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Fターム[2H052AA08]の内容

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Fターム[2H052AA08]に分類される特許

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【課題】高い光の利用効率で所望のパターンの光を対象物に照射し、且つ、光の照射に伴って生じる対象物の動的な変化を高い時間分解能で観測する技術を提供することを課題とする。
【解決手段】レーザ光源(2、14)から射出された照明光を、対物レンズ(12)の瞳位置と光学的に共役な位置に配置された位相変調型空間光変調器(5)と、空間光変調器(5)とは異なる照明光路上に配置された標本(13)を走査する2次元走査手段(16)へ同時に入射させる。そして、空間光変調器(5)で変調された照明光と2次元走査手段(16)で偏向された照明光とを光路合成手段(8)で合成し、対物レンズ(12)により標本(13)に照射する。 (もっと読む)


【課題】観察する試料物体の表面の高さ情報(凹凸値など)を得るのに、従来に比べ、容易かつ安価に構成可能な共焦点顕微鏡を提供する。
【解決手段】本発明の共焦点顕微鏡は、ピンホールを有する、少なくとも3種類の、夫々に異なる光波長遮断特性を有する薄膜波長フィルタによって積層形成されたピンホールディスクを用い、前記各波長における焦点面と物体表面とのずれによって生じる、各波長での表面像光強度の変化を、表面の高さ変化に換算して予め取得し、更に、これを検出強度正規化処理を行うなどして、測定対象物体の表面の凹凸を測定する。これによってレンズのメカニカル移動を不要として測定スピードの向上や測定システムの簡略化を実現し、また高価な光学素子などの利用を不要とする。 (もっと読む)


本発明は、一つの鏡(22)と、第一及び第二回転作動要素(24)を備えた、一つの光ビームを二つの異なる方向へ偏向するための装置(20)に関している。第一回転作動要素(24)は第一制御信号に従い第一軸(54)の周りを回転する。第二回転作動要素(26)は第一軸(54)に沿って第一回転作動要素(24)と向かい合わせに配置され、且つ、第二制御信号に従い第一軸(54)の周りを回転する。第一バネ要素(28)が、第一回転作動要素(24)と、第一軸(54)の外側に規定の距離だけ間隔をあけて鏡(22)とに結合される。第二バネ要素(30)が、第二回転作動要素(26)と鏡(22)とに結合される。
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【課題】蛍光観察を行う場合に、蛍光の経時変化を短時間で容易に測定することができる共焦点顕微鏡を提供する。
【解決手段】本発明の共焦点顕微鏡1は、蛍光観察するための共焦点顕微鏡1であって、励起光を出射するレーザー発光器2と、レーザー発光器2からのレーザー光の試料4への照射位置を所定方向に移動可能なポリゴンミラー16と、ポリゴンミラー16によるレーザー光の移動方向に対応した方向に沿って長手方向が配置されたスリット28と、試料4に照射されたレーザー光の反射光をカットして蛍光を選択する蛍光フィルタ24と、蛍光フィルタ24によって選択されスリット28を通った蛍光を受光する光電子増倍管6と、を備える。 (もっと読む)


本発明は、レーザーモジュール(22)と、ビーム補正装置(26)と、光ファイバー(31)と、測定要素(34)と、外部コントローラ(37)とを有する顕微鏡用レーザーシステム(20)に関連している。レーザーモジュール(22)は光ビーム(24)を生じる。光ビーム(24)はビーム補正装置(26)を通り抜け、当該補正装置は、光ビーム(24)の少なくとも一つのパラメータにおける、目標パラメータ値からの実際値のずれを補正する。補正された光ビーム(24)は光ファイバー(31)に結び付けられる。測定要素(34)は、光ファイバー(31)の下流に設けられ、補正された光ビーム(24)の少なくとも一つの部分ビーム(32)の実際の強度値(36)を捕捉する。レーザーモジュール(22)の電源(39)と測定要素(34)とに結合された外部コントローラ(37)は、電源(39)を用いて実際の強度値(36)を規定された目標強度値に調整する。
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異なった露出時間または励起強度で単一画像を複数回撮影することで、暗い画像領域も明るい画像領域も良好なS/R比で別々に測定でき、拡張されたダイナミック・レンジを持つ全体画像へと計算することができる。しかしながら、連続撮影は複雑であり時間がかかる。本発明は、わずかな手間で短い時間内に拡張ダイナミック・レンジの画像を生成することを可能にする。この目的で、全体画像(2)を作成するために、異なった試料領域(S、T)について複数の評価方法(SPC1、ADC、2D−PC)の1つが、結果信号の1つに依存しておよび/または複数の並行した評価チャネルの1つからの1つの中間結果信号に依存して選択される。さまざまな信号評価から個々の領域ごとに選択をすることは、該当する領域のために最適なダイナミック・レンジを持つ信号評価を使用することを可能にする。これにより、結果としての画像は、個々の画素のダイナミック・レンジの集合和から生じる、拡張されたダイナミック・レンジを得る。
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【課題】光の波長に依存することなく、所望のパターンの光を対象物に照射する技術を提供することを課題とする。
【解決手段】空間光変調装置1は、空間光変調器3の隣接する変調領域(変調領域3a、変調領域3b)で変調された変調光(光線La、光線Lb)間で生じる光路長差を、光路長差補償器2の補償領域(補償領域2a、補償領域2b)での偏向により補償する。 (もっと読む)


