【課題】 隣接配線間隔の最大および最小による仕上がり差が主要因となって生じる特性インピーダンスのばらつきの把握および管理、ならびにプリント基板の省スペース化が可能な特性インピーダンス測定用テストクーポンおよびそれを有するプリント基板の提供。
【解決手段】 プリント基板１上の製品配線領域１１とは異なる第２領域１２に、配線間隔が一定となるようにジグザグに配線されるジグザグ配線部３１と、直線に配線される直線配線部３２とを含む特性インピーダンス測定用テストクーポン２１が設けられる。 （もっと読む）

【課題】
超伝導膜の表面抵抗をより高い精度で推測できる超伝導膜表面抵抗推測方法などを提供する。
【解決手段】
本発明のある側面は、ギャップエネルギーを複素数化し、Mattis-Bardeen方程式を使って超伝導膜の表面抵抗を推測することを特徴とする超伝導膜表面抵抗推測方法にある。本構成によれば、超伝導膜の表面抵抗をより高い精度で推測できる方法が得られる。本発明の他の側面は、ギャップエネルギーを複素数化し、Mattis-Bardeen方程式を使って超伝導膜の表面インピーダンス推測し、この値を用いて当該超伝導膜で構成された高周波伝送線路の伝送損失を推測することを特徴とする超伝導膜表面インピーダンス推測方法にある。本構成によれば、超伝導膜の表面インピーダンスをより高い精度で推測できる方法が得られる。 （もっと読む）

本発明は、信号導波路（２６）上を進む信号を非接触式に減結合するための結合構造の一部分を形成する少なくとも１つの試験プローブ（２８）を備える、非接触測定システムにおいて、信号導波路（２６）が、導体トラック、及び電気回路（５２）の回路基板（２４）上の電気回路の導体として設計される非接触測定システムに関する。このために、少なくとも１つの接触構造（１８；４４）が、上記信号導波路（２６）から直流的に分離され、上記結合構造の一部分を形成し、上記信号導波路（２６）の近接場の範囲内に全体が配置され、試験プローブ（２８）の接点が電気的に接触できる少なくとも１つの接点（４２）を備えるように構成され、上記回路基板（２４）に配置される。
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【課題】好適な狭帯域共振回路を提供すること。
【解決手段】チューニング可能強誘電体コンポーネント（６１０〜６１４）、強誘電体コンポーネントの損失測定するための狭帯域共振回路（６１０〜６２０）が開示される。強誘電体コンポーネントは、共振回路に一体化されたキャパシタであり得る。この試験方法は、損失の他のソースを消去して、強誘電体材料に起因する損失を隔離し、かつこの損失が小さいことを実証する。本方法は、強誘電体コンポーネントを備える回路を製造する工程と、強誘電体コンポーネントに起因する挿入損失および他の損失ソースに起因する他の損失を含む、組み合わされた損失を測定する工程と、他の損失ソースに起因する、挿入損失のコンポーネントを決定する工程と、測定された組み合わされた損失から、他の損失ソースに起因するコンポーネントを除去して、強誘電体コンポーネントと関連した損失を決定する工程とを包含する。 （もっと読む）

【課題】 上下面に導体が配置された誘電体薄層の誘電定数を高い精度で測定でき、特に厚さが５０μｍ以下となっても無負荷Ｑ値の低下を抑制する誘電定数測定方法および両端開放形半波長共振器を提供することを目的とする。
【解決手段】 本発明の両端開放形半波長共振器Ａ１は、誘電体薄層１の一方の面に矩形状のストリップ導体３を設けるとともに、誘電体薄層１の他方の面に環状のグランド導体４を設け、ストリップ導体３の長軸方向における少なくとも一方の端部とグランド導体４の一部とが積層方向から見て重なり合うように配置されていることを特徴とするものである。 （もっと読む）

【課題】相対補正法の運用上の制約を少なくすることができる、補正データ取得用試料、測定誤差補正方法及び電子部品特性測定装置を提供する。
【解決手段】基準治具に実装した状態で少なくとも３種類の第１の補正データ取得用試料を測定し、試験治具に実装した状態で、第１の補正データ取得用試料と同等の特性を有すると見なせる少なくとも３種類の第２の補正データ取得用試料を測定する。測定結果から、第１の補正データ取得用試料と第２の補正データ取得用試料とが同一試料であるとの前提で、試験治具に実装したときの測定値と基準治具に実装したときの測定値とを関連付ける数式を決定する。任意の電子部品２０を試験治具１２に実装した状態で測定し、決定した数式を用いて、その電子部品を基準治具に実装した状態で測定したならば得られるであろう電子部品の電気特性の推定値を算出する。 （もっと読む）

【課題】 配線板の設計段階で高周波伝送特性を容易に予測する方法すなわち減衰ピークの周波数を求める方法、配線を設計する方法と、この方法に基づいて得られた、配線収容密度の高い配線板を提供する。
【解決手段】 マイクロストリップ構造またはストリップ構造をもつ配線板に含まれる信号線に高周波信号を通した場合に、フーリエ変換の演算を用いて信号線において減衰ピークが生じる周波数を求める方法。 （もっと読む）

