振動スライド刃ミクロトームを使用することによって、低ゲル点アガロースに埋め込まれた組織試料から新鮮な組織の薄片を切り出すことができる。ミクロトームが、おおむね水平方向に振動する刃であって、組織試料に対しておおむね斜めのスライド方向に運動するように支持された刃を有する。ミクロトームの切断刃の振動およびスライドの複合運動が、生細胞の死細胞に対する比として測定される薄片の生存可能性であって、従来からの振動ミクロトームを使用して得られる生存可能性よりもはるかに良好な生存可能性を有する新鮮な組織の薄片を切り出すうえで、きわめて効果的である。
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【課題】薄切片を液面に浮かべた際に気泡が混入するおそれが少なく、また、仮に気泡が混入した場合であっても、これらの気泡を速やかに除去する。
【解決手段】包埋ブロックＢを薄切して作製された薄切片Ｓを、搬送方向Ｘに延びる縦糸２８及び縦糸に対して直交する方向に延びる横糸を有する搬送ベルト２３の上面に載置して液槽９まで搬送する。搬送ベルトの薄切片を載置する箇所２３ａは、縦糸のみから構成されている。 （もっと読む）

【課題】分析用の薄膜試料切断器を提供し、薄膜試料の切り取りの作業性を向上させるとともに、薄膜試料の分析精度を向上させることを目的とする。
【解決手段】分析用の薄膜試料Ｓを円形に切断するための薄膜試料切断器であって、円筒状で、薄膜試料Ｓに押圧される輪状の下端面２２を有する押圧部２と、押圧部２と同心の円柱状または円筒状で軸心回りに回転自在に押圧部２に収納され、下方に突出する複数の刃３４を周方向に均等に有している回転部３と、押圧部の上部２１を貫通して突出する回転部の上部３３に固定される把持部４１とを備え、薄膜試料Ｓを円形に切断する。 （もっと読む）

【課題】試料の高さ方向の位置を容易に調節することが可能なホルダ装置、及びこのホルダ装置を用いた加工観察方法を提供する
【解決手段】ホルダ装置２５は、試料台１０及び試料台ホルダ３０で構成され、試料台ホルダ３０は、本体３１及びバネ３２を備えている。本体３１には、保持部３３が形成され、この保持部３３には、試料台１０を高さ方向に付勢するバネ３２が設けられている。試料台１０は、試料２０が固定される固定面１０ａと、挿入穴１１と、挿入穴１２とを備えている。バネ３２が挿入穴１１，１２のいずれかに挿入されるように、試料台１０を保持部３３に保持させて、ストッパ４１によって試料２０を位置決めした後、試料台１０が固定される。また、アダプタの突起部を挿入穴１１に挿入して固定することにより、試料台１０を研磨機専用の試料ホルダに装着することができる。 （もっと読む）

【課題】帯電粒子ビーム操作のためにサンプルを配向させる方法および装置を提供する。
【解決手段】サンプルが、サンプルの主表面がプローブ・シャフトに対して垂直ではない角度にある状態で、プローブに付着され、プローブ・シャフトは、サンプルを再配向させるために回転される。一実施形態では、サンプル・ステージに対して４５度などのある角度に配向されたプローブは、平坦領域がプローブの軸に対して４５度で平行に配向された、すなわち、平坦領域がサンプル・ステージに平行であるプローブの先端を有する。プローブ先端の平坦領域は、サンプルに付着され、プローブが１８０度回転されるとき、サンプルの配向は、水平から垂直に９０度変化する。次いで、サンプルは、ＴＥＭ格子をサンプル・ステージ上で垂直配向ＴＥＭ格子に付着される。サンプル・ステージは、薄くするためにサンプルの背面をイオン・ビームに向けるように回転および傾斜される。 （もっと読む）

