【課題】二次元画像検出器の製造工程において、アクティブ素子アレイや半導体層の性能が劣化することを避ける。
【解決手段】ガラス基板上にＴＦＴアレイを形成する（工程Ｐ１）。ＴＦＴアレイを形成した領域を覆う表面保護層をガラス基板に形成する（工程Ｐ２）。表面保護層を形成した状態でガラス基板を分断してアクティブマトリクス基板を形成する（工程Ｐ３）。分断したアクティブマトリクス基板のエッジの面取りを行う（工程Ｐ４）。アクティブマトリクス基板から表面保護層を除去する（工程Ｐ５）。表面保護層を除去した領域におけるＴＦＴアレイ上にＸ線導電層を形成する（工程Ｐ６）。以上の工程により、ガラス基板の分断や面取りの際に生じる汚染物が、ＴＦＴアレイやＸ線導電層を汚染することを防止する。 （もっと読む）

【課題】 真空処理装置の基板移送工程の単純化を図ること。
【解決手段】 真空処理装置１０は、ロード／アンロード室１１、真空予備加熱室１２および処理室１３を備える。真空予備加熱室１２には、順移送装置２２、逆移送装置３２および基板Ｗを加熱するヒータＨが設けられている。ヒータＨは、順移送装置２２側に１つ設けられている。順移送装置２１，２２は、順方向へ基板Ｗを移送し、逆移送装置３１，３２は、処理済みの基板Ｗを逆方向へ移送する。ロード／アンロード室１１は、大気開放と真空密閉とを切り換え可能な室であり、ロード／アンロード室１１から基板Ｗを投入し、移送動作ｘ２〜ｘ５を経由して基板Ｗを回収する。 （もっと読む）

【課題】ファーネス式原子吸光分光光度計において、装置が許容できる最大加熱電流に達しないような比較的低電流下で生ずる電流の異常を検知し、安全に加熱電流を停止させ、構成部品の損傷を以前に防止するファーネス式原子吸光光度計を提供する。
【解決手段】グラファイトチューブ１に供給される加熱電流を電流センサ３で検出し、その電流を、温度プログラムで設定される標準波形発生器８の出力と比較して、その差があらかじめ設定された誤差より大きい場合には、比較器９からの信号によって、スイッチ１０を遮断し、制御素子７と加熱電流制御部１４との接続を絶つことにより、加熱シーケンスを中断させる。また同時に、電流異常の状況をエラー表示部１５に表示する。 （もっと読む）

【課題】複雑な光学系を用いずに、正確な可視光観察を可能にする、赤外顕微鏡のための照明光照射機構を提供する。
【解決手段】赤外顕微鏡に使用される従来のカセグレン鏡の代わりに、カセグレン鏡を構成する凸面鏡４の背部に放物面鏡６を設置し、この放物面鏡６に光ファイバー７を介して照明光源１０の光を照射し、放物面鏡６の反射光で試料８表面を照明する。放物面鏡６の焦点の位置に光ファイバー７の先端を位置させることにより、照明光を平行光束とすることが出来る。また、光ファイバー７内で反射が繰り返されるため、均一な照射光が得られる。顕微鏡内に照明光源１０を備える従来の方法に比べて、単純な光学系で、明るい均一な照明が得られ、正確な試料観察ができる。 （もっと読む）

【課題】１台の装置においてＸ線撮影に必要な制御の仕方が異なる複数種のＸ線受像デバイスのいずれを用いた場合でも速やかにＸ線撮影が実行できるようにする。
【解決手段】この発明の装置は、Ｘ線撮影に必要な制御の仕方が異なるＸ線受像デバイスとしてフィルムカセッテ３とＦＰＤ４が個別に取り出し可能な状態で移動可能な台車１に収納されているので、フィルムカセッテ３とＦＰＤ４のそれぞれを用いたＸ線撮影が１台の装置で行なえる。加えて、台車１から取り出されたＸ線受像デバイスの種類がフィルムカセッテ３とＦＰＤ４のいずれであるかがデバイス種類検知部１６で検知されてＸ線撮影制御部５に報知されると共に、Ｘ線撮影制御部５がデバイス種類検知部１６から報知されたＸ線受像デバイスの種類に即応した仕方でＸ線撮影に必要な制御を行なうので、フィルムカセッテ３とＦＰＤ４のいずれを用いた場合でもＸ線撮影を速やかに実行できる。 （もっと読む）

