磁気記録媒体、それを採用するハードディスクドライブ及びハードディスクドライブのＷＲオフセット測定方法
【課題】磁気記録媒体、それを採用するハードディスクドライブ及びハードディスクドライブのＷＲオフセット測定方法を提供する。
【解決手段】ディスク基板と、ディスク基板の一面または両面に形成される磁気記録層と、を備え、磁気記録層は、パターンされた磁性体で形成されて複数のデータトラックをなす少なくとも一つのパターン領域と、連続的な磁性体で形成される少なくとも一つの連続領域と、を備え、連続領域は、記録ヘッドと再生ヘッドとの間のＷＲオフセットを測定するのに使われることを特徴とする磁気記録媒体である。これにより、従来のＷＲオフセット測定方法をあまり変化させずに磁気ヘッドのＷＲオフセットを補正できる。
【解決手段】ディスク基板と、ディスク基板の一面または両面に形成される磁気記録層と、を備え、磁気記録層は、パターンされた磁性体で形成されて複数のデータトラックをなす少なくとも一つのパターン領域と、連続的な磁性体で形成される少なくとも一つの連続領域と、を備え、連続領域は、記録ヘッドと再生ヘッドとの間のＷＲオフセットを測定するのに使われることを特徴とする磁気記録媒体である。これにより、従来のＷＲオフセット測定方法をあまり変化させずに磁気ヘッドのＷＲオフセットを補正できる。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、磁気記録媒体、それを採用するハードディスクドライブ（ＨＤＤ）及びＨＤＤのＷＲ（Ｗｒｉｔｅ Ｒｅａｄ）オフセット測定方法に係り、特に離散トラック媒体やパターン媒体のようにデータが記録される位置がパターンされている場合、ＷＲオフセットを測定するのに適した磁気記録媒体、その磁気記録媒体を採用したＨＤＤ、及びＨＤＤのＷＲオフセット測定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
最近、処理される情報量の急増により、さらに高密度で情報を記録／再生できる情報記憶装置が要請されている。特に、磁気記録媒体を利用するＨＤＤは、大容量であり、かつ高速アクセスなどの特性を有しているため、コンピュータだけでなく各種のデジタル機器の情報記憶装置として注目されている。しかし、連続的な磁気記録層を有する磁気記録媒体（以下、「連続媒体」という）の場合、データの最小記録単位であるビットのサイズやデータトラックのピッチ幅をある限界以下に縮小すれば、隣接した領域の影響などによりノイズが増加し、記録安定性が急激に低下するので、ディスク回転方向の密度である線記録密度やディスク半径方向の密度であるトラック密度を高めて記録密度を増加させるのには限界がある。
【０００３】
これにより、磁気記録される位置が製造ステップであらかじめパターニングされる離散トラック媒体やパターン媒体が研究されている。離散トラック媒体は、データトラックの間が空いているか、または非磁性物質で満たされた構造を有し、パターン媒体は、最小記録単位であるビットドットが島状にパターンされてその周囲が空いているか、または非磁性物質で満たされた構造を有する。しかし、かかる離散トラック媒体やパターン媒体の場合、連続的な磁気記録層を有する媒体に適用したＷＲオフセットを測定する方法をそのまま適用し難いという問題がある。
【０００４】
図１は、連続媒体での磁気ヘッドの位置によるオフトラック量を示す。図１に示すように、ＷＲオフセットは、磁気ヘッドのトラック位置によって変わり、磁気記録面ｈｄ０，ｈｄ１によっても変わるということが分かる。かかるＷＲオフセットは、磁気ヘッドの記録ヘッドと再生ヘッドとの隔離距離、または記録ヘッドと再生ヘッドとの製造公差などにより変わりうる。図１に示すように、連続媒体の外郭でのＷＲオフセットは、約５ないし１０トラックが発生する。かかるＷＲオフセットは、トラックピッチがさらに狭くなる離散トラック媒体やパターン媒体でさらに深刻になりうる。したがって、離散トラック媒体やパターン媒体でＷＲオフセットを測定可能な方法が要請される。
【０００５】
連続媒体のＷＲオフセット測定方法としては、例えば、特定のデータを記録した後、それを再生するための最適の磁気ヘッド位置を探索する方法により測定された。さらに詳細に説明すれば、特定のトラック位置で記録ヘッドを利用して測定しようとするデータを記録した後、その位置でヘッドのオフトラック量を変えつつ再生ヘッドからの信号が最も大きく取られる時のオフトラック値を求める。この値は、ヘッドのトラック位置によって継続的に変わる値であるので、色々な位置で求め、その値からヘッドの各トラック位置での値を図１のように予想する。しかし、離散トラック媒体やパターン媒体の場合、磁気記録される位置が製造ステップであらかじめ決定されているので、データがデータトラックやビットドットのような磁気記録される位置から外れて記録が試みられる。この場合、パターンされたデータトラックやビットドットを外れた部分は、結局記録されないので、前記のように連続媒体に適用された方法でＷＲオフセットを測定すれば、誤差が発生する。したがって、離散トラック媒体やパターン媒体の場合、連続媒体に適用したＷＲオフセット測定方法をそのまま適用し難いという問題がある。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
本発明の目的は、離散トラック媒体やパターン媒体のように所定の位置にのみデータが記録されるように形成された磁気記録媒体で発生しうるＷＲオフセット測定の問題を解決するためのものであって、通常の連続媒体で採用されたＷＲオフセット測定方法を大きく変化させずに採用できる磁気記録媒体、その磁気記録媒体を採用するＨＤＤ、及びＨＤＤのＷＲオフセット測定方法を提供するところにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
前記目的を達成するために、本発明による磁気記録媒体は、ディスク基板と、前記ディスク基板の一面または両面に形成される磁気記録層と、を備え、前記磁気記録層は、パターンされた磁性体で形成されて複数のデータトラックをなす少なくとも一つのパターン領域と、連続的な磁性体で形成される少なくとも一つの連続領域と、を備え、前記連続領域は、記録ヘッドと再生ヘッドとの間のＷＲオフセットを測定するのに使われることを特徴とする。
【０００８】
前記目的を達成するために、本発明によるＨＤＤは、ディスク基板と、前記ディスク基板の一面または両面に形成される磁気記録層と、を備え、前記磁気記録層は、パターンされた磁性体で形成されて複数のデータトラックをなす少なくとも一つのパターン領域と、連続的な磁性体で形成される少なくとも一つの連続領域と、を備える磁気記録媒体と、前記磁気記録媒体にデータを記録する記録ヘッド、及び前記磁気記録媒体に記録されたデータを再生する再生ヘッドを有する磁気ヘッドと、前記磁気ヘッドの前記磁気記録媒体に対する位置を制御する制御部と、を備え、前記制御部は、前記磁気記録媒体の連続領域を利用して前記磁気ヘッドのＷＲオフセットを検出することを特徴とする。
【０００９】
前記目的を達成するために、本発明によるＨＤＤのＷＲオフセット測定方法は、パターンされた磁性体で形成されて複数のデータトラックをなす少なくとも一つのパターン領域と、連続的な磁性体で形成される少なくとも一つの連続領域と、を有する磁気記録媒体で磁気ヘッドのＷＲオフセットを測定する方法であって、前記磁気記録媒体の連続領域にＷＲオフセット測定パターンの少なくとも一部を記録するステップと、前記ＷＲオフセット測定パターンからＷＲオフセットを測定するステップと、を含むことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１０】
本発明による磁気記録媒体、それを採用するＨＤＤ及びＨＤＤのＷＲオフセット測定方法は、磁気記録される位置が製造ステップにあらかじめ決定される離散トラック媒体やパターン媒体のような磁気記録媒体に連続領域を設けることによって、通常の連続媒体でＷＲオフセットを測定した方法をあまり変更せずに適用可能にする。したがって、本発明によるＨＤＤは、従来の連続媒体のＨＤＤの回路部を大きく変更させずにも磁気ヘッドのＷＲオフセットを適切に補正できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
以下、添付された図面を参照して本発明の望ましい実施形態を詳細に説明する。しかし、後述する実施形態は、本発明の範囲を限定するものではなく、本発明を当業者に十分に説明するために提供されるものである。以下の図面で、同じ参照符号は同じ構成要素を指し、図面上で、各構成要素の大きさは、説明の明瞭性及び便宜上誇張しているものもある。
【００１２】
図２及び図３を参照して、本発明の第１実施形態による磁気記録媒体について説明する。図２は、本実施形態が適用される磁気記録媒体１０を概略的に示す図面であり、図３は、図２の一部領域Ｒ１を拡大して示す部分断面斜視図である。
【００１３】
図２に示すように、本実施形態の磁気記録媒体１０の磁気記録面は、ディスク状を有し、等間隔で分割される複数のセクタ１１に区画され、各セクタ１１は、離散トラック領域１２と連続領域１３とを備える。
【００１４】
