【課題】制御装置に測定器が接続されている測定器システムにおいて、目的となるプログラムを簡単に検索し、オブジェクトデータとプログラムとが不整合を生じることなくデバッグを行うことを目的とする。
【解決手段】制御装置２は、測定器３の動作制御を行う複数のプログラムを記憶した補助記憶装置１３と、補助記憶装置１３に記憶されたプログラムを測定器３が実行可能な形式にコンパイルしたオブジェクトデータに変換するコンパイラ１４と、オブジェクトデータにセットとして付加されるプログラムを特定するシグネチャを生成するシグネチャ生成部１６と、測定器３に記憶されている複数のオブジェクトデータのうちデバッグを行う対象となるオブジェクトデータに対応するシグネチャを入力して、このシグネチャと一致するプログラムを補助記憶装置１３から検索するファイルサーチ部１７と、を備えている。 （もっと読む）

【課題】標準ｐＨ計と比較電極としてｐＮａガラス電極を有する差動式ｐＨ計を用い、ｐＨの変化量からＮａ^＋濃度を算出することが可能なＮａ^＋濃度測定システムを提供する。
【解決手段】比較電極として液絡部を有する標準ｐＨ計と比較電極としてＮａ^＋選択性膜を有する差動式ｐＨ計を用い、測定液中のＮａ^＋濃度を測定する。 （もっと読む）

【課題】コストアップを招くことなく、簡易な構成で、負荷変動に対する出力電圧の変動を少なくする。
【解決手段】パタンプログラムを実行し、試験対象デバイスに印加するテストパタンを半導体試験装置に出力するパタンプログラム実行部と、テストパタンに同期して半導体試験装置から試験対象デバイスに供給される電圧値の変動を測定し、変動を少なくする電圧補正値と補正タイミングとを設定する電圧補正処理部と、所望の電圧値に対して、補正タイミングにおいて電圧補正値を用いて補正した電圧値を、半導体試験装置に設定する電圧制御部とを備えたテスタコントローラ。 （もっと読む）

【課題】 Ｘ線管から放射されるＸ線は放散するため、厚さ計などではゾーンプレート等を用いて平行化、収束化しているが、このゾーンプレートがＸ線を吸収するためにＸ線強度が弱くなり、また測定試料、Ｘ線管、ゾーンプレートの配置状況でＸ線強度が変化し、測定精度が変動してしまうという課題を解決する。
【解決手段】 Ｘ線を発生するターゲット基材、あるいはＸ線を取り出す窓材の表面に、Ｘ線の透過度が交互に変化する複数の輪帯を形成し、この輪帯によってＸ線を平行化、あるいは収束化するようにした。また、Ｘ線を平行化するマイクロキャピラリの内面にターゲット基材を蒸着し、マイクロキャピラリとターゲット基材を兼用するようにした。Ｘ線管単体で平行化、収束化したＸ線が得られるので、機器の構成を簡略化できる。また、測定対象とＸ線管のアラインメントが変化しても、測定精度が低下しない。 （もっと読む）

【課題】比較的安全性が高く、オーステナイト系ステンレス鋼の鋳物品についても再活性化率を測定できる金属特性測定装置を実現すること。
【解決手段】内部に飽和溶液が注入された保護管と本体が前記保護管内の前記飽和溶液中に挿入され取り出し部が前記保護管の開口端部に封着された照合電極と前記保護管の外周に巻き付けられた対極とが一体化されたセンサと、このセンサの対極部分を内包するように筒状に形成されて一端開口部は被測定物の表面に気密的に固着され、内部には前記センサの対極部分を浸すように電解溶液が注入されるセル容器と、正出力端子と２個の負出力端子を備え、第１の負出力端子には前記対極が接続され、第２の負出力端子には前記照合電極が接続され、正出力端子には前記被測定物が接続されるポテンショスタットとを含むことを特徴とする金属特性測定装置である。 （もっと読む）

