【課題】 ケーブルを再接続することなくＤＣ測定とＡＣ測定を切り替え、高精度で高速なＦＥＴ特性測定装置を提供する。
【解決手段】 パルス発生器に接続されて第１と第２のパルスを分割出力するディバイダと、第１のＳＭＵと、ディバイダからのパルスか第１のＳＭＵからの電圧かを選択する第１のスイッチと、第１のスイッチからの信号が印加されると共に被測定対象の第１の端子に該信号を供給する終端抵抗と、第２および第３のＳＭＵと、第３のＳＭＵに接続されたバイアスティーと、被測定対象の第２の端子を第２のＳＭＵに接続するか、または、第２の端子をバイアスティーの第３のＳＭＵからの電圧を重畳した信号に接続するかを選択する第２のスイッチと、ディバイダと前記バイアスティーに接続された電圧測定手段とを備える。 （もっと読む）

【課題】コンパクトで測定安定性に優れた光学システム用偏菱形アセンブリをより容易に製造する手段を提供する。
【解決手段】ガラスプレートを切断することによって偏菱形アセンブリを製造する。ガラスプレートはそれらの間のコーティングによって互いに接着される。切断の角度は例えば４５°であり、切断によって生じた表面は光学的な許容誤差範囲内で仕上げられる。これらの光学表面により、偏菱形アセンブリを、多軸干渉計の偏光ビームスプリッタ（PBS）のような光学部品に直接取り付けることができる。さらに、測定ビームの分離間隔を広げる１／４波長板、キューブコーナー反射鏡、及び偏菱形部品などの部品をPBSに取り付けて、コンパクトで熱的に安定な一体型ビーム光学系を作製することができる。基準ビーム用の１／４波長板に反射性コーティングや他の基準反射鏡を配置することによって、基準ビームの全ビーム経路を一体型構造内に保持することができる。 （もっと読む）

【課題】
デジタル数値処理を利用して干渉計位置データの非線形性を補償するためのシステム及び方法を提供すること。
【解決手段】
干渉計位置データ(202)の非線形性を補償するためのシステム及び方法(200)は、デジタル位置値(300)のグループ(600)を受信することを含む。デジタル位置値の第１のグループをデジタル処理し(208)、複数のデータ値(210)を生成する。前記複数のデータ値をデジタル処理し(212)、少なくとも１つの準静的非線形性パラメタ(214)を生成する。この少なくとも１つの非線形性パラメタに基づいて前記デジタル位置値の第２のグループを補償する。 （もっと読む）

【課題】ヘテロダイン干渉計の位置データに認められる高速度タイプの非線形性を補償するためのシステム及び方法を提供する。
【解決手段】このシステム及び方法(200)には以下の動作が含まれる。ディジタル位置値(204)の複数のグループを受け取る。測定チャネル(208M)からのディジタル位相値(209M)の複数のグループを受け取る。ディジタル位置値とディジタル位相値の第１のグループをディジタル的に処理して(210)、複数のブロックデータ値を生成する。複数のブロックデータ値をディジタル的に処理して(212)、少なくとも１つの準静的非線形性パラメータ(214)を生成する。ディジタル位置値の第２のグループは、この少なくとも１つの準静的非線形性パラメータに基づいて補償される(206)。 （もっと読む）

【課題】 精度の高い利得特性Ｇ（ｆ）の測定方法、および相対強度雑音ＲＩＮ（ｆ）の測定方法等を提供する。
【解決手段】上述した課題は、被測定光を受光電流に変換して、前記被測定光に含まれる相対強度雑音を分析する相対強度雑音測定装置の利得特性を測定する方法であって、光源から光を供給するステップと、前記光源の光を、異なる光増幅減衰率で増幅または減衰した複数の増幅減衰光を生成するステップと、前記複数の増幅減衰光の各々について、前記増幅減衰光を変換した受光電流の電流量と、前記増幅減衰光を変換した前記受光電流の強度の周波数分布とを、前記相対強度雑音測定装置で測定するステップと、測定した複数の、前記電流量と前記周波数分布との組み合わせから、前記利得特性を求めるステップと、を含む相対強度雑音測定装置の利得特性の測定方法等により解決することができる。 （もっと読む）

【課題】測定値を保持することなく、効率的に再校正できる技術を提供する。
【解決手段】
標準器の回路パラメータを測定し、前記測定された回路パラメータに関連する誤差係数の種類を特定し、前記測定された回路パラメータを用いて、前記特定された種類の誤差係数を計算することにより、校正されたネットワークアナライザを再校正する。また、前記計算に必要な回路パラメータのうち、前記測定された回路パラメータ以外の回路パラメータを、前記回路パラメータの理論値と前記校正により得られた誤差係数とを用いて再現する。 （もっと読む）

【課題】 周波数特性や環境安定性が高く、かつ、ダイナミックレンジが広い自動レベル制御装置等を提供する。
【解決手段】上述した課題は、検波器と、第１の遮断周波数以上の信号を減衰させる第１のローパスフィルタと、第１のローパスフィルタの出力信号レベルと所定の第１のレベルとの差分信号を出力する第１の比較器と、被制御回路に入力する信号レベルを制御する第１の制御回路とを備えた自動レベル制御装置であって、検波器が、検波入力制御信号に基づいて信号レベルを制御した信号を出力する第２の制御回路と、第２の制御回路の出力信号を検波する検波素子と、第２の遮断周波数以上の信号を減衰させる第２のローパスフィルタと、第２のローパスフィルタの出力信号レベルと所定の第２のレベルとの差分に基づいて、検波入力制御信号を出力する第２の比較器を備えた自動レベル制御装置等により解決することができる。 （もっと読む）

【課題】端子間に利得差があるプローブを用いて、従来に比べ、高精度かつ高安定に測定を行う。
【解決手段】プラス端子とマイナス端子を備える差動プローブを用いて、ある被測定端子間の差動信号を測定する場合に、被測定端子の第一の端子に差動プローブのプラス端子を、被測定端子の第二の端子に差動プローブのマイナス端子を接触させて被測定端子間の差動信号を測定し、被測定端子の第一の端子に差動プローブのマイナス端子を、被測定端子の第二の端子に差動プローブのプラス端子を接触させて被測定端子間の差動信号を測定し、それぞれの測定値を加算平均する。 （もっと読む）

【課題】浮遊容量を有するＴＦＴアレイを従来より高精度に測定する。
【解決手段】複数の画素回路を具備するアクティブマトリクス型ＴＦＴアレイを試験する方法であって、第一の画素回路内の画素素子用電極に容量負荷を介して接続される第一の信号線の信号レベルを変化させ、前記第一の信号線とは異なる少なくとも１つの第二の信号線の信号レベルに、前記第一の信号線の信号レベル変化とは逆方向の変化を生じさせ、前記第一の画素回路内のトランジスタにより前記画素素子用電極に接続される電源線に流れる電荷または電流を測定する。 （もっと読む）

本発明は一般的に、染色体のマッピング及び染色体再配置の構造解析に用いることができる、空間的及び構造的なゲノム解析組成物に関し、これは全染色体及び染色体の特定部分又は対象領域を含む。幾つかの実施形態では、例えば第１の検出物質１３及び第１の検出物質とは異なる第２の検出物質１４を用いて、複数部分のゲノムを区別することができる。検出物質は、オリゴヌクレオチド１１、１２に対して固定してもよく、染色体２５内の異なる場所と結合するように選択してもよい。例えば、オリゴヌクレオチドは、染色体と少なくとも実質的に相補的、例えば染色体の特定の場所と実質的に相補的であり得る。 （もっと読む）