【課題】非導通状態におけるトランジスタから漏出するリーク電流を正確に測定することができるテスト回路を実現する。
【解決手段】遅延回路は、制御トランジスタ、測定対象トランジスタおよびコンデンサを備える。制御トランジスタは、入力端子の電位に応じて導通状態および非導通状態のうちのいずれかに移行することにより出力端子の電位を変化させる。チャネルの極性が前記制御トランジスタと同一の測定対象トランジスタは、電源とアースとの間において制御トランジスタに直列に接続される。コンデンサは、制御トランジスタが導通状態から非導通状態へ移行した場合に測定対象トランジスタから漏出したリーク電流の値に応じて出力端子の電位の変化を遅延させる。反転回路は、出力端子の電位を反転して前記入力端子に帰還させる。 （もっと読む）

【課題】部分的な経年劣化の予兆を早期に発見することができる半導体装置を提供する。
【解決手段】ＬＳＩ１は、複数のモジュールと、複数の遅延モニタを含む遅延モニタ群１５とを備える。各遅延モニタは、複数段のゲート素子を有するリングオシレータを含む。各遅延モニタは、ゲート素子の遅延時間を測定する。ＣＰＵ＃０は、遅延モニタによって測定された遅延時間に基づいて、遅延モニタの近傍のモジュールの経年劣化を判定する。 （もっと読む）

【課題】電子装置において、動作クロックの周波数の異常を、動作クロックを選択的に通過させるフィルタ回路を用いることなく、高精度に検出できるようにする。
【解決手段】ＰＬＬ回路１０にて生成された動作クロックを受けて動作する制御装置２において、動作クロックの周波数の異常判定を行う際には、動作モード切換部３２が、半導体メモリ１２への書込用電圧を生成するＦ／Ｖ変換回路２０のＦ／Ｖ変換特性を、動作クロックの周波数変動に対し出力電圧が略一定となる第１特性から、動作クロックの周波数に対応して出力電圧が変化する第２特性に切り換え、電圧検出部３４が、その出力電圧を検出し、周波数異常判定部３６が、その検出された電圧値に基づき動作クロックの周波数異常を判定する。 （もっと読む）

【課題】ロット全体のテスト時間の短縮を図り、良品を不良と誤判定することを回避する方法、システム、プログラムの提供。
【解決手段】同一構成のＬＳＩ（被試験デバイス）のロットをテストするにあたり、一のＬＳＩのファンクションテストを実行テストレート１で行い、前記ファンクションテストの結果がパスの場合、次のＬＳＩのファンクションテストを実行テストレート１で行い、フェイルの場合、実行テストレート２で再び前記一のＬＳＩの再テストを行い、再テストがパスした場合、実行テストレート１を現在値に加算テストレートを加算した値に更新して次のＬＳＩのファンクションテストを前記更新した実行テストレート１で行い、前記一のＬＳＩの実行テストレート１、２によるファンクションテストがいずれもフェイルの場合、前記一のＬＳＩを不良と判定する。 （もっと読む）

【課題】試験対象の周波数範囲全体にわたって位相特性を推定して位相特性の平坦化に資することができる位相特性推定装置並びにそれを備えた位相補正装置及び信号発生装置並びに位相特性推定方法を提供する。
【解決手段】信号発生装置１は、互いに異なる周波数の２つのＣＷを合成した合成ＣＷを出力する信号出力部１０と、合成ＣＷを直交変調して直交変調信号を出力する直交変調器１６と、直交変調信号の電力レベルを調整するレベル調整器２０と、位相特性を推定する位相特性推定器３０とを備え、位相特性推定器３０は、合成ＣＷの振幅値に基づいて隣接間位相差を算出する位相差算出部３１と、隣接間位相差のデータに基づいて所定の周波数帯域における位相特性を推定する位相特性推定部３３とを備える。 （もっと読む）

【課題】実システム動作中に電源状態を監視できる手段を提供する。
【解決手段】半導体集積回路は、発振器１４と、電源電圧に応じて発振周波数が変化するリング発振器１１と、発振器１４の信号に基づいて、所定の判定期間を計測するインターバルタイマ１３と、判定期間にリング発振器１１が発振する発振周波数を測定する周波数測定用カウンタ１２と、発振周波数の上限値と下限値とを保持する不揮発性メモリ１５と、カウンタが測定した発振周波数が、不揮発性メモリ１５が保持する上限電圧／下限電圧の判定コードの範囲内であるかを判定し、判定結果を出力する電圧判定回路１６と、を備える。 （もっと読む）

