品質評価装置
【課題】物体の品質評価をより適切に行うことができる品質評価装置を提供する。
【解決手段】評価対象物の空隙Ｖを検出する空隙検出部１２と、隣接する空隙Ｖ間の距離に基づいて空隙ＶをクラスタＣｎに分類するクラスタ部１３と、クラスタＣｎの大きさに基づいて評価対象物の品質評価を行う品質評価部１４とを備えることで、評価対象物の空隙Ｖを検出し、隣接する空隙Ｖの距離に基づいて空隙ＶをクラスタＣｎに分類し、分類したクラスタＣｎの大きさに基づいて評価対象物の品質の評価を行うことができ、分類したクラスタＣｎの大きさは、空隙Ｖが集中して存在する度合いを示すため、空隙率が同一の物体であっても適切な品質評価をすることができる。
【解決手段】評価対象物の空隙Ｖを検出する空隙検出部１２と、隣接する空隙Ｖ間の距離に基づいて空隙ＶをクラスタＣｎに分類するクラスタ部１３と、クラスタＣｎの大きさに基づいて評価対象物の品質評価を行う品質評価部１４とを備えることで、評価対象物の空隙Ｖを検出し、隣接する空隙Ｖの距離に基づいて空隙ＶをクラスタＣｎに分類し、分類したクラスタＣｎの大きさに基づいて評価対象物の品質の評価を行うことができ、分類したクラスタＣｎの大きさは、空隙Ｖが集中して存在する度合いを示すため、空隙率が同一の物体であっても適切な品質評価をすることができる。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、物体の品質を評価する品質評価装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、物体の品質の評価には、例えば物体内部の空隙の存在率を示す空隙率が用いられる。空隙率は、例えば、物体表面から内部に向けて超音波を送信し、内部での反射波を受信するまでの時間差を計測することにより空隙を検査して取得する（例えば、特許文献１参照）。
【特許文献１】特開平７−２６０７５１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかしながら、従来の品質評価装置にあっては、品質基準を満たす物体を、品質評価を満たさない物体であると評価する場合がある。例えば、均等に分散した空隙を有する物体は、一箇所に集中した空隙を有する物体に比べて高い耐久能力を有し品質基準を満足するものも存在するが、空隙率の指標のみでは両者を区別することができず、同一のものとして判定してしまう。
【０００４】
そこで、本発明はこのような技術課題を解決するためになされたものであって、物体の品質評価をより適切に行うことができる品質評価装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
すなわち、本発明に係る品質評価装置は、評価対象物の空隙部を検出する空隙部検出手段と、隣接する前記空隙部間の距離に基づいて前記空隙部をクラスタに分類する分類手段と、前記クラスタの大きさに基づいて前記評価対象物の品質評価を行う品質評価手段と、を備えて構成される。
【０００６】
この発明によれば、評価対象物の空隙部を検出し、隣接する空隙部の距離に基づいて空隙部をクラスタに分類し、分類したクラスタの大きさに基づいて評価対象物の品質の評価を行う。このように、隣接する空隙部間の距離に基づいて空隙部をクラスタに分類することができるので、例えばお互いの距離が近い複数の空隙部を、１つのクラスタ、すなわち１つの塊とみなすことができる。分類したクラスタの大きさは、空隙部の存在箇所が集中していることを示す度合いとなるため、クラスタの大きさに基づいて評価対象物の評価を行う事により、空隙率が同一の物体であっても適切な品質評価をすることができる。
【０００７】
ここで、品質評価装置において、前記分類手段は、前記空隙部の大きさを図形で近似し、隣接する前記図形間の距離に基づいて前記空隙部を前記クラスタに分類することが好適である。
【０００８】
このように構成することで、隣接する空隙部間の距離を求める際に空隙部の大きさを考慮することができるため、隣接する空隙部間の距離を正確に求めることが可能となり、結果、より適切な品質評価をすることができる。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、物体の品質評価をより適切に行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
以下、添付図面を参照して本発明の実施形態について説明する。なお、各図において同一又は相当部分には同一の符号を付し、重複する説明を省略する。
【００１１】
（第１実施形態）
第１実施形態に係る品質評価装置は、評価対象物の内部の空隙配列状態に基づいた品質評価に好適に採用されるものである。
【００１２】
最初に、本実施形態に係る品質評価装置の構成を説明する。図１は本発明の実施形態に係る品質評価装置の構成を示すブロック図である。
【００１３】
図１に示す品質評価装置１は、超音波送受信部１１、空隙検出部（空隙検出手段）１２、クラスタ部（分類手段）１３及び品質評価部（品質評価手段）１４を備えている。
【００１４】
超音波送受信部１１は、評価対象物の表面から内部に対して超音波を送信すると共に、評価対象物の表面に対向する底面からの反射波（底面エコー）を受信する機能を有している。超音波送受信部１１は、例えば、１０ｍｍ×１０ｍｍの正方形部に対して１ｍｍピッチで超音波を送信し、底面エコーを計測する機能を有している。また、超音波送受信部１１は、送信超音波の大きさ及び底面エコーの大きさを空隙検出部１２へ出力する機能を有している。
【００１５】
空隙検出部１２は、超音波送受信部１１が出力した送信超音波の大きさ及び底面エコーの大きさに基づいて、評価対象物内部に空隙（空隙部）が存在するか否かを判定する機能を有している。また、空隙検出部１２は、判定結果をクラスタ部１３へ出力する機能を有している。
【００１６】
