【課題】回診用Ｘ線撮影装置において、登坂時にはスムースに上り、平地走行時には急加速することなく走行する。
【解決手段】
登坂時にモータに流れる電流値の上限と平地走行時にモータに流れる電流の上限値とを変動させる。登坂時には、平地走行時に比べてモータ電流値の上限を上げることでモータにより多くの電流を流すことができ出力トルクを大きくすることができるので、スムースに上り坂を登坂することができる。また、平地走行時には、登坂時に比べてモータ電流値の上限を下げることで、モータに流れる電流の制限を強くすることができるので、急加速を防止することができる。これより、登坂時や平地走行時にかかわらず、自然に操作することができる。 （もっと読む）

【課題】より広い制御範囲を持ち、Ｘ線出力を最大限に取り出すことができるＸ線発生装置、およびそれを備えたＸ線撮影装置を提供する。
【解決手段】ダイオードＤ３，トランジスタＱ，および抵抗Ｒ２を図２のような関係で接続することにより、流入する管電流Ａの量にかかわらずＸ線管のカソード電極３ａの電位は設定電圧近傍に保たれる。また、設定電圧が０Ｖ近傍まで制御することが可能となるため、Ｘ線管の制御範囲が拡大し、Ｘ線出力を最大限に取り出すことができる。 （もっと読む）

【課題】試料の屈折率の絶対値を容易に且つ高精度で求める。
【解決手段】導波モード共鳴フィルタ５０の格子層４を覆う媒体層を試料Ｓとし、導波層３の端面に単色光を照射して、検出器１４によりその出射光を検出し、データ処理部で出射スペクトルを作成する。出射スペクトルには高い出射率を示す共鳴ピークが現れるが、その共鳴ピークの角度や波長は試料Ｓの屈折率の実部に依存し、共鳴ピークの強度は試料Ｓの屈折率の虚部に依存する。従って、検出した共鳴ピークの波長や角度、及び強度から試料の屈折率を求めることができる。 （もっと読む）

【課題】 放射線管に印加される管電圧にかかわらず、同じＳＮ比で画像を表示することが可能な放射線撮像装置を提供すること。
【解決手段】 放射線を照射するＸ線管１と、被検体４を通過したＸ線を検出するフラットパネルディテクタ２と、このフラットパネルディテクタ２で検出されたＸ線による映像信号を利用して放射線透視像を表示する画像表示部５と、ＩＢＳ信号に基づいて画像表示部５における放射線透視像の輝度が目標値となるようにＸ線管１の管電流を決定するＩＢＳゲート回路１２と、Ｘ線管１に印加される管電圧の大きさに応じて画像表示部５における輝度の目標値を変更する目標輝度変更回路２１とを備える。 （もっと読む）

【課題】 手動と同様の感覚で画像表示部を容易に移動させることが可能な診断装置を提供すること。
【解決手段】 一対の移動レール２２の両端部は、ローラ２４の作用により固定レール２１に沿って移動可能な一対の第１キャリッジ２３に固定されており、移動レール２２は第１キャリッジ２３とともに固定レール２１に沿って移動する。一対の移動レール２２の間には、ローラ２７の作用により移動レール２２に沿って移動可能な第２キャリッジ２６が配設されており、第２キャリッジ２６は移動レール２２に沿って移動する。画像表示部８は、懸垂機構３０の作用により、画像表示部８における各モニター１１の表示画面を含む平面方向と、この表示画面を含む平面と直交する平面方向の二方向に傾斜可能な状態で、第２キャリッジ２６対して懸垂されている。 （もっと読む）

【課題】 電気的衝撃ノイズ等が伝送経路を介して入力装置本体から外部装置に伝達されることを防止することができる入力装置を提供する。
【解決手段】 キー群１１が操作されることにより入力される入力情報を電気信号に変換する情報処理部１２を備える入力装置本体１０と、本体側コネクタ部２１と外部装置側コネクタ部２２とを連結する伝送経路２３とを有し、入力情報を入力装置本体１０から外部装置２に伝送する信号伝送経路部２０とを備える入力装置１であって、入力装置本体１０には、情報処理部１１及び本体側コネクタ部１２に電源を供給するための電池を格納する電池格納部１３が形成され、本体側コネクタ部２１は、電気信号を光信号に変換する電気／光変換回路２１ａを有するとともに、外部装置側コネクタ部２２は、光信号を電気信号に変換する光／電気変換回路２２ａを有し、伝送経路は、光信号を伝送する光ケーブル２３であることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】従来のデジタル画像相関法では負荷試験前後の試料上の同一点を探索するために輝度画像上で識別可能な模様が必要であり、こうした模様がない場合にはマーキングを行う必要があった。本発明ではこうしたマーキングを行うことなく高い精度での同一点探索を行えるようにする。
【解決手段】金属試料片では表面の平滑化処理を行っても、微細で且つ試料毎及び部位毎に相違する凹凸プロファイルが存在する。そこで、負荷試験前の試料の凹凸プロファイル（基準高さ分布）と負荷試験後の試料の凹凸プロファイル（比較対象高さ分布）とを用い（Ｓ１、Ｓ２）、デジタル画像相関法と同様の手法により相関係数の分布を求め（Ｓ３〜Ｓ８）、最大の相関係数を与える位置が同一点であるとして（Ｓ９、Ｓ１０）、負荷試験前の試料上の注目点に対応する負荷試験後の試料上の点を求める。 （もっと読む）

【課題】マイクロチップが加熱によって変形したときも温調素子を均一にマイクロチップの平面に密着させることができる温度制御装置を提供する。
【解決手段】温度制御装置は温調素子を備えている。温調素子は、伝熱面を有する熱伝導性の温度制御部、及び温度制御部の伝熱面とは反対側の平面に接して温度制御部を加熱又は冷却するペルチェ素子を備えている。温度制御部の伝熱面は、弾性をもってマイクロチップの被温度制御部の表面形状に追従する熱伝導性のエラストマーで覆われている。 （もっと読む）

【課題】試料上の狭い測定領域内の異なる複数の測定点についての質量分析を行って収集されたデータを用い該測定領域におけるマススペクトルを求める場合に、試料表面の凹凸により測定点毎の飛行距離に差異があっても、その影響をなくして高い質量分解能のマススペクトルを求める。
【解決手段】１つの測定点について得られるマススペクトル毎に、内部標準法による質量較正を実行して正確な質量軸に修整する（Ｓ３〜Ｓ７）。測定点毎に得られる較正済みのマススペクトルの中で、積算により質量分解能を低下させるおそれのある形状不良のマススペクトルがある場合にはそれを排除し（Ｓ８、Ｓ１０）、質量軸が正確で形状が正常であるマススペクトルを積算することにより、測定領域に対するマススペクトルを求め、これを表示画面上に表示する（Ｓ９、Ｓ１３）。 （もっと読む）

【課題】従来のマトリックスを用いた場合に良好な検出が困難であった低分子量（特に分子量５００以下）の化合物に対するＭＡＬＤＩ質量分析を良好に行う。
【解決手段】マトリックスとして、次の構造式を有する１Ｈ−テトラゾール誘導体を使用する。
【化１】


ここで、Ｒは、（ａ）アルキル基、又は、（ｂ）水酸基、アルキル基、ハロゲン元素を有していてもよいベンゼン系芳香族、のいずれかである。これにより、マトリックス由来の分子イオンピークが低質量領域に出現せず、測定対象物質由来の分子イオンピークを容易に同定することができる。 （もっと読む）