Ｘ線異物検出装置

【課題】異物の検出が不要な領域を従来より適切に抽出することができ、異物の検出の信頼性を従来より向上することができるＸ線異物検出装置を提供する。
【解決手段】Ｘ線異物検出装置のコンピュータは、搬送される被検査体を透過したＸ線量に基づいて生成されたＸ線画像中の被検査体に対応すると想定される被検査体領域３１を被検査体中の容器の影響が強いと想定される容器影響領域３１ａ及び容器影響領域３１ａ以外の非容器影響領域３１ｂに分割するための分割閾値を設定し、画素の濃度分布及び分割閾値に基づいて容器影響領域３１ａ及び非容器影響領域３１ｂを分割し、非容器影響領域３１ｂのみのＸ線画像に対して異物の有無を判断する。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、被検査体を透過したＸ線量に基づいて生成されたＸ線画像を処理して被検査体に含まれる異物の有無を検出するＸ線異物検出装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、Ｘ線異物検出装置として、１次元Ｘ線検出器からの各画素情報から、マスキング処理により検査不要領域の画素情報を除外したうえで異物の有無を判定するとともに、そのマスキング処理においては、背景部分を分離したのち画像の周囲から内側に向かって画素を除外すること、および、この除外の際に１次元Ｘ線検出器の検出素子の配列方向の除外画素数を、それと直交する方向の除外画素数よりも多く設定しているものが知られている（例えば特許文献１参照。）。
【０００３】
【特許文献１】特許第３５６７１２０号明細書（第３−４頁、第３図）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、従来のＸ線異物検出装置においては、画像の周囲から内側に向かって画素を除外するときに予め設定された画素数に基づいて除外するので、被検査体が搬送されるときのＸ線源の光軸（Ｘ線の広がりの中心軸）に対する被検査体の通過位置によっては、マスキング処理が正しく行われないという問題があった。
【０００５】
例えば、図２８に示すように円柱状の容器９８１と、容器９８１内に収納された内容物９８２とから構成された被検査体９８０が図２９に示すように搬送ベルト９９０上を搬送される場合、Ｘ線源９１１の光軸９１１Ａ上を被検査体９８０の中心軸９８０Ａが通過しないので、１次元Ｘ線検出器９１２からの各画素情報に基づいて被検査体９８０の輪郭形状が図３０（ａ）に示す画像９７１として得られる。画像９７１において、異物の検出が不要な領域である被検査体９８０の容器９８１の側壁部分９８１ａ（図２９参照。）の影は、本来、図３０（ｂ）にハッチングを付して示す領域９７１ａに対応する。しかしながら、上述した従来のＸ線異物検出装置においては、画像９７１の周囲から内側に向かって画素を除外するときに予め設定された画素数に基づいて除外するので、側壁部分９８１ａの影が例えば図３０（ｃ）にハッチングを付して示す領域９７１ｂとして誤って抽出される可能性があった。
【０００６】
また、図２８に示すような円柱状の被検査体９８０が４つ合わさった図３１に示すような塊が図３２に示すように搬送ベルト９９０上を搬送される場合、１次元Ｘ線検出器９１２からの各画素情報に基づいて被検査体９８０の塊の輪郭形状が図３３（ａ）に示す画像９７１として得られる。画像９７１において、異物の検出が不要な領域である被検査体９８０の容器９８１の側壁部分９８１ａ（図３１参照。）の影は、本来、図３３（ｂ）にハッチングを付して示す領域９７１ａに対応する。しかしながら、上述した従来のＸ線異物検出装置においては、画像９７１の周囲から内側に向かって画素を除外するときに予め設定された画素数に基づいて除外するので、側壁部分９８１ａの影が例えば図３３（ｃ）にハッチングを付して示す領域９７１ｂとして誤って抽出される可能性があった。
【０００７】