【課題】包埋ブロックの傾きを予め調整した状態で粗削りを行って、所望する特定面を確実に表面に露出させることができ、粗削り作業の効率を向上して作業者の負担を軽減すること。
【解決手段】切断刃３と、包埋ブロックＢをＸ軸及びＹ軸回りに回動させると共にＺ軸方向に移動させる台部２と、落射照明系４及び拡散照明系５と、いずれか一方の照明系を駆動状態とする照明切替部６と、撮像部１０と、落射照明光時の画像データを記憶する第１画像記憶部３１と、拡散照明時の画像データを記憶する第２画像記憶部３２と、２枚の画像を重ね合わせた状態で表示する表示部３３とを有する観察系７と、表示部に表示された画像に基づいて特定された特定面を包埋ブロックの表面に露出させるように、台部の回動機構１１及び移動機構１２を制御して包埋ブロックの高さ及び傾きを調整しながら徐々に薄切を行わせる制御部８とを備えている薄切片作製装置１を提供する。 （もっと読む）

【課題】製造されたデバイスの内部構造をテストするために薄いサンプルを準備して像形成する。
【解決手段】物体のサンプルを形成し、物体からサンプルを抽出し、真空チャンバーにおいて表面分析及び電子透過度分析を含むマイクロ分析をこのサンプルに受けさせるための方法及び装置が開示される。ある実施形態では、抽出されたサンプルの物体断面表面を像形成するための方法が提供される。任意であるが、サンプルは、真空チャンバー内で繰り返し薄くされて像形成される。ある実施形態では、サンプルは、任意のアパーチャーを含むサンプル支持体に位置される。任意であるが、サンプルは、物体断面表面がサンプル支持体の表面に実質的に平行となるようにサンプル支持体の表面に位置される。サンプル支持体に装着されると、サンプルは、真空チャンバー内でマイクロ分析を受けるか、又はロードステーションにロードされる。 （もっと読む）

【課題】衛生的にセグメントチューブ内の血液を採取できるとともに、環境に優しい廃棄が行える被検血液採取器具および被検血液採取方法を提供する。
【解決手段】セグメントチューブ２を保持する保持部３、および、保持部３のセグメントチューブ２を突き刺して孔を開けるための針４を有する一方片５と、セグメントチューブ２の孔開け箇所を押圧するよう針４に対向した状態で近接するチューブ押さえ部６を有し、一方片５とでセグメントチューブ２を挟み込みながらチューブ押さえ部６によって孔開け箇所の押圧状態を持続させうる他方片７とが合成樹脂材料で一体に成形されてなるチューブ孔開け冶具１よりなり、さらに、このチューブ孔開け冶具１を試験管８内に移し、この試験管８が遠心分離器で操作するときに、セグメントチューブ２内の血液ｂを試験管８内に取り出すため空気ａがセグメントチューブ２内に入り込む空気流通流路ｉが前記針４に形成されている。 （もっと読む）

【課題】多次元で調節可能な材料ワークピースのチャックの必要性が存在する。
【解決手段】少なくとも二つの軸回りに回転するマルチ軸チャックである。軸は直交する。マルチ軸チャックは、第１部、第２部および第３部を有する。第１部および第２部の後側は第１合致部を有し、これは第２部および第３部上にそれぞれ設けられた第２合致部に合致する。これら合致部は第１部および第２部を軸回りに回転させる。第１部は第２部および第３部とは独立して第１軸回りに回転する。第２軸回りの第２部の回転は第２軸回りの第１部を回転させる。マルチ軸チャックはモータ、コントローラ、センサに操作可能に連結される。使用者は、所望位置をコントローラへ入力しモータを制御する。モータは所望位置へチャックを回転させる。センサはチャックの位置を決定するために使用される。コントローラはその位置が所望の位置に合致するか否かを決定する。 （もっと読む）

【課題】ＴＥＭサンプルを基板から抽出する方法を提供すること。
【解決手段】方法は、サンプル上に穴をミリングすることと、プローブを穴に挿入することとを含む。サンプルはプローブに接着し、プローブの上にある間、移送時に処理することができる。他の実施形態では、サンプルは基板から切り出され、静電引力によってプローブに接着する。サンプルは、真空室においてＴＥＭサンプル・ホルダの上に配置される。 （もっと読む）