図３に示すように、かかる磁気記録媒体１０は、ディスク基板１９と、ディスク基板１９の少なくとも一面に形成される磁気記録層１５と、を備える。
【００１５】
前記磁気記録層１５の離散トラック領域１２は、磁性体で突出して形成されたデータトラック１２ａと、データトラック１２ａを磁気的に隔離する分離領域１２ｂとでパターンされて、磁気記録される位置であるデータトラック１２ａが製造ステップで決定されている。前記データトラック１２ａは、ディスク基板１９の直径方向にそのそれぞれが磁気的に隔離され、環状のトラック方向に連続的な磁性体で形成されるものであって、その幅は、数ｎｍないし数十ｎｍとなりうる。前記分離領域１２ｂは、データトラック１２ａを磁気的に隔離する領域であって、空いているか、または非磁性物質で満たされる。このように、離散トラック領域１２は、隣接したデータトラック１２ａ間に磁気的影響を最小化して記録密度を高める。
【００１６】
前記磁気記録層１５の連続領域１３は、その表面が連続的な磁性体で形成され、図２に示すように磁気記録面から見たとき、ディスクの中心を基準として等間隔で配列されるウェッジ状を有する。前記連続領域１３は、ＷＲオフセットを測定するために使われる領域である。すなわち、前記連続領域１３は、ＷＲオフセットの測定部となる。ＷＲオフセットを測定するために、連続領域１３には、ＷＲオフセット測定パターンが記録される。ここで、ＷＲオフセット測定パターンは、ＷＲオフセットを測定するために設けられる任意のパターンを意味するものであって、ＷＲオフセットを測定するために専用で設けられるパターンとなることもあるが、これに限定されるものではない。例えば、ＷＲオフセット測定パターンは、任意のユーザーデータやその他の目的で記録されるパターンとなることもある。また、かかるＷＲオフセット測定パターンは、一回に記録されてもよいが、数回にわたって記録されてもよい。通常の連続媒体に使われるＷＲオフセット測定方法として多様な方法が知られており、本実施形態は、連続領域１３でＷＲオフセットを測定するという点で、かかる通常の連続媒体のＷＲオフセットの測定に利用される多様なパターンがＷＲオフセット測定パターンとして使われる。
【００１７】
本実施形態において、ＷＲオフセットが測定される連続領域１３は、セクタ１１別に形成された場合が説明されているが、これに限定されるものではない。例えば、磁気記録面の全体にわたっていずれか一つのセクタまたは一部セクタにのみ形成されることもある。
【００１８】
図４及び図５を参照して、本発明の第２実施形態による磁気記録媒体について説明する。図４は、本実施形態が適用される磁気記録媒体２０を概略的に示す図面であり、図５は、図４の一部領域Ｒ２を拡大して示す部分断面斜視図である。
【００１９】
図４に示すように、本実施形態の磁気記録媒体２０の磁気記録面は、ディスク状を有し、ディスク中心を基準として環状のデータトラックがパターンされる離散トラック領域２２と、データトラックと同心円をなす環状の帯状を有する連続領域２３と、を備える。
【００２０】
図５に示すように、かかる磁気記録媒体２０は、ディスク基板２９と、ディスク基板２９の少なくとも一面に形成される磁気記録層２５と、を備える。前記磁気記録層２５の離散トラック領域２２は、磁性体で突出して形成されたデータトラック２２ａと、データトラック２２ａを磁気的に隔離する分離領域２２ｂとでパターンされて、磁気記録される位置であるデータトラック２２ａが製造ステップであらかじめ決定されている。かかるデータトラック２２ａは、連続的な環状になっているという点を除いては、前述した第１実施形態のデータトラック１２ａと実質的に同一であるので、重複説明は省略する。
【００２１】
一方、前記磁気記録層２５の連続領域２３は、その表面が連続的な磁性体で形成され、図４に示すように磁気記録面から見たとき、環状の帯状を有する。かかる連続領域２３は、図４に示すように磁気記録面の全体にわたって一つのみが形成されることもあるが、これに限定されるものではない。ディスク中心を基準として同心円をなす複数個の連続領域が設けられることもある。
【００２２】
前記連続領域２３は、ＷＲオフセット測定部となる。例えば、連続領域２３には、ＷＲオフセット測定パターンが記録され、それを利用してＷＲオフセットが測定される。前記ＷＲオフセット測定パターンは、通常の連続媒体に使われるＷＲオフセット測定パターンが使われる。ＷＲオフセットを特定する時のマージンを考慮して、連続領域２３は、少なくとも２トラックピッチの幅を有することが望ましい。本実施形態の磁気記録媒体２０は、このように連続領域２３を設けることによって、通常の連続媒体でＷＲオフセットを測定するために、データを記録し、それを検出することによって、ＷＲオフセットを測定した方法をあまり変化させずに使用できる。
【００２３】
次いで、図６及び図７を参照して、本発明の第３実施形態による磁気記録媒体を説明する。図６は、本実施形態が適用される磁気記録媒体３０を概略的に示す図面であり、図７は、図６の一部領域Ｒ３を拡大して示す部分断面斜視図である。
【００２４】
図６及び図７に示すように、磁気記録媒体３０の磁気記録面は、ディスク状を有し、ディスク基板の中心を基準として等間隔で分割される複数のセクタ３１に区画され、各セクタ３１は、ビットパターン領域３２と連続領域３３とを備える。図３に示すように、かかる磁気記録媒体３０は、ディスク基板３９と、ディスク基板３９の少なくとも一面に形成される磁気記録層３５と、を備える。
【００２５】
前記磁気記録層３５のビットパターン領域３２は、ディスク基板の直径方向及び環状のトラック方向に不連続的な磁性体で形成されるものであって、かかる不連続的な磁性体は、ユーザーデータが磁気記録の最小単位別にパターンされて形成されたビットドット３２ａとなりうる。ビットドット３２ａそれぞれには、１ビットの情報が割り当てられる。ビットドット３２ａを取り囲む分離領域３２ｂは、空いているか、または非磁性物質で満たして各ビットドット３２ａを磁気的に隔離させる。このように、ビットパターン領域３２は、隣接したビットドット３２ａ間の磁気的影響を最小化し、ビットサイズを人為的に縮少して記録密度を高める。前記ビットドット３２ａは、列をなしてデータトラックを形成する。
【００２６】
前記磁気記録層３５の連続領域３３は、その表面が連続的な磁性体で形成されてＷＲオフセットを測定するための領域である。例えば、連続領域３３には、通常の連続媒体でＷＲオフセットを測定するのに使われる多様なパターンが本実施形態のＷＲオフセット測定パターンとして使われる。本実施形態の磁気記録媒体３０は、ビットパターン領域３２を除いた残りの構造が、図２及び図３を参照して説明した第１実施形態の磁気記録媒体と実質的に同一であるので、反復される説明は省略する。
【００２７】
図６に示した連続領域３３は、セクタ３１別に形成された場合が説明されているが、これに限定されるものではなく、磁気記録面の全体にわたっていずれか一つのセクタまたは一部セクタにのみ形成されることもある。
【００２８】
図８及び図９を参照して、本発明の第４実施形態による磁気記録媒体を説明する。図８は、本実施形態が適用される磁気記録媒体４０を概略的に示す図面であり、図９は、図８の一部領域Ｒ４を拡大して示す部分断面斜視図である。本実施形態の磁気記録媒体４０は、ビットパターン領域４２を除いた残りの構造が、図４及び図５を参照して説明した第２実施形態の磁気記録媒体と実質的に同一であるので、反復される説明は簡略にするか、または省略する。
【００２９】
図８に示すように、本実施形態の磁気記録媒体４０の磁気記録面は、ディスク状を有し、ディスク中心を基準として環状のデータトラックがパターンされるビットパターン領域４２と、データトラックと同心円をなす環状の帯状を有する連続領域４３と、を備える。図９に示すように、かかる磁気記録媒体４０は、ディスク基板４９と、ディスク基板４９の少なくとも一面に形成される磁気記録層４５と、を備える。前記磁気記録層４５のビットパターン領域４２は、ディスク基板の直径方向及び環状のトラック方向に不連続的な磁性体で形成されるビットドット４２ａと、ビットドット４２ａを取り囲む分離領域４２ｂと、を備える。ビットドット４２ａは、環状の列で配列されてデータトラックをなす。かかるビットドット４２ａの列がセクタの全域にわたってなされているという点を除いては、前述した第３実施形態のデータトラック３２ａと実質的に同一であるので、重複説明は省略する。
【００３０】
一方、前記磁気記録層４５の連続領域４３は、その表面が連続的な磁性体で形成され、図８に示すように磁気記録面から見たとき、環状の帯状を有する。前記連続領域４３には、ＷＲオフセットを測定するためにＷＲオフセット測定パターンが記録される。ＷＲオフセットの測定時のマージンを考慮して、連続領域４３は、少なくとも２トラックピッチの幅を有することが望ましい。かかる連続領域４３は、図８に示すように磁気記録面の全体にわたって一つのみが形成されることもあるが、これに限定されるものではない。ディスク中心を基準として同心円をなす複数個の連続領域が設けられることもある。
【００３１】
次いで、本発明の磁気記録媒体を採用するＨＤＤ及びＨＤＤでＷＲオフセットを測定する方法を説明する。
【００３２】