【解決手段】被験者の固形臓器を検査する方法は、針を固形臓器の所定の領域に導入するステップと、光プローブを針の内腔を通って挿入するステップと、光プローブを用いて所定の領域を撮像するステップと、を含む。光プローブは、被験者の固形臓器を検査するためのものである。光プローブは、針を通って固形臓器中に配置されるように構成されている。光プローブは、光ファイバー束と、光ファイバー束の遠位端を保護するためのへらとを含む。へらは、軸部と、頭部と、光ファイバー束および軸部を覆うケースとを含む。へらの頭部は、ケースが針の内部に保持されている間に、光プローブが固形臓器を撮像できるように構成された長さを有する。 (もっと読む)


【課題】検出対象となる光の検出量の低下を抑制し、且つ、特定波長の光を十分に排除する技術を提供することを課題とする。
【解決手段】入射光20aを波長分散素子21により波長毎に分散させる。そして、波長分散素子22と光検出器26の間であって、特定波長の成分光20dを含む、分散光20bの一部が入射する領域に、波長に依存する光学特性を有する波長制限素子25を配置する。これにより、特定波長の成分光20dの光検出器26へ入射が制限される。 (もっと読む)


【課題】検出器装置の感度を向上させることを目的として、落下光を検出器の受光領域上で焦点を結ばせるために、球状の素子を備えたレンズアレイの形態の光偏向素子を用いることが知られている。このようなレンズアレイの製造は、特に製造数が少ない場合、製造コストが高い。新規の光偏向素子を用いることによって、検出器装置の感度の向上を容易に、かつ費用対効果が高い状態で実現する。
【解決手段】本検出器装置は、落下光が検出器の受光領域304上で偏向して角度を変える光入射面305bを有する光偏向素子305を備える。光偏向素子の光入射面305bは互いに傾斜しており、平坦な面として形成されている。本検出器装置は、顕微鏡、特にレーザ走査型顕微鏡において、特に、試料から放出される光を検出するのに適している。 (もっと読む)


【課題】試料の存在する領域と存在しない領域とを含む観察範囲の観察において試料を高いコントラストで観察する。
【解決手段】試料Aを含む観察範囲に対してパルス状のテラヘルツ波Lを照射することにより、観察範囲において反射または該観察範囲を透過した第1の電磁波Lと、テラヘルツ波Lよりも波長が短いパルス状の第2の電磁波Lとを光学結晶8に入射させるステップと、光学結晶8から出射された第2の電磁波Lを検出するステップとを備え、第2の電磁波Lが、観察範囲内に存在する試料Aにおいて反射または該試料Aを透過した第1の電磁波Lの電場振幅または観察範囲内の試料A以外の領域において反射または該領域を透過した第1の電磁波Lの電場振幅の一方が他方より大きくなる位相に配されるタイミングで光学結晶8に入射される観察方法を提供する。 (もっと読む)


【課題】多光子顕微鏡において、より簡単に複数の波長の極短パルス光を使用する。
【解決手段】小型レーザ21a乃至21cは、それぞれ異なる波長に固定された極短パルス光を射出する。走査部25は、小型レーザ21a乃至21cから射出される極短パルス光を標本2上で走査する。プリチャーパ22a乃至22cは、小型レーザ21a乃至21cと走査部25との間において、小型レーザ21a乃至21cに対してそれぞれ1つずつ設けられ、それぞれ、対応する小型レーザ21a乃至21cから射出される極短パルス光の波長に応じて予め調整されている量の負分散を極短パルス光の群速度に発生させることにより、極短パルス光のパルス幅を調整する。本発明は、例えば、多光子顕微鏡に適用できる。 (もっと読む)


【課題】コンフォーカル顕微鏡の像質を向上させる。
【解決手段】コンフォーカル顕微鏡1の光偏向素子25は、複数の微小ミラーが設けられている偏向面25Aが試料Sの所定の観察面と共役な位置に配置され、対物レンズ29により集光されて偏向面25Aに入射する試料Sからの観察光の偏光方向を微小ミラー毎に制御する。制御部41は、光偏向素子25の微小ミラーを順次選択し、選択した微小ミラーに入射する観察光を結像レンズ24の方向に偏向するように制御する。結像レンズ24の方向に偏向された観察光は、結像レンズ24により検出器31の受光面31Aにおいて結像される。光偏向素子25の偏向面25A、結像レンズ24の主平面24A、および、検出器31の受光面31Aをそれぞれ延長した面は、点A1を通る1本の直線で交わる。本発明は、例えば、コンフォーカル顕微鏡に適用できる。 (もっと読む)


