【課題】一台の顕微鏡でもって、一つの標本に対し、観察する目的に応じて、多光子励起蛍光観察、第二高調波観察、コヒーレントラマン散乱光観察の全てを並行して或いは選択的に行うことができる顕微鏡を提供する。
【解決手段】第一のパルスレーザ発生手段１と、第二のパルスレーザ発生手段２と、第一のパルス光と第二のパルス光を合成して標本４に照射可能な照射手段（符号省略）と、照射光を照射された標本４からの光から、コヒーレントラマン散乱光のみを抽出する抽出手段（符号省略）と、多光子励起蛍光のみを抽出する抽出手段６と、第二高調波のみを抽出する抽出手段７と、抽出されたコヒーレントラマン散乱光を検出する検出手段８と、抽出された蛍光を検出する検出手段９（又は１０）と、抽出手段７を介して抽出された第二高調波を検出する検出手段１０（又は９）とを有する。 （もっと読む）

【課題】 経時的に輝度が変化する試料を正確に測定することができる顕微鏡撮像装置およびそれを用いた生体試料観察システムを提供する。
【解決手段】 被検査物を保持するステージと、被検査物を照明する照明手段と、被検査物の画像を撮影する撮像素子と、ステージと撮像手段とを相対的に移動させる移動手段と、を備え、撮像手段が、被検査物に対応した蓄積電荷を発生させるとともに、ステージと撮像手段との相対移動に対応して蓄積電荷を転送し、順次前記蓄積電荷を加算して累積するタイム・ディレイ・インテグレーション方式での撮像が可能な撮像素子を備え、被検査物の撮像Ｓ４の前に行われる被検査物のプレスキャンＳ２により求められた被検査物の検出強度から、撮像Ｓ４の露出時間を決定する計算手段を有する顕微鏡撮像装置を提供する。 （もっと読む）

【課題】 専用の干渉装置（例えばノマルスキープリズムなど）を用いることなく物体の微分干渉画像を生成する。
【解決手段】 物体像の複素振幅分布を表す第１データ群の各ピクセルデータに対し、該ピクセルデータの複素振幅の位相を所定量θだけシフトさせる処理を行い（Ｓ３）、第２データ群を生成する。そして、第１データ群の各ピクセルデータと第２データ群の各ピクセルデータとを用い、各データ群を画像化したときに相対位置が所定方向に所定量だけ異なるピクセルデータどうしで、該ピクセルデータの複素振幅の差または和を求め（Ｓ４）、第３データ群を生成する。さらに、第３データ群の各ピクセルデータを用い、該ピクセルデータの複素振幅の絶対値の二乗を求め（Ｓ５）、第４データ群を生成する。 （もっと読む）

【課題】 焦点制御機能付き蛍光顕微鏡の構造を単純化することを目的とする。
【解決手段】 本発明の蛍光顕微鏡は、対物レンズ、励起光照射部、照明部、制御部、撮像部および焦点制御部を備える。対物レンズは、標本に向け配置される。励起光照射部は、励起光を標本に照射して蛍光を発生させる。照明部は、標本に照明光を照射する。制御部は、励起光照射部および照明部を時分割駆動する。撮像部は、対物レンズの像空間側に撮像面を配置し、撮像面に時分割に形成される蛍光による像（蛍光像）および照明光による像（照明光像）を撮像する。焦点制御部は、撮像部から照明光像の撮像結果を取得して合焦評価し、照明光像の合焦評価に従って対物レンズおよび標本の少なくとも一方を駆動して、蛍光像を撮像面に合焦させる。このような構成では、１系統のみの撮像部を備えるため、蛍光顕微鏡の光路構成や撮像部の信号処理系統を単純化し、小型かつ低コストの蛍光顕微鏡が実現する。 （もっと読む）

【課題】 生体試料への光ダメージを低減するとともに、正確で高速、かつ長時間の観察が可能な生体試料観察システムを提供する。
【解決手段】 生体試料を格納および培養する培養容器と、培養容器を保持する保持手段と、生体試料に対して対向配置された対物レンズと、保持手段と対物レンズとを相対的に移動させる焦準駆動部と、対物レンズの合焦を検出するオートフォーカス部と、保持手段と対物レンズとの相対的な移動値を蓄積するとともに、焦準駆動部の制御を行う焦準駆動制御部と、生体試料の複数の被観察領域を観察して情報を取得する観察手段と、を有し、焦準駆動制御部が生体試料の観察（ＳＴＥＰ３１）時間帯とは異なる時間帯に、観察の回数より少ない回数だけオートフォーカス部により少なくとも１以上の被観察領域に対して合焦検出（ＳＴＥＰ２５）を行うことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】非常に微小な領域の観測と同時に、非常に短い時間領域（例えば、フェムト秒〜数十ピコ秒）で起こる物性現象を捉えることが可能な装置を提供する。
【解決手段】顕微鏡７０と、時間分解分光ユニット８０を有し、更に、時間分解分光ユニット８０からの光を顕微鏡７０の内部に導く第１導光手段９１と、顕微鏡７０からの光を時間分解分光ユニット８０の内部に導く第２導光手段９２を有する。顕微鏡７０は照明光学系と観察光学系を有する。時間分解分光ユニット８０が、超短光パルス光源５と、超短光パルスを参照光と参照光以外の光とに分岐する分岐手段６と、前記参照光以外の光からポンプ光とプローブ光を生成する光学系と、第２導光手段９２によって導かれた光と前記参照光によって形成された干渉縞を撮像する撮像素子４を備え、第２導光手段９１と撮像素子４の間に２次元光波変換光学系１が配置されている。 （もっと読む）