【課題】コンデンサの実装・非実装の判別と共に、非実装のときには非実装のコンデンサが実装されるべき位置を判別する。
【解決手段】導体パターン１１，１２上の測定点Ｐ１，Ｐ２間のインピーダンスの周波数特性を測定する測定部２と、コンデンサ２１〜２３が正常に実装された状態での周波数特性に現れる各共振周波数ｆ１〜ｆ３毎に、共振周波数ｆ１〜ｆ３を含む判定範囲ｆｒ１〜ｆｒ３と共振周波数ｆ１〜ｆ３に対応するコンデンサ２１，２２，２３とを対応付ける基準データＤ２が記憶された記憶部３と、コンデンサ２１〜２３の実装状態が未知の導体パターン１１，１２についての周波数特性を測定部２に測定させ、この周波数特性に現れている共振周波数と基準データＤ２の各判定範囲ｆｒ１〜ｆｒ３とを比較して、共振周波数を含まない判定範囲ｆｒ１〜ｆｒ３に対応付けられたコンデンサが非実装状態であると判別する処理部４とを備えている。 （もっと読む）

【課題】定電流方式の発振回路におけるインバータの消費電流を測定するテスト方法において、水晶振動子を接続することなく、外部信号を入力してテストしても、安定した正確なテストができるとともに、テスト時間も発振開始時間の影響がなく短縮できるテスト方法を提供する。
【課題の解決手段】水晶振動子を接続するためのＸＴ端子とＸＴＮ端子を備え、定電流源６から定電流をインバータ１に入力する定電流方式の発振回路において、インバータ１による消費電流を電流測定器７で測定するテスト方法であって、ＸＴ端子とＸＴＮ端子の少なくとも一方、例えばＸＴＮ端子にプルアップ抵抗９を接続して、信号生成器１１からの外部信号をＸＴ端子から入力する。 （もっと読む）

【課題】ＬＳＩ等の不具合発生時の原因追求を容易化する。
【解決手段】ＬＳＩ内又はＬＳＩの近傍にモニタリング装置１００を配置し、モニタリング装置１００内で、周波数カウンタ２０が、一定時間でのリングオシレータ１０の発振周波数を計測し、計測した発振周波数を示す発振周波数情報を生成し、時刻カウンタ３０が、周波数カウンタ２０により発振周波数が計測された時刻を示す時刻情報を生成し、出力制御部８０が、発振周波数情報と時刻情報とを対応付けて記憶装置９０に出力し、記憶装置９０が、発振周波数情報と時刻情報をログとして記憶する。これにより、ＬＳＩが起動してから不具合発生までの間の発振周波数の推移を観測することで遅延の相対的な変化を確認することができ、ＬＳＩの個体差を気にする必要がなく、不具合発生時の原因追求を容易化できる。 （もっと読む）

【課題】分周信号を検査するにあたって、その周波数のみならず第１区間長および第２区間長をも検査し、比較対象に用いる信号を生成する高価な検査装置を必要としない自己診断回路を有する半導体集積回路およびその検査方法を提供する。
【解決手段】分周回路の検査を、生成される分周信号の周波数およびデューティー比、すなわち第１区間および第２区間の比率、の２つに対して行う。外部からはデューティー比を定義する２つの期待値を供給する。 （もっと読む）

【課題】クロック信号発生手段の不具合の有無を一目で認識することができる検査装置を提供する。
【解決手段】検査基板４００のＦＰＧＡ９２は、入力されたクロック信号の周波数、周期、Ｄｕｔｙ比の各期待値、実施回数をレジスタ部９２３へ記憶する（Ｓ１４）。ＦＰＧＡ９２は、入力されたクロック信号ＣＬＫ１，ＣＬＫ２の周波数、周期、Ｄｕｔｙ比を算出する（Ｓ３２）。ＦＰＧＡ９２は、算出したクロック信号ＣＬＫ１，ＣＬＫ２の周波数、周期、Ｄｕｔｙ比のそれぞれがレジスタ部９２３のクロック信号ＣＬＫ１，ＣＬＫ２の周波数、周期、Ｄｕｔｙ比の各期待値を満たすか否か判定して（Ｓ３３）、判定結果をレジスタ部９２３の所定の領域へ記憶する（Ｓ３４）。ＦＰＧＡ９２は、満たさなければ（Ｓ３５：Ｎｏ）、表示部９３のＬＥＤを赤色発光させ（Ｓ３６）、満たせば（Ｓ３５：Ｙｅｓ）、ＬＥＤを青色発光させる（Ｓ３８）。 （もっと読む）

