測定試験装置および測定試験方法
【課題】複数の被試験器に対して、同時に効率良く試験を行う測定試験装置および測定試験方法を提供する。
【解決手段】本発明に係る測定試験装置は、複数の測定器を有し、測定器を制御して被試験器に対して試験を行う本体部と、本体部に接続される１つ以上の増設部とを有し、本体部は、使用を要求された測定器が使用可能か否かを判定する使用可否判定部と、使用可能であると判定された場合、測定器から増設部までの接続経路を制御する第１の経路制御部とを備え、増設部は、本体部が有する測定器のうち、この増設部に接続された被試験器の試験に使用する測定器の使用を要求する使用要求部と、使用可能であると判定された場合、第１の経路制御部に制御された接続経路から前記被試験器までの接続経路を制御する第２の経路制御部と、本体部に対して、使用する測定器を制御して、前記接続経路を用いて、被試験器に対して試験を行うよう要求する試験要求部とを備える。
【解決手段】本発明に係る測定試験装置は、複数の測定器を有し、測定器を制御して被試験器に対して試験を行う本体部と、本体部に接続される１つ以上の増設部とを有し、本体部は、使用を要求された測定器が使用可能か否かを判定する使用可否判定部と、使用可能であると判定された場合、測定器から増設部までの接続経路を制御する第１の経路制御部とを備え、増設部は、本体部が有する測定器のうち、この増設部に接続された被試験器の試験に使用する測定器の使用を要求する使用要求部と、使用可能であると判定された場合、第１の経路制御部に制御された接続経路から前記被試験器までの接続経路を制御する第２の経路制御部と、本体部に対して、使用する測定器を制御して、前記接続経路を用いて、被試験器に対して試験を行うよう要求する試験要求部とを備える。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、測定試験装置および測定試験方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
例えば、引用文献１は、複数の被試験器に対して、同時に試験を実行する試験システムを開示する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００７−２９２７２３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
測定試験装置は、試験の対象となる被試験器を接続するための接続部、被試験器の試験信号を計測するための複数の測定器群、被試験器と、被試験器の試験信号を測定する測定器との接続経路を構築する信号切替器、測定器では入出力できない特別な計測信号を有する専用試験器群、および、これらの機器を制御する制御コントローラから構成される。
測定装置試験は、これらの構成部分により、被試験器に対して試験を行うが、被試験器との接続部を１つしか有さないので、試験対象の被試験器が複数の場合、同時に複数の被試験器を試験することができない。
そのため、同時に複数の被試験器を試験するためには、測定試験装置が有するすべての構成部分を、試験対象となる被試験器の数に応じて追加する必要があり、追加に要するコストや、使用していない測定器の数などが増大する場合がある。
【０００５】
本発明は、上述のような背景からなされたものであり、測定試験装置を構成する測定器群および専用試験器群のうち、使用されていない測定器および専用試験器を利用し、測定器および専用試験器を別途追加することなく、複数の被試験器に対して、同時に効率良く試験を行うよう改良された測定試験装置および測定試験方法を提供する。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記目的を達成するために、本発明に係る測定試験装置（１）は、複数の測定器（１４）を有し、前記測定器を制御して被試験器（１８）に対して試験を行う本体部と、前記本体部に接続される１つ以上の増設部とを有し、前記本体部は、前記増設部から、前記測定器の使用要求を受けて、前記使用を要求された測定器が使用可能か否かを判定する使用可否判定部（３０６）と、前記使用可否判定部により、前記使用を要求された測定器が使用可能であると判定された場合、前記使用を要求された測定器から、前記増設部までの接続経路を制御する第１の経路制御部（３０４）とを備え、前記増設部は、前記本体部に対して、前記本体部が有する測定器のうち、この増設部に接続された被試験器の試験に使用する測定器の使用を要求する使用要求部（３２２）と、前記使用可否判定部により、前記使用を要求された測定器が使用可能であると判定された場合、前記第１の経路制御部に制御された接続経路から、この増設部に接続された被試験器までの接続経路を制御する第２の経路制御部（３２４）と、前記本体部に対して、前記使用を要求された測定器を制御して、前記第１の経路制御部および前記第２の経路制御部により制御された接続経路を用いて、この増設部に接続された被試験器に対して試験を行うよう要求する試験要求部（３２０）とを備える。
なお、ここで付された符号は、本願発明の理解を助けることを意図するものであり、本願発明の技術的範囲を限定することを意図するものではない。
【発明の効果】
【０００７】
本発明に係る測定試験装置および測定試験方法によれば、測定器および専用試験器を別途追加することなく、複数の被試験器に対して、同時に効率良く試験を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】本発明に係る測定試験装置の構成を例示する図である。
【図２】図１に示した制御コントローラおよび増設用制御コントローラのハードウェア構成を例示する図である。
【図３】図１に示した制御コントローラおよび増設用制御コントローラ上で実行される制御プログラムの構成を例示する図である。
【図４】図３に示した経路情報テーブルが記憶する被試験器に対する経路情報を例示する図である。
【図５】図３に示した第１の経路制御部が、図１に示した信号切替器および接続部に対して行う経路制御処理を例示する図である。
【図６】図３に示した使用可否判定部の処理を例示するフローチャートである。
【図７】図１に示した測定試験装置の動作例を示すシーケンス図である。
【図８】図１に示した測定試験装置の動作に従い制御された測定器と被試験器とを接続する経路を例示する図である。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
［測定試験装置１］
図１は、本発明に係る測定試験装置１の構成を例示する図である。
