遅延干渉計
【課題】 遅延干渉計内部の各出力ポートまでの光路長差を容易に補正可能な遅延干渉計を実現する。
【解決手段】 パッケージ内にマイケルソン型遅延干渉計ユニットを実装する遅延干渉計において、
入力ポートを介して入力される入力光を、光路長差を持つ分岐部を介してＡ，Ｂ２チャンネルに分岐した入力光を光学処理したＡチャンネル第１干渉出力光を、Ａチャンネル第１出力ポート及びＡチャンネル第２出力ポートより出力させると共に、Ｂチャンネル第１干渉出力光をＢチャンネル第１出力ポート及びにＢチャンネル第２出力ポートより出力させるマイケルソン型遅延干渉計ユニットと、
前記Ａチャンネル干渉出力光または前記Ｂチャンネル干渉出力光の一方と前記Ａチャンネル第１出力ポートまたは前記Ｂチャンネル第１出力ポートとの間に介在した第１光路長補償部材と、
を備える。
【解決手段】 パッケージ内にマイケルソン型遅延干渉計ユニットを実装する遅延干渉計において、
入力ポートを介して入力される入力光を、光路長差を持つ分岐部を介してＡ，Ｂ２チャンネルに分岐した入力光を光学処理したＡチャンネル第１干渉出力光を、Ａチャンネル第１出力ポート及びＡチャンネル第２出力ポートより出力させると共に、Ｂチャンネル第１干渉出力光をＢチャンネル第１出力ポート及びにＢチャンネル第２出力ポートより出力させるマイケルソン型遅延干渉計ユニットと、
前記Ａチャンネル干渉出力光または前記Ｂチャンネル干渉出力光の一方と前記Ａチャンネル第１出力ポートまたは前記Ｂチャンネル第１出力ポートとの間に介在した第１光路長補償部材と、
を備える。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ファイバ通信、特に波長分割多重方式（ＤＷＤＭ:Dense Wavelength Division Multiplexing））を採用した光ファイバ通信における差動位相変調信号の復調に使用する、空間光学系を用いた遅延干渉計の改良、特に小型化及び高性能化に貢献できる改良に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
ＤＷＤＭ方式を採用する光ファイバ通信では、主に差動位相変調方式（ＤＰＳＫ：Differential Phase Shift Keying）や４相差動位相変調方式（ＤＱＰＳＫ:Differential Quadrature Phase Shift Keying）によって変調された光信号を伝送し、受信した光信号を、遅延干渉計を備えた復調器によって復調している。
【０００３】
空間光学系を用いた遅延干渉計として、マイケルソン型遅延干渉計は周知技術である。図５は、特許文献１に開示されている、マイケルソン型遅延干渉計を用いた復調器の光学構成図である。
【０００４】
入射手段から入射された光線Ｓ10は、分岐部11にて２つに分岐されＳ11とＳ12となる。光線Ｓ11とＳ12は、同一部品のマイケルソン型遅延干渉計に入射される。入力光線Ｓ11とＳ12のマイケルソン型遅延干渉計からの４つの干渉出力は、夫々ミラー16または17で反射され、レンズ18、または19、または20、または21を介して光検出器22または23で受光される。これにより、ＤＱＰＳＫ光信号の復調器を構成している。
【０００５】
【特許文献１】特開２００７−１５１０２６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
分岐部11により発生するＳ11とＳ12の光路長差を、ミラー16または17で補正している。光検出器22が光ファイバであることを想定した場合、ミラー16または17は、ミラー面の位置・角度の誤差により、光軸に軸ズレ・角度ズレが発生し、光ファイバへの結合が困難であるという問題がある。
【０００７】
