画像表示装置及び画像表示方法
【課題】自発光型の素子よりなる画素を備えた画像表示パネルでの劣化の補正を、種々のラスターサイズの画像を表示させた場合にも良好に行えるようにする。
【解決手段】画像表示領域と、その画像表示領域とは別のダミー画素領域とを有する表示パネルを使用する。表示パネルのダミー画素領域の発光輝度は、光センサで検出する。表示パネル上の画像表示領域を複数の分割領域Ａ〜Ｄに分割し、各分割領域Ａ〜Ｄ内の１つ又は複数の画素の発光状態と同じ発光状態を、ダミー画素領域内の画素ｄ−Ａ，ｄ−Ｂ，ｄ−Ｃ，ｄ−Ｄで実行させる。そのように表示させた上で、光センサで検出されたダミー画素領域の発光輝度に基づいて、各分割領域内の画素の輝度又は色度の補正を行うようにした。ここで、表示パネル上の分割領域の設定を、その表示パネル上に表示させるラスターサイズに対応した設定状態として、ラスターサイズごとの表示領域内の画素の劣化が、ダミー画素の状態の検出から判るようにした。
【解決手段】画像表示領域と、その画像表示領域とは別のダミー画素領域とを有する表示パネルを使用する。表示パネルのダミー画素領域の発光輝度は、光センサで検出する。表示パネル上の画像表示領域を複数の分割領域Ａ〜Ｄに分割し、各分割領域Ａ〜Ｄ内の１つ又は複数の画素の発光状態と同じ発光状態を、ダミー画素領域内の画素ｄ−Ａ，ｄ−Ｂ，ｄ−Ｃ，ｄ−Ｄで実行させる。そのように表示させた上で、光センサで検出されたダミー画素領域の発光輝度に基づいて、各分割領域内の画素の輝度又は色度の補正を行うようにした。ここで、表示パネル上の分割領域の設定を、その表示パネル上に表示させるラスターサイズに対応した設定状態として、ラスターサイズごとの表示領域内の画素の劣化が、ダミー画素の状態の検出から判るようにした。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、例えば有機ＥＬ（Electro-Luminescence）パネルなどの自発光型表示パネルを使った画像表示装置及び画像表示方法に関し、特に、発光輝度の劣化を補正する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
表示パネル上にマトリクス状に配置された画素が自発光することで、画像が表示される方式の表示装置が、各種開発されている。例えば、有機ＥＬパネルを使った表示装置が実用化されている。有機ＥＬパネルは、画素の発光輝度が高く、高輝度な画像を高精細に表示できる優れた画像表示用デバイスである。
【０００３】
ところで、テレビジョン放送用画像や映画用画像などで規格化された画像信号については、画像の水平方向の長さと垂直方向の長さの比であるアスペクト比について、様々な規格が存在する。従って、画像信号とはアスペクト比が異なる表示装置で画像を表示する上では、何らかの対応が必要である。
例えば、入力した画像信号を、その画像信号の本来のアスペクト比とは異なるアスペクト比の表示装置で、画像のアスペクト比を変えずに表示させる場合には、画像の上下又は左右に、黒色、即ち無表示の領域を設けて、違いに対処させている。
【０００４】
図１２は、アスペクト比が異なる画像の例である。
図１２（ａ）は、表示するラスターサイズが１６：９の例であり、図１２（ｂ）は、表示するラスターサイズが４：３の例であり、図１２（ｃ）は、表示するラスターサイズがシネスコサイズ（２．３５：１）の例である。
ここで、表示パネルが１６：９の縦横比のサイズである場合には、図１２（ａ）の画像はパネル全体で表示される。これに対して、図１２（ｂ）の４：３の画像の場合には、画面の左右に無表示部分が生じる。また、図１２（ｃ）のシネスコサイズの画像の場合には、画面の上下に無表示部分が生じる。
この図１２に示したラスターサイズは、代表的な３つの例であり、実際には非常に多くのラスターサイズが存在する。
このように、表示される画像のラスターサイズが違うことで、画面上の無表示部分の位置が異なることになる。
【０００５】
特許文献１には、表示装置が備える表示パネルの画素の発光輝度の劣化を検出して、補正する点についての記載がある。その劣化の検出処理として、ダミー画素を設けて、そのダミー画素の平均的な発光輝度を測定して行う点についての記載がある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２００７−２４０７９８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
有機ＥＬパネルなどの自発光型の画素を備えた表示パネルは、画像の表示により画素を構成する発光素子が劣化するため、ある程度長期間画像を表示させると、各画素の発光輝度が低下する問題がある。各画素の発光輝度が低下する特性は各原色ごとに異なるため、輝度の低下が色度の変化にもつながる。
このため、特許文献１に記載された技術では、画面全体の発光輝度の劣化を、ダミー画素を使って検出するようにして、その検出した劣化分だけパネルの駆動信号を補正して、表示パネルに表示される画像には、劣化による輝度低下が発生しないようにしている。
【０００８】
ここで、図１２（ｂ）や図１２（ｃ）に示したような、無表示部分が生じた状態での画像表示を連続して行うと、その無表示部分の表示画素については劣化が発生しないことになる。従って、画面全体で均一に補正を行うと、ラスターサイズの違いによる無表示部分については、発光輝度が強くなってしまい、１表示画面中で輝度が強い部分と弱い部分が生じてしまい、好ましくない。
ところが、実際の画像表示装置では、どのようなラスターサイズの画像をどれだけの時間表示させているかの履歴を判断することは困難であり、ラスターサイズの違いによる無表示部分を考慮した、画素の発光輝度の補正は、従来行われていなかった。
【０００９】
図１３（ａ）は、表示パネル上に、図１２（ａ）の１６：９のサイズの画像が表示される範囲Ｘと、図１２（ｂ）の４：３のサイズの画像が表示される範囲Ｙと、図１２（ｃ）のシネスコサイズのサイズの画像が表示される範囲Ｚを重ねて示したものである。
この図１３（ａ）に示した画面中の領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄは、それぞれの範囲ごとに表示される領域と表示されない領域を示したものである。図１２の各サイズの場合には、中央の領域Ｂについては、どのラスターサイズでも表示されるが、その他の領域Ｂ，Ｃ，Ｄについては、表示サイズに応じて表示される場合と表示されない場合とがある。従って、中央の領域Ａについては、画素の発光輝度の低下が一番進むことが想定されるが、他の領域については、画素の発光輝度の低下が、それ程でないこともあり得る。
【００１０】
図１３（ａ）に示した各領域での、発光輝度低下の１つの例を図１３（ｂ）に示すと、横軸が時間、縦軸が輝度であり、例えば中央の領域Ａは、輝度の低下が最も早く進み、四隅の領域Ｄについては、最も輝度の低下が少ないことが想定される。領域Ｂ，Ｃについては、領域Ａと領域Ｄの間になることが想定される。
この図１３の例は、あくまでも図１２に示した３つのサイズの画像を、それぞれ適当な時間表示させた場合の例であり、ラスターサイズがこれとは異なる画像を表示させた場合には、劣化の発生状態が図１３の例とは異なる。
【００１１】
また、有機ＥＬ型表示パネルは、パネルの温度によっても輝度や色度が変化する問題があり、その温度による補正を行う際にも、画素の劣化を考慮する必要があるが、画素の劣化状況が画素位置によって異なると、適正な補正ができない問題がある。
【００１２】
なお、ここまでは有機ＥＬ型表示パネルを例にして説明したが、自発光型の素子よりなる画素を備えた画像表示パネルの場合には、いずれの方式でも同様の問題がある。
【００１３】
本発明はかかる点に鑑みてなされたものであり、自発光型の素子よりなる画素を備えた画像表示パネルでの劣化の補正を、種々のスターサイズの画像を表示させた場合にも良好に行えるようにすることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
本発明は、画像表示領域と、その画像表示領域とは別のダミー画素領域とを有する表示パネルを使用する。表示パネルのダミー画素領域の発光輝度は、光センサで検出する。
そして、表示パネル上の画像表示領域を複数の分割領域に分割し、各分割領域内の１つ又は複数の画素の発光状態と同じ発光状態を、ダミー画素領域内の画素で実行させる。そのように表示させた上で、光センサで検出されたダミー画素領域の発光輝度に基づいて、各分割領域内の画素の輝度又は色度の補正を行うようにした。
【００１５】
このようにしたことで、表示パネル上の分割領域の設定を、その表示パネル上に表示させるラスターサイズに対応した設定状態とすることで、ラスターサイズごとの表示領域内の画素の劣化が、ダミー画素の状態の検出から判るようになる。
【発明の効果】
【００１６】
本発明によると、ラスターサイズごとの表示領域内の画素の劣化が判るようになり、ラスターサイズを考慮した発光輝度補正を行うことが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】本発明の一実施の形態によるダミー画素による色温度補正の概要を示す説明図である。
【図２】ラスターサイズの違いによる無表示部分の変化例を示す説明図である。
【図３】種々のラスターサイズの表示仕様を示す説明図である。
【図４】本発明の一実施の形態による装置の全体構成例を示すブロック図である。
【図５】本発明の一実施の形態による装置の色温度補正関連処理構成例を示すブロック図である。
【図６】本発明の一実施の形態によるエリア区分例の詳細を示す説明図である。
【図７】本発明の一実施の形態によるダミー画素のサンプリング画素位置の例を示す説明図である。
【図８】本発明の一実施の形態による補正状態の例を示す説明図である。
【図９】本発明の一実施の形態によるつなぎ目補正の例を示す説明図である。
【図１０】本発明の一実施の形態によるつなぎ目のサンプリング信号の例を示す説明図である。
【図１１】本発明の一実施の形態によるつなぎ目の座標の例を示す説明図である。
【図１２】ラスターサイズの例を示す説明図である。
【図１３】図１２例のラスターサイズの違いによる各領域の劣化状態の相違を示す説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００１８】
本発明の実施の形態を、以下の順序で説明する。
１．一実施の形態の例の色温度補正の概要の説明（図１〜図３）
２．一実施の形態の例の装置構成の説明（図４，図５）
３．一実施の形態の例のエリア区分とダミー画素の設定例（図６，図７）
４．一実施の形態の例の補正処理例（図８）
