説明

株式会社島津製作所により出願された特許

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【課題】基板の電極とプローバーフレームのプローブピンとを位置合わせするための時間を短縮する。
【解決手段】メインチャンバー3内に設けたプローバーフレーム7にアライメント用の撮像手段8を設け、この撮像手段8によって基板上のアライメントマーク18を撮像することによって、プローバーフレーム7と基板10との位置関係を位置検出手段11で直接に求め、この位置関係に基づいてステージ制御手段12によりステージの移動を制御して、基板10をプローバーフレーム7に対して位置合わせする。 (もっと読む)


【課題】撮像中の部位に応じた最適な動作パラメータを容易且つ確実に設定可能な超音波診断装置を提供する。
【解決手段】被検体に対して超音波の送受を行う超音波プローブ11と、プローブ11で取得されたエコー信号に基づいて超音波画像を生成して表示装置15に表示させる信号処理手段12〜14と、プローブ11の位置を検出するプローブ位置検出手段16と、プローブ位置検出手段16で検出された現在のプローブ11の位置、並びに予め生成された被検体の三次元データ及び該三次元データ中の各部分領域が被検体のいずれの身体部位に相当するかを表した部位情報に基づいて、現在撮像している身体部位を特定する撮像部位特定手段17と、プローブ11及び/又は信号処理手段12〜14の現在の動作パラメータが、撮像部位特定手段17で特定された身体部位の撮像に適しているか否かを判定する判定手段19を設ける。 (もっと読む)


【課題】顕微質量分析により収集されたMSイメージングデータに対する統計的な解析処理により、試料を特徴付けるm/zの分布などの有用な情報を提供しつつ、その解析結果の信頼度などをユーザが容易に評価・検証できるようにする。
【解決手段】試料上の2つの関心領域に含まれる画素のMSイメージングデータに対し統計的仮説検定を実施してm/z毎のp値を算出し、p値が設定された有意水準以上となるm/zを求める。この特定のm/zにおけるp値、該m/zにおける二次元強度分布画像、該m/z付近の平均マススペクトル拡大図、該m/zの強度分布を示す箱髭図、正規確率プロット図などを同一の解析画面内に表示するとともに、実測による平均マススペクトルにおけるm/z付近のピークが理論的な同位体ピーククラスタに適合するか否かを示す指標値を算出し、それを同じ画面内に表示し、検定結果の信頼度の検証に利用できるようにする。 (もっと読む)


【課題】回路基板等の被検査物を加熱しつつ、その板厚方向に透視する場合等においても、被検査物を均一に加熱しつつX線透視を行うことのできるX線検査装置を提供する。
【解決手段】試料ステージ(テーブル)3上に配置された被検査物Wに熱風を噴射する加熱ユニット10を設け、この加熱ユニット10の熱風噴射部材12は、X線の透過度の高い材料で形成され、試料ステージ3の被検査物Wに対してX線光軸方向に対向する位置に設けた構成とすることにより、被検査物Wに対して熱風を一様に噴射してその温度を均一に保ちながら、被検査物WのX線透視像に対して熱風噴射部材12による影響を殆ど与えず、その画質の低下等を防止する。 (もっと読む)


【課題】 短時間でその大きさが大きくなる成長性を有する欠損画素を検出することが可能な二次元アレイX線検出器における欠損画素の検出方法および欠損画素の検出装置を提供する。
【解決手段】 フラットパネルディテクタに対してX線を照射しない状態における各画素の画素値を測定する暗電流値測定と、この暗電流値測定で測定した各画素の暗電流値が、予め記憶部に記憶した正常な画像の画素値の4.5倍以上となる画素を欠陥画素と判定する判定工程とを備える。 (もっと読む)