【課題】従来のタイミング発生器を用いて、異なるタイミングで動作可能なピン数を増加させる。
【解決手段】パタン信号とエッジ信号とに基づいてドライバ波形を整形する複数個の波形整形器と、指定されたタイミングでエッジ信号を各波形整形器に出力するドライバタイミング発生器と、ドライバタイミング発生器にエッジ信号の出力タイミングを指示するとともに、複数個の波形整形器に独立にパタン信号を出力するフォーマッタとを備えた半導体試験装置。 （もっと読む）

【課題】入力電圧範囲が広いワイドレンジ入力に対応する電源装置において、平滑回路部分の小型化とローコスト化を実現すること。
【解決手段】広い入力電圧範囲の交流入力が整流回路で整流された直流出力を平滑回路で平滑するように構成された電源装置において、前記平滑回路は、比較的低容量で高耐圧を有し前記整流回路の負出力端子間に接続された第１のコンデンサと、ドレインが前記整流回路の正出力端子に接続されたＭＯＳＦＥＴと、比較的大容量で低耐圧を有し一端が前記ＭＯＳＦＥＴのソースに接続されて他端が前記整流回路の負出力端子に接続された第２のコンデンサと、前記ＭＯＳＦＥＴのドレイン−ソース間に並列接続されたダイオードと、前記ＭＯＳＦＥＴのゲートに接続された固定電圧源、
とで構成されていることを特徴とするもの。 （もっと読む）

【課題】 Ｘ線管から放射されるＸ線は放散するため、厚さ計などではゾーンプレート等を用いて平行化、収束化しているが、このゾーンプレートがＸ線を吸収するためにＸ線強度が弱くなり、また測定試料、Ｘ線管、ゾーンプレートの配置状況でＸ線強度が変化し、測定精度が変動してしまうという課題を解決する。
【解決手段】 Ｘ線を発生するターゲット基材、あるいはＸ線を取り出す窓材の表面に、Ｘ線の透過度が交互に変化する複数の輪帯を形成し、この輪帯によってＸ線を平行化、あるいは収束化するようにした。また、Ｘ線を平行化するマイクロキャピラリの内面にターゲット基材を蒸着し、マイクロキャピラリとターゲット基材を兼用するようにした。Ｘ線管単体で平行化、収束化したＸ線が得られるので、機器の構成を簡略化できる。また、測定対象とＸ線管のアラインメントが変化しても、測定精度が低下しない。 （もっと読む）

【課題】波形測定器から測定データを取得し、解析を行なう波形解析装置において、測定完了前に測定データの解析を行なうことができるようにする。
【解決手段】接続された波形測定器から測定中に連続的に得られる測定データを所定の単位で記録した分割測定データファイルを順次取得して第２補助記憶装置に保存する通信制御部と、第２補助記憶装置に保存されている分割測定データファイルに基づいて、波形解析に用いる付随情報を作成して分割測定データファイルに関連付ける測定データ再構成部と、付随情報を用いて分割測定データファイルに含まれる測定データの解析を行なう測定データ解析部とを備えた波形解析装置。 （もっと読む）

【課題】光の測定を行うときに、簡単な光学構成で収差を補正することを目的とする。
【解決手段】本発明の分光計１は、光源からの光を入力する入力ポート２と、入力ポート２から入力された光を反射する凹面形状の球面鏡３と、球面鏡３で反射した光を分光して球面鏡３に反射する等しい格子幅の球面の凸面形状の回折格子４と、球面鏡３により反射した分光された光を往路光Ｌとして、この往路光Ｌを反転させた復路光Ｒを球面鏡３に反射させる反射光学系５と、球面鏡３および回折格子４で反射した復路光Ｒを出力する出力ポート６と、を備えている。往路光Ｌと復路光Ｒとで相互に収差をキャンセルして補正することができる。曲率が一定な球面鏡を用い、格子幅が等しい回折格子を用いているため、簡単な光学構成で収差を補正することができる。 （もっと読む）