クラスタ部１３は、空隙検出部１２が出力した判定結果に基づいて、検出した空隙をクラスタ（塊）に分類する機能を有している。例えば、空隙と空隙との間の距離に基づいてそれらの空隙が１つのクラスタに分類されるか否かを判定する機能を有している。また、クラスタ部１３は、分類したクラスタの大きさを品質評価部１４へ出力する機能を有している。
【００１７】
品質評価部１４は、クラスタ部１３が出力したクラスタの大きさのうち、最大のクラスタに基づいて評価対象物の品質を評価する機能を有している。例えば、検査領域全体に対する最大クラスタの割合（最大クラスタ空隙率）を算出し、最大クラスタ空隙率が所定の値より大きいか否かによって評価対象物の品質の良し悪しを判定する機能を有している。
【００１８】
次に、本実施形態に係る品質評価装置１の動作について図２を用いて説明する。図２は、本実施形態に係る品質評価装置１の動作を示すフローチャートである。また、図３，４は、本実施形態に係る品質評価装置１の動作を説明するための概要図である。なお、以下では説明理解の容易性を考慮し、空隙の大きさは１ｍｍ四方であって全て同一の形状であるとする。
【００１９】
図２に示す制御処理は、例えば品質評価装置１の電源ＯＮから所定のタイミングで繰り返し実行される。図２に示す制御処理が開始されると、品質評価装置１は、情報入力処理を開始する（Ｓ１０）。Ｓ１０の処理は、超音波送受信部１１が実行し、例えば、評価対象物に超音波を送信し、底面エコーを受信する処理である。例えば、図３の（ａ）に示すような縦１０ｍｍ、横１０ｍｍの領域Ｄ１に対して、１ｍｍピッチで超音波の送信と底面エコーの受信を行う。なお、領域Ｄ１の各測定箇所には、送信超音波の大きさに対する底面エコーの大きさ（底面エコー値、単位：百分率）を図示している。Ｓ１０の処理が終了すると、空隙検出処理へ移行する（Ｓ１２）。
【００２０】
Ｓ１２の処理は、空隙検出部１２が実行し、Ｓ１０の処理で得られた底面エコー値を用いて領域Ｄ１内の空隙を検出する処理である。例えば、空隙検出部１２は、底面エコー値が所定値より小さい箇所には、空隙が存在すると判定する。所定値としては、例えば３０％が用いられる。例えば、図３の（ａ）に示す領域Ｄ１の場合、色を付した箇所の底面エコー値が３０％より小さいため、当該箇所にはその内部に空隙Ｖが存在すると判定する。なお、以下では、説明理解の容易性を考慮し、領域Ｄ１の横方向をＸ座標、縦方向をＹ座標、左下を原点として空隙をＶ（Ｘ，Ｙ）として表現する。Ｓ１２の処理が終了すると、クラスタ処理へ移行する（Ｓ１４）。
【００２１】
Ｓ１４の処理は、クラスタ部１３が実行し、Ｓ１２の処理で得られた空隙Ｖの存在する位置に基づいてクラスタＣｎ（ｎ：整数）に分類する処理である。クラスタ部１３は、隣り合う２つの空隙Ｖ間の距離が判定値（所定値）より小さい場合には同一のクラスタＣｎに分類し、隣り合う２つの空隙Ｖ間の距離が判定値より小さくない場合には、別のクラスタＣｎに分類する。例えば、図３の（ａ）に示す場合において、クラスタ分類の判定に用いられる判定値を２．９ｍｍと設定した場合を説明する。空隙Ｖ（１，９）と空隙Ｖ（３，７）との間の距離Ｌ１は約２．８ｍｍであるので、設定した判定値より小さい。このため、クラスタ部１３は、図３の（ｂ）に示すように、空隙Ｖ（１，９）及び空隙Ｖ（３，７）を同一のクラスタＣ１に分類する。一方、空隙Ｖ（３，７）と空隙Ｖ（５，１０）との間の距離Ｌ２は約３．６ｍｍであるので、設定した判定値よりも小さくない。このため、クラスタ部１３は、空隙Ｖ（３，７）及び空隙Ｖ（５，１０）を同一のクラスタに分類しない。このように、隣り合う空隙Ｖ間の距離に基づいてクラスタに分類する処理をそれぞれの空隙Ｖにおいて行うことで、例えば、図３の（ｂ）に示すクラスタＣ１〜Ｃ３までに分類することができる。なお、判定に用いる判定値は、求められる品質評価の度合いに応じて適宜設定すればよい。又、各空隙間の距離は、例えば、最近距離法、最長距離法、メディアン法、重心法、可変法、ウォード法など公知のクラスタ解析手法により算出すればよい。Ｓ１４の処理が終了すると、空隙率算出処理へ移行する（Ｓ１６）。
【００２２】
Ｓ１６の処理は、品質評価部１４が実行し、評価対象物の品質を評価する指標（最大クラスタ空隙率）を算出する処理である。品質評価部１４は、例えばＳ１４の処理で得られたクラスタＣ１〜Ｃ３の大きさを算出する。ここでは、クラスタＣｎの大きさを、そのクラスタＣｎに分類された空隙Ｖの大きさで表現する。例えば、図３の（ｂ）に示すクラスタＣ１の大きさは、空隙Ｖ（１，９）、空隙Ｖ（３，７）の大きさを積算した２ｍｍ２である。このように全てのクラスタＣｎについて大きさを算出し、最大の大きさを持つクラスタＣｎを決定する。例えば、図３の（ｂ）に示す場合には、クラスタＣ１の大きさは２ｍｍ２、クラスタＣ２の大きさは５ｍｍ２、クラスタＣ３の大きさは９ｍｍ２であるので、９ｍｍ２のクラスタＣ３を最大クラスタと決定する。次に、品質評価部１４は、評価領域Ｄ１の大きさに対する最大クラスタの大きさを比（百分率）で算出し、最大クラスタ空隙率とする。例えば、図３の（ｂ）に示す場合には、領域Ｄ１が１００ｍｍ２であって、最大クラスタＣ３の大きさが９ｍｍ２であるので、最大クラスタ空隙率は９％となる。この最大クラスタ空隙率が、表対象物の品質を評価する指標となり、値が大きくなればなるほど空隙が集中して存在していることを示す。Ｓ１６の処理が終了すると、品質評価処理へ移行する（Ｓ１８）。
【００２３】
Ｓ１８の処理は、品質評価部１４が実行し、最大クラスタ空隙率に基づいて評価対象物の品質を評価する処理である。品質評価部１４は、Ｓ１６の処理で得られた最大クラスタ空隙率が所定値よりも小さい場合には、評価対象物の品質が良いと判定する。他方、品質評価部１４は、Ｓ１６の処理で得られた最大クラスタ空隙率が所定値よりも小さくない場合には、評価対象物の品質が悪いと判定する。この所定値は、要求される品質や安全基準に基づいて適宜設定される。Ｓ１８の処理が終了すると、図２に示す制御処理を終了する。