図１に示すように、測定試験装置１は、制御コントローラ１２と、ｎ個の測定器１４−１〜１４−ｎ（ｎ≧１；ただし、全てのｎが常に同数を示すとは限らない）と、ｎ個の専用試験器１６−１〜１６−ｎと、試験の対象となる被試験器１８−１とが、ＬＡＮなどのネットワークや接続ケーブルなどにより接続され、被試験器１８−１と、被試験器１８−１の出力（計測信号）の測定に使用される測定器および専用試験器とが、信号切替器２０および接続部２２とを介して接続される本体部と、被試験器１８−１とは別の被試験器１８−２と、被試験器１８−２の計測信号の測定に使用される測定器および専用試験器とが、増設用制御コントローラ２４により制御される増設用信号切替器２６、増設用接続部２８および信号切替器２０を介して接続される増設部とから構成される。
【００１０】
測定器１４−１〜１４−ｎは、被試験器１８−１，１８−２の出力（計測信号）を測定する汎用的な機器を示し、専用試験器１６−１〜１６−ｎは、被試験器やモジュールごとに異なる専用の試験を行う機器を示す。
なお、以下の説明においては、被試験器１８−１，１８−２の計測信号を、「試験信号」と記述する。
また、被試験器１８−１，１８−２は、測定試験装置１において、試験対象となり得る複数の被試験器から選択されるものであり、被試験器の数は、２つに限定されるものではない。
また、図１において、説明の明確化・具体化のために、本体部と被試験器１８−１とが接続され、増設部と被試験器１８−２とが接続されている場合を具体例としているが、このような接続状態に限定されるものではない。
また、測定試験装置１は、試験を行う被試験器の数に応じて、本体部に複数の増設部を接続することができる。
【００１１】
なお、以下、測定器１４−１〜１４−ｎなど、複数ある構成部分のいずれかを示すときは、単に、測定器１４と記載することがある。
以下、各図において、実質的に同じ構成部分・処理には、同じ符号が付される。
測定試験装置１は、これらの構成部分により、本体部と増設部において、異なる被試験器に対して、同時に試験を実行する。
【００１２】
［ハードウェア構成］
以下、図１に示した制御コントローラ１２および増設用制御コントローラ２４のハードウェア構成を説明する。
図２は、制御コントローラ１２および増設用制御コントローラ２４のハードウェア構成を例示する図である。
図２に示すように、制御コントローラ１２および増設用制御コントローラ２４は、メモリ１２２およびＣＰＵ１２４などを含む情報処理装置１２０、キーボードおよび表示装置などを含む外部入出力装置１２６、データ通信を行うための通信装置１２８、および、ハードディスクなどの記録媒体１３２に対してデータの記録を行う記録装置１３０などから構成される。
つまり、制御コントローラ１２および増設用制御コントローラ２４は、情報処理、測定試験装置１の各構成部分の制御、および、データ通信が可能なコンピュータとしての構成部分を有している。
【００１３】
［制御プログラム］
以下、測定試験装置１の制御コントローラ１２および増設用制御コントローラ２４（図１）上で実行される制御プログラム３０，３２を説明する。
図３は、制御コントローラ１２および増設用制御コントローラ２４上で実行される制御プログラム３０，３２の構成を例示する図である。
図３に示すように、制御コントローラ１２上で実行される制御プログラム３０は、試験制御部３００、経路情報テーブル３０２、経路制御部３０４、使用可否判定部３０６および接続処理部３０８から構成され、増設用制御コントローラ２４上で実行される制御プログラム３２は、試験制御部３２０、使用要求部３２２、経路情報テーブル３０２、経路制御部３２４および接続処理部３２６から構成される。
【００１４】
制御プログラム３０，３２は、例えば、メモリ１２２（図２）に記憶されて制御コントローラ１２および増設用制御コントローラ２４に供給され、ＣＰＵ１０２で実行される。
制御プログラム３０，３２は、試験を行う被試験器の数に応じて、測定試験装置１の本体部と増設部との接続処理を行い、本体部に接続された使用可能な測定器１４および専用試験器１６を用いて、本体部および増設部に接続された被試験器の試験を実行するよう制御する。
なお、以下、制御プログラム３０の試験制御部３００および制御プログラム３２の試験制御部３２０など、制御プログラム３０，３２における同一名称の構成部分を、第１の試験制御部３００および第２の試験制御部３２０と記述して区別する。
【００１５】
第１の試験制御部３００は、外部入出力装置１２６（図２）を介して、試験開始要求を受け入れる。
また、第１の試験制御部３００は、第２の試験制御部３２０から入力された試験開始要求を受け入れる。
試験開始要求には、例えば、測定試験装置１の本体部または増設部に接続された被試験器１８の試験信号の測定に使用する測定器１４および専用試験器１６を指定する情報が含まれる。
【００１６】
第１の試験制御部３００は、第１の経路制御部３０４に対して、被試験器１８と、被試験器１８の試験信号の測定に使用する測定器１４および専用試験器１６との経路制御指示を出力する。
また、第１の試験制御部３００は、受け入れた試験開始要求に基づいて、被試験器１８の試験信号を測定する測定器１４および専用試験器１６を制御して、試験を開始する。
また、第１の試験制御部３００は、本体部に接続された被試験器１８の試験結果を、外部入出力装置１２６（図２）に表示させ、増設部に接続された被試験器１８の試験結果を、第２の試験制御部３２０に対して出力する。
【００１７】
図４は、経路情報テーブル３０２が記憶する被試験器１８に対する経路情報を例示する図である。
図４に示すように、経路情報は、被試験器１８と、被試験器１８の試験信号の測定に使用される測定器１４および専用試験器１６とを接続するために制御する信号切替器２０および接続部２２のリレー情報の組合せを示す（図５を参照して後述）。
経路情報テーブル３０２（図３）は、図４に示すような経路情報を、被試験器１８ごとに、経路制御部３０４が参照可能に記憶する。
なお、増設用制御コントローラ２４における経路情報テーブル３０２は、増設用信号切替器２６および増設用接続部２８のリレー情報の組合せを示す経路情報を、第２の経路制御部３２４が参照可能に記憶する。
【００１８】
第１の経路制御部３０４は、第１の試験制御部３００から入力された経路制御指示を受け入れると、経路情報テーブル３０２が記憶する経路情報を参照して、信号切替器２０および接続部２２（図１）を制御する（図５を参照して後述）。
使用可否判定部３０６は、後述する使用要求部３２２から入力された使用要求の対象となる測定器１４および専用試験器１６が使用可能か否かを判定し、使用要求部３２２に対して、使用可否判定結果を出力する（図６を参照して後述）。
第１の接続処理部３０８は、後述する第２の接続処理部３２６から入力された本体部への接続要求を受け入れると、信号切替部２０（図１）に対して、増設部との接続処理を行う。
具体的には、例えば、第１の接続処理部３０８は、信号切替部２０と、増設用信号切替部２６（図１）とをバイパスするリレーを制御するモジュールを、信号切替器２０に追加する。