まず、図１０ないし図１２を参照して、本発明の磁気記録媒体を採用するＨＤＤにおいて、磁気ヘッドのＷＲオフセットについて説明する。図１０は、磁気ヘッドの空気軸受面側からの概略的な形態を示す図面であり、図１１は、かかる磁気ヘッドが設置されたアクチュエータと磁気記録媒体との位置関係を示す図面である。図１２は、磁気ヘッドのＷＲオフセットを示す。
【００３３】
図１０に示すように、磁気ヘッド５０は、記録ポール５２とリターンポール５３とを有する記録ヘッド５１、再生ヘッド５４、及び再生ヘッド５４に流入されるストレイフィールドを遮断する遮蔽層５５，５６を備える。かかる磁気ヘッド５０において、記録ポール５２と再生ヘッド５４とは、所定距離ｌで離隔されている。かかる磁気ヘッド５０は、本発明のＨＤＤに採用される磁気ヘッドの一例であって、その構造的側面は、通常のＨＤＤに採用される磁気ヘッドと実質的に同一であるので、詳細な説明は省略する。
【００３４】
一方、図１１に示すように、磁気ヘッド（図１０の５０）は、アクチュエータ７０により磁気記録媒体６０の表面に浮かんでいる状態で記録／再生を行う。アクチュエータ７０は、アクチュエータアーム７５と、それに延びる位置に設けられるサスペンション７３と、を備え、サスペンション７３の終端には、磁気ヘッド５０が設置されているスライダ７１が付着されている。
【００３５】
磁気ヘッド５０が磁気記録媒体６０上の他のトラックＴに移動するとき、アクチュエータ７０の回転中心点を中心に回転しつつ移動する。かかるアクチュエータ７０の回転による磁気ヘッドの移動は、平行移動と回転移動との合成で表示される。磁気ヘッド５０の回転移動は、図１２に示したように、磁気ヘッド５０の中心線Ｌ１の方向を、再生ヘッド５４の軌跡Ｌ２の方向または記録ヘッド５１の軌跡Ｌ３の方向と互いに外れるようにする。
【００３６】
再生ヘッド５４がトラックを正しく追従するならば、再生ヘッド５４が通過する軌跡Ｌ２は、トラックと一致する。しかし、図１２に示すように、再生ヘッド５４の軌跡Ｌ２と記録ヘッド５１の通過する軌跡Ｌ３とが異なり、この場合、記録ヘッド５１の軌跡Ｌ３は、トラックと一致しない。このように再生ヘッド５４の軌跡Ｌ２と記録ヘッド５１の通過する軌跡Ｌ３とが異なることをＷＲオフセットδとし、磁気ヘッド５０の中心線Ｌ１と磁気記録媒体の回転方向との角度をスキュー角θという。
【００３７】
次いで、図１３を参照して、本発明の磁気記録媒体を採用するＨＤＤについて説明する。図１３は、本発明の実施形態による磁気記録媒体を採用するＨＤＤの概略的なブロック構成図である。
【００３８】
図１３に示すように、本発明の実施形態によるＨＤＤ１００は、機構的な部品で構成されたヘッドディスクアセンブリ１１０と回路部１２０とを備える。
【００３９】
ヘッドディスクアセンブリ１１０は、スピンドルモータ１１７により回転する磁気記録媒体６０とアクチュエータ７０とを備える。前記磁気記録媒体６０は、前述した本発明の磁気記録媒体が採用される。反復される説明を避けるために、磁気記録媒体６０の具体的な実施形態についての詳細な説明を省略する。アクチュエータ７０は、図１１に示すように、磁気ヘッドが搭載されたスライド７１が終端に付着されたアクチュエータアーム７５がボイスコイルモータ（Ｖｏｉｃｅ Ｃｏｉｌ Ｍｏｔｏｒ：ＶＣＭ）７７により駆動される構成を有する。前記アクチュエータ７０に搭載される磁気ヘッドは、図１０を参照して説明された磁気ヘッドが採用されるが、これに限定されるものではない。
【００４０】
回路部１２０は、プリアンプ１２１、再生／記録チャンネル１２２、制御部１２３、サーボ駆動部１２４、スピンドルモータ駆動部１２５、ＤＤＣ（Ｄｉｓｋ ＤａｔａＣｏｎｔｒｏｌｌｅｒ）１２６、メモリ１２７及びバッファメモリ１２８を備える。
【００４１】
プリアンプ１２１は、記録時には、再生／記録チャンネル１２２から印加される符号化された記録データを、磁気ヘッドを通じて磁気記録媒体に記録し、再生時には、磁気ヘッドでピックアップされた信号を前置増幅して、アナログ再生信号を再生／記録チャンネル１２２に印加する。再生／記録チャンネル１２２は、プリアンプ１２１から印加される再生信号からデータパルスを検出してデコーティングしてＤＤＣ １２６に印加し、ＤＤＣ １２６から印加される記録データをコーディングしてプリアンプ１２１に印加する。ＤＤＣ １２６は、ホストコンピュータから受信されるデータを、再生／記録チャンネル１２２とプリアンプ１２１とを通じて磁気記録媒体に／からデータを記録／再生してホストコンピュータに送信する。また、ＤＤＣ １２６は、ホストコンピュータと制御部１２３との間の通信をインターフェースする。バッファメモリ１２８は、ホストコンピュータ、制御部１２３及び再生／記録チャンネル１２２の間に伝送されるデータを一時保存する。制御部１２３は、ホストコンピュータから受信される再生または記録命令に応答してＤＤＣ １２６を制御し、トラック探索及びトラック追従を制御する。メモリ１２７は、制御部１２３の実行プログラム及び各種の設定値を保存する。サーボ駆動部１２４は、制御部１２３から発生する磁気ヘッドの位置制御のための信号によりアクチュエータ７０を駆動するための駆動電流を発生させてＶＣＭ ７７を駆動する。アクチュエータ７０は、サーボ駆動部１２４から印加される駆動電流の方向及びレベルに対応して、磁気ヘッドを磁気記録媒体６０の記録面に移動させる。スピンドルモータ駆動部１２５は、制御部１２３から発生する磁気記録媒体６０の回転制御のための制御値によってスピンドルモータ１１７を駆動して、磁気記録媒体６０を回転させる。
【００４２】
例えば、ＷＲオフセット測定パターンに対するデータは、ホストコンピュータからＤＤＣ １２６に印加され、印加されたデータは、再生／記録チャンネル１２２とプリアンプ１２１とを通じて磁気記録媒体に記録される。このとき、磁気記録媒体６０の連続領域の位置情報は、磁気記録媒体６０内にあらかじめ記録されており、この場合、記録された連続領域の位置情報を参照して、ＷＲオフセット測定パターンは、磁気記録媒体６０の連続領域に記録される。磁気記録媒体６０の連続領域の位置情報は、例えば、磁気記録媒体６０の製造時にデータトラックのパターニングステップで、トラック情報と共に特定のパターンで記録されている。しかし、前記連続領域の位置情報は、磁気記録媒体６０の製造後に別途に記録されてもよく、回路部１２０内にあるメモリ１２７に保存されてもよく、かかる位置情報の記録形態は、本発明を限定しない。
【００４３】
制御部１２３は、メモリ１２７に保存された実行プログラムによりＷＲオフセット測定パターンを根拠としてＷＲオフセットを検出し、検出されたＷＲオフセットを利用してサーボ駆動部１２４を駆動して、補正された位置に磁気ヘッドが記録／再生を実行可能にする。
【００４４】
このとき、ＷＲオフセット測定パターンを記録し、記録されたＷＲオフセット測定パターンを利用してＷＲオフセットを検出し、それを利用して磁気ヘッドの位置を補正するプロセスは、通常の連続媒体を利用したＨＤＤで使われる方法をあまり変更させないので、従来の連続媒体のＨＤＤの回路部をあまり変更させずにも磁気ヘッドのＷＲオフセットを適切に補正できる。
【００４５】
次いで、図１４を参照して、本発明の一実施形態によるＨＤＤのＷＲオフセット測定方法について説明する。
【００４６】
図１４は、本発明の一実施形態による磁気記録媒体のＷＲオフセット測定方法のフローチャートである。
【００４７】
本発明のＷＲオフセット測定方法は、ＷＲオフセット測定パターンを記録し、記録されたＷＲオフセット測定パターンを利用してＷＲオフセットを検出する。通常の連続媒体は、ＷＲオフセット測定パターンを磁気記録媒体の記録面の任意の位置に形成できる一方、本発明の実施形態による磁気記録媒体は、物理的な製造工程で連続領域とパターンされた領域とが区別されるように形成されるので、ＷＲオフセット測定パターンが記録される連続領域の位置を探すことが必要である。
【００４８】
したがって、本発明の一実施形態によるＷＲオフセット測定方法は、まず、連続領域の位置を決定するステップＳ１０から始める。
【００４９】
連続領域の位置情報は、磁気記録媒体の製造ステップでデータトラックをパターニングするとき、トラック情報をデータトラックに埋め込むが、かかるトラック情報に含まれる。この場合、トラック情報を読み込みつつ連続領域の位置を決定できる。その他に、連続領域の位置情報は、磁気記録媒体が製造完了した後、磁気記録媒体に記録されてもよく、またはＨＤＤの回路部内にあるメモリに記録されてもよい。しかし、本発明は、かかる連続領域の位置情報があらかじめ記録される場合に限定されるものではなく、例えば、パターン領域と連続領域との信号特性差を利用して連続領域の位置を決定することもできる。任意のパターンを記録面の全域にわたって記録するとき、パターン領域では、データトラックにのみ磁気記録され、連続領域では、任意の位置に磁気記録される。したがって、パターン領域と連続領域との境界で再生されるパターン信号のサイズが不連続的に変わるので、それを利用すれば、連続領域の位置を決定できる。
【００５０】
次いで、前ステップで探した連続領域の位置を基準として連続領域内にＷＲオフセット測定パターンを記録する（ステップＳ２０）。本発明において、ＷＲオフセット測定パターンが記録される部分は連続領域であるので、記録されるＷＲオフセット測定パターンは、通常の連続媒体で採用される多様なパターンが可能である。