本発明は、従来の問題を解決するためになされたもので、異物の検出が不要な領域を従来より適切に抽出することができ、異物の検出の信頼性を従来より向上することができるＸ線異物検出装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明のＸ線異物検出装置は、搬送される被検査体を透過したＸ線量に基づいて生成されたＸ線画像を処理して前記被検査体に含まれる異物の有無を検出するＸ線異物検出装置において、前記被検査体中の容器の影響が強いと想定される容器影響領域及び前記容器影響領域以外の非容器影響領域に前記Ｘ線画像中の前記被検査体に対応すると想定される被検査体領域を分割するための分割閾値を設定する分割閾値設定手段と、画素の濃度分布及び前記分割閾値設定手段によって設定された前記分割閾値に基づいて前記容器影響領域及び前記非容器影響領域を分割する領域分割手段と、前記非容器影響領域のみの前記Ｘ線画像に対して前記異物の有無を判断する異物判断手段とを備えた構成を有している。
【０００９】
この構成により、本発明のＸ線異物検出装置は、被検査体のＸ線画像のうち被検査体中の容器の影響が強いと想定される容器影響領域と、容器影響領域以外の非容器影響領域とを画素の濃度分布及び分割閾値に基づいて分割するので、異物の検出が不要な領域である容器影響領域を従来より適切に抽出することができ、異物の検出の信頼性を従来より向上することができる。即ち、本発明のＸ線異物検出装置は、被検査体のＸ線画像から異物の検出が必要な領域を従来より適切に抽出することができ、異物の検出の信頼性を従来より向上することができる。
【００１０】
また、本発明のＸ線異物検出装置の前記領域分割手段は、画素の濃度分布及び前記分割閾値設定手段によって設定された前記分割閾値に基づいて前記容器影響領域の候補である容器影響候補領域を分割し、前記被検査体領域の境界に接した前記容器影響候補領域を前記容器影響領域として分割する構成を有している。
【００１１】
この構成により、本発明のＸ線異物検出装置は、被検査体のＸ線画像のうち実際には異物に対応する領域が誤って容器影響領域に含まれる可能性を低減することができる。
【００１２】
また、本発明のＸ線異物検出装置は、画像を表示する表示手段と、前記容器影響領域及び前記非容器影響領域の少なくとも一方を前記Ｘ線画像に重ねて前記表示手段に表示させる表示制御手段とを備え、前記分割閾値設定手段は、利用者によって指定された前記分割閾値を設定する構成を有している。
【００１３】
この構成により、本発明のＸ線異物検出装置は、分割閾値によって分割された容器影響領域及び非容器影響領域の少なくとも一方を利用者に見させながら利用者に分割閾値を指定させることができるので、利用者に分割閾値を容易に設定させることができる。
【００１４】
また、本発明のＸ線異物検出装置は、画像を表示する表示手段と、前記非容器影響領域の前記Ｘ線画像における前記被検査体の搬送方向上の位置が等しい画素のうち濃度が最大の画素の濃度を前記位置毎に表したグラフを前記表示手段に表示させる表示制御手段とを備えた構成を有している。
【００１５】
この構成により、本発明のＸ線異物検出装置は、非容器影響領域のＸ線画像に対して異物の有無を判断するための閾値を利用者に容易に設定させることができる。
【発明の効果】
【００１６】
本発明は、異物の検出が不要な領域を従来より適切に抽出することができ、異物の検出の信頼性を従来より向上することができるＸ線異物検出装置を提供することができるものである。
【００１７】
更に、本発明のＸ線異物検出装置は、被検査体のＸ線画像のうち実際には異物に対応する領域が誤って容器影響領域に含まれる可能性を低減することができる。
【００１８】
更に、本発明のＸ線異物検出装置は、分割閾値によって分割された容器影響領域及び非容器影響領域の少なくとも一方を利用者に見させながら利用者に分割閾値を指定させることができるので、利用者に分割閾値を容易に設定させることができる。
【００１９】
更に、本発明のＸ線異物検出装置は、非容器影響領域のＸ線画像に対して異物の有無を判断するための閾値を利用者に容易に設定させることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２０】
以下、本発明の実施の形態について、図面を用いて説明する。
【００２１】
（第１の実施の形態）
まず、第１の実施の形態に係るＸ線異物検出装置の構成について説明する。
【００２２】