【課題】 複数の反射界面をもつ観察体においても安定したピント合わせが可能なオートフォーカス技術を提供する。
【解決手段】 利用者に観察部位を入力させる、観察部位に最も近い反射界面が前記対物レンズの異動先である反射界面と異なる場合、厚み情報のうち必要な情報を用いて、対物レンズを観察部位に最も近い反射界面まで移動させる。上記の反射界面のうちオートフォーカス動作により検出可能なものが唯一である場合、アクティブオートフォーカス動作により上記の唯一の反射界面に一旦合焦させ、厚み情報のうち必要な情報を用いて、対物レンズを現在の位置から観察部位に最も近い反射界面まで移動させる。 （もっと読む）

従来使用していた検査装置および検査方法では、反射された可視光または紫外光を使用し、それによりたとえばウェハの微細構造サンプルを解析している。本発明の目的は、この装置の可能な用途を増やすことにあり、すなわち構造的な詳細を明らかにすることである。たとえば、塗装材料や中間材料が不透明であることから可視光または紫外光で見ることができないように両面を塗膜化されたウェハなどが対象となる。上述の目的は、反射光として赤外光を使用する一方で、光を透過させることにより実現される。すなわち、赤外線画像のコントラストを大きく改善し、サンプルを、反射または透過赤外光および反射可視光で同時に検査することができる。 （もっと読む）

多重モード・スペクトル画像解析の方法および装置が開示される。一つの実施態様において、本発明は、修正された照明プロファイルで対象物を照明する段階、照明された対象物の反射、透過、または蛍光画像を作成する段階、当該対象物をスキャンする段階、および光の状態を修正した後、当該反射光、透過光、または蛍光光の再解析を行う段階で構成される。本発明は、時間分解能が低い高スペクトル分解能画像および時間分解能が高い多重画像取得を行う他の画像解析手段と併用することが望ましい。
（もっと読む）

光学流体顕微鏡装置が開示される。本装置は、表面を有する流体チャネルを有し、バクテリアまたはウイルスのような物体は、流体チャネルを通って流れることが可能である。流体チャネルの底部の光撮像要素は、物体を撮像するために使用可能である。
（もっと読む）

照射光線束を発生する少なくとも１つの光源（１、３）と、前記照射光線束の光出力を調整するための音響光学素子（１３）と、前記照射光線束を試料（２７）の上に又はこれを透過して導くためのビーム偏向装置（１９、３６）とを有する走査型顕微鏡は、音響光学素子（１３）により前記照射光線束から部分光線束を空間的に分離し、この部分光線束を特に処理のために試料に向けるビームガイド手段を備える。
（もっと読む）

【課題】 拡張性に優れ、さらに標本に対して不必要な光を当てないようにした顕微鏡装置を提供する。
【解決手段】 対物レンズ７と標本３の光像を観察する接眼レンズ１１を有する顕微鏡本体１側面に光源１３とＣＣＤカメラ２２を有する投光管１２を設け、顕微鏡本体１内で光源１３の光を標本３に反射し標本３からの光を接眼レンズ１１に透過するダイクロイックミラー２５ａと光源１３からの光を標本３に反射する全反射ミラー２４ａを選択的に光路に挿入可能にするとともに、投光管１２内で光源１３からの光をキューブターレット２３に反射し標本３からの光をＣＣＤカメラ２２に透過するダイクロイックミラー１６ａと光源１３からの光をキューブターレット２３に反射する全反射ミラー１７ａを選択的に光路に挿入可能にし、さらに光源１３の光を遮光するシャッタ２７を設け、全反射ミラー２４ａ、１７ａが同時に光路に挿入されたとき光源１３の光を遮光する。 （もっと読む）