５．一実施の形態の例のつなぎ目領域の処理例（図９〜図１１）
６．変形例
【００１９】
［１．一実施の形態の例の色温度補正の概要の説明］
まず、図１〜図３を参照して、本実施の形態の例で実行される色温度補正の概要を説明する。
本実施の形態の例においては、画像表示装置が備える画像表示パネルとして、各画素が自発光を行う素子で構成された有機ＥＬパネルを使用する。
その画像表示パネルとしては、図１に示すように、有効画像表示領域が、垂直方向の画素数５４０画素、水平方向の画素数９６０画素のものを使用する。画素には、赤色画素と青色画素と緑色画素とが順に配置してある。そして、この有効画像表示領域に隣接した無効領域（図１では右端の領域）として、垂直方向の画素数５４０画素、水平方向の画素数６４画素の領域を用意する。この無効領域の一部を、ダミー画素領域として使用する。無効領域は、その領域の画素の表示が装置の外側からは見えない、外部からは隠された領域である。つまり、ユーザは、有効画像表示領域の表示だけを見ることになる。
【００２０】
有効画像表示領域については、図１（ａ）に示すように、ラスターサイズ１６：９の画像を表示する縦横比の画素配列の領域としてある。
その上で、その有効画像表示領域内に、図１（ａ）に示すように、分割領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄを設定する。
分割領域Ａは、ラスターサイズ２．３５：１の画像を表示させたときの領域と、ラスターサイズ４：３の画像を表示させたときの領域との全てが重なる中央のエリアである。この分割領域Ａは、ほとんどのラスターサイズの画像を表示させたときに、画像表示領域内となる領域である。
分割領域Ｂは、中央の分割領域Ａの左右の領域である。但し、中央の分割領域Ａと左右の分割領域Ｂとの間には、これらの分割領域Ａ，Ｂに含まれない領域Ｎ１，Ｎ２を設けてある。この領域Ｎ１，Ｎ２は、本実施の形態では、つなぎ目領域と称する。
【００２１】
分割領域Ｃは、中央の分割領域Ａの上下の領域である。但し、中央の分割領域Ａと上下の分割領域Ｃとの間には、これらの分割領域Ａ，Ｃに含まれない、つなぎ目領域Ｎ３，Ｎ４を設けてある。
分割領域Ｄは、つなぎ目領域Ｎ１，Ｎ２，Ｎ３，Ｎ４の外側の四隅の領域である。
【００２２】
そして、無効領域内のダミー画素領域として、ダミー画素領域ｄ−Ａ，ｄ−Ｂ，ｄ−Ｃ，ｄ−Ｄの４つの領域を設けてある。その４つのダミー画素領域ｄ−Ａ，ｄ−Ｂ，ｄ−Ｃ，ｄ−Ｄは、それぞれが垂直方向１０画素×水平方向１０画素の１００画素で構成させてある。
【００２３】
ダミー画素領域ｄ−Ａは、分割領域Ａ内から選んだ１００画素について、その１００画素での発光状態と同じ発光状態で、常時発光させるようにしてある。
ダミー画素領域ｄ−Ｂ，ｄ−Ｃ，ｄ−Ｄについても、対応したそれぞれの分割領域Ｂ，Ｃ，Ｄ内から選んだ１００画素について、その１００画素での発光状態と同じ発光状態で、常時発光させるようにしてある。
【００２４】
図１では図示しないが、４つのダミー画素領域ｄ−Ａ，ｄ−Ｂ，ｄ−Ｃ，ｄ−Ｄごとに、それぞれの発光輝度を測定する光センサを、その表示パネルの上などに配置する。
そして、光センサで、各ダミー画素領域ｄ−Ａ，ｄ−Ｂ，ｄ−Ｃ，ｄ−Ｄの輝度変化を検出し、ダミー画素の輝度を初期値と同じにする信号の傾き（ゲイン）及び階調（バイアス）補正値を求める。
図１（ｂ）は、入力信号の階調（横軸）と、パネル上の画素の輝度変化（縦軸）とを示した特性図である。この図１（ｂ）では、画像表示パネル内の画素が劣化していない状態である、劣化前特性と、ある程度表示を行って特性が劣化した画素の特性である、劣化後特性とを示す。
【００２５】
例えば、領域Ａに対応したダミー画素領域ｄ−Ａで検出された現在の特性が、図１（ｂ）に示した劣化後特性であるとき、領域Ａ内の画素を駆動する信号に対して、図１（ａ）に示した劣化前特性となるように、ゲイン補正及びバイアス補正を行うものである。
分割領域Ｂ，Ｃ，Ｄ内の画素を駆動する信号に対しても、それぞれダミー画素領域ｄ−Ｂ，ｄ−Ｃ，ｄ−Ｄで検出された劣化後特性に基づいて、劣化前特性となるように、ゲイン補正及びバイアス補正を行うものである。
これらの補正を行うことで、各分割領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ内の画素の輝度又は色度を、初期値と同じ状態に保つようにしてある。
【００２６】
そして、各つなぎ目領域Ｎ１，Ｎ２，Ｎ３，Ｎ４については、それぞれの領域内の信号積算履歴を基にした、つなぎ目補正処理を行って、各分割領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄと同様のゲイン及びバイアス補正を行い、劣化前特性となるようにしてある。つなぎ目補正処理は、簡単に述べると、例えば領域Ａと領域Ｂの間の領域Ｎ１，Ｎ２では、領域Ａの補正状態と領域Ｂの補正状態とを考慮してつなぎ目が目立たない処理を行うものであるが、詳細処理は後述する。
【００２７】
本実施の形態においては、これらの処理を行うことで、画像表示パネルの有効画像表示領域内において、各画素の発光輝度や色度の劣化がない状態として、表示画像のユニフォミティを保つようにしたものである。
【００２８】
ここで、つなぎ目領域Ｎ１〜Ｎ４を設ける理由について、図２を参照して説明する。
図２（ａ）は、画像表示パネルに、縦長の画像を表示させた場合（つまり垂直方向の全画素を使って表示させる場合）の、左右の端の無表示領域の変化を示したものである。ラスターサイズの違いによって、図２（ａ）の左右の端に矢印で示すように、左右の端の無表示領域の幅が変化する。
図２（ｂ）は、画像表示パネルに、横長の画像を表示させた場合（つまり水平方向の全画素を使って表示させる場合）の、上下の端の無表示領域の変化を示したものである。ラスターサイズの違いによって、図２（ｂ）の上下の端に矢印で示すように、上下の端の無表示領域の幅が変化する。
【００２９】
図３は、規格化されたラスターサイズの例を示したものである。図３の各例の左側は、規格化されたラスターサイズを、１６：９の画面に表示させた場合の上下又は左右の無表示領域を示す。図３の各例の右側は、その左側のラスターサイズの画像を、垂直方向５４０画素×水平方向９６０画素のパネルに表示させたときの、画素数（ｄｏｔ）の例を示したものである。
【００３０】
図３（ａ）は、２．４０：１のラスターサイズの例を示し、画像部分は、垂直方向４００画素×水平方向９６０画素となる。
図３（ｂ）は、２．３５：１のラスターサイズ（シネマスコープサイズ）の例を示し、画像部分は、垂直方向４０８画素×水平方向９６０画素となる。
図３（ｃ）は、１．８５：１のラスターサイズ（アメリカン・ビスタサイズ）の例を示し、画像部分は、垂直方向５２０画素×水平方向９６０画素となる。
図３（ｄ）は、１．６６：１のラスターサイズ（ヨーロピアン・ビスタサイズ）の例を示し、画像部分は、垂直方向５４０画素×水平方向８９６画素となる。
図３（ｅ）は、１５：９のラスターサイズの例を示し、画像部分は、垂直方向５４０画素×水平方向９００画素となる。
図３（ｆ）は、１４：９のラスターサイズの例を示し、画像部分は、垂直方向５４０画素×水平方向８４０画素となる。
図３（ｇ）は、１３：９のラスターサイズの例を示し、画像部分は、垂直方向５４０画素×水平方向７８０画素となる。
図３（ｈ）は、４：３のラスターサイズの例を示し、画像部分は、垂直方向５４０画素×水平方向７２０画素となる。
【００３１】
本実施の形態においては、これらの各ラスターサイズの画像表示を行うことによって生じる画素劣化の違いを吸収するために、つなぎ目領域Ｎ１〜Ｎ４を設けたものである。即ち、図３に示したように、様々なラスターサイズが存在し、これらのラスターサイズの画像を表示パネルで適宜表示させた場合、図２に示すように無表示領域が変化し、その無表示領域が変化する範囲で、劣化状態が変化してしまう。その劣化状態の変化を、それぞれの領域内の信号積算履歴を基にして推定して、適正なつなぎ目補正処理を行うものである。
基本的に、ラスターサイズでの画像部分と無表示部分との境界は、各つなぎ目領域Ｎ１〜Ｎ４か、又は、つなぎ目領域と隣接した分割領域との境界部に位置するようにしてある。そして、各つなぎ目領域Ｎ１〜Ｎ４で、そのラスターサイズの違いに対応した補正処理を行うようにしてある。
以下、ここまで説明した原理に基づいた補正処理を行うための構成及び処理状態の詳細について説明する。
【００３２】
［２．一実施の形態の例の装置構成の説明］
図４は、本実施の形態の例の画像表示装置の全体構成例を示した図である。
図４に従って説明すると、入力部である画像信号入力端子１１に入力した画像信号は、同期分離部１２に供給し、画像データと同期データとを分離し、画像データをセレクタ１４に供給し、同期データを同期処理部２５に供給する。また、内部信号生成部１３で、装置内で記憶されて読出して生成された画像信号又は装置内のチューナなどで受信して生成された画像信号を、セレクタ１４に供給する。セレクタ１４ではいずれかの画像信号を選択する。
【００３３】
選択された画像データ及び同期データを、リニアガンマ処理部１５に供給し、リニアガンマ補正処理を行う。補正された画像データ及び同期データは、色度／色域変換部１６に供給する。色度／色域変換部１６では、画像データの色度と色域の変換処理を行う。
色度／色域変換部１６で処理された画像データ及び同期データは、つなぎ目補正部１７に供給し、つなぎ目補正処理を行う。つなぎ目補正処理は、図１に示した、つなぎ目領域Ｎ１〜Ｎ４で実行される輝度又は色度の補正処理であり、詳細は後述する。
【００３４】
つなぎ目補正部１７が出力する画像データ及び同期データは、ダミー画素表示処理部１８に供給し、画像表示パネル３０の無効領域内のダミー画素で表示させる信号を画像データからサンプリングして、表示させるようにする。ダミー画素で表示させる信号をサンプリングする例についは後述する。
【００３５】
ダミー画素表示処理部１８が出力する画像データ及び同期データは、色温度補正部１９に供給する。この色温度補正部１９では、ダミー画素の発光輝度の検出に基づいて、ゲイン補正による色温度補正処理が行われる。
色温度補正部１９が出力する画像データ及び同期データは、パネルガンマ処理部２０に供給し、画像表示パネル３０の表示特性に基づいたガンマ補正処理を行う。
パネルガンマ処理部２０が出力する画像データ及び同期データは、色温度補正部２１に供給する。この色温度補正部２１では、ダミー画素の発光輝度の検出に基づいて、バイアス補正による色温度補正処理が行われる。
【００３６】
色温度補正部２１で補正された画像データ及び同期データは、出力部２２から画像表示パネル３０に供給する。画像表示パネル３０では、同期データを処理するタイミング発生部２３から指示されるタイミングで、供給される画像データの同期処理が行われ、画像データによる画像が表示される。
