【課題】 後方散乱による画質劣化を低減しながらも、放射線の漏洩を防止することが可能なフラットパネル型放射線検出器を提供すること。
【解決手段】 フラットパネル型放射線検出器は、放射線変換膜１１と、ＴＦＴ１２と、原子番号が１２以上３０以下の金属または実効原子番号１２以上３０以下の合金からなり、そこに直接入射した放射線は通過させるが散乱した放射線は通過させない第１金属板１３と、原子番号が７３以上の金属または実効原子番号７３以上の合金からなり、放射線を通過させない第２金属板１４と、電気回路基板１５とが、この順に積層された構成を有する。 （もっと読む）

【課題】軟Ｘ線を遮断するあるいは軟Ｘ線を発生させないＸ線管装置を提供することを目的とする。
【解決手段】陽極６の内周部に凸となる段差６ａを設けることで、その段差６ａによって軟Ｘ線を遮断する構造で陽極６の内周部を構成する。Ｘ線発生のために負荷をＸ線管装置１に加えた場合には、コントローラ１１は陽極６の外周部に電子ビームＢを衝突させるように偏向コイル５を制御するとともに、負荷終了後に、コントローラ１１は陽極６の内周部に電子ビームＢを衝突させるように偏向コイル５を制御する。このように、負荷終了後に、コントローラ１１は陽極６の内周部に電子ビームＢを衝突させるように偏向コイル５を制御し、軟Ｘ線を遮断する構造で陽極６の内周部を構成しているので、負荷終了後（波尾のタイミング時）において軟Ｘ線を遮断する。 （もっと読む）

【課題】２次元透過像と３次元再構成画像とを、手間なく、かつ精緻に重畳出力することができる、補正用位置情報取得方法、位置ズレ補正方法、画像処理装置、放射線撮像装置および計測用ファントムを提供することを目的とする。
【解決手段】映像系２の移動で形成される面上に複数のマーカを設けた計測用ファントムを用いて、計測用ファントムの２次元透過像と計測用ファントムの３次元再構成画像とを重ね合わせ画面３６で重畳出力し、その重畳出力された像にそれぞれ映り込んだ同一のマーカが重畳されるように重畳の対象となる計測用ファントムの両画像を画面上で移動させ、上述の移動により計測用ファントムの複数の補正用位置情報を映像系２の移動位置と対応させた補正テーブル３２を参照して、被検体の２次元透過像と被検体の３次元再構成画像とを重畳出力する際の位置ズレを画面上で補正する。 （もっと読む）

【課題】 有機溶媒中に元素を含有する試料において、元素を高感度で分析することができる発光分光分析方法を提供する。
【解決手段】 発光分光分析用プラズマトーチ１０を用いてプラズマ炎２２を形成して、試料３１をプラズマ炎２２に導入することにより、元素を分析する発光分光分析方法であって、試料ガス管１１の内周面で囲まれた空間には、霧滴化された試料３１をキャリアガスとともに流通させ、試料ガス管１１の外周面と補助ガス管１４の内周面との間には、酸素を含有するガスを流通させ、補助ガス管１４の外周面とプラズマ用ガス管１２の内周面との間には、プラズマ用ガスを流通させ、プラズマ用ガス管１２の外周面とクーラントガス管１３の内周面との間には、冷却用ガスを流通させる。 （もっと読む）

【課題】ＳＥＭ、ＴＥＭなどにも取り付け可能で、複数の元素を高感度、高分解能で同時に測定可能なＸ線分析装置を提供する。
【解決手段】点／並行型である一本のマルチキャピラリＸ線レンズ１６の集束端側の焦点が試料１４上の電子線照射点１５に一致するように該レンズ１６を配設する。そして、該レンズ１６の平行端の外方で、レンズ１６の断面を二つに区画した各区画領域１６ａ、１６ｂの延長線上にそれぞれ平板分光結晶２０、２３を設置する。平板分光結晶２０で波長分散されたＸ線の中の特定波長のＸ線は超軽元素対応のＸ線検出器２２で検出され、他の平板分光結晶２３で波長分散されたＸ線の中の特定波長のＸ線は重元素対応のＸ線検出器２５で検出される。試料１４の近傍には一本のマルチキャピラリＸ線レンズ１６を配設すればよいのでスペースをとらず、試料１４から放出された特性Ｘ線を異なるＸ線検出器２２、２５で同時に検出できるので、異なる元素の同時測定が可能である。 （もっと読む）