本発明は上述した問題点を解決するためになされたものであり、遅延干渉計内部の各出力ポートまでの光路長差を容易に補正可能な遅延干渉計の実現を目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
このような課題を達成するために、本発明は次の通りの構成になっている。
（１）パッケージ内にマイケルソン型遅延干渉計ユニットを実装する遅延干渉計において、
入力ポートを介して入力される入力光を、光路長差を持つ分岐部を介してＡ，Ｂ２チャンネルに分岐した入力光を光学処理したＡチャンネル第１干渉出力光を、Ａチャンネル第１出力ポート及びＡチャンネル第２出力ポートより出力させると共に、Ｂチャンネル第１干渉出力光をＢチャンネル第１出力ポート及びにＢチャンネル第２出力ポートより出力させるマイケルソン型遅延干渉計ユニットと、
前記Ａチャンネル干渉出力光または前記Ｂチャンネル干渉出力光の一方と前記Ａチャンネル第１出力ポートまたは前記Ｂチャンネル第１出力ポートとの間に介在した第１光路長補償部材と、
を備えることを特徴とする遅延干渉計。
【０００９】
（２）前記Ａチャンネル第２干渉出力光または前記Ｂチャンネル第２干渉出力光の一方と前記Ａチャンネル第２出力ポートまたは前記Ｂチャンネル第２出力ポートとの間に介在した第２光路長補償部材と、
を備えることを特徴とする（１）に記載の遅延干渉計。
【００１０】
（３）前記第１光路長補償部材及び前記第２光路長補償部材は、四角プリズムであることを特徴とする（１）または（２）に記載の遅延干渉計。
【００１１】
（４）前記マイケルソン型遅延干渉計ユニットを形成する、ビームスプリッタとリフレクタとを同一材で一体構造としたことを特徴とする（１）乃至（３）のいずれかに記載の遅延干渉計。
【発明の効果】
【００１２】
本発明によれば、次のような効果を期待することできる。
（１）四角プリズムによる光路長補償部材を光路内に配置することにより、出力ポート間の光路長差を補正することができる。
【００１３】
（２）四角プリズムは、光束の入射面と出射面は略平行であり、四角プリズムの入射光と出射光に、軸ズレ・角度ズレは発生しないことから、受光する光ファイバでの特性悪化を極小化することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
以下、本発明を図面により詳細に説明する。図１は、本発明を適用した型遅延干渉計の一実施形態を示す機能ブロック図である。この実施形態は、直交する第１側壁部及び第２側壁部を有するパッケージ内にマイケルソン型遅延干渉計ユニットを実装し、一方の干渉出力光の出力ポートを第１側壁部に、他方の干渉出力光の出力ポートを第２側壁部に直交的に振り分けたパッケージ形態を持つ、小型の遅延干渉計である。
【００１５】
図１において、直交する第１側壁部１ａ及び第２側壁部１ｂを有する四辺形のパッケージ１内に、マイケルソン型遅延干渉計ユニット２を実装している。入力光Ｌｉは、第１側壁部１ａに設けられた入力ポート３を介してマイケルソン型遅延干渉計ユニット２に入力される。
【００１６】
この実施形態は、図５に示した特許文献１に開示されたマイケルソン型遅延干渉計と同一原理で動作する。マイケルソン型遅延干渉計ユニット２は、ＤＱＰＳＫで変調された入力光Ｌｉを分岐部２１によりＡチャンネルとＢチャンネルに２分岐させて光学処理し、夫々のチャンネルで第１干渉出力光及び第２干渉出力光を出力する。
【００１７】
マイケルソン型遅延干渉計ユニット２は、Ａチャンネル第１干渉出力光Ｌ１Ａを、第１側壁部１ａに設けられたＡチャンネル第１出力ポート４Ａより出力させると共に、Ａチャンネル第２干渉出力光Ｌ２Ａを、第２側壁部設１ｂに設けられたＡチャンネル第２出力ポート５Ａより出力させる。
【００１８】