【００３７】
これらの各部での処理は、制御手段であるＣＰＵ２６の制御で実行される。ＣＰＵ２６には、記憶部であるメモリ２７が接続してあり、メモリ２７に、制御に必要な各種データを記憶させてある。各画素の輝度の補正（色温度補正）に必要なデータについてもメモリ２７に記憶させてある。また、表示パネルのつなぎ目領域の補正に必要な、特定の画素の発光輝度の積算値のデータについても、メモリ２７に記憶させてある。
【００３８】
ＣＰＵ２６には、温度センサ２８及び光センサ２９からの検出データが供給される構成としてある。温度センサ２８は、画像表示パネル３０のパネル温度、又はパネルの近傍の温度を検出するセンサである。
光センサ２９は、画像表示パネル３０のダミー画素表示領域の画素の発光輝度を検出するセンサである。光センサ２９は、４つのダミー画素領域ｄ−Ａ，ｄ−Ｂ，ｄ−Ｃ，ｄ−Ｄ（図１）に対応して、４つの検出部を備え、その４つ検出部で各ダミー画素領域ｄ−Ａ，ｄ−Ｂ，ｄ−Ｃ，ｄ−Ｄの発光輝度を個別に検出する。
【００３９】
図５は、本実施の形態の画像表示装置の色温度補正に関係した処理構成の詳細を示した図である。図５では、ＣＰＵ２６は、色温度補正に関係した制御構成だけを示してある。
ＣＰＵ２６は、インターフェース部２６７を介してメモリ２７と温度センサ２８と光センサ２９とに接続してある。ＣＰＵ２６は、輝度補正シーケンス制御部２６１を備え、その輝度補正シーケンス制御部２６１の制御で、光センサ信号処理部２６２及び温度センサ信号処理部２６３で、それぞれのセンサ出力を検出処理する。それぞれで得られた検出データは、光センサ信号温度補正部２６４に供給して、検出した温度に基づいて光センサ信号を補正し、その補正した各ダミー領域の光センサ検出信号に基づいて、補正値を演算する。補正値演算は、エリアバイアス補正値演算部２６５とエリアゲイン補正値演算部２６６とで、各エリアのバイアス補正値とゲイン補正値として算出する。
【００４０】
つなぎ目補正部１７は、ライン信号サンプリング部１７１と、加速度演算及び履歴加算部１７２と、正規化計算部１７３とを備え、ライン信号サンプリング部１７１でつなぎ目の領域の信号をサンプリングする。サンプリングされた信号は、加速度演算及び履歴加算部１７２に供給して、メモリ２７側に供給して記憶させる履歴加算値を算出する。また、正規化計算部１７３で正規化値を算出する。算出された正規化値は、ゲイン補正を行う色温度補正部１９及びバイアス補正を行う色温度補正部２１に供給する。
【００４１】
ダミー画素表示処理部１８は、エリア信号サンプリング部１８１と、ダミー表示基準信号生成部１８２と、ダミー信号切換え部１８３と、加算器１８４とを備える。そして、エリア信号サンプリング部１８１でサンプリングされた信号を表示させる場合と、ダミー表示基準信号生成部１８２で生成された基準信号を表示させる場合とを、ダミー信号切換え部１８３で切換え、加算器１８４で対応位置の画像信号に加える。
【００４２】
色温度補正部１９では、エリアゲイン補正値演算部２６６で算出された各領域の補正値と、正規化値とに基づいて、ゲイン補正計算部１９１で各分割領域の補正ゲインを計算する。そして、計算された補正ゲインを乗算器１９２に供給して、画像データの対応した領域の画素の駆動信号に乗算する。
色温度補正部２１では、エリアバイアス補正値演算部２６５で算出された各領域の補正値と、正規化値とに基づいて、バイアス補正計算部２１１で各分割領域のバイアス補正値を計算する。そして、計算されたバイアス補正値を乗算器２１２に供給して、画像データの対応した領域の画素の駆動信号に乗算する。
【００４３】
［３．一実施の形態の例のエリア区分とダミー画素の設定例］
次に、図６及び図７を参照して、画像表示パネルの各分割領域と、ダミー画素の設定状況の詳細について説明する。
図６は、画像表示パネルの各分割領域の詳細例を示したものである。図６に示すように、有効画像表示領域については、ラスターサイズ１６：９の画像を表示する縦横比の画素配列の領域としてあり、垂直方向５４０画素×水平方向９６０画素である。
【００４４】
分割領域Ａは、中央の垂直方向４００画素×水平方向７２０画素の領域である。この分割領域Ａは、図３に示した大部分のラスターサイズの画像を表示させたときに、画像表示領域内となる領域である。
分割領域Ｂは、左端及び右端の垂直方向４００画素×水平方向３０画素の領域である。
分割領域Ｃは、上端及び下端の垂直方向１０画素×水平方向７２０画素の領域である。
分割領域Ｄは、四隅の垂直方向１０画素×水平方向３０画素の領域である。
【００４５】
つなぎ目領域Ｎ１及びＮ２は、垂直方向５４０画素×水平方向９０画素の領域である。
つなぎ目領域Ｎ３及びＮ４は、垂直方向６０画素×水平方向９６０画素の領域である。
【００４６】
無効領域内のダミー画素領域ｄ−Ａ，ｄ−Ｂ，ｄ−Ｃ，ｄ−Ｄは、それぞれが垂直方向１０画素×水平方向１０画素の１００画素で構成させてあり、垂直方向に４０画素ずつ離して配置してある。
このダミー画素に入力する信号には、通常入力する画像信号であるエージング信号と、輝度測定時に入力する基準信号との２種類がある。
【００４７】
図７は、ダミー画素に表示するエージング信号の例を示した図である。ダミー画素領域ｄ−Ａ内の１００画素の信号は、領域Ａ内の１００個の画素の信号を、ほぼ一定間隔でサンプリングしたものである。この例では、図７の領域Ａ内に丸で囲って示した１から１００までの数字の位置の信号がサンプリングされて、ダミー画素領域ｄ−Ａ内の１００個の画素を発光させる。
【００４８】
ダミー画素領域ｄ−Ｂ内の１００画素の信号は、図７に示したように、左側の領域Ｂ内の５０個の画素の信号を、ほぼ一定間隔でサンプリングし、右側の領域Ｂ内の５０個の画素の信号を、ほぼ一定間隔でサンプリングして、得たものである。
【００４９】
ダミー画素領域ｄ−Ｃ内の１００画素の信号は、図７に示したように、上側の領域Ｃ内の５０個の画素の信号を、ほぼ一定間隔でサンプリングし、下側の領域Ｂ内の５０個の画素の信号を、ほぼ一定間隔でサンプリングして、得たものである。
【００５０】
ダミー画素領域ｄ−Ｄ内の１００画素の信号は、図７に示したように、左上、左下、右上、右下の領域Ｃ内の２５個ずつの画素の信号を、ほぼ一定間隔でサンプリングして、得たものである。
【００５１】
［４．一実施の形態の例の補正処理例］
図８は、このようなダミー画素の信号を使って、色度及び輝度を補正する処理状態の例を示したものである。
本実施の形態の画像表示装置は、製造時に工場などで、予め、ダミー画素に、輝度が高い場合と低い場合の基準信号（refsig_L, refsig_H）を表示させた場合の光センサ２９の出力値を基準出力値（refout_L, refout_H）として、メモリ２７に記憶させておく。
【００５２】
そして、画像表示装置で画像を表示させる使用時には、ダミー画素に基準信号（refsig_L, refsig_H）を入力し、その時の光センサの出力値と基準出力値とを比較する。
その比較で一定以上の違いがある場合、基準信号（refsig_L）入力時は、センサ出力値が基準出力値（refout_L）と同じか一定の比率になるように信号を加算して、補正を行う。また、基準信号（refsig_H）入力時には、センサ出力値が基準出力値（refout_H）と同じか一定の比率になるように信号のゲインを補正して、補正を行なう。これを赤色画素と青色画素と緑色画素に対して行う。
【００５３】
即ち、図８（ａ）に示したように、補正前の２つの基準信号による劣化前特性と光センサ出力値（劣化後特性）が得られたとする。このとき、図８（ｂ）に示したように、階調補正であるバイアス補正として、輝度の低い方の基準出力値（refout_L）が劣化前特性と同じになるようにバイアス補正を行う。また、図８（ｃ）に示したように、傾き補正であるゲイン補正として、輝度の高い方の基準出力値（refout_H）と同じか一定の比率になるように信号のゲインを補正する。
こうして得られた各補正値を実際の有効画面の表示信号に対して適用ことで、表示画面の色度・輝度補正を行なうことが出来る。この補正値により補正する処理が、図５の構成で実行される。
【００５４】
［５．一実施の形態の例のつなぎ目領域の処理例］
次に、図９〜図１１を参照して、つなぎ目領域Ｎ１〜Ｎ４での色度・輝度補正について説明する。
図９は、つなぎ目領域での補正の原理を示した図である。
図６に示した、つなぎ目領域Ｎ１〜Ｎ４での画素の劣化状態は、どのサイズの画像をどれだけ表示させたかによって異なり、どの位置にどの程度の表示が行われたか知る必要がある。
その為に、つなぎ目領域Ｎ１〜Ｎ４内で、ライン状に表示信号をサンプリングして、その積算信号履歴量を、画素の発光履歴として保持する。即ち、図９（ａ）に示すように、分割領域Ａと左側の分割領域Ｂとの間に、ライン状に表示される画像信号をサンプリングするサンプリングラインＳＳＬを設定する。また、分割領域Ａと右側の分割領域Ｂとの間に、ライン状に表示される画像信号をサンプリングするサンプリングラインＳＳＲを設定する。また、分割領域Ａと上側の分割領域Ｃの間に、ライン状に表示される画像信号をサンプリングするサンプリングラインＳＳＴを設定する。また、分割領域Ａと下側の分割領域Ｃの間に、ライン状に表示される画像信号をサンプリングするサンプリングラインＳＳＢを設定する。
【００５５】
各サンプリングラインは、例えば図９（ａ）に、分割領域Ａと左側の分割領域Ｂとの間のサンプリングラインＳＳＬの概要を示すと、位置１から位置５までの５箇所のサンプリング位置を設定する。左端のサンプリング位置１は、分割領域Ｂの端部であり、これを基準１とする。右端のサンプリング位置５は、分割領域Ａの端部であり、これを基準２とする。
そして、位置１と位置５の間の３つのサンプリング位置２，３，４で、つなぎ目領域Ｎ１内の画素の表示信号をサンプリングする。なお、サンプリング位置を５つとしたのは説明を簡単にするためであり、実際のサンプリング数とは異なる。
【００５６】
位置１から位置５までのサンプリング信号は、表示装置としての使用を開始してから、随時サンプリングを行って、その値を積算して、積算値（積算信号量）をメモリ２７に記憶させておく。これにより信号のサンプリング位置とその位置における表示信号の累積値が判るようになる。図９（ａ）の例では、位置１，２，３，４，５のそれぞれの積算信号量として、ｔ１，ｔ０，ｔ２，ｔ４，ｔ３であったとする。
【００５７】