【００５１】
本発明は、ＷＲオフセット測定パターンが連続領域にのみ記録されることに限定されるものではなく、一部のＷＲオフセット測定パターンがパターン領域に記録されることもある。例えば、パターン領域と連続領域とにわたってＷＲオフセット測定パターンが記録されることもある。次いで、記録されたＷＲオフセット測定パターンを通じてＷＲオフセットを測定し（ステップＳ３０）、測定されたＷＲオフセットを利用して磁気ヘッドの位置を補償する（ステップＳ４０）。記録されるＷＲオフセット測定パターンは、通常の連続媒体で使われるパターンであるので、ＷＲオフセットを測定して磁気ヘッドの位置を補償する方法は、通常の連続媒体を利用したＨＤＤで使われる方法をそのまま採用できる。かかる連続媒体でＷＲオフセットを測定して磁気ヘッドの位置を補償する方法は周知であるので、これについての詳細な説明は省略する。
【００５２】
かかる本発明の磁気記録媒体、それを採用するＨＤＤ及びＨＤＤのＷＲオフセット測定方法は、理解を助けるために図面に示した実施形態を参考にして説明されたが、これは、例示的なものに過ぎず、当業者ならば、これから多様な変形及び均等な他の実施形態が可能であるという点を理解できるであろう。したがって、本発明の技術的範囲は、特許請求の範囲に基づいて定められる。
【産業上の利用可能性】
【００５３】
本発明は、磁気記録媒体関連の技術分野に適用可能である。
【図面の簡単な説明】
【００５４】
【図１】トラック位置とＷＲオフセットによるオフトラック量との関係を示すグラフである。
【図２】本発明の第１実施形態による磁気記録媒体を概略的に示す図面である。
【図３】図２のＲ１領域を拡大して示す部分断面斜視図である。
【図４】本発明の第２実施形態による磁気記録媒体を概略的に示す図面である。
【図５】図４のＲ２領域を拡大して示す部分断面斜視図である。
【図６】本発明の第３実施形態による磁気記録媒体を概略的に示す図面である。
【図７】図６のＲ３領域を拡大して示す部分断面斜視図である。
【図８】本発明の第４実施形態による磁気記録媒体を概略的に示す図面である。
【図９】図８のＲ４領域を拡大して示す部分断面斜視図である。
【図１０】磁気ヘッドの空気軸受面側の構造を概略的に示す図面である。
【図１１】磁気ヘッドのＷＲオフセットを説明するための図面である。
【図１２】磁気ヘッドのＷＲオフセットを説明するための図面である。
【図１３】本発明の一実施形態による磁気記録媒体を採用するＨＤＤのブロック図である。
【図１４】本発明の一実施形態による磁気記録媒体のＷＲオフセット測定方法のフローチャートである。
【符号の説明】
【００５５】
２０ 磁気記録媒体
２２ 離散トラック領域
２２ａ データトラック
２２ｂ 分離領域
２３ 連続領域
２５ 磁気記録層
２９ ディスク基板
【技術分野】
【０００１】
本発明は、磁気記録媒体、それを採用するハードディスクドライブ（ＨＤＤ）及びＨＤＤのＷＲ（Ｗｒｉｔｅ Ｒｅａｄ）オフセット測定方法に係り、特に離散トラック媒体やパターン媒体のようにデータが記録される位置がパターンされている場合、ＷＲオフセットを測定するのに適した磁気記録媒体、その磁気記録媒体を採用したＨＤＤ、及びＨＤＤのＷＲオフセット測定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
最近、処理される情報量の急増により、さらに高密度で情報を記録／再生できる情報記憶装置が要請されている。特に、磁気記録媒体を利用するＨＤＤは、大容量であり、かつ高速アクセスなどの特性を有しているため、コンピュータだけでなく各種のデジタル機器の情報記憶装置として注目されている。しかし、連続的な磁気記録層を有する磁気記録媒体（以下、「連続媒体」という）の場合、データの最小記録単位であるビットのサイズやデータトラックのピッチ幅をある限界以下に縮小すれば、隣接した領域の影響などによりノイズが増加し、記録安定性が急激に低下するので、ディスク回転方向の密度である線記録密度やディスク半径方向の密度であるトラック密度を高めて記録密度を増加させるのには限界がある。
【０００３】
これにより、磁気記録される位置が製造ステップであらかじめパターニングされる離散トラック媒体やパターン媒体が研究されている。離散トラック媒体は、データトラックの間が空いているか、または非磁性物質で満たされた構造を有し、パターン媒体は、最小記録単位であるビットドットが島状にパターンされてその周囲が空いているか、または非磁性物質で満たされた構造を有する。しかし、かかる離散トラック媒体やパターン媒体の場合、連続的な磁気記録層を有する媒体に適用したＷＲオフセットを測定する方法をそのまま適用し難いという問題がある。
【０００４】
図１は、連続媒体での磁気ヘッドの位置によるオフトラック量を示す。図１に示すように、ＷＲオフセットは、磁気ヘッドのトラック位置によって変わり、磁気記録面ｈｄ０，ｈｄ１によっても変わるということが分かる。かかるＷＲオフセットは、磁気ヘッドの記録ヘッドと再生ヘッドとの隔離距離、または記録ヘッドと再生ヘッドとの製造公差などにより変わりうる。図１に示すように、連続媒体の外郭でのＷＲオフセットは、約５ないし１０トラックが発生する。かかるＷＲオフセットは、トラックピッチがさらに狭くなる離散トラック媒体やパターン媒体でさらに深刻になりうる。したがって、離散トラック媒体やパターン媒体でＷＲオフセットを測定可能な方法が要請される。
【０００５】
連続媒体のＷＲオフセット測定方法としては、例えば、特定のデータを記録した後、それを再生するための最適の磁気ヘッド位置を探索する方法により測定された。さらに詳細に説明すれば、特定のトラック位置で記録ヘッドを利用して測定しようとするデータを記録した後、その位置でヘッドのオフトラック量を変えつつ再生ヘッドからの信号が最も大きく取られる時のオフトラック値を求める。この値は、ヘッドのトラック位置によって継続的に変わる値であるので、色々な位置で求め、その値からヘッドの各トラック位置での値を図１のように予想する。しかし、離散トラック媒体やパターン媒体の場合、磁気記録される位置が製造ステップであらかじめ決定されているので、データがデータトラックやビットドットのような磁気記録される位置から外れて記録が試みられる。この場合、パターンされたデータトラックやビットドットを外れた部分は、結局記録されないので、前記のように連続媒体に適用された方法でＷＲオフセットを測定すれば、誤差が発生する。したがって、離散トラック媒体やパターン媒体の場合、連続媒体に適用したＷＲオフセット測定方法をそのまま適用し難いという問題がある。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
本発明の目的は、離散トラック媒体やパターン媒体のように所定の位置にのみデータが記録されるように形成された磁気記録媒体で発生しうるＷＲオフセット測定の問題を解決するためのものであって、通常の連続媒体で採用されたＷＲオフセット測定方法を大きく変化させずに採用できる磁気記録媒体、その磁気記録媒体を採用するＨＤＤ、及びＨＤＤのＷＲオフセット測定方法を提供するところにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
前記目的を達成するために、本発明による磁気記録媒体は、ディスク基板と、前記ディスク基板の一面または両面に形成される磁気記録層と、を備え、前記磁気記録層は、パターンされた磁性体で形成されて複数のデータトラックをなす少なくとも一つのパターン領域と、連続的な磁性体で形成される少なくとも一つの連続領域と、を備え、前記連続領域は、記録ヘッドと再生ヘッドとの間のＷＲオフセットを測定するのに使われることを特徴とする。
【０００８】
前記目的を達成するために、本発明によるＨＤＤは、ディスク基板と、前記ディスク基板の一面または両面に形成される磁気記録層と、を備え、前記磁気記録層は、パターンされた磁性体で形成されて複数のデータトラックをなす少なくとも一つのパターン領域と、連続的な磁性体で形成される少なくとも一つの連続領域と、を備える磁気記録媒体と、前記磁気記録媒体にデータを記録する記録ヘッド、及び前記磁気記録媒体に記録されたデータを再生する再生ヘッドを有する磁気ヘッドと、前記磁気ヘッドの前記磁気記録媒体に対する位置を制御する制御部と、を備え、前記制御部は、前記磁気記録媒体の連続領域を利用して前記磁気ヘッドのＷＲオフセットを検出することを特徴とする。
【０００９】
前記目的を達成するために、本発明によるＨＤＤのＷＲオフセット測定方法は、パターンされた磁性体で形成されて複数のデータトラックをなす少なくとも一つのパターン領域と、連続的な磁性体で形成される少なくとも一つの連続領域と、を有する磁気記録媒体で磁気ヘッドのＷＲオフセットを測定する方法であって、前記磁気記録媒体の連続領域にＷＲオフセット測定パターンの少なくとも一部を記録するステップと、前記ＷＲオフセット測定パターンからＷＲオフセットを測定するステップと、を含むことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１０】
