）を測定し、これらＳｗ２（λ）及びＭｗ２（λ）の分光分布情報を分光データメモリ７１に保存する（ステップＳ４）。そして、第１及び第２照明部２、３を消灯する（ステップＳ５）。
【００８６】
そして、上記ステップＳ２及びＳ４において求めた試料面反射光の分光分布Ｓｗ１（λ）、Ｓｗ２（λ）と参照面反射光の分光分布Ｍｗ１（λ）、Ｍｗ２（λ）と、上述の式（１６）に示す感度校正係数Ｇ（λ）とから、上述の式（１７）、（１８）によって、測定時の参照面反射光の分光分布Ｍｘ１（λ）、Ｍｘ２（λ）を、試料面照明光の分光分布Ｉ１（λ）、Ｉ２（λ）に変換するための変換係数Ｄ１（λ）、Ｄ２（λ）を算出する（ステップＳ６）。
【００８７】
さらに、上記ステップＳ２及びＳ４において求めた試料面反射光の分光分布Ｓｗ１（λ）、Ｓｗ２（λ）と参照面反射光の分光分布Ｍｗ１（λ）、Ｍｗ２（λ）と、上記既知の反射分光輝度率Ｒｗ（λ）とから、上述の式（２１）、（２２）によって校正係数Ｃ１（λ）、Ｃ２（λ）を算出する（ステップＳ７）。そして、上記ステップＳ６において算出した変換係数Ｄ１（λ）、Ｄ２（λ）及びステップＳ７において算出した校正係数Ｃ１（λ）、Ｃ２（λ）のデータを所定の記憶部、例えば係数メモリ７４に記憶しておく（ステップＳ８）。
【００８８】
図４は、光学特性測定装置による蛍光試料の全分光放射輝度率の測定に関する動作の一例を示すフローチャートである。まず、測定に先立って評価用照明光Ｉｓを選択する。すなわち制御部７は、評価用照明光データメモリ７２から、選択する評価用照明光Ｉｓの分光分布データＩｓ（λ）（すなわち分光分布Ｉｓ（μ））を読み出す（ステップＳ１１）。続いて、被測定試料１のタイプ（種類）を選択する。すなわち制御部７（ＣＰＵ７０）は、二分光データメモリ７３から、被測定試料に近似するタイプの二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）のデータを読み出す（ステップＳ１２）。次に、制御部７は、測定開口に配設された被測定試料１に対し、第１照明部２（白熱ランプ２１）を点灯して照明光ＬＡ（照明光Ｉ１）によって照明する（ステップＳ１３）。そして、２チャンネル分光部６（放射光分光手段）によって、当該照明光ＬＡによる試料放射光の分光分布Ｓｘ１（λ）を測定するとともに、照明光ＬＡの参照面反射光の分光分布Ｍｘ１（λ）を測定し、これらＳｘ１（λ）及びＭｘ１（λ）の分光分布情報を分光データメモリ７１に保存する（ステップＳ１４）。
【００８９】
続いて、制御部７は、上記ステップＳ１３での第１照明部２の点灯を維持した状態で、第２照明部３（紫外ＬＥＤ３１）を点灯して、第１及び第２照明部２、３による照明光ＬＢ（照明光Ｉ２）によって被測定試料１を照明し（ステップＳ１５）、ステップＳ１４と同様に、２チャンネル分光部６によって、当該照明光ＬＢによる試料放射光の分光分布Ｓｘ２（λ）を測定するとともに、照明光ＬＢの参照面反射光の分光分布Ｍｘ２（λ）を測定し、これらＳｘ２（λ）及びＭｘ２（λ）の分光分布情報を分光データメモリ７１に保存する（ステップＳ１６）。そして、第１及び第２照明部２、３を消灯する（ステップＳ１７）。
【００９０】
次に、制御部７は、上記ステップＳ１１、Ｓ１２においてそれぞれ読み出した分光分布データＩｓ（λ）＝Ｉｓ（μ）と二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）とから、以下の式（２５）によって評価用照明光による蛍光分光放射輝度率Ｆｓ（λ）を算出する（ステップＳ１８）。
Ｆｓ（λ）＝∫Ｆ（μ，λ）・Ｉｓ（μ）ｄμ／Ｉｓ（λ）…（２５）
【００９１】
そして、上述の式（１９）、（２０）によって、それぞれ照明光ＬＡ、ＬＢの参照面反射光の分光分布Ｍｘ１（λ）、Ｍｘ２（λ）を、試料面照明光（照明光ＬＡ、ＬＢ）の分光分布Ｉ１（λ）、Ｉ２（λ）に変換し（ステップＳ１９）、当該変換して求めた分光分布Ｉ１（λ）、Ｉ２（λ）（すなわち分光分布Ｉ１（μ）、Ｉ２（μ））と二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）とから、以下の式（２６）、（２７）によって照明光ＬＡ、ＬＢ（照明光Ｉ１、Ｉ２）による蛍光分光放射輝度率Ｆ１（λ）、Ｆ２（λ）を算出する（ステップＳ２０）。
Ｆ１（λ）＝∫Ｆ（μ，λ）・Ｉ１（μ）ｄμ／Ｉ１（λ）…（２６）
Ｆ２（λ）＝∫Ｆ（μ，λ）・Ｉ２（μ）ｄμ／Ｉ２（λ）…（２７）
【００９２】
次に、当該算出した蛍光分光放射輝度率Ｆ１（λ）、Ｆ２（λ）と、上記ステップＳ１８で求めた蛍光分光放射輝度率Ｆｓ（λ）とによる以下の式（２８）を波長毎に解くことで、重みＷ（λ）を求める（ステップＳ２１）。
Ｗ（λ）・Ｆ１（λ）＋（１−Ｗ（λ））・Ｆ２（λ）＝Ｆｓ（λ）…（２８）
そして、上記ステップＳ１４、１６において保存されたＭｘ１（λ）、Ｍｘ２（λ）と、Ｓｘ１（λ）、Ｓｘ２（λ）とから、上述の式（２３）、（２４）を用いて、照明光ＬＡ、ＬＢによる全分光放射輝度率Ｂｘ１（λ）、Ｂｘ２（λ）を算出し（ステップＳ２２）、当該算出されたＢｘ１（λ）、Ｂｘ２（λ）と、上記ステップＳ２１において算出した重みＷ（λ）とから、以下の式（２９）によって評価用照明光による全分光放射輝度率Ｂｘｓ（λ）を算出する（ステップＳ２３）。
Ｂｘｓ（λ）＝ Ｗ（λ）・Ｂｘ１（λ）＋（１−Ｗ（λ））・Ｂｘ２（λ）…（２９）
【００９３】
（Ｂ）蛍光増白紙上の印刷面の分光放射輝度率
＜測定の原理＞
通常、印刷の着色は、Ｙ、Ｍ、Ｃ、Ｋの４種のインクが用紙の上に大きさの異なるドットとして付着することによる。Ｋインクは吸収特性が波長に依存しないため、蛍光増白紙に到達する照明光の相対分光分布に影響しないので、ここでは図１２（ａ）に示すように、ＹＭＣインクについて考える。この場合、例えば図１２（ｂ）に示すように、インクは互いに重なることがあり、印刷面は、Ｙ、Ｍ及びＣと、各インクの重なり部分のＹＭ、ＭＣ、ＣＹ、及びＹＭＣと、非印刷面とで構成される。蛍光増白紙における印刷面も上述のように各インクが付着しているので、測定域の励起は、各インク及び各インクの重なり部分の分光透過率、及び測定域に占めるそれらによる印刷部分の面積率、つまり色に依存する。
【００９４】
ここで、図２を用いて、上記各インク及び各インクの重なりについての概念を説明する。ここでは、ＹＭＣインクのうちのＹ、Ｍインクの場合について説明する。図２（ａ）は、蛍光増白紙上にＹ、Ｍインクが付着している場合を概略的に示す断面図であり、図２（ｂ）は、図２（ａ）に示すＹ、Ｍインクが付着した蛍光増白紙の上面図である。
【００９５】
照明光の単位面積あたりの分光強度をＩ（λ）とし、また、Ｙインク及びＭインクの分光透過率をそれぞれＴｙ（λ）、Ｔｍ（λ）とすると、非印刷部Ｗでは、Ｉ（λ）がそのまま蛍光増白紙に到達するが、Ｙインクのみの部分であるＹインク印刷部Ｐｙでは、このＩ（λ）の一部であるＩ（λ）・Ｔｙ（λ）が蛍光増白紙に到達する。同様に、Ｍインクのみの部分であるＭインク印刷部Ｐｍと、ＹインクとＭインクとの重なり部分であるＹＭインク印刷部Ｐｙｍに入射した照明光も、それぞれＩ（λ）・Ｔｍ（λ）、Ｉ（λ）・Ｔｙ（λ）・Ｔｍ（λ）が蛍光増白紙に到達する。
【００９６】