そして、基準となるライン状の信号サンプリングの両側エリア（エリアＢ及びＡ)の劣化度（ゲイン補正値の逆数）とそこの積算信号量より、劣化傾きを求める。図９（ｂ）は、この劣化傾きを示した図であり、横軸が積算信号量であり、縦軸が劣化状態である。この劣化傾きは、サンプリング位置１（領域Ｂ）の基準１と、サンプリング位置５（領域Ａ）の基準２とを結ぶことで得られる。即ち、ライン状の信号サンプリングの両側エリア（領域Ｂ，Ａ）の劣化度（ゲイン補正値の逆数）とその積算信号量より、傾斜傾きを求める。
【００５８】
例えば、位置３の積算信号量はｔ２であり、図９（ｂ）に示すように、位置３の劣化量は、［劣化度＝劣化傾き×積算信号量］となる。
劣化度の逆数がゲイン補正値になるので、これより、つなぎ目領域Ｎ１内の位置３のゲイン補正値を求めることが出来る。他のつなぎ目領域Ｎ２，Ｎ３，Ｎ４についても、同様に処理される。
【００５９】
図９は、つなぎ目領域での処理の原理を示したものであり、本実施の形態においては、図１０に示したサンプリングラインを設定する。
即ち、図１０に示すように、分割領域Ａと左側の分割領域Ｂとの間に、３本のサンプリングラインＳＬ１１，ＳＬ１２，ＳＬ１３を設定する。また、分割領域Ａと右側の分割領域Ｂとの間に、３箇所のサンプリングラインＳＲ１１，ＳＲ１２，ＳＲ１３を設定する。また、分割領域Ａと上側の分割領域Ｃの間に、３箇所のサンプリングラインＳＴ１１，ＳＴ１２，ＳＴ１３を設定する。また、分割領域Ａと下側の分割領域Ｃの間に、３箇所のサンプリングラインＳＢ１１，ＳＢ１２，ＳＢ１３を設定する。
それぞれの位置での３箇所のサンプリングラインは、図１０に示したように、該当するつなぎ目領域の一方の端の近傍、ほぼ中央、他方の端の近傍に設定する。
【００６０】
そして、それぞれのつなぎ目領域ごとに設定した３箇所のサンプリングラインは、サンプリングを行うごとに、いずれかのラインで行うように、サンプリング位置を変更する。
例えば、分割領域Ａと左側の分割領域Ｂとの間のサンプリングラインＳＬ１１，ＳＬ１２，ＳＬ１３については、サンプリングごとに、サンプリング毎に位置をＳＴ１１→ＳＴ１２→ＳＴ１３→ＳＴ１１と変更する。同様に他の領域の信号も位置を順に変更する。
【００６１】
図１０に示した画素数で各領域を設定したとき、各サンプリングラインのサンプリング位置（画素のアドレス位置）は、例えば次の［数１］の条件で設定する。
【００６２】
【数１】
【００６３】
このようにして決まるアドレス位置にて、次の［数２］に示すように、３つの色（赤ｒ、緑ｇ、青ｂ）の画素の信号のサンプリングを行う。
【００６４】
【数２】
【００６５】
図１１は、つなぎ目のサンプリングラインの各サンプリング位置の例を示した図である。
図１１の上側は、つなぎ目のサンプリングラインＳＬ１１〜Ｓｌ１３の例を示し、この例では、これらのサンプリングラインは、サンプリング位置０からサンプリング位置４３までの４４個のサンプリング信号で構成されている。各サンプリング位置の下側に示したパネル画素座標が、図１０に示した画素位置である。
サンプリング位置０からサンプリング位置９までは、領域Ｂの端部の画素をサンプリングしてある。サンプリング位置３６からサンプリング位置４３までは、領域Ａの端部の画素をサンプリングしてある。
【００６６】
サンプリング位置１０からサンプリング位置３５までは、不均一にサンプリング位置を設定してある。これは、表示される可能性のあるラスターサイズの画像領域と無表示領域との境界部が存在する可能性がある画素を重点的に選んでいるためである。
具体的には、画素位置２６から画素位置３５までの間で、サンプリング位置５からサンプリング位置１４まで連続して設定し、そのサンプリング位置で、ラスターサイズ（１５：９）及び（１．６６：１）の境界部近傍での状態を検出している。
また、画素位置１５から画素位置２２までの間で、サンプリング位置５６からサンプリング位置６３まで連続して設定し、そのサンプリング位置で、ラスターサイズ（１４：９）の境界部近傍での状態を検出している。
また、画素位置８６から画素位置９３までの間で、サンプリング位置２３からサンプリング位置３０まで連続して設定し、そのサンプリング位置で、ラスターサイズ（１３：９）の境界部近傍での状態を検出している。
また、画素位置１１６から画素位置１２３までの間で、サンプリング位置３１からサンプリング位置３８まで連続して設定し、そのサンプリング位置で、ラスターサイズ（４：３）の境界部近傍での状態を検出している。
画素位置９〜１３のサンプリング（サンプリング位置０〜４）は、領域Ｂの基準信号を得るためのサンプリングである。画素位置１３８〜１４２のサンプリング（サンプリング位置３９〜４３）は、領域Ａの基準信号を得るためのサンプリングである。
【００６７】
これらのつなぎ目サンプリング信号は、図１１の下側に示したつなぎ目補正信号座標に変換される。このつなぎ目補正信号は、サンプリングされていない画素の信号についても生成させてある。
具体的には、例えば画素位置３５と画素位置５６ではサンプリング信号が存在するが、その間の画素位置３６から画素位置５５まではサンプリング信号が存在しない。ここで、画素位置３６のサンプリング信号と画素位置５５のサンプリング信号との平均から、このサンプリング信号が存在しない位置の補正信号（１４として示す信号）を生成させる。
同様にして、つなぎ目領域Ｎ１内の全ての画素について、補正信号を生成させる。
【００６８】
得られた補正信号を使って、つなぎ目領域Ｎ１内の各画素のゲイン補正処理を行う。得られた補正信号は、図１１に示すようにサンプリングラインに沿って得られた信号であるが、そのサンプリングラインと直交する方向の各画素に、同じ補正を適用する。
【００６９】
このように、つなぎ目領域の補正処理を行うことで、ダミー画素から直接劣化状況を検出していない領域で、メモリに記憶させた表示状態の累積値から、適正な補正が行え、どのラスターサイズの画像を表示させた場合でも適正な補正が可能になる。
本実施の形態においては、図１１に示したように、サンプリングライン内のサンプリング位置を、表示される可能性が高いラスターサイズに対応した位置としてあり、比較的少ないサンプリング数のデータの累積でよく、メモリ容量を削減できる。
【００７０】
［６．変形例］
各図に示した分割領域やつなぎ目領域の配置状態や、つなぎ目領域内のサンプリング位置、サンプリング数などは、好適な一例を示したものであり、本発明は、これらの例に限定されるものではない。
また、上述した実施の形態では、分割領域として、図６に示したように、領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄの４つの領域を設定して、それぞれにダミー画素を設けるようにしたが、四隅の領域Ｄについては、ダミー画素を省略してもよい。この四隅の領域Ｄの画素の状態については、領域Ｂの状態と領域Ｃの状態から推定が可能であり、実際にダミー画素を使って測定しないで、補正するようにしてもよい。
【００７１】
また、つなぎ目領域内のサンプリングラインについても、図１０に示したように３箇所のサンプリングラインとして、その３箇所のサンプリングラインを順に変化させたが、１箇所のサンプリングラインとして処理構成を簡略化してもよい。あるいは、３箇所のサンプリングラインでのサンプリングを同時に行って、サンプリング精度を高くするようにしてもよい。
【００７２】
また、画像表示パネルについては、有機ＥＬパネルを使用した例としたが、画素の自発光により劣化が生じるパネルであれば、他の方式の画像表示パネルに適用してもよい。パネルの画素数についても、上述した実施の形態は一例であり、他の画素数のパネルに適用できることは勿論である。
【符号の説明】
【００７３】
１１…画像信号入力端子、１２…同期分離部、１３…内部信号生成部、１４…セレクタ、１５…リニアガンマ処理部、１６…色度／色域変換部、１７…つなぎ目補正部、１８…ダミー画素表示処理部、１９…色温度補正部、２０…パネルガンマ処理部、２１…色温度補正部、２２…出力部、２３…タイミング発生部、２４…電源制御部、２５…同期処理部、２６…ＣＰＵ、２７…メモリ、２８…温度センサ、２９…光センサ、３０…画像表示パネル、１７１…ライン信号サンプリング部、１７２…加速度演算及び履歴加算部、１７３…正規化計算部、１８１…エリア信号サンプリング部、１８２…ダミー表示基準信号生成部、１８３…ダミー信号切換え部、１８４…加算器、１９１…ゲイン補正計算部、１９２…乗算器、２１１…バイアス補正計算部、２１２…加算器、２６１…輝度補正シーケンス制御部、２６２…光センサ信号処理部、２６３…温度センサ信号処理部、２６４…光センサ信号温度補正部、２６５…エリアバイアス補正値演算部、２６６…エリアゲイン補正値演算部、２６７…インターフェース部
【技術分野】
【０００１】
本発明は、例えば有機ＥＬ（Electro-Luminescence）パネルなどの自発光型表示パネルを使った画像表示装置及び画像表示方法に関し、特に、発光輝度の劣化を補正する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
表示パネル上にマトリクス状に配置された画素が自発光することで、画像が表示される方式の表示装置が、各種開発されている。例えば、有機ＥＬパネルを使った表示装置が実用化されている。有機ＥＬパネルは、画素の発光輝度が高く、高輝度な画像を高精細に表示できる優れた画像表示用デバイスである。
【０００３】
ところで、テレビジョン放送用画像や映画用画像などで規格化された画像信号については、画像の水平方向の長さと垂直方向の長さの比であるアスペクト比について、様々な規格が存在する。従って、画像信号とはアスペクト比が異なる表示装置で画像を表示する上では、何らかの対応が必要である。
例えば、入力した画像信号を、その画像信号の本来のアスペクト比とは異なるアスペクト比の表示装置で、画像のアスペクト比を変えずに表示させる場合には、画像の上下又は左右に、黒色、即ち無表示の領域を設けて、違いに対処させている。
【０００４】
図１２は、アスペクト比が異なる画像の例である。
図１２（ａ）は、表示するラスターサイズが１６：９の例であり、図１２（ｂ）は、表示するラスターサイズが４：３の例であり、図１２（ｃ）は、表示するラスターサイズがシネスコサイズ（２．３５：１）の例である。
ここで、表示パネルが１６：９の縦横比のサイズである場合には、図１２（ａ）の画像はパネル全体で表示される。これに対して、図１２（ｂ）の４：３の画像の場合には、画面の左右に無表示部分が生じる。また、図１２（ｃ）のシネスコサイズの画像の場合には、画面の上下に無表示部分が生じる。
この図１２に示したラスターサイズは、代表的な３つの例であり、実際には非常に多くのラスターサイズが存在する。
このように、表示される画像のラスターサイズが違うことで、画面上の無表示部分の位置が異なることになる。
【０００５】