本発明による磁気記録媒体、それを採用するＨＤＤ及びＨＤＤのＷＲオフセット測定方法は、磁気記録される位置が製造ステップにあらかじめ決定される離散トラック媒体やパターン媒体のような磁気記録媒体に連続領域を設けることによって、通常の連続媒体でＷＲオフセットを測定した方法をあまり変更せずに適用可能にする。したがって、本発明によるＨＤＤは、従来の連続媒体のＨＤＤの回路部を大きく変更させずにも磁気ヘッドのＷＲオフセットを適切に補正できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
以下、添付された図面を参照して本発明の望ましい実施形態を詳細に説明する。しかし、後述する実施形態は、本発明の範囲を限定するものではなく、本発明を当業者に十分に説明するために提供されるものである。以下の図面で、同じ参照符号は同じ構成要素を指し、図面上で、各構成要素の大きさは、説明の明瞭性及び便宜上誇張しているものもある。
【００１２】
図２及び図３を参照して、本発明の第１実施形態による磁気記録媒体について説明する。図２は、本実施形態が適用される磁気記録媒体１０を概略的に示す図面であり、図３は、図２の一部領域Ｒ１を拡大して示す部分断面斜視図である。
【００１３】
図２に示すように、本実施形態の磁気記録媒体１０の磁気記録面は、ディスク状を有し、等間隔で分割される複数のセクタ１１に区画され、各セクタ１１は、離散トラック領域１２と連続領域１３とを備える。
【００１４】
図３に示すように、かかる磁気記録媒体１０は、ディスク基板１９と、ディスク基板１９の少なくとも一面に形成される磁気記録層１５と、を備える。
【００１５】
前記磁気記録層１５の離散トラック領域１２は、磁性体で突出して形成されたデータトラック１２ａと、データトラック１２ａを磁気的に隔離する分離領域１２ｂとでパターンされて、磁気記録される位置であるデータトラック１２ａが製造ステップで決定されている。前記データトラック１２ａは、ディスク基板１９の直径方向にそのそれぞれが磁気的に隔離され、環状のトラック方向に連続的な磁性体で形成されるものであって、その幅は、数ｎｍないし数十ｎｍとなりうる。前記分離領域１２ｂは、データトラック１２ａを磁気的に隔離する領域であって、空いているか、または非磁性物質で満たされる。このように、離散トラック領域１２は、隣接したデータトラック１２ａ間に磁気的影響を最小化して記録密度を高める。
【００１６】
前記磁気記録層１５の連続領域１３は、その表面が連続的な磁性体で形成され、図２に示すように磁気記録面から見たとき、ディスクの中心を基準として等間隔で配列されるウェッジ状を有する。前記連続領域１３は、ＷＲオフセットを測定するために使われる領域である。すなわち、前記連続領域１３は、ＷＲオフセットの測定部となる。ＷＲオフセットを測定するために、連続領域１３には、ＷＲオフセット測定パターンが記録される。ここで、ＷＲオフセット測定パターンは、ＷＲオフセットを測定するために設けられる任意のパターンを意味するものであって、ＷＲオフセットを測定するために専用で設けられるパターンとなることもあるが、これに限定されるものではない。例えば、ＷＲオフセット測定パターンは、任意のユーザーデータやその他の目的で記録されるパターンとなることもある。また、かかるＷＲオフセット測定パターンは、一回に記録されてもよいが、数回にわたって記録されてもよい。通常の連続媒体に使われるＷＲオフセット測定方法として多様な方法が知られており、本実施形態は、連続領域１３でＷＲオフセットを測定するという点で、かかる通常の連続媒体のＷＲオフセットの測定に利用される多様なパターンがＷＲオフセット測定パターンとして使われる。
【００１７】
本実施形態において、ＷＲオフセットが測定される連続領域１３は、セクタ１１別に形成された場合が説明されているが、これに限定されるものではない。例えば、磁気記録面の全体にわたっていずれか一つのセクタまたは一部セクタにのみ形成されることもある。
【００１８】
図４及び図５を参照して、本発明の第２実施形態による磁気記録媒体について説明する。図４は、本実施形態が適用される磁気記録媒体２０を概略的に示す図面であり、図５は、図４の一部領域Ｒ２を拡大して示す部分断面斜視図である。
【００１９】
図４に示すように、本実施形態の磁気記録媒体２０の磁気記録面は、ディスク状を有し、ディスク中心を基準として環状のデータトラックがパターンされる離散トラック領域２２と、データトラックと同心円をなす環状の帯状を有する連続領域２３と、を備える。
【００２０】
図５に示すように、かかる磁気記録媒体２０は、ディスク基板２９と、ディスク基板２９の少なくとも一面に形成される磁気記録層２５と、を備える。前記磁気記録層２５の離散トラック領域２２は、磁性体で突出して形成されたデータトラック２２ａと、データトラック２２ａを磁気的に隔離する分離領域２２ｂとでパターンされて、磁気記録される位置であるデータトラック２２ａが製造ステップであらかじめ決定されている。かかるデータトラック２２ａは、連続的な環状になっているという点を除いては、前述した第１実施形態のデータトラック１２ａと実質的に同一であるので、重複説明は省略する。
【００２１】
一方、前記磁気記録層２５の連続領域２３は、その表面が連続的な磁性体で形成され、図４に示すように磁気記録面から見たとき、環状の帯状を有する。かかる連続領域２３は、図４に示すように磁気記録面の全体にわたって一つのみが形成されることもあるが、これに限定されるものではない。ディスク中心を基準として同心円をなす複数個の連続領域が設けられることもある。
【００２２】
前記連続領域２３は、ＷＲオフセット測定部となる。例えば、連続領域２３には、ＷＲオフセット測定パターンが記録され、それを利用してＷＲオフセットが測定される。前記ＷＲオフセット測定パターンは、通常の連続媒体に使われるＷＲオフセット測定パターンが使われる。ＷＲオフセットを特定する時のマージンを考慮して、連続領域２３は、少なくとも２トラックピッチの幅を有することが望ましい。本実施形態の磁気記録媒体２０は、このように連続領域２３を設けることによって、通常の連続媒体でＷＲオフセットを測定するために、データを記録し、それを検出することによって、ＷＲオフセットを測定した方法をあまり変化させずに使用できる。
【００２３】
次いで、図６及び図７を参照して、本発明の第３実施形態による磁気記録媒体を説明する。図６は、本実施形態が適用される磁気記録媒体３０を概略的に示す図面であり、図７は、図６の一部領域Ｒ３を拡大して示す部分断面斜視図である。
【００２４】
図６及び図７に示すように、磁気記録媒体３０の磁気記録面は、ディスク状を有し、ディスク基板の中心を基準として等間隔で分割される複数のセクタ３１に区画され、各セクタ３１は、ビットパターン領域３２と連続領域３３とを備える。図３に示すように、かかる磁気記録媒体３０は、ディスク基板３９と、ディスク基板３９の少なくとも一面に形成される磁気記録層３５と、を備える。
【００２５】
前記磁気記録層３５のビットパターン領域３２は、ディスク基板の直径方向及び環状のトラック方向に不連続的な磁性体で形成されるものであって、かかる不連続的な磁性体は、ユーザーデータが磁気記録の最小単位別にパターンされて形成されたビットドット３２ａとなりうる。ビットドット３２ａそれぞれには、１ビットの情報が割り当てられる。ビットドット３２ａを取り囲む分離領域３２ｂは、空いているか、または非磁性物質で満たして各ビットドット３２ａを磁気的に隔離させる。このように、ビットパターン領域３２は、隣接したビットドット３２ａ間の磁気的影響を最小化し、ビットサイズを人為的に縮少して記録密度を高める。前記ビットドット３２ａは、列をなしてデータトラックを形成する。
【００２６】
前記磁気記録層３５の連続領域３３は、その表面が連続的な磁性体で形成されてＷＲオフセットを測定するための領域である。例えば、連続領域３３には、通常の連続媒体でＷＲオフセットを測定するのに使われる多様なパターンが本実施形態のＷＲオフセット測定パターンとして使われる。本実施形態の磁気記録媒体３０は、ビットパターン領域３２を除いた残りの構造が、図２及び図３を参照して説明した第１実施形態の磁気記録媒体と実質的に同一であるので、反復される説明は省略する。
【００２７】
図６に示した連続領域３３は、セクタ３１別に形成された場合が説明されているが、これに限定されるものではなく、磁気記録面の全体にわたっていずれか一つのセクタまたは一部セクタにのみ形成されることもある。
【００２８】
図８及び図９を参照して、本発明の第４実施形態による磁気記録媒体を説明する。図８は、本実施形態が適用される磁気記録媒体４０を概略的に示す図面であり、図９は、図８の一部領域Ｒ４を拡大して示す部分断面斜視図である。本実施形態の磁気記録媒体４０は、ビットパターン領域４２を除いた残りの構造が、図４及び図５を参照して説明した第２実施形態の磁気記録媒体と実質的に同一であるので、反復される説明は簡略にするか、または省略する。
【００２９】