【課題】 多数のクロマトグラムを重ね描き表示したときに、その多数のクロマトグラムの中で所望のクロマトグラムのピークを簡便な操作で分割してピーク情報を得られるようにする。
【解決手段】 マウス操作により十字形状カーソルを表示画面内で移動させてクリック操作すると（Ｓ３）、その位置と同一の時間位置で最も近い位置のクロマトグラムが識別され（Ｓ４、Ｓ５）、そのクロマトグラム上でその時間位置がピーク開始点と終了点との間にある場合には（Ｓ６でＹＥＳ）、その時間位置でピークが左右に垂直分割される（Ｓ７）。そして、新たなピークの終了点及び開始点を示す表示や分割線を示す表示が付加されて画面表示が更新され（Ｓ８）、さらに分割された各ピークの面積や高さ等のピーク情報が再計算されて表示される（Ｓ９）。 （もっと読む）

【課題】
本発明は、試料の内部Ｘ線画像を取得するとともに、電子顕微鏡の機能も実現できるようにする。
【解決手段】
電子鏡筒１の電子線を可動式のターゲット９により遮蔽し、Ｘ線を発生させることで、Ｘ線発生器を電子線発生器と共用させる。これにより試料への照射Ｘ線と照射電子線が同軸上に落射されるため、同一視野で試料内部情報、表面情報の両方を観察することができる。また、試料全体の内部形態情報を示すＸ線画像に目的部位１５の元素分布像を重ねがきして表示することも可能となる。機械的切断手段１０を備えているため、試料内部の電子線画像などを表示することも可能である。 （もっと読む）

【課題】 絶縁油中ＰＣＢの前処理における処理時間を短縮し、前処理をオンラインによる自動化によって処理時間を短縮し、操作を簡易化し、また、油の除去効率を高める。
【解決手段】 ドライカラム及びＧＰＣクロマトグラフィーを用いた工程を用いることにより、前処理における油除去の処理時間を短縮すると共に油の残留率を低減する態様、ＧＰＣカラムにより油除去を行うと共に前処理の一部をオンラインで行うことにより処理時間を短縮する態様を備える。一の態様では、（ａ）乾燥した充填材にＰＣＢ成分を含有する絶縁油を浸透させる工程と、（ｂ）前記絶縁油を浸透させた充填材から含水アセトニトリルによりＰＣＢ成分を抽出する工程と、（ｃ）抽出液からＰＣＢ成分を含む溶出液を分離する工程と、（ｄ）溶出液をＧＰＣクロマトグラフィーで残存油を除去する工程と、（ｅ）溶出液をＧＣ−ＥＣＤで分析を行う工程とを備える。 （もっと読む）

【課題】 放射線検出手段が有する検出素子から欠陥素子を正確に抽出して、高品質な放射線画像を取得することができる放射線撮像装置を提供する。
【解決手段】 蓄積時間を変えて得られる２個の放射線検出信号から差分信号を差分信号取得部１３が求める。このようにして、放射線検出信号に含まれていた蓄積時間に依存しない成分を除去して、蓄積時間に依存する成分のみを取り出すことができる。そして、欠陥素子抽出部１５は、この差分信号が正常でないと判断したとき、この差分信号に応じた検出素子を欠陥素子と判定する。よって、蓄積時間に依存しない成分が各検出素子間でバラついている場合であっても、その影響を受けることなく欠陥素子の判定を行うことができるので、正確に欠陥素子を抽出することができる。これにより、高品質な画像を取得することができる。 （もっと読む）

【課題】
空調システムに使用されているバタフライ型流量制御弁の、氷結しない航空機の空調システムを提供する。
【解決手段】
エンジン抽気からの高温空気を、高温空気供給弁４を介してバタフライ型流量制御弁５の外表面または弁内部に供給することにより、弁内温度が０℃以下になることを防止する。更に弁内面の空気中の水分が凝縮しやすい箇所に四フッ化エチレン含浸メッキを施し、凝縮水の付着、氷結を防止するとともに万一氷結が生じてもより低い弁駆動力で氷結部を破壊する。 （もっと読む）