【００２４】
以上で図２に示す制御処理を終了する。図２に示す制御処理を実行することで、品質評価装置１は、最大クラスタ空隙率を用いることで、空隙の配列状態及び大きさに基づいて評価対象物の品質を判定することができる。
【００２５】
ところで、従来の品質評価装置であれば、空隙率（全体領域の大きさに対する空隙の大きさ）のみで品質評価を行う。このため、例えば図３、図４に示すような空隙を有する評価対象物の空隙率はいずれも１６％であり、両者を区別することができない。すなわち、空隙Ｖが分散して存在する図４の領域Ｄ２は、空隙Ｖが密集して存在している図３の領域Ｄ１に比べて明らかに強度が優れているが、両者は同一の品質として評価されてしまう。
【００２６】
これに対して、本実施形態の品質評価装置１は、空隙の位置関係と量とを示す最大クラスタ空隙率を用いて空隙を評価することで、図３の領域Ｄ１、図４の領域Ｄ２を明確に分けて判定することができる。例えば、図３の領域Ｄ１の最大クラスタＣ３の大きさは９ｍｍ２であるので、最大クラスタ空隙率は９％である。一方、図４の領域Ｄ２については、すべての空隙Ｖがそれぞれ別のクラスタＣｎに分類されるので、最大クラスタの大きさは１ｍｍ２であり、最大クラスタ空隙率は１％である。よって、仮に品質評価の閾値が５％であるとすると、図３に示す評価対象物の品質は悪く、図４に示す評価対象物の品質は良いと判定することができる。
【００２７】
上述した通り、第１実施形態の品質評価装置１によれば、評価対象物の空隙Ｖを検出し、隣接する空隙Ｖの距離に基づいて空隙ＶをクラスタＣｎに分類し、分類したクラスタＣｎの大きさに基づいて評価対象物の品質の評価を行う。このように、隣接する空隙Ｖ間の距離に基づいて空隙ＶをクラスタＣｎに分類することができるので、例えばお互いの距離が近い複数の空隙Ｖを、１つのクラスタ、すなわち１つの塊とみなすことができる。分類したクラスタＣｎの大きさは、空隙Ｖの存在箇所が集中していることを示す度合いとなるため、クラスタＣｎの大きさに基づいて評価対象物の評価を行うことにより、空隙率が同一の物体であっても適切な品質評価をすることができる。
【００２８】
（第２実施形態）
第２実施形態に係る品質評価装置は、第１実施形態に係る品質評価装置１とほぼ同様に構成されるものであって、空隙形状情報入力部１５を備える点が相違する。なお、第２実施形態においては、第１実施形態と重複する部分は説明を省略し、相違点を中心に説明する。
【００２９】
最初に、第２実施形態に係る品質評価装置の構成について説明する。図５は、第２実施形態に係る品質評価装置２の構成を示すブロック図である。
【００３０】
図５に示すように、品質評価装置２は、空隙形状情報入力部１５を有している。空隙形状情報入力部１５は、評価対象物内部の空隙の形状に関する情報を入力する機能を有している。例えば、空隙形状情報入力部１５は、空隙の最大径長さ、最大径角度、最小径長さ、円形度係数、円相当径等を入力する機能を有している。さらに、空隙形状情報入力部１５は、取得した情報をクラスタ部１３へ出力する機能を有している。
【００３１】
また、クラスタ部１３は、空隙Ｖの大きさを考慮して空隙Ｖ間の距離を算出する機能を有している。クラスタ部１３は、空隙Ｖを所定の図形に近似し、近似した図形間の距離を、空隙Ｖ間の距離とする機能を有している。なお、クラスタ部１３のその他の機能は、第１実施形態と同様である。
【００３２】
次に、本実施形態に係る品質評価装置２の動作について説明する。図６は、本実施形態に係る品質評価装置２の動作を示すフローチャート、図７は、評価対象物体の断面のＸ線透過像、図８，９は、本実施形態に係る品質評価装置２のクラスタ処理を説明するための概要図である。
【００３３】
図６に示す制御処理は、例えば品質評価装置２の電源ＯＮから所定のタイミングで繰り返し実行される。図６に示す制御処理が開始されると、品質評価装置２は、情報入力処理を開始する（Ｓ２０）。Ｓ２０の処理は、図２のＳ１０の処理と同様であり、例えば、評価対象物に超音波を送信し、底面エコーを受信する処理である。また、Ｓ２０の処理において、空隙形状情報入力部１５は、空隙の形状に関する情報を入力するために、例えば図７に示すＸ線透過像を取得する。このＸ線透過像は、超音波送受信部１１が測定した領域と同一の領域において撮像された断面像であり、黒色部分が空隙を示している。Ｓ２０の処理が終了すると、空隙検出処理へ移行する（Ｓ２２）。
【００３４】
Ｓ２２の処理は、図２のＳ１２の処理と同様であり、評価対象物の内部の空隙Ｖを検出する処理である。Ｓ２２の処理が終了すると、空隙近似処理へ移行する（Ｓ２４）。
【００３５】
Ｓ２４の処理は、クラスタ部１３が実行し、Ｓ２２の処理で得られた空隙Ｖを所定の図形に近似する処理である。最初に、クラスタ部１３は、Ｓ２２の処理で検出した空隙Ｖに関し、Ｓ２０の処理で入力したＸ線透過像に基づいて、例えば、最大径長さ、最大径角度、最小径長さ、円形度係数、円相当径等を算出する。算出方法は、公知の粒子解析手法で行われる。例えば、図８に示すように、横方向がＸ、縦方向がＹによって特定される領域において、４つの空隙Ｖ（Ｎｏ.１（０，０）、Ｎｏ.２（１０，０）、Ｎｏ.３（１，１０）、Ｎｏ.４（１０，１０））がＳ２２の処理で検出された場合、Ｘ線透過像の解析により以下の表に示すデータを算出する。
【表１】
【００３６】
クラスタ部１３は、算出した表のデータに従って、図形を用いて空隙Ｖの形状を近似する。例えば、表の円相当径を直径とし、空隙Ｖを検出した位置を中心とする円で空隙Ｖを近似する。これにより、図８に示すように、それぞれの空隙を円ＶＣ１〜ＶＣ４で近似することができる。Ｓ２４の処理が終了すると、クラスタ処理へ移行する（Ｓ２６）。
【００３７】