図８に示すように、本実施形態の磁気記録媒体４０の磁気記録面は、ディスク状を有し、ディスク中心を基準として環状のデータトラックがパターンされるビットパターン領域４２と、データトラックと同心円をなす環状の帯状を有する連続領域４３と、を備える。図９に示すように、かかる磁気記録媒体４０は、ディスク基板４９と、ディスク基板４９の少なくとも一面に形成される磁気記録層４５と、を備える。前記磁気記録層４５のビットパターン領域４２は、ディスク基板の直径方向及び環状のトラック方向に不連続的な磁性体で形成されるビットドット４２ａと、ビットドット４２ａを取り囲む分離領域４２ｂと、を備える。ビットドット４２ａは、環状の列で配列されてデータトラックをなす。かかるビットドット４２ａの列がセクタの全域にわたってなされているという点を除いては、前述した第３実施形態のデータトラック３２ａと実質的に同一であるので、重複説明は省略する。
【００３０】
一方、前記磁気記録層４５の連続領域４３は、その表面が連続的な磁性体で形成され、図８に示すように磁気記録面から見たとき、環状の帯状を有する。前記連続領域４３には、ＷＲオフセットを測定するためにＷＲオフセット測定パターンが記録される。ＷＲオフセットの測定時のマージンを考慮して、連続領域４３は、少なくとも２トラックピッチの幅を有することが望ましい。かかる連続領域４３は、図８に示すように磁気記録面の全体にわたって一つのみが形成されることもあるが、これに限定されるものではない。ディスク中心を基準として同心円をなす複数個の連続領域が設けられることもある。
【００３１】
次いで、本発明の磁気記録媒体を採用するＨＤＤ及びＨＤＤでＷＲオフセットを測定する方法を説明する。
【００３２】
まず、図１０ないし図１２を参照して、本発明の磁気記録媒体を採用するＨＤＤにおいて、磁気ヘッドのＷＲオフセットについて説明する。図１０は、磁気ヘッドの空気軸受面側からの概略的な形態を示す図面であり、図１１は、かかる磁気ヘッドが設置されたアクチュエータと磁気記録媒体との位置関係を示す図面である。図１２は、磁気ヘッドのＷＲオフセットを示す。
【００３３】
図１０に示すように、磁気ヘッド５０は、記録ポール５２とリターンポール５３とを有する記録ヘッド５１、再生ヘッド５４、及び再生ヘッド５４に流入されるストレイフィールドを遮断する遮蔽層５５，５６を備える。かかる磁気ヘッド５０において、記録ポール５２と再生ヘッド５４とは、所定距離ｌで離隔されている。かかる磁気ヘッド５０は、本発明のＨＤＤに採用される磁気ヘッドの一例であって、その構造的側面は、通常のＨＤＤに採用される磁気ヘッドと実質的に同一であるので、詳細な説明は省略する。
【００３４】
一方、図１１に示すように、磁気ヘッド（図１０の５０）は、アクチュエータ７０により磁気記録媒体６０の表面に浮かんでいる状態で記録／再生を行う。アクチュエータ７０は、アクチュエータアーム７５と、それに延びる位置に設けられるサスペンション７３と、を備え、サスペンション７３の終端には、磁気ヘッド５０が設置されているスライダ７１が付着されている。
【００３５】
磁気ヘッド５０が磁気記録媒体６０上の他のトラックＴに移動するとき、アクチュエータ７０の回転中心点を中心に回転しつつ移動する。かかるアクチュエータ７０の回転による磁気ヘッドの移動は、平行移動と回転移動との合成で表示される。磁気ヘッド５０の回転移動は、図１２に示したように、磁気ヘッド５０の中心線Ｌ１の方向を、再生ヘッド５４の軌跡Ｌ２の方向または記録ヘッド５１の軌跡Ｌ３の方向と互いに外れるようにする。
【００３６】
再生ヘッド５４がトラックを正しく追従するならば、再生ヘッド５４が通過する軌跡Ｌ２は、トラックと一致する。しかし、図１２に示すように、再生ヘッド５４の軌跡Ｌ２と記録ヘッド５１の通過する軌跡Ｌ３とが異なり、この場合、記録ヘッド５１の軌跡Ｌ３は、トラックと一致しない。このように再生ヘッド５４の軌跡Ｌ２と記録ヘッド５１の通過する軌跡Ｌ３とが異なることをＷＲオフセットδとし、磁気ヘッド５０の中心線Ｌ１と磁気記録媒体の回転方向との角度をスキュー角θという。
【００３７】
次いで、図１３を参照して、本発明の磁気記録媒体を採用するＨＤＤについて説明する。図１３は、本発明の実施形態による磁気記録媒体を採用するＨＤＤの概略的なブロック構成図である。
【００３８】
図１３に示すように、本発明の実施形態によるＨＤＤ１００は、機構的な部品で構成されたヘッドディスクアセンブリ１１０と回路部１２０とを備える。
【００３９】
ヘッドディスクアセンブリ１１０は、スピンドルモータ１１７により回転する磁気記録媒体６０とアクチュエータ７０とを備える。前記磁気記録媒体６０は、前述した本発明の磁気記録媒体が採用される。反復される説明を避けるために、磁気記録媒体６０の具体的な実施形態についての詳細な説明を省略する。アクチュエータ７０は、図１１に示すように、磁気ヘッドが搭載されたスライド７１が終端に付着されたアクチュエータアーム７５がボイスコイルモータ（Ｖｏｉｃｅ Ｃｏｉｌ Ｍｏｔｏｒ：ＶＣＭ）７７により駆動される構成を有する。前記アクチュエータ７０に搭載される磁気ヘッドは、図１０を参照して説明された磁気ヘッドが採用されるが、これに限定されるものではない。
【００４０】
回路部１２０は、プリアンプ１２１、再生／記録チャンネル１２２、制御部１２３、サーボ駆動部１２４、スピンドルモータ駆動部１２５、ＤＤＣ（Ｄｉｓｋ ＤａｔａＣｏｎｔｒｏｌｌｅｒ）１２６、メモリ１２７及びバッファメモリ１２８を備える。
【００４１】
プリアンプ１２１は、記録時には、再生／記録チャンネル１２２から印加される符号化された記録データを、磁気ヘッドを通じて磁気記録媒体に記録し、再生時には、磁気ヘッドでピックアップされた信号を前置増幅して、アナログ再生信号を再生／記録チャンネル１２２に印加する。再生／記録チャンネル１２２は、プリアンプ１２１から印加される再生信号からデータパルスを検出してデコーティングしてＤＤＣ １２６に印加し、ＤＤＣ １２６から印加される記録データをコーディングしてプリアンプ１２１に印加する。ＤＤＣ １２６は、ホストコンピュータから受信されるデータを、再生／記録チャンネル１２２とプリアンプ１２１とを通じて磁気記録媒体に／からデータを記録／再生してホストコンピュータに送信する。また、ＤＤＣ １２６は、ホストコンピュータと制御部１２３との間の通信をインターフェースする。バッファメモリ１２８は、ホストコンピュータ、制御部１２３及び再生／記録チャンネル１２２の間に伝送されるデータを一時保存する。制御部１２３は、ホストコンピュータから受信される再生または記録命令に応答してＤＤＣ １２６を制御し、トラック探索及びトラック追従を制御する。メモリ１２７は、制御部１２３の実行プログラム及び各種の設定値を保存する。サーボ駆動部１２４は、制御部１２３から発生する磁気ヘッドの位置制御のための信号によりアクチュエータ７０を駆動するための駆動電流を発生させてＶＣＭ ７７を駆動する。アクチュエータ７０は、サーボ駆動部１２４から印加される駆動電流の方向及びレベルに対応して、磁気ヘッドを磁気記録媒体６０の記録面に移動させる。スピンドルモータ駆動部１２５は、制御部１２３から発生する磁気記録媒体６０の回転制御のための制御値によってスピンドルモータ１１７を駆動して、磁気記録媒体６０を回転させる。
【００４２】
例えば、ＷＲオフセット測定パターンに対するデータは、ホストコンピュータからＤＤＣ １２６に印加され、印加されたデータは、再生／記録チャンネル１２２とプリアンプ１２１とを通じて磁気記録媒体に記録される。このとき、磁気記録媒体６０の連続領域の位置情報は、磁気記録媒体６０内にあらかじめ記録されており、この場合、記録された連続領域の位置情報を参照して、ＷＲオフセット測定パターンは、磁気記録媒体６０の連続領域に記録される。磁気記録媒体６０の連続領域の位置情報は、例えば、磁気記録媒体６０の製造時にデータトラックのパターニングステップで、トラック情報と共に特定のパターンで記録されている。しかし、前記連続領域の位置情報は、磁気記録媒体６０の製造後に別途に記録されてもよく、回路部１２０内にあるメモリ１２７に保存されてもよく、かかる位置情報の記録形態は、本発明を限定しない。
【００４３】
制御部１２３は、メモリ１２７に保存された実行プログラムによりＷＲオフセット測定パターンを根拠としてＷＲオフセットを検出し、検出されたＷＲオフセットを利用してサーボ駆動部１２４を駆動して、補正された位置に磁気ヘッドが記録／再生を実行可能にする。
【００４４】
このとき、ＷＲオフセット測定パターンを記録し、記録されたＷＲオフセット測定パターンを利用してＷＲオフセットを検出し、それを利用して磁気ヘッドの位置を補正するプロセスは、通常の連続媒体を利用したＨＤＤで使われる方法をあまり変更させないので、従来の連続媒体のＨＤＤの回路部をあまり変更させずにも磁気ヘッドのＷＲオフセットを適切に補正できる。
【００４５】
次いで、図１４を参照して、本発明の一実施形態によるＨＤＤのＷＲオフセット測定方法について説明する。
【００４６】
図１４は、本発明の一実施形態による磁気記録媒体のＷＲオフセット測定方法のフローチャートである。
【００４７】
本発明のＷＲオフセット測定方法は、ＷＲオフセット測定パターンを記録し、記録されたＷＲオフセット測定パターンを利用してＷＲオフセットを検出する。通常の連続媒体は、ＷＲオフセット測定パターンを磁気記録媒体の記録面の任意の位置に形成できる一方、本発明の実施形態による磁気記録媒体は、物理的な製造工程で連続領域とパターンされた領域とが区別されるように形成されるので、ＷＲオフセット測定パターンが記録される連続領域の位置を探すことが必要である。
【００４８】
したがって、本発明の一実施形態によるＷＲオフセット測定方法は、まず、連続領域の位置を決定するステップＳ１０から始める。
