説明

被測定物特性測定装置

【課題】弾性表面波センサを備えた被測定物特性測定装置において、適正な発振を確保しつつ、測定感度・精度を高める。
【解決手段】発振器21からの基準周波数に基づいて、所定周波数の第1の出力信号S1を出力するシンセサイザ2と、第1の出力信号S1を受信し、被測定物の特性に応じた第2の出力信号S2を出力する弾性表面波センサ3と、第1の出力信号S1と第2の出力信号S2との位相差を検出する第1の位相比較器4と、第1の位相比較器4によって検出された位相差に基づいて、シンセサイザ2の基準周波数を制御する第1のループフィルタ5と、シンセサイザ2から出力される第1の出力信号S1の周波数変化を検出する周波数カウンタ6と、を備える。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
この発明は、弾性表面波(SAW:Surface Acoustic Wave)センサを備え、例えば、液体の粘性度や導電率などの特性を測定する被測定物特性測定装置に関する。
【背景技術】
【0002】
この種の被測定物特性測定装置として、従来、発振回路からの基準波(送信信号)と、弾性表面波センサを経由・通過した反射波(受信信号)との位相差を検出するものが知られている(例えば、特許文献1等参照。)。すなわち、図3に示すように、発振回路101からの送信信号を、分配器102を介して弾性表面波センサ103と位相比較器104とに伝送し、弾性表面波センサ103に伝送された送信信号を、弾性表面波センサ103を通過することで受信信号として位相比較器104に伝送する。そして、位相比較器104において、送信信号と受信信号との位相を比較し、その位相差を電圧に変換して出力するものである。
【0003】
また、発振器内の共振器に直接溶液を滴下し、周波数の変化を測定パラメータとする方法が知られている。すなわち、図4に示すように、弾性表面波センサ111に発振回路112が組み込まれ、発振回路112内に直接溶液を滴下し、滴下前後の周波数変化を周波数カウンタ113で測定するものである。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0004】
【特許文献1】特開2008−204234号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
ところで、上記のように位相差を検出する装置では、位相比較器(位相検出器)の分解能が一般に0.5°程度であるため、測定感度・精度が低い、という問題がある。すなわち、180°の移動変化を1.8Vに変換し、電圧測定の分解能を約5mVとした場合、位相比較器の測定分解能が2777ppmと小さく、測定感度・精度に限界がある。
【0006】
また、発振器内に直接溶液を滴下する方法では、粘性が高い溶液を滴下した場合に、発振強度が低下し、発振停止に至る場合がある。しかも、温度変化によって発振周波数が変動するため、溶液自体の変化と温度特性変化とを分離する必要があり、そのために、REF用(比較・参照用)の発振器を設けなければならない。
【0007】
さらに、測定感度・精度を上げるために、圧電基板上に入力用の櫛形電極と出力用の櫛形電極とを所定の間隔をあけて配置したトランスバーサルタイプの弾性表面波センサを使用し、伝搬距離を長くする方法も考えられるが、発振条件を満たす周波数が複数発生し、異常発振を招いてしまう。
【0008】
そこでこの発明は、適正な発振を確保しつつ、測定感度・精度を高めることができる被測定物特性測定装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0009】
上記目的を達成するために請求項1に記載の発明は、発振器からの基準周波数に基づいて、所定周波数の第1の出力信号を出力するシンセサイザと、前記第1の出力信号を受信し、被測定物の特性に応じた第2の出力信号を出力する弾性表面波センサと、前記第1の出力信号と第2の出力信号とを受信して、前記第1の出力信号と第2の出力信号との位相差を検出する位相比較手段と、前記位相比較手段によって検出された位相差に基づいて、前記シンセサイザの基準周波数を制御する制御手段と、前記シンセサイザから出力される前記第1の出力信号の周波数変化を検出する周波数変化検出手段と、を備えることを特徴とする被測定物特性測定装置である。
【0010】
