説明

絶縁劣化診断方法および絶縁劣化診断装置

【課題】目視点検から絶縁劣化の進行度合いを推定し、絶縁破壊を未然に防ぐ絶縁劣化診
断方法を提供する。
【解決手段】複数の絶縁物の表面状態を調べる目視点検工程(st1)と、この点検の中
から色褪せた絶縁物を選ぶ色褪せ品選別工程(st2)と、色褪せた絶縁物の光沢度、接
触角、色相の中から選ばれる色褪せ度を測定する色褪せ度測定工程(st3)と、色褪せ
度を予めデータベース化した特性式に乗せ表面絶縁抵抗を算出する表面状態判定工程(s
t4〜st6)とを備え、絶縁劣化を診断する。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明の実施形態は、電気機器に使用されている絶縁材料の経年変化を診断する絶縁劣
化診断方法および絶縁劣化診断装置に関する。
【背景技術】
【0002】
従来、電気機器に数多く使用されているエポキシ樹脂、ポリエステル樹脂などの絶縁材
料で製造された絶縁物は、長期間の使用によって絶縁特性が低下する。このため、所定期
間毎に保守点検を行い、絶縁抵抗測定、部分放電測定、分解ガス測定などから余寿命を算
出し、絶縁破壊の防止が行われている(例えば、特許文献1参照。)。
【0003】
保守点検において、上述のような特性調査を全ての絶縁物で行うことは多大の時間を要
し、困難なものである。一般的には、絶縁物をサンプリングして特性調査を行い、サンプ
リングされなかったものについては特性が推定される。このため、特性が低下しているの
にも係らずサンプリングされなかった絶縁物については、絶縁破壊の危険に曝されること
になる。
【0004】
一方、保守点検において、目視点検は比較的全ての絶縁物に対して容易に行うことがで
きる。このため、絶縁物表面の色合い、くすみ、輝きなどの色褪せの度合いを目視し、最
も絶縁劣化が進行していると思われるものを選別し、それをサンプリングして特性調査を
行えるものが望まれていた。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0005】
【特許文献1】特開2005−61901号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0006】
本発明が解決しようとする課題は、目視点検から絶縁物表面の色褪せの度合いを判定し
、最も絶縁劣化が進行していると思われるものをサンプリングし、絶縁破壊を未然に防止
することが可能な絶縁材料の絶縁劣化診断方法およびその方法を用いた絶縁劣化診断装置
を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【0007】
上記課題を解決するために、実施形態の絶縁材料の絶縁劣化診断方法は、複数の絶縁物
の表面状態を調べる目視点検工程と、この点検の中から色褪せた絶縁物を選ぶ色褪せ品選
別工程と、前記色褪せた絶縁物の色褪せ度を測定する色褪せ度測定工程と、前記色褪せ度
を予めデータベース化した特性式に乗せ表面絶縁抵抗を算出する表面状態判定工程とを備
えている。
【図面の簡単な説明】
【0008】
【図1】本発明の実施例に係る絶縁材料の絶縁劣化診断方法を示すフロー図。
【図2】本発明の実施例に係る表面絶縁抵抗の測定方法を示す図。
【図3】本発明の実施例に係る測定項目と測定値の関係を示す図。
【発明を実施するための形態】
【0009】
以下、図面を参照して本発明の実施例を説明する。
【実施例】
【0010】
本発明の実施例に係る絶縁劣化診断方法を図1〜図3を参照して説明する。図1は、本
発明の実施例に係る絶縁材料の絶縁劣化診断方法を示すフロー図、図2は、本発明の実施
例に係る表面絶縁抵抗の測定方法を示す図、図3は、本発明の実施例に係る測定項目と測
定値の関係を示す図である。
【0011】
図1に示すように、絶縁劣化診断においては、先ず、電気室や電気機器などに用いられ
ている複数の絶縁物の表面状態を目視点検する(目視点検工程)(st1)。目視点検の
中から、色褪せたもの、くすんだものなどを選別する(色褪せ品選別工程)(st2)。
次に、最も色褪せた絶縁物の色褪せ度を測定する(色褪せ度測定工程)(st3)。ここ
で、色褪せ度とは、後述する光沢度、接触角、色相の測定値を言う。色褪せ度が所定値に
達していれば(st4)、絶縁劣化と判定する(st5)。所定値に達していなければ(
st4)、データベース化した特性式に乗せ、余寿命を推定する(st6)。st4〜s
t6が当該絶縁物の表面状態判定工程となる。
【0012】
このような診断方法を、ポリエステル樹脂で製造した真空開閉器の絶縁物を用いて説明
する。
【0013】
図2に示すように、先ず、三相一体の絶縁バリア1の表面絶縁抵抗を測定する。所定の
表面に、長さ50mmの銅テープ電極2を間隔10mmで貼り、1kV印加し、1分間経
過時の値を絶縁抵抗計3で測定した。測定環境は、常温、常湿とする。
【0014】
次に、表面絶縁抵抗の測定個所と同一表面の光沢度を測定する。光沢度は、JISZ8
741に準じ、入射角60°で測定した。測定器は、日本電色工業社製で携帯型の光沢度
計PG−IIを用いた。
【0015】
次に、光沢度と同様に、表面絶縁抵抗の測定個所と同一表面の接触角を測定する。4m
Lの純水を注射器で滴下して横方向から写真撮影をし、絶縁材料の表面と水滴の端部から
の接線の角度を読み取った。
【0016】
次に、光沢度と同様に、表面絶縁抵抗の測定個所と同一表面の色相を測定する。色相は
、JISZ8701に準じ、白から黒の程度を示す明度L*を測定した。測定器は、日本
電色工業社製の携帯型の色差計NF333を用いた。
【0017】
これらの結果を図3に示す。新品、国内A地区で22年間使用された劣化品1、国内B
地区で28年間使用された劣化品2について、それぞれ3〜5個所測定し、その平均値を
求めた。ここで、劣化品2のように表面絶縁抵抗が10Ωまで低下すると、絶縁劣化が
急速に進行するので、絶縁破壊の閾値とした。
【0018】
これより、新品では表面絶縁抵抗が1014Ωあるものの、絶縁劣化が進行すると低下
する傾向にある。そして、表面絶縁抵抗が低下すると、光沢度は急激に低下し、接触角と
色相は微増する。表面絶縁抵抗が1桁変化するときの各測定項目の変化率を求めると、光
沢度では19.2%、接触角では3.5%、色相では1.7%であった。このため、色褪
せ度としては、光沢度が最も大きく反応し測定し易いものとなる。
【0019】
光沢度は、2.6以下で表面絶縁抵抗が閾値を下回って絶縁劣化と判定でき、2.6超
過ではデータベース化した特性式から余寿命を算出することになる。なお、光沢度は、絶
縁材料の種類、測定光の入射角などの測定方法により異なってくるので、条件毎の光沢度
と表面絶縁抵抗の関係を求めておき、データベース装置に保存しておくものとする。
【0020】
また、接触角、色相の特性も特性式を求めておくことにより、表面絶縁抵抗を求めるこ
とができ、余寿命を算出することができる。なお、表面絶縁抵抗の測定は温度、湿度など
の環境に左右され易いが、光沢度を含めた接触角、色相は比較的左右され難く、測定が容
易である。これら光沢度、接触角、色相は、色褪せ度を数値化するために選んだものであ
る。
【0021】
絶縁物の色合い、くすみなどは、目視点検によって容易に選別することができ、この中
から最も色褪せたもの、即ち、最も絶縁劣化が進行したものを見つけることも容易である
。これをサンプリングし、光沢度を求めることにより、表面絶縁抵抗を把握することがで
きる。
【0022】
上記実施例の絶縁劣化診断方法によれば、目視点検により、絶縁劣化の進行度合いを容
易に把握することができ、色褪せ度の測定から表面絶縁抵抗を求めることができ、絶縁破
壊を未然に防ぐことができる。
【0023】
なお、本発明は、上記実施例に限定されるものではなく、発明の要旨を逸脱しない範囲
で、種々変形して実施することができる。上記実施例では、絶縁材料をポリエステル樹脂
で説明したが、エポキシ樹脂で製造された碍子や、フェノール樹脂で製造されたブッシン
グなどにおいても、目視点検により、絶縁劣化を診断することができる。
【0024】
本発明の実施形態を説明したが、この実施形態は、例として提示したものであり、発明
の範囲を限定することは意図していない。この新規な実施形態は、その他の様々な形態で
実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、
変更を行うことができる。この実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとと
もに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。
【符号の説明】
【0025】
1 絶縁バリア
2 銅テープ電極
3 絶縁抵抗計

