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Fターム[2H052AA08]の内容

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Fターム[2H052AA08]に分類される特許

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【課題】画像の精度の低下を回避する。
【解決手段】共焦点顕微鏡11では、光分離部材22により分離されてピンホール22aおよび22bから射出される光束が光検出器23aおよび23bによりそれぞれ検出される。そして、コンピュータ24は、光検出器23aおよび23bに設定された設定値のオフセットを算出し、光検出器23aおよび23bのうちのいずれか一方の設定値が別の設定値に変更されたとき、オフセットが維持されるように、他方に設定されるべき値を導き出し、その値を設定する。また、光検出器23aおよび23bのうちのいずれか一方の設定値が、所定の目標輝度値を目標として変更されたとき、その変更後の設定値との関係性が維持されるように他方に定されるべき値を導き出す。本発明は、例えば、共焦点顕微鏡に適用できる。 (もっと読む)


【課題】高い分解能およびコントラストを備えつつ、デコンボリューション処理を簡易化させてリアルタイムでの観察が可能な共焦点顕微鏡を提供する。
【解決手段】本発明に係る共焦点顕微鏡20は、ライン状の照明光を標本8における被観察面8a上に照射する照明光学系と、照明光を被観察面8a上で走査方向Sに移動させるスキャナ6と、照明領域Lから射出した射出光を結像する結像光学系と、被観察面8aに対して共役面に配設されて射出光を検出する複数の画素を備えた撮像カメラ10と、照明領域Lに対して共役な位置にある撮像カメラ10上の特定画素において実際に検出された特定画素信号、および特定画素に対して走査方向Sに隣接する隣接画素において実際に検出された隣接画素信号を用いて、特定画素と共役な位置にある照明領域Lからの射出光のフォーカス信号を算出するコンピュータ11とを備える。 (もっと読む)


【課題】3光子励起による蛍光を抑制しつつ、2光子励起蛍光の観察を精度よく行うことができるレーザ顕微鏡を提供する。
【解決手段】パルスレーザ光Lを射出するレーザ光源2と、レーザ光源2からのパルスレーザ光Lを試料Aに照射する一方、試料Aにおいて発生した蛍光を集光する対物レンズ8と、対物レンズ8により集光された蛍光を検出する検出器13a,13bと、パルスレーザ光Lのパルス幅の調整が指示された場合に、パルスレーザ光Lのパルス幅を検出器13a,13bにより検出される蛍光の強度が最大となる最小パルス幅よりも大きく設定する分散補償光学系17とを備えるレーザ顕微鏡1を採用する。 (もっと読む)


【課題】より簡単な構成で、セクショニング分解能を変更できるようにする。
【解決手段】光源22からの照明光が試料13に照射されると、試料13からは観察光が発現し、この観察光は、結像光学系51を通って光検出器52で検出される。光検出器52は、観察面13sと略共役な位置に配置されているので、観察面13s近傍の近傍領域からの観察光と、近傍領域の周辺の周辺領域からの観察光とを個々に検出できる。画像処理部54は、近傍領域からの観察光の検出結果から近傍画像を生成し、周辺領域からの観察光の検出結果から周辺画像を生成する。パーソナルコンピュータ12は、近傍画像および周辺画像から、それらの画像とはセクショニング分解能の異なる観察画像を演算処理により生成する。本発明は、共焦点顕微鏡に適用することができる。 (もっと読む)


【課題】細胞のような透明で微細な被写体を高い分解能で簡易に観察する。
【解決手段】試料Aを載置する載置面6aを有する光学結晶6と、該光学結晶6に向けて第1の電磁波Lを試料A側から照射する第1の照射系4と、光学結晶6に向けて第2の電磁波Lを照射する第2の照射系5と、第2の電磁波Lを検出する検出系7とを備え、第1の電磁波Lは、パルス状のテラヘルツ波であり、第2の電磁波Lは、テラヘルツ波よりも波長が短いパルス状の電磁波であり、第1の電磁波Lの照射領域と第2の電磁波Lの照射領域の少なくとも一部が重なるように、第1の照射系4と第2の照射系5とが配置され、検出系7は、その合焦位置が光学結晶6の載置面6a近傍と一致するように配置されている観察装置1を提供する。 (もっと読む)