【課題】本発明の実施形態は、高周波スイッチ回路の高周波特性の良否を簡便に判定することができる半導体装置およびその検査方法を提供する。
【解決手段】実施形態に係る半導体装置は、複数の高周波端子と、共通高周波端子と、の間の信号経路を、前記高周波端子と前記共通高周波端子との間に直列に設けられた複数のＦＥＴにより切り替える高周波スイッチ回路を有する半導体装置であって、前記共通高周波端子に接続された複数のＦＥＴを含む半導体スイッチと、前記半導体スイッチを介して前記共通高周波端子に接続された発振回路と、前記発振回路の出力を入力とする検波回路と、前記検波回路の出力端子と、を備える。 （もっと読む）

【課題】実際に稼動している半導体集積回路装置の実動作に影響を与える要因を解析し、更にその要因を低減することが可能な半導体集積回路装置を提供する。
【解決手段】測定対象である半導体集積回路１３１と、この半導体集積回路のジッタ又はノイズジッタ、ノイズ等の実動作に影響を与える物理量を測定する測定回路（半導体集積回路装置）１３０とを同一チップ上に構成する。測定回路の測定結果を解析し、測定対象の半導体集積回路を調整する回路にフィードバックさせる。 （もっと読む）

【課題】集積回路を有するウェーハの無線試験を行うためのウェーハ上に形成された試験回路を含む装置および方法を提供する。
【解決手段】ウェーハ１６の外部にある試験ユニット１２、および集積回路を含むウェーハ上に製造された少なくとも1つの試験回路１４を含む。試験ユニット１２は、RF信号を送信し、試験回路１４に電力を供給する。試験回路１４は、可変リング発振器を含み、集積回路の公称動作周波数での一連のパラメータ試験を実行し、試験結果を分析のために試験ユニット１２に送信する。 （もっと読む）

【課題】高分解能のＴＤＣ回路の消費電力を低減することを目的とする。
【解決手段】本発明に係るＴＤＣは、入力信号を遅延する遅延素子１１を複数直列に接続するディレイラインと、ディレイラインの最後段の遅延素子の出力の反転信号を出力する反転素子１３と、基準クロック、又は反転素子の出力信号のいずれかをディレイラインの初段の遅延素子に提供するマルチプレクサ１５と、を有するリング発振器１０と、ディレイラインの遅延素子の接続ノード、又は初段の遅延素子の入力ノードに接続され、被測定信号の変化エッジが、遅延素子１１の出力する基準クロックを遅延した信号の変化エッジに対して進んでいるか遅れているかを判定する複数の判定回路１７と、判定回路１７の判定結果をエンコードするエンコーダ回路３１と、エンコーダ回路３１の出力から、被測定信号の変化エッジの基準クロックに対する位相を算出する演算回路３３と、を備える。 （もっと読む）

【課題】サンプル装置が指定した平均サンプル数で正しく平均化しているかどうかを検査する。
【解決手段】トリガ信号毎に被測定信号の値を指定された平均化期間の間平均化して出力するサンプル装置を検査する検査装置であって、単調増加または減少する第１信号をサンプル装置に供給し、第１信号と異なる種類の曲線で単調増加または減少する第２信号をサンプル装置に供給する信号供給部と、第１信号の予め定められたタイミングおよび第２信号の予め定められたタイミングのそれぞれにおいてトリガ信号をサンプル装置に供給するトリガ供給部と、トリガ信号に応じてサンプル装置が出力する第１信号の平均値および第２信号の平均値に基づいて、サンプル装置が被測定信号を平均化するサンプル数が、平均化期間に応じたサンプル数であるか否かを判定する判定部と、を備える検査装置を提供する。 （もっと読む）

【課題】
高周波パワーアンプの試験工程のコストを低減する。
【解決手段】
高周波パワーアンプは，インダクタを有する入力整合回路と，前記入力整合回路を通過した入力信号を増幅する増幅トランジスタと，入力整合回路内のインダクタに第１の試験スイッチにより接続されるキャパシタと，インダクタに第２の試験スイッチを介して第１の基準電圧との間に設けられた負性抵抗用トランジスタと，第２の基準電圧とインダクタとの間に設けられた電流源トランジスタとを含む試験用回路とを有し，試験時に第１，第２の試験スイッチ及び電流源トランジスタが導通してインダクタと試験用回路とで高周波発振器が構成され，通常動作時に第１，第２の試験スイッチ及び前記電流源トランジスタが非導通になる。 （もっと読む）