Ｓ２６の処理は、クラスタ部１３が実行し、Ｓ２４の処理で得られた空隙Ｖを近似した円間の距離に基づいて、各空隙Ｖをクラスタに分類する処理である。クラスタ部１３は、隣り合う２つの円間の距離が判定値より小さい場合には同一のクラスタに分類し、隣り合う２つの円間の距離が判定値より小さくない場合には別のクラスタに分類する。この処理について、図９を用いて説明する。図９に示すグラフは、図８に示す各空隙を近似した各円間の最短距離Ｌｎ（ｎ：整数）を、横軸にプロットしたものである。クラスタ分類を判定する判定値を４．５と設定した場合、円ＶＣ１と円ＶＣ２との間の距離Ｌ１は４であるので、Ｎｏ.１とＮｏ.２を同一のクラスタに分類する。一方、円ＶＣ２と円ＶＣ４との距離Ｌ２は５、円ＶＣ３と円ＶＣ４との距離Ｌ３は７であるので、Ｎｏ.２とＮｏ４、さらに、Ｎｏ.３とＮｏ４はそれぞれ別のクラスタに分類する。すなわち、Ｎｏ.１とＮｏ.２を同一のクラスタに分類し、Ｎｏ.３、Ｎｏ４をそれぞれ独立した別のクラスタに分類する。Ｓ２６の処理が終了すると、空隙率算出処理へ移行する（Ｓ２８）。
【００３８】
Ｓ２８の処理は、図２のＳ１６の処理と同様であり、評価対象物の品質を評価する指標を算出する処理である。Ｓ２８の処理が終了すると、品質評価処理へ移行する（Ｓ３０）。
【００３９】
Ｓ３０の処理は、図２のＳ１８の処理と同様であり、最大クラスタ空隙率に基づいて評価対象物の品質を評価する処理である。Ｓ３０の処理が終了すると、図６に示す制御処理を終了する。
【００４０】
以上で図６に示す制御処理を終了する。図６に示す制御処理を実行することで、品質評価装置２は、空隙の大きさを考慮してクラスタの分類を行い、最大クラスタ空隙率を用いて評価対象物の品質を判定することができる。
【００４１】
ところで、従来のクラスタ解析方法によれば、空隙の大きさを考慮せずに各空隙をクラスタに分類する。このため、例えば、図１２に示すように、横軸がＸ、縦軸がＹによって特定される領域において、表１に示す４つの空隙Ｖ（Ｎｏ.１（０，０）、Ｎｏ.２（１０，０）、Ｎｏ.３（１，１０）、Ｎｏ.４（１０，１０））が検出された場合、図１３に示すように、各空隙間の距離は、少なくとも８以上である。クラスタ分類を判定する所定値を４．５と設定した場合、４つの空隙Ｖ（Ｎｏ.１〜Ｎｏ.４）は全て別のクラスタに分類されてしまい、空隙の配列状態、位置関係を適切に示したものとはならない。
【００４２】
これに対して、本実施形態の品質評価装置２は、空隙Ｖの大きさを円で近似し、近似した円間の距離Ｌｎを空隙間の距離としているため、各空隙の大きさを空隙間の距離に反映させることができる。これにより、クラスタ分類を判定する所定値を同様に４．５と設定した場合、図９に示すように、Ｎｏ.１とＮｏ.２を同一のクラスタとし、Ｎｏ.３、Ｎｏ.４をそれぞれ独立した別のクラスタとすることができる。
【００４３】
上述した通り、第２実施形態に係る品質評価装置２によれば、空隙Ｖを円で近似することにより、隣接する空隙Ｖ間の距離Ｌｎを求める際に空隙Ｖの大きさを考慮することができるため、隣接する空隙Ｖ間の距離Ｌｎを正確に求めることが可能となり、結果、より適切な品質評価をすることができる。
【００４４】
なお、上述した各実施形態は本発明に係る品質評価装置の一例を示すものである。本発明に係る品質評価装置は、これらの各実施形態に係る品質評価装置に限られるものではなく、各請求項に記載した要旨を変更しない範囲で、各実施形態に係る品質評価装置を変形し、又は他のものに適用したものであってもよい。
【００４５】
例えば、第２実施形態では、１つの円で空隙の形状を近似する例を説明したが、図６のＳ２４の処理において算出した表１を用いて、例えば図１０のように、細長い空隙Ｖ（Ｎｏ.４）を複数の小円で近似してもよい。小円で空隙Ｖを近似するか否かの判断は、空隙Ｖの円形度係数に応じて決定すればよく、例えば、例えば表１の円形度係数が０．３より小さい空隙に対して行うものとすればよい。小円の直径は、例えば表１の最小径長さとし、空隙の中心から表１の最大径角度の傾き方向に対して最大径長さに達するまで並べて近似する。このように、複数の円を用いて近似することで、図１１に示すように、Ｎｏ.１、Ｎｏ.２、Ｎｏ.４を同一のクラスタとし、Ｎｏ．３を独立した別のクラスタとして判定することができるため、空隙の配列状態、位置関係をより一層適切に反映させることができる。これにより、複雑な空隙の形状であっても、適切なクラスタに分類することができる。
【００４６】
さらに、第２実施形態では、空隙の形状を円で近似する例を説明したが、円に限られるものではなく、楕円、半円、矩形、多角形等であってもよい。
【図面の簡単な説明】
【００４７】
【図１】第１実施形態に係る品質評価装置の構成概要を示すブロック図である。
【図２】図１の品質評価装置の動作を示すフローチャートである。
【図３】図１の品質評価装置の動作を説明する概要図である。
【図４】図１の品質評価装置の動作を説明する概要図である。
【図５】第２実施形態に係る品質評価装置の構成概要を示すブロック図である。
【図６】図５の品質評価装置の動作を示すフローチャートである。
【図７】評価対象物の断面を示すＸ線透過写真である。
【図８】図５の品質評価装置の動作を説明する概要図である。
【図９】図５の品質評価装置の動作を説明する概要図である。
【図１０】品質評価装置の他の動作を説明する概要図である。
【図１１】品質評価装置の他の動作を説明する概要図である。
【図１２】従来のクラスタ解析手法を説明する概要図である。
【図１３】従来のクラスタ解析手法を説明する概要図である。
【符号の説明】
【００４８】
１…品質評価装置、１１…超音波送受信部、１２…空隙検出部（空隙検出手段）、１３…クラスタ部（分類手段）、１４…品質評価部（品質評価手段）。
【技術分野】
【０００１】
本発明は、物体の品質を評価する品質評価装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、物体の品質の評価には、例えば物体内部の空隙の存在率を示す空隙率が用いられる。空隙率は、例えば、物体表面から内部に向けて超音波を送信し、内部での反射波を受信するまでの時間差を計測することにより空隙を検査して取得する（例えば、特許文献１参照）。