特許文献１には、表示装置が備える表示パネルの画素の発光輝度の劣化を検出して、補正する点についての記載がある。その劣化の検出処理として、ダミー画素を設けて、そのダミー画素の平均的な発光輝度を測定して行う点についての記載がある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２００７−２４０７９８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
有機ＥＬパネルなどの自発光型の画素を備えた表示パネルは、画像の表示により画素を構成する発光素子が劣化するため、ある程度長期間画像を表示させると、各画素の発光輝度が低下する問題がある。各画素の発光輝度が低下する特性は各原色ごとに異なるため、輝度の低下が色度の変化にもつながる。
このため、特許文献１に記載された技術では、画面全体の発光輝度の劣化を、ダミー画素を使って検出するようにして、その検出した劣化分だけパネルの駆動信号を補正して、表示パネルに表示される画像には、劣化による輝度低下が発生しないようにしている。
【０００８】
ここで、図１２（ｂ）や図１２（ｃ）に示したような、無表示部分が生じた状態での画像表示を連続して行うと、その無表示部分の表示画素については劣化が発生しないことになる。従って、画面全体で均一に補正を行うと、ラスターサイズの違いによる無表示部分については、発光輝度が強くなってしまい、１表示画面中で輝度が強い部分と弱い部分が生じてしまい、好ましくない。
ところが、実際の画像表示装置では、どのようなラスターサイズの画像をどれだけの時間表示させているかの履歴を判断することは困難であり、ラスターサイズの違いによる無表示部分を考慮した、画素の発光輝度の補正は、従来行われていなかった。
【０００９】
図１３（ａ）は、表示パネル上に、図１２（ａ）の１６：９のサイズの画像が表示される範囲Ｘと、図１２（ｂ）の４：３のサイズの画像が表示される範囲Ｙと、図１２（ｃ）のシネスコサイズのサイズの画像が表示される範囲Ｚを重ねて示したものである。
この図１３（ａ）に示した画面中の領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄは、それぞれの範囲ごとに表示される領域と表示されない領域を示したものである。図１２の各サイズの場合には、中央の領域Ｂについては、どのラスターサイズでも表示されるが、その他の領域Ｂ，Ｃ，Ｄについては、表示サイズに応じて表示される場合と表示されない場合とがある。従って、中央の領域Ａについては、画素の発光輝度の低下が一番進むことが想定されるが、他の領域については、画素の発光輝度の低下が、それ程でないこともあり得る。
【００１０】
図１３（ａ）に示した各領域での、発光輝度低下の１つの例を図１３（ｂ）に示すと、横軸が時間、縦軸が輝度であり、例えば中央の領域Ａは、輝度の低下が最も早く進み、四隅の領域Ｄについては、最も輝度の低下が少ないことが想定される。領域Ｂ，Ｃについては、領域Ａと領域Ｄの間になることが想定される。
この図１３の例は、あくまでも図１２に示した３つのサイズの画像を、それぞれ適当な時間表示させた場合の例であり、ラスターサイズがこれとは異なる画像を表示させた場合には、劣化の発生状態が図１３の例とは異なる。
【００１１】
また、有機ＥＬ型表示パネルは、パネルの温度によっても輝度や色度が変化する問題があり、その温度による補正を行う際にも、画素の劣化を考慮する必要があるが、画素の劣化状況が画素位置によって異なると、適正な補正ができない問題がある。
【００１２】
なお、ここまでは有機ＥＬ型表示パネルを例にして説明したが、自発光型の素子よりなる画素を備えた画像表示パネルの場合には、いずれの方式でも同様の問題がある。
【００１３】
本発明はかかる点に鑑みてなされたものであり、自発光型の素子よりなる画素を備えた画像表示パネルでの劣化の補正を、種々のスターサイズの画像を表示させた場合にも良好に行えるようにすることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
本発明は、画像表示領域と、その画像表示領域とは別のダミー画素領域とを有する表示パネルを使用する。表示パネルのダミー画素領域の発光輝度は、光センサで検出する。
そして、表示パネル上の画像表示領域を複数の分割領域に分割し、各分割領域内の１つ又は複数の画素の発光状態と同じ発光状態を、ダミー画素領域内の画素で実行させる。そのように表示させた上で、光センサで検出されたダミー画素領域の発光輝度に基づいて、各分割領域内の画素の輝度又は色度の補正を行うようにした。
【００１５】
このようにしたことで、表示パネル上の分割領域の設定を、その表示パネル上に表示させるラスターサイズに対応した設定状態とすることで、ラスターサイズごとの表示領域内の画素の劣化が、ダミー画素の状態の検出から判るようになる。
【発明の効果】
【００１６】
本発明によると、ラスターサイズごとの表示領域内の画素の劣化が判るようになり、ラスターサイズを考慮した発光輝度補正を行うことが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】本発明の一実施の形態によるダミー画素による色温度補正の概要を示す説明図である。
【図２】ラスターサイズの違いによる無表示部分の変化例を示す説明図である。
【図３】種々のラスターサイズの表示仕様を示す説明図である。
【図４】本発明の一実施の形態による装置の全体構成例を示すブロック図である。
【図５】本発明の一実施の形態による装置の色温度補正関連処理構成例を示すブロック図である。
【図６】本発明の一実施の形態によるエリア区分例の詳細を示す説明図である。
【図７】本発明の一実施の形態によるダミー画素のサンプリング画素位置の例を示す説明図である。
【図８】本発明の一実施の形態による補正状態の例を示す説明図である。
【図９】本発明の一実施の形態によるつなぎ目補正の例を示す説明図である。
【図１０】本発明の一実施の形態によるつなぎ目のサンプリング信号の例を示す説明図である。
【図１１】本発明の一実施の形態によるつなぎ目の座標の例を示す説明図である。
【図１２】ラスターサイズの例を示す説明図である。
【図１３】図１２例のラスターサイズの違いによる各領域の劣化状態の相違を示す説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００１８】
本発明の実施の形態を、以下の順序で説明する。
１．一実施の形態の例の色温度補正の概要の説明（図１〜図３）
２．一実施の形態の例の装置構成の説明（図４，図５）
３．一実施の形態の例のエリア区分とダミー画素の設定例（図６，図７）
４．一実施の形態の例の補正処理例（図８）
５．一実施の形態の例のつなぎ目領域の処理例（図９〜図１１）
６．変形例
【００１９】
［１．一実施の形態の例の色温度補正の概要の説明］
まず、図１〜図３を参照して、本実施の形態の例で実行される色温度補正の概要を説明する。
本実施の形態の例においては、画像表示装置が備える画像表示パネルとして、各画素が自発光を行う素子で構成された有機ＥＬパネルを使用する。
その画像表示パネルとしては、図１に示すように、有効画像表示領域が、垂直方向の画素数５４０画素、水平方向の画素数９６０画素のものを使用する。画素には、赤色画素と青色画素と緑色画素とが順に配置してある。そして、この有効画像表示領域に隣接した無効領域（図１では右端の領域）として、垂直方向の画素数５４０画素、水平方向の画素数６４画素の領域を用意する。この無効領域の一部を、ダミー画素領域として使用する。無効領域は、その領域の画素の表示が装置の外側からは見えない、外部からは隠された領域である。つまり、ユーザは、有効画像表示領域の表示だけを見ることになる。
【００２０】
有効画像表示領域については、図１（ａ）に示すように、ラスターサイズ１６：９の画像を表示する縦横比の画素配列の領域としてある。
その上で、その有効画像表示領域内に、図１（ａ）に示すように、分割領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄを設定する。
分割領域Ａは、ラスターサイズ２．３５：１の画像を表示させたときの領域と、ラスターサイズ４：３の画像を表示させたときの領域との全てが重なる中央のエリアである。この分割領域Ａは、ほとんどのラスターサイズの画像を表示させたときに、画像表示領域内となる領域である。
分割領域Ｂは、中央の分割領域Ａの左右の領域である。但し、中央の分割領域Ａと左右の分割領域Ｂとの間には、これらの分割領域Ａ，Ｂに含まれない領域Ｎ１，Ｎ２を設けてある。この領域Ｎ１，Ｎ２は、本実施の形態では、つなぎ目領域と称する。
【００２１】
分割領域Ｃは、中央の分割領域Ａの上下の領域である。但し、中央の分割領域Ａと上下の分割領域Ｃとの間には、これらの分割領域Ａ，Ｃに含まれない、つなぎ目領域Ｎ３，Ｎ４を設けてある。
分割領域Ｄは、つなぎ目領域Ｎ１，Ｎ２，Ｎ３，Ｎ４の外側の四隅の領域である。
【００２２】
そして、無効領域内のダミー画素領域として、ダミー画素領域ｄ−Ａ，ｄ−Ｂ，ｄ−Ｃ，ｄ−Ｄの４つの領域を設けてある。その４つのダミー画素領域ｄ−Ａ，ｄ−Ｂ，ｄ−Ｃ，ｄ−Ｄは、それぞれが垂直方向１０画素×水平方向１０画素の１００画素で構成させてある。
【００２３】
ダミー画素領域ｄ−Ａは、分割領域Ａ内から選んだ１００画素について、その１００画素での発光状態と同じ発光状態で、常時発光させるようにしてある。
ダミー画素領域ｄ−Ｂ，ｄ−Ｃ，ｄ−Ｄについても、対応したそれぞれの分割領域Ｂ，Ｃ，Ｄ内から選んだ１００画素について、その１００画素での発光状態と同じ発光状態で、常時発光させるようにしてある。
【００２４】
図１では図示しないが、４つのダミー画素領域ｄ−Ａ，ｄ−Ｂ，ｄ−Ｃ，ｄ−Ｄごとに、それぞれの発光輝度を測定する光センサを、その表示パネルの上などに配置する。
そして、光センサで、各ダミー画素領域ｄ−Ａ，ｄ−Ｂ，ｄ−Ｃ，ｄ−Ｄの輝度変化を検出し、ダミー画素の輝度を初期値と同じにする信号の傾き（ゲイン）及び階調（バイアス）補正値を求める。
図１（ｂ）は、入力信号の階調（横軸）と、パネル上の画素の輝度変化（縦軸）とを示した特性図である。この図１（ｂ）では、画像表示パネル内の画素が劣化していない状態である、劣化前特性と、ある程度表示を行って特性が劣化した画素の特性である、劣化後特性とを示す。
【００２５】
例えば、領域Ａに対応したダミー画素領域ｄ−Ａで検出された現在の特性が、図１（ｂ）に示した劣化後特性であるとき、領域Ａ内の画素を駆動する信号に対して、図１（ａ）に示した劣化前特性となるように、ゲイン補正及びバイアス補正を行うものである。
分割領域Ｂ，Ｃ，Ｄ内の画素を駆動する信号に対しても、それぞれダミー画素領域ｄ−Ｂ，ｄ−Ｃ，ｄ−Ｄで検出された劣化後特性に基づいて、劣化前特性となるように、ゲイン補正及びバイアス補正を行うものである。