図１及び図２に示すように、本実施の形態に係るＸ線異物検出装置１０は、搬送ベルト９０によって搬送される被検査体８０にＸ線１１ａを照射するＸ線源１１と、Ｘ線源１１によって照射されたＸ線１１ａを検出する検出素子が搬送ベルト９０による被検査体８０の搬送方向とは直交する方向に配列されたＸ線検出器１２と、Ｘ線検出器１２の検出結果に基づいてＸ線画像３０（図３参照。）を生成し、生成したＸ線画像３０を処理して被検査体８０に含まれる異物の有無を判断するコンピュータ１３と、コンピュータ１３による異物の判断結果等を表示する表示手段としてのディスプレイ１４と、ディスプレイ１４の画面に重ねて配置されて利用者の操作に応じた信号をコンピュータ１３に入力するタッチパネル１５とを備えている。
【００２３】
コンピュータ１３は、プログラムが記録された図示していないＲＯＭ（ＲｅａｄＯｎｌｙＭｅｍｏｒｙ）、ＲＯＭに記録されたプログラムに基づいて動作する図示していないＣＰＵ（ＣｅｎｔｒａｌＰｒｏｃｅｓｓｉｎｇＵｎｉｔ）、ＣＰＵの作業領域である図示していないＲＡＭ（ＲａｎｄｏｍＡｃｃｅｓｓＭｅｍｏｒｙ）等を含んで構成されている。
【００２４】
本実施の形態に係る被検査体８０は、容器８１と、容器８１内に収納された内容物８２とから構成されている。なお、図２に示す容器８１の形状は、図４に示すように円柱状である。
【００２５】
次に、Ｘ線異物検出装置１０の動作について説明する。
【００２６】
まず、Ｘ線画像３０中の被検査体８０に対応すると想定される被検査体領域３１（図５参照。）と被検査体領域３１以外の被検査体外領域３２とを分割するための閾値である第１分割閾値４１（図６参照。）と、被検査体領域３１のうち被検査体８０中の容器８１の影響が強いと想定される容器影響領域３１ａ（図７参照。）と容器影響領域３１ａ以外の非容器影響領域３１ｂ（図７参照。）とを分割するための閾値である第２分割閾値４２（図６参照。）とを設定する動作について説明する。
【００２７】
第１分割閾値４１及び第２分割閾値４２の設定用の被検査体８０が搬送ベルト９０によって搬送されると、Ｘ線源１１によって被検査体８０にＸ線１１ａが照射され、Ｘ線検出器１２の検出結果がコンピュータ１３に入力される。
【００２８】
コンピュータ１３は、Ｘ線検出器１２の検出結果が入力されると、図８に示す処理を開始する。なお、第１分割閾値４１及び第２分割閾値４２は、Ｘ線検出器１２の検出結果が７ビット（１２８階調）の場合、図８に示す処理の開始前に初期値として例えば予め“１００”に設定されている。
【００２９】
即ち、コンピュータ１３は、Ｘ線検出器１２の検出結果に基づいてＸ線画像３０を生成し（Ｓ１０１）、生成したＸ線画像３０を図３に示すようにディスプレイ１４のＸ線画像表示領域１４ａに表示させる（Ｓ１０２）。
【００３０】
次いで、コンピュータ１３は、Ｘ線画像３０のうち現在の第１分割閾値４１以上の濃度である画素の領域を被検査体領域３１とし、Ｘ線画像３０のうち被検査体領域３１以外の領域を被検査体外領域３２として分割し（Ｓ１０３）、分割した被検査体領域３１のうち現在の第２分割閾値４２以上の濃度である画素の領域を容器影響領域３１ａとし、被検査体領域３１のうち容器影響領域３１ａ以外の領域を非容器影響領域３１ｂとして分割する（Ｓ１０４）。
【００３１】
そして、コンピュータ１３は、現在の容器影響領域３１ａ、第１分割閾値４１及び第２分割閾値４２を図９に示すようにディスプレイ１４のＸ線画像表示領域１４ａに表示させる（Ｓ１０５）。即ち、コンピュータ１３は、現在の容器影響領域３１ａをＸ線画像３０に重ねてディスプレイ１４のＸ線画像表示領域１４ａに表示させるとともに、ディスプレイ１４の第１分割閾値４１用の分割閾値表示領域１４ｂに現在の第１分割閾値４１を表示させ、ディスプレイ１４の第２分割閾値４２用の分割閾値表示領域１４ｃに現在の第２分割閾値４２を表示させる。
【００３２】
次いで、コンピュータ１３は、タッチパネル１５のうちディスプレイ１４の第１分割閾値４１用の分割閾値調整領域１４ｄ、１４ｅ（図９参照。）に対応する部分が利用者によって触れられたか否かを判断する（Ｓ１０６）。
【００３３】