したがって、測定域全体で、蛍光増白紙の単位面積に到達する実効的な照明光の分光強度Ｉｅ（λ）は、上記Ｉ（λ）・Ｔｙ（λ）、Ｉ（λ）・Ｔｍ（λ）、Ｉ（λ）・Ｔｙ（λ）・Ｔｍ（λ）、及びＩ（λ）に対し、図２（ｂ）に示す各印刷部Ｐｙ、Ｐｍ、Ｐｙｍ及び非印刷部Ｗの面積率Ｐ％ｙ、Ｐ％ｍ、Ｐ％ｙｍ、及びＰ％ｗ（＝１−（Ｐ％ｙ＋Ｐ％ｍ＋Ｐ％ｙｍ））に応じた重みをつけて合計したものとなる（以下、式（３０）参照）。
Ｉｅ（λ）＝［Ｐ％ｙ・Ｉ（λ）・Ｔｙ（λ）＋Ｐ％ｍ・Ｉ（λ）・Ｔｍ（λ）＋Ｐ％ｙｍ・Ｉ（λ）・Ｔｙ（λ）・Ｔｍ（λ）＋Ｐ％ｗ・Ｉ（λ）］…（３０）
【００９７】
上記式（２）の関係から、この照明光によって励起される蛍光の分光分布Ｆ（λ）は以下の式（３１）で与えられるが、
Ｆ（λ）＝∫Ｉｅ（μ）・Ｆ（μ，λ）ｄμ
＝Ｉ（λ）・［Ｐ％ｙ・Ｔｙ（μ）＋Ｐ％ｍ・Ｔｍ（μ）＋Ｐ％ｙｍ・Ｔｙ（μ）・Ｔｍ（μ）＋Ｐ％ｗ］・Ｆ（μ，λ）…（３１）
【００９８】
上記式（３１）の右辺の［Ｐ％ｙ・Ｔｙ（μ）＋Ｐ％ｍ・Ｔｍ（μ）＋Ｐ％ｙｍ・Ｔｙ（μ）・Ｔｍ（μ）＋Ｐ％ｗ］・Ｆ（μ，λ）を、実効二分光蛍光放射輝度率Ｆｅ（μ，λ）とすると、以下の式（３２）で表される。
Ｆ（λ）＝∫Ｉ（μ）・Ｆｅ（μ，λ）ｄμ…（３２）
【００９９】
ここで、インクの種類を上記Ｙ、Ｍの２種類から、実際の測色におけるＹ、Ｍ、Ｃ、Ｋの全インク（４種類）に拡張する。当該各インクとそれらの組み合わせ（ｙ、ｍ、ｃ、ｙｍ、ｍｃ、ｃｙ、ｙｍｃ及びｋで表す）の面積率を上記と同様に、Ｐ％ｙ、Ｐ％ｍ、Ｐ％ｃ、Ｐ％ｙｍ、Ｐ％ｍｃ、Ｐ％ｃｙ、Ｐ％ｙｍｃ及びＰ％ｋとすると、これらの面積率を、白熱ランプ２１を光源とする第１照明部２の照明による実測の全分光放射輝度率から公知の方法で求める。
【０１００】
白熱ランプ２１は相対紫外強度が極めて低いため、この実測全分光放射輝度率から求めた面積率は蛍光の影響に起因する誤差を殆ど含まない。この面積率算出の基準として、非印刷部と各インク及び各インクの組み合わせ（例えば重ね合わせ）によって面積率１００％で印刷した面（基準印刷面）の第１照明部２による全分光放射輝度率Ｂｗ１（λ）とＢｙ１（λ）、Ｂｍ１（λ）、Ｂｃ１（λ）、Ｂｙｍ１（λ）、Ｂｍｃ１（λ）、Ｂｃｙ１（λ）、Ｂｙｍｃ１（λ）及びＢｋ１（λ）とを予め測定して、例えば二分光データメモリ７３に記憶しておく。
【０１０１】
上記公知の方法で求めた印刷部分の面積率Ｐ％ｙ、Ｐ％ｍ、Ｐ％ｃ、Ｐ％ｙｍ、Ｐ％ｍｃ、Ｐ％ｃｙ、Ｐ％ｙｍｃ及びＰ％ｋと、非印刷部Ｗの面積率Ｐ％ｗ＝１−ΣＰ％（但し、ΣＰ％は全ての印刷部の面積率の合計）と、予め設定、記憶されている印刷用紙の二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）と、各インクの分光透過率Ｔｙ（λ）、Ｔｍ（λ）及びＴｃ（λ）とから、被測定印刷面の実効的な二分光蛍光放射輝度率（以降、実効二分光蛍光放射輝度率という）Ｆｅ（μ，λ）を以下の式（３３）によって推定（算出）する。ただし、当該各インクの分光透過率Ｔｙ（λ）、Ｔｍ（λ）及びＴｃ（λ）も予め設定、記憶（例えば面積率メモリ７５に記憶）されている（数値データとして与えられている）。また、分光透過率に波長依存性がないＫインクは、非印刷部Ｗの面積率Ｐ％ｗにのみ影響するので、ＹＭＣインクのような処理は必要ない。
Ｆｅ（μ，λ）＝［Ｐ％ｙ・Ｔｙ（μ）＋Ｐ％ｍ・Ｔｍ（μ）＋Ｐ％ｃ・Ｔｃ（μ）＋Ｐ％ｙｍ・Ｔｙ（μ）・Ｔｍ（μ）＋Ｐ％ｍｃ・Ｔｍ（μ）・Ｔｃ（μ）＋Ｐ％ｃｙ・Ｔｃ（μ）・Ｔｙ（μ）＋Ｐ％ｙｍｃ・Ｔｙ（μ）・Ｔｍ（μ）・Ｔｃ（μ）＋Ｐ％ｗ］・Ｆ（μ，λ）…（３３）
【０１０２】
また、上述では各インクの組み合わせの分光透過率Ｔｙｍ（λ）、Ｔｍｃ（λ）、Ｔｃｙ（λ）及びＴｙｍｃ（λ）を、各インク分光透過率Ｔｙ（λ）、Ｔｍ（λ）及びＴｃ（λ）の積で求めているが、各インクの組み合わせの分光透過率Ｔｙｍ（λ）、Ｔｍｃ（λ）、Ｔｃｙ（λ）及びＴｙｍｃ（λ）を設定・記憶してもよい（以下、式（３３’）参照）。
Ｆｅ（μ，λ）＝［Ｐ％ｙ・Ｔｙ（μ）＋Ｐ％ｍ・Ｔｍ（μ）＋Ｐ％ｃ・Ｔｃ（μ）＋Ｐ％ｙｍ・Ｔｙｍ（μ）＋Ｐ％ｍｃ・Ｔｍｃ（μ）＋Ｐ％ｃｙ・Ｔｃｙ（μ）＋Ｐ％ｙｍｃ・Ｔｙｍｃ（μ）＋Ｐ％ｗ］・Ｆ（μ，λ）…（３３’）
【０１０３】
このように推定した実効二分光蛍光放射輝度率Ｆｅ（μ，λ）に基づき、上述の（Ａ）における測定の場合と同様の手順によって、評価用照明光で照明したときの被測定印刷面の全分光放射輝度率を算出する。
【０１０４】
また、上記ＹＭＣＫ各インクの面積率と、予め求められたＹＭＣ各インク及びそれらの組み合わせによる面積率１００％の印刷面の二分光蛍光放射輝度率Ｆｙ（μ，λ）、Ｆｍ（μ，λ）、Ｆｃ（μ，λ）、Ｆｙｍ（μ，λ）、Ｆｍｃ（μ，λ）、Ｆｃｙ（μ，λ）及びＦｙｍｃ（μ，λ）とから、上記実効二分光蛍光放射輝度率Ｆｅ（μ，λ）を求めてもよい（以下、式（３４）参照）。
Ｆｅ（μ，λ）＝Ｐ％ｙ・Ｆｙ（μ，λ）＋Ｐ％ｍ・Ｆｍ（μ，λ）＋Ｐ％ｃ・Ｆｃ（μ，λ）＋Ｐ％ｙｍ・Ｆｙｍ（μ，λ）＋Ｐ％ｍｃ・Ｆｍｃ（μ，λ）＋Ｐ％ｃｙ・Ｆｃｙ（μ，λ）＋Ｐ％ｙｍｃ・Ｆｙｍｃ（μ，λ）＋Ｐ％ｗ・Ｆ（μ，λ）…（３４）
【０１０５】
各インクの分光透過率Ｔｙ（λ）、Ｔｍ（λ）、Ｔｃ（λ）、或いは、各インク及び各インクの組み合せの分光透過率Ｔｙ（λ）、Ｔｍ（λ）、Ｔｃ（λ）、Ｔｙｍ（λ）、Ｔｍｃ（λ）、Ｔｃｙ（λ）及びＴｙｍｃ（λ）は、それぞれ同じインクによる、すなわち、各インク単体でのインク層及び各インクを組み合わせて（例えば重ね合わせて）なる組み合わせインク層による、面積率１００％の基準印刷面（当該インク層と同一の又はこのインク層に近似した基準印刷面）の分光透過率として予め与えておくことができる。しかしながら、上述のように同じインクを用いた面積率１００％の印刷面であっても、インクのロットや印刷機の、環境温度などの印刷条件によって、インク層の厚みやインク濃度が異なるため、被測定印刷面とは印刷条件の異なる基準印刷面の分光透過率を用いて求めた上記実効二分光蛍光放射輝度率Ｆｅ（μ，λ）やこれに基づく全分光放射輝度率は無視できない誤差を含むことになる。以下にその一例として、各インク及びこれらインクの組み合わせの分光透過率Ｔｙ（λ）、Ｔｍ（λ）、Ｔｃ（λ）、Ｔｙｍ（λ）、Ｔｍｃ（λ）、Ｔｃｙ（λ）及びＴｙｍｃ（λ）を、測定される蛍光試料の印刷条件に即して精度良く求める方法を説明する。
【０１０６】
上述のように、各インク及びこれらインクの組み合わせで、面積率１００％で印刷された基準試料の分光透過率を予め測定して、これを一律に適用することは、これを用いて求められる実効二分光蛍光放射輝度率Ｆｅ（μ，λ）やこのＦｅ（μ，λ）に基づく全分光放射輝度率Ｂｔ（μ，λ）に問題となる誤差を将来する。もちろん、光学特性測定装置１０により、実際の印刷面の分光透過率を測定することは困難であり、励起に関する紫外域を含めて測定することはさらに現実的ではない。
【０１０７】