これらの補正を行うことで、各分割領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ内の画素の輝度又は色度を、初期値と同じ状態に保つようにしてある。
【００２６】
そして、各つなぎ目領域Ｎ１，Ｎ２，Ｎ３，Ｎ４については、それぞれの領域内の信号積算履歴を基にした、つなぎ目補正処理を行って、各分割領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄと同様のゲイン及びバイアス補正を行い、劣化前特性となるようにしてある。つなぎ目補正処理は、簡単に述べると、例えば領域Ａと領域Ｂの間の領域Ｎ１，Ｎ２では、領域Ａの補正状態と領域Ｂの補正状態とを考慮してつなぎ目が目立たない処理を行うものであるが、詳細処理は後述する。
【００２７】
本実施の形態においては、これらの処理を行うことで、画像表示パネルの有効画像表示領域内において、各画素の発光輝度や色度の劣化がない状態として、表示画像のユニフォミティを保つようにしたものである。
【００２８】
ここで、つなぎ目領域Ｎ１〜Ｎ４を設ける理由について、図２を参照して説明する。
図２（ａ）は、画像表示パネルに、縦長の画像を表示させた場合（つまり垂直方向の全画素を使って表示させる場合）の、左右の端の無表示領域の変化を示したものである。ラスターサイズの違いによって、図２（ａ）の左右の端に矢印で示すように、左右の端の無表示領域の幅が変化する。
図２（ｂ）は、画像表示パネルに、横長の画像を表示させた場合（つまり水平方向の全画素を使って表示させる場合）の、上下の端の無表示領域の変化を示したものである。ラスターサイズの違いによって、図２（ｂ）の上下の端に矢印で示すように、上下の端の無表示領域の幅が変化する。
【００２９】
図３は、規格化されたラスターサイズの例を示したものである。図３の各例の左側は、規格化されたラスターサイズを、１６：９の画面に表示させた場合の上下又は左右の無表示領域を示す。図３の各例の右側は、その左側のラスターサイズの画像を、垂直方向５４０画素×水平方向９６０画素のパネルに表示させたときの、画素数（ｄｏｔ）の例を示したものである。
【００３０】
図３（ａ）は、２．４０：１のラスターサイズの例を示し、画像部分は、垂直方向４００画素×水平方向９６０画素となる。
図３（ｂ）は、２．３５：１のラスターサイズ（シネマスコープサイズ）の例を示し、画像部分は、垂直方向４０８画素×水平方向９６０画素となる。
図３（ｃ）は、１．８５：１のラスターサイズ（アメリカン・ビスタサイズ）の例を示し、画像部分は、垂直方向５２０画素×水平方向９６０画素となる。
図３（ｄ）は、１．６６：１のラスターサイズ（ヨーロピアン・ビスタサイズ）の例を示し、画像部分は、垂直方向５４０画素×水平方向８９６画素となる。
図３（ｅ）は、１５：９のラスターサイズの例を示し、画像部分は、垂直方向５４０画素×水平方向９００画素となる。
図３（ｆ）は、１４：９のラスターサイズの例を示し、画像部分は、垂直方向５４０画素×水平方向８４０画素となる。
図３（ｇ）は、１３：９のラスターサイズの例を示し、画像部分は、垂直方向５４０画素×水平方向７８０画素となる。
図３（ｈ）は、４：３のラスターサイズの例を示し、画像部分は、垂直方向５４０画素×水平方向７２０画素となる。
【００３１】
本実施の形態においては、これらの各ラスターサイズの画像表示を行うことによって生じる画素劣化の違いを吸収するために、つなぎ目領域Ｎ１〜Ｎ４を設けたものである。即ち、図３に示したように、様々なラスターサイズが存在し、これらのラスターサイズの画像を表示パネルで適宜表示させた場合、図２に示すように無表示領域が変化し、その無表示領域が変化する範囲で、劣化状態が変化してしまう。その劣化状態の変化を、それぞれの領域内の信号積算履歴を基にして推定して、適正なつなぎ目補正処理を行うものである。
基本的に、ラスターサイズでの画像部分と無表示部分との境界は、各つなぎ目領域Ｎ１〜Ｎ４か、又は、つなぎ目領域と隣接した分割領域との境界部に位置するようにしてある。そして、各つなぎ目領域Ｎ１〜Ｎ４で、そのラスターサイズの違いに対応した補正処理を行うようにしてある。
以下、ここまで説明した原理に基づいた補正処理を行うための構成及び処理状態の詳細について説明する。
【００３２】
［２．一実施の形態の例の装置構成の説明］
図４は、本実施の形態の例の画像表示装置の全体構成例を示した図である。
図４に従って説明すると、入力部である画像信号入力端子１１に入力した画像信号は、同期分離部１２に供給し、画像データと同期データとを分離し、画像データをセレクタ１４に供給し、同期データを同期処理部２５に供給する。また、内部信号生成部１３で、装置内で記憶されて読出して生成された画像信号又は装置内のチューナなどで受信して生成された画像信号を、セレクタ１４に供給する。セレクタ１４ではいずれかの画像信号を選択する。
【００３３】
選択された画像データ及び同期データを、リニアガンマ処理部１５に供給し、リニアガンマ補正処理を行う。補正された画像データ及び同期データは、色度／色域変換部１６に供給する。色度／色域変換部１６では、画像データの色度と色域の変換処理を行う。
色度／色域変換部１６で処理された画像データ及び同期データは、つなぎ目補正部１７に供給し、つなぎ目補正処理を行う。つなぎ目補正処理は、図１に示した、つなぎ目領域Ｎ１〜Ｎ４で実行される輝度又は色度の補正処理であり、詳細は後述する。
【００３４】
つなぎ目補正部１７が出力する画像データ及び同期データは、ダミー画素表示処理部１８に供給し、画像表示パネル３０の無効領域内のダミー画素で表示させる信号を画像データからサンプリングして、表示させるようにする。ダミー画素で表示させる信号をサンプリングする例についは後述する。
【００３５】
ダミー画素表示処理部１８が出力する画像データ及び同期データは、色温度補正部１９に供給する。この色温度補正部１９では、ダミー画素の発光輝度の検出に基づいて、ゲイン補正による色温度補正処理が行われる。
色温度補正部１９が出力する画像データ及び同期データは、パネルガンマ処理部２０に供給し、画像表示パネル３０の表示特性に基づいたガンマ補正処理を行う。
パネルガンマ処理部２０が出力する画像データ及び同期データは、色温度補正部２１に供給する。この色温度補正部２１では、ダミー画素の発光輝度の検出に基づいて、バイアス補正による色温度補正処理が行われる。
【００３６】
色温度補正部２１で補正された画像データ及び同期データは、出力部２２から画像表示パネル３０に供給する。画像表示パネル３０では、同期データを処理するタイミング発生部２３から指示されるタイミングで、供給される画像データの同期処理が行われ、画像データによる画像が表示される。
【００３７】
これらの各部での処理は、制御手段であるＣＰＵ２６の制御で実行される。ＣＰＵ２６には、記憶部であるメモリ２７が接続してあり、メモリ２７に、制御に必要な各種データを記憶させてある。各画素の輝度の補正（色温度補正）に必要なデータについてもメモリ２７に記憶させてある。また、表示パネルのつなぎ目領域の補正に必要な、特定の画素の発光輝度の積算値のデータについても、メモリ２７に記憶させてある。
【００３８】
ＣＰＵ２６には、温度センサ２８及び光センサ２９からの検出データが供給される構成としてある。温度センサ２８は、画像表示パネル３０のパネル温度、又はパネルの近傍の温度を検出するセンサである。
光センサ２９は、画像表示パネル３０のダミー画素表示領域の画素の発光輝度を検出するセンサである。光センサ２９は、４つのダミー画素領域ｄ−Ａ，ｄ−Ｂ，ｄ−Ｃ，ｄ−Ｄ（図１）に対応して、４つの検出部を備え、その４つ検出部で各ダミー画素領域ｄ−Ａ，ｄ−Ｂ，ｄ−Ｃ，ｄ−Ｄの発光輝度を個別に検出する。
【００３９】
図５は、本実施の形態の画像表示装置の色温度補正に関係した処理構成の詳細を示した図である。図５では、ＣＰＵ２６は、色温度補正に関係した制御構成だけを示してある。
ＣＰＵ２６は、インターフェース部２６７を介してメモリ２７と温度センサ２８と光センサ２９とに接続してある。ＣＰＵ２６は、輝度補正シーケンス制御部２６１を備え、その輝度補正シーケンス制御部２６１の制御で、光センサ信号処理部２６２及び温度センサ信号処理部２６３で、それぞれのセンサ出力を検出処理する。それぞれで得られた検出データは、光センサ信号温度補正部２６４に供給して、検出した温度に基づいて光センサ信号を補正し、その補正した各ダミー領域の光センサ検出信号に基づいて、補正値を演算する。補正値演算は、エリアバイアス補正値演算部２６５とエリアゲイン補正値演算部２６６とで、各エリアのバイアス補正値とゲイン補正値として算出する。
【００４０】
つなぎ目補正部１７は、ライン信号サンプリング部１７１と、加速度演算及び履歴加算部１７２と、正規化計算部１７３とを備え、ライン信号サンプリング部１７１でつなぎ目の領域の信号をサンプリングする。サンプリングされた信号は、加速度演算及び履歴加算部１７２に供給して、メモリ２７側に供給して記憶させる履歴加算値を算出する。また、正規化計算部１７３で正規化値を算出する。算出された正規化値は、ゲイン補正を行う色温度補正部１９及びバイアス補正を行う色温度補正部２１に供給する。
【００４１】
ダミー画素表示処理部１８は、エリア信号サンプリング部１８１と、ダミー表示基準信号生成部１８２と、ダミー信号切換え部１８３と、加算器１８４とを備える。そして、エリア信号サンプリング部１８１でサンプリングされた信号を表示させる場合と、ダミー表示基準信号生成部１８２で生成された基準信号を表示させる場合とを、ダミー信号切換え部１８３で切換え、加算器１８４で対応位置の画像信号に加える。
【００４２】
色温度補正部１９では、エリアゲイン補正値演算部２６６で算出された各領域の補正値と、正規化値とに基づいて、ゲイン補正計算部１９１で各分割領域の補正ゲインを計算する。そして、計算された補正ゲインを乗算器１９２に供給して、画像データの対応した領域の画素の駆動信号に乗算する。
色温度補正部２１では、エリアバイアス補正値演算部２６５で算出された各領域の補正値と、正規化値とに基づいて、バイアス補正計算部２１１で各分割領域のバイアス補正値を計算する。そして、計算されたバイアス補正値を乗算器２１２に供給して、画像データの対応した領域の画素の駆動信号に乗算する。
【００４３】
［３．一実施の形態の例のエリア区分とダミー画素の設定例］
次に、図６及び図７を参照して、画像表示パネルの各分割領域と、ダミー画素の設定状況の詳細について説明する。
図６は、画像表示パネルの各分割領域の詳細例を示したものである。図６に示すように、有効画像表示領域については、ラスターサイズ１６：９の画像を表示する縦横比の画素配列の領域としてあり、垂直方向５４０画素×水平方向９６０画素である。