【課題】分析試料の膜に与えるダメージを少なくして分析可能な試料を形成することができる分析試料の形成方法を提供する。
【解決手段】分析試料の形成方法は、まず、基板１２上に形成された膜１３のうち膜剥がれが発生した第１膜１３ａと基板１２との間にある異物１４を分析するべく、第１膜１３ａの周囲を、収束イオンビーム加工装置（ＦＩＢ）１５によってカットする。次に、第１膜１３ａにカーボンテープを貼り付けて、カーボンテープを引き上げることにより、第１膜１３ａと第２膜１３ｂとを分離して、第１膜１３ａのみを基板１２上から取り除く。これにより、異物１４の付着した第１膜１３ａの面と基板１２の部分が露出する。 （もっと読む）

【課題】検体をカセットからトレイに移し替えることなく自動的又は半自動的にパラフィンブロックを形成することが可能で、更に、カセット（検体収容部）ごとミクロトームでスライスして顕微鏡標本の作成が可能な医療検査用カセットを提供する。
【解決手段】耐薬品性材料からなるカセット本体３１と蓋３２とを具備してなり、カセット本体３１が、上面を開放した、検体を収容し得る方形の容器で、多数の透孔３３を有し、蓋３２が、カセット本体３１に着脱可能で、多数の透孔３７を設けてなる医療検査用カセットにおいて、前記カセット本体３１が軟質材料からなる検体収容部３５と、該検体収容部３５の少なくとも１対の対向する側壁３４に設けた硬質材料からなるアダプター固定部３６とからなることを特徴とする医療検査用カセットである。 （もっと読む）

【課題】透過型電子顕微鏡による観察時における、半導体デバイスの低誘電率層間絶縁膜の収縮による試料の変形を抑制することが可能な透過型電子顕微鏡の試料作製方法を提供する。
【解決手段】試料１を加工することによって、透過型電子顕微鏡による所望の観察箇所２を含む薄片部を形成し、記薄片部を含む試料表面に薄膜を成膜した後に、薄片部に対し集束イオンビームにより加工を施して、薄片部の一部の薄膜を除去し、透過型電子顕微鏡の観察試料とする。 （もっと読む）

【課題】試料を切断した断面を、直ちに、かつ、高感度に、質量分析する装置および方法の提供。
【解決手段】金属薄膜が設けられた切刃面を有する切刃を用いて、試料を薄く斜めに切断し、切刃面に付着した試料切片を質量分析する。 （もっと読む）

【課題】所望の位置における断面をより容易かつ確実に取得可能な薄膜積層体の検査方法を提供すること。
【解決手段】基板本体２上に形成された線状パターン１５と、基板本体２上に線状パターン１５と線状パターン１５上で交差するように形成された第１電極層１６とを有する第１ＴＦＤ素子１８の検査方法において、基板本体２を、線状パターン１５の一端辺１５ｃと第１電極層１６の一端辺１６ａとの第１交点Ｐ１と平面視で重なる箇所を支点として応力をかけて、第１ＴＦＤ素子１８のうち少なくとも平面視で線状パターン１５及び第１電極層１６と重なる領域を、第１電極層１６の一端辺１６ａに沿って割断する割断工程を備える。 （もっと読む）

【課題】試料ブロックの既切削面を傷つけるおそれが少なく、従前にセットした装置と異なる装置に試料ブロックをセットする場合であっても、試料ブロックの既切削面をナイフの仮想切削面に非接触状態でかつ容易に平行となるよう配置できる。
【解決手段】傾斜角可変手段により既切削面Ｂ２の傾斜角を調整可能な状態で試料ブロックＢを支持する試料ブロックステージ１０と、ダミーブロックＤを支持するダミーブロックステージ１１と、試料ブロックステージに支持された試料ブロックとダミーブロックステージに支持されたダミーブロックに対して相対移動されて、試料ブロック及びダミーブロックをそれぞれ切削可能なナイフ１２と、試料ブックステージに支持された試料ブロックの既切削面Ｂ２とダミーブロックステージに支持されたダミーブロックのナイフによる切削面Ｄ２との傾斜角のずれを検知するオートコリメータ１３とを備える。 （もっと読む）

