説明

シャープ株式会社により出願された特許

33,871 - 33,880 / 33,933


【目的】 64Mビット以上の高集積化に対応できる上、簡単に駆動できるシェアード・センス型オープンビット線方式のDRAMを提供する。
【構成】 センスアンプSAをビット線が延在する方向に1つ置きにずらして配置して第1の列と第2の列を構成する。第1の列のセンスアンプSAの右側に延在するビット線対BL0,BL1,…と、第2の列のセンスアンプSAの左側に延在するビット線対BL2,BL3,…とを交互に隣接させて、1つのビット線群BL0,…,BL7,…を構成する。ワード線WLおよびダミーワード線DWLは、それぞれ上記ビット線群を構成する各ビット線に交差する。動作時に、ダミーワード線DWLにワード線WLと逆相の信号を印加して、活性化されるビット線につながるダミーセルDCを参照する制御手段(図示せず)を有する。 (もっと読む)


【構成】 中間転写体10を支持する導電性薄膜18c’を被覆した支持ローラ18cと、この支持ローラ18cに中間転写体10を介在して押圧する転写ローラ22と、支持ローラ18cの転写ローラ22と反対側の面に当接するアースローラ18dとを有し、中間転写体10上の転写電流を支持ローラ18cの導電性薄膜18c’を介してアースローラ18dに流すことを特徴とするものである。
【効果】 中間転写体に直に圧接するアース用ローラを1つなくすことができ、中間転写体上の作像を乱すことなく、支持ローラの中間部でも圧力の低下がなく、中間転写体の寿命を長く保ち、転写性能の向上をはかることができる。 (もっと読む)


【目的】 複写画像の背景部のかぶりを定量的に推測して、熱履歴等によって劣化したトナーが供給された場合においても背景部のかぶりの発生やトナーの飛散等の問題を生じることのない複写機を提供する。
【構成】 現像後の感光体の素地濃度と、クリーニング後の感光体の素地濃度を検出する第1と第2の光学センサ9,10と、その両センサの出力比の大きさに基づいて複写プロセスのパラメータを制御する制御回路(マイクロコンピュータ13等)を備え、上記出力比が許容範囲を満足しないとき、コピーランプ電圧、現像バイアス電圧の少なくともいずれかを変化させ、かつ、この変化後にも上記出力比が改善されない場合には用紙補給とトナー補給を一時的に禁止して現像槽の攪拌を行うよう構成する。 (もっと読む)


【目的】 記録装置本体側およびスキャナ側のメンテナンスの簡易化ならびにサプライ品交換作業の容易・迅速化を図るとともに、装置構造の単純化を果たす。
【構成】 装置本体1には、電源部5、記録部4が設けられ、メンテナンス操作が及ばない個所である下部にスキャナ収納部6が本体外面に開口して設けられる。装置本体1は、原稿ガイド部材10、繰出しローラ11などの原稿搬送系装置ならびに光源18、反射板19、受像素子列20など光学系装置が、ケーシング15に組付けられて、スキャナ収納部6に引出し方式による着脱可能に組込まれるユニット化されるスキャナ2とを含んで記録装置を構成する。このスキャナ2を引出し・押込む操作によって装置本体1とスキャナ2との電気的断続が成される。 (もっと読む)


【目的】 ソース・ドレイン電極間の短絡の無い薄膜トランジスタを提供する。
【構成】 絶縁性基板上に形成されるゲート電極2と、ゲート電極を覆って形成されるゲート絶縁膜3と、ゲート絶縁膜上に形成され、ゲート電極の上に位置する第1の半導体膜4と、第1の半導体膜上に形成され、複数の絶縁膜層からなる多層絶縁膜と5,6、上記第1の半導体膜及び多層絶縁膜を覆い、所定の間隙をもって形成されるソース電極8及びドレイン電極9とからなり、上記多層絶縁膜を構成する複数の絶縁膜層は、最上部にある絶縁膜層に比べてそれ以下の絶縁膜層のエッチング速度が小さいことを特徴とする。 (もっと読む)



【目的】 閾値電流が低く、安定な単一横モード発振が得られる、信頼性に優れた半導体レーザ装置の製造方法を提供する。
【構成】 電流狭窄構造を有する埋め込みストライプ型の半導体レーザ装置は、電流ブロック層を成長させる工程と、活性層5を含むダブルヘテロ構造の半導体層を成長させる工程との2回の成長工程からなる。1回目の成長工程で電流ブロック層2と再成長界面制御層3を成長させることにより、逆バイアス界面が再成長界面になることを防ぐことができる。従って、電流狭窄構造が強固に形成できるので、無効電流が低減できる。また、2回目の成長工程で、活性層5を含むダブルヘテロ構造の側面とその底面とのなす角度は、(111)B面と(100)面とがなす角度である約54.7°となるので、再現性よく約1.5〜2μmに形成することができる。 (もっと読む)


【目的】一方の親機に対応する子機を用いて他方の親機に接続された外線の使用を可能にする。
【構成】第1の親機3には、第1の外線1が接続されかつ第1の子機5a、5bとの無線接続を行う第1の親機通信部を設け、第2の親機4には、第1の親機通信部との無線接続を行う第3の親機通信部および第3の親機通信部または第2の外線2が接続されかつ第2の子機6a、6bとの無線接続を行う第2の親機通信部を設け、第2の子機6a、6bが第1の外線1を使用するときには、第2の親機通信部に第3の親機通信部を接続すると共に第3の親機通信部と第1の親機通信部とを無線接続し、第2の親機通信部と第3の親機通信部と第1の親機通信部とを介することによって第2の子機6a、6bを第1の外線1に接続する。 (もっと読む)



【目的】 膜成長すべき基板の温度を正確に測定でき、基板温度を均一性良く正確に制御できる分子線エピタキシャル成長装置用基板加熱機構を提供する
【構成】 基板ホルダ2に取り付けられた基板10から所定の距離だけ離間した位置に、基板10に平行に面状の加熱ヒータ3を設ける。この加熱ヒータ3に、基板10側へ突出するように熱電対6を貫設する。基板10と加熱ヒータ3との間に、基板10から離間する一方、熱電対6に接触する状態で、熱伝導性を有する材料からなる均熱板1を設ける。 (もっと読む)


33,871 - 33,880 / 33,933