このことから、本実施形態では、予め上記基準試料の分光透過特性を励起に関与する紫外域を含めて測定するとともに、光学特性測定装置１０と同じ構成の基準測定装置によって（光学特性測定装置１０自身を使用してもよい）、照明光ＬＡ（照明光ｌ１）による全分光放射輝度率（照明光ＬＡは殆ど蛍光を励起しないので実質的には分光反射輝度率である）を測定して記憶しておく。そして、被測定印刷面と同じ印刷条件での面積率１００％の印刷面（１００％印刷面）の分光透過率を、上記１００％印刷面の分光反射輝度率測定値と、記憶された上記基準印刷面の分光反射輝度率とに基づいて、上記基準試料の分光透過率を修正することによって求める。このことは、印刷面のインク濃度やインク層の厚みが透過率及び反射輝度率それぞれに与える影響の間には一定の関係があることに基づく。
【０１０８】
具体的には、予め透過性の高い非蛍光基材（半透過紙など）に、基準印刷面用の印刷機により、各インク及びこれらインクの組み合わせを面積率１００％で印刷して基準印刷面とし、この基準印刷面の分光透過率Ｔｙ（λ）、Ｔｍ（λ）、Ｔｃ（λ）、Ｔｙｍ（λ）、Ｔｍｃ（λ）、Ｔｃｙ（λ）及びＴｙｍｃ（λ）と非印刷面の分光透過率Ｔｗ（λ）とを、紫外域を含む例えば約３００〜７００ｎｍの波長域で上記基準測定装置によって測定し、各印刷面の分光透過率を非印刷面の分光透過率によって相対化したＴ０ｙ（λ）（＝Ｔｙ（λ）／Ｔｗ（λ））、Ｔ０ｍ（λ）（＝Ｔｍ（λ）／Ｔｗ（λ））、Ｔ０ｃ（λ）（＝Ｔｃ（λ）／Ｔｗ（λ））、Ｔ０ｙｍ（λ）（＝Ｔｙｍ（λ）／Ｔｗ（λ））、Ｔ０ｍｃ（λ）（＝Ｔｍｃ（λ）／Ｔｗ（λ））、Ｔ０ｃｙ（λ）（＝Ｔｃｙ（λ）／Ｔｗ（λ））、及びＴ０ｙｍｃ（λ）（＝Ｔｙｍｃ（λ）／Ｔｗ（λ））を、印刷面の分光透過率基準値として例えば面積率メモリ７５に記憶しておく。
【０１０９】
さらに、上記基準測定装置によって（光学特性測定装置１０自身を使用してもよい）、上記と同じ基準印刷面と非印刷面との約４００〜７００ｎｍ（紫外域を含まない）の波長域での分光反射輝度率Ｂｙ１（λ）、Ｂｍ１（λ）、Ｂｃ１（λ）、Ｂｙｍ１（λ）、Ｂｍｃ１（λ）、Ｂｃｙ１（λ）、Ｂｙｍｃ１（λ）及びＢｋ１（λ）とＢｗ１（λ）とを、白熱ランプ２１を光源とする第１照明部２の照明光ＬＡ（照明光ｌ１）により測定し、各印刷面の分光反射輝度率を非印刷面の分光反射輝度率（Ｂｗ１（λ））によって相対化したＲ０ｙ（λ）（＝Ｂｙ１（λ）／Ｂｗ１（λ））、Ｒ０ｍ（λ）（＝Ｂｍ１（λ）／Ｂｗ１（λ））、Ｒ０ｃ（λ）（＝Ｂｃ１（λ）／Ｂｗ１（λ））、Ｒ０ｙｍ（λ）（＝Ｂｙｍ１（λ）／Ｂｗ１（λ））、Ｒ０ｍｃ（λ）（＝Ｂｍｃ１（λ）／Ｂｗ１（λ））、Ｒ０ｃｙ（λ）（＝Ｂｃｙ１（λ）／Ｂｗ１（λ））、Ｒ０ｙｍｃ（λ）（＝Ｂｙｍｃ１（λ）／Ｂｗ１（λ））、及びＢ０ｋ（λ）（＝Ｂｋ１（λ）／Ｂｗ１（λ））を、印刷面の分光反射輝度率基準値として上記と同様に例えば面積率メモリ７５に記憶しておく。
【０１１０】
また、上記被測定印刷面の測定に先立って（被測定印刷面を測定する前段階として）、該被測定印刷面と同じ印刷条件である各インク及びこれらインクの組み合わせによる１００％印刷面と上記非印刷面との約４００〜７００ｎｍの波長域での分光反射輝度率を、光学特性測定装置１０によって照明光ＬＡ（照明光ｌ１）により測定し、同様に各印刷面の分光反射輝度率を非印刷面の分光反射輝度率で相対化したＲｙ（λ）（＝Ｂｙ１（λ）／Ｂｗ１（λ））、Ｒｍ（λ）（＝Ｂｍ１（λ）／Ｂｗ１（λ））、Ｒｃ（λ）（＝Ｂｃ１（λ）／Ｂｗ１（λ））、Ｒｙｍ（λ）（＝Ｂｙｍ１（λ）／Ｂｗ１（λ））、Ｒｍｃ（λ）（＝Ｂｍｃ１（λ）／Ｂｗ１（λ））、Ｒｃｙ（λ）（＝Ｂｃｙ１（λ）／Ｂｗ１（λ））、Ｒｙｍｃ（λ）（＝Ｂｙｍｃ１（λ）／Ｂｗ１（λ））、及びＲｋ（λ）（＝Ｂｋ１（λ）／Ｂｗ１（λ））を求める。
【０１１１】
ところで、図１３に示すように、透過光は印刷されたインク層を１回通過し、反射光は同インク層を２回通過することから、各インク層の反射率Ｒと透過率Ｔとには、以下の式（３５）の関係がある。
Ｒ≒Ｔ２ …（３５）
【０１１２】
上記式（３５）の関係から、インク層の厚みの差やインク濃度の差等に起因して被測定印刷面と基準印刷面との分光反射輝度率Ｒ（λ）とＲ０（λ）とが異なる場合、この被測定印刷面と基準印刷面との分光透過率の比を（Ｒ（λ）／Ｒ０（λ））１／２によって近似することができる。印刷面の推定の分光透過率Ｔ（λ）は、基準印刷面の分光透過率Ｔ０（λ）を当該分光透過率比の近似値（Ｒ（λ）／Ｒ０（λ））１／２を用いて補正した以下の式（３６）によって与えられる（後述の式（３９）では、この式（３６）におけるＴ（λ）及びＲ（λ）が、Ｙインクの場合のＴｙ（λ）及びＲｙ（λ）となっている）。
Ｔ（λ）＝（Ｒ（λ）／Ｒ０（λ））１／２・Ｔ０（λ）…（３６）
【０１１３】
波長が上記４００ｎｍ未満の紫外域（ここでは上記波長域３００〜７００ｎｍを３００〜３９０ｎｍと４００〜７００ｎｍとに区分する場合の紫外域３００〜３９０ｎｍ）については、分光反射輝度率Ｒ（λ）及びＲ０（λ）を測定できないが、すなわち分光反射特性が与えられない非測定波長域ではＲ（λ）及びＲ０（λ）を測定できないが、測定可能な短波長端の波長或いはその近傍の波長域、すなわち、分光反射特性が与えられる測定波長域における当該非測定波長域と隣接する波長域（隣接波長域）での反射輝度率で代用することができる。
【０１１４】
上述のように算出された各インク及びこれらインクの組み合わせによる面積率１００％印刷面の分光透過特性Ｔ（λ）と、各インク及び各インクの組み合わせの面積率（面積比率）Ｐ％ｍ、Ｐ％ｃ、Ｐ％ｙｍ、Ｐ％ｍｃ、Ｐ％ｃｙ、Ｐ％ｙｍｃ及びＰ％ｋとに基づいて着色面（測定域）の平均的な分光透過特性を算出することができる。この平均的な分光透過特性は、該インク及び各インクの組み合わせによる面積率１００％の印刷面の分光透過特性、及びその測定域内の面積率に依存するので、結局、測定域の分光的な励起・蛍光特性は、上記面積率１００％の印刷面における分光透過特性、及びその測定域内の面積率に依存することになる。
【０１１５】
また、上述の蛍光増白紙上の印刷面の分光放射輝度率の測定原理は、以下のように要約されるものであると言うこともできる。
ｂ１．蛍光増白基材上の印刷面の実効的な二分光蛍光放射輝度率を、蛍光増白基材の二分光蛍光放射輝度率と各インクとそれらの組み合わせの分光透過特性及び面積率とから推定する。
ｂ２．推定した実効二分光蛍光放射輝度率に対し、上述の評価用照明光で照明したときの全分光放射輝度率の測定原理の要約のａ１．〜ａ４．の項目を適用する。
ｂ３．殆ど励起エネルギーのない照明光による、つまり蛍光の影響を殆ど受けない実測全分光放射輝度率から面積率を推定する。
【０１１６】
＜蛍光増白紙上の印刷面に対する全分光放射輝度率の測定手順＞
光学特性測定装置による蛍光増白紙（蛍光試料）上の印刷面に対する全分光放射輝度率の測定手順としては、まず、図５に示すフローに従って、１００％印刷面と非印刷面の測定を行った後、図６に示すフローに沿って当該被測定印刷面の測定を行う。
図５は、１００％印刷面の測定に関する動作の一例を示すフローチャートである。図３に示すフローチャートによる白色校正後、まず、測定開口に配設された非印刷面（蛍光増白紙）に対し、第１照明部２（白熱ランプ２１）を点灯して照明光ＬＡ（照明光Ｉ１）によって照明する（ステップＳ５１）。そして、２チャンネル分光部６（放射光分光手段）によって、当該照明光ＬＡによる試料放射光の分光分布Ｓｘ１（λ）を測定するとともに、照明光ＬＡの参照面反射光の分光分布Ｍｘ１（λ）を測定し、このＳｘ１（λ）及びＭｘ１（λ）の分光分布情報を分光データメモリ７１に保存し（ステップＳ５２）、第１照明部２を消灯する（ステップＳ５３）。