同様に、Ｂチャンネル第１干渉出力光Ｌ１Ｂを、第１側壁部１ａに設けられたＢチャンネル第１出力ポート４Ｂより出力させると共に、Ｂチャンネル第２干渉出力光Ｌ２Ｂを、第２側壁部１ｂに設けられたＢチャンネル第２出力ポート５Ｂより出力させる。
【００１９】
本発明の第１光路長補償部材１００及び第２光路長補償部材２００は、四角プリズムで形成され、Ａチャンネル第１干渉出力光Ｌ１Ａ及び第２干渉出力光Ｌ２Ａの光路長と、Ｂチャンネル第１干渉出力光Ｌ１Ｂ及び第２干渉出力光Ｌ２Ｂとの間に生ずる、分岐部２１等に起因する光路長差を補正する。
【００２０】
この実施形態では、第１光路長補償部材１００及び第２光路長補償部材２００は、Ａチャンネルの干渉出力光の光路長を増加させているが、分岐部２１の設計に応じてＢチャンネルに挿入してもよい。即ち、光路長が短くなるチャンネル側に挿入する。
【００２１】
図２は、図１の実施形態の詳細構成を示す平面図である。パッケージ１内に実装されるマイケルソン型遅延干渉計ユニット２は、分岐部２１と接合してＡチャンネル及びＢチャンネルの入力光を光学処理するビームスプリッタ２２、第１リフレクタ２３、第２リフレクタ２４、Ａチャンネル位相調整板２５Ａ、Ｂチャンネル位相調整板２５Ｂの要素を備える。
【００２２】
図３は、図２の構成におけるＡ，Ｂチャンネルの光路を示す平面図である。図３（Ａ）はＡ，Ｂチャンネル分岐、（Ｂ）はＡチャンネル光路、（Ｃ）はＢチャンネル光路を示している。以下、図２及び図３に基づいて遅延干渉計の動作を説明する。
【００２３】
入力ポート３から入射された入力光Ｌｉは、レンズを介して略平行光となり、分岐部２１に入射する。入射した略平行な光束は、分岐部２１のＮＰＢＳ膜にて、透過光と反射光とに分岐される。
【００２４】
ＮＰＢＳ膜の透過光が次に全反射面にて反射されてＡチャンネル光束となり、分岐部２１のＮＰＢＳ膜にて反射される光束がＢチャンネル光束となる。夫々は、図３（Ａ）に示すように、第１ＮＰＢＳ膜２２ａ及び第２ＮＰＢＳ膜２２ｂを備えるビームスプリッタ２２に入射される。
【００２５】
ビームスプリッタ２２に入射された光束Ａは、図３（Ｂ）に示すように、ビームスプリッタ２２の第１ＮＰＢＳ膜２２ａにおいて、反射光Ａ-１と透過光Ａ-２とに分岐される。反射光Ａ-１は、第１リフレクタ２３で折り返され、透過光Ａ-２は第２リフレクタ２４で折り返され、夫々ビームスプリッタ２２の第２ＮＰＢＳ膜２２ｂに入射する。
【００２６】
反射光Ａ-１のＮＰＢＳ膜２２ｂの透過光と、透過光Ａ-２のＮＰＢＳ膜２２ｂの反射光は、Ａチャンネル第１干渉出力光Ｌ１ＡとしてＡチャンネル第１出力ポート４Ａに出力される。このときＡチャンネル第１干渉出力光Ｌ１Ａは、第１リフレクタ２３と第２リフレクタ２４の位置、すなわち反射光Ａ-１と透過光Ａ-２の光路長差によって決定されるマイケルソン干渉計の出力である。
【００２７】
同様に、反射光Ａ-１のＮＰＢＳ膜２２ｂの反射光と、透過光Ａ-２のＮＰＢＳ膜２２ｂの透過光は、Ａチャンネル第２干渉出力光Ｌ２ＡとしてＡチャンネル第２出力ポート５Ａに出力される。
【００２８】
図３（Ｃ）に示す光束Ｂについても、光束Ａと同様に、Ｂチャンネル第１干渉光Ｌ１ＢがＢチャンネル第１出力ポート４Ｂに、Ｂチャンネル第２干渉光Ｌ２ＢがＢチャンネル第２出力ポート５Ｂに出力される。
【００２９】
Ａチャネルの第１，第２干渉出力光Ｌ１Ａ，Ｌ２Ａは、第１，第２光路長補償部材１００，２００を介して夫々の出力ポートに入力される。また、Ｂチャネルの第１，第２干渉出力光Ｌ１Ｂ，Ｌ２Ｂは、第１，第２光軸シフト部材６１，６２を介して夫々の出力ポートに入力される。
【００３０】
この実施形態では、第１光路長補償部材１００及び第２光路長補償部材２００は、分岐部２１及び第１，第２光軸シフト部材６１，６２等に起因して、ＡチャンネルとＢチャンネル間に生ずる光路長差を総合的に補正する機能を備える。