【００１９】
第２の試験制御部３２０は、外部入出力装置１２６（図２）を介して、試験開始要求を受け入れると、使用要求部３２２に対して、受け入れた試験開始要求の試験に使用される測定器１４および専用試験器１６の使用要求指示を出力する。
また、第２の試験制御部３２０は、使用要求部３２２から入力された使用可能通知を受け入れると、第１の試験制御部３００に対して、試験開始要求を出力する。
また、第２の試験制御部３２０は、第１の試験制御部３００から試験結果を受け入れると、試験結果を、外部入出力装置１２６（図２）に表示させる。
【００２０】
使用要求部３２２は、第２の試験制御部３２０から入力された使用要求指示を受け入れると、使用可否判定部３０６に対して、試験に使用される測定器１４および専用試験器１６の使用要求を出力する。
また、使用要求部３２２は、使用可否判定部３０６から入力された使用可否判定結果を受け入れる。
また、使用要求部３２２は、受け入れた使用状況判定結果が使用可能を示す場合は、第２の試験制御部３２０に対して、使用可能通知を出力し、第２の経路制御部３２４に対して、経路制御指示を出力し、それ以外の場合は、使用可否判定部３０６から使用可能を示す判定結果が入力されるまで待機する。
【００２１】
第２の経路制御部３２４は、使用要求部３２２から入力された経路制御指示を受け入れると、経路情報テーブル３０２が記憶する経路情報を参照して、増設用信号切替器２６および増設用接続部２８（図１）を制御する。
第２の接続処理部３２６は、外部入出力装置１２６（図２）を介して、測定試験装置１の本体部と、増設部との接続処理要求を受け入れると、第１の接続処理部３０８に対して、接続要求を出力する。
【００２２】
［経路制御処理］
図５は、第１の経路制御部３０４（図３）が、信号切替器２０および接続部２２（図１）に対して行う経路制御処理を例示する図である。
以下、測定試験装置１が、測定器１４−１，１４−２および専用試験器１６−１を備える場合の経路制御処理を具体例として説明する。
図５に示すように、信号切替部２０は、リレー１−１，１−２，２−１，２−２，３−１，３−２から構成され、接続部２２は、リレー１〜６から構成され、各リレーを接続することにより、測定器１４および専用試験器１６と、被試験器１８とが、以下のように接続される。
【００２３】
（１）信号切替器２０のリレー１−１および接続部２２のリレー１を接続することにより、測定器１４−１と、被試験器１８−１とが接続される。
（２）信号切替器２０のリレー２−１および接続部２２のリレー３を接続することにより、測定器１４−２と、被試験器１８−１とが接続される。
（３）信号切替器２０のリレー３−１および接続部２２のリレー６を接続することにより、専用試験器１６−１と、被試験器１８−１とが接続される。
【００２４】
（４）信号切替器２０のリレー１−２を用いて、増設用信号切替器２６にバイパスすることにより、測定器１４−１と、測定試験装置１の増設部に接続された被試験器１８−２（図１）とが接続される。
（５）信号切替器２０のリレー２−２を用いて、増設用信号切替器２６にバイパスすることにより、測定器１４−２と、測定試験装置１の増設部に接続された被試験器１８−２とが接続される。
（６）信号切替器２０のリレー３−２を用いて、増設用信号切替器２６にバイパスすることにより、専用試験器１６と、測定試験装置１の増設部に接続された被試験器１８−２とが接続される。
【００２５】
上記（１）〜（３）の接続情報は、図４に示した経路情報テーブル３０２（図３）が記憶する経路情報に対応する。
また、例えば、経路情報テーブル３０２は、上記（１）〜（３）の接続情報と同様に、上記（４）〜（６）の接続情報を図４に示した経路情報に含めてもよい。
第１の経路制御部３０４（図３）は、このような経路情報を参照して、信号切替部２０および接続部２２を構成するリレーを制御して、使用する測定器１４および専用試験器１６と、被試験器１８−１とを接続する。
図５に示すように、例えば、第１の経路制御部３０４が、信号切替部２０のリレー１−１および接続部２２のリレー１を接続するよう制御することにより、測定器１４−１が、被試験器１８−１の試験信号を測定することができる。
【００２６】
なお、第２の経路制御部３２４もまた、信号切替器２０および接続部２２と同様なリレー構成を有する増設用信号切替器２６および増設用接続部２８に対して、第１の経路制御部３０４と同様な経路制御を行う。
ただし、上記（４）〜（６）の接続情報は、増設用信号切替器２６とバイパスする信号切替器２０のみに対応し、増設用信号切替器２６において対応することはない。
また、説明の明確化・具体化のために、信号切替器２０および接続部２２のリレー構成を、図５のように示して説明したが、リレー構成は、これらに限定されるものではない。
【００２７】
［使用可否判定部３０６の処理］
図６は、使用可否判定部３０６（図３）が、使用要求部３２２から入力された測定器１４および専用試験器１６の使用要求に応じて、使用を要求された測定器１４および専用試験器１６の使用可否を判定する処理を例示するフローチャートである。
以下、図６を参照して、使用可否判定部３０６が、測定器１４および専用試験器１６の使用可否を判定する処理を説明する。
【００２８】
図６に示すように、ステップ４００（Ｓ４００）において、使用可否判定部３０６は、使用要求部３２２から測定器１４および専用試験器１６（例えば、測定器１４−２）の使用要求を受け入れると、測定器１４−２の使用状況を取得する。
具体的には、例えば、使用可否判定部３０６は、第１の試験制御部３００や、試験の実行状況を管理するデータベース（図示せず）などから、測定器１４−２が、被試験器１８の試験信号の測定に使用されているか否かを判断する。
ステップ４０２（Ｓ４０２）において、使用可否判定部３０６は、Ｓ４００において取得した測定器１４−２の使用状況が、「使用中」（つまり、増設部に接続された被試験器１８の試験信号の測定に使用不可）であるか否かを判断する。
【００２９】
測定器１４−２の使用状況が、「使用中」であると判断した場合、使用可否判定部３０６は、Ｓ４０４の処理に進み、それ以外の場合、Ｓ４０６の処理に進む。
ステップ４０４（Ｓ４０４）において、使用可否判定部３０６は、測定器１４−２の使用不可通知を、使用要求部３２２に対して出力する。
ステップ４０６（Ｓ４０６）において、使用可否判定部３０６は、測定器１４−２の使用可能通知を、使用要求部３２２に対して出力し、処理を終了する。
【００３０】
ステップ４０８（Ｓ４０８）において、使用可否判定部３０６は、測定器１４−２の使用状況を取得する。
ステップ４１０（Ｓ４１０）において、使用可否判定部３０６は、Ｓ４０８において取得した測定器１４−２の使用状況が、「使用中」であるか否かを判断する。