【００４４】
分割領域Ａは、中央の垂直方向４００画素×水平方向７２０画素の領域である。この分割領域Ａは、図３に示した大部分のラスターサイズの画像を表示させたときに、画像表示領域内となる領域である。
分割領域Ｂは、左端及び右端の垂直方向４００画素×水平方向３０画素の領域である。
分割領域Ｃは、上端及び下端の垂直方向１０画素×水平方向７２０画素の領域である。
分割領域Ｄは、四隅の垂直方向１０画素×水平方向３０画素の領域である。
【００４５】
つなぎ目領域Ｎ１及びＮ２は、垂直方向５４０画素×水平方向９０画素の領域である。
つなぎ目領域Ｎ３及びＮ４は、垂直方向６０画素×水平方向９６０画素の領域である。
【００４６】
無効領域内のダミー画素領域ｄ−Ａ，ｄ−Ｂ，ｄ−Ｃ，ｄ−Ｄは、それぞれが垂直方向１０画素×水平方向１０画素の１００画素で構成させてあり、垂直方向に４０画素ずつ離して配置してある。
このダミー画素に入力する信号には、通常入力する画像信号であるエージング信号と、輝度測定時に入力する基準信号との２種類がある。
【００４７】
図７は、ダミー画素に表示するエージング信号の例を示した図である。ダミー画素領域ｄ−Ａ内の１００画素の信号は、領域Ａ内の１００個の画素の信号を、ほぼ一定間隔でサンプリングしたものである。この例では、図７の領域Ａ内に丸で囲って示した１から１００までの数字の位置の信号がサンプリングされて、ダミー画素領域ｄ−Ａ内の１００個の画素を発光させる。
【００４８】
ダミー画素領域ｄ−Ｂ内の１００画素の信号は、図７に示したように、左側の領域Ｂ内の５０個の画素の信号を、ほぼ一定間隔でサンプリングし、右側の領域Ｂ内の５０個の画素の信号を、ほぼ一定間隔でサンプリングして、得たものである。
【００４９】
ダミー画素領域ｄ−Ｃ内の１００画素の信号は、図７に示したように、上側の領域Ｃ内の５０個の画素の信号を、ほぼ一定間隔でサンプリングし、下側の領域Ｂ内の５０個の画素の信号を、ほぼ一定間隔でサンプリングして、得たものである。
【００５０】
ダミー画素領域ｄ−Ｄ内の１００画素の信号は、図７に示したように、左上、左下、右上、右下の領域Ｃ内の２５個ずつの画素の信号を、ほぼ一定間隔でサンプリングして、得たものである。
【００５１】
［４．一実施の形態の例の補正処理例］
図８は、このようなダミー画素の信号を使って、色度及び輝度を補正する処理状態の例を示したものである。
本実施の形態の画像表示装置は、製造時に工場などで、予め、ダミー画素に、輝度が高い場合と低い場合の基準信号（refsig_L, refsig_H）を表示させた場合の光センサ２９の出力値を基準出力値（refout_L, refout_H）として、メモリ２７に記憶させておく。
【００５２】
そして、画像表示装置で画像を表示させる使用時には、ダミー画素に基準信号（refsig_L, refsig_H）を入力し、その時の光センサの出力値と基準出力値とを比較する。
その比較で一定以上の違いがある場合、基準信号（refsig_L）入力時は、センサ出力値が基準出力値（refout_L）と同じか一定の比率になるように信号を加算して、補正を行う。また、基準信号（refsig_H）入力時には、センサ出力値が基準出力値（refout_H）と同じか一定の比率になるように信号のゲインを補正して、補正を行なう。これを赤色画素と青色画素と緑色画素に対して行う。
【００５３】
即ち、図８（ａ）に示したように、補正前の２つの基準信号による劣化前特性と光センサ出力値（劣化後特性）が得られたとする。このとき、図８（ｂ）に示したように、階調補正であるバイアス補正として、輝度の低い方の基準出力値（refout_L）が劣化前特性と同じになるようにバイアス補正を行う。また、図８（ｃ）に示したように、傾き補正であるゲイン補正として、輝度の高い方の基準出力値（refout_H）と同じか一定の比率になるように信号のゲインを補正する。
こうして得られた各補正値を実際の有効画面の表示信号に対して適用ことで、表示画面の色度・輝度補正を行なうことが出来る。この補正値により補正する処理が、図５の構成で実行される。
【００５４】
［５．一実施の形態の例のつなぎ目領域の処理例］
次に、図９〜図１１を参照して、つなぎ目領域Ｎ１〜Ｎ４での色度・輝度補正について説明する。
図９は、つなぎ目領域での補正の原理を示した図である。
図６に示した、つなぎ目領域Ｎ１〜Ｎ４での画素の劣化状態は、どのサイズの画像をどれだけ表示させたかによって異なり、どの位置にどの程度の表示が行われたか知る必要がある。
その為に、つなぎ目領域Ｎ１〜Ｎ４内で、ライン状に表示信号をサンプリングして、その積算信号履歴量を、画素の発光履歴として保持する。即ち、図９（ａ）に示すように、分割領域Ａと左側の分割領域Ｂとの間に、ライン状に表示される画像信号をサンプリングするサンプリングラインＳＳＬを設定する。また、分割領域Ａと右側の分割領域Ｂとの間に、ライン状に表示される画像信号をサンプリングするサンプリングラインＳＳＲを設定する。また、分割領域Ａと上側の分割領域Ｃの間に、ライン状に表示される画像信号をサンプリングするサンプリングラインＳＳＴを設定する。また、分割領域Ａと下側の分割領域Ｃの間に、ライン状に表示される画像信号をサンプリングするサンプリングラインＳＳＢを設定する。
【００５５】
各サンプリングラインは、例えば図９（ａ）に、分割領域Ａと左側の分割領域Ｂとの間のサンプリングラインＳＳＬの概要を示すと、位置１から位置５までの５箇所のサンプリング位置を設定する。左端のサンプリング位置１は、分割領域Ｂの端部であり、これを基準１とする。右端のサンプリング位置５は、分割領域Ａの端部であり、これを基準２とする。
そして、位置１と位置５の間の３つのサンプリング位置２，３，４で、つなぎ目領域Ｎ１内の画素の表示信号をサンプリングする。なお、サンプリング位置を５つとしたのは説明を簡単にするためであり、実際のサンプリング数とは異なる。
【００５６】
位置１から位置５までのサンプリング信号は、表示装置としての使用を開始してから、随時サンプリングを行って、その値を積算して、積算値（積算信号量）をメモリ２７に記憶させておく。これにより信号のサンプリング位置とその位置における表示信号の累積値が判るようになる。図９（ａ）の例では、位置１，２，３，４，５のそれぞれの積算信号量として、ｔ１，ｔ０，ｔ２，ｔ４，ｔ３であったとする。
【００５７】
そして、基準となるライン状の信号サンプリングの両側エリア（エリアＢ及びＡ)の劣化度（ゲイン補正値の逆数）とそこの積算信号量より、劣化傾きを求める。図９（ｂ）は、この劣化傾きを示した図であり、横軸が積算信号量であり、縦軸が劣化状態である。この劣化傾きは、サンプリング位置１（領域Ｂ）の基準１と、サンプリング位置５（領域Ａ）の基準２とを結ぶことで得られる。即ち、ライン状の信号サンプリングの両側エリア（領域Ｂ，Ａ）の劣化度（ゲイン補正値の逆数）とその積算信号量より、傾斜傾きを求める。
【００５８】
例えば、位置３の積算信号量はｔ２であり、図９（ｂ）に示すように、位置３の劣化量は、［劣化度＝劣化傾き×積算信号量］となる。
劣化度の逆数がゲイン補正値になるので、これより、つなぎ目領域Ｎ１内の位置３のゲイン補正値を求めることが出来る。他のつなぎ目領域Ｎ２，Ｎ３，Ｎ４についても、同様に処理される。
【００５９】
図９は、つなぎ目領域での処理の原理を示したものであり、本実施の形態においては、図１０に示したサンプリングラインを設定する。
即ち、図１０に示すように、分割領域Ａと左側の分割領域Ｂとの間に、３本のサンプリングラインＳＬ１１，ＳＬ１２，ＳＬ１３を設定する。また、分割領域Ａと右側の分割領域Ｂとの間に、３箇所のサンプリングラインＳＲ１１，ＳＲ１２，ＳＲ１３を設定する。また、分割領域Ａと上側の分割領域Ｃの間に、３箇所のサンプリングラインＳＴ１１，ＳＴ１２，ＳＴ１３を設定する。また、分割領域Ａと下側の分割領域Ｃの間に、３箇所のサンプリングラインＳＢ１１，ＳＢ１２，ＳＢ１３を設定する。
それぞれの位置での３箇所のサンプリングラインは、図１０に示したように、該当するつなぎ目領域の一方の端の近傍、ほぼ中央、他方の端の近傍に設定する。
【００６０】
そして、それぞれのつなぎ目領域ごとに設定した３箇所のサンプリングラインは、サンプリングを行うごとに、いずれかのラインで行うように、サンプリング位置を変更する。
例えば、分割領域Ａと左側の分割領域Ｂとの間のサンプリングラインＳＬ１１，ＳＬ１２，ＳＬ１３については、サンプリングごとに、サンプリング毎に位置をＳＴ１１→ＳＴ１２→ＳＴ１３→ＳＴ１１と変更する。同様に他の領域の信号も位置を順に変更する。
【００６１】
図１０に示した画素数で各領域を設定したとき、各サンプリングラインのサンプリング位置（画素のアドレス位置）は、例えば次の［数１］の条件で設定する。
【００６２】
【数１】
【００６３】
このようにして決まるアドレス位置にて、次の［数２］に示すように、３つの色（赤ｒ、緑ｇ、青ｂ）の画素の信号のサンプリングを行う。
【００６４】
【数２】
【００６５】
図１１は、つなぎ目のサンプリングラインの各サンプリング位置の例を示した図である。
図１１の上側は、つなぎ目のサンプリングラインＳＬ１１〜Ｓｌ１３の例を示し、この例では、これらのサンプリングラインは、サンプリング位置０からサンプリング位置４３までの４４個のサンプリング信号で構成されている。各サンプリング位置の下側に示したパネル画素座標が、図１０に示した画素位置である。
サンプリング位置０からサンプリング位置９までは、領域Ｂの端部の画素をサンプリングしてある。サンプリング位置３６からサンプリング位置４３までは、領域Ａの端部の画素をサンプリングしてある。
【００６６】
サンプリング位置１０からサンプリング位置３５までは、不均一にサンプリング位置を設定してある。これは、表示される可能性のあるラスターサイズの画像領域と無表示領域との境界部が存在する可能性がある画素を重点的に選んでいるためである。
具体的には、画素位置２６から画素位置３５までの間で、サンプリング位置５からサンプリング位置１４まで連続して設定し、そのサンプリング位置で、ラスターサイズ（１５：９）及び（１．６６：１）の境界部近傍での状態を検出している。
また、画素位置１５から画素位置２２までの間で、サンプリング位置５６からサンプリング位置６３まで連続して設定し、そのサンプリング位置で、ラスターサイズ（１４：９）の境界部近傍での状態を検出している。
また、画素位置８６から画素位置９３までの間で、サンプリング位置２３からサンプリング位置３０まで連続して設定し、そのサンプリング位置で、ラスターサイズ（１３：９）の境界部近傍での状態を検出している。
