粗大な組織からの、組織学、組織化学、抗体結合、遺伝子分析などの作業に好適な均一な薄さの組織試料の作製のための病理グロシングツールおよびボードが提供される。組織サンプルを受容し、その上端に沿って平坦切断表面をもたらし、そして薄い組織試料を保持するための組織カセットもまた提供される。それらの使用方法も提供される。
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【課題】包埋ブロックを薄切して薄切片を作製しつつ、作製した薄切片を伸張させて確実に搬送することが可能な薄切片作製装置、及び、薄切片の搬送方法を提供する。
【解決手段】薄切片作製装置１は、包埋ブロックＢを薄切するカッター３と、包埋ブロックＢを固定する試料台２と、試料台２をカッター３に対して所定の送り方向Ｘに相対移動させて、カッター３によって包埋ブロックＢを薄切させる送り手段４と、カッター３の上方からカッター３の切れ刃３ａ後方に向かって配設されて、包埋ブロックＢから薄切された薄切片Ｂ１を搬送する搬送ベルト２０と、カッター３の切れ刃３ａの前方に配置され、薄切される包埋ブロックＢの切削面Ｂ２上に、切れ刃３ａに向かう方向で、かつ、該切れ刃３ａから離間した位置で、圧縮気体を吹き付け可能な送気手段４を備える。 （もっと読む）

【課題】試料の断面観察をする際に要する断面観察用試料片の作製方法において、包埋樹脂のような充填剤を注入する容器内に試料を安定に固定することのできる作製方法を提供すること。
【解決手段】本発明の断面観察用試料片の作製方法は、試料を容器に収容する工程（Ａ）、該試料を固定部材によって該容器に固定する工程（Ｂ）、該容器に充填剤を注入する工程（Ｃ）、および得られた試料と充填剤とを切削する工程（Ｄ）を含むことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】半導体ウエハやデバイスチップから所望の特定領域を含む試料片のみをサンプリング（摘出）して、分析／計測装置の試料ステ−ジに、経験や熟練や時間のかかる手作業の試料作り工程を経ることなく、マウント（搭載）する試料作製方法およびその装置を提供すること。
【解決手段】FIB加工と、摘出試料の移送、さらには摘出試料の試料ホルダへの固定技術
を用いる。
【効果】分析や計測用の試料作製に経験や熟練技能工程を排除し、サンプリング箇所の決定から各種装置への装填までの時間が短縮でき、総合的に分析や計測の効率が向上する。 （もっと読む）

【課題】本発明は、ＴＥＭ観察に用いる試料をイオンミリング法により作製するに当たり、イオンビームが試料台をスパッタすることにより生じる試料台物質が試料表面に付着するいわゆるリデポジッションの少ない試料を作製する試料台を提供する。
【解決手段】頂角が１２０度以下の三角形あるいは扇形で、先端部の厚さが１μｍ以上５μｍ以下で、先端から離れるにつれて傾斜断面を有し、傾斜断面の鉛直方向に対する傾斜角を５度以下とする導電性材料であり、ＴＥＭ観察用試料ホルダ及びイオンミリング装置用試料ホルダに固定するための穴を有することを特徴とするイオンミリング用試料台である。 （もっと読む）

【課題】ステージを傾けることなく薄片試料を試料ホルダに固定でき、スループットを高めてより短時間で効率良くＴＥＭ試料を作製すること。
【解決手段】ステージ上に載置された試料Ｓから薄片試料２を取り出した後、該薄片試料を試料ホルダ３に固定してＴＥＭ試料１を作製する方法であって、集束イオンビームによるエッチング加工により試料を穴掘りし、平面視矩形状に形成された薄片本体２ａと該薄片本体の側面の一部から側方に向けて突出した突出部２ｂとで一体的に形成された薄片試料を作製する工程と、薄片試料を試料ホルダの近傍まで移動させる工程と、突出部が試料ホルダの表面に接触するように薄片試料を試料ホルダに接触させる工程と、原料ガスを突出部の周辺に供給しながら該突出部の近傍に向けて集束イオンビームを照射して、デポジション膜Ｄにより突出部と試料ホルダとを固定する工程と、を備えているＴＥＭ試料作製方法を提供する。 （もっと読む）

【課題】トモグラフィー法にあって、試料を試料台の回転軸上に容易に搭載でき、全回転角において、観察・分析を正確に行うことができるようにする。
【解決手段】電子顕微鏡にも共用される、試料台が備えられている試料回転ホールダにあって、試料台の軸心上の試料搭載側先端に球体部を設け、粉体試料を効率よく回転軸中央に装着し、試料回転ホールダ及び試料台それぞれの各回転角で、三次元再構成時の取得画像の位置合わせが正確に行え、三次元再構成像を高精度で得ることができるようにした。 （もっと読む）