測定器１４−２の使用状況が、「使用中」であると判断した場合、使用可否判定部３０６は、Ｓ４０８の処理に進み、それ以外の場合、Ｓ４０６の処理に進む。
【００３１】
なお、本説明においては、使用可否判定部３０６が、使用要求された測定器１４および専用試験器１６が使用可能になるまで、繰返し使用状況を取得しているが、使用可否判定部３０６が、繰返し使用状況を取得するのではなく、以下のような構成としてもよい。
使用可否判定部３０６は、使用要求部３２２に対して、使用不可通知を出力して処理を終了する。
使用要求部３２２は、使用可否判定部３０６から使用可能通知を受けるまで、使用可否判定部３０６に対して、繰返し使用要求を出力する。
【００３２】
［測定試験装置１の動作例］
図７は、図１に示した測定試験装置１の動作例を示すシーケンス図であり、図８は、測定試験装置１の動作に従い制御された測定器１４と被試験器１８とを接続する経路を例示する図である。
以下、図７，図８を参照して、測定試験装置１の動作をさらに説明する。
なお、本説明において用いられる測定器の数や、増設部の数は、説明の明確化・具体化のための例示であり、これらの数に限定されるものではない。
【００３３】
ステップ５００（Ｓ５００）において、制御コントローラ１２は、信号切替器２０を制御して、被試験器１８−１（図８）の試験信号を、測定器１４−１を使用して測定する。
具体的には、図８に示すように、制御コントローラ１２は、信号切替部２０において、測定器１４−１から接続部２２までの経路を構築し、被試験器１８−１の試験信号を測定できるよう制御する。
ステップ５０２（Ｓ５０２；図７）において、増設用制御コントローラ２４は、制御コントローラ１２に対して、測定器１４−２の使用要求を通知する。
【００３４】
ステップ５０４（Ｓ５０４）において、制御コントローラ１２は、測定器１４−２の使用状況を判定する。
具体的には、制御コントローラ１２は、測定器１４−１が使用されているが、測定器１４−２は使用されていないと判断する。
ステップ５０６（Ｓ５０６）において、制御コントローラ１２は、増設用制御コントローラ２４に対して、測定器１４−２の使用可能通知を出力する。
ステップ５０８（Ｓ５０８）において、増設用制御コントローラ２４は、測定器１４−２を使用して測定するために、増設用信号切替器２６の経路制御処理を行う。
【００３５】
ステップ５１０（Ｓ５１０）において、増設用信号切替器２６は、増設用制御コントローラ２４に対して、経路制御が完了したことを通知する。
ステップ５１２（Ｓ５１２）において、制御コントローラ１２は、信号切替器２０と増設用信号切替器２６とをバイパスして、測定試験装置１の増設部に接続された被試験器１８−２（図８）の試験信号を、測定器１４−２を使用して測定できるよう、信号切替器２０の経路制御処理を行う。
【００３６】
ステップ５１４（Ｓ５１４）において、信号切替器２０は、制御コントローラ１２に対して、経路制御が完了したことを通知する。
具体的には、図８に示すように、制御コントローラ１２は、信号切替器２０において、測定器１４−２から増設用信号切替器２６までをバイパスする経路を構築するよう制御し、増設用制御コントローラ２４は、増設用信号切替器２６において、測定器１４−２からバイパスされた経路を介した増設用接続部２８までの経路を構築するよう制御する。
【００３７】
ステップ５１６（Ｓ５１６；図７）において、増設用制御コントローラ２４は、制御コントローラ１２に対して、測定器１４−２を使用した試験要求を通知する。
ステップ５１８（Ｓ５１８）において、制御コントローラ１２は、被試験器１８−２の試験信号を、測定器１４−２を使用して測定する。
ステップ５２０（Ｓ５２０）において、制御コントローラ１２は、増設用制御コントローラ２４に対して、Ｓ５１８における測定結果を、試験結果として通知する。
【符号の説明】
【００３８】
１・・・測定試験装置，１２・・・制御コントローラ，１４・・・測定器，１６・・・専用試験器，１８・・・被試験器，２０・・・信号切替器，２２・・・接続部，２４・・・増設用コントローラ，２６・・・増設用信号切替器，２８・・・増設用接続部，１２０・・・情報処理装置，１２２・・・メモリ，１２４・・・ＣＰＵ，１２６・・・外部入出力装置，１２８・・・通信装置，１３０・・・記録装置，１３２・・・記録媒体，３００，３２０・・・試験制御部，３０２・・・経路情報テーブル，３０４，３２４・・・経路制御部，３０６・・・使用可否判定部，３０８，３２６・・・接続処理部，３２２・・・使用要求部
【技術分野】
【０００１】
本発明は、測定試験装置および測定試験方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
例えば、引用文献１は、複数の被試験器に対して、同時に試験を実行する試験システムを開示する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００７−２９２７２３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
測定試験装置は、試験の対象となる被試験器を接続するための接続部、被試験器の試験信号を計測するための複数の測定器群、被試験器と、被試験器の試験信号を測定する測定器との接続経路を構築する信号切替器、測定器では入出力できない特別な計測信号を有する専用試験器群、および、これらの機器を制御する制御コントローラから構成される。
測定装置試験は、これらの構成部分により、被試験器に対して試験を行うが、被試験器との接続部を１つしか有さないので、試験対象の被試験器が複数の場合、同時に複数の被試験器を試験することができない。
そのため、同時に複数の被試験器を試験するためには、測定試験装置が有するすべての構成部分を、試験対象となる被試験器の数に応じて追加する必要があり、追加に要するコストや、使用していない測定器の数などが増大する場合がある。
【０００５】