【課題】懸垂されたサンプルの振動を効果的に防止して計測誤差を低減すると共に、測定時間の短縮を図ることのできる測定用ホルダを提供すること。
【解決手段】上端に引掛け部１ａを有する上下に長いフック体１に吊り下げられたサンプルＣを電子天びんでＡ計量するために使用されるものであって、電子天びんＡの計量皿２に立設された支柱４と、該支柱の上部に形成された係合部５と、係合部５の下方位置に配置されて支柱４に支持された当接体６とからなり、該当接体の先端６ａが、係合部からの垂線Ｘより離れた位置になるように形成され、これによりサンプルを吊り下げたフック体１を係合部５に引っ掛けた際に、フック体１が傾斜してサンプルの荷重が係合部５と当接体先端部６ａの２点で支持されるようにした構成。 （もっと読む）

【課題】回折格子の溝方向を容易に且つ精度良く調整することができる効率測定器及び回折格子の溝方向調整方法を提供する。
【解決手段】本発明の効率測定器１は、光源１０とその光路上に配置された分光器１２、分光器１２の光路上に配置されたスリット１４及び測定対象の回折格子１６等を保持するホルダー１８、前記回折格子１６からの回折光等の光強度（エネルギー）を検出する検出器２０、検出器２０における光入射位置と光学的に共役な位置に配置された的部材２２とを備えている。回折格子１６の溝方向を調整するときは、回折格子分光器１２からの０次回折光を回折格子１６に入射することにより得られる前記回折格子１６からの帯状の回折光を的部材２２に入射させる。このとき、的部材２２の溝方向調整用のマークに前記帯状の回折光が重なるように前記回折格子１６の姿勢を調整すると、前記回折格子１６の溝方向が垂直に調整される。 （もっと読む）

【課題】装置内の干渉を低減させ、術者の立つ位置の自由度を増やすことができるＸ線撮像装置を提供することを目的とする。
【解決手段】Ｘ線管装置１は、外囲器１２の陰極１３側に（外囲器用の）モータ１９を備えており、Ｘ線管装置１を支持するＣ型アーム４の端部側を陽極１５側としてＣ型アーム４に支持されているので焦点位置から陽極１５側の管端面までの距離ａはモータがなくなった分だけ短くなり、焦点位置からＣ型アーム４の端部までの距離ｃもモータがなくなった分だけ短くなり、装置内の干渉を低減させ、術者の立つ位置の自由度を増やすことができる。 （もっと読む）

【課題】半導体処理装置の処理室内を浮遊するパーティクルの分布に関する正確な情報を取得することができるパーティクル検出装置を提供する。
【解決手段】本発明のパーティクル検出装置１は、半導体処理装置の処理室内を浮遊するパーティクルを検出するために前記処理室の排気管１８に設置され、前記排気管１８内の測定対象領域の全体に同時に光を照射する半導体レーザダイオード１０と３２チャンネルの光電子増倍管から成る散乱光検出器１２と、前記散乱光検出器１２の検出信号をチャンネル毎に処理することにより前記排気管１８内を通過するパーティクルの分布状況に関する情報を出力する制御基板２４と、前記制御基板２４が出力する前記パーティクルの分布状況を表示する表示部３０とを備える。 （もっと読む）

【課題】回診用Ｘ線撮影装置において、減速時のショートブレーキによる衝撃を緩和する。
【解決手段】
ショートブレーキ時に駆動モータに流れる制動電流のオン・オフ制御のパルス幅を一定の幅にて制御していたのを、駆動モータの回転数が大きい時には、パルス幅を小さくし、駆動モータの回転数が小さくなるにつれてパルス幅を大きくするＰＷＭ制御をすることで、制動トルクの変動が低減され、ショートブレーキ時の装置の衝撃が緩和される。これより、操作者は、減速時に急激な衝撃を負荷されないので、快適に減速および停止することができる。 （もっと読む）