そして、コンピュータ１３は、タッチパネル１５のうち分割閾値調整領域１４ｄ、１４ｅに対応する部分が所定時間内に利用者によって触れられたとＳ１０６において判断すると、第１分割閾値４１を再設定して（Ｓ１０７）、Ｓ１０３の処理に戻る。即ち、コンピュータ１３は、タッチパネル１５のうち分割閾値調整領域１４ｄに対応する部分が利用者によって触れられたときには第１分割閾値４１を１つ減算した値に再設定し、タッチパネル１５のうち分割閾値調整領域１４ｅに対応する部分が利用者によって触れられたときには第１分割閾値４１を１つ加算した値に再設定して、Ｓ１０３の処理に戻る。
【００３４】
一方、コンピュータ１３は、タッチパネル１５のうち分割閾値調整領域１４ｄ、１４ｅに対応する部分が利用者によって触れられなかったとＳ１０６において判断すると、タッチパネル１５のうちディスプレイ１４の第２分割閾値４２用の分割閾値調整領域１４ｆ、１４ｇ（図９参照。）に対応する部分が利用者によって触れられたか否かを判断する（Ｓ１０８）。
【００３５】
そして、コンピュータ１３は、タッチパネル１５のうち分割閾値調整領域１４ｆ、１４ｇに対応する部分が所定時間内に利用者によって触れられたとＳ１０８において判断すると、第２分割閾値４２を再設定して（Ｓ１０９）、Ｓ１０４の処理に戻る。即ち、コンピュータ１３は、タッチパネル１５のうち分割閾値調整領域１４ｆに対応する部分が利用者によって触れられたときには第２分割閾値４２を１つ減算した値に再設定し、タッチパネル１５のうち分割閾値調整領域１４ｇに対応する部分が利用者によって触れられたときには第２分割閾値４２を１つ加算した値に再設定して、Ｓ１０４の処理に戻る。
【００３６】
一方、コンピュータ１３は、タッチパネル１５のうち分割閾値調整領域１４ｆ、１４ｇに対応する部分が利用者によって触れられなかったとＳ１０８において判断すると、所定時間が経過したか否かを判断する（Ｓ１１０）。
【００３７】
そして、コンピュータ１３は、所定時間が経過していないとＳ１１０において判断するとＳ１０６の処理に戻り、所定時間が経過したとＳ１１０において判断すると図８に示す一連の処理を終了する。
【００３８】
次に、被検査体８０に含まれる異物の有無を検出する動作について説明する。
【００３９】
異物の検出用の被検査体８０が搬送ベルト９０によって搬送されると、Ｘ線源１１によって被検査体８０にＸ線１１ａが照射され、Ｘ線検出器１２の検出結果がコンピュータ１３に入力される。
【００４０】
コンピュータ１３は、Ｘ線検出器１２の検出結果が入力されると、図１０に示す処理を開始する。
【００４１】
即ち、コンピュータ１３は、Ｘ線検出器１２の検出結果に基づいてＸ線画像３０を生成し（Ｓ１２１）、生成したＸ線画像３０のうち図８に示す処理によって予め設定されていた第１分割閾値４１以上の濃度である画素の領域を被検査体領域３１とし、Ｘ線画像３０のうち被検査体領域３１以外の領域を被検査体外領域３２として分割し（Ｓ１２２）、分割した被検査体領域３１のうち図８に示す処理によって予め設定されていた第２分割閾値４２以上の濃度である画素の領域を容器影響領域３１ａとし、被検査体領域３１のうち容器影響領域３１ａ以外の領域を非容器影響領域３１ｂとして分割する（Ｓ１２３）。
【００４２】
次いで、コンピュータ１３は、Ｓ１２３において分割した非容器影響領域３１ｂのＸ線画像３０に対して画素の濃度と、所定の異物検出閾値５１（図１１参照。）とに基づいて異物の有無を判断し（Ｓ１２４）、Ｓ１２４における判断の結果をディスプレイ１４に表示して（Ｓ１２５）、図１０に示す一連の処理を終了する。
【００４３】
コンピュータ１３は、異物の検出用の新たな被検査体８０が搬送ベルト９０によって搬送される度に、図１０に示す一連の処理を行う。
【００４４】
なお、図１０に示すＳ１２３において分割される容器影響領域３１ａ及び非容器影響領域３１ｂは、例えば被検査体８０の容器８１の形状が図４に示すように円柱状である場合に第１分割閾値４１及び第２分割閾値４２の設定用の被検査体８０に対して図８に示す処理によって適切な第１分割閾値４１及び第２分割閾値４２が設定されているとき、異物の検出用の被検査体８０がＸ線源１１及びＸ線検出器１２の間を図２に示すように通過した場合に図７に示すようになり、異物の検出用の被検査体８０がＸ線源１１及びＸ線検出器１２の間を図１２に示すように通過した場合に図１３に示すようになる。
【００４５】
