説明

富士通セミコンダクター株式会社により出願された特許

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【課題】高耐圧で、特性の優れた半導体装置を提供する。
【解決手段】素子分離領域STIと、ウェルPWと、活性領域を横断するゲート電極Gと、ゲート電極の一方の側からゲート電極下方に入り込んで形成された低濃度ドレイン領域LDDと、ゲート電極の他方の側からゲート電極下方に入り込み、低濃度ドレイン領域とオーバーラップし、低濃度ドレイン領域より浅い、チャネル領域CHと、ゲート電極の他方の側に形成されたソース領域Snと、ゲート領域の一方の側に、ゲート電極から離間したドレイン領域Dnと、を有し、ゲート電極と高濃度ドレイン領域Dnとの間の中間領域の実効不純物濃度は、オーバーラップ領域の不純物濃度より高い。 (もっと読む)


【課題】 本発明は、指紋センサ用半導体装置の実装面積を縮小化し、組立、テスト工程の処理能力を向上させて製造コストを削減し、実装信頼性を向上させることを課題とする。
【解決手段】 半導体装置10は、所定の機能を提供する機能面を有する。半導体装置は、電極11aが形成された回路形成面と反対側の背面とを有し、回路形成面の一部が機能面であるセンサ面11bとして機能する半導体素子11を有する。半導体素子11の背面上に配線14が形成される。接続部15は、回路形成面と背面との間を貫通して延在し、電極11aと配線14とを電気的に接続する。外部接続端子12は配線14に接続され、半導体装置10の背面側で半導体装置の外部に露出する。 (もっと読む)


【課題】ノイズに対して強い耐性を有するメモリ回路を含む半導体記憶装置を提供する。
【解決手段】半導体記憶装置は、第1及び第2の方向に沿って行列状に配置された複数のメモリセルと、複数のセンスアンプと、第2の方向に延在する複数のワード線と、第1の方向に延在する複数のビット線とを有し、複数のメモリセルは、第2の方向に沿って延在する第1の補助ワード線をゲート電極として共有する第1のメモリセル群と、第1のメモリセル群と第2の方向に隣接して配置され、第2の方向に沿って延在する第2の補助ワード線をゲート電極として共有する第2のメモリセル群とを含み、第1及び第2のワード線が、それぞれ、第1及び第2の補助ワード線の一端に配置されたワード線コンタクト領域で、第1及び第2の補助ワード線に接続され、第1及び第2のビット線が、ワード線コンタクト領域を挟んで隣接し共通のセンスアンプに接続されている。 (もっと読む)


【課題】強誘電体膜を用いたキャパシタの更なる特性の向上を実現し得る半導体装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】半導体基板10の上方に形成された下部電極48と;下部電極上に直接形成され、Laが添加されたチタン酸ジルコン酸鉛の第1の強誘電体膜50と、第1の強誘電体膜上に直接形成され、第1の強誘電体膜より膜厚が薄く、LaとCaとSrとが添加されたチタン酸ジルコン酸鉛の第2の強誘電体膜52とを有するキャパシタ誘電体膜54と;キャパシタ誘電体膜上に形成された上部電極60とを有するキャパシタを有している。 (もっと読む)


【課題】カーボンナノチューブを高密度で成長させることができるカーボンナノチューブデバイスの製造方法を提供する。
【解決手段】チタン、タンタル、バナジウム及びニオブからなる群から選択された少なくとも一種の金属の酸化物、窒化物又は酸窒化物を含む下地膜2を形成する。下地膜2上に、コバルト、ニッケル及び鉄からなる群から選択された一種の第1の金属、並びにチタン、タンタル、バナジウム及びニオブからなる群から選択された少なくとも一種の第2の金属を含む触媒粒子3を分散させる。下地膜2の温度を450℃以下として触媒粒子3からカーボンナノチューブ4を成長させる。 (もっと読む)


【課題】高密度のカーボンナノチューブを容易に配線に用いることができる半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】絶縁膜7にビアホール9を形成し、ビアホール9内及び絶縁膜7上に触媒部12を形成する。絶縁膜7上の触媒部12を不活化し、ビアホール9内の触媒部12を起点としてビアホール9内にカーボンナノチューブを成長させる。 (もっと読む)


【課題】 半導体メモリのアクセス効率を向上し、メモリシステムの性能を向上する
【解決手段】 メモリシステムは、N個の端子を使用してデータの入出力が行われるメモリシステムにおいて、所定単位でデータアクセスされるとともに、データを入出力するためのM個の端子を有する第1メモリと第2メモリとを含む。第1メモリおよび第2メモリは、N単位でのデータアクセスを行うための第1アドレスと、所定単位でのデータアクセスを行うための第2アドレスと、N個の端子にM個の端子を割り付ける割付情報とに基づいて第3アドレスを生成するアドレス生成回路を有する。第1および第2メモリ毎に、第1アドレス、第2アドレスおよび割付情報に基づいて第3アドレスを生成することで、半導体メモリのアクセス効率を向上でき、メモリシステムの性能を向上できる。 (もっと読む)


【課題】信頼性の高い半導体装置を高い製造歩留まりで提供し得る半導体装置の製造方法を提供することにある。
【解決手段】側壁にサイドウォール絶縁膜が形成されたゲート配線20を形成する工程と、第1の応力膜38を形成する工程と、第1の応力膜上にエッチングストッパ膜40を形成する工程と、エッチングストッパ膜をエッチングし、第1の応力膜のうちのサイドウォール絶縁膜を覆う部分上にエッチングストッパ膜を選択的に残存させる工程と、第2の領域4を露出する第1のマスクを用いて第2の領域内の第1の応力膜をエッチングする工程と、第2の応力膜42を形成する工程と、第1の領域2を露出する第2のマスクを用いて第1の領域内の第2の応力膜をエッチングする工程と、第1の領域と第2の領域との境界部におけるゲート配線に達するコンタクトホール46aを形成する工程とを有している。 (もっと読む)


【課題】効率的かつ正確な協調シミュレーションを実現させること。
【解決手段】検証支援装置100は、ソフトウェアシミュレータ110や、ハードウェアシミュレータ120それぞれから他のシミュレータに対して実行対象データの転送を行う際に、各シミュレータの仕様に応じた処理時間のズレを特定し、特定したズレを調整したスケジューリングを行う。また、検証支援装置100は、ソフトウェアシミュレータ110からハードウェアシミュレータ120への通信ポート数に制限がある場合、通信ポートのビジー状態を把握して適切な通信経路を選択する機能も備えている。したがって、効率的な通信処理が可能となり、他のシミュレータの機能を活かした協調シミュレーションが可能となる。 (もっと読む)


【課題】精度良くレジスト膜にパターンを転写し、所望の寸法のレジストパターンをレジスト膜に形成する。
【解決手段】半導体装置の製造方法は、基板上方にレジスト膜を形成する工程と、光源から照射される露光用光をフォトマスクに入射することによりレジスト膜を露光する第1露光工程と、光源から照射される露光用光をフォトマスクに斜めに入射することによりレジスト膜を露光する第2露光工程と、レジスト膜を現像してレジスト膜にレジストパターンを形成する工程と、レジスト膜に溶剤を塗布して熱処理を行い、レジスト膜を膨潤させることによりレジスト膜に形成されたレジストパターンの寸法を縮小する工程と、を備える。 (もっと読む)


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