【００３１】
また、この実施形態では、パッケージ内においてＢチャンネルの第１干渉出力光Ｌ１Ｂ及び第２干渉出力光Ｌ２Ｂの光路中に平行プリズムで形成された第１光軸シフト部材６１及び第２光軸シフト部材６２が挿入されている。
【００３２】
これら光軸シフト部材は、側壁部に設けられるポート間の距離の制約を解消し、マイケルソン型遅延干渉計ユニット２の要素を小型化することで、パッケージ１を小型にする設計に貢献している。
【００３３】
反射光Ａ-１の光路中に挿入されているＡチャンネル位相調整板２５Ａには、薄膜ヒータが成膜されており、ヒータに電力を与えることにより、位相調整板の屈折率が変化し、等価的に光路長が変化することにより、Ａチャンネルの干渉出力光の干渉スペクトラムを調整することができる。反射光Ｂ-１の光路中に挿入されているＢチャンネル位相調整板２５Ｂも同様に、Ｂチャンネルの干渉出力光の干渉スペクトラムを調整することができる。
【００３４】
図４は、本発明の更に他の実施形態を示す平面図である。この実施形態の特徴は、ビームスプリッタ２２と第２リフレクタ２４の機能を同一材で一体構造とし、一体化ビームスプリッタ２６とした構成にある。
【００３５】
一体化させると、材料の屈折率が高い（例えば約1.5等）ことから、その内部の光路長を等価的に小さくすることができ、パッケージサイズの更なる小型化が可能である。ビームスプリッタ２２と第１リフレクタ２３に関しても一体化が可能である。また、一体化させることにより、膨張係数の差によって生じる光路長変化を極小とした性能向上も可能である。
【００３６】
以上説明した実施形態では、パッケージが直交する側壁部を有し、これら側壁部に入出力のポートが直交して設けられる遅延干渉計の形状を説明したが、本発明は汎用的でありパッケージの形状には特定されない。
【図面の簡単な説明】
【００３７】
【図１】本発明を適用した遅延干渉計の一実施形態を示す平面図である。
【図２】図１の実施形態の詳細構成を示す平面図である。
【図３】図２の構成におけるＡ，Ｂチャンネルの光路を示す平面図である。
【図４】本発明の他の実施形態を示す平面図である。
【図５】特許文献１に開示されている、復調器の光学系構成図である。
【符号の説明】
【００３８】
１ パッケージ
１ａ 第１側壁部
１ｂ 第２側壁部
２ マイケルソン型遅延干渉計ユニット
２１ 分岐部
３ 入力ポート
４Ａ Ａチャンネル第１出力ポート
４Ｂ Ｂチャンネル第２出力ポート
５Ａ Ａチャンネル第１出力ポート
５Ｂ Ｂチャンネル第２出力ポート
１００ 第１光路長補償部材
２００ 第２光路長補償部材
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ファイバ通信、特に波長分割多重方式（ＤＷＤＭ:Dense Wavelength Division Multiplexing））を採用した光ファイバ通信における差動位相変調信号の復調に使用する、空間光学系を用いた遅延干渉計の改良、特に小型化及び高性能化に貢献できる改良に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
ＤＷＤＭ方式を採用する光ファイバ通信では、主に差動位相変調方式（ＤＰＳＫ：Differential Phase Shift Keying）や４相差動位相変調方式（ＤＱＰＳＫ:Differential Quadrature Phase Shift Keying）によって変調された光信号を伝送し、受信した光信号を、遅延干渉計を備えた復調器によって復調している。
【０００３】
空間光学系を用いた遅延干渉計として、マイケルソン型遅延干渉計は周知技術である。図５は、特許文献１に開示されている、マイケルソン型遅延干渉計を用いた復調器の光学構成図である。