【０１１７】
そして、上記ステップＳ５２において保存されたＳｘ１（λ）及びＭｘ１（λ）から、上述の式（２３）に対応する以下の式（３７）によって、照明光ＬＡにより照明された当該非印刷面の全分光放射輝度率Ｂｗ１（λ）を算出し、これを所定の記憶部、例えば面積率メモリ７５に記憶する（ステップＳ５４）。
Ｂｗ１（λ）＝Ｃ１（λ）・Ｓｘ１（λ）／Ｍｘ１（λ）…（３７）
【０１１８】
続いて、Ｙインクの面積率Ｐ％ｙが１００％である印刷面（１００％印刷面）に対して、第１照明部２を点灯して照明光ＬＡ（照明光Ｉ１）によって照明する（ステップＳ５５）。そして、２チャンネル分光部６（放射光分光手段）によって、当該照明光ＬＡによる試料放射光の分光分布Ｓｘ１（λ）を測定するとともに、照明光ＬＡの参照面反射光の分光分布Ｍｘ１（λ）を測定し、このＳｘ１（λ）及びＭｘ１（λ）の分光分布情報を分光データメモリ７１に保存し（ステップＳ５６）、第１照明部２を消灯する（ステップＳ５７）。
【０１１９】
そして、上記ステップＳ５６において保存されたＳｘ１（λ）及びＭｘ１（λ）から、上記ステップＳ５４と同様に、照明光ＬＡにより照明された当該１００％印刷面に対する全分光放射輝度率Ｂｙ１（λ）を算出し、これを所定の記憶部、例えば面積率メモリ７５に記憶する（ステップＳ５８）。
【０１２０】
次に、以下の式（３８）によって、非印刷面の全分光放射輝度率で相対化されたＹインクの１００％印刷面の分光反射輝度率Ｒｙ（λ）を求める（ステップＳ５９）。
Ｒｙ（λ）＝Ｂｙ１（λ）／Ｂｗ１（λ）…（３８）
続いて、面積率メモリ７５からＹインクの１００％基準印刷面の分光透過率（分光透過率基準値）Ｔ０ｙ（λ）と相対化された分光反射輝度率（分光反射輝度率基準値）Ｒ０ｙ（λ）とを読み出し（ステップＳ６０）、以下の式（３９）によって、当該１００％印刷面の分光透過率Ｔｙ（λ）を求める（ステップＳ６１）。
Ｔｙ（λ）＝（Ｒｙ（λ）／Ｒ０ｙ（λ））１／２・Ｔ０ｙ（λ）…（３９）
ただし、全分光放射輝度率の測定波長域は上記４００〜７００ｎｍであり、３００〜３９０ｎｍの波長域についてはＲｙ１（λ）及びＲ０ｙ（λ）の実測値がないため、この３００〜３９０ｎｍの波長域のＲｙ１（λ）及びＲ０ｙ（λ）として、波長λが４００ｎｍであるときの値Ｒｙ１（４００）及びＲ０ｙ（４００）を用いるものとする。
【０１２１】
同様に、面積率Ｐ％ｍ、Ｐ％ｃ、Ｐ％ｙｍ、Ｐ％ｍｃ、Ｐ％ｃｙ、Ｐ％ｙｍｃ及びＰ％ｋが１００％の印刷面に対し、上記ステップＳ５１〜Ｓ６１の動作を繰り返し、全分光放射輝度率Ｂｍ１（λ）、Ｂｃ１（λ）、Ｂｙｍ１（λ）、Ｂｍｃ１（λ）、Ｂｃｙ１（λ）、Ｂｙｍｃ１（λ）及びＢｋ１（λ）と分光透過率Ｔｍ（λ）、Ｔｃ（λ）、Ｔｙｍ（λ）、Ｔｍｃ（λ）、Ｔｃｙ（λ）及びＴｙｍｃ（λ）とを算出し、これを面積率メモリ７５等に記憶する（ステップＳ６２）。
【０１２２】
図６は、光学特性測定装置による蛍光増白紙上の印刷面に対する全分光放射輝度率の測定に関する動作の一例を示すフローチャートである。まず、測定に先立って評価用照明光Ｉｓを選択する。すなわち制御部７は、評価用照明光データメモリ７２から、選択する評価用照明光Ｉｓの分光分布データＩｓ（λ）（すなわち分光分布Ｉｓ（μ））を読み出す（ステップＳ３１）。次に、印刷用紙のタイプとＹＭＣＫインクセットとを選択する。すなわち制御部７は、二分光データメモリ７３或いは面積率メモリ７５から、被測定印刷面の印刷用紙（蛍光増白紙）に近似する二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）と、使用されているＹＭＣＫインクで被測定面と同じ方法（印刷条件）で印刷したＹＭＣＫ各インク及び各インクの組み合わせによる面積率１００％の印刷面のインク層の分光透過率Ｔｙ（λ）、Ｔｍ（λ）、Ｔｃ（λ）、Ｔｙｍ（λ）、Ｔｍｃ（λ）、Ｔｃｙ（λ）及びＴｙｍｃ（λ）のデータを読み出す（ステップＳ３２）。また、面積率メモリ７５から、面積率算出の基準として、ＹＭＣＫインク及び当該各インクの組み合わせによる面積率１００％の印刷面（面積率基準）を第１照明部２で照明して測定して記憶しておいた全分光放射輝度率Ｂｙ１（λ）、Ｂｍ１（λ）、Ｂｃ１（λ）、Ｂｙｍ１（λ）、Ｂｍｃ１（λ）、Ｂｃｙ１（λ）、Ｂｙｍｃ１（λ）、Ｂｋ１（λ）及びＢｗ１（λ）のデータを読み出す（ステップＳ３３）。
【０１２３】
次に、制御部７は、測定開口に配設された被測定試料１（ここでは、上記印刷面をもつ蛍光増白紙）に対し、第１照明部２（白熱ランプ２１）を点灯して照明光ＬＡ（照明光Ｉ１）によって照明する（ステップＳ３４）。そして、２チャンネル分光部６（放射光分光手段）によって、当該照明光ＬＡによる試料放射光の分光分布Ｓｘ１（λ）を測定するとともに、照明光ＬＡの参照面反射光の分光分布Ｍｘ１（λ）を測定し、これらＳｘ１（λ）及びＭｘ１（λ）の分光分布情報を分光データメモリ７１に保存する（ステップＳ３５）。続いて、制御部７は、上記ステップＳ３４での第１照明部２の点灯を維持した状態で、第２照明部３（紫外ＬＥＤ３１）を点灯して、第１及び第２照明部２、３による照明光ＬＢ（照明光Ｉ２）によって被測定試料１を照明し（ステップＳ３６）、ステップＳ３５と同様に、２チャンネル分光部６によって、当該照明光ＬＢによる試料放射光の分光分布Ｓｘ２（λ）を測定するとともに、照明光ＬＢの参照面反射光の分光分布Ｍｘ２（λ）を測定し、これらＳｘ２（λ）及びＭｘ２（λ）の分光分布情報を分光データメモリ７１に保存する（ステップＳ３７）。そして、第１及び第２照明部２、３を消灯する（ステップＳ３８）。
【０１２４】
次に、上述の式（１９）、（２０）によって、それぞれ照明光ＬＡ、ＬＢの参照面反射光の分光分布Ｍｘ１（λ）、Ｍｘ２（λ）を、試料面照明光（照明光ＬＡ、ＬＢ）の分光分布Ｉ１（λ）、Ｉ２（λ）に変換する（ステップＳ３９）（なお、この変換により得られた分光分布Ｉ１（λ）、Ｉ２（λ）のデータは所定の記憶部、例えば分光データメモリ７１に保存される）。そして、上記ステップＳ３５、３７において保存されたＭｘ１（λ）、Ｍｘ２（λ）と、Ｓｘ１（λ）、Ｓｘ２（λ）とから、上述の式（２３）、（２４）を用いて、照明光ＬＡ、ＬＢによる全分光放射輝度率Ｂｘ１（λ）、Ｂｘ２（λ）を算出する（ステップＳ４０）。
【０１２５】
次に、制御部７は、当該測定（算出）したＢｘ１（λ）と、上記ステップＳ３３において読み出した面積率基準に対する全分光放射輝度率Ｂｙ１（λ）〜Ｂｗ１（λ）とから、ＹＭＣＫ各インク及びこれらの組み合わせによる印刷部分の面積率Ｐ％ｙ、Ｐ％ｍ、Ｐ％ｃ、Ｐ％ｙｍ、Ｐ％ｍｃ、Ｐ％ｃｙ、Ｐ％ｙｍｃ及びＰ％ｋを算出する。そして、当該算出したＰ％ｙ〜Ｐ％ｋと、上記ステップＳ３２において二分光データメモリ７３から読み出した二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）及びＹ、Ｍ、Ｃ各インク印刷面の分光透過率Ｔｙ（λ）、Ｔｍ（λ）、Ｔｃ（λ）、Ｔｙｍ（λ）、Ｔｍｃ（λ）、Ｔｃｙ（λ）及びＴｙｍｃ（λ）から、被測定試料１の実効二分光蛍光放射輝度率Ｆｅ（μ，λ）を上記式（３３’）によって算出する（ステップＳ４２）。さらに、この算出した実効二分光蛍光放射輝度率Ｆｅ（μ，λ）と、上記ステップＳ３１において評価用照明光データメモリ７２から読み出した評価用照明光Ｉｓの分光分布Ｉｓ（λ）とから、以下の式（４０）によって評価用照明光による蛍光分光放射輝度率Ｆｓ（λ）を算出する（ステップＳ４３）。