【課題】ミリ波帯において容易に取り扱うことができるとともに、従来よりも不要モードを抑制することができる誘電特性測定方法および導電率測定方法を提供する。
【解決手段】入力側ＮＲＤガイド３および出力側ＮＲＤガイド４を構成し、入力側スロット１１および出力側スロット１２を形成するとともに、一対の誘電体ストリップ３１、４１の先端間で、入力側スロット１１および出力側スロット１２からそれぞれ誘電体ストリップ３１、４１の延長方向に等距離の位置に、導体からなる遮断壁５を設け、入力側スロット１１および出力側スロット１２を覆うように導体板６１を配置するとともに誘電体試料６２を配置して、入力側スロット１１および出力側スロット間で共振器６を構成し、共振器６のＴＥモードを励振させて共振器６の共振周波数および無負荷Ｑを測定して、誘電体試料６２の誘電特性を求める。 （もっと読む）

【課題】 周波数領域の特性インピーダンスを求める特性インピーダンス測定方法、特性インピーダンス測定装置及び特性インピーダンス算出プログラム、を提供すること。
【解決手段】 線路の特性インピーダンスを測定する特性インピーダンス測定方法を提供する。線路の反射係数及び透過係数を測定する計数測定ステップと、計数測定ステップにより測定された反射係数及び透過係数から周波数領域における特性インピーダンスを算出する特性インピーダンス算出ステップと、を有することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】 板状の誘電体材料の材料定数を、簡単な作業で、より高精度に測定するための材料定数測定器治具を提供することを目的とする。
【解決手段】 誘電体材料で形成された板状の試料が挿入される伝送線路部は、中心導体を構成する信号パターン部１４ａを絶縁基板の両面に形成してなるプリント配線板１２と、プリント配線板１２の両面に、信号パターン部１４ａを横切るように試料を配置可能な間隙を確保するためのスペーサ２０を介して積層されることにより、外部導体を構成する平板状の２つの導体板１６ａ，１６ｂとからなり、特性インピーダンスを５０Ωとするストリップライン構造が形成されているので、プリント配線板１２と導体板１６ａ，１６ｂとの間の間隙に板状の試料を挿入することで、従来のように試料を複雑な形状に加工することなく、従来と同じ測定原理で材料定数を測定できる。 （もっと読む）

【課題】プローブと導体パターンとの接触を正確に判別する。
【解決手段】電子部品１０の各端部近傍に規定された位置Ｗ１，Ｗ２に配置した状態のプローブ３，４間の電気的パラメータを測定し、次いで、電子部品１０の各端部に電気的に接続された導体パターンＰ１，Ｐ２にプローブ３，４をそれぞれ接触させてプローブ３，４間の電気的パラメータを測定し、各電気的パラメータに基づいて電子部品１０の電気的パラメータを算出する測定方法であって、プローブ３，４を位置Ｗ１，Ｗ２に配置した状態において、プローブ３，４間のインピーダンスおよびアドミタンスのいずれか一方を電気的パラメータとして測定し、いずれか一方の実部と予め設定された基準値とに基づいて導体パターンＰ１，Ｐ２と位置Ｗ１，Ｗ２に位置するプローブ３，４との接触状態を判別する。 （もっと読む）

【課題】マイクロ波帯やミリ波帯、特に１ＧＨｚ以上の周波数帯において、誘電体薄膜や誘電体多層基板等の比誘電率と誘電正接を高精度で測定できる誘電定数測定方法を提供する。
【解決手段】対向する二導体４、５間に挟まれた誘電体試料Ａ１、Ｂ１を有する２つの共振器を用い、第１の共振器の共振周波数から誘電体試料Ａ１の比誘電率を求め、第２の共振器の共振周波数と無負荷Ｑから誘電体試料Ｂ１の誘電正接を求める。 （もっと読む）

【課題】特別な試料あるいは特別な信号発生器を必要とせずに、信号配線の周波数特性を算出することのできる周波数特性評価装置および周波数特性評価装置用のプログラムを得る。
【解決手段】信号配線の周波数特性評価装置であって、長さの異なる配線に対応する配線長およびＳパラメータ測定値を含む入力データを設定する入力手段（１）と、入力手段（１）で設定された入力データを記憶する記憶部（２）と、記憶部（２）に記憶された入力データに基づいて、配線間の通過位相差を算出する通過位相差算出手段（３）と、通過位相差算出手段（３）により算出された通過位相差を、記憶部（２）に記憶された配線長の差分で割ることにより位相定数を求め、位相定数に基づいて信号配線を囲む誘電体の実効比誘電率の周波数特性を算出する周波数特性算出手段（４）とを備えている。 （もっと読む）