【課題】 半導体チップの裏面に樹脂が回りこむことを回避して、表面部材が取り付けられている半導体チップに発生している故障を解析するための試料を確実に作成する技術を提供する。
【解決手段】 ワイヤＷ（表面部材）が取付けられている半導体チップ１０に発生している故障を解析するための試料の作成方法であり、定盤４０（試料作成用基台）の上面４１に半導体チップ１０の裏面１１に密着する両面テープ３０（シート）を配置する工程と、両面テープ３０の上面３１に半導体チップ１０の裏面１１を載置する工程と、両面テープ３０の上面３１に半導体チップ１０を取り囲む型枠５０を載置する工程と、型枠５０内に樹脂６０を充填し、ワイヤＷと半導体チップ１０の両者を樹脂６０で封止する工程と、故障箇所Ｆを半導体チップ１０の裏面１１から穿孔する工程を備えており、故障箇所Ｆが内面１３ａ（断面）に露出している試料を作成する。 （もっと読む）

【課題】多次元で調節可能な材料ワークピースのチャックの必要性が存在する。
【解決手段】マルチ軸チャックを位置決めする方法である。マルチ軸チャックを第１位置に対して回転する信号を受ける工程；マルチ軸チャックを第２位置に対して回転する工程；第１位置に対する該第２位置を比較する工程；および第２位置が第１位置でないと決定がなされた場合には、マルチ軸チャックを再び位置決めする工程；を包含する。前記回転する工程が、少なくとも一つのモータを使用すること、を包含する。 （もっと読む）

【課題】 ＦＩＢ加工で試料からより微小な試料片を摘出し、電子顕微鏡観察用試料に加工する際に、ＦＩＢのイオンビームが微小試料片固定用の電子顕微鏡観察用試料支持部材に照射されず、試料への再付着が生じない電子顕微鏡観察用試料支持部材を提供することにある。
【解決手段】 薄片固定部５が微小試料片２よりも充分に薄いため、イオンビーム６を傾斜し微小試料片２の中央部の電子顕微鏡観察用試料部に照射しても薄片固定部５を削らないようにしての加工が可能となり、これにより薄片固定部５からの微小粉末の発生も生じないため、観察試料への再付着も起こらない。 （もっと読む）

【課題】数百の形態学的に制御された腫瘍標本の分子的特徴の迅速な平行分析を可能にするような方法で、最小の組織要求量で組織標本の大規模分子プロファイリングを実施する。
【解決手段】アレイに基づいた技術により、非常に多数のヒト腫瘍の迅速な関連遺伝子のコピー数および発現プロファイリングが容易になる。個々の腫瘍の形態学的に代表的な領域の数百の円筒形組織生検（直径0.6mm）を1つのパラフィンブロックに配列することができる。このようなアレイの連続切片は、DNA、RNAまたはタンパク質標的の平行インサイチューハイブリダイゼーションおよび定量の標的となる。 （もっと読む）

【課題】切断行程が可変であり、構造が簡単なミクロトームを提供することであり、これによりサイズの種々異なる対象物の迅速な切断作業を可能にする。
【解決手段】リニアモータ（３８）を有し、該リニアモータはリニアステータ（２２）とリニアロータ（２４）を含み、線形相対運動を前記ナイフエッジ（１９）と対象物（２８）との間で形成し、これにより薄切片を作製し、前記リニアステータ（３８）は前記リニアロータ（２４）を駆動する漂遊磁界を発生し、コントロールユニット（３０）を有し、該コントロールユニットは前記リニアモータ（３８）を制御し、所定の変位距離（Ｌ）に沿った相対的往復運動を行わせ、前記送りユニット（３４）を２つの薄切片間で制御するミクロトーム。 （もっと読む）

【課題】観察箇所が表面から１０μｍ以上深い領域に一つ以上ある試料に対して、安価に簡易な工程でＴＥＭ観察用として良好な薄膜試料とすることができる透過型電子顕微鏡観察用薄膜試料の作製方法の提供
【解決手段】表面から１０μｍ以上の深さの内部に観察箇所を含む試料１から微小試料片を摘出しＴＥＭ観察用試料台に接着させる微小試料片１の摘出、固定工程と該微小試料片の表面に垂直な方向の集束イオンビーム照射加工によってＴＥＭ観察用薄膜試料として加工する薄膜化工程とを有するＴＥＭ観察用薄膜試料の作製方法において、前記摘出工程の前に、前記試料１の観察箇所の上層部２を斜め上方表面からの集束イオンビーム照射加工７によって１０μｍ以下の厚さに削る斜め切削工程を挿入する透過型電子顕微鏡観察用薄膜試料の作製方法とする。 （もっと読む）