この発明によれば、基準周波数に基づく所定周波数の第1の出力信号が、シンセサイザから出力され、弾性表面波センサにおいて、第1の出力信号が被測定物の特性に応じた第2の出力信号として出力される。次に、位相比較手段によって、第1の出力信号と第2の出力信号との位相差が検出され、この位相差に基づいて、制御手段によってシンセサイザの基準周波数が制御される。これにより、シンセサイザから出力される第1の出力信号の周波数が変化し、この変化が周波数変化検出手段によって検出される。
【0011】
請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の被測定物特性測定装置において、前記弾性表面波センサに送信される前記第1の出力信号を所定波形のバースト波に変換するバースト変換手段を備え、前記制御手段は、前記位相比較手段によって検出された位相差パルスのうち主応答信号成分のみを計測し、主応答信号成分が現れていない期間には主応答信号成分の値を保持して、前記主応答信号成分に基づいて前記基準周波数を制御する、ことを特徴とする。
【0012】
この発明によれば、バースト変換手段によって、第1の出力信号がバースト波に変換されて弾性表面波センサに送信され、弾性表面波センサを経て出力される第2の出力信号も、バースト波(パルス信号)として位相比較手段に入力される。そして、制御手段において、位相比較手段からの位相差パルスのうち、主応答信号成分のみが計測され、主応答信号成分が現れていない期間には主応答信号成分の値が保持されて、主応答信号成分に基づいて基準周波数が制御される。
【発明の効果】
【0013】
請求項1に記載の発明によれば、シンセサイザからの第1の出力信号と、弾性表面波センサを経た第2の出力信号との位相差に基づいて、シンセサイザから出力される第1の出力信号の周波数が変化し、この変化が周波数変化検出手段によって検出される。つまり、弾性表面波センサによる測定結果が、周波数変化として検出、出力されるため、測定分解能が高く、測定感度・精度を高めることができる。しかも、シンセサイザから第1の出力信号を発振、出力するため、発振停止や異常発振などを生じることがなく、適正な発振を確保することができる。
【0014】
請求項2に記載の発明によれば、直接波(直達波)と希望波(主応答信号)とを分離するために、第1の出力信号をバースト波に変換しても、制御手段において、主応答信号成分に基づいた基準周波数の制御が連続的・継続的に行われる。このため、シンセサイザから常に適正に、所定周波数の第1の出力信号を出力することができる。
【図面の簡単な説明】
【0015】
【図1】この発明の実施の形態1に係る被測定物特性測定装置を示す構成ブロック図である。
【図2】この発明の実施の形態2に係る被測定物特性測定装置を示す構成ブロック図である。
【図3】弾性表面波センサを備えた従来の被測定物特性測定装置を示す構成ブロック図である。
【図4】弾性表面波センサを備えた従来の別の被測定物特性測定装置を示す構成ブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【0016】
以下、この発明を図示の実施の形態に基づいて説明する。
【0017】
(実施の形態1)
図1は、この実施の形態に係る被測定物特性測定装置1を示す構成ブロック図である。この被測定物特性測定装置1は、弾性表面波センサ3を備え、液体の粘性度や導電率などの特性を測定する装置であり、主として、シンセサイザ2と、弾性表面波センサ3と、第1の位相比較器(位相比較手段)4と、第1のループフィルタ(制御手段)5と、周波数カウンタ(周波数変化検出手段)6とを備えている。
【0018】
シンセサイザ2は、水晶発振器(TCXO、発振器)21からの基準周波数に基づいて、所定周波数の第1の出力信号S1を出力するPLL(Phase Locked Loop、位相同期)シンセサイザである。具体的には、水晶発振器21で生成された基準周波数信号を第2の位相比較器(PD:Phase Comparator)22に入力するとともに、電圧制御発振器(VCO:Voltage Controlled Oscillator)23で生成された信号を、分周器24で所定の分周数倍の出力周波数信号に分周・生成して、第2の位相比較器22に入力する。
【0019】
次に、第2の位相比較器22において、水晶発振器21からの基準周波数信号と、分周器24からの出力周波数信号とを比較し、出力周波数信号の位相が基準周波数信号の位相よりも進んでいる場合には、H信号(充電電流の吐き出し)を第2のループフィルタ25に伝送する。一方、出力周波数信号の位相が基準周波数信号の位相よりも遅れている場合には、L信号(放電電流の吸い込み)を第2のループフィルタ25に伝送する。