Ｆｓ（λ）＝∫Ｆｅ（μ，λ）・Ｉｓ（μ）ｄμ／Ｉｓ（λ）…（４０）
【０１２６】
次に、当該算出した蛍光分光放射輝度率Ｆｅ（μ，λ）と、上記ステップＳ３９において求めた（分光データメモリ７１から読み出した）分光分布Ｉ１（λ）、Ｉ２（λ）とから、以下の式（４１）、（４２）によって照明光ＬＡ、ＬＢ（照明光Ｉ１、Ｉ２）による蛍光分光放射輝度率Ｆ１（λ）、Ｆ２（λ）を算出する（ステップＳ４４）。
Ｆ１（λ）＝∫Ｆｅ（μ，λ）・Ｉ１（μ）ｄμ／Ｉ１（λ）…（４１）
Ｆ２（λ）＝∫Ｆｅ（μ，λ）・Ｉ２（μ）ｄμ／Ｉ２（λ）…（４２）
【０１２７】
そして、当該算出した蛍光分光放射輝度率Ｆ１（λ）、Ｆ２（λ）と、上記ステップＳ４３で求めた蛍光分光放射輝度率Ｆｓ（λ）とによる以下の式（４３）を波長毎に解くことで、重みＷ（λ）を求める（ステップＳ４５）。
Ｗ（λ）・Ｆ１（λ）＋［１−Ｗ（λ）］・Ｆ２（λ）＝Ｆｓ（λ）…（４３）
そして、上記ステップＳ４０において算出した全分光放射輝度率Ｂｘ１（λ）、Ｂｘ２（λ）と、上記ステップＳ４５において算出した重みＷ（λ）とから、以下の式（４４）によって、評価用照明光による全分光放射輝度率Ｂｘｓ（λ）を算出する（ステップＳ４６）。
Ｂｘｓ（λ）＝ Ｗ（λ）・Ｂｘ１（λ）＋（１−Ｗ（λ））・Ｂｘ２（λ）…（４４）
【０１２８】
以上のように本実施形態における光学特性測定方法は、単数若しくは複数種類（色）のインク（着色材）又は前記複数種類のインクの組み合わせ（例えば重ね合わせ）によるインク層（着色層）の分光透過特性を該インク層の分光反射特性を用いて算出する光学特性測定方法であって、第１の工程において、各インク層と同一の又は近似された、基準として定める基準インク層（基準着色層；基準印刷面）の分光透過特性（Ｔ０（λ））及び分光反射特性（Ｒ０（λ））が予め取得（記憶）され、第２の工程において、各インク層の分光反射特性（Ｒ（λ））が該インク層の光学測定情報（例えば上記図５に示すステップＳ５５、Ｓ５６における試料放射光の分光分布Ｓｘ１（λ）や参照面反射光の分光分布Ｍｘ１（λ））に基づいて測定（算出）される。そして、第３の工程において、該インク層の分光透過特性（Ｔ（λ））を算出するべく、該インク層の分光反射特性（Ｒ（λ））と該基準インク層の分光反射過特性（Ｒ０（λ））とに基づいて該基準インク層の分光透過特性（Ｔ０（λ））が補正される。
【０１２９】
また、本実施形態における光学特性測定装置１０は、単数若しくは複数種類のインク又は前記複数種類のインクの組み合わせによるインク層の分光透過特性を該インク層の分光反射特性を用いて算出する光学特性測定装置であって、分光データメモリ７１や面積率メモリ７５等の記憶部（記憶手段）によって、各インク層と同一の又は近似された、基準として定める基準インク層の予め取得された分光透過特性（Ｔ０（λ））及び分光反射特性（Ｒ０（λ））が記憶され、ＣＰＵ７０（測定（算出）手段、制御部７）によって、該インク層の分光反射特性（Ｒ（λ））が該インク層の光学測定情報（上述と同様、Ｓｘ１（λ）やＭｘ１（λ））に基づいて測定（算出）される。そして、ＣＰＵ７０（補正手段、制御部７）によって、該インク層の分光透過特性（Ｔ（λ））を算出するべく、該インク層の分光反射特性（Ｒ（λ））と該基準インク層の分光反射過特性（Ｒ０（λ））とに基づいて該基準インク層の分光透過特性（Ｔ０（λ））が補正される。
【０１３０】
このように、光学特性測定方法又は光学特性測定装置によれば、各インク層の分光透過特性が、予め取得された基準インク層の分光反射特性と光学測定情報に基づき測定（算出）された該インク層の分光反射特性とに基づいて、予め取得された該基準インク層の分光透過特性が補正されることで算出されるので、すなわち各インク層の分光透過特性が、予め与えられた基準インク層の分光反射特性と、光学測定情報に基づき測定（算出）算出された該インク層の分光反射特性とに基づいて、予め与えられた該基準インク層の分光透過特性から謂わば推定されて求められるので、各インク層の分光透過特性の情報を、測定される印刷試料の印刷条件（印刷機、インク、環境温度等の違いによる蛍光増白紙に対するインクの印刷状態つまりインク厚みやインク濃度等）に即して充分な精度で求めることができる。すなわち、各インク層の分光透過特性が、印刷機や環境温度等によって異なるインク層の厚みや濃度の影響を受けてばらついているような場合であっても、当該インク層の分光透過特性を精度良く求めることができ、ひいてはこの分光透過特性を用いて、印刷試料（蛍光増白基材）上の印刷色（着色面）に対する測色を正確に行うことができる。
【０１３１】
また、分光透過特性が、分光反射特性が与えられる測定波長域と分光反射特性が与えられない非測定波長域とにおける分光透過特性を含むものとされ、上記第３の工程において、測定波長域では、各インク層及び基準インク層それぞれの分光反射特性に基づいて、且つ、非測定波長域では、測定波長域における当該非測定波長域に隣接する隣接波長域の該インク層及び基準インク層それぞれの分光反射特性に基づいて、該基準インク層の分光透過特性が補正される。
【０１３２】
これによれば、各基準インク層の分光透過特性の補正が、該分光透過特性の測定波長域（例えば４００〜７００ｎｍ）では、各インク層及び基準インク層の分光反射特性に基づいて、また非測定波長域（上記４００ｎｍ未満例えば３００〜３９０ｎｍの紫外域）では、測定波長域における当該非測定波長域に隣接する隣接波長域の該インク層及び基準インク層の分光反射特性に基づいて行われるので、該基準インク層の分光透過特性の補正において、分光反射特性が与えられないすなわち実測値が得られない非測定波長域についても、分光反射特性が与えられる測定波長域における（隣接波長域の）分光反射特性を代用することができ、ひいては測定波長域と非測定波長域とにおける各基準インク層の分光透過特性を容易に補正することが可能となる。
【０１３３】
また、光学特性測定方法が、蛍光増白基材上に単数若しくは複数種類のインク又は該複数種類のインクの組み合わせにより着色されてなる着色面の分光透過特性を算出する方法とされ、上記第３の工程において、上記光学測定情報に基づき算出された各インク層の分光透過特性と、上記単数若しくは複数種類のインク又は該複数種類のインクの組み合わせの面積率とに基づいて着色面の平均的な分光透過特性が算出される。
【０１３４】
これによれば、算出された各インク層の分光透過特性と、単数若しくは複数種類のインク又は該複数種類のインクの組み合わせ（重ね合わせ）部分の面積率とに基づいて着色面の平均的な分光透過特性が算出されるので、着色面の分光透過特性が、印刷機や環境温度等によって異なるインク層の厚みや濃度の影響を受けてばらついているような場合であっても、着色面の平均的な分光透過特性を精度良く求めることができる。
