本発明は、本発明の第一の側面において、生物学、組織学及び病理学のための方法であり、前記方法は：生物材料を含む対象物（１０）の第一のスライス（１２）の第一のデジタルイメージ（４４）を準備し；前記対象物の第二のスライス（１４）の第二のデジタルイメージ（４６）を生成し；前記第一のイメージの関心領域（４８）に基づき前記第二のスライスの関心領域を決定（５０）し；前記第二のイメージの領域に基づき前記第二のスライスの関心領域（５０）を決定し；前記第二のスライスの前記関心領域から材料を抽出する方法を提供する。
本発明は、本発明の他の側面において、生物学、組織学及び病理学のために使用する情報処理システムであり、前記情報処理システムは、既定の一組の処理識別子（６４）；生物材料を含む対象物（１０）に関連する一組のデータ記録（６８、７０、７２）；前記データ記録のそれぞれが：前記対象物のスライス（１２、１４）を識別するスライス識別子及び前記一組の処理識別子から選択される処理識別子を含み、前記処理識別子が前記スライスが対象とされる処理を指示し；ユーザが前記一組のデータ記録からデータ記録を選択できるように、ユーザーインターフェース（５２、５６、５８、６０）を含む、情報処理システムを提供する。
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【課題】円柱状、円筒状、球状の試料をホルダーの所定位置に確実かつ安定的に保持することができるサンプルホルダーを提供することを目的とする。
【解決手段】円筒状のホルダー本体１と、複数の分割部に分割され上記ホルダー本体内に格納された円形ブロック状の治具３とを具備し、かつ上記治具３の上面中央部には断面Ｖ字状の保持凹部３２が形成されていると共に、該治具３の径が上記ホルダー本体１の内径よりも小さく設定されており、上記保持凹部３２に試料を載置すると共に上記治具の各分割部３１を外側に移動させて上記ホルダー本体１内周面に当接させ、この状態で上記試料ｓを治具３の上面に保持するサンプルホルダーを提供する。 （もっと読む）

【課題】試料の表面に傷などの影響を与えずに帯電を緩和させ、その表面分析を行えるようにする。
【解決手段】表面分析方法は、非導電性マトリクスに導電性フィラーを含有させた未固化の導電性試料固定材１２を層状に設け、その上に試料１３を、その少なくとも一部分が埋没し且つ表面の一部分が露出するようにセットした後、導電性試料固定材１２を固化させて試料１３を固定し、導電性試料固定材１２に固定した試料１３の露出した表面に分析ビームを照射して表面分析するものである。 （もっと読む）

【課題】簡便な方法により、試料を所望の膜厚に薄片化することができる試料作製方法を提供する。
【解決手段】試料作製方法は、基板１００の表面から所定深さＤ１を有する第１の孔１０２と基板１００の表面から所定深さＤ２を有する第２の孔１０４とを(Ｄ１＞Ｄ２)、基板１００の表面に形成する工程と、裏面側から研磨を実施して、第１の孔１０２を露出させる工程と、さらに第２の孔１０４が露出した時点で研磨を終了する工程と、を含むものである。 （もっと読む）

【課題】凍結破断法による断面観察試料作製時における損傷や物理的変性を軽減した断面観察試料作製方法を提供することを課題とし、容易かつ簡便に、微小、微量であっても断面作製が可能な固定用冶具を提供することを課題とする。
【解決手段】フィルム状またはシート状の試料を凍結破断法によって破断し断面観察試料を作製するための固定用治具であって、前記フィルム状またはシート状の試料の一方の面と接触させるため基材と、前記試料の両端を基材と固定するための固定具を備え、且つ、前記基材が曲げ可能であることを特徴とする固定用治具とした。 （もっと読む）