【課題】 本発明は、スリット幅を調整可能なスリット絞り装置およびこのスリット絞り装置を共焦点スリット絞りに用いた共焦点顕微鏡に関し、容易に小型化することができるスリット絞り装置およびこのスリット絞り装置を用いた共焦点顕微鏡を提供することを目的とする。
【解決手段】 本発明のスリット絞り装置は、光を遮光する遮光部材と、前記遮光部材に具備する複数の遮光部の間に形成されるスリット状開口部と、前記複数の遮光部の間隔を変えることによりスリット状開口部のスリット幅を変化させる圧電アクチュエータとを有することを特徴とする。また、前記遮光部をスリット幅方向の両側に配置し、前記遮光部は弾性変形可能に保持されており、前記圧電アクチュエータにより前記遮光部を変形して前記スリット幅を変化させることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】被検査物の断層像を撮像するに当たり、被検査物に対する前記測定光群の入射する位置と角度とによる入射状態を観察することができ、
該測定光群を被検査物の所定の位置に結像させて、該断層像を高速に取得することが可能となる光断層画像撮像装置等を提供する。
【解決手段】光源から出射され分割された複数の光を、又は複数の光源から出射された複数の光を、測定光群と参照光群とに分割し、該測定光群を被検査物に導くと共に前記参照光群を参照ミラーに導き、
前記被検査物によって反射あるいは散乱された前記測定光群による戻り光群と、前記参照ミラーによって反射された前記参照光群とを用い、前記被検査物の断層画像を撮像する光断層画像撮像装置であって、
前記被検査物の観察画像を取得する観察手段を備え、
該観察手段によって、前記被検査物に対する前記測定光群の入射する位置と角度とによる入射状態が観察可能とされている。 (もっと読む)


【課題】複数の走査光学系を使用した場合においても、第2のレーザ光が第1の走査光学系の光検出系に進入することを防ぎ、第1の走査光学系のレーザ光により励起された蛍光を効率良く検出することが可能な走査型レーザ顕微鏡を提供する。
【解決手段】可視領域にスペクトルを有する第1のレーザ光を試料上で走査して蛍光を励起する第1の走査光学系(A)と、試料からの蛍光を第1のレーザ光の光路から分離する第1ダイクロイックミラーと、第1ダイクロイックミラー(25)で分離された蛍光を検出する光検出器(112)と、第1ダイクロイックミラーと光検出器との間に配置され第1のレーザ光を遮断し所望の蛍光を透過する測光フィルタ(19)と、紫外または赤外領域にスペクトルを有する第2のレーザ光を試料上の特定の部位に導入するための第2の走査光学系(B)と、第1ダイクロイックミラーと光検出器との間に配置され第2のレーザ光の透過を制限する吸収フィルタ(31)とを備えた走査型レーザ顕微鏡である。 (もっと読む)


【課題】液浸対物レンズを真空中で使用可能にすると共に、真空中の試料を高集光能力且つ高分解能で観測する。
【解決手段】真空チャンバ2内に試料W及び液浸対物レンズ10を配置して、当該試料Wを観測する試料観測方法であって、前記液浸対物レンズ10の先端部及び前記試料Wとの間に、真空中において非蒸発性のイオン性液体16を充填させることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】複数のスキャン領域を正確に連続してスキャンするとともに、スキャン領域の切替えによる処理時間の遅延を短縮する。
【解決手段】駆動テーブル作成部は、スキャン領域A1とスキャン領域A2との間のスキャン軌道P1、および、スキャン領域A2とスキャン領域A3との間のスキャン軌道P2を規定する補間駆動テーブルを作成し、メモリに格納する。駆動制御部は、補間駆動テーブルに基づいて、スキャン領域間においてスキャン軌道P1および軌道P2に従って移動するようにスキャナ駆動系の動作を制御する。本発明は、例えば、共焦点レーザ走査型顕微鏡に適用できる。 (もっと読む)