本発明は、上述のような背景からなされたものであり、測定試験装置を構成する測定器群および専用試験器群のうち、使用されていない測定器および専用試験器を利用し、測定器および専用試験器を別途追加することなく、複数の被試験器に対して、同時に効率良く試験を行うよう改良された測定試験装置および測定試験方法を提供する。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記目的を達成するために、本発明に係る測定試験装置（１）は、複数の測定器（１４）を有し、前記測定器を制御して被試験器（１８）に対して試験を行う本体部と、前記本体部に接続される１つ以上の増設部とを有し、前記本体部は、前記増設部から、前記測定器の使用要求を受けて、前記使用を要求された測定器が使用可能か否かを判定する使用可否判定部（３０６）と、前記使用可否判定部により、前記使用を要求された測定器が使用可能であると判定された場合、前記使用を要求された測定器から、前記増設部までの接続経路を制御する第１の経路制御部（３０４）とを備え、前記増設部は、前記本体部に対して、前記本体部が有する測定器のうち、この増設部に接続された被試験器の試験に使用する測定器の使用を要求する使用要求部（３２２）と、前記使用可否判定部により、前記使用を要求された測定器が使用可能であると判定された場合、前記第１の経路制御部に制御された接続経路から、この増設部に接続された被試験器までの接続経路を制御する第２の経路制御部（３２４）と、前記本体部に対して、前記使用を要求された測定器を制御して、前記第１の経路制御部および前記第２の経路制御部により制御された接続経路を用いて、この増設部に接続された被試験器に対して試験を行うよう要求する試験要求部（３２０）とを備える。
なお、ここで付された符号は、本願発明の理解を助けることを意図するものであり、本願発明の技術的範囲を限定することを意図するものではない。
【発明の効果】
【０００７】
本発明に係る測定試験装置および測定試験方法によれば、測定器および専用試験器を別途追加することなく、複数の被試験器に対して、同時に効率良く試験を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】本発明に係る測定試験装置の構成を例示する図である。
【図２】図１に示した制御コントローラおよび増設用制御コントローラのハードウェア構成を例示する図である。
【図３】図１に示した制御コントローラおよび増設用制御コントローラ上で実行される制御プログラムの構成を例示する図である。
【図４】図３に示した経路情報テーブルが記憶する被試験器に対する経路情報を例示する図である。
【図５】図３に示した第１の経路制御部が、図１に示した信号切替器および接続部に対して行う経路制御処理を例示する図である。
【図６】図３に示した使用可否判定部の処理を例示するフローチャートである。
【図７】図１に示した測定試験装置の動作例を示すシーケンス図である。
【図８】図１に示した測定試験装置の動作に従い制御された測定器と被試験器とを接続する経路を例示する図である。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
［測定試験装置１］
図１は、本発明に係る測定試験装置１の構成を例示する図である。
図１に示すように、測定試験装置１は、制御コントローラ１２と、ｎ個の測定器１４−１〜１４−ｎ（ｎ≧１；ただし、全てのｎが常に同数を示すとは限らない）と、ｎ個の専用試験器１６−１〜１６−ｎと、試験の対象となる被試験器１８−１とが、ＬＡＮなどのネットワークや接続ケーブルなどにより接続され、被試験器１８−１と、被試験器１８−１の出力（計測信号）の測定に使用される測定器および専用試験器とが、信号切替器２０および接続部２２とを介して接続される本体部と、被試験器１８−１とは別の被試験器１８−２と、被試験器１８−２の計測信号の測定に使用される測定器および専用試験器とが、増設用制御コントローラ２４により制御される増設用信号切替器２６、増設用接続部２８および信号切替器２０を介して接続される増設部とから構成される。
【００１０】
測定器１４−１〜１４−ｎは、被試験器１８−１，１８−２の出力（計測信号）を測定する汎用的な機器を示し、専用試験器１６−１〜１６−ｎは、被試験器やモジュールごとに異なる専用の試験を行う機器を示す。
なお、以下の説明においては、被試験器１８−１，１８−２の計測信号を、「試験信号」と記述する。
また、被試験器１８−１，１８−２は、測定試験装置１において、試験対象となり得る複数の被試験器から選択されるものであり、被試験器の数は、２つに限定されるものではない。
また、図１において、説明の明確化・具体化のために、本体部と被試験器１８−１とが接続され、増設部と被試験器１８−２とが接続されている場合を具体例としているが、このような接続状態に限定されるものではない。
また、測定試験装置１は、試験を行う被試験器の数に応じて、本体部に複数の増設部を接続することができる。
【００１１】
なお、以下、測定器１４−１〜１４−ｎなど、複数ある構成部分のいずれかを示すときは、単に、測定器１４と記載することがある。
以下、各図において、実質的に同じ構成部分・処理には、同じ符号が付される。
測定試験装置１は、これらの構成部分により、本体部と増設部において、異なる被試験器に対して、同時に試験を実行する。
【００１２】
［ハードウェア構成］
以下、図１に示した制御コントローラ１２および増設用制御コントローラ２４のハードウェア構成を説明する。
図２は、制御コントローラ１２および増設用制御コントローラ２４のハードウェア構成を例示する図である。
図２に示すように、制御コントローラ１２および増設用制御コントローラ２４は、メモリ１２２およびＣＰＵ１２４などを含む情報処理装置１２０、キーボードおよび表示装置などを含む外部入出力装置１２６、データ通信を行うための通信装置１２８、および、ハードディスクなどの記録媒体１３２に対してデータの記録を行う記録装置１３０などから構成される。
つまり、制御コントローラ１２および増設用制御コントローラ２４は、情報処理、測定試験装置１の各構成部分の制御、および、データ通信が可能なコンピュータとしての構成部分を有している。
【００１３】
［制御プログラム］
以下、測定試験装置１の制御コントローラ１２および増設用制御コントローラ２４（図１）上で実行される制御プログラム３０，３２を説明する。
図３は、制御コントローラ１２および増設用制御コントローラ２４上で実行される制御プログラム３０，３２の構成を例示する図である。
図３に示すように、制御コントローラ１２上で実行される制御プログラム３０は、試験制御部３００、経路情報テーブル３０２、経路制御部３０４、使用可否判定部３０６および接続処理部３０８から構成され、増設用制御コントローラ２４上で実行される制御プログラム３２は、試験制御部３２０、使用要求部３２２、経路情報テーブル３０２、経路制御部３２４および接続処理部３２６から構成される。
【００１４】
制御プログラム３０，３２は、例えば、メモリ１２２（図２）に記憶されて制御コントローラ１２および増設用制御コントローラ２４に供給され、ＣＰＵ１０２で実行される。
制御プログラム３０，３２は、試験を行う被試験器の数に応じて、測定試験装置１の本体部と増設部との接続処理を行い、本体部に接続された使用可能な測定器１４および専用試験器１６を用いて、本体部および増設部に接続された被試験器の試験を実行するよう制御する。