【０００４】
入射手段から入射された光線Ｓ10は、分岐部11にて２つに分岐されＳ11とＳ12となる。光線Ｓ11とＳ12は、同一部品のマイケルソン型遅延干渉計に入射される。入力光線Ｓ11とＳ12のマイケルソン型遅延干渉計からの４つの干渉出力は、夫々ミラー16または17で反射され、レンズ18、または19、または20、または21を介して光検出器22または23で受光される。これにより、ＤＱＰＳＫ光信号の復調器を構成している。
【０００５】
【特許文献１】特開２００７−１５１０２６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
分岐部11により発生するＳ11とＳ12の光路長差を、ミラー16または17で補正している。光検出器22が光ファイバであることを想定した場合、ミラー16または17は、ミラー面の位置・角度の誤差により、光軸に軸ズレ・角度ズレが発生し、光ファイバへの結合が困難であるという問題がある。
【０００７】
本発明は上述した問題点を解決するためになされたものであり、遅延干渉計内部の各出力ポートまでの光路長差を容易に補正可能な遅延干渉計の実現を目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
このような課題を達成するために、本発明は次の通りの構成になっている。
（１）パッケージ内にマイケルソン型遅延干渉計ユニットを実装する遅延干渉計において、
入力ポートを介して入力される入力光を、光路長差を持つ分岐部を介してＡ，Ｂ２チャンネルに分岐した入力光を光学処理したＡチャンネル第１干渉出力光を、Ａチャンネル第１出力ポート及びＡチャンネル第２出力ポートより出力させると共に、Ｂチャンネル第１干渉出力光をＢチャンネル第１出力ポート及びにＢチャンネル第２出力ポートより出力させるマイケルソン型遅延干渉計ユニットと、
前記Ａチャンネル干渉出力光または前記Ｂチャンネル干渉出力光の一方と前記Ａチャンネル第１出力ポートまたは前記Ｂチャンネル第１出力ポートとの間に介在した第１光路長補償部材と、
を備えることを特徴とする遅延干渉計。
【０００９】
（２）前記Ａチャンネル第２干渉出力光または前記Ｂチャンネル第２干渉出力光の一方と前記Ａチャンネル第２出力ポートまたは前記Ｂチャンネル第２出力ポートとの間に介在した第２光路長補償部材と、
を備えることを特徴とする（１）に記載の遅延干渉計。
【００１０】
（３）前記第１光路長補償部材及び前記第２光路長補償部材は、四角プリズムであることを特徴とする（１）または（２）に記載の遅延干渉計。
【００１１】
（４）前記マイケルソン型遅延干渉計ユニットを形成する、ビームスプリッタとリフレクタとを同一材で一体構造としたことを特徴とする（１）乃至（３）のいずれかに記載の遅延干渉計。
【発明の効果】
【００１２】
本発明によれば、次のような効果を期待することできる。
（１）四角プリズムによる光路長補償部材を光路内に配置することにより、出力ポート間の光路長差を補正することができる。
【００１３】
（２）四角プリズムは、光束の入射面と出射面は略平行であり、四角プリズムの入射光と出射光に、軸ズレ・角度ズレは発生しないことから、受光する光ファイバでの特性悪化を極小化することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
以下、本発明を図面により詳細に説明する。図１は、本発明を適用した型遅延干渉計の一実施形態を示す機能ブロック図である。この実施形態は、直交する第１側壁部及び第２側壁部を有するパッケージ内にマイケルソン型遅延干渉計ユニットを実装し、一方の干渉出力光の出力ポートを第１側壁部に、他方の干渉出力光の出力ポートを第２側壁部に直交的に振り分けたパッケージ形態を持つ、小型の遅延干渉計である。