また、画素位置１１６から画素位置１２３までの間で、サンプリング位置３１からサンプリング位置３８まで連続して設定し、そのサンプリング位置で、ラスターサイズ（４：３）の境界部近傍での状態を検出している。
画素位置９〜１３のサンプリング（サンプリング位置０〜４）は、領域Ｂの基準信号を得るためのサンプリングである。画素位置１３８〜１４２のサンプリング（サンプリング位置３９〜４３）は、領域Ａの基準信号を得るためのサンプリングである。
【００６７】
これらのつなぎ目サンプリング信号は、図１１の下側に示したつなぎ目補正信号座標に変換される。このつなぎ目補正信号は、サンプリングされていない画素の信号についても生成させてある。
具体的には、例えば画素位置３５と画素位置５６ではサンプリング信号が存在するが、その間の画素位置３６から画素位置５５まではサンプリング信号が存在しない。ここで、画素位置３６のサンプリング信号と画素位置５５のサンプリング信号との平均から、このサンプリング信号が存在しない位置の補正信号（１４として示す信号）を生成させる。
同様にして、つなぎ目領域Ｎ１内の全ての画素について、補正信号を生成させる。
【００６８】
得られた補正信号を使って、つなぎ目領域Ｎ１内の各画素のゲイン補正処理を行う。得られた補正信号は、図１１に示すようにサンプリングラインに沿って得られた信号であるが、そのサンプリングラインと直交する方向の各画素に、同じ補正を適用する。
【００６９】
このように、つなぎ目領域の補正処理を行うことで、ダミー画素から直接劣化状況を検出していない領域で、メモリに記憶させた表示状態の累積値から、適正な補正が行え、どのラスターサイズの画像を表示させた場合でも適正な補正が可能になる。
本実施の形態においては、図１１に示したように、サンプリングライン内のサンプリング位置を、表示される可能性が高いラスターサイズに対応した位置としてあり、比較的少ないサンプリング数のデータの累積でよく、メモリ容量を削減できる。
【００７０】
［６．変形例］
各図に示した分割領域やつなぎ目領域の配置状態や、つなぎ目領域内のサンプリング位置、サンプリング数などは、好適な一例を示したものであり、本発明は、これらの例に限定されるものではない。
また、上述した実施の形態では、分割領域として、図６に示したように、領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄの４つの領域を設定して、それぞれにダミー画素を設けるようにしたが、四隅の領域Ｄについては、ダミー画素を省略してもよい。この四隅の領域Ｄの画素の状態については、領域Ｂの状態と領域Ｃの状態から推定が可能であり、実際にダミー画素を使って測定しないで、補正するようにしてもよい。
【００７１】
また、つなぎ目領域内のサンプリングラインについても、図１０に示したように３箇所のサンプリングラインとして、その３箇所のサンプリングラインを順に変化させたが、１箇所のサンプリングラインとして処理構成を簡略化してもよい。あるいは、３箇所のサンプリングラインでのサンプリングを同時に行って、サンプリング精度を高くするようにしてもよい。
【００７２】
また、画像表示パネルについては、有機ＥＬパネルを使用した例としたが、画素の自発光により劣化が生じるパネルであれば、他の方式の画像表示パネルに適用してもよい。パネルの画素数についても、上述した実施の形態は一例であり、他の画素数のパネルに適用できることは勿論である。
【符号の説明】
【００７３】
１１…画像信号入力端子、１２…同期分離部、１３…内部信号生成部、１４…セレクタ、１５…リニアガンマ処理部、１６…色度／色域変換部、１７…つなぎ目補正部、１８…ダミー画素表示処理部、１９…色温度補正部、２０…パネルガンマ処理部、２１…色温度補正部、２２…出力部、２３…タイミング発生部、２４…電源制御部、２５…同期処理部、２６…ＣＰＵ、２７…メモリ、２８…温度センサ、２９…光センサ、３０…画像表示パネル、１７１…ライン信号サンプリング部、１７２…加速度演算及び履歴加算部、１７３…正規化計算部、１８１…エリア信号サンプリング部、１８２…ダミー表示基準信号生成部、１８３…ダミー信号切換え部、１８４…加算器、１９１…ゲイン補正計算部、１９２…乗算器、２１１…バイアス補正計算部、２１２…加算器、２６１…輝度補正シーケンス制御部、２６２…光センサ信号処理部、２６３…温度センサ信号処理部、２６４…光センサ信号温度補正部、２６５…エリアバイアス補正値演算部、２６６…エリアゲイン補正値演算部、２６７…インターフェース部
【特許請求の範囲】
【請求項１】
画像表示領域と、その画像表示領域とは別のダミー画素領域とを有する表示パネルと、
前記表示パネルのダミー画素領域の発光輝度を検出する光センサと、
前記表示パネル上の画像表示領域を複数の分割領域に分割し、各分割領域内の１つ又は複数の画素の発光状態と同じ発光状態を、前記ダミー画素領域内の画素で実行させると共に、前記光センサで検出されたダミー画素領域の発光輝度に基づいて、前記各分割領域内の画素の輝度又は色度の補正を行う制御部とを備えた
画像表示装置。
【請求項２】
前記表示パネルの分割領域の設定は、画像表示領域で表示される画像のアスペクト比が、画像表示領域のアスペクト比と違うことにより生じる、発光しない領域に対応して設定する
請求項１記載の画像表示装置。
【請求項３】
前記表示パネルの分割領域として、その領域内の画素の駆動状態に対応した発光を行うダミー画素を有さない分割領域を設定し、
前記ダミー画素を有さない分割領域内の特定の画素の発光履歴を積算して記憶する記憶部を設け、
前記制御部は、前記記憶部に記憶された発光履歴から、ダミー画素を有さない分割領域内の画素の発光輝度又は色度を補正する
請求項２記載の画像表示装置。
【請求項４】
前記ダミー画素を有さない分割領域は、対応したダミー画素を有する複数の分割領域に挟まれる位置に設定し、
前記ダミー画素を有さない分割領域内の画素の発光輝度の補正は、隣接した分割領域のダミー画素の発光輝度と、前記記憶部に記憶された発光輝度の積算値を使って補正する
請求項３記載の画像表示装置。
【請求項５】
前記発光履歴を積算して記憶する特定の画素は、前記ダミー画素を有さない分割領域内に、直線状に画素が複数並んだサンプリングラインから選んだ画素である
請求項４記載の画像表示装置。
【請求項６】
前記直線状に画素が複数並んだサンプリングラインの位置を複数設定して、その複数のサンプリングラインを交互に選んでサンプリングして積算する
請求項５記載の画像表示装置。
【請求項７】
さらに温度センサを備え、前記制御部は、前記温度センサで検出した温度に基づいた画素の輝度補正を行う
請求項１から６のいずれか１項に記載の画像表示装置。
【請求項８】
画像表示領域とは別のダミー画素領域とを有する表示パネルの前記ダミー画素領域の発光輝度を検出し、
前記表示パネル上の画像表示領域を複数の分割領域に分割し、各分割領域内の１つ又は複数の画素の発光状態と同じ発光状態を、前記ダミー画素領域内の画素で実行させ、
前記光センサで検出されたダミー画素領域の発光輝度に基づいて、前記各分割領域内の画素の輝度又は色度の補正を行う
画像表示方法。
【請求項１】
画像表示領域と、その画像表示領域とは別のダミー画素領域とを有する表示パネルと、
前記表示パネルのダミー画素領域の発光輝度を検出する光センサと、
前記表示パネル上の画像表示領域を複数の分割領域に分割し、各分割領域内の１つ又は複数の画素の発光状態と同じ発光状態を、前記ダミー画素領域内の画素で実行させると共に、前記光センサで検出されたダミー画素領域の発光輝度に基づいて、前記各分割領域内の画素の輝度又は色度の補正を行う制御部とを備えた
画像表示装置。
【請求項２】
前記表示パネルの分割領域の設定は、画像表示領域で表示される画像のアスペクト比が、画像表示領域のアスペクト比と違うことにより生じる、発光しない領域に対応して設定する
請求項１記載の画像表示装置。
【請求項３】
前記表示パネルの分割領域として、その領域内の画素の駆動状態に対応した発光を行うダミー画素を有さない分割領域を設定し、
前記ダミー画素を有さない分割領域内の特定の画素の発光履歴を積算して記憶する記憶部を設け、
前記制御部は、前記記憶部に記憶された発光履歴から、ダミー画素を有さない分割領域内の画素の発光輝度又は色度を補正する
請求項２記載の画像表示装置。
【請求項４】
前記ダミー画素を有さない分割領域は、対応したダミー画素を有する複数の分割領域に挟まれる位置に設定し、
前記ダミー画素を有さない分割領域内の画素の発光輝度の補正は、隣接した分割領域のダミー画素の発光輝度と、前記記憶部に記憶された発光輝度の積算値を使って補正する
請求項３記載の画像表示装置。
【請求項５】
前記発光履歴を積算して記憶する特定の画素は、前記ダミー画素を有さない分割領域内に、直線状に画素が複数並んだサンプリングラインから選んだ画素である
請求項４記載の画像表示装置。
【請求項６】
前記直線状に画素が複数並んだサンプリングラインの位置を複数設定して、その複数のサンプリングラインを交互に選んでサンプリングして積算する
請求項５記載の画像表示装置。
【請求項７】
さらに温度センサを備え、前記制御部は、前記温度センサで検出した温度に基づいた画素の輝度補正を行う
請求項１から６のいずれか１項に記載の画像表示装置。
【請求項８】
画像表示領域とは別のダミー画素領域とを有する表示パネルの前記ダミー画素領域の発光輝度を検出し、
前記表示パネル上の画像表示領域を複数の分割領域に分割し、各分割領域内の１つ又は複数の画素の発光状態と同じ発光状態を、前記ダミー画素領域内の画素で実行させ、
前記光センサで検出されたダミー画素領域の発光輝度に基づいて、前記各分割領域内の画素の輝度又は色度の補正を行う
画像表示方法。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【公開番号】特開２０１１−２２１３０５（Ｐ２０１１−２２１３０５Ａ）
【公開日】平成２３年１１月４日（２０１１．１１．４）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１０−９０８１５（Ｐ２０１０−９０８１５）
【出願日】平成２２年４月９日（２０１０．４．９）
【出願人】（０００００２１８５）ソニー株式会社 (34,172)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２３年１１月４日（２０１１．１１．４）
【国際特許分類】
【出願日】平成２２年４月９日（２０１０．４．９）
【出願人】（０００００２１８５）ソニー株式会社 (34,172)
【Ｆターム（参考）】
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