なお、以下、制御プログラム３０の試験制御部３００および制御プログラム３２の試験制御部３２０など、制御プログラム３０，３２における同一名称の構成部分を、第１の試験制御部３００および第２の試験制御部３２０と記述して区別する。
【００１５】
第１の試験制御部３００は、外部入出力装置１２６（図２）を介して、試験開始要求を受け入れる。
また、第１の試験制御部３００は、第２の試験制御部３２０から入力された試験開始要求を受け入れる。
試験開始要求には、例えば、測定試験装置１の本体部または増設部に接続された被試験器１８の試験信号の測定に使用する測定器１４および専用試験器１６を指定する情報が含まれる。
【００１６】
第１の試験制御部３００は、第１の経路制御部３０４に対して、被試験器１８と、被試験器１８の試験信号の測定に使用する測定器１４および専用試験器１６との経路制御指示を出力する。
また、第１の試験制御部３００は、受け入れた試験開始要求に基づいて、被試験器１８の試験信号を測定する測定器１４および専用試験器１６を制御して、試験を開始する。
また、第１の試験制御部３００は、本体部に接続された被試験器１８の試験結果を、外部入出力装置１２６（図２）に表示させ、増設部に接続された被試験器１８の試験結果を、第２の試験制御部３２０に対して出力する。
【００１７】
図４は、経路情報テーブル３０２が記憶する被試験器１８に対する経路情報を例示する図である。
図４に示すように、経路情報は、被試験器１８と、被試験器１８の試験信号の測定に使用される測定器１４および専用試験器１６とを接続するために制御する信号切替器２０および接続部２２のリレー情報の組合せを示す（図５を参照して後述）。
経路情報テーブル３０２（図３）は、図４に示すような経路情報を、被試験器１８ごとに、経路制御部３０４が参照可能に記憶する。
なお、増設用制御コントローラ２４における経路情報テーブル３０２は、増設用信号切替器２６および増設用接続部２８のリレー情報の組合せを示す経路情報を、第２の経路制御部３２４が参照可能に記憶する。
【００１８】
第１の経路制御部３０４は、第１の試験制御部３００から入力された経路制御指示を受け入れると、経路情報テーブル３０２が記憶する経路情報を参照して、信号切替器２０および接続部２２（図１）を制御する（図５を参照して後述）。
使用可否判定部３０６は、後述する使用要求部３２２から入力された使用要求の対象となる測定器１４および専用試験器１６が使用可能か否かを判定し、使用要求部３２２に対して、使用可否判定結果を出力する（図６を参照して後述）。
第１の接続処理部３０８は、後述する第２の接続処理部３２６から入力された本体部への接続要求を受け入れると、信号切替部２０（図１）に対して、増設部との接続処理を行う。
具体的には、例えば、第１の接続処理部３０８は、信号切替部２０と、増設用信号切替部２６（図１）とをバイパスするリレーを制御するモジュールを、信号切替器２０に追加する。
【００１９】
第２の試験制御部３２０は、外部入出力装置１２６（図２）を介して、試験開始要求を受け入れると、使用要求部３２２に対して、受け入れた試験開始要求の試験に使用される測定器１４および専用試験器１６の使用要求指示を出力する。
また、第２の試験制御部３２０は、使用要求部３２２から入力された使用可能通知を受け入れると、第１の試験制御部３００に対して、試験開始要求を出力する。
また、第２の試験制御部３２０は、第１の試験制御部３００から試験結果を受け入れると、試験結果を、外部入出力装置１２６（図２）に表示させる。
【００２０】
使用要求部３２２は、第２の試験制御部３２０から入力された使用要求指示を受け入れると、使用可否判定部３０６に対して、試験に使用される測定器１４および専用試験器１６の使用要求を出力する。
また、使用要求部３２２は、使用可否判定部３０６から入力された使用可否判定結果を受け入れる。
また、使用要求部３２２は、受け入れた使用状況判定結果が使用可能を示す場合は、第２の試験制御部３２０に対して、使用可能通知を出力し、第２の経路制御部３２４に対して、経路制御指示を出力し、それ以外の場合は、使用可否判定部３０６から使用可能を示す判定結果が入力されるまで待機する。
【００２１】
第２の経路制御部３２４は、使用要求部３２２から入力された経路制御指示を受け入れると、経路情報テーブル３０２が記憶する経路情報を参照して、増設用信号切替器２６および増設用接続部２８（図１）を制御する。
第２の接続処理部３２６は、外部入出力装置１２６（図２）を介して、測定試験装置１の本体部と、増設部との接続処理要求を受け入れると、第１の接続処理部３０８に対して、接続要求を出力する。
【００２２】
［経路制御処理］
図５は、第１の経路制御部３０４（図３）が、信号切替器２０および接続部２２（図１）に対して行う経路制御処理を例示する図である。
以下、測定試験装置１が、測定器１４−１，１４−２および専用試験器１６−１を備える場合の経路制御処理を具体例として説明する。
図５に示すように、信号切替部２０は、リレー１−１，１−２，２−１，２−２，３−１，３−２から構成され、接続部２２は、リレー１〜６から構成され、各リレーを接続することにより、測定器１４および専用試験器１６と、被試験器１８とが、以下のように接続される。
【００２３】
（１）信号切替器２０のリレー１−１および接続部２２のリレー１を接続することにより、測定器１４−１と、被試験器１８−１とが接続される。
（２）信号切替器２０のリレー２−１および接続部２２のリレー３を接続することにより、測定器１４−２と、被試験器１８−１とが接続される。
（３）信号切替器２０のリレー３−１および接続部２２のリレー６を接続することにより、専用試験器１６−１と、被試験器１８−１とが接続される。
【００２４】
（４）信号切替器２０のリレー１−２を用いて、増設用信号切替器２６にバイパスすることにより、測定器１４−１と、測定試験装置１の増設部に接続された被試験器１８−２（図１）とが接続される。
（５）信号切替器２０のリレー２−２を用いて、増設用信号切替器２６にバイパスすることにより、測定器１４−２と、測定試験装置１の増設部に接続された被試験器１８−２とが接続される。
（６）信号切替器２０のリレー３−２を用いて、増設用信号切替器２６にバイパスすることにより、専用試験器１６と、測定試験装置１の増設部に接続された被試験器１８−２とが接続される。
【００２５】
上記（１）〜（３）の接続情報は、図４に示した経路情報テーブル３０２（図３）が記憶する経路情報に対応する。
また、例えば、経路情報テーブル３０２は、上記（１）〜（３）の接続情報と同様に、上記（４）〜（６）の接続情報を図４に示した経路情報に含めてもよい。
第１の経路制御部３０４（図３）は、このような経路情報を参照して、信号切替部２０および接続部２２を構成するリレーを制御して、使用する測定器１４および専用試験器１６と、被試験器１８−１とを接続する。
