【課題】接触温熱感計測用センサ装置において、温度センサの温度が基準温度にまで回復する時間を短くして、測定効率を向上させることである。
【解決手段】測定対象側温度センサ１２を支持したセンサ支持部材３０において、測定側とは反対側面である内周面に制御用温度センサ１４を設ける。制御用温度センサ１４に金属製の板状部材２８を介してペルチェ素子１６を接触させる。ペルチェ素子１６に対して測定側とは反対側に、放熱フィン一体型筒状部材２０と、冷却ファン４２を駆動するファンモータ２２を設け、ペルチェ素子１６に放熱フィン一体型筒状部材２０を接触させる。センサ支持部材３０と制御用温度センサ１４とペルチェ素子１６と放熱フィン一体型筒状部材２０とファンモータ２２とを一体化させる。 （もっと読む）

【課題】熱電材料の熱電能分布を測定すると共に熱伝導率を測定することができる熱電材料測定装置および測定方法を提供する。
【解決手段】熱電材料測定装置は、被測定材料の測定表面を撮影する光学カメラ、加熱ヒータが装備されたプローブ、被測定材料を載置して測定ポイントを位置決めするステージ機構、これらを駆動する制御装置、および測定データのデータ処理を行うデータ処理装置を備え、被測定試料の局所的な熱伝導率と熱電能と表面光学画像を１度の測定で収集して２次元平面位置情報と熱物性値の相関を解析する。熱電材料測定装置において、被測定試料の局所的な熱伝導率と熱電能の測定は、加熱されたプローブに組み込まれた微小熱流計により測定された熱流によって、プローブ接触点の被測定試料の表面温度を正確に推定することにより行う。 （もっと読む）

【課題】冷却速度の速い変態の変態塑性係数を推定し、変形塑性ひずみを求めることができる変態塑性ひずみ測定装置および変態塑性ひずみ測定方法を提供する。
【解決手段】供試片３を収納するとともに加熱、急冷するための容器１と、供試片３の温度を測定する熱電対８と、急冷却中の供試片３の変形量を測定するレーザー変位計１２と、熱電対８によって測定された供試片温度およびレーザー変位計１２によって測定された変形量に基づいて変態塑性係数を定め、その変態塑性係数を用いて変態塑性ひずみを算出するデータ収集・解析装置９とを備えてなることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】本発明は、遠赤外線（ＦＩＲ）放射加熱により能動的に体表面を加熱して体表面付近の組織の熱伝導・熱容量・比熱の違いに基づく生体情報を画像化するＦＩＲアクティブ・サーモグラフィ検査装置を提供することを目的とする。
【解決手段】本発明のＦＩＲアクティブ・サーモグラフィ検査装置は、遠赤外線領域の光源又は電磁波の発信器１と、測定対象物の温度分布を測定するサーマルカメラ２及び熱画像解析用コンピュータ（画像処理装置）３と、前記発信器１と測定対象物との間に遠赤外線放射の開始・停止を実現するためのシャッター４及びシャッター開閉制御ユニット５（シャッター機構）と、前記シャッター４と測定対象物との間に前記サーマルカメラによる温度分布を撮影するためのハーフミラー６とから構成される。 （もっと読む）

【課題】短時間、かつ外部環境に影響を受けずに測定することが可能な、赤外線サーモグラフィを用いた構造物の非破壊検査方法及びその装置を提供する。
【解決手段】法面、斜面、ライニング面又はトンネル覆工面に、コンクリート又はモルタルを吹付けて形成された表面保護構造物に対し、赤外線サーモグラフィによって前記構造物の表面温度分布を計測し、得られた熱画像の経時的変化を解析することにより、前記構造物の背後の状況又は前記構造物の健全性を推測する表面保護構造物の非破壊検査方法であって、前記構造物の背後に冷媒又は熱媒を供給しながら、前記構造物の表面温度分布を計測する。 （もっと読む）

熱シールの欠陥を監視および検出するための装置は、熱イメージ装置と、コントローラと、出力デバイスとを備えている。熱イメージ装置は、少なくとも直前に作成された少なくとも一つの熱シールを有する目的物を輸送するプロセスラインに沿って備え付けられている。コントローラは、熱シールの熱イメージデータを受け取るための熱イメージ装置に通信可能に接続されている入力部と、出力部とを備えている。コントローラは、熱シール上の高温ゾーンおよび低温ゾーンのうち少なくとも一つを検出するようにプログラムされている。出力デバイスは、コントローラの出力部に通信可能に接続され、シール検出の結果を示すようになっている。 （もっと読む）

形状記憶合金ワイヤまたは類似物を連続的に品質制御する方法であって、ａ）ワイヤを装置内に供給し、該ワイヤの材料に特有の各遷移温度を含む範囲をカバーする温度遍歴を該装置内で該ワイヤにさせる工程、ｂ）種々の既知温度に対応する該装置の各所定箇所で、該ワイヤの伸びを直接または間接にインラインで測定する工程、ｃ）温度と伸びのデータを用いて、箇所毎に、温度−伸び線図における上記材料のヒステレシス曲線を求める工程を含む方法。望ましくは、ワイヤを既知の速度と一定の張力で供給し、上記伸びの測定を、ワイヤの速度の想定によって行なう。上記方法を行なう装置であって、ワイヤ（Ｆ）の張力および供給速度を調節するのに適した供給ユニット（Ｂ、Ｂ'、Ｖ、Ｖ'）、ワイヤ（Ｆ）はアイドルプーリー（Ｍ）を含む一連の恒温槽（Ｔ）を通り、該プーリ（Ｍ）に滑らずに巻き付き、該プーリ（Ｍ）の回転速度を例えば高分解能エンコーダで測定することができる。
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