【0020】
続いて、第2のループフィルタ25は、第2の位相比較器22による電流を積分して電圧信号に変換するとともに、平滑化処理を施して制御電圧を生成する。そして、電圧制御発振器23は、第2のループフィルタ25からの制御電圧に応じた周波数信号、つまり第1の出力信号S1を発振、出力する。と同時に、電圧制御発振器23からの周波数信号が、上記のように分周器24に入力される。
【0021】
このようにして、電圧制御発振器23からの第1の出力信号S1の位相が、水晶発振器21からの基準周波数信号の位相と一致するように制御電圧を増減させて、電圧制御発振器23からの発振周波数を調整する。これにより、電圧制御発振器23からの第1の出力信号S1が、基準周波数信号の位相と一致(近接)するとともに、基準周波数信号の分周数倍の周波数となるものである。また、水晶発振器21の制御電圧入力端子には、第1のループフィルタ5の出力側が接続され、後述するようにして、第1のループフィルタ5からの制御電圧に応じて、水晶発振器21からの基準信号の周波数(基準周波数)が変わるようになっている。
【0022】
弾性表面波センサ3は、分配器7を介して、シンセサイザ2からの第1の出力信号S1を受信し、被測定物の特性に応じた第2の出力信号S2を出力するセンサである。すなわち、第1の出力信号S1が弾性表面波センサ3に入力されると、被測定物の特性に応じて位相が変動し、第2の出力信号S2として出力されるものである。
【0023】
第1の位相比較器4は、第1の出力信号S1と第2の出力信号S2とを受信して、第1の出力信号S1と第2の出力信号S2との位相差を検出、出力するものであり、チャージポンプの機能をも備えている。すなわち、第1の出力信号S1と第2の出力信号S2とを比較し、第2の出力信号S2の位相が第1の出力信号S1の位相よりも進んでいる場合には、H信号を第1のループフィルタ5に伝送する(第1のループフィルタ5に所定の充電電流を吐き出す。)。一方、第2の出力信号S2の位相が第1の出力信号S1の位相よりも遅れている場合には、L信号を第1のループフィルタ5に伝送する(第1のループフィルタ5から所定の放電電流を吸い込む。)。
【0024】
第1のループフィルタ5は、第1の位相比較器4によって検出された位相差に基づいて、シンセサイザ2の基準周波数を制御するものである。すなわち、シンセサイザ2の水晶発振器21の制御電圧入力端子に接続され、第1の位相比較器4による電流を積分して電圧信号に変換するとともに、平滑化処理を施して制御電圧を生成する。そして、この制御電圧を水晶発振器21の制御電圧入力端子に入力することで、制御電圧に応じて水晶発振器21からの基準信号の周波数が変わる。
【0025】
周波数カウンタ6は、シンセサイザ2から出力される第1の出力信号S1の周波数変化量を検出・カウントするカウンタである。すなわち、上記のように、第1のループフィルタ5からの制御電圧に基づいて、水晶発振器21からの基準周波数が変わり、これに伴ってシンセサイザ2から出力される第1の出力信号S1の周波数が変化するため、この変化量を検出する。そして、この検出された変化量が、第1の位相比較器4で検出された位相差、すなわち弾性表面波センサ3による測定結果に相当するものである。
【0026】
次に、このような構成の被測定物特性測定装置1の作用などについて説明する。ここで、弾性表面波センサ3は、被測定物の環境下に配置されたり、被測定物に接触されたりして、被測定物の特性を測定可能な状態にあるものとする。
【0027】
まず、シンセサイザ2において、上記のような位相同期ループ処理により、水晶発振器21からの基準周波数信号の位相と一致し、かつ基準周波数に基づく所定の周波数の第1の出力信号S1が、シンセサイザ2から生成、出力される。この第1の出力信号S1は、分配器7を介して、弾性表面波センサ3と第1の位相比較器4とに入力されるとともに、周波数カウンタ6に入力される(このときの信号S1を「信号S1−1」と称する。)。
【0028】
次に、弾性表面波センサ3に入力された第1の出力信号S1の位相が、被測定物の特性に応じて変動し、第2の出力信号S2として弾性表面波センサ3から出力され、第1の位相比較器4に入力される。続いて、第1の位相比較器4において、第1の出力信号S1と第2の出力信号S2との位相差が検出され、その位相差に基づいて、上記のようなH信号やL信号が第1のループフィルタ5に入力される。