【００１５】
図１において、直交する第１側壁部１ａ及び第２側壁部１ｂを有する四辺形のパッケージ１内に、マイケルソン型遅延干渉計ユニット２を実装している。入力光Ｌｉは、第１側壁部１ａに設けられた入力ポート３を介してマイケルソン型遅延干渉計ユニット２に入力される。
【００１６】
この実施形態は、図５に示した特許文献１に開示されたマイケルソン型遅延干渉計と同一原理で動作する。マイケルソン型遅延干渉計ユニット２は、ＤＱＰＳＫで変調された入力光Ｌｉを分岐部２１によりＡチャンネルとＢチャンネルに２分岐させて光学処理し、夫々のチャンネルで第１干渉出力光及び第２干渉出力光を出力する。
【００１７】
マイケルソン型遅延干渉計ユニット２は、Ａチャンネル第１干渉出力光Ｌ１Ａを、第１側壁部１ａに設けられたＡチャンネル第１出力ポート４Ａより出力させると共に、Ａチャンネル第２干渉出力光Ｌ２Ａを、第２側壁部設１ｂに設けられたＡチャンネル第２出力ポート５Ａより出力させる。
【００１８】
同様に、Ｂチャンネル第１干渉出力光Ｌ１Ｂを、第１側壁部１ａに設けられたＢチャンネル第１出力ポート４Ｂより出力させると共に、Ｂチャンネル第２干渉出力光Ｌ２Ｂを、第２側壁部１ｂに設けられたＢチャンネル第２出力ポート５Ｂより出力させる。
【００１９】
本発明の第１光路長補償部材１００及び第２光路長補償部材２００は、四角プリズムで形成され、Ａチャンネル第１干渉出力光Ｌ１Ａ及び第２干渉出力光Ｌ２Ａの光路長と、Ｂチャンネル第１干渉出力光Ｌ１Ｂ及び第２干渉出力光Ｌ２Ｂとの間に生ずる、分岐部２１等に起因する光路長差を補正する。
【００２０】
この実施形態では、第１光路長補償部材１００及び第２光路長補償部材２００は、Ａチャンネルの干渉出力光の光路長を増加させているが、分岐部２１の設計に応じてＢチャンネルに挿入してもよい。即ち、光路長が短くなるチャンネル側に挿入する。
【００２１】
図２は、図１の実施形態の詳細構成を示す平面図である。パッケージ１内に実装されるマイケルソン型遅延干渉計ユニット２は、分岐部２１と接合してＡチャンネル及びＢチャンネルの入力光を光学処理するビームスプリッタ２２、第１リフレクタ２３、第２リフレクタ２４、Ａチャンネル位相調整板２５Ａ、Ｂチャンネル位相調整板２５Ｂの要素を備える。
【００２２】
図３は、図２の構成におけるＡ，Ｂチャンネルの光路を示す平面図である。図３（Ａ）はＡ，Ｂチャンネル分岐、（Ｂ）はＡチャンネル光路、（Ｃ）はＢチャンネル光路を示している。以下、図２及び図３に基づいて遅延干渉計の動作を説明する。
【００２３】
入力ポート３から入射された入力光Ｌｉは、レンズを介して略平行光となり、分岐部２１に入射する。入射した略平行な光束は、分岐部２１のＮＰＢＳ膜にて、透過光と反射光とに分岐される。
【００２４】
ＮＰＢＳ膜の透過光が次に全反射面にて反射されてＡチャンネル光束となり、分岐部２１のＮＰＢＳ膜にて反射される光束がＢチャンネル光束となる。夫々は、図３（Ａ）に示すように、第１ＮＰＢＳ膜２２ａ及び第２ＮＰＢＳ膜２２ｂを備えるビームスプリッタ２２に入射される。
【００２５】
ビームスプリッタ２２に入射された光束Ａは、図３（Ｂ）に示すように、ビームスプリッタ２２の第１ＮＰＢＳ膜２２ａにおいて、反射光Ａ-１と透過光Ａ-２とに分岐される。反射光Ａ-１は、第１リフレクタ２３で折り返され、透過光Ａ-２は第２リフレクタ２４で折り返され、夫々ビームスプリッタ２２の第２ＮＰＢＳ膜２２ｂに入射する。
【００２６】
反射光Ａ-１のＮＰＢＳ膜２２ｂの透過光と、透過光Ａ-２のＮＰＢＳ膜２２ｂの反射光は、Ａチャンネル第１干渉出力光Ｌ１ＡとしてＡチャンネル第１出力ポート４Ａに出力される。このときＡチャンネル第１干渉出力光Ｌ１Ａは、第１リフレクタ２３と第２リフレクタ２４の位置、すなわち反射光Ａ-１と透過光Ａ-２の光路長差によって決定されるマイケルソン干渉計の出力である。