【課題】微小な特定箇所を劈開して断面を得ることができるミクロ断面加工方法の提供を提供する。
【解決手段】試料表面２ａに、観察対象３が含まれる線状の断面予想位置３Ｌを決定する工程と、断面予想位置に対して、集束イオンビーム２０Ａを垂直または傾斜角を持って照射させ、断面予想位置の前方の位置で断面１０を形成する工程と、断面の両端部に集束イオンビームを照射させ、断面予想位置より後方の位置まで延びる側面切込み１２、１２を形成する工程と、断面予想位置より後方の位置まで延びる底部切込み１４を形成する工程と、側面切込みから断面予想位置に沿って集束イオンビームを照射させ、底部切込みに接続する楔１６，１６を形成する工程と、試料の断面予想位置より前方の部位２ｘに衝撃を加え、楔で挟まれた断面予想位置の近傍を劈開させ、劈開面Ｓを形成する工程とを有するミクロ断面加工方法である。 （もっと読む）

【課題】包埋ブロックが回転軸回りに回転されるときに、回転前後での包埋ブロックの切削面の面合わせを高精度に効率良く行い、且つ回転後における包埋ブロックの切削の作業効率を向上させること。
【解決手段】刃先２ａを有するカッター２と、包埋ブロックを支持する支持体３と、包埋ブロックに対して刃先を走行面Ｓ２上で走行させる移動手段と、走行面に対して支持体を傾斜させる傾斜手段５と、走行面に対する支持体の傾斜角を調整する主制御部と、傾斜角を記憶する記憶部と、走行面と直交する回転軸回りの包埋ブロック回転時、回転前包埋ブロックに対する回転後包埋ブロックの回転軸回りの回転角を取得する回転角取得部と、前記回転時に回転前後の切削面Ｂ１が面一になるように前記傾斜角と前記回転角とに基づいて回転後傾斜角を演算する演算部とを備え、前記回転時に走行面に対する支持体の傾斜角を前記回転後傾斜角に主制御部が調整する切削装置を提供する。 （もっと読む）

【課題】薄切片を所望の切片厚で高精度に切削すること。
【解決手段】この薄切片作製装置は、制御部が、包埋ブロックＢを加湿手段６により予備加湿した後、移動手段により支持体とカッター３とを相対的に前進移動させ、包埋ブロックをカッターにより予備切削し、その後、包埋ブロックを加湿手段により本加湿すると共に、調整手段により支持体とカッターとを相対的に切片厚だけ前進移動させた後、移動手段により支持体とカッターとを相対的に、予備切削時と同じ速度で前進移動させ、包埋ブロックをカッターにより本切削して薄切片を作製し、制御部が、予備加湿後から予備切削を開始させるまでの時間と、本加湿後から本加湿を開始させるまでの時間と、を同じにすると共に、予備加湿及び本加湿のそれぞれを同じ加湿条件で行う。 （もっと読む）

【課題】サンプリング動作中にステージを移動させることなく試料から試料片を短時間に取り出すことができるイオンビーム加工装置及び試料加工方法を提供する。
【解決手段】ウェーハ３１を保持する試料ステージ３３と、イオン源１１で発生したイオンビーム１２をマスク１５によってプロジェクションビームに成形するプロジェクション光学系を有し、イオンビーム１２を試料面に斜めに照射可能な第１イオンビームカラム１０と、第１イオンビームカラム１０よりもイオンビーム２２を細く絞ることが可能なイオンビーム光学系を有し、第１イオンビームカラム１０と同時にイオンビーム２２を試料面に垂直に照射可能な第２イオンビームカラム２０と、イオンビーム１２，２２の照射により加工した試料片５０をウェーハ３１から摘出するマニピュレータ４２と、摘出した試料片５０を保持するカートリッジ５１とを備える。 （もっと読む）

【課題】イオンビームの照射により断面を露出させた試料を作製するため試料をイオンビームに対する所定位置に保持する試料作製装置において、イオンビームによる試料の加工中にイオンビームを遮断する遮蔽板のイオンビームに接近する方向への移動を防止し、良好な断面が現れた試料を作製する。
【解決手段】基端側を支持され先端側が自由端である第１の支持部材２と、第１の支持部材２の先端側に基端側を支持され先端側が第１の支持部材２の基端側に向けた自由端である第２の支持部材９と、第２の支持部材９に支持された遮蔽板１０と、第２の支持部材９に取り付けられた加熱ヒーター１３を備え、第２の支持部材９は加熱ヒーター１３により加熱せられて前記第１の支持部材の基端側方向に膨張する構造となされ、遮蔽板１０の第１の支持部材２の先端側に向かう一側縁をイオンビームＢの照射位置として保持し、遮蔽板１０によりイオンビームＢが遮蔽される位置に設置された試料１０１の遮蔽板１０の一側縁より露出した箇所への加工を行う。 （もっと読む）