【特許文献１】特開平７−２６０７５１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかしながら、従来の品質評価装置にあっては、品質基準を満たす物体を、品質評価を満たさない物体であると評価する場合がある。例えば、均等に分散した空隙を有する物体は、一箇所に集中した空隙を有する物体に比べて高い耐久能力を有し品質基準を満足するものも存在するが、空隙率の指標のみでは両者を区別することができず、同一のものとして判定してしまう。
【０００４】
そこで、本発明はこのような技術課題を解決するためになされたものであって、物体の品質評価をより適切に行うことができる品質評価装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
すなわち、本発明に係る品質評価装置は、評価対象物の空隙部を検出する空隙部検出手段と、隣接する前記空隙部間の距離に基づいて前記空隙部をクラスタに分類する分類手段と、前記クラスタの大きさに基づいて前記評価対象物の品質評価を行う品質評価手段と、を備えて構成される。
【０００６】
この発明によれば、評価対象物の空隙部を検出し、隣接する空隙部の距離に基づいて空隙部をクラスタに分類し、分類したクラスタの大きさに基づいて評価対象物の品質の評価を行う。このように、隣接する空隙部間の距離に基づいて空隙部をクラスタに分類することができるので、例えばお互いの距離が近い複数の空隙部を、１つのクラスタ、すなわち１つの塊とみなすことができる。分類したクラスタの大きさは、空隙部の存在箇所が集中していることを示す度合いとなるため、クラスタの大きさに基づいて評価対象物の評価を行う事により、空隙率が同一の物体であっても適切な品質評価をすることができる。
【０００７】
ここで、品質評価装置において、前記分類手段は、前記空隙部の大きさを図形で近似し、隣接する前記図形間の距離に基づいて前記空隙部を前記クラスタに分類することが好適である。
【０００８】
このように構成することで、隣接する空隙部間の距離を求める際に空隙部の大きさを考慮することができるため、隣接する空隙部間の距離を正確に求めることが可能となり、結果、より適切な品質評価をすることができる。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、物体の品質評価をより適切に行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
以下、添付図面を参照して本発明の実施形態について説明する。なお、各図において同一又は相当部分には同一の符号を付し、重複する説明を省略する。
【００１１】
（第１実施形態）
第１実施形態に係る品質評価装置は、評価対象物の内部の空隙配列状態に基づいた品質評価に好適に採用されるものである。
【００１２】
最初に、本実施形態に係る品質評価装置の構成を説明する。図１は本発明の実施形態に係る品質評価装置の構成を示すブロック図である。
【００１３】
図１に示す品質評価装置１は、超音波送受信部１１、空隙検出部（空隙検出手段）１２、クラスタ部（分類手段）１３及び品質評価部（品質評価手段）１４を備えている。
【００１４】
超音波送受信部１１は、評価対象物の表面から内部に対して超音波を送信すると共に、評価対象物の表面に対向する底面からの反射波（底面エコー）を受信する機能を有している。超音波送受信部１１は、例えば、１０ｍｍ×１０ｍｍの正方形部に対して１ｍｍピッチで超音波を送信し、底面エコーを計測する機能を有している。また、超音波送受信部１１は、送信超音波の大きさ及び底面エコーの大きさを空隙検出部１２へ出力する機能を有している。
【００１５】
空隙検出部１２は、超音波送受信部１１が出力した送信超音波の大きさ及び底面エコーの大きさに基づいて、評価対象物内部に空隙（空隙部）が存在するか否かを判定する機能を有している。また、空隙検出部１２は、判定結果をクラスタ部１３へ出力する機能を有している。
【００１６】
クラスタ部１３は、空隙検出部１２が出力した判定結果に基づいて、検出した空隙をクラスタ（塊）に分類する機能を有している。例えば、空隙と空隙との間の距離に基づいてそれらの空隙が１つのクラスタに分類されるか否かを判定する機能を有している。また、クラスタ部１３は、分類したクラスタの大きさを品質評価部１４へ出力する機能を有している。
【００１７】
品質評価部１４は、クラスタ部１３が出力したクラスタの大きさのうち、最大のクラスタに基づいて評価対象物の品質を評価する機能を有している。例えば、検査領域全体に対する最大クラスタの割合（最大クラスタ空隙率）を算出し、最大クラスタ空隙率が所定の値より大きいか否かによって評価対象物の品質の良し悪しを判定する機能を有している。
【００１８】
次に、本実施形態に係る品質評価装置１の動作について図２を用いて説明する。図２は、本実施形態に係る品質評価装置１の動作を示すフローチャートである。また、図３，４は、本実施形態に係る品質評価装置１の動作を説明するための概要図である。なお、以下では説明理解の容易性を考慮し、空隙の大きさは１ｍｍ四方であって全て同一の形状であるとする。
【００１９】
図２に示す制御処理は、例えば品質評価装置１の電源ＯＮから所定のタイミングで繰り返し実行される。図２に示す制御処理が開始されると、品質評価装置１は、情報入力処理を開始する（Ｓ１０）。Ｓ１０の処理は、超音波送受信部１１が実行し、例えば、評価対象物に超音波を送信し、底面エコーを受信する処理である。例えば、図３の（ａ）に示すような縦１０ｍｍ、横１０ｍｍの領域Ｄ１に対して、１ｍｍピッチで超音波の送信と底面エコーの受信を行う。なお、領域Ｄ１の各測定箇所には、送信超音波の大きさに対する底面エコーの大きさ（底面エコー値、単位：百分率）を図示している。Ｓ１０の処理が終了すると、空隙検出処理へ移行する（Ｓ１２）。