【課題】試料ブロックの既切削面を傷つけるおそれが少なく、従前にセットした装置と異なる装置に試料ブロックをセットする場合であっても、試料ブロックの既切削面をナイフの仮想切削面に非接触状態でかつ容易に平行となるよう配置できる。
【解決手段】試料ブロックホルダ１１に保持された試料ブロックＢの切削面Ｂ２に平行光を照射する落射照明手段１６と、落射照明手段から試料ブロックの切削面に平行光が照射された状態で、切削面を撮像する撮像手段１７と、試料ブロックホルダの傾きを変えながら、その都度、撮像手段による切削面の画像情報から光強度の積分値を求め、その積分値が最も大なるときの試料ブロックホルダの傾きを決定する画像処理制御手段１８と、光強度の積分値が最も大なるよう、画像処理制御手段によって決定された傾きに設定された試料ブロックに対してナイフ１４を相対移動させて、薄切片を切削する切削手段１５とを備える。 （もっと読む）

【課題】温度変化や切断刃の影響を受けることなく、確実に所望する厚みの薄切片を自動的に作製すること。
【解決手段】包埋ブロックＢを載置固定すると共にＺ方向に移動可能な固定台１０と、切断刃１１を有し、該切断刃と固定台とをＸ方向に相対的に移動させて包埋ブロックから薄切片を切り出す切断手段１２と、包埋ブロックの上面までの距離を少なくとも切断前後で測定すると共に、測定した距離から基準高さに対する包埋ブロックの高さを算出する高さ測定手段１３と、高さ測定手段による測定結果に基づいて、固定台の移動量を決定すると共に該固定台の作動を制御する制御部１４とを備え、制御部が、薄切片を作製する毎に、切断前後で高さ測定手段により測定された包埋ブロックの高さの差分量と所望する薄切片の厚み量とを比較して補正量を算出し、固定台の次回の移動量を、補正量と厚み量とを加算した量に決定する自動薄切片作製装置３を提供する。 （もっと読む）

【課題】作業者の負担を軽減でき、複数の包埋ブロックから必要枚数の薄切片標本を自動的に作製することができると共に、作製した薄切片標本を元となる包埋ブロックに完全に対応付けて、高精度な品質管理を行うこと。
【解決手段】包埋カセットＫを切断位置に搬送可能な第１の搬送手段３と、切断位置に搬送された後、包埋ブロックＢを所定の厚みで切断してシート状の薄切片Ｂ１を切り出す切断手段５と、切断位置に搬送された際に、個別データＤを読み取る読取手段４と、薄切片を伸展させる伸展手段６と、切断された薄切片を伸展手段に搬送する第２の搬送手段７と、伸展された薄切片を基板Ｇ上に転写させて薄切片標本Ｈを作製する転写手段８と、読み取られた個別データを記憶する記憶部９ａを有する制御手段９と、個別データを基板上に記録する記録手段１０とを備えている自動薄切片標本作製装置１を提供する。 （もっと読む）

【課題】連続して稼動しても薄切片標本作製に失敗するおそれが少なく、しかも、人手を介在させることなく、複数の試料ブロックから連続して薄切片を切削する。
【解決手段】交換指令信号に基づき、切削台２に取り付けてある試料ブロック３を取り外し代わりに新たな試料ブロックを切削台に取り付ける試料ブロック着脱手段４と、切削台に取り付けた試料ブロックに対してナイフ５を相対移動させて所定厚さの薄切片を切削する切削手段７と、切削された薄切片を観察する観察手段１０と、観察手段によって得られた観察データと予め入力された試料ブロック切断面データとを比較することにより薄切片の良否を判断し、薄切片を良と判断したときに試料ブロック着脱手段に、試料ブロックを交換させる旨の交換指令信号を発信する評価手段とを備える。 （もっと読む）