図５に示すように、例えば、第１の経路制御部３０４が、信号切替部２０のリレー１−１および接続部２２のリレー１を接続するよう制御することにより、測定器１４−１が、被試験器１８−１の試験信号を測定することができる。
【００２６】
なお、第２の経路制御部３２４もまた、信号切替器２０および接続部２２と同様なリレー構成を有する増設用信号切替器２６および増設用接続部２８に対して、第１の経路制御部３０４と同様な経路制御を行う。
ただし、上記（４）〜（６）の接続情報は、増設用信号切替器２６とバイパスする信号切替器２０のみに対応し、増設用信号切替器２６において対応することはない。
また、説明の明確化・具体化のために、信号切替器２０および接続部２２のリレー構成を、図５のように示して説明したが、リレー構成は、これらに限定されるものではない。
【００２７】
［使用可否判定部３０６の処理］
図６は、使用可否判定部３０６（図３）が、使用要求部３２２から入力された測定器１４および専用試験器１６の使用要求に応じて、使用を要求された測定器１４および専用試験器１６の使用可否を判定する処理を例示するフローチャートである。
以下、図６を参照して、使用可否判定部３０６が、測定器１４および専用試験器１６の使用可否を判定する処理を説明する。
【００２８】
図６に示すように、ステップ４００（Ｓ４００）において、使用可否判定部３０６は、使用要求部３２２から測定器１４および専用試験器１６（例えば、測定器１４−２）の使用要求を受け入れると、測定器１４−２の使用状況を取得する。
具体的には、例えば、使用可否判定部３０６は、第１の試験制御部３００や、試験の実行状況を管理するデータベース（図示せず）などから、測定器１４−２が、被試験器１８の試験信号の測定に使用されているか否かを判断する。
ステップ４０２（Ｓ４０２）において、使用可否判定部３０６は、Ｓ４００において取得した測定器１４−２の使用状況が、「使用中」（つまり、増設部に接続された被試験器１８の試験信号の測定に使用不可）であるか否かを判断する。
【００２９】
測定器１４−２の使用状況が、「使用中」であると判断した場合、使用可否判定部３０６は、Ｓ４０４の処理に進み、それ以外の場合、Ｓ４０６の処理に進む。
ステップ４０４（Ｓ４０４）において、使用可否判定部３０６は、測定器１４−２の使用不可通知を、使用要求部３２２に対して出力する。
ステップ４０６（Ｓ４０６）において、使用可否判定部３０６は、測定器１４−２の使用可能通知を、使用要求部３２２に対して出力し、処理を終了する。
【００３０】
ステップ４０８（Ｓ４０８）において、使用可否判定部３０６は、測定器１４−２の使用状況を取得する。
ステップ４１０（Ｓ４１０）において、使用可否判定部３０６は、Ｓ４０８において取得した測定器１４−２の使用状況が、「使用中」であるか否かを判断する。
測定器１４−２の使用状況が、「使用中」であると判断した場合、使用可否判定部３０６は、Ｓ４０８の処理に進み、それ以外の場合、Ｓ４０６の処理に進む。
【００３１】
なお、本説明においては、使用可否判定部３０６が、使用要求された測定器１４および専用試験器１６が使用可能になるまで、繰返し使用状況を取得しているが、使用可否判定部３０６が、繰返し使用状況を取得するのではなく、以下のような構成としてもよい。
使用可否判定部３０６は、使用要求部３２２に対して、使用不可通知を出力して処理を終了する。
使用要求部３２２は、使用可否判定部３０６から使用可能通知を受けるまで、使用可否判定部３０６に対して、繰返し使用要求を出力する。
【００３２】
［測定試験装置１の動作例］
図７は、図１に示した測定試験装置１の動作例を示すシーケンス図であり、図８は、測定試験装置１の動作に従い制御された測定器１４と被試験器１８とを接続する経路を例示する図である。
以下、図７，図８を参照して、測定試験装置１の動作をさらに説明する。
なお、本説明において用いられる測定器の数や、増設部の数は、説明の明確化・具体化のための例示であり、これらの数に限定されるものではない。
【００３３】
ステップ５００（Ｓ５００）において、制御コントローラ１２は、信号切替器２０を制御して、被試験器１８−１（図８）の試験信号を、測定器１４−１を使用して測定する。
具体的には、図８に示すように、制御コントローラ１２は、信号切替部２０において、測定器１４−１から接続部２２までの経路を構築し、被試験器１８−１の試験信号を測定できるよう制御する。
ステップ５０２（Ｓ５０２；図７）において、増設用制御コントローラ２４は、制御コントローラ１２に対して、測定器１４−２の使用要求を通知する。
【００３４】
ステップ５０４（Ｓ５０４）において、制御コントローラ１２は、測定器１４−２の使用状況を判定する。
具体的には、制御コントローラ１２は、測定器１４−１が使用されているが、測定器１４−２は使用されていないと判断する。
ステップ５０６（Ｓ５０６）において、制御コントローラ１２は、増設用制御コントローラ２４に対して、測定器１４−２の使用可能通知を出力する。
ステップ５０８（Ｓ５０８）において、増設用制御コントローラ２４は、測定器１４−２を使用して測定するために、増設用信号切替器２６の経路制御処理を行う。
【００３５】
ステップ５１０（Ｓ５１０）において、増設用信号切替器２６は、増設用制御コントローラ２４に対して、経路制御が完了したことを通知する。
ステップ５１２（Ｓ５１２）において、制御コントローラ１２は、信号切替器２０と増設用信号切替器２６とをバイパスして、測定試験装置１の増設部に接続された被試験器１８−２（図８）の試験信号を、測定器１４−２を使用して測定できるよう、信号切替器２０の経路制御処理を行う。
【００３６】
ステップ５１４（Ｓ５１４）において、信号切替器２０は、制御コントローラ１２に対して、経路制御が完了したことを通知する。
具体的には、図８に示すように、制御コントローラ１２は、信号切替器２０において、測定器１４−２から増設用信号切替器２６までをバイパスする経路を構築するよう制御し、増設用制御コントローラ２４は、増設用信号切替器２６において、測定器１４−２からバイパスされた経路を介した増設用接続部２８までの経路を構築するよう制御する。
【００３７】
ステップ５１６（Ｓ５１６；図７）において、増設用制御コントローラ２４は、制御コントローラ１２に対して、測定器１４−２を使用した試験要求を通知する。
ステップ５１８（Ｓ５１８）において、制御コントローラ１２は、被試験器１８−２の試験信号を、測定器１４−２を使用して測定する。
ステップ５２０（Ｓ５２０）において、制御コントローラ１２は、増設用制御コントローラ２４に対して、Ｓ５１８における測定結果を、試験結果として通知する。
【符号の説明】
【００３８】