【0029】
そして、第1のループフィルタ5において、上記のようにして位相差に基づく制御電圧が生成され、水晶発振器21の制御電圧入力端子に入力される。これにより、制御電圧に応じて水晶発振器21からの基準周波数が変わり、これに伴ってシンセサイザ2から出力される第1の出力信号S1の周波数が変化する(このときの信号S1を「信号S1−2」と称する。)。
【0030】
この第1の出力信号S1−2は、上記と同様にして、弾性表面波センサ3と第1の位相比較器4とに入力されるとともに、周波数カウンタ6に入力され、周波数カウンタ6において、第1の出力信号S1の周波数変化、つまり信号S1−1から信号S1−2への周波数の変化量が検出・カウントされる。そして、このようなループ処理を繰り返すことで、第1の出力信号S1が所定の周波数に収束する(このときの信号S1を「信号S1−3」と称する。)。その結果として、第1の出力信号S1の最終的な周波数変化、つまり信号S1−1から信号S1−3への周波数変化が周波数カウンタ6で検出され、弾性表面波センサ3による測定結果が、周波数変化として得られるものである。
【0031】
以上のように、この被測定物特性測定装置1によれば、弾性表面波センサ3による測定結果が、周波数変化として検出、出力されるため、測定分解能が高く、測定感度・精度を高めることができる。すなわち、180°の位相変化を0.4MHzの周波数変化に変換し、周波数測定の分解能を1Hzとした場合、測定分解能が2.5ppmと大きく、電圧に変換する従来の場合(測定分解能が2777ppm)に比べて、1000倍以上の測定感度・精度を得ることが可能となる。
【0032】
しかも、シンセサイザ2から第1の出力信号S1を発振、出力するため、発振停止や異常発振などを生じることがなく、適正な発振を確保することができる。つまり、適正な発振を確保しつつ、測定感度・精度を高めることができる。
【0033】
(実施の形態2)
図2は、この実施の形態に係る被測定物特性測定装置10を示す構成ブロック図である。この実施の形態では、出力信号の直接波と希望波とを分離する点で実施の形態1と構成が異なり、実施の形態1と同等の構成については、同一符号を付することで、その説明を省略する。
【0034】
この実施の形態では、バースト回路(バースト変換手段)81と、タイミング発生回路(バースト変換手段)82と、サンプルホールド回路(制御手段)83とを備えている。
【0035】
バースト回路81とタイミング発生回路82とは、弾性表面波センサ3に送信される第1の出力信号S1を所定波形のバースト波に変換する回路である。すなわち、バースト回路81は、分配器7と弾性表面波センサ3との間に配置されたパルス発生回路であり、タイミング発生回路82は、所定の周期信号を発振する回路である。そして、バースト回路81が、シンセサイザ2(分配器7)からの第1の出力信号S1を、タイミング発生回路82からのタイミング(周期信号)に基づいて、バースト波(パルス信号)に変換、生成して、弾性表面波センサ3に入力するものである。
【0036】
サンプルホールド回路83は、第1の位相比較器4によって検出された位相差パルスのうち主応答信号成分のみを計測し、主応答信号成分が現れていない期間には主応答信号成分の値を保持して、主応答信号成分に基づいて基準周波数を制御する回路である。具体的には、サンプリング対象となる入力信号を受ける第1のオペアンプと、タイミング発生回路82からのタイミング(周期信号)に基づいて第1のオペアンプの出力信号を通過させるスイッチと、第1のオペアンプの出力信号に応じた電荷を蓄積するコンデンサと、コンデンサに蓄積された電荷による電圧をホールド信号として出力する第2のオペアンプとを備えている。
【0037】
そして、スイッチは、タイミング発生回路82からの周期信号がハイレベルのときに、第1のオペアンプの出力信号を第2のオペアンプに出力するとともに、第1のオペアンプの出力信号に応じた電荷をコンデンサに蓄積させる。また、スイッチは、タイミング発生回路82からの周期信号がローレベルのときには、第1のオペアンプの出力信号を第2のオペアンプに出力させずに、コンデンサに蓄積された電荷による電圧を第2のオペアンプから出力させる。
【0038】
このように、サンプルホールド回路83は、タイミング発生回路82からの周期信号がハイレベル(希望波)のときに、第1の位相比較器4からの出力信号を出力するとともに、出力信号に応じた電荷をコンデンサに蓄積する。一方、タイミング発生回路82からの周期信号がローレベル(直接波)のときには、コンデンサに蓄積された電荷による電圧を出力するものである。