また、図１０に示すＳ１２３において分割される容器影響領域３１ａ及び非容器影響領域３１ｂは、例えば被検査体８０の容器８１の形状が図４に示すように円柱状であって４つの被検査体８０が図１４に示すように一塊にされている場合に第１分割閾値４１及び第２分割閾値４２の設定用の４つの被検査体８０の塊に対して図８に示す処理によって適切な第１分割閾値４１及び第２分割閾値４２が設定されているとき、異物の検出用の４つの被検査体８０の塊がＸ線源１１及びＸ線検出器１２の間を図１５に示すように通過した場合に図１６に示すようになる。
【００４６】
また、図１０に示すＳ１２３において分割される容器影響領域３１ａ及び非容器影響領域３１ｂは、例えば被検査体８０の容器８１の形状が図１７に示す形状であって４つの被検査体８０が図１８に示すように一塊にされている場合に第１分割閾値４１及び第２分割閾値４２の設定用の４つの被検査体８０の塊に対して図８に示す処理によって適切な第１分割閾値４１及び第２分割閾値４２が設定されているとき、異物の検出用の４つの被検査体８０の塊がＸ線源１１及びＸ線検出器１２の間を図１９に示すように通過した場合に図２０に示すようになる。なお、図１７に示す被検査体８０には容器８１の外部に凹部８１ａが存在するが、４つの被検査体８０の塊の製造方法によっては、４つの被検査体８０が図１８に示すように一塊にされたときに被検査体８０同士の接触部分にある凹部８１ａには異物が存在する可能性が低い場合がある。コンピュータ１３は、異物の検出用の４つの被検査体８０の塊のうち被検査体８０同士の接触部分にある凹部８１ａに対応するＸ線画像３０の領域を図２０に示すように容器影響領域３１ａとすることができるので、異物の検出用の４つの被検査体８０の塊のうち被検査体８０同士の接触部分にある凹部８１ａに対して異物の有無の検出を行わないようにすることができる。
【００４７】
また、図１０に示すＳ１２３において分割される容器影響領域３１ａ及び非容器影響領域３１ｂは、例えば被検査体８０の容器８１の形状が図２１に示す形状である場合に第１分割閾値４１及び第２分割閾値４２の設定用の被検査体８０に対して図８に示す処理によって適切な第１分割閾値４１及び第２分割閾値４２が設定されているとき、異物の検出用の被検査体８０がＸ線源１１及びＸ線検出器１２の間を図２２に示すように通過した場合に図２３に示すようになる。
【００４８】
以上に説明したように、コンピュータ１３は、図８に示すＳ１０９において容器影響領域３１ａ及び非容器影響領域３１ｂを分割するための第２分割閾値４２を設定するようになっており、分割閾値設定手段を構成している。また、コンピュータ１３は、図８に示すＳ１０４や図１０に示すＳ１２３において画素の濃度分布と、第２分割閾値４２とに基づいて容器影響領域３１ａ及び非容器影響領域３１ｂを分割するようになっており、領域分割手段を構成している。また、コンピュータ１３は、図１０に示すＳ１２４において非容器影響領域３１ｂのＸ線画像３０に対して異物の有無を判断するようになっており、異物判断手段を構成している。したがって、Ｘ線異物検出装置１０は、容器影響領域３１ａ及び非容器影響領域３１ｂを画素の濃度分布及び第２分割閾値４２に基づいて分割するので、異物の検出が不要な領域である容器影響領域３１ａを従来より適切に抽出することができ、異物の検出の信頼性を従来より向上することができる。即ち、Ｘ線異物検出装置１０は、被検査体８０のＸ線画像３０から異物の検出が必要な非容器影響領域３１ｂを従来より適切に抽出することができ、異物の検出の信頼性を従来より向上することができる。
【００４９】
なお、コンピュータ１３は、各画素と異物検出閾値５１とを単純に比較することによって異物の有無を判断するようになっているが、異物の有無をより適切に判断するために、Ｘ線画像３０に所定のフィルタをかけた後、フィルタをかけたＸ線画像３０に対して所定の閾値に基づいて異物の有無を判断するようになっていても良い。
【００５０】