本発明の方法は制御された統計的処理のプロセスであり、そこでは、オブジェクトの位相を保持しながら、スペックル雑音を効果的に取り除くことができる。本質的に、動的な位相情報を照明干渉ビーム上で符号化し、入力コヒーレンスが失われる前に測定するプロセスを用いる。非常に安定した長いコヒーレンス長のレーザ（約１ｋＨｚの線幅を持つ）、高速画像化、及び高速位相処理の現在の可用度から、ここで、位相制御された統計の実現が可能である。
（もっと読む）

本発明は少なくとも光源と、被検査物体用キャリアと、照明された物体を記録する検出器と、操作の間に主として、光源から物体に、さらに物体から検出器に通る光通路とで構成される光学顕微鏡に関し、等間隔の穴アレイを設けた金属薄膜が光源と物体との間の光通路に配置され、物体のキャリアはキャリア面で物体を調節する駆動装置を備え、金属薄膜の穴の直径は約２５０ｎｍよりも小さくし、駆動装置はキャリア面に垂直な方向に物体用キャリアを調節するよう構成され、物体の立体像を構成するため検出器に接続された処理装置が設けられる。 （もっと読む）

励起ビーム経路を有するとともに、サンプル（５）内における焦点（４）に励起放射線（１）を合焦する対物レンズ（２）と、焦点（４）を少なくとも一次元的にシフトさせる操作ユニットと、多光子励起によってサンプル内において活性化される発光放射線を取り込む検出ユニットと、を備える多光子発光顕微鏡（Ｍ）について記載する。検出ユニットは、サンプル（５）の対物レンズ（２）とは反対側に位置する二次元検出器（９）を備えている。
（もっと読む）

【課題】 被照明物体を均一に照明できる照明レンズ系を持たない照明装置を有する光学装置を提供する。
【解決手段】 面発光照明装置７と被照明物体１２と被照明物体１２の像を結像する結像光学系１３からなる光学装置において、面発光照明装置７は、面発光素子および、または発光素子の集合体からなる発光装置８と、発光装置８を支持する支持体９と、面発光素子または発光素子の集合体に電気を供給する電源装置１０と、面発光素子または発光素子の発光強度や発光強度分布等の発光状態を制御する発光状態制御装置１１から構成される。 （もっと読む）

【課題】偏斜照明が可能な、簡単な構成で、小型な実体顕微鏡用透過照明装置を提供する事。
【解決手段】互いに実質的に平行に並置された左右観察光学系１７Ｌ，Ｒと、正のコンデンサ光学系１２と、左右観察光学系１７Ｌ，Ｒとに共通の対物光学系１６とを有し、コンデンサ光学系１２の焦点位置近傍ｆｆに設けられる光源１１からの光により、コンデンサ光学系１２は、コンデンサ光学系１２の後側焦点位置ｆｂ近傍に設けられる被検面１５の所定領域を照明し、コンデンサ光学系１２と被検面１５との間の光路中には、稜線ＬＬを有する複数の光学素子ＥＬからなるレンチキュラ光学系１４を更に有し、左側光軸ＡＸＬと右側光軸ＡＸＲとを含む平面に対して、稜線ＬＬが略直交するように光学素子ＥＬが配置され、コンデンサ光学系１２は、光学素子ＥＬの稜線ＬＬの長手方向（ｙ方向）に沿って移動可能である。 （もっと読む）

【課題】 落射照明光を遮蔽する部材の着脱の手間を省き、遮蔽部材の装着忘れを防止することができる光学顕微鏡の提供。
【解決手段】 ターレット６にはフィルタユニットが装着可能な装着部Ｐ１〜Ｐ４が設けられている。このターレット６を駆動手段５０で回転駆動して、フィルタユニット７ａ〜７ｃが装着されていない装着部Ｐ２を落射照明光路中に位置決めすると、シャッタ板３１が落射照明光路中に配設され落射照明光源５の光２２が遮蔽される。一方、フィルタユニット７ａ〜７ｃがポートＰ１〜Ｐ３に装着されるとシャッタ板３１が開き、フィルタユニット７ａ〜７ｃのいずれかを落射照明光路中に位置決めすることにより落射照明観察を行うことができる。 （もっと読む）

【課題】被検物体の位相差に関わらず、背景光の色づきを低減し、良好なコントラストの像を観察できる位相差観察装置を提供すること。
【解決手段】光源ＬＳと、光源からの光束を被検物体Ｏに照射するための照明光学系Ｇ１と、開口絞りＡＰと、前記被検物体からの光束を集光して像Ｉを形成する対物レンズＧ２，Ｇ３と、前記対物レンズ内の前記開口絞りと共役な位置に設けられている位相変換部ＰＨとを有する位相差観察装置において、前記位相変換部は、前記開口絞りの開口部と所定倍率で相似な形状を有する第１透過率変調部Ａと、前記第１透過率変調部の周囲を取り囲むように設けられている第２透過率変調部Ｂとを有し、前記第１透過率変調部と前記第２透過率変調部との分光透過率特性が異なる。 （もっと読む）