【課題】観察像への悪影響がなく、安定した検焦光量を得ることができる共焦点顕微鏡装置を提供する。
【解決手段】ピンホールおよびマイクロレンズを利用して共焦点効果を獲得するニポウディスク方式の共焦点顕微鏡装置に適用される。検焦光の反射光を前記ピンホールおよび前記マイクロレンズを通過させる検焦光学系と、前記検焦光学系を経由した前記検焦光の反射光の光量を検出する検出手段と、前記検出手段の検焦結果に応じて合焦を行う合焦装置と、を備える。 (もっと読む)


【課題】標本内部に刺激光を照射して、標本の界面付近の反応を観察する。
【解決手段】顕微鏡装置11では、コンフォーカル光学系19を介して標本12の各深さごとに照射されるレーザ光による標本12の各深さごとの蛍光断面画像を取得し、全反射照明光学系17を介して標本12の境界面で全反射するように照射されるレーザ光による標本12の境界面の蛍光画像を取得し、蛍光断面画像に基づいて指定される所定箇所にコンフォーカル光学系19を介して刺激光を照射し、刺激光が照射された後に、全反射照明光学系17を介して標本12の境界面で全反射するように照射されるレーザ光による標本12の境界面の蛍光画像を取得する。本発明は、例えば、全反射照明光学系およびコンフォーカル光学系を有する顕微鏡装置に適用できる。 (もっと読む)


【課題】検出波長範囲を自由に設定でき、精度が高い分光検出を迅速に行う。
【解決手段】標本からの蛍光を一方向に波長ごとに分散させる回折格子と、回折格子により分散させられた蛍光の分散方向に沿って配列された複数のセル65を有するマルチチャンネルPMT66と、複数のセル65に入射される蛍光の入射範囲をセル65の幅より小さい変化量で可変の制限幅により制限する遮光板68A,68Bとを備える分光装置60を提供する。 (もっと読む)


【課題】複数の画像取得方法によって異なるタイミングで取得された複数の画像情報を整理して保存する。
【解決手段】時間を計数する計時手段8と、複数の異なる画像取得手段4,16と、該画像取得手段4,16により画像情報が取得されたときに、取得された画像情報と計時手段8により計数された時間情報とを対応づけて記憶する記憶手段9とを備える顕微鏡装置1を提供する。画像取得手段4,16が異なるタイミングで画像情報を取得しても時間情報を手がかりとして記憶手段9に記憶されている画像情報を時間順に呼び出すことができる。 (もっと読む)


【課題】検出感度の良いコンフォーカル顕微鏡を提供できるようにする。
【解決手段】光偏向素子16は、試料Sと共役な位置であって、照明光学系と結像光学系の両方の光路上に配置され、その面上に2次元に配列された複数の微小ミラーの各々を個別に偏向制御して、それらの微小ミラーを順次駆動することにより、照明光学系の一部として試料S上の所望の箇所に光を導くとともに、結像光学系の一部としてその戻り光を検出器24に導き、光減光部材18は、複数の微小ミラーにより偏向された試料Sの走査に不要な光を減光する。このようにして、試料Sの走査が行われるので、不要な光が迷光となるのを防止し、観察対象からの光を感度良く検出することができる。本発明は、例えば、コンフォーカル顕微鏡に適用できる。 (もっと読む)


【課題】生体試料を視野範囲外に逃すことなく詳細な蛍光観察を行う。
【解決手段】生体試料1を含む観察領域2に照明光を照射する光源22と、観察領域2からの透過光を撮影し観察領域2のマクロ画像4を取得するCCD32と、生体試料1に励起光を照射する光源24と、生体試料1の励起光の照射位置において発生する蛍光を検出して生体試料1のミクロ画像を取得するミクロ画像取得部35と、生体試料1の識別情報を記憶する識別情報記憶部15と、マクロ画像4を画像処理して生体試料1の識別情報を抽出し、抽出された識別情報と識別情報記憶部15に記憶されている識別情報とが対応する生体試料1を特定する生体試料特定部17と、ミクロ画像3の視野範囲に生体試料1が含まれるようにミクロ画像取得部35の撮影範囲を移動させるパン制御部19とを備える生体観察装置100を提供する。 (もっと読む)


光学系の後瞳がセグメント化され、該セグメントが波面変調デバイスによって個々に制御され、光学系内の励起または放射ビームの個々のビームレットの方向および位相を制御して、サンプルおよびシステムによって誘導される収差に対する適応光学系補正を提供する顕微鏡検査技術。 (もっと読む)


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