また、コンピュータ１３は、図８に示すＳ１０５において容器影響領域３１ａをＸ線画像３０に重ねてディスプレイ１４に表示させるようになっており、表示制御手段を構成している。また、コンピュータ１３は、図８に示すＳ１０９において利用者によって指定された第２分割閾値４２を設定するようになっている。したがって、Ｘ線異物検出装置１０は、第２分割閾値４２によって分割された容器影響領域３１ａを利用者に見させながら利用者に第２分割閾値４２を指定させることができるので、利用者に第２分割閾値４２を容易に設定させることができる。コンピュータ１３は、図８に示すＳ１０５において容器影響領域３１ａをＸ線画像３０に重ねてディスプレイ１４に表示させるようになっているが、容器影響領域３１ａに代えて非容器影響領域３１ｂをＸ線画像３０に重ねてディスプレイ１４に表示させるようになっていても良いし、容器影響領域３１ａ及び非容器影響領域３１ｂの両方をＸ線画像３０に重ねてディスプレイ１４に表示させるようになっていても良い。
【００５１】
なお、コンピュータ１３は、非容器影響領域３１ｂのＸ線画像３０における被検査体８０の搬送方向上の位置が等しい画素のうち濃度が最大の画素の濃度を被検査体８０の搬送方向上の位置毎に表したグラフ、即ち図１１に示すようなグラフをディスプレイ１４に表示させるようになっていれば、非容器影響領域３１ｂのＸ線画像３０に対して異物の有無を判断するための異物検出閾値５１を利用者に容易に設定させることができる。
【００５２】
また、コンピュータ１３は、図８に示す処理の開始前に第１分割閾値４１及び第２分割閾値４２が初期値として予め“１００”に設定されるようになっているが、Ｘ線検出器１２の検出結果の入力後、図８に示す処理の開始前に第１分割閾値４１及び第２分割閾値４２の少なくとも一方を自動的に設定するようになっていても良い。例えば、コンピュータ１３は、Ｘ線検出器１２の検出結果が入力されると、第１分割閾値４１及び第２分割閾値４２の設定用の被検査体８０の図６に示すようなＸ線画像３０における画素の濃度分布に基づいて、最適な第１分割閾値４１及び第２分割閾値４２を自動的に設定した後、図８に示す処理を開始するようになっていても良い。
【００５３】
（第２の実施の形態）
第２の実施の形態に係るＸ線異物検出装置の構成は、コンピュータ１３に記録されたプログラムが異なることを除いて、第１の実施の形態に係るＸ線異物検出装置１０（図１参照。）の構成とほぼ同様であるので、Ｘ線異物検出装置１０の構成と同一の符号を付して説明する。
【００５４】
本実施の形態に係るＸ線異物検出装置の動作について説明する。
【００５５】
まず、第１分割閾値４１及び第２分割閾値４２を設定する動作について説明する。
【００５６】
コンピュータ１３は、図２４に示すように、図８に示すＳ１０１からＳ１０３までの処理と同様に、Ｓ１４１からＳ１４３までの処理を実行する。次いで、コンピュータ１３は、Ｓ１４３において分割した被検査体領域３１のうち現在の第２分割閾値４２以上の濃度である画素の領域を容器影響領域３１ａの候補である容器影響候補領域３３ａ（図２５参照。）として分割し（Ｓ１４４）、分割した容器影響候補領域３３ａのうち被検査体領域３１の境界に接した領域を図２６に示すように容器影響領域３１ａとし、被検査体領域３１のうち容器影響領域３１ａ以外の領域を非容器影響領域３１ｂとして分割する（Ｓ１４５）。そして、コンピュータ１３は、図８に示すＳ１０５からＳ１１０までの処理と同様に、Ｓ１４６からＳ１５１までの処理を実行して、図２４に示す一連の処理を終了する。
【００５７】
次に、被検査体８０に含まれる異物の有無を検出する動作について説明する。
【００５８】
コンピュータ１３は、図２７に示すように、図１０に示すＳ１２１及びＳ１２２の処理と同様に、Ｓ１６１及びＳ１６２の処理を実行する。次いで、コンピュータ１３は、Ｓ１６２において分割した被検査体領域３１のうち図２４に示す処理によって予め設定されていた第２分割閾値４２以上の濃度である画素の領域を容器影響領域３１ａの候補である容器影響候補領域３３ａとして分割し（Ｓ１６３）、分割した容器影響候補領域３３ａのうち被検査体領域３１の境界に接した領域を容器影響領域３１ａとし、被検査体領域３１のうち容器影響領域３１ａ以外の領域を非容器影響領域３１ｂとして分割する（Ｓ１６４）。そして、コンピュータ１３は、図１０に示すＳ１２４及びＳ１２５の処理と同様に、Ｓ１６５及びＳ１６６の処理を実行して、図２７に示す一連の処理を終了する。
【００５９】