【０１３５】
また、光学特性測定方法が、蛍光増白基材上に単数若しくは複数種類のインク又は該複数種類のインクの組み合わせにより着色されてなる着色面の励起蛍光特性を算出する方法とされ、上記算出された平均的な分光透過特性と、蛍光増白基材の励起蛍光特性とに基づいて着色面の実効的な励起蛍光特性が算出される。
【０１３６】
これによれば、算出された平均的な分光透過特性と、蛍光増白基材の励起蛍光特性とに基づいて着色面の実効的な励起蛍光特性が算出されるので、着色面の分光透過特性が、印刷機や環境温度等によって異なるインク層の厚みや濃度の影響を受けてばらついているような場合であっても、着色面の実効的な励起蛍光特性を精度良く求めることができる。
【０１３７】
また、分光透過特性が分光透過率とされ、分光反射特性が分光反射輝度率とされるので、蛍光増白基材（蛍光試料）からの影響を含まない分光反射輝度率によって精度良く求めた各インク層の分光透過率によって、蛍光増白基材上に単数又は複数種類のインクにより着色された着色面の平均的な分光透過率を求めることができ、さらに実効的な励起蛍光特性として二分光蛍光放射輝度率（Ｆ（μ，λ））や実効二分光蛍光放射輝度率（Ｆｅ（μ，λ））を精度良く求めることができる。
【０１３８】
また、光学特性測定方法が、単数若しくは複数種類のインク又は該複数種類のインクの組み合わせによるインク層の分光透過率を分光反射輝度率の測定値に基づいて推定的に算出する方法とされ、上記第３の工程において、上記（３６）式に基づいて、各基準インク層の分光透過率（Ｔ０（λ））が、各インク層の分光反射輝度率（Ｒ（λ））と該基準インク層の分光反射輝度率（Ｒ０（λ））とを用いて補正されることで該インク層の分光透過率（Ｔ（λ））が算出されるので、予め該基準インク層の分光透過率（Ｔ０（λ））及び分光反射輝度率（Ｒ０（λ））を測定して記憶させるなどして与えておくことで、該インク層の分光反射輝度率（Ｒ（λ））から該インク層の分光透過率（Ｔ（λ））を精度良く求めるといったことが可能となる。
【０１３９】
また、上記光学特性測定方法が、単数若しくは複数種類のインク又は該複数種類のインクの組み合わせによるインク層の分光透過率を分光反射輝度率の測定値に基づいて推定的に算出する方法とされ、上記第３の工程において、各インク層の分光透過率（Ｔ（λ））が、透過率の異なる１つ以上の基準インク層における分光透過率（Ｔ０（λ）、Ｔ１（λ）、・・・）及び分光反射輝度率（Ｒ０（λ）、Ｒ１（λ）、・・・）と、インク層の分光反射輝度率（Ｒ（λ））との関数（例えば上記式（３６）や後述の式（４７）、（４７１））によって与えられる。
【０１４０】
このように、インク層の分光透過率（Ｔ（λ））が、透過率の異なる１つ以上の基準インク層における分光透過率（Ｔ０（λ）、Ｔ１（λ）、・・・）及び分光反射輝度率（Ｒ０（λ）、Ｒ１（λ）、・・・）と、インク層の分光反射輝度率（Ｒ（λ））との関数によって与えられるので、予め透過率の異なる１つ以上の基準インク層における各分光透過率（Ｔ０（λ）、Ｔ１（λ）、・・・）及び分光反射輝度率（Ｒ０（λ）、Ｒ１（λ）、・・・）を測定して記憶させるなどして与えておくことで、インク層の分光反射輝度率（Ｒ（λ））から該インク層の分光透過率（Ｔ（λ））を精度良く求めるといったことが可能となる。
【０１４１】
なお、上記実施形態は、以下の態様をとることができる。
（１）上記実施形態では、照明光ｌ１及びｌ２による試料面照明光の分光分布ｌ１（λ）及びｌ２（λ）を参照面反射光の分光分布Ｍｘ１（λ）及びＭｘ２（λ）から、変換係数Ｄ１（λ）及びＤ２（λ）を用いて式（１９）、（２０）によって測定の都度求めているが、白色校正板を照明光ｌ１及びｌ２で照明したときの、試料面反射光の分光分布Ｓｗ１（λ）及びＳｗ２（λ）と、式（１６）による感度校正係数Ｇ（λ）と既知の反射分光放射輝度率Ｒｗ（λ）とから、以下の式（４５）、（４６）により求められる白色校正時の試料面照明光の分光分布ｌ１（λ）及びｌ２（λ）を、測定時の試料面照明光の分光分布として用いることもできる。
ｌ１（λ）＝Ｇ（λ）／Ｒｗ（λ）・Ｓｗ１（λ）…（４５）
ｌ２（λ）＝Ｇ（λ）／Ｒｗ（λ）・Ｓｗ２（λ）…（４６）
この方法は、上記実施形態のように測定毎の試料面照明光の分光分布ｌ１（λ）及びｌ２（λ）を用いないものの、第１及び第２の照明手段の光源が白熱光源と紫外ＬＥＤとで構成されている場合など、白色校正の間隔程度の短時間においては経時的に安定している場合には大きな誤差を招来しない一方、参照系を必要としないので、参照系を備えない低コストな測定器にも本発明の技術が適用できる。
【０１４２】
（２）上記実施形態では、各インクの被測定印刷面と同じ印刷条件の各１００％印刷面の分光透過率Ｔｙ（λ）、Ｔｍ（λ）及びＴｃ（λ）、或いは各インク及び各インクの組み合わせの各１００％印刷面の分光透過率Ｔｙ（λ）、Ｔｍ（λ）、Ｔｃ（λ）、Ｔｙｍ（λ）、Ｔｍｃ（λ）、Ｔｃｙ（λ）及びＴｙｍｃ（λ）を、対応する基準印刷面の分光反射輝度率（分光反射輝度率基準値）Ｒ０（λ）と該１００％印刷面の分光反射輝度率Ｒ（λ）とを用い、上記式（３９）によって該基準印刷面の分光透過率（分光透過率基準値）Ｔ０（λ）を補正して与えているが、これに限らず、別の関係式で与えることもできる。
【０１４３】
以下、別の関係式の例をＹインクについて説明する。この例では、同じインクの１００％印刷面でありながら、異なるインク厚さ及び／又はインク濃度を有する第１及び第２の基準印刷面を使用する。この第１及び第２の基準印刷面の分光透過率をＴ０ｙ（λ）及びＴ１ｙ（λ）、同基準印刷面の分光反射輝度率をＲ０ｙ（λ）及びＲ１ｙ（λ）とすると、分光反射輝度率がＲｙ（λ）である場合の１００％印刷面の分光透過率Ｔｙ（λ）を以下の式（４７）によって与える。
Ｔｙ（λ）＝Ａｙ（λ）・Ｔ０ｙ（λ）＋（１−Ａｙ（λ））・Ｔ１ｙ（λ）…（４７）
但し、Ａｙ（λ）＝（（Ｒｙ（λ））１／２−（Ｒ１ｙ（λ））１／２）／（（Ｒ０ｙ（λ））１／２−（Ｒ１ｙ（λ））１／２）…（４７１）
【０１４４】
すなわち、式（４７）は、上記第１及び第２の基準印刷面の分光透過率Ｔ０ｙ（λ）及びＴ１ｙ（λ）を、１００％印刷面の分光反射輝度率Ｒｙ（λ）と第１及び第２の基準印刷面の分光反射輝度率Ｒ０ｙ（λ）及びＲ１ｙ（λ）との距離の１／２乗に応じた重みを用いて合成している。この例でも上述のようにＲ０ｙ（λ）、Ｒ１ｙ（λ）及びＲｙ（λ）の実測値がない３００〜３９０ｎｍの波長域については、４００ｎｍの値Ｒ０ｙ（４００）、Ｒ１ｙ（４００）及びＲｙ（４００）を用いる。
【０１４５】