【００２０】
Ｓ１２の処理は、空隙検出部１２が実行し、Ｓ１０の処理で得られた底面エコー値を用いて領域Ｄ１内の空隙を検出する処理である。例えば、空隙検出部１２は、底面エコー値が所定値より小さい箇所には、空隙が存在すると判定する。所定値としては、例えば３０％が用いられる。例えば、図３の（ａ）に示す領域Ｄ１の場合、色を付した箇所の底面エコー値が３０％より小さいため、当該箇所にはその内部に空隙Ｖが存在すると判定する。なお、以下では、説明理解の容易性を考慮し、領域Ｄ１の横方向をＸ座標、縦方向をＹ座標、左下を原点として空隙をＶ（Ｘ，Ｙ）として表現する。Ｓ１２の処理が終了すると、クラスタ処理へ移行する（Ｓ１４）。
【００２１】
Ｓ１４の処理は、クラスタ部１３が実行し、Ｓ１２の処理で得られた空隙Ｖの存在する位置に基づいてクラスタＣｎ（ｎ：整数）に分類する処理である。クラスタ部１３は、隣り合う２つの空隙Ｖ間の距離が判定値（所定値）より小さい場合には同一のクラスタＣｎに分類し、隣り合う２つの空隙Ｖ間の距離が判定値より小さくない場合には、別のクラスタＣｎに分類する。例えば、図３の（ａ）に示す場合において、クラスタ分類の判定に用いられる判定値を２．９ｍｍと設定した場合を説明する。空隙Ｖ（１，９）と空隙Ｖ（３，７）との間の距離Ｌ１は約２．８ｍｍであるので、設定した判定値より小さい。このため、クラスタ部１３は、図３の（ｂ）に示すように、空隙Ｖ（１，９）及び空隙Ｖ（３，７）を同一のクラスタＣ１に分類する。一方、空隙Ｖ（３，７）と空隙Ｖ（５，１０）との間の距離Ｌ２は約３．６ｍｍであるので、設定した判定値よりも小さくない。このため、クラスタ部１３は、空隙Ｖ（３，７）及び空隙Ｖ（５，１０）を同一のクラスタに分類しない。このように、隣り合う空隙Ｖ間の距離に基づいてクラスタに分類する処理をそれぞれの空隙Ｖにおいて行うことで、例えば、図３の（ｂ）に示すクラスタＣ１〜Ｃ３までに分類することができる。なお、判定に用いる判定値は、求められる品質評価の度合いに応じて適宜設定すればよい。又、各空隙間の距離は、例えば、最近距離法、最長距離法、メディアン法、重心法、可変法、ウォード法など公知のクラスタ解析手法により算出すればよい。Ｓ１４の処理が終了すると、空隙率算出処理へ移行する（Ｓ１６）。
【００２２】
Ｓ１６の処理は、品質評価部１４が実行し、評価対象物の品質を評価する指標（最大クラスタ空隙率）を算出する処理である。品質評価部１４は、例えばＳ１４の処理で得られたクラスタＣ１〜Ｃ３の大きさを算出する。ここでは、クラスタＣｎの大きさを、そのクラスタＣｎに分類された空隙Ｖの大きさで表現する。例えば、図３の（ｂ）に示すクラスタＣ１の大きさは、空隙Ｖ（１，９）、空隙Ｖ（３，７）の大きさを積算した２ｍｍ２である。このように全てのクラスタＣｎについて大きさを算出し、最大の大きさを持つクラスタＣｎを決定する。例えば、図３の（ｂ）に示す場合には、クラスタＣ１の大きさは２ｍｍ２、クラスタＣ２の大きさは５ｍｍ２、クラスタＣ３の大きさは９ｍｍ２であるので、９ｍｍ２のクラスタＣ３を最大クラスタと決定する。次に、品質評価部１４は、評価領域Ｄ１の大きさに対する最大クラスタの大きさを比（百分率）で算出し、最大クラスタ空隙率とする。例えば、図３の（ｂ）に示す場合には、領域Ｄ１が１００ｍｍ２であって、最大クラスタＣ３の大きさが９ｍｍ２であるので、最大クラスタ空隙率は９％となる。この最大クラスタ空隙率が、表対象物の品質を評価する指標となり、値が大きくなればなるほど空隙が集中して存在していることを示す。Ｓ１６の処理が終了すると、品質評価処理へ移行する（Ｓ１８）。
【００２３】
Ｓ１８の処理は、品質評価部１４が実行し、最大クラスタ空隙率に基づいて評価対象物の品質を評価する処理である。品質評価部１４は、Ｓ１６の処理で得られた最大クラスタ空隙率が所定値よりも小さい場合には、評価対象物の品質が良いと判定する。他方、品質評価部１４は、Ｓ１６の処理で得られた最大クラスタ空隙率が所定値よりも小さくない場合には、評価対象物の品質が悪いと判定する。この所定値は、要求される品質や安全基準に基づいて適宜設定される。Ｓ１８の処理が終了すると、図２に示す制御処理を終了する。
【００２４】
以上で図２に示す制御処理を終了する。図２に示す制御処理を実行することで、品質評価装置１は、最大クラスタ空隙率を用いることで、空隙の配列状態及び大きさに基づいて評価対象物の品質を判定することができる。
【００２５】
ところで、従来の品質評価装置であれば、空隙率（全体領域の大きさに対する空隙の大きさ）のみで品質評価を行う。このため、例えば図３、図４に示すような空隙を有する評価対象物の空隙率はいずれも１６％であり、両者を区別することができない。すなわち、空隙Ｖが分散して存在する図４の領域Ｄ２は、空隙Ｖが密集して存在している図３の領域Ｄ１に比べて明らかに強度が優れているが、両者は同一の品質として評価されてしまう。
【００２６】
これに対して、本実施形態の品質評価装置１は、空隙の位置関係と量とを示す最大クラスタ空隙率を用いて空隙を評価することで、図３の領域Ｄ１、図４の領域Ｄ２を明確に分けて判定することができる。例えば、図３の領域Ｄ１の最大クラスタＣ３の大きさは９ｍｍ２であるので、最大クラスタ空隙率は９％である。一方、図４の領域Ｄ２については、すべての空隙Ｖがそれぞれ別のクラスタＣｎに分類されるので、最大クラスタの大きさは１ｍｍ２であり、最大クラスタ空隙率は１％である。よって、仮に品質評価の閾値が５％であるとすると、図３に示す評価対象物の品質は悪く、図４に示す評価対象物の品質は良いと判定することができる。
【００２７】
上述した通り、第１実施形態の品質評価装置１によれば、評価対象物の空隙Ｖを検出し、隣接する空隙Ｖの距離に基づいて空隙ＶをクラスタＣｎに分類し、分類したクラスタＣｎの大きさに基づいて評価対象物の品質の評価を行う。このように、隣接する空隙Ｖ間の距離に基づいて空隙ＶをクラスタＣｎに分類することができるので、例えばお互いの距離が近い複数の空隙Ｖを、１つのクラスタ、すなわち１つの塊とみなすことができる。分類したクラスタＣｎの大きさは、空隙Ｖの存在箇所が集中していることを示す度合いとなるため、クラスタＣｎの大きさに基づいて評価対象物の評価を行うことにより、空隙率が同一の物体であっても適切な品質評価をすることができる。