【課題】より高い波長分解能が得られる分散素子及び分散素子を備える光学機器を提供すること。
【解決手段】 光が出射する出射部と、前記出射部の光出射側に配置された光学系と、該光学系の光出射側に配置された分散素子と、前記分散素子の光出射側に配置された光偏向部材と、前記光偏向部材からの光が入射する入射部を備え、光偏向部材は複数の偏向素子で構成され、該複数の偏向素子は、互いに独立して制御可能であり、前記分散素子はイマージョンプリズムである。 (もっと読む)


【課題】外径が細く、全長が長く、諸収差が良好に補正されていて、多光子励起にも使用可能な高開口数でin vivo観察に適した液浸細径対物光学系を実現する。
【解決手段】物体側から順に、像側に凸面を向けた平凸レンズL2を含む正屈折力の第1群G1と、最も物体側のレンズ面が物体側に凸面を向けたレンズL3を含む正屈折力の第2群G2と、最も像側のレンズ面が像側に凹面を向けたレンズL6を含む負屈折力の第3群G3と、最も物体側に配置され像側レンズ面が像側に凸面を向けたレンズL7と、最も像側に配置され物体側レンズ面が物体側に凸面を向けたレンズL8とを含む正屈折力の第4群G4と、凸レンズL11と凹レンズL10が接合され、かつ接合面が負屈折力である接合レンズを含む正屈折力の第5群G5とで構成され、無限遠設計で第4群G4と第5群G5との間に中間結像面を有する液浸細径対物光学系1を提供する。 (もっと読む)


【課題】試料へ温度負荷を印加した状態でも容易に解析可能な偏光顕微鏡型の結晶方位解析装置および偏光顕微鏡方式の結晶方位解析方法を提供する。
【解決手段】試料台1に搭載された試料2に対向配置される対物レンズ31と、このレンズを介して試料2に光ビームを照射するLED光源・検出器41および共焦点レンズ42と、光ビームの光路を曲げるハーフミラー32と、試料2から反射されて対物レンズ31を介して戻る光ビームの内のハーフミラー32で反射された分を受光するLED光源・検出器41と、この出力によって共焦点レンズ42の位置を調節する画像処理装置43と、ハーフミラー32と共焦点レンズ42の間に解析時に挿入されるポラライザ30と、対物レンズ31を介して戻ってくる光ビームの内のハーフミラー32を透過した分の光路に配置されるアナライザ34等と、この光ビームを画像化する撮影レンズ35等とを備えている。 (もっと読む)


【課題】観察対象物全体に対する観察対象部位の位置関係を容易に把握できる共焦点顕微鏡を提供する。
【解決手段】レーザ顕微鏡本体1は、第一の光学系と第二の光学系とを有している。第一の光学系は、第一の対物レンズ105を用いて試料106の共焦点画像を取得する。第二の光学系は、レボルバ111を回転させることで第一の対物レンズ105と光軸が同一となる位置に配置される第二の対物レンズ105を用いて、該共焦点画像よりも広い視野の画像である試料106の非共焦点画像を静止画像として取得する。モニタ113は、この共焦点画像と非共焦点画像とを同時に表示する。ここで、第一の対物レンズ105の倍率は、第二の対物レンズ106よりも高倍率である。 (もっと読む)