このように、光学特性測定方法が、単数若しくは複数種類のインク又は該複数種類のインクの組み合わせによるインク層の分光透過率を分光反射輝度率の測定値に基づいて推定的に算出する方法とされ、上述した第３の工程において、上記（４７）式に基づいて、すなわち、各インク及び各インクの組み合わせについて、以下（４７’）式に基づいて透過率の異なる少なくとも２つの対応する基準インク層である第１及び第２の基準インク層（第１及び第２の基準印刷面）の分光透過率（第１の基準インク層の分光透過率：Ｔ０（λ）、第２の基準インク層の分光透過率：Ｔ１（λ））が、所定の重み係数（Ａ（λ））を用いて線形結合されることにより補正されることで各インク層の分光透過率（Ｔ（λ））が算出されるので、予め少なくとも２つの対応する基準インク層それぞれの分光透過率（Ｔ０（λ）、Ｔ１（λ））と分光反射輝度率（Ｒ０（λ）、Ｒ１（λ））とを測定して記憶させるなどして与えておくことで、各インク層の分光反射輝度率から該インク層の分光透過率（Ｔ（λ））を精度良く求めるといったことが可能となる。但し、Ａ（λ）は、前記第１及び第２の基準インク層それぞれの分光反射輝度率Ｒ０（λ）及びＲ１（λ）と、前記インク層の分光反射輝度率Ｒ（λ）とによって与えられる重み係数を示す（上記式（４７１）参照）。
Ｔ（λ）＝Ａ（λ）・Ｔ０（λ）＋（１−Ａ（λ））・Ｔ１（λ）・・・（４７’）
【図面の簡単な説明】
【０１４６】
【図１】本発明に係る蛍光試料の光学特性測定装置の一例を示す概略構成図である。
【図２】各色のインク及びこれら各インクの重なりについて説明する図であり、（ａ）は、蛍光増白紙上にＹ、Ｍインクが付着している場合を概略的に示す断面図、（ｂ）は、（ａ）に示すＹ、Ｍインクが付着した蛍光増白紙の上面図である。
【図３】白色校正に関する動作の一例を示すフローチャートである。
【図４】光学特性測定装置による蛍光試料の全分光放射輝度率の測定に関する動作の一例を示すフローチャートである。
【図５】１００％印刷面の測定に関する動作の一例を示すフローチャートである。
【図６】光学特性測定装置による蛍光増白紙上の印刷面に対する全分光放射輝度率の測定に関する動作の一例を示すフローチャートである。
【図７】本発明の方法を、従来の測定方法に適用した場合の光学特性測定装置の一例を示す概略構成図である。
【図８】二分光蛍光放射輝度率の強度マトリクスの一例を示すグラフ図である。
【図９】白熱光源及び紫外ＬＥＤの分光分布を示すグラフ図である。
【図１０】従来の光学特性測定装置を示す概略構成図である。
【図１１】従来の光学特性測定装置を示す概略構成図である。
【図１２】蛍光増白紙上の各色のインクの重なりについて説明する概念図である。
【図１３】蛍光増白紙上のインクが透過光と反射光とに及ぼす影響について説明する概念図である。
【符号の説明】
【０１４７】
１ 被測定試料（蛍光増白基材）
２ 第１照明部
２１ 白熱ランプ
２２ 第１駆動回路
３ 第２照明部
３１ 紫外ＬＥＤ
３２ 第２駆動回路
４ 参照面部
５ 受光部
６ ２チャンネル分光部
６１ 第1入射スリット
６２ 第２入射スリット
７ 制御部（補正手段、測定（算出）手段）
７０ ＣＰＵ（補正手段、測定（算出）手段）
７１ 分光データメモリ（記憶手段）
７２ 評価用照明光データメモリ
７３ 二分光データメモリ
７４ 係数メモリ
７５ 面積率メモリ（記憶手段）
１０ 光学特性測定装置
【特許請求の範囲】
【請求項１】
単数若しくは複数種類の着色材又は前記複数種類の着色材の組み合わせによる着色層の分光透過特性を、該着色層の分光反射特性を用いて算出する光学特性測定方法であって、
前記着色層と同一の又は近似された、基準として定める基準着色層の分光透過特性及び分光反射特性を予め取得する第１の工程と、
前記着色層の分光反射特性を測定する第２の工程と、
前記着色層の分光透過特性を算出するべく、前記着色層の分光反射特性と前記基準着色層の分光反射特性とに基づいて前記基準着色層の分光透過特性を補正する第３の工程とを有することを特徴とする光学特性測定方法。
【請求項２】
前記分光透過特性は、前記分光反射特性が与えられる測定波長域と前記分光反射特性が与えられない非測定波長域とにおける分光透過特性を含むものであって、
前記第３の工程は、
前記測定波長域では、前記着色層及び基準着色層それぞれの分光反射特性に基づいて、且つ、前記非測定波長域では、前記測定波長域における当該非測定波長域に隣接する隣接波長域の前記着色層及び基準着色層それぞれの分光反射特性に基づいて、前記基準着色層の分光透過特性を補正する工程であることを特徴とする請求項１に記載の光学特性測定方法。
【請求項３】
前記光学特性測定方法は、蛍光増白基材上に単数若しくは複数種類の着色材又は前記複数種類の着色材の組み合わせにより着色されてなる着色面の分光透過特性を算出する方法であって、
前記第３の工程は、
前記測定された着色層の分光透過特性と、前記単数若しくは複数種類の着色材又は前記複数種類の着色材の組み合わせの面積率とに基づいて前記着色面の平均的な分光透過特性を算出する工程であることを特徴とする請求項１又は２に記載の光学特性測定方法。
【請求項４】
前記光学特性測定方法は、蛍光増白基材上に単数若しくは複数種類の着色材又は前記複数種類の着色材の組み合わせにより着色されてなる着色面の励起蛍光特性を算出する方法であって、
前記算出された平均的な分光透過特性と、前記蛍光増白基材の励起蛍光特性とに基づいて前記着色面の実効的な励起蛍光特性を算出する第４の工程をさらに有することを特徴とする請求項３に記載の光学特性測定方法。
【請求項５】
前記分光透過特性は分光透過率であり、前記分光反射特性は分光反射輝度率であることを特徴とする請求項１〜５のいずれかに記載の光学特性測定方法。
【請求項６】
前記光学特性測定方法は、前記単数若しくは複数種類の着色材又は前記複数種類の着色材の組み合わせによる着色層の前記分光透過率を前記分光反射輝度率の測定値に基づいて推定的に算出する方法であって、
前記第３の工程は、
下記（１）式に基づいて、前記基準着色層の分光透過率を、前記着色層の分光反射輝度率と前記基準着色層の分光反射輝度率とを用いて補正することで前記着色層の分光透過率を算出する工程であることを特徴とする請求項５に記載の光学特性測定方法。
Ｔ（λ）＝（Ｒ（λ）／Ｒ０（λ））１／２・Ｔ０（λ）・・・（１）
但し、記号「／」：除算
記号「・」：乗算
Ｔ（λ）：着色層の分光透過率
Ｒ（λ）：着色層の分光反射輝度率
Ｔ０（λ）：基準着色層の分光透過率
Ｒ０（λ）：基準着色層の分光反射輝度率
【請求項７】
前記光学特性測定方法は、前記単数若しくは複数種類の着色材又は前記複数種類の着色材の組み合わせによる着色層の前記分光透過率を前記分光反射輝度率の測定値に基づいて推定的に算出する方法であって、
前記第３の工程は、
下記（２）式に基づいて、透過率の異なる少なくとも２つの前記基準着色層である第１及び第２の基準着色層の分光透過率を、所定の重み係数を用いて線形結合することにより補正することで前記着色層の分光透過率を算出する工程であることを特徴とする請求項５に記載の光学特性測定方法。
Ｔ（λ）＝Ａ（λ）・Ｔ０（λ）＋（１−Ａ（λ））・Ｔ１（λ）・・・（２）
但し、記号「／」：除算
記号「・」：乗算
Ｔ（λ）：着色層の分光透過率
Ｔ０（λ）：第１の基準着色層の分光透過率
Ｔ１（λ）：第２の基準着色層の分光透過率
Ａ（λ）：第１及び第２の基準着色層それぞれの分光反射輝度率Ｒ０（λ）及びＲ１（λ）と、前記着色層の分光反射輝度率Ｒ（λ）とによって与えられる重み係数
【請求項８】
前記光学特性測定方法は、前記単数若しくは複数種類の着色材又は前記複数種類の着色材の組み合わせによる着色層の前記分光透過率を前記分光反射輝度率の測定値に基づいて推定的に算出する方法であって、