【課題】試料の加工断面に不要な段差やリデポによる不要な付着物が生じることを確実に防ぐことのできる試料加工装置を提供する。
【解決手段】試料１が載置される試料台３ａと、試料台３ａに載置された試料１を間に挟んで試料台３ａと対向するように配置された遮蔽板２と、遮蔽板２の上方に位置するイオンビーム源とを備え、試料台３ａの先端側に位置する試料１の部分で遮蔽板２の側縁部２ａから露出された箇所１ａに、イオンビーム源からのイオンビーム１０を照射して試料１の加工を行う試料加工装置において、試料台３ａが、遮蔽板２よりも熱膨張率の大きな材料により構成されている。 （もっと読む）

組織位置付けデバイス（１０）が、組織標本（１００）を受容するための少なくとも一つの穿孔されたチャンネル（３０ａ−ｄ）を備えた穿孔された組織支持体（１２）と、処理及び包埋の間に組織標本を保持するために、チャンネルに沿ってチャンネル内に延びるように構成された複数のタブ（１８）とを備える。組織位置付けデバイス（２００）が、一つ以上の生検組織標本をその間に保持するための互いに結合された細長い脚部（２０４，２０６，２０８，２１０）を備える。関連する方法が、処理、包埋及びミクロトーム薄片化の間に組織標本を保持し位置づけるためのカセット（１２）及び位置付けデバイス（２００）を使用するステップを含む。
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本発明は、リング６内に部品４’を平らに取り付ける装置１に関し、リング６を固定して保持することができるリング支持体３、２５と、研究及び／又は分析されるべき材料から作られた板４に、下端で穴を開けるために、軸方向に支持する窪み１５の中にはめ込まれ、該窪み１５に対して行程に沿って移動可能なパンチ１１と、前記リング６内に平らに取り付けられる部品４を形成するようにパンチ１１と噛み合い、前記支持体３に対して行程に沿って移動可能なカウンターパンチ２１と、前記パンチ、前記部品４及び前記カウンターパンチ２１を前記行程に沿ってガイドするガイドアセンブリ１７、２７、３７と、を有し、前記パンチ１１の行程及び前記カウンターパンチ２１の行程は、前記部品４’が前記リング６内に平らに取り付けられた時に停止可能であることを特徴とする。
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【課題】本発明は、試料を取り外すことなく、試料を多方向から加工することを可能にする、集束イオンビーム加工装置と透過型電子顕微鏡に用いる共用試料ホルダーを提供することを課題とする。
【解決手段】試料ホルダー本体と、回転操作のための突起を有する円弧状回転台と、試料を搭載する試料台であって前記回転台の突起に嵌合するための穴を有する試料台と、前記試料ホルダー本体に装着された前記試料台を当該試料台の上から押さえる試料台押さえ手段と、前記試料台押さえ手段を試料ホルダーに固定する固定手段と、を少なくとも有すると共に、試料ホルダー本体に、ＦＩＢが入射する側の一部に形成されたＦＩＢ加工用の切り欠き部と、ＴＥＭ観察用の電子線通過穴と、該通過穴に沿った円弧状の溝と、が前記円弧状回転台を嵌合可能に形成されており、試料台押さえ手段によって、前記試料ホルダーに前記試料台を固定する試料ホルダーである。 （もっと読む）

【課題】厚さの均一性が高く、かつ、観察部位から所望の距離に真空領域を有する観察試料を作製することができる観察試料作製方法及び観察試料作製装置を提供する。
【解決手段】少なくともパターンが形成された構造部７１とパターンが形成されていない無構造部７２の２つの部分を有する加工対象試料７の無構造部７２側からＦＩＢを照射し、構造部７１と無構造部７２との界面を含む側面を加工して加対象試料７の構造を観察する観察対象面を形成し、観察対象面に沿う方向からＦＩＢを照射することにより加工対象試料７を加工する。 （もっと読む）

