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Fターム[2G052EC22]の内容

サンプリング、試料調製 (40,385) | 切断、切削、研磨、薄片化 (1,238) | 支持部 (229) | 試料の支持 (183)

Fターム[2G052EC22]に分類される特許

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【課題】 本発明の目的は、時間的な節約ができる、基板から微視的なサンプルを取り出すための代替方法を提供することである。
【解決手段】 本発明は、基板2から微視的なサンプル1を取り出すための方法を提供し、該方法は、サンプルが基板から切り出されるようにして、基板2がビーム4で照射される、切断処理を実行するステップと、サンプル1がプローブ3に付着される付着処理を実行するステップとを含み、切断処理と付着処理が互いに一時的にオーバーラップすることを特徴とする。
切断処理と付着処理を同時に実行することによって、これらの切断処理と付着処理が連続して実行される方法と比較すると、時間的な節約が実現される。 (もっと読む)


【課題】樹脂包埋によって変質してしまうような試料の評価に適した試料作成法を提供する。
【解決手段】ウルトラミクロトームを用いて試料を切断する際、試料を樹脂等に包埋せず直接試料アームに固定し、ナイフボートには水等の液体を満たさない状態で前記試料を切断し、この切断によって形成された試料ブロック側の断面を顕微鏡観察に用いることを特徴とする顕微鏡観察用断面試料の作成方法。 (もっと読む)


本発明は、加圧定量吸入器のキャニスターのような、加圧コンテナーの内容物を分析する方法を提供する。この方法は、当該コンテナーを圧力容器の中に封入することおよび次いで、圧力容器を非反応性の流体で加圧すること:の工程を含んでいる。次いで、圧力容器内で加圧コンテナーに穴をあけ、そして内容物を除去して、分析する。本発明はまた、そのような方法を行うための装置から成る。

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