【0039】
このような構成の被測定物特性測定装置10によれば、まず、実施の形態1と同等に、基準周波数に基づく所定周波数の第1の出力信号S1が、シンセサイザ2から生成、出力される。この第1の出力信号S1は、そのまま第1の位相比較器4と周波数カウンタ6とに入力されるとともに、バースト回路81を介してバースト波に変換されて、弾性表面波センサ3に入力される。
【0040】
次に、弾性表面波センサ3からの第2の出力信号S2が第1の位相比較器4に入力され、第1の位相比較器4において、第1の出力信号S1と第2の出力信号S2との位相差が検出され、その検出結果がパルス信号(位相差パルス)としてサンプルホールド回路83に入力される。
【0041】
そして、サンプルホールド回路83から水晶発振器21に対して、上記のようにして、第1の位相比較器4からの出力信号や、コンデンサに蓄積された電荷による電圧、に基づく制御電圧が入力される。これにより、水晶発振器21からの基準周波数、さらには、シンセサイザ2から出力される第1の出力信号S1の周波数が変化し、実施の形態1と同等に、周波数カウンタ6によってその周波数変化量が検出・カウントされるものである。
【0042】
以上のように、この実施の形態によれば、直接波(直達波)と希望波(主応答信号)とを分離するために、第1の出力信号S1をバースト波に変換しても、サンプルホールド回路83から水晶発振器21に制御電圧が連続的・継続的に入力され、基準周波数の制御が行われる。このため、シンセサイザ2から常に(連続的に)適正に、所定周波数の第1の出力信号S1を出力することができる。
【0043】
以上、この発明の実施の形態について説明したが、具体的な構成は、上記の実施の形態に限られるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲の設計の変更等があっても、この発明に含まれる。例えば、上記の実施の形態では、第1の位相比較器4から第1のループフィルタ5にH信号やL信号を伝送しているが、検出信号を直接第1のループフィルタ5に送るようにしてもよい。
【符号の説明】
【0044】
1、10 被測定物特性測定装置
2 シンセサイザ
21 水晶発振器(発振器)
22 第2の位相比較器
23 電圧制御発振器
24 分周器
25 第2のループフィルタ
3 弾性表面波センサ
4 第1の位相比較器(位相比較手段)
5 第1のループフィルタ(制御手段)
6 周波数カウンタ(周波数変化検出手段)
81 バースト回路(バースト変換手段)
82 タイミング発生回路(バースト変換手段)
83 サンプルホールド回路(制御手段)
S1 第1の出力信号
S2 第2の出力信号


【特許請求の範囲】
【請求項1】
発振器からの基準周波数に基づいて、所定周波数の第1の出力信号を出力するシンセサイザと、
前記第1の出力信号を受信し、被測定物の特性に応じた第2の出力信号を出力する弾性表面波センサと、
前記第1の出力信号と第2の出力信号とを受信して、前記第1の出力信号と第2の出力信号との位相差を検出する位相比較手段と、
前記位相比較手段によって検出された位相差に基づいて、前記シンセサイザの基準周波数を制御する制御手段と、
前記シンセサイザから出力される前記第1の出力信号の周波数変化を検出する周波数変化検出手段と、
を備えることを特徴とする被測定物特性測定装置。
【請求項2】
前記弾性表面波センサに送信される前記第1の出力信号を所定波形のバースト波に変換するバースト変換手段を備え、
前記制御手段は、前記位相比較手段によって検出された位相差パルスのうち主応答信号成分のみを計測し、主応答信号成分が現れていない期間には主応答信号成分の値を保持して、前記主応答信号成分に基づいて前記基準周波数を制御する、
ことを特徴とする請求項1に記載の被測定物特性測定装置。


【図1】
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【図2】
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【図3】
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【図4】
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