【課題】共焦点顕微鏡システムでの所定部位の計測と計測結果の保存とに良好な操作性を提供する。
【解決手段】コンピュータ12は試料5の共焦点顕微鏡画像を取得する。モニタ13は試料5の画像を表示する。コンピュータ12は、モニタ13により表示される画像に対して行われる、試料5における計測対象部位の指示を取得すると、試料5の共焦点顕微鏡画像に基づいて得られる画像情報に対する計測によって当該計測対象部位を計測する処理を行う。そして、この計測の結果をモニタ13で表示させる処理を行う。ここで、コンピュータ12は、モニタ13に表示されている当該計測の結果の記録の指示を取得すると、当該指示の取得時にモニタ13に表示されていた当該計測の結果を記録する。 (もっと読む)


【課題】プロファイルラインの指定と関心領域の指定との相互間の位置関係を容易に把握できるようにする。
【解決手段】画像表示領域108での試料の平面画像の表示に対してなされる、試料のプロファイルを表すプロファイル画像における当該プロファイルの表示範囲の指定を、演算部103が取得する。プロファイル描画部105は、当該表示範囲のプロファイル画像をプロファイル表示領域109に表示させる。演算部103は、画像表示領域108での平面画像の表示に対してなされる関心領域の指定を取得し、プロファイル描画部105でのプロファイル画像での表示において、当該関心領域に対応する範囲を判別する。プロファイル描画部105は、プロファイル表示領域109でのプロファイル画像における、当該関心領域の範囲内の画像と当該範囲外の画像とを、異なる態様にして表示させる。 (もっと読む)


【課題】ガンの初期段階の検出やガンのスクリーニング及び腫瘍縁の外科的検出のような臨床的処置に、標準的な組織病理学に近い分解能をもつ非侵襲性画像化技術を提供する。
【解決手段】光ファイバ9の末端に接続された可撓性プローブによる内視鏡法に特に有用な走査型共焦点顕微鏡法システム及び装置。プローブは、対象物のある領域にわたって1次元に延びるスペクトル成分を有する多重スペクトル光のビームを送出し、別の次元での走査のために動かされる、回折格子12及びレンズ14を有する。上記領域の画像を提供するために、反射共焦点スペクトルが測定される。 (もっと読む)


【課題】普遍的に使用でき、順応性があり、広帯域の波長スペクトルを高照明密度で提供し、且つ可能な限り干渉現象を回避した照明方法および照明装置を提供する。
【解決手段】レーザー(9)の光線(13)を、該光線をスペクトル拡散させる微細構造光学要素(19)に入射させるステップ(1)と、スペクトル拡散させた光(31)を照明光線(29)に整形するステップ(3)と、照明光線(29)を対象物(79)に指向させるステップ(5)とを含んでいる。 (もっと読む)


【課題】顕微鏡利用者に対して過度に作業負担を掛けることなく、適切に画像を調整する技術を提供する。
【解決手段】複数の画素からなる顕微鏡画像の明るさを自動的に調整する顕微鏡画像の自動調整方法であって、画像中の観察対象となる観察画素(細胞1)と観察対象とならない観察外画素(背景2)とを、各々の画素の明るさに基づいて識別する画素識別工程と、観察画素(細胞1)として識別された選択画素の輝度に基づいて画像の明るさを代表する代表値を決定する代表値決定工程と、代表値に基づいて画像の明るさを調整する画像調整工程と、を含む顕微鏡画像の自動調整方法である。 (もっと読む)


【課題】本発明は、光軸方向の分解能を向上させることの可能な光活性化限局顕微鏡及び光活性化限局観察方法を提供することを目的とする。
【解決手段】本発明を例示する光活性化限局顕微鏡の一態様は、光活性化蛍光物質を含む被観察物(10A)上に活性化光を集光する集光手段(17)と、前記活性化光の集光スポットで前記被観察物上の観察領域を走査する走査手段(16)と、前記観察領域へ励起光を照射する励起手段(122)と、前記観察領域の蛍光強度分布を検出する検出手段(201)とを備え、前記活性化光のピークパワー及び中心波長は、前記集光スポットに位置する光活性化蛍光物質が多光子吸収により活性化する値に設定される。 (もっと読む)


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