【課題】誤って吸引された組織学的切片を混同することなく回収できる、ろ過装置、ろ過方法及びミクロトームを提供する。
【解決手段】本発明に係るろ過装置（ＦＶ）は、ミクロトームのブレード領域（１６）から空気流で切片廃棄物を吸引する吸引装置を含む。この吸引装置は、切片廃棄物を空気中からろ過する主フィルタ（１２）を含む。誤って吸引された組織学的切片を混同することなく回収するため、本発明に係る装置は、吸引装置が、ブレード領域（１６）と主フィルタ（１２）との間に切片廃棄物を前置ろ過する前置フィルタ（１７）を含むことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】本発明は試料断面作製装置の遮蔽材保持機構に関し、試料に熱が伝わらないようにした試料断面作製装置の遮蔽材保持機構を提供することを目的としている。
【解決手段】イオンビームにより試料１をエッチングして試料観察面を作製するようにした試料作製装置に用いられる遮蔽材保持機構であって、試料表面にイオンビームが照射されることを遮蔽する遮蔽材を用いる遮蔽材保持機構において、試料１の上に載置され、試料１を直接遮蔽する遮蔽板３と、該遮蔽板３の上に該遮蔽板３を覆うように配置された遮蔽ブロック５と、を設けて構成される。 （もっと読む）

【課題】高速かつ高精度なエッチングが可能な加工試料の加工装置および薄膜試料の生産方法の提供。
【解決手段】ホルダ５０と、イオン銃２０と、電子銃１０とを備える。ホルダ５０は、互いに略平行な表面および裏面を有すると共に、表面および裏面の距離として厚さが定義される加工試料を把持する。また、イオン銃２０は、アルゴンイオンを放出し、ホルダ５０に把持された加工試料の裏面に、アルゴンイオンを照射する。そして、電子銃１０は、電子を放出し、ホルダ５０に把持された加工試料の表面に電子を照射するように構成される。また、マイコン３０は、電流検出器４０が測定した透過電子の電流密度を基にして、イオン銃２０が放出するアルゴンイオンの電流密度を制御する。 （もっと読む）

【課題】ＦＩＢによって液体浸透性材料、熱、イオン衝撃に弱い材料の表面近傍の正確な断面情報を得る時に保護膜形成時に構造変化を発生しない保護膜形成方法を提供する。
【解決手段】ＦＩＢ装置による断面加工に用いる加工対象物表面に被覆する保護膜を、保護膜原料となるガス状物質を凝結固化させることにより形成する保護膜形成方法。 （もっと読む）

【課題】組織切片が丸まらずかつ改善された更なる処理が可能な、ミクロトームによって組織切片を作成する方法及び組織切片に支持材料を載着する装置。
【解決手段】ミクロトームによって組織試料（４）を有するブロック（３）から所定の厚さを有する組織切片（３４）が作成され、組織切片（３４）の作成の前に、支持材料（２）が載着機構（６）によってブロック（３）に載着される、ミクロトームによる組織切片の作成方法において、支持材料（２）は、ブロック（３）に載着される前に、ブロック（３）の横断面（７）に実質的に適合する寸法及び／又は形状に切断されること、及び
切断された支持材料（３５）が、ブロック（３）に載着されることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】本発明は試料作製装置の遮蔽材保持機構に関し、遮蔽材に遮蔽材保持部の熱ドリフトが伝達されないようにした試料作製装置の遮蔽材保持機構を提供することを目的としている。
【解決手段】イオンビームにより試料をエッチングして試料観察面を作製するようにした試料作製装置に用いられる遮蔽材保持機構において、遮蔽材保持部５の先端部に設けられた第１の永久磁石６と、該遮蔽材保持部５の下方に配置された遮蔽材７と、該遮蔽材７の下方に設けられたその内部に試料１を保持する試料ホルダー２と、該試料ホルダー２に取り付けられた、その磁力をレバー３によりオン／オフできる第２の永久磁石と、を有し、前記第２の永久磁石をオフにすると、前記遮蔽材７は前記第１の永久磁石６により遮蔽材保持部５に吸着され、該第２の永久磁石をオンにすると、前記遮蔽材７は前記試料ホルダー２に吸着されるように構成される。 （もっと読む）

【課題】とりわけミクロトームの切断領域に手（作業）によるアクセスを要することなく、作業プロセスの促進（迅速化）を可能にするカセット交換装置および交換方法の提供。
【解決手段】とりわけミクロトーム用のカセット交換装置であって、ａ）装填開口（３）と、引渡し開口（５）と、排出開口（７）とを備えると共に、該装填開口（３）、該引渡し開口（５）及び該排出開口（７）が直列的ないし直線的にこの順で互いに対し等間隔で配置されたハウジング（１）と、ｂ）前記ハウジング（１）の隣り合う２つの開口間の間隔で離隔されて配された第１及び第２装填室（１２、１３）を備え、該ハウジング（１）の２つの終端位置（第１及び第２終端位置）間で直線的に摺動可能なキャリッジ（１０）を有し、前記第１及び第２装填室（１２、１３）は、前記２つの終端位置の夫々において、前記ハウジング（１）の開口ペア（３、５；５、７）に割り当てられることを特徴とする。 （もっと読む）