以上に説明したように、本実施の形態に係るＸ線異物検出装置のコンピュータ１３は、画素の濃度分布及び第２分割閾値４２に基づいて容器影響候補領域３３ａを分割し、被検査体領域３１の境界に接した容器影響候補領域３３ａを容器影響領域３１ａとして分割するようになっている。したがって、本実施の形態に係るＸ線異物検出装置は、被検査体８０のＸ線画像３０のうち実際には異物に対応する領域が誤って容器影響領域３１ａに含まれる可能性を低減することができる。
【産業上の利用可能性】
【００６０】
以上のように、本発明に係るＸ線異物検出装置は、異物の検出が不要な領域を従来より適切に抽出することができ、異物の検出の信頼性を従来より向上することができるという効果を有し、食品等の生産ライン上に設置されるＸ線異物検出装置等として有用である。
【図面の簡単な説明】
【００６１】
【図１】本発明の第１の実施の形態に係るＸ線異物検出装置のブロック図
【図２】（ａ）図１に示すＸ線異物検出装置のＸ線源及びＸ線検出器の正面図（ｂ）図２（ａ）に示す状況における図２（ａ）に示すＸ線源及びＸ線検出器の側面図
【図３】図１に示すＸ線異物検出装置のディスプレイに表示される画像を示す図
【図４】（ａ）図２に示す被検査体の上面図（ｂ）図４（ａ）に示す被検査体の側面図
【図５】図１に示すＸ線異物検出装置によって生成されたＸ線画像の被検査体領域及び被検査体外領域を示す図
【図６】図１に示すＸ線異物検出装置によって生成されたＸ線画像における画素の濃度分布を示す図
【図７】図１に示すＸ線異物検出装置によって生成されたＸ線画像の被検査体領域の容器影響領域及び非容器影響領域を示す図
【図８】利用者によって分割閾値が設定されるときの図１に示すＸ線異物検出装置の動作のフローチャート
【図９】利用者によって分割閾値が設定されるときに図１に示すＸ線異物検出装置のディスプレイに表示される画像を示す図
【図１０】被検査体に含まれる異物の有無を検出するときの図１に示すＸ線異物検出装置の動作のフローチャート
【図１１】図１に示すＸ線異物検出装置によって分割された非容器影響領域のＸ線画像における被検査体の搬送方向上の位置が等しい画素のうち濃度が最大の画素の濃度を被検査体の搬送方向における位置毎に表したグラフを示す図
【図１２】（ａ）図２に示す被検査体が図２に示す状況とは異なる状況で搬送されたときの図１に示すＸ線異物検出装置のＸ線源及びＸ線検出器の正面図（ｂ）図１２（ａ）に示す状況における図１２（ａ）に示すＸ線源及びＸ線検出器の側面図
【図１３】図１２に示す状況で被検査体が搬送されたときに図１に示すＸ線異物検出装置によって分割される容器影響領域及び非容器影響領域を示す図
【図１４】（ａ）図４に示す被検査体の塊の上面図（ｂ）図１４（ａ）に示す塊の側面図
【図１５】（ａ）図１４に示す塊が搬送されたときの図１に示すＸ線異物検出装置のＸ線源及びＸ線検出器の正面図（ｂ）図１５（ａ）に示す状況における図１５（ａ）に示すＸ線源及びＸ線検出器の側面図
【図１６】図１５に示す状況で図１４に示す塊が搬送されたときに図１に示すＸ線異物検出装置によって分割される容器影響領域及び非容器影響領域を示す図
【図１７】図４に示す被検査体とは異なる被検査体の外観斜視図
【図１８】（ａ）図１７に示す被検査体の塊の上面図（ｂ）図１８（ａ）に示す塊の側面図
【図１９】（ａ）図１８に示す塊が搬送されたときの図１に示すＸ線異物検出装置のＸ線源及びＸ線検出器の正面図（ｂ）図１９（ａ）に示す状況における図１９（ａ）に示すＸ線源及びＸ線検出器の側面図
【図２０】図１９に示す状況で図１８に示す塊が搬送されたときに図１に示すＸ線異物検出装置によって分割される容器影響領域及び非容器影響領域を示す図
【図２１】（ａ）図４に示す被検査体及び図１７に示す被検査体とは異なる被検査体の上面図（ｂ）図２１（ａ）に示す被検査体の側面図
【図２２】（ａ）図２１に示す被検査体が搬送されたときの図１に示すＸ線異物検出装置のＸ線源及びＸ線検出器の正面図（ｂ）図２２（ａ）に示す状況における図２２（ａ）に示すＸ線源及びＸ線検出器の側面図
【図２３】図２２に示す状況で図２１に示す被検査体が搬送されたときに図１に示すＸ線異物検出装置によって分割される容器影響領域及び非容器影響領域を示す図
