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Fターム[2F067GG01]の内容

波動性又は粒子性放射線を用いた測長装置 (9,092) | 標準、基準 (146) | 標準となるもの (146)

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本発明はX線源(10)及びX線を検出する少なくとも1個のX線センサ(7)からなる第1の感知装置としてのX線感知装置及び測定物に対して座標測定装置のx、y及びz方向に位置決めすることができる第2の感知装置、例えば触覚式及び/又は光学式感知装置(8、11;9)を有する、測定物(3)の測定のための座標測定装置(110)に関する。大きなサイズの測定物も問題なく測定できるように、X線感知装置(7、10)が第2の感知装置(8,11;9)に対応して座標測定装置(10)に位置決めされることを提案する。 (もっと読む)


本発明は画像内にあるオブジェクトをスケーリングする画像処理装置に関する。前記画像処理装置は、マーカの実際の寸法と、画像内にあるこのマーカのピクセル単位での寸法との間の関係から得られる較正係数に基づいて前記オブジェクトをスケーリングするキャリブレータを有し、ここでキャリブレータはさらに、前記画像内において識別される複数の異なる配向のマーカを使用して得られる複数の較正係数を生成する。画像(I)は、解剖学的構造(2)対してこれらオブジェクトの異なる位置合わせとなる、空間において異なって配向される複数のオブジェクト(3、8、9)を有する。前記オブジェクト(3)は計測ツールにリンクされ、これは前記オブジェクト(3)のピクセル単位での長さを計測し、マーカ(A)から決められる較正係数を使用して、前記オブジェクト(3)の実際の寸法を計算する。前記マーカは空間においてオブジェクト(3)と同様に位置合わせされる。画像(I)はさらに、計測ツールにリンクされるオブジェクトを有し、これは、これらオブジェクトのピクセル単位での夫々の長さに基づいてこれらオブジェクト(8、9)の実際の長さ、及び前記マーカ(B)を使用して決められる較正係数を計算する。好ましくは、別々のマーカに対応するオブジェクトがグループ化され、較正グループを形成し、これにより、較正係数の更新が同じ較正グループ内にある全てのオブジェクトに対する実際の寸法の自動更新となる。好ましくは、各較正グループはユーザの便宜に対し別々に識別される。本発明はさらに、画像内にあるオブジェクトのスケーリングを可能にするためのイメージングシステム、コンピュータプログラム及び方法にも関する。
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本発明は、ワークピース(9)に対して不動に位置決めされている第一座標系を固定すること、 ワークピース(9)の第一座標を、第一座標測定装置(3)を使用することにより測定すること、 ワークピース(9)の第二座標を、第二座標測定装置(5)を使用することにより測定すること、そして 第一座標と第二座標から、共通の座標組を、ワークピース(9)に不動に位置決めされた座標系に対する第一座標系においてあるいは第二座標系において作ることを特徴とするワークピース(9)の座標を確定するための方法に関する。特に多数のワークピース(9)の座標はワークピース(9)の製造工程および/または加工工程の最中および/または後に確定することができる。さらに本発明はワークピース(9)が両座標測定装置(3,5)を用いた測定の間に位置および/または姿勢が変化する場合にも関する。
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