前記第３の工程は、
前記着色層の分光透過率を、透過率の異なる１つ以上の基準着色層における分光透過率及び分光反射輝度率と、前記着色層の分光反射輝度率との関数によって与える工程であることを特徴とする請求項５に記載の光学特性測定方法。
【請求項９】
単数若しくは複数種類の着色材又は前記複数種類の着色材の組み合わせによる着色層の分光透過特性を、該着色層の分光反射特性を用いて算出する光学特性測定装置であって、
前記着色層と同一の又は近似された、基準として定める基準着色層の分光透過特性及び分光反射特性を記憶する記憶手段と、
前記着色層の分光反射特性を測定する測定手段と、
前記着色層の分光透過特性を算出するべく、前記着色層の分光反射特性と前記基準着色層の分光反射過特性とに基づいて前記基準着色層の分光透過特性を補正する補正手段とを備えることを特徴とする光学特性測定装置。
【請求項１】
単数若しくは複数種類の着色材又は前記複数種類の着色材の組み合わせによる着色層の分光透過特性を、該着色層の分光反射特性を用いて算出する光学特性測定方法であって、
前記着色層と同一の又は近似された、基準として定める基準着色層の分光透過特性及び分光反射特性を予め取得する第１の工程と、
前記着色層の分光反射特性を測定する第２の工程と、
前記着色層の分光透過特性を算出するべく、前記着色層の分光反射特性と前記基準着色層の分光反射特性とに基づいて前記基準着色層の分光透過特性を補正する第３の工程とを有することを特徴とする光学特性測定方法。
【請求項２】
前記分光透過特性は、前記分光反射特性が与えられる測定波長域と前記分光反射特性が与えられない非測定波長域とにおける分光透過特性を含むものであって、
前記第３の工程は、
前記測定波長域では、前記着色層及び基準着色層それぞれの分光反射特性に基づいて、且つ、前記非測定波長域では、前記測定波長域における当該非測定波長域に隣接する隣接波長域の前記着色層及び基準着色層それぞれの分光反射特性に基づいて、前記基準着色層の分光透過特性を補正する工程であることを特徴とする請求項１に記載の光学特性測定方法。
【請求項３】
前記光学特性測定方法は、蛍光増白基材上に単数若しくは複数種類の着色材又は前記複数種類の着色材の組み合わせにより着色されてなる着色面の分光透過特性を算出する方法であって、
前記第３の工程は、
前記測定された着色層の分光透過特性と、前記単数若しくは複数種類の着色材又は前記複数種類の着色材の組み合わせの面積率とに基づいて前記着色面の平均的な分光透過特性を算出する工程であることを特徴とする請求項１又は２に記載の光学特性測定方法。
【請求項４】
前記光学特性測定方法は、蛍光増白基材上に単数若しくは複数種類の着色材又は前記複数種類の着色材の組み合わせにより着色されてなる着色面の励起蛍光特性を算出する方法であって、
前記算出された平均的な分光透過特性と、前記蛍光増白基材の励起蛍光特性とに基づいて前記着色面の実効的な励起蛍光特性を算出する第４の工程をさらに有することを特徴とする請求項３に記載の光学特性測定方法。
【請求項５】
前記分光透過特性は分光透過率であり、前記分光反射特性は分光反射輝度率であることを特徴とする請求項１〜５のいずれかに記載の光学特性測定方法。
【請求項６】
前記光学特性測定方法は、前記単数若しくは複数種類の着色材又は前記複数種類の着色材の組み合わせによる着色層の前記分光透過率を前記分光反射輝度率の測定値に基づいて推定的に算出する方法であって、
前記第３の工程は、
下記（１）式に基づいて、前記基準着色層の分光透過率を、前記着色層の分光反射輝度率と前記基準着色層の分光反射輝度率とを用いて補正することで前記着色層の分光透過率を算出する工程であることを特徴とする請求項５に記載の光学特性測定方法。
Ｔ（λ）＝（Ｒ（λ）／Ｒ０（λ））１／２・Ｔ０（λ）・・・（１）
但し、記号「／」：除算
記号「・」：乗算
Ｔ（λ）：着色層の分光透過率
Ｒ（λ）：着色層の分光反射輝度率
Ｔ０（λ）：基準着色層の分光透過率
Ｒ０（λ）：基準着色層の分光反射輝度率
【請求項７】
前記光学特性測定方法は、前記単数若しくは複数種類の着色材又は前記複数種類の着色材の組み合わせによる着色層の前記分光透過率を前記分光反射輝度率の測定値に基づいて推定的に算出する方法であって、
前記第３の工程は、
下記（２）式に基づいて、透過率の異なる少なくとも２つの前記基準着色層である第１及び第２の基準着色層の分光透過率を、所定の重み係数を用いて線形結合することにより補正することで前記着色層の分光透過率を算出する工程であることを特徴とする請求項５に記載の光学特性測定方法。
Ｔ（λ）＝Ａ（λ）・Ｔ０（λ）＋（１−Ａ（λ））・Ｔ１（λ）・・・（２）
但し、記号「／」：除算
記号「・」：乗算
Ｔ（λ）：着色層の分光透過率
Ｔ０（λ）：第１の基準着色層の分光透過率
Ｔ１（λ）：第２の基準着色層の分光透過率
Ａ（λ）：第１及び第２の基準着色層それぞれの分光反射輝度率Ｒ０（λ）及びＲ１（λ）と、前記着色層の分光反射輝度率Ｒ（λ）とによって与えられる重み係数
【請求項８】
前記光学特性測定方法は、前記単数若しくは複数種類の着色材又は前記複数種類の着色材の組み合わせによる着色層の前記分光透過率を前記分光反射輝度率の測定値に基づいて推定的に算出する方法であって、
前記第３の工程は、
前記着色層の分光透過率を、透過率の異なる１つ以上の基準着色層における分光透過率及び分光反射輝度率と、前記着色層の分光反射輝度率との関数によって与える工程であることを特徴とする請求項５に記載の光学特性測定方法。
【請求項９】
単数若しくは複数種類の着色材又は前記複数種類の着色材の組み合わせによる着色層の分光透過特性を、該着色層の分光反射特性を用いて算出する光学特性測定装置であって、
前記着色層と同一の又は近似された、基準として定める基準着色層の分光透過特性及び分光反射特性を記憶する記憶手段と、
前記着色層の分光反射特性を測定する測定手段と、
前記着色層の分光透過特性を算出するべく、前記着色層の分光反射特性と前記基準着色層の分光反射過特性とに基づいて前記基準着色層の分光透過特性を補正する補正手段とを備えることを特徴とする光学特性測定装置。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【公開番号】特開２００８−１４５２２５（Ｐ２００８−１４５２２５Ａ）
【公開日】平成２０年６月２６日（２００８．６．２６）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００６−３３１７５６（Ｐ２００６−３３１７５６）
【出願日】平成１８年１２月８日（２００６．１２．８）
【出願人】（３０３０５０１６０）コニカミノルタセンシング株式会社 (175)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２０年６月２６日（２００８．６．２６）
【国際特許分類】
【出願日】平成１８年１２月８日（２００６．１２．８）
【出願人】（３０３０５０１６０）コニカミノルタセンシング株式会社 (175)
【Ｆターム（参考）】
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