【特許請求の範囲】
【請求項1】
複数の絶縁物の表面状態を調べる目視点検工程と、
この点検の中から色褪せた絶縁物を選ぶ色褪せ品選別工程と、
前記色褪せた絶縁物の色褪せ度を測定する色褪せ度測定工程と、
前記色褪せ度を予めデータベース化した特性式に乗せ表面絶縁抵抗を算出する表面状態判
定工程と、
を備えた絶縁劣化を診断する絶縁劣化診断方法。
【請求項2】
前記色褪せ度は、光沢度である請求項1に記載の絶縁劣化診断方法。
【請求項3】
前記絶縁物をポリエステル樹脂で製造し、前記光沢度の測定で入射角を60°とし、光
沢度が2.6以下のとき、絶縁劣化と判定する請求項2に記載の絶縁劣化診断方法。
【請求項4】
絶縁物表面の光沢度を測定する光沢度計と、
前記光沢度と表面絶縁抵抗との関係を保存したデータベース装置とを備え、
前記光沢度計で測定した光沢度から表面絶縁抵抗を算出し、絶縁劣化を診断する絶縁劣化
診断装置。

【図1】
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【図2】
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【図3】
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【公開番号】特開2012−202695(P2012−202695A)
【公開日】平成24年10月22日(2012.10.22)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2011−64478(P2011−64478)
【出願日】平成23年3月23日(2011.3.23)
【出願人】(000003078)株式会社東芝 (54,554)
【Fターム(参考)】