【００４９】
連続領域の位置情報は、磁気記録媒体の製造ステップでデータトラックをパターニングするとき、トラック情報をデータトラックに埋め込むが、かかるトラック情報に含まれる。この場合、トラック情報を読み込みつつ連続領域の位置を決定できる。その他に、連続領域の位置情報は、磁気記録媒体が製造完了した後、磁気記録媒体に記録されてもよく、またはＨＤＤの回路部内にあるメモリに記録されてもよい。しかし、本発明は、かかる連続領域の位置情報があらかじめ記録される場合に限定されるものではなく、例えば、パターン領域と連続領域との信号特性差を利用して連続領域の位置を決定することもできる。任意のパターンを記録面の全域にわたって記録するとき、パターン領域では、データトラックにのみ磁気記録され、連続領域では、任意の位置に磁気記録される。したがって、パターン領域と連続領域との境界で再生されるパターン信号のサイズが不連続的に変わるので、それを利用すれば、連続領域の位置を決定できる。
【００５０】
次いで、前ステップで探した連続領域の位置を基準として連続領域内にＷＲオフセット測定パターンを記録する（ステップＳ２０）。本発明において、ＷＲオフセット測定パターンが記録される部分は連続領域であるので、記録されるＷＲオフセット測定パターンは、通常の連続媒体で採用される多様なパターンが可能である。
【００５１】
本発明は、ＷＲオフセット測定パターンが連続領域にのみ記録されることに限定されるものではなく、一部のＷＲオフセット測定パターンがパターン領域に記録されることもある。例えば、パターン領域と連続領域とにわたってＷＲオフセット測定パターンが記録されることもある。次いで、記録されたＷＲオフセット測定パターンを通じてＷＲオフセットを測定し（ステップＳ３０）、測定されたＷＲオフセットを利用して磁気ヘッドの位置を補償する（ステップＳ４０）。記録されるＷＲオフセット測定パターンは、通常の連続媒体で使われるパターンであるので、ＷＲオフセットを測定して磁気ヘッドの位置を補償する方法は、通常の連続媒体を利用したＨＤＤで使われる方法をそのまま採用できる。かかる連続媒体でＷＲオフセットを測定して磁気ヘッドの位置を補償する方法は周知であるので、これについての詳細な説明は省略する。
【００５２】
かかる本発明の磁気記録媒体、それを採用するＨＤＤ及びＨＤＤのＷＲオフセット測定方法は、理解を助けるために図面に示した実施形態を参考にして説明されたが、これは、例示的なものに過ぎず、当業者ならば、これから多様な変形及び均等な他の実施形態が可能であるという点を理解できるであろう。したがって、本発明の技術的範囲は、特許請求の範囲に基づいて定められる。
【産業上の利用可能性】
【００５３】
本発明は、磁気記録媒体関連の技術分野に適用可能である。
【図面の簡単な説明】
【００５４】
【図１】トラック位置とＷＲオフセットによるオフトラック量との関係を示すグラフである。
【図２】本発明の第１実施形態による磁気記録媒体を概略的に示す図面である。
【図３】図２のＲ１領域を拡大して示す部分断面斜視図である。
【図４】本発明の第２実施形態による磁気記録媒体を概略的に示す図面である。
【図５】図４のＲ２領域を拡大して示す部分断面斜視図である。
【図６】本発明の第３実施形態による磁気記録媒体を概略的に示す図面である。
【図７】図６のＲ３領域を拡大して示す部分断面斜視図である。
【図８】本発明の第４実施形態による磁気記録媒体を概略的に示す図面である。
【図９】図８のＲ４領域を拡大して示す部分断面斜視図である。
【図１０】磁気ヘッドの空気軸受面側の構造を概略的に示す図面である。
【図１１】磁気ヘッドのＷＲオフセットを説明するための図面である。
【図１２】磁気ヘッドのＷＲオフセットを説明するための図面である。
【図１３】本発明の一実施形態による磁気記録媒体を採用するＨＤＤのブロック図である。
【図１４】本発明の一実施形態による磁気記録媒体のＷＲオフセット測定方法のフローチャートである。
【符号の説明】
【００５５】
２０ 磁気記録媒体
２２ 離散トラック領域
２２ａ データトラック
２２ｂ 分離領域
２３ 連続領域
２５ 磁気記録層
２９ ディスク基板
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ディスク基板と、
前記ディスク基板の一面または両面に形成される磁気記録層と、を備え、
前記磁気記録層は、パターンされた磁性体で形成されて複数のデータトラックをなす少なくとも一つのパターン領域と、連続的な磁性体で形成される少なくとも一つの連続領域と、を備え、
前記連続領域は、ＷＲオフセットを測定するために使われることを特徴とする磁気記録媒体。
【請求項２】
前記連続領域には、ＷＲオフセットを検出するためのＷＲオフセット測定パターンの少なくとも一部が記録されることを特徴とする請求項１に記載の磁気記録媒体。
【請求項３】
前記連続領域は、少なくとも一つの扇状のセクタ区間に設けられることを特徴とする請求項１または２に記載の磁気記録媒体。
【請求項４】
前記連続領域は、前記データトラックと同心円をなす少なくとも一つの環状の帯領域であることを特徴とする請求項１または２に記載の磁気記録媒体。
【請求項５】
前記連続領域は、少なくとも２トラックピッチの幅を有することを特徴とする請求項４に記載の磁気記録媒体。
【請求項６】
前記連続領域の位置情報は、前記パターン領域内に記録されたことを特徴とする請求項１ないし５のうちいずれか一項に記載の磁気記録媒体。
【請求項７】
前記複数のデータトラックは、前記ディスク基板の直径方向にそのそれぞれが磁気的に隔離され、トラック方向に連続的な磁性体で形成されることを特徴とする請求項１ないし５のうちいずれか一項に記載の磁気記録媒体。
【請求項８】
前記複数のデータトラックそれぞれを磁気的に隔離する分離領域は、空いているか、または非磁性材料で満たされていることを特徴とする請求項７に記載の磁気記録媒体。
【請求項９】
前記複数のデータトラックは、前記ディスク基板の直径方向及びトラック方向に不連続的な磁性体で形成されることを特徴とする請求項１ないし５のうちいずれか一項に記載の磁気記録媒体。
【請求項１０】
前記不連続的な磁性体は、ビット単位であることを特徴とする請求項９に記載の磁気記録媒体。
【請求項１１】
前記不連続的な磁性体それぞれを磁気的に隔離する分離領域は、空いているか、または非磁性材料で満たされていることを特徴とする請求項９または１０に記載の磁気記録媒体。
【請求項１２】
ディスク基板と、前記ディスク基板の一面または両面に形成される磁気記録層と、を備え、前記磁気記録層は、パターンされた磁性体で形成されて複数のデータトラックをなす少なくとも一つのパターン領域と、連続的な磁性体で形成される少なくとも一つの連続領域と、を備える磁気記録媒体と、
前記磁気記録媒体に／からデータを記録／再生する磁気ヘッドと、
前記磁気ヘッドの前記磁気記録媒体に対する位置を制御する制御部と、を備え、
前記制御部は、前記磁気記録媒体の連続領域を利用して前記磁気ヘッドのＷＲオフセットを検出することを特徴とするハードディスクドライブ。
【請求項１３】
前記磁気記録媒体の連続領域には、ＷＲオフセット測定パターンの少なくとも一部が記録されることを特徴とする請求項１２に記載のハードディスクドライブ。
【請求項１４】
前記連続領域は、前記ディスク基板の中心を基準として少なくとも一つのセクタ区間に設けられることを特徴とする請求項１２または１３に記載のハードディスクドライブ。
【請求項１５】
前記連続領域は、前記データトラックと同心円をなす少なくとも一つの環状の帯領域であることを特徴とする請求項１２または１３に記載のハードディスクドライブ。
【請求項１６】
前記連続領域の位置情報は、前記磁気記録媒体内に記録されたことを特徴とする請求項１２ないし１５のうちいずれか一項に記載のハードディスクドライブ。
【請求項１７】
前記磁気記録媒体は、前記複数のデータトラックが前記ディスク基板の直径方向にそのそれぞれが磁気的に隔離され、環状のトラック方向に連続的な磁性体で形成される離散トラック媒体であることを特徴とする請求項１２ないし１６のうちいずれか一項に記載のハードディスクドライブ。
【請求項１８】
前記磁気記録媒体は、前記複数のデータトラックが前記ディスク基板の直径方向及び環状のトラック方向に不連続的な磁性体で形成されるパターン媒体であることを特徴とする請求項１２ないし１６のうちいずれか一項に記載のハードディスクドライブ。
【請求項１９】
パターンされた磁性体で形成されて複数のデータトラックをなす少なくとも一つのパターン領域と、連続的な磁性体で形成される少なくとも一つの連続領域と、を有する磁気記録媒体で磁気ヘッドのＷＲオフセットを測定する方法であって、
前記磁気記録媒体の連続領域にＷＲオフセット測定パターンの少なくとも一部を記録するステップと、
前記ＷＲオフセット測定パターンからＷＲオフセットを測定するステップと、を含むことを特徴とするハードディスクドライブのＷＲオフセット測定方法。
【請求項２０】
前記磁気記録媒体には、前記連続領域の位置情報があらかじめ記録されており、
前記ＷＲオフセット測定パターンを記録するステップは、