【００２７】
同様に、反射光Ａ-１のＮＰＢＳ膜２２ｂの反射光と、透過光Ａ-２のＮＰＢＳ膜２２ｂの透過光は、Ａチャンネル第２干渉出力光Ｌ２ＡとしてＡチャンネル第２出力ポート５Ａに出力される。
【００２８】
図３（Ｃ）に示す光束Ｂについても、光束Ａと同様に、Ｂチャンネル第１干渉光Ｌ１ＢがＢチャンネル第１出力ポート４Ｂに、Ｂチャンネル第２干渉光Ｌ２ＢがＢチャンネル第２出力ポート５Ｂに出力される。
【００２９】
Ａチャネルの第１，第２干渉出力光Ｌ１Ａ，Ｌ２Ａは、第１，第２光路長補償部材１００，２００を介して夫々の出力ポートに入力される。また、Ｂチャネルの第１，第２干渉出力光Ｌ１Ｂ，Ｌ２Ｂは、第１，第２光軸シフト部材６１，６２を介して夫々の出力ポートに入力される。
【００３０】
この実施形態では、第１光路長補償部材１００及び第２光路長補償部材２００は、分岐部２１及び第１，第２光軸シフト部材６１，６２等に起因して、ＡチャンネルとＢチャンネル間に生ずる光路長差を総合的に補正する機能を備える。
【００３１】
また、この実施形態では、パッケージ内においてＢチャンネルの第１干渉出力光Ｌ１Ｂ及び第２干渉出力光Ｌ２Ｂの光路中に平行プリズムで形成された第１光軸シフト部材６１及び第２光軸シフト部材６２が挿入されている。
【００３２】
これら光軸シフト部材は、側壁部に設けられるポート間の距離の制約を解消し、マイケルソン型遅延干渉計ユニット２の要素を小型化することで、パッケージ１を小型にする設計に貢献している。
【００３３】
反射光Ａ-１の光路中に挿入されているＡチャンネル位相調整板２５Ａには、薄膜ヒータが成膜されており、ヒータに電力を与えることにより、位相調整板の屈折率が変化し、等価的に光路長が変化することにより、Ａチャンネルの干渉出力光の干渉スペクトラムを調整することができる。反射光Ｂ-１の光路中に挿入されているＢチャンネル位相調整板２５Ｂも同様に、Ｂチャンネルの干渉出力光の干渉スペクトラムを調整することができる。
【００３４】
図４は、本発明の更に他の実施形態を示す平面図である。この実施形態の特徴は、ビームスプリッタ２２と第２リフレクタ２４の機能を同一材で一体構造とし、一体化ビームスプリッタ２６とした構成にある。
【００３５】
一体化させると、材料の屈折率が高い（例えば約1.5等）ことから、その内部の光路長を等価的に小さくすることができ、パッケージサイズの更なる小型化が可能である。ビームスプリッタ２２と第１リフレクタ２３に関しても一体化が可能である。また、一体化させることにより、膨張係数の差によって生じる光路長変化を極小とした性能向上も可能である。
【００３６】
以上説明した実施形態では、パッケージが直交する側壁部を有し、これら側壁部に入出力のポートが直交して設けられる遅延干渉計の形状を説明したが、本発明は汎用的でありパッケージの形状には特定されない。
【図面の簡単な説明】
【００３７】
【図１】本発明を適用した遅延干渉計の一実施形態を示す平面図である。
【図２】図１の実施形態の詳細構成を示す平面図である。
【図３】図２の構成におけるＡ，Ｂチャンネルの光路を示す平面図である。
【図４】本発明の他の実施形態を示す平面図である。
【図５】特許文献１に開示されている、復調器の光学系構成図である。
【符号の説明】
【００３８】
１ パッケージ
１ａ 第１側壁部
１ｂ 第２側壁部
２ マイケルソン型遅延干渉計ユニット
２１ 分岐部
３ 入力ポート
４Ａ Ａチャンネル第１出力ポート
４Ｂ Ｂチャンネル第２出力ポート
５Ａ Ａチャンネル第１出力ポート
５Ｂ Ｂチャンネル第２出力ポート
１００ 第１光路長補償部材
２００ 第２光路長補償部材
【特許請求の範囲】
【請求項１】
パッケージ内にマイケルソン型遅延干渉計ユニットを実装する遅延干渉計において、