【００２８】
（第２実施形態）
第２実施形態に係る品質評価装置は、第１実施形態に係る品質評価装置１とほぼ同様に構成されるものであって、空隙形状情報入力部１５を備える点が相違する。なお、第２実施形態においては、第１実施形態と重複する部分は説明を省略し、相違点を中心に説明する。
【００２９】
最初に、第２実施形態に係る品質評価装置の構成について説明する。図５は、第２実施形態に係る品質評価装置２の構成を示すブロック図である。
【００３０】
図５に示すように、品質評価装置２は、空隙形状情報入力部１５を有している。空隙形状情報入力部１５は、評価対象物内部の空隙の形状に関する情報を入力する機能を有している。例えば、空隙形状情報入力部１５は、空隙の最大径長さ、最大径角度、最小径長さ、円形度係数、円相当径等を入力する機能を有している。さらに、空隙形状情報入力部１５は、取得した情報をクラスタ部１３へ出力する機能を有している。
【００３１】
また、クラスタ部１３は、空隙Ｖの大きさを考慮して空隙Ｖ間の距離を算出する機能を有している。クラスタ部１３は、空隙Ｖを所定の図形に近似し、近似した図形間の距離を、空隙Ｖ間の距離とする機能を有している。なお、クラスタ部１３のその他の機能は、第１実施形態と同様である。
【００３２】
次に、本実施形態に係る品質評価装置２の動作について説明する。図６は、本実施形態に係る品質評価装置２の動作を示すフローチャート、図７は、評価対象物体の断面のＸ線透過像、図８，９は、本実施形態に係る品質評価装置２のクラスタ処理を説明するための概要図である。
【００３３】
図６に示す制御処理は、例えば品質評価装置２の電源ＯＮから所定のタイミングで繰り返し実行される。図６に示す制御処理が開始されると、品質評価装置２は、情報入力処理を開始する（Ｓ２０）。Ｓ２０の処理は、図２のＳ１０の処理と同様であり、例えば、評価対象物に超音波を送信し、底面エコーを受信する処理である。また、Ｓ２０の処理において、空隙形状情報入力部１５は、空隙の形状に関する情報を入力するために、例えば図７に示すＸ線透過像を取得する。このＸ線透過像は、超音波送受信部１１が測定した領域と同一の領域において撮像された断面像であり、黒色部分が空隙を示している。Ｓ２０の処理が終了すると、空隙検出処理へ移行する（Ｓ２２）。
【００３４】
Ｓ２２の処理は、図２のＳ１２の処理と同様であり、評価対象物の内部の空隙Ｖを検出する処理である。Ｓ２２の処理が終了すると、空隙近似処理へ移行する（Ｓ２４）。
【００３５】
Ｓ２４の処理は、クラスタ部１３が実行し、Ｓ２２の処理で得られた空隙Ｖを所定の図形に近似する処理である。最初に、クラスタ部１３は、Ｓ２２の処理で検出した空隙Ｖに関し、Ｓ２０の処理で入力したＸ線透過像に基づいて、例えば、最大径長さ、最大径角度、最小径長さ、円形度係数、円相当径等を算出する。算出方法は、公知の粒子解析手法で行われる。例えば、図８に示すように、横方向がＸ、縦方向がＹによって特定される領域において、４つの空隙Ｖ（Ｎｏ.１（０，０）、Ｎｏ.２（１０，０）、Ｎｏ.３（１，１０）、Ｎｏ.４（１０，１０））がＳ２２の処理で検出された場合、Ｘ線透過像の解析により以下の表に示すデータを算出する。
【表１】
【００３６】
クラスタ部１３は、算出した表のデータに従って、図形を用いて空隙Ｖの形状を近似する。例えば、表の円相当径を直径とし、空隙Ｖを検出した位置を中心とする円で空隙Ｖを近似する。これにより、図８に示すように、それぞれの空隙を円ＶＣ１〜ＶＣ４で近似することができる。Ｓ２４の処理が終了すると、クラスタ処理へ移行する（Ｓ２６）。
【００３７】
Ｓ２６の処理は、クラスタ部１３が実行し、Ｓ２４の処理で得られた空隙Ｖを近似した円間の距離に基づいて、各空隙Ｖをクラスタに分類する処理である。クラスタ部１３は、隣り合う２つの円間の距離が判定値より小さい場合には同一のクラスタに分類し、隣り合う２つの円間の距離が判定値より小さくない場合には別のクラスタに分類する。この処理について、図９を用いて説明する。図９に示すグラフは、図８に示す各空隙を近似した各円間の最短距離Ｌｎ（ｎ：整数）を、横軸にプロットしたものである。クラスタ分類を判定する判定値を４．５と設定した場合、円ＶＣ１と円ＶＣ２との間の距離Ｌ１は４であるので、Ｎｏ.１とＮｏ.２を同一のクラスタに分類する。一方、円ＶＣ２と円ＶＣ４との距離Ｌ２は５、円ＶＣ３と円ＶＣ４との距離Ｌ３は７であるので、Ｎｏ.２とＮｏ４、さらに、Ｎｏ.３とＮｏ４はそれぞれ別のクラスタに分類する。すなわち、Ｎｏ.１とＮｏ.２を同一のクラスタに分類し、Ｎｏ.３、Ｎｏ４をそれぞれ独立した別のクラスタに分類する。Ｓ２６の処理が終了すると、空隙率算出処理へ移行する（Ｓ２８）。
【００３８】
Ｓ２８の処理は、図２のＳ１６の処理と同様であり、評価対象物の品質を評価する指標を算出する処理である。Ｓ２８の処理が終了すると、品質評価処理へ移行する（Ｓ３０）。
【００３９】
Ｓ３０の処理は、図２のＳ１８の処理と同様であり、最大クラスタ空隙率に基づいて評価対象物の品質を評価する処理である。Ｓ３０の処理が終了すると、図６に示す制御処理を終了する。
【００４０】
以上で図６に示す制御処理を終了する。図６に示す制御処理を実行することで、品質評価装置２は、空隙の大きさを考慮してクラスタの分類を行い、最大クラスタ空隙率を用いて評価対象物の品質を判定することができる。
【００４１】