【課題】 受信用ＬＳＩなどの測定対象回路が正しい能動条件の下におかれた状態で、かつＴＤＲオシロスコープを破損あるいは性能劣化させることなく、受信用ＬＳＩの終端器のインピーダンスを、ＴＤＲ法により、正確に測定するための装置及び治具を提供する。
【解決手段】 本発明のインピーダンス測定装置は、デジタル信号を受信するＬＳＩ５０を測定対象とし、ＴＤＲオシロスコープ１０、測定対象回路である被測定ＬＳＩを接続する接続治具２０、直流電圧阻止用のキャパシタンス素子Ｃ１、及び電源装置３０を備える。被測定ＬＳＩ５０に電源電圧を印加し動作状態にして、終端器５６のインピーダンスを正確に測定する。この時、ＴＤＲオシロスコープ１は、キャパシタンス素子Ｃ１によって、直流電圧による破損あるいは性能劣化から保護される。 （もっと読む）

【課題】伝送信号の周波数が高く、伝送線路幅が極端に細く、また線路長が長い場合であっても、伝送線路の出来具合いを容易に評価することを可能とした配線回路基板の伝送線路の特性インピーダンスの算出方法を提供することを目的とする。
【解決手段】ＩＣパッケージやプリント配線板等の抵抗成分・漏れ成分を含んだ伝送線路の評価において、伝送線路の両端からＴＤＲ波形の測定を行い、前記ＴＤＲ波形を合成・演算することによって、伝送線路の特性インピーダンスを算出するようにする。 （もっと読む）

【課題】伝送線路の幅Ｗや、伝送線路の側面の凹凸形状が、誘電体の実効的な比誘電率へ与える影響を測定できる誘電定数測定法及び伝送線路設計法を提供することを目的とする。
【解決手段】誘電体基板２と、該誘電体基板２上に設けられた導体からなる伝送線路３とを具備するとともに、伝送線路３の側面３ａの凹凸形状が一定で、かつ、伝送線路３の線路幅Ｗの異なる共振器１を複数個準備し、それらの共振器１の共振周波数ｆを測定し、それぞれの共振周波数ｆから、誘電体基板２の実効的な比誘電率を求め、該実効的な比誘電率の線路幅Ｗに対する依存性を求める。 （もっと読む）

【課題】導体上に形成された誘電体薄層あるいは誘電体薄膜の誘電定数を、マイクロ波帯、特に１ＧＨｚ以上で測定することが可能な誘電定数測定法及び測定用治具並びに同軸共振器を提供する。
【解決手段】筒状導体４と、該筒状導体４内に軸長方向に設けられた中心導体３と、筒状導体３の両側開口部にそれぞれ設けられた短絡導体５、６とを具備するとともに、中心導体３と短絡導体６との間に誘電体からなる被測定試料１を介装し、筒状導体４と短絡導体６との間に空隙２を設けた同軸共振器の共振周波数と無負荷Ｑの測定値から、被測定試料１の比誘電率及び／又は誘電正接を求める。 （もっと読む）

【課題】 時間幅が０．１ピコ秒以下の光パルスの照射によって発生する電荷の寿命を１ピコ秒以下とすることができる電磁波放射用アンテナを提供すること。
【解決手段】 この電磁波放射用アンテナ２８は、半絶縁性基板と、半絶縁性基板に形成された光伝導薄膜と、コプラナー伝送線路とを有し、コプラナー伝送線路は、一対の伝送線路電極本体と、各伝送線路電極本体からそれぞれ突出する突起電極とを有し、一対の伝送線路本体は平行に配置されており、突起電極は互いに向かい合っており、向かい合う２つの突起電極の間隔が最小となっている電流通過領域の周囲に不純物が含まれており、電流通過領域の幅は２μｍ以上１５μｍ以下である。この電磁波放射用アンテナ２８は、テラヘルツ電磁波発生・検出装置に用いられる。 （もっと読む）

【課題】ミリ波帯において、ミリ波帯において、ある程度任意の大きさの導体層に対して測定でき、また、従来と同等の測定精度を持ち、簡易に導体層と誘電体の界面導電率を測定することができる電気的物性値測定法を提供する。
【解決手段】円筒導体２の両端開口部を第１、第２遮蔽体１ａ、１ｂにより閉塞してなる円筒空洞共振器であって、第１、第２遮蔽体を導体から構成したときの円筒空洞共振器の共振周波数ｆ１と無負荷Ｑ１を測定し、円筒空洞共振器の誘電率、誘電損失及び寸法を求める第１の工程と、導体層４ａ、４ｂを内層した誘電体基板３ａ、３ｂ、又は片側表面に導体層５ａ、５ｂが設けられた誘電体基板６ａ、６ｂで円筒導体２の両端開口部を閉塞し、この円筒空洞共振器の共振周波数ｆ２と無負荷Ｑ２を測定し、該共振周波数ｆ２と無負荷Ｑ２、及び第１の工程で求めた円筒空洞共振器の誘電率、誘電損失及び寸法から、導体層４ａ、４ｂ、５ａ、５ｂと誘電体３ａ１、３ｂ１との界面の界面導電率を求める第２の工程を具備する。 （もっと読む）

【課題】配線板のスペースを効率的に利用して特性インピーダンスや差動インピーダンスの測定を行うことを可能とすること。
【解決手段】差動インピーダンステストパターン１０４を構成する２本の配線のうち、１本について特性インピーダンステストパターン１０５の配線を接続する。 （もっと読む）