１・・・測定試験装置，１２・・・制御コントローラ，１４・・・測定器，１６・・・専用試験器，１８・・・被試験器，２０・・・信号切替器，２２・・・接続部，２４・・・増設用コントローラ，２６・・・増設用信号切替器，２８・・・増設用接続部，１２０・・・情報処理装置，１２２・・・メモリ，１２４・・・ＣＰＵ，１２６・・・外部入出力装置，１２８・・・通信装置，１３０・・・記録装置，１３２・・・記録媒体，３００，３２０・・・試験制御部，３０２・・・経路情報テーブル，３０４，３２４・・・経路制御部，３０６・・・使用可否判定部，３０８，３２６・・・接続処理部，３２２・・・使用要求部
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の測定器を有し、前記測定器を制御して被試験器に対して試験を行う本体部と、前記本体部に接続される１つ以上の増設部とを有する測定試験装置であって、
前記本体部は、
前記増設部から、前記測定器の使用要求を受けて、前記使用を要求された測定器が使用可能か否かを判定する使用可否判定部と、
前記使用可否判定部により、前記使用を要求された測定器が使用可能であると判定された場合、前記使用を要求された測定器から、前記増設部までの接続経路を制御する第１の経路制御部と
を備え、
前記増設部は、
前記本体部に対して、前記本体部が有する測定器のうち、この増設部に接続された被試験器の試験に使用する測定器の使用を要求する使用要求部と、
前記使用可否判定部により、前記使用を要求された測定器が使用可能であると判定された場合、前記第１の経路制御部に制御された接続経路から、この増設部に接続された被試験器までの接続経路を制御する第２の経路制御部と、
前記本体部に対して、前記使用を要求された測定器を制御して、前記第１の経路制御部および前記第２の経路制御部により制御された接続経路を用いて、この増設部に接続された被試験器に対して試験を行うよう要求する試験要求部と
を備える
測定試験装置。
【請求項２】
複数の測定器を有し、前記測定器を制御して被試験器に対して試験を行う本体部と、前記本体部に接続される１つ以上の増設部とを有する測定試験装置における測定試験方法であって、
前記本体部のコンピュータに、
前記増設部から、前記測定器の使用要求を受けて、前記使用を要求された測定器が使用可能か否かを判定する使用可否判定ステップと、
前記使用を要求された測定器が使用可能であると判定された場合、前記使用を要求された測定器から、前記増設部までの接続経路を制御する第１の経路制御ステップと
を実行させ、
前記増設部のコンピュータに、
前記本体部に対して、前記本体部が有する測定器のうち、この増設部に接続された被試験器の試験に使用する測定器の使用を要求する使用要求ステップと、
前記使用可否判定ステップにおいて、使用を要求された測定器が使用可能であると判定された場合、前記本体部により制御された接続経路から、この増設部に接続された被試験器までの接続経路を制御する第２の経路制御ステップと、
前記本体部に対して、前記使用を要求された測定器を制御して、前記第１の経路制御ステップおよび前記第２の経路制御ステップにおいて制御された接続経路を用いて、この増設部に接続された被試験器に対して試験を行うよう要求する試験要求ステップと
を実行させる
測定試験方法。
【請求項１】
複数の測定器を有し、前記測定器を制御して被試験器に対して試験を行う本体部と、前記本体部に接続される１つ以上の増設部とを有する測定試験装置であって、
前記本体部は、
前記増設部から、前記測定器の使用要求を受けて、前記使用を要求された測定器が使用可能か否かを判定する使用可否判定部と、
前記使用可否判定部により、前記使用を要求された測定器が使用可能であると判定された場合、前記使用を要求された測定器から、前記増設部までの接続経路を制御する第１の経路制御部と
を備え、
前記増設部は、
前記本体部に対して、前記本体部が有する測定器のうち、この増設部に接続された被試験器の試験に使用する測定器の使用を要求する使用要求部と、
前記使用可否判定部により、前記使用を要求された測定器が使用可能であると判定された場合、前記第１の経路制御部に制御された接続経路から、この増設部に接続された被試験器までの接続経路を制御する第２の経路制御部と、
前記本体部に対して、前記使用を要求された測定器を制御して、前記第１の経路制御部および前記第２の経路制御部により制御された接続経路を用いて、この増設部に接続された被試験器に対して試験を行うよう要求する試験要求部と
を備える
測定試験装置。
【請求項２】
複数の測定器を有し、前記測定器を制御して被試験器に対して試験を行う本体部と、前記本体部に接続される１つ以上の増設部とを有する測定試験装置における測定試験方法であって、
前記本体部のコンピュータに、
前記増設部から、前記測定器の使用要求を受けて、前記使用を要求された測定器が使用可能か否かを判定する使用可否判定ステップと、
前記使用を要求された測定器が使用可能であると判定された場合、前記使用を要求された測定器から、前記増設部までの接続経路を制御する第１の経路制御ステップと
を実行させ、
前記増設部のコンピュータに、
前記本体部に対して、前記本体部が有する測定器のうち、この増設部に接続された被試験器の試験に使用する測定器の使用を要求する使用要求ステップと、
前記使用可否判定ステップにおいて、使用を要求された測定器が使用可能であると判定された場合、前記本体部により制御された接続経路から、この増設部に接続された被試験器までの接続経路を制御する第２の経路制御ステップと、
前記本体部に対して、前記使用を要求された測定器を制御して、前記第１の経路制御ステップおよび前記第２の経路制御ステップにおいて制御された接続経路を用いて、この増設部に接続された被試験器に対して試験を行うよう要求する試験要求ステップと
を実行させる
測定試験方法。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【公開番号】特開２０１２−１４９９７５（Ｐ２０１２−１４９９７５Ａ）
【公開日】平成２４年８月９日（２０１２．８．９）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１１−８４６０（Ｐ２０１１−８４６０）
【出願日】平成２３年１月１９日（２０１１．１．１９）
【出願人】（０００００１１２２）株式会社日立国際電気 (5,007)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２４年８月９日（２０１２．８．９）
【国際特許分類】
【出願日】平成２３年１月１９日（２０１１．１．１９）
【出願人】（０００００１１２２）株式会社日立国際電気 (5,007)
【Ｆターム（参考）】
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