【課題】簡易な方法で安価に平面観察用半導体薄片試料を作製することを可能にする集束イオンビーム加工装置の試料ステージおよびこの試料ステージを用いた透過型電子顕微鏡平面観察用半導体薄片試料の作製方法の提供。
【解決手段】試料ステージ面は、該試料ステージ面に対してメッシュ挟持用の傾斜溝を有する。集束イオンビームの照射により試料基板から微小試料片を切り出し、マイクロプローブで分離摘出後、前記試料ステージ面の傾斜溝に挟み込まれたメッシュを、メッシュの側面が前記集束イオンビームに垂直な向きとなるように傾ける。微小試料片の観察平面が集束イオンビームと垂直な向きとなるように前記メッシュの端面に接着した後、傾斜した試料ステージを回転軸の周りに１８０度回転させる。集束イオンビームを照射して透過型電子顕微鏡平面観察用半導体薄片試料を作製する。 （もっと読む）

【課題】 本発明は標本作製作業で有機溶剤に病理組織試料用カセットが浸かっても、病理組織試料用カセット本体よりラベルが剥がれ落ちるのを効率よく阻止でき、安全で、医療事故を防止することができる病理組織試料用カセットを得るにある。
【解決手段】 底面に多数個の透孔が形成された浅皿状の病理組織試料用カセット本体と、この病理組織試料用カセット本体の外側壁に、該病理組織試料用カセット本体に収納される病理組織試料を特定するためのデータがプリントされたラベルを覆うように着脱可能な取付手段で取付ける透明材製のカバーとで病理組織試料用カセットを構成している。 （もっと読む）

【課題】試料片の順番が入れ替わった場合でも、試料片の仕様が誤判定されることのないシート状ゴムのサンプリング方法及びその装置を提供する。
【解決手段】シート状ゴム３の各ロットにおける最後のバッチの試料片３ａに、次のロットにおける最初のバッチの試料片３ａとの相違を判別可能な識別表示３ｂを識別表示付与機２０によって付与するようにしたので、試料片３ａの順番が入れ替わった場合でも、試料片３ａの識別表示３ｂの有無により、各ロットの段替え前後の試料片３ａが何れのロットのものかを容易に判別することができる。これにより、試料片３ａの仕様が誤判定されることがなく、誤判定によって仕様通りのゴムが後工程に送られないという不具合の発生を効果的に防止することができる。 （もっと読む）

【課題】固形試料を容易に固形試料保持体に固定することができる二次イオン質量分析の固形試料保持方法を提供する。
【解決手段】本発明は、脆い固形試料を二次イオン質量分析装置で再現性よく正確に測定するために、固形試料を容易に固形試料保持体に固定することができる二次イオン質量分析の固形試料保持方法を提供するものである。本発明の二次イオン質量分析の固形試料保持方法は、上面に交互に並んだ凸部及び凹部を複数有しかつ可塑性を有する金属塊の複数の前記凸部の上に配置した固形試料に、前記固形試料の上に配置した板を介して上から力を加えることにより、前記金属塊を塑性変形させ、前記固形試料の上面と前記金属塊の上面とを同じ高さにし、かつ前記固形試料を前記金属塊に固定する工程を備え、前記固形試料の底面と接触した前記金属塊及びその下部の前記金属塊が前記凹部に向かって塑性変形することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】ゴム試験片への切込み形成精度を常に確実に高めることができ、ひいては、接着強度等の物性の測定結果に対する信頼性を大きく向上させることができる、ゴム試験片への切込み形成装置を提供する。
【解決手段】短冊状のゴム試験片を平坦姿勢で載置する試料台４を設けるとともに、ゴム試験片の各側部への切込み形成用のカッター７，８を、ゴム試験片の厚み方向の所定位置に保持する一対の刃物台５，６を、試料台４の各側部に配設し、試料台４と、一対の刃物台５，６とをゴム試験片の長さ方向に相対変位可能としてなる。 （もっと読む）