前記連続領域の位置情報を参照して、前記連続領域にＷＲオフセット測定パターンを記録することを特徴とする請求項１９に記載のハードディスクドライブのＷＲオフセット測定方法。
【請求項２１】
前記ＷＲオフセット測定パターンを記録するステップは、
前記パターン領域と前記連続領域との信号特性差を利用して前記連続領域の位置を決定し、前記決定された連続領域の位置を参照して前記連続領域にＷＲオフセット測定パターンを記録することを特徴とする請求項１９に記載のハードディスクドライブのＷＲオフセット測定方法。
【請求項２２】
前記測定されたＷＲオフセットを利用して磁気ヘッドの位置を補正するステップをさらに含むことを特徴とする請求項１９ないし２１のうちいずれか一項に記載のハードディスクドライブのＷＲオフセット測定方法。
【請求項２３】
前記磁気記録媒体は、前記複数のデータトラックが前記ディスク基板の直径方向にそのそれぞれが磁気的に隔離され、環状のトラック方向に連続的な磁性体で形成される離散トラック媒体であることを特徴とする請求項１９ないし２１のうちいずれか一項に記載のハードディスクドライブのＷＲオフセット測定方法。
【請求項２４】
前記磁気記録媒体は、前記複数のデータトラックが前記ディスク基板の直径方向及び環状のトラック方向に不連続的な磁性体で形成されるパターン媒体であることを特徴とする請求項１９ないし２１のうちいずれか一項に記載のハードディスクドライブのＷＲオフセット測定方法。
【請求項１】
ディスク基板と、
前記ディスク基板の一面または両面に形成される磁気記録層と、を備え、
前記磁気記録層は、パターンされた磁性体で形成されて複数のデータトラックをなす少なくとも一つのパターン領域と、連続的な磁性体で形成される少なくとも一つの連続領域と、を備え、
前記連続領域は、ＷＲオフセットを測定するために使われることを特徴とする磁気記録媒体。
【請求項２】
前記連続領域には、ＷＲオフセットを検出するためのＷＲオフセット測定パターンの少なくとも一部が記録されることを特徴とする請求項１に記載の磁気記録媒体。
【請求項３】
前記連続領域は、少なくとも一つの扇状のセクタ区間に設けられることを特徴とする請求項１または２に記載の磁気記録媒体。
【請求項４】
前記連続領域は、前記データトラックと同心円をなす少なくとも一つの環状の帯領域であることを特徴とする請求項１または２に記載の磁気記録媒体。
【請求項５】
前記連続領域は、少なくとも２トラックピッチの幅を有することを特徴とする請求項４に記載の磁気記録媒体。
【請求項６】
前記連続領域の位置情報は、前記パターン領域内に記録されたことを特徴とする請求項１ないし５のうちいずれか一項に記載の磁気記録媒体。
【請求項７】
前記複数のデータトラックは、前記ディスク基板の直径方向にそのそれぞれが磁気的に隔離され、トラック方向に連続的な磁性体で形成されることを特徴とする請求項１ないし５のうちいずれか一項に記載の磁気記録媒体。
【請求項８】
前記複数のデータトラックそれぞれを磁気的に隔離する分離領域は、空いているか、または非磁性材料で満たされていることを特徴とする請求項７に記載の磁気記録媒体。
【請求項９】
前記複数のデータトラックは、前記ディスク基板の直径方向及びトラック方向に不連続的な磁性体で形成されることを特徴とする請求項１ないし５のうちいずれか一項に記載の磁気記録媒体。
【請求項１０】
前記不連続的な磁性体は、ビット単位であることを特徴とする請求項９に記載の磁気記録媒体。
【請求項１１】
前記不連続的な磁性体それぞれを磁気的に隔離する分離領域は、空いているか、または非磁性材料で満たされていることを特徴とする請求項９または１０に記載の磁気記録媒体。
【請求項１２】
ディスク基板と、前記ディスク基板の一面または両面に形成される磁気記録層と、を備え、前記磁気記録層は、パターンされた磁性体で形成されて複数のデータトラックをなす少なくとも一つのパターン領域と、連続的な磁性体で形成される少なくとも一つの連続領域と、を備える磁気記録媒体と、
前記磁気記録媒体に／からデータを記録／再生する磁気ヘッドと、
前記磁気ヘッドの前記磁気記録媒体に対する位置を制御する制御部と、を備え、
前記制御部は、前記磁気記録媒体の連続領域を利用して前記磁気ヘッドのＷＲオフセットを検出することを特徴とするハードディスクドライブ。
【請求項１３】
前記磁気記録媒体の連続領域には、ＷＲオフセット測定パターンの少なくとも一部が記録されることを特徴とする請求項１２に記載のハードディスクドライブ。
【請求項１４】
前記連続領域は、前記ディスク基板の中心を基準として少なくとも一つのセクタ区間に設けられることを特徴とする請求項１２または１３に記載のハードディスクドライブ。
【請求項１５】
前記連続領域は、前記データトラックと同心円をなす少なくとも一つの環状の帯領域であることを特徴とする請求項１２または１３に記載のハードディスクドライブ。
【請求項１６】
前記連続領域の位置情報は、前記磁気記録媒体内に記録されたことを特徴とする請求項１２ないし１５のうちいずれか一項に記載のハードディスクドライブ。
【請求項１７】
前記磁気記録媒体は、前記複数のデータトラックが前記ディスク基板の直径方向にそのそれぞれが磁気的に隔離され、環状のトラック方向に連続的な磁性体で形成される離散トラック媒体であることを特徴とする請求項１２ないし１６のうちいずれか一項に記載のハードディスクドライブ。
【請求項１８】
前記磁気記録媒体は、前記複数のデータトラックが前記ディスク基板の直径方向及び環状のトラック方向に不連続的な磁性体で形成されるパターン媒体であることを特徴とする請求項１２ないし１６のうちいずれか一項に記載のハードディスクドライブ。
【請求項１９】
パターンされた磁性体で形成されて複数のデータトラックをなす少なくとも一つのパターン領域と、連続的な磁性体で形成される少なくとも一つの連続領域と、を有する磁気記録媒体で磁気ヘッドのＷＲオフセットを測定する方法であって、
前記磁気記録媒体の連続領域にＷＲオフセット測定パターンの少なくとも一部を記録するステップと、
前記ＷＲオフセット測定パターンからＷＲオフセットを測定するステップと、を含むことを特徴とするハードディスクドライブのＷＲオフセット測定方法。
【請求項２０】
前記磁気記録媒体には、前記連続領域の位置情報があらかじめ記録されており、
前記ＷＲオフセット測定パターンを記録するステップは、
前記連続領域の位置情報を参照して、前記連続領域にＷＲオフセット測定パターンを記録することを特徴とする請求項１９に記載のハードディスクドライブのＷＲオフセット測定方法。
【請求項２１】
前記ＷＲオフセット測定パターンを記録するステップは、
前記パターン領域と前記連続領域との信号特性差を利用して前記連続領域の位置を決定し、前記決定された連続領域の位置を参照して前記連続領域にＷＲオフセット測定パターンを記録することを特徴とする請求項１９に記載のハードディスクドライブのＷＲオフセット測定方法。
【請求項２２】
前記測定されたＷＲオフセットを利用して磁気ヘッドの位置を補正するステップをさらに含むことを特徴とする請求項１９ないし２１のうちいずれか一項に記載のハードディスクドライブのＷＲオフセット測定方法。
【請求項２３】
前記磁気記録媒体は、前記複数のデータトラックが前記ディスク基板の直径方向にそのそれぞれが磁気的に隔離され、環状のトラック方向に連続的な磁性体で形成される離散トラック媒体であることを特徴とする請求項１９ないし２１のうちいずれか一項に記載のハードディスクドライブのＷＲオフセット測定方法。
【請求項２４】
前記磁気記録媒体は、前記複数のデータトラックが前記ディスク基板の直径方向及び環状のトラック方向に不連続的な磁性体で形成されるパターン媒体であることを特徴とする請求項１９ないし２１のうちいずれか一項に記載のハードディスクドライブのＷＲオフセット測定方法。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【公開番号】特開２００９−１６０３２（Ｐ２００９−１６０３２Ａ）
【公開日】平成２１年１月２２日（２００９．１．２２）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００８−１７４９４４（Ｐ２００８−１７４９４４）
【出願日】平成２０年７月３日（２００８．７．３）
【出願人】（３９００１９８３９）三星電子株式会社 (8,520)
【氏名又は名称原語表記】ＳＡＭＳＵＮＧ ＥＬＥＣＴＲＯＮＩＣＳ ＣＯ．，ＬＴＤ．
【住所又は居所原語表記】４１６，Ｍａｅｔａｎ−ｄｏｎｇ，Ｙｅｏｎｇｔｏｎｇ−ｇｕ，Ｓｕｗｏｎ−ｓｉ，Ｇｙｅｏｎｇｇｉ−ｄｏ ４４２−７４２（ＫＲ）
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２１年１月２２日（２００９．１．２２）
【国際特許分類】
【出願日】平成２０年７月３日（２００８．７．３）
【出願人】（３９００１９８３９）三星電子株式会社 (8,520)
【氏名又は名称原語表記】ＳＡＭＳＵＮＧ ＥＬＥＣＴＲＯＮＩＣＳ ＣＯ．，ＬＴＤ．
【住所又は居所原語表記】４１６，Ｍａｅｔａｎ−ｄｏｎｇ，Ｙｅｏｎｇｔｏｎｇ−ｇｕ，Ｓｕｗｏｎ−ｓｉ，Ｇｙｅｏｎｇｇｉ−ｄｏ ４４２−７４２（ＫＲ）
【Ｆターム（参考）】
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