入力ポートを介して入力される入力光を、光路長差を持つ分岐部を介してＡ，Ｂ２チャンネルに分岐した入力光を光学処理したＡチャンネル第１干渉出力光を、Ａチャンネル第１出力ポート及びＡチャンネル第２出力ポートより出力させると共に、Ｂチャンネル第１干渉出力光をＢチャンネル第１出力ポート及びにＢチャンネル第２出力ポートより出力させるマイケルソン型遅延干渉計ユニットと、
前記Ａチャンネル干渉出力光または前記Ｂチャンネル干渉出力光の一方と前記Ａチャンネル第１出力ポートまたは前記Ｂチャンネル第１出力ポートとの間に介在した第１光路長補償部材と、
を備えることを特徴とする遅延干渉計。
【請求項２】
前記Ａチャンネル第２干渉出力光または前記Ｂチャンネル第２干渉出力光の一方と前記Ａチャンネル第２出力ポートまたは前記Ｂチャンネル第２出力ポートとの間に介在した第２光路長補償部材と、
を備えることを特徴とする請求項１に記載の遅延干渉計。
【請求項３】
前記第１光路長補償部材及び前記第２光路長補償部材は、四角プリズムであることを特徴とする請求項１または２に記載の遅延干渉計。
【請求項４】
前記マイケルソン型遅延干渉計ユニットを形成する、ビームスプリッタとリフレクタとを同一材で一体構造としたことを特徴とする請求項１乃至３のいずれかに記載の遅延干渉計。
【請求項１】
パッケージ内にマイケルソン型遅延干渉計ユニットを実装する遅延干渉計において、
入力ポートを介して入力される入力光を、光路長差を持つ分岐部を介してＡ，Ｂ２チャンネルに分岐した入力光を光学処理したＡチャンネル第１干渉出力光を、Ａチャンネル第１出力ポート及びＡチャンネル第２出力ポートより出力させると共に、Ｂチャンネル第１干渉出力光をＢチャンネル第１出力ポート及びにＢチャンネル第２出力ポートより出力させるマイケルソン型遅延干渉計ユニットと、
前記Ａチャンネル干渉出力光または前記Ｂチャンネル干渉出力光の一方と前記Ａチャンネル第１出力ポートまたは前記Ｂチャンネル第１出力ポートとの間に介在した第１光路長補償部材と、
を備えることを特徴とする遅延干渉計。
【請求項２】
前記Ａチャンネル第２干渉出力光または前記Ｂチャンネル第２干渉出力光の一方と前記Ａチャンネル第２出力ポートまたは前記Ｂチャンネル第２出力ポートとの間に介在した第２光路長補償部材と、
を備えることを特徴とする請求項１に記載の遅延干渉計。
【請求項３】
前記第１光路長補償部材及び前記第２光路長補償部材は、四角プリズムであることを特徴とする請求項１または２に記載の遅延干渉計。
【請求項４】
前記マイケルソン型遅延干渉計ユニットを形成する、ビームスプリッタとリフレクタとを同一材で一体構造としたことを特徴とする請求項１乃至３のいずれかに記載の遅延干渉計。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【公開番号】特開２００９−３００５４０（Ｐ２００９−３００５４０Ａ）
【公開日】平成２１年１２月２４日（２００９．１２．２４）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００８−１５２２４３（Ｐ２００８−１５２２４３）
【出願日】平成２０年６月１０日（２００８．６．１０）
【出願人】（０００００６５０７）横河電機株式会社 (4,443)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２１年１２月２４日（２００９．１２．２４）
【国際特許分類】
【出願日】平成２０年６月１０日（２００８．６．１０）
【出願人】（０００００６５０７）横河電機株式会社 (4,443)
【Ｆターム（参考）】
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