【図２４】利用者によって分割閾値が設定されるときの本発明の第２の実施の形態に係るＸ線異物検出装置の動作のフローチャート
【図２５】本発明の第２の実施の形態に係るＸ線異物検出装置によって分割される容器影響候補領域を示す図
【図２６】本発明の第２の実施の形態に係るＸ線異物検出装置によって分割される容器影響領域及び非容器影響領域を示す図
【図２７】被検査体に含まれる異物の有無を検出するときの本発明の第２の実施の形態に係るＸ線異物検出装置の動作のフローチャート
【図２８】（ａ）従来のＸ線異物検出装置によって異物の有無が検出される被検査体の上面図（ｂ）図２８（ａ）に示す被検査体の側面図
【図２９】（ａ）図２８に示す被検査体が搬送されたときの従来のＸ線異物検出装置のＸ線源及びＸ線検出器の正面図（ｂ）図２９（ａ）に示す状況における図２９（ａ）に示すＸ線源及びＸ線検出器の側面図
【図３０】（ａ）図２９に示す状況で被検査体が搬送されたときにＸ線異物検出装置によって生成される被検査体の画像を示す図（ｂ）図２９に示す状況で搬送された被検査体の容器の側壁部分の本来の影を示す図（ｃ）図２９に示すＸ線異物検出装置によって抽出された被検査体の容器の側壁部分の影を示す図
【図３１】（ａ）図２８に示す被検査体の塊の上面図（ｂ）図３１（ａ）に示す塊の側面図
【図３２】（ａ）図３１に示す塊が搬送されたときの従来のＸ線異物検出装置のＸ線源及びＸ線検出器の正面図（ｂ）図３２（ａ）に示す状況における図３２（ａ）に示すＸ線源及びＸ線検出器の側面図
【図３３】（ａ）図３２に示す状況で被検査体が搬送されたときにＸ線異物検出装置によって生成される被検査体の画像を示す図（ｂ）図３２に示す状況で搬送された被検査体の容器の側壁部分の本来の影を示す図（ｃ）図３２に示すＸ線異物検出装置によって抽出された被検査体の容器の側壁部分の影を示す図
【符号の説明】
【００６２】
１０Ｘ線異物検出装置
１３コンピュータ（分割閾値設定手段、領域分割手段、異物判断手段、表示制御手段）
１４ディスプレイ（表示手段）
３０Ｘ線画像
３１被検査体領域
３１ａ容器影響領域
３１ｂ非容器影響領域
３３ａ容器影響候補領域
４２第２分割閾値（分割閾値）
８０被検査体
８１容器

【特許請求の範囲】
【請求項１】
搬送される被検査体（８０）を透過したＸ線量に基づいて生成されたＸ線画像（３０）を処理して前記被検査体に含まれる異物の有無を検出するＸ線異物検出装置（１０）において、
前記被検査体中の容器（８１）の影響が強いと想定される容器影響領域（３１ａ）及び前記容器影響領域以外の非容器影響領域（３１ｂ）に前記Ｘ線画像中の前記被検査体に対応すると想定される被検査体領域（３１）を分割するための分割閾値（４２）を設定する分割閾値設定手段（１３）と、画素の濃度分布及び前記分割閾値設定手段によって設定された前記分割閾値に基づいて前記容器影響領域及び前記非容器影響領域を分割する領域分割手段（１３）と、前記非容器影響領域のみの前記Ｘ線画像に対して前記異物の有無を判断する異物判断手段（１３）とを備えたことを特徴とするＸ線異物検出装置。
【請求項２】
前記領域分割手段（１３）は、画素の濃度分布及び前記分割閾値設定手段（１３）によって設定された前記分割閾値（４２）に基づいて前記容器影響領域（３１ａ）の候補である容器影響候補領域（３３ａ）を分割し、前記被検査体領域（３１）の境界に接した前記容器影響候補領域を前記容器影響領域として分割することを特徴とする請求項１に記載のＸ線異物検出装置（１０）。
【請求項３】
画像を表示する表示手段（１４）と、前記容器影響領域（３１ａ）及び前記非容器影響領域（３１ｂ）の少なくとも一方を前記Ｘ線画像（３０）に重ねて前記表示手段に表示させる表示制御手段（１３）とを備え、
前記分割閾値設定手段（１３）は、利用者によって指定された前記分割閾値（４２）を設定することを特徴とする請求項１に記載のＸ線異物検出装置（１０）。
【請求項４】
画像を表示する表示手段（１４）と、前記非容器影響領域（３１ｂ）の前記Ｘ線画像（３０）における前記被検査体（８０）の搬送方向上の位置が等しい画素のうち濃度が最大の画素の濃度を前記位置毎に表したグラフを前記表示手段に表示させる表示制御手段（１３）とを備えたことを特徴とする請求項１に記載のＸ線異物検出装置（１０）。

【図１】