【課題】 短い測定時間で燃料用変性エタノール等の試料中に含有されている各化合物の濃度を算出することができる測定方法の提供。
【解決手段】 第一カラム5と、第二カラム6と、第一検出器3と、第二カラム6の出口端と接続される第二検出器7と、流路変更用接続機構40とを備えるガスクロマトグラフ1を用いた測定方法であって、設定開始時間と設定終了時間との間には、第一カラム5の出口端と第一検出器3とを流通する流通流路から、第一カラム5の出口端と第二カラム6の入口端とを流通する流通流路となるように、流路変更用接続機構40を制御する流路変更工程と、第一検出器3及び第二検出器7で検出された検出信号に基づいて、燃料用変性エタノール中に含有されていたエタノールの濃度及びメタノールの濃度を算出する算出工程とを含む。 (もっと読む)


【課題】統計ノイズの影響を画像に重畳させない放射線撮影装置を提供する。
【解決手段】本発明に係る放射線撮影装置は、変化率マップM1を生成する変化率マップ生成部48を備えている。そして、この変化率マップM1は、スムージングされ、平均値マップとなる。平均値マップからは、統計ノイズが平均化されてボカされる。放射線透視画像に変化率マップの有する統計ノイズが重畳することがない。また、スムージングは、放射線グリッドの吸収箔の延伸方向に沿って並んだ変化率の配列についてなされる。すると、縞模様の成分についてはスムージングを施さない構成とすることができる。これにより、変化率マップM1に現れた散乱線の縞模様はスムージングでボケてしまうことがなく、放射線透視画像に表れる模様を除去することができる。 (もっと読む)


【課題】
薄膜トランジスタのソース・ドレイン間のON抵抗を低下することができる光マトリックスデバイスの製造方法を提供する。
【解決手段】
凹凸パターンが形成された転写型に真空中にて半導体膜6を形成し、半導体膜6が形成された転写型に真空中にて連続してゲート絶縁膜7を形成する。そして、基板1上に予め形成されたゲート線2上に接着用樹脂4を介して前記ゲート絶縁膜7および前記半導体膜6を転写する。そして、基板1上に転写された前記半導体膜6に水素イオンをドープする処理を行う。それにより、半導体膜6の抵抗率を低下させることができるので、薄膜トランジスタのゲートがON状態のときのソース・ドレイン間の接続抵抗を低下させることができる。 (もっと読む)


【課題】 検査に使用する対象物の視認性を向上することが可能なX線撮影装置およびX線撮影方法を提供する。
【解決手段】 X線管3と、X線管3に付与する管電圧を制御するX線管制御部6と、X線管3から照射され被検者1を通過したX線を検出するフラットパネルディテクタ4と、X線管3に高電圧値が付与されたときのフラットパネルディテクタ4によるX線の測定値と、X線管3に低い低電圧値が付与されたときのフラットパネルディテクタ4によるX線の測定値とに対してサブトラクション処理を行うことにより、サブトラクション画像を得るサブトラクション部17と、X線管3に付与する高電圧値を変化させたときの、サブトラクション画像におけるガイドワイヤの画像と被検者1の骨部の画像との輝度の差が最大となる電圧値を、最適電圧値として判定する最適電圧判定部19とを備える。 (もっと読む)


【課題】目的の糖ペプチド由来のイオンをプリカーサイオンとしたMS/MSスペクトルに基づくデータベース検索により、糖ペプチドを構成するペプチドのアミノ酸配列と糖鎖結合部位とを高い信頼度で推定する。
【解決手段】MSスペクトルから糖ペプチド由来のイオンを見つけてMS/MSスペクトルを取得し(S1〜S3)、該スペクトルから全ての糖鎖が脱離したペプチドに帰属される、及び、糖による単純な修飾を受けたペプチドに帰属されるプロダクトイオンを抽出し、各プロダクトイオン以下のm/zを持つピークのリストをそれぞれ作成する(S4,S5)。S4で判明する修飾条件(糖の種類)を検索条件としピークリストをデータベース検索に供し、一致度の高いペプチドの候補をリスト化する(S6〜S8)。各ピークリストの検索結果を総合的に判定し、アミノ酸配列及び糖鎖結合部位の候補のリストを表示する(S9)。 (もっと読む)


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