ところで、従来のクラスタ解析方法によれば、空隙の大きさを考慮せずに各空隙をクラスタに分類する。このため、例えば、図１２に示すように、横軸がＸ、縦軸がＹによって特定される領域において、表１に示す４つの空隙Ｖ（Ｎｏ.１（０，０）、Ｎｏ.２（１０，０）、Ｎｏ.３（１，１０）、Ｎｏ.４（１０，１０））が検出された場合、図１３に示すように、各空隙間の距離は、少なくとも８以上である。クラスタ分類を判定する所定値を４．５と設定した場合、４つの空隙Ｖ（Ｎｏ.１〜Ｎｏ.４）は全て別のクラスタに分類されてしまい、空隙の配列状態、位置関係を適切に示したものとはならない。
【００４２】
これに対して、本実施形態の品質評価装置２は、空隙Ｖの大きさを円で近似し、近似した円間の距離Ｌｎを空隙間の距離としているため、各空隙の大きさを空隙間の距離に反映させることができる。これにより、クラスタ分類を判定する所定値を同様に４．５と設定した場合、図９に示すように、Ｎｏ.１とＮｏ.２を同一のクラスタとし、Ｎｏ.３、Ｎｏ.４をそれぞれ独立した別のクラスタとすることができる。
【００４３】
上述した通り、第２実施形態に係る品質評価装置２によれば、空隙Ｖを円で近似することにより、隣接する空隙Ｖ間の距離Ｌｎを求める際に空隙Ｖの大きさを考慮することができるため、隣接する空隙Ｖ間の距離Ｌｎを正確に求めることが可能となり、結果、より適切な品質評価をすることができる。
【００４４】
なお、上述した各実施形態は本発明に係る品質評価装置の一例を示すものである。本発明に係る品質評価装置は、これらの各実施形態に係る品質評価装置に限られるものではなく、各請求項に記載した要旨を変更しない範囲で、各実施形態に係る品質評価装置を変形し、又は他のものに適用したものであってもよい。
【００４５】
例えば、第２実施形態では、１つの円で空隙の形状を近似する例を説明したが、図６のＳ２４の処理において算出した表１を用いて、例えば図１０のように、細長い空隙Ｖ（Ｎｏ.４）を複数の小円で近似してもよい。小円で空隙Ｖを近似するか否かの判断は、空隙Ｖの円形度係数に応じて決定すればよく、例えば、例えば表１の円形度係数が０．３より小さい空隙に対して行うものとすればよい。小円の直径は、例えば表１の最小径長さとし、空隙の中心から表１の最大径角度の傾き方向に対して最大径長さに達するまで並べて近似する。このように、複数の円を用いて近似することで、図１１に示すように、Ｎｏ.１、Ｎｏ.２、Ｎｏ.４を同一のクラスタとし、Ｎｏ．３を独立した別のクラスタとして判定することができるため、空隙の配列状態、位置関係をより一層適切に反映させることができる。これにより、複雑な空隙の形状であっても、適切なクラスタに分類することができる。
【００４６】
さらに、第２実施形態では、空隙の形状を円で近似する例を説明したが、円に限られるものではなく、楕円、半円、矩形、多角形等であってもよい。
【図面の簡単な説明】
【００４７】
【図１】第１実施形態に係る品質評価装置の構成概要を示すブロック図である。
【図２】図１の品質評価装置の動作を示すフローチャートである。
【図３】図１の品質評価装置の動作を説明する概要図である。
【図４】図１の品質評価装置の動作を説明する概要図である。
【図５】第２実施形態に係る品質評価装置の構成概要を示すブロック図である。
【図６】図５の品質評価装置の動作を示すフローチャートである。
【図７】評価対象物の断面を示すＸ線透過写真である。
【図８】図５の品質評価装置の動作を説明する概要図である。
【図９】図５の品質評価装置の動作を説明する概要図である。
【図１０】品質評価装置の他の動作を説明する概要図である。
【図１１】品質評価装置の他の動作を説明する概要図である。
【図１２】従来のクラスタ解析手法を説明する概要図である。
【図１３】従来のクラスタ解析手法を説明する概要図である。
【符号の説明】
【００４８】
１…品質評価装置、１１…超音波送受信部、１２…空隙検出部（空隙検出手段）、１３…クラスタ部（分類手段）、１４…品質評価部（品質評価手段）。
【特許請求の範囲】
【請求項１】
評価対象物の空隙部を検出する空隙部検出手段と、
隣接する前記空隙部間の距離に基づいて前記空隙部をクラスタに分類する分類手段と、
前記クラスタの大きさに基づいて前記評価対象物の品質評価を行う品質評価手段と、
を備える品質評価装置。
【請求項２】
前記分類手段は、前記空隙部の大きさを図形で近似し、隣接する前記図形間の距離に基づいて前記空隙部を前記クラスタに分類すること、
を特徴とする請求項１に記載の品質評価装置。
【請求項１】
評価対象物の空隙部を検出する空隙部検出手段と、
隣接する前記空隙部間の距離に基づいて前記空隙部をクラスタに分類する分類手段と、
前記クラスタの大きさに基づいて前記評価対象物の品質評価を行う品質評価手段と、
を備える品質評価装置。
【請求項２】
前記分類手段は、前記空隙部の大きさを図形で近似し、隣接する前記図形間の距離に基づいて前記空隙部を前記クラスタに分類すること、
を特徴とする請求項１に記載の品質評価装置。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図７】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図７】
【公開番号】特開２００９−１８０５５２（Ｐ２００９−１８０５５２Ａ）
【公開日】平成２１年８月１３日（２００９．８．１３）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００８−１８００２（Ｐ２００８−１８００２）
【出願日】平成２０年１月２９日（２００８．１．２９）
【出願人】（０００００３２０７）トヨタ自動車株式会社 (59,920)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２１年８月１３日（２００９．８．１３）
【国際特許分類】
【出願日】平成２０年１月２９日（２００８．１．２９）
【出願人】（０００００３２０７）トヨタ自動車株式会社 (59,920)
【Ｆターム（参考）】
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