説明

富士通セミコンダクター株式会社により出願された特許

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【課題】デバッグ機能等の複雑な機能を搭載することなく、自動的に短時間で異常原因を検出可能なMPUを提供する。
【解決手段】マイクロコントローラは、処理ユニットによるプログラムの実行開始を起点として、レジスタの格納情報が指定する期間が経過すると、処理ユニットにプログラムの実行を停止させるとともに、バッファにバス上の情報を格納させる制御ユニットと、バッファに格納した情報を外部に送信可能であると共に外部からの情報を受信可能である通信ユニットとを含み、処理ユニットは、通信ユニットにより外部から受信した情報とバッファに格納した情報とを比較し、該比較の結果に応じて、レジスタの格納情報を異なる期間を指定する情報に書き換えてプログラムの先頭からの実行を再度開始する動作、或いは、少なくともレジスタの格納情報を外部に出力する動作、の何れかを選択し実行する。 (もっと読む)


【課題】複数のDC−DCコンバータを備える電源装置において、各DC−DCコンバータが、各出力電圧の相互の電位関係を維持した上で電圧を発生させることができる電源装置の制御回路、電源装置及びその制御方法を提供する。
【解決手段】電圧値がそれぞれ異なる複数の直流電圧(VCC,VBGP,VBGN)を出力する電源装置10Aの制御回路20Aにおいて、比較器1は、電源電圧指令信号S1(第1直流電圧の設定値)とバックゲート電圧指令信号S6(他の直流電圧の設定値)とを比較し、両電圧値の大小関係を判断して、電源電圧指令信号S1及びバックゲート電圧指令信号S6のうちの電圧値が高い設定値を、電圧VBGPの設定値として選択する。 (もっと読む)


【課題】シリコン基板にダメージを与えずに、ゲート下の不純物分布の正確な評価を安定して行うことのできる半導体ウェーハとその製造方法を提供する。
【解決手段】 半導体ウェーハは、半導体基板上の所定の箇所に設定されたモニター領域に、他と電気的接続を有しない断面形状がW字型のダミー充填部を有する。 (もっと読む)


【課題】入出力データの転送時間の短縮、並びに、回路規模の縮小を行うことのできるリコンフィギュラブル回路および半導体集積回路の提供を図る。
【解決手段】複数の演算器と、該複数の演算器に入力する演算入力データ,および,該複数の演算器から出力される演算出力データを保持する入出力データインタフェース部22と、を有し、前記複数の演算器の接続をコンテキスト毎に制御するリコンフィギュラブル回路であって、前記入出力データインタフェース部22は、複数のポートPRT0〜PRTnと、該複数のポートに接続され、深さ方向にm[mは2以上の整数]バンクを有する複数のレジスタREG00〜REGmnと、を有するように構成する。 (もっと読む)


【課題】半導体装置とその製造方法、及び半導体ウエハにおいて、個片化後の半導体チップがもとの半導体ウエハのどこに位置していたかを容易に特定すること。
【解決手段】複数のチップ領域Rcとスクライブ領域Rsとを有するシリコン基板20と、複数のチップ領域Rcの各々に対応する複数のモニタ素子Mと、スクライブ領域Rsに形成され、複数のモニタ素子Mの各々を電気的に接続する配線2とを有し、スクライブ領域RsにおけるダイシングラインX1〜X7、Y1〜Y7の位置をずらしたときに、配線2の異なる部分がダイシングされるようにして、配線2と複数のモニタ素子Mとの結線状態をダイシングラインX1〜X7、Y1〜Y7の位置に応じて可変にした半導体ウエハWによる。 (もっと読む)


【課題】 半導体装置の製造方法に関し、炭化シリコン薄膜の機械強度を高め、膜の消失や剥離を防止する。
【解決手段】 ポーラスな誘電率低誘電率絶縁膜上に−CH−結合が環状になってSiと結合し且つ二重結合を含む官能基を有する原料を用いて炭化シリコン薄膜を形成する工程と、前記炭化シリコン薄膜を所定パターンにエッチングしてハードマスクを形成する工程と、前記ハードマスクをエッチングマスクとして前記低誘電率絶縁膜をエッチングして配線形成用溝或いはビアホールの少なくとも一方を形成する工程とを設ける。 (もっと読む)


【課題】高耐圧で低抵抗なダイオード及びスイッチを構成する電力用半導体装置を提供すること。
【解決手段】ソースが整流素子のアノードとなる第1のトランジスタと、第1のトランジスタより高耐圧で、ソースが第1のトランジスタのドレインに接続され、ゲートが第1のトランジスタのソースに接続され、ドレインが整流素子のカソードとなるディプレッション型の第2のトランジスタと、第1のトランジスタより高耐圧で、ドレインが第2のトランジスタと共通に接続されたディプレッション型の第3のトランジスタと、第1のトランジスタのソースの電圧と第3のトランジスタのソースの電圧とを比較し、第1のトランジスタのゲート電圧を制御する比較器と、を備える構成とする。 (もっと読む)


【課題】nチャネルMOSトランジスタにおいてhigh−Kゲート絶縁膜をhigh−K誘電体膜と酸化ランタン膜の積層により構成した半導体装置において、酸化ランタン膜のパターニングプロセスを不要とする半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】界面酸化膜22上に形成されたhigh−K誘電体膜23上に酸化膜24を形成する工程と、前記high−K誘電体膜に窒化物層25を形成する工程と、前記窒化物層および前記酸化膜を第1の素子領域21Aから選択的に除去し、第1および第2の素子領域21Bにわたり酸化ランタン膜26を形成し、前記第1の素子領域においては前記界面酸化膜と前記high−K誘電体膜と前記酸化ランタン膜を積層した第1の積層構造を、また前記第2の素子領域においては前記界面酸化膜と前記high−K誘電体膜と前記酸化膜と前記窒化物層と前記酸化ランタン膜を積層した第2の積層構造を形成する工程と、を含む。 (もっと読む)


【課題】内部クロック発生回路を備え、実動作試験が、安定して正確に行える集積回路の実現。
【解決手段】外部クロックEXCLKを逓倍して内部クロックPLLCLKを発生する内部クロック発生回路20と、PLLCLKで動作し、外部バスとは非同期でデータを入出力するインターフェースを含み、トランザクション信号CSに応じて、外部バスとの間でデータの入出力動作を行う内部回路11と、を備える集積回路であって、CSを所定時間遅延し、CSの変化から所定時間の間アクティブになる停止信号CSEDGEを発生する遅延回路22-24と、試験モード時に、内部回路への内部クロックの供給を停止信号がアクティブの間停止し、停止信号が非アクティブなった後、内部クロックに同期して内部回路への内部クロックの供給を再開するように制御するクロック制御回路21と、を備える。 (もっと読む)


【課題】出力電圧を制御可能な入力電圧の範囲を広くすること。
【解決手段】ステート制御回路34は、出力電圧Voutに基づいて生成されたPWM制御信号Spwmに対して、入力電圧Vinが印加される入力端子P1とインダクタ25との間に接続されたトランジスタ21のオン時間を制御するためのマスク信号Smkを生成する。また、ステート制御回路34は、昇圧モードと降圧モードとを切り替えるためのモード信号Smdを生成する。そして、ステート制御回路34は、マスク信号Smkとモード信号Smdとのうちの何れか一方を、入力電圧